JPH087379A - 磁気ヘッドの位置調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】光磁気ディスク装置に係り、光ヘッドと磁気ヘ
ッドとの位置合わせを、精度良くしかも簡単な構成で行
なうことができる磁気ヘッド位置調整方法と、それに用
いる調整用ディスクを提供する。 【構成】まず透明基板上に半透明膜を有する調整用ディ
スクに対して、光ヘッドから照射されたレ−ザ光を調整
用ディスクの半透明膜上にフォ−カスさせ、磁気ヘッド
と光ヘッドのフォ−カス方向の相対位置は一定に維持で
きるようにする。つぎに調整用ディスクの半透明膜に照
射されたレ−ザ光の一部を、光ヘッドと反対の面に接触
させた磁気ヘッドに照射し、その反射光量を検出するこ
とにより、磁気ヘッドと光ヘッド（ディスク上の光スポ
ット）との位置合わせが可能なる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は磁界変調記録方式の光磁
気ディスク装置に係り、特に光ヘッドと磁気ヘッドとの
位置合わせ方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスク装置において情報信号の
書換えを行なう際、オーバライトを行う方法として磁界
変調記録方式が知られている。一般に磁界変調記録方式
とは、光ヘッドにより一定強度のレーザ光を光磁気記録
媒体に微小光スポットとして照射すると共に、磁気ヘッ
ドにより記録信号に応じて変調された外部磁界を付与し
て、情報の記録を行うものである。また最近記録ドメイ
ンを安定かつ正確に形成する磁界変調記録方式としてレ
−ザ光も変調する方法が考案されている。これらの磁界
変調方式の光磁気ディスク装置において、光ヘッドと磁
気ヘッドとに位置ずれがあると良好な記録ができないた
め、両者の位置合わせは重要となる。

【０００３】しかし、磁界変調記録方式に用いられる磁
気ヘッドは、数百ｋＨｚ〜数ＭＨｚの高速変調性が求め
られ、インダクタンスが小さいことが必要となる。その
ため磁気ヘッドの外形は必然的に小さなものとなり、そ
れに伴って当然のことながら磁界印加領域は狭くなる。
また微小光スポットも、光ヘッドを構成する部品の誤差
により、位置ずれが発生することがある。したがって、
光ヘッドと磁気ヘッドの位置合わせが難しく、この位置
合わせをより簡単に実現する方法が求められていた。

【０００４】これを解決するために提案された従来の例
として、特開平２−１６５４４９号公報にその方式の開
示がなされている。この例では、磁気ヘッドの磁気コア
の端面に反射膜を形成し、光ヘッドから磁気ヘッドにレ
ーザ光を照射し、磁気コア端面の反射膜からの反射光を
光ヘッドに設けられた光検出器で受光し、この光検出器
の出力が大きくなるように（反射光量が多くなるよう
に）磁気ヘッドの位置を調整し、光ヘッドと磁気ヘッド
との位置合わせを行なうようにしていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術は磁気ヘッドの磁気コア端面に平坦に反射膜を形
成しなければならず、蒸着、スパッタリングなどのプロ
セスが必要となるためコストが高くなるという課題があ
った。また、この方法において、磁気ヘッドの表面に対
する光スポットの集光状態が変化すると検出光量がそれ
に伴って変化し、磁気ヘッドの磁気コア端面からの反射
光を正確に検出できなくなる。そのためには、磁気ヘッ
ドの表面に光スポットを一定の集光状態で集光させる必
要があるがこの点は考慮されていなかった。なお特開平
２−１６５４４９号公報には記載されていないが、磁気
ヘッドの表面に光スポットを一定の集光状態で集光させ
るために、磁気ヘッドの表面に光スポットが合焦するよ
うにフォ−カス制御を行なう方法も考えられる。しかし
従来方式の構成では磁気ヘッドの表面の反射率の変動お
よび表面形状によってはフォ−カス制御が正確に行なえ
ず、例えば磁気ギャップでは反射光が戻らずフォ−カス
が外れてしまい、そのため磁気ヘッドからの反射光を安
定に検出できなくなり、結果的に位置合わせが出来なく
なるか、または多くの時間を要する問題が生じる。

【０００６】本発明は上述のような事情に鑑みてなされ
たものであって、その目的は、光ヘッドと磁気ヘッドと
の位置合わせを精度良く、しかも簡単な構成で行なうこ
とができる光磁気ディスク装置における磁気ヘッドの位
置調整方法を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的は、以下の構成
により達成される。すなわち光磁気ディスクに光ビーム
を集光する光ヘッドと、光ヘッドに対向して設けられ記
録膜として光磁気膜を有する光磁気ディスクに磁界を印
加する磁気ヘッドと、磁気ヘッドおよび光ヘッドを前記
光磁気ディスクの情報トラックを横断する方向に送るキ
ャリッジとを備えた光磁気ディスク装置において、光磁
気ディスクに代えて透明基板上に反透明膜を有した調整
用ディスクを装着する。この調整用ディスクは、円盤状
の透明基板上に光ヘッドに使用している波長に対して半
透明な光利用率を示す半透明膜を有している。なお磁気
ヘッドとの接触で生じる破損（ヘッドクラッシュ）の防
止、および半透明膜の保護等のために半透明膜上に保護
膜（例えば紫外線硬化樹脂）を設けてもよい。なお、調
整ディスクは回転させても静止させても構わない。

【０００８】また磁気ヘッドはスライダ−と磁気コアと
磁気コイルにより構成され、光磁気ディスクと接触する
端面のうち、磁気コア領域とスライダ−領域が光ヘッド
のレ−ザ光に対して反射率が異なると共に、発生磁界強
度の中心と磁気コア中心がほぼ一致する。またこの磁気
ヘッドは支持アーム（保持部材）を介してキャリッジに
対して位置調整可能なように構成されている。この磁気
ヘッドを調整用ディスクの半透明膜側に接触させて設
け、光ヘッドを磁気ヘッドとは反対側の透明基板側に設
ける。この光ヘッドは照射されたレ−ザ光が調整用ディ
スクの反透明膜に合焦する、すなわちフォ−カス制御を
行なうことが実効可能であり、かつ反透明膜を透過し磁
気ヘッドに照射され後反射された反射光を検出できる光
検出器を光ヘッド内に具備している。

【０００９】

【作用】磁気ヘッドは、調整用ディスクの半透明膜側に
接触して仮に位置決めされる。光ヘッドから照射された
レ−ザ光は調整用ディスクの透明基板を透過し半透明膜
上に照射される。そして半透明膜からの反射光を用いて
半透明膜上に光ビ−ムが合焦するようにフォ−カス制御
が行なわれる。これにより磁気ヘッドと光ヘッドのフォ
−カス方向の相対位置は一定に維持できる。つぎに調整
用ディスクの半透明膜に照射されたレ−ザ光の一部（反
射されず透過した光）は磁気ヘッドに照射され、磁気ヘ
ッド端面で反射された後、光ヘッド内の光検出器で検出
される。ここで磁気ヘッドの端面に入射した光の磁気コ
ア領域とスライダ−領域の反射率の差を用いて、光検出
器の出力をモニタ−しその出力が磁気コア領域の応じた
出力となるように（すなわちレ−ザ光が磁気コア領域内
に入射するように）磁気ヘッドの位置を調整することに
より、磁気ヘッドと光ヘッド（ディスク上の光スポッ
ト）との位置合わせが可能なる。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
説明する。

【００１１】図１は、本発明による光磁気ディスク装置
における磁気ヘッドの位置調整方法の説明図である。光
磁気ディスク装置内に磁気ヘッド２と光ヘッド１とがデ
ィスク装着用のタ−ンテ−ブル４に装着された調整用デ
ィスク３の両側に対向して配置されている。ここで光ヘ
ッド１は光磁気ディスクに光ビームを集光し、情報信号
を再生する光磁気ディスク用の光ヘッドである。なお本
実施例で示した光ヘッド１は、光ヘッドを固定光学系と
可動光学系に分離した分離型光ヘッドであり、可動光学
系を搭載したキャリッジ５はディスク半径方向（図中の
Ｙ軸方向）に移動自在な構造となっている。また磁気ヘ
ッド２は、磁気コイル２ａに電流を供給することにより
光磁気ディスクの記録膜に外部磁界を印加する磁界変調
方式用の磁気ヘッドである。この磁気ヘッド２は、薄板
状の支持アーム６の先端部に設けられており、支持アー
ム６は、ねじ７によりキャリッジ５の突出部５ａに取付
けられている。なお、支持アーム６のキャリッジ５の突
出部５ａに対する取付け位置は、ディスク半径方向（図
中のＹ軸方向）およびディスク接線方向（図中のＸ軸方
向）に調整可能である。

【００１２】この構成において、光ヘッド１の固定光学
系内のレ−ザ光源用の半導体レ−ザ１ａから出射したレ
−ザ光１００はビ−ムスプリッタ１ｃを経て、可動光学
系のミラ−１ｂで偏向され対物レンズ１ｄにより調整用
ディスク３に照射される。図２に調整用ディスク３の断
面構造と磁気ヘッド２を示す。磁気ヘッド２は、磁気コ
イル２ａが巻回されたコの字型の磁気コア２ｂをスライ
ダ−２ｃに埋め込んだ構成と成っている。この磁気ヘッ
ド２の発生磁界強度の中心と磁気コア２ｂの中心軸５０
（図において、コの字型の磁気コア２ｂの左側部をい
う）がほぼ一致する。また調整用ディスク３はディスク
基板３ａ（例えば、光磁気ディスクに使用されていると
基板と同じでもよい）と、光ヘッドのレ−ザ光に対して
半透明な光利用率（例えば入射光の約２０％を反射し、
６０％程度を透過、他は吸収等により損失する。）有す
る半透明膜３ｂと、磁気ヘッド２との接触で生じる破損
（ヘッドクラッシュ）の防止、および半透明膜３ｂの保
護等のための保護コ−ト（例えば紫外線硬化樹脂）から
成っている。この調整用ディスク３のディスク基板３ａ
に入射した光束１０１は，半透明膜３ｂで反射光１０２
と透過光１０３に分離される。半透明膜３ｂの反射光１
０２は対物レンズ１ｄ，ミラ−１ｂを経て、固定光学系
に導かれた後、光検出器１ｆに入射する。この光検出器
１ｆより得られたフォ−カス制御信号を用いて、調整用
ディスク３の半透明膜３ｂ上にレ−ザ光を合焦させる。
一方、半透明膜３ｂを透過した光束１０３は保護コ−ト
３ｃを透過し磁気ヘッド２の端面５１に照射される。磁
気ヘッド２の端面５１からの反射光１０４は再び、保護
コ−ト３ｃ、半透明膜３ｂ，ディスク基板３ａを透過
し、対物レンズ１ｄ，ミラ−１ｂを経て、固定光学系に
導かれた後、光検出器１ｆに入射する。

【００１３】以上、磁気ヘッド２が調整用ディスクに常
に接触して位置決めされ、かつ光ヘッド１のフォ−カス
サ−ボ（レ−ザ光を調整用ディスク３の半透明膜３ｂに
常に合焦させる）により、磁気ヘッド２にレ−ザ光を一
定の集光状態で照射することが可能となる。これにより
磁気ヘッド２の端面５１に照射されたレ−ザ光の反射率
変化を正確かつ安定にに検出することが出来る。

【００１４】次に、磁気ヘッド端面５１で反射された光
束を用いた光ヘッド１の中心（以後光軸１０１ａと記
す）と磁気ヘッド２の磁気コア２ｂの中心軸５０との位
置合わせ方法について詳細に説明する。

【００１５】磁気ヘッド２を構成する磁気コア２ｂとス
ライダ−２ｃは材質が異なるため、レ−ザ光に対する反
射率が異なる。例えば磁気コア２ｂを磁性材料であるＭ
ｎ−Ｚｎフェライト、スライダ−２ｃをセラミックとし
た場合、一般には磁気コア２ｂはスライダ−２ｃより反
射率が低下する。本発明では、磁気ヘッド２の端面５１
にレ−ザ光を照射し、反射光の反射率差を利用すること
により磁気コア２ｂの位置を検出する。以下に、この反
射率差を利用した磁気ヘッド２の位置調整の手順につい
て説明する。

【００１６】第１段階として、本実施例においては、フ
ォ−カスサ−ボを行なっている状態で、図３に示したよ
うに、対物レンズ１ｄをトラッキング用アクチュエ−タ
１ｅに一定周期の信号を印加し、ディスク半径方向に可
動させることで、調整用ディスク３の端面５１に照射す
る光束１０１を一定周期で往復移動させる。

【００１７】第２段階として、磁気ヘッド２の接線方向
の位置調整を行なう。図４に磁気ヘッド２の端面５１上
を光スポットが移動した場合の反射光の強度変化を示
す。図において、端面５１は磁気コア２ｂと、スライダ
−２ｃと、磁気コア２ｂの磁気ギャップ２ｄから成る。
磁気ヘッド２が接線方向に対して正確に位置調整されて
いる場合、図における矢印Ａ上を光スポットが往復移動
する場合、反射光の強度は光スポットが照射された領域
の反射率差に応じた波形Ｓａ（図中の波形は片側の移動
に対してのみ図示した）となる。すなわち光スポットが
磁気ヘッド２の端面５０外の領域に位置する場合，光は
反射されず光強度は最小（なお本実施例では、調整用デ
ィスク３の半透明膜３ｂより反射された光束も検出され
るため、光強度は零にはならない。）となり、スライダ
−２ｃでは光強度は最大となり、磁気コア２ｂでスライ
ダ−２ｃとの反射率差により強度が低下する。なお、磁
気ギャップ２ｄは、磁気コア２ｂとは別材質（本実施例
において、反射率はスライダ−２ｃの反射率と同じとし
た）を充填させてあり、その反射率差により光強度は磁
気コア２ｂと差が生じている。これに対して、磁気ヘッ
ド２が接線方向に対して正しく位置決めされていない場
合、図における矢印Ｂ上を光スポットが往復移動した場
合、磁気ヘッド２とそれ以外の領域で反射光の強度差が
生じる以外はほとんど強度変化はない、図における波形
Ｓｂとなる。よって、磁気ヘッド２の接線方向の調整
は、反射光をモニタ−し、その強度変化が最大（波形Ｓ
ｂ）となるように磁気ヘッドを位置を調整すればよい。

【００１８】次に、第３段階として、磁気ヘッド２の半
径方向の調整を行なう。図５に磁気ヘッド２が接線方向
に正しく位置決めされた場合に得られる反射光の強度変
化Ｓａ（図中においては光スポットの往復移動分以上の
波形を図示した）と、対物レンズ１ｄの駆動波形Ｓｄを
示した。波形Ｓａにおいて、強度Ｏ１，Ｏ２は磁気コア
２ｂに光スポットが位置している強度である。一方駆動
波形Ｓｄにおいて、出力Ｄ１，Ｄ２は波形Ｓｄが対物レ
ンズ１ｄの中立位置（一般には、光学ヘッドにおいてサ
−ボ調整を行なう際の対物レンズ位置）に相当するレベ
ルＡと交わる点の出力であり、駆動波形Ｓｄのレベルが
Ｄ１，Ｄ２となったとき対物レンズは中立位置にある。
よって磁気ヘッド２の半径方向の調整は、反射光の強度
変化の波形Ｓａの出力Ｄ１（Ｄ２）の位置と、駆動波形
Ｓｄの出力Ｄ１（Ｄ２）の位置が一致する（位相が一致
する）ように調整すればよい。

【００１９】なお、磁気ヘッド２の位置（半径方向およ
び接線方向）を調整するには、図１において、磁気ヘッ
ド２が先端部に取り付けられた支持アーム６の位置を調
整して行なう。すなわち、調整前においては、ねじ７を
半締め状態にして支持アーム６をキャリッジ５の突出部
５ａに仮止めする。そして反射光の波形変化と対物レン
ズの駆動波形をモニタしながら、偏心ドライバ等により
支持アーム６を微小量ずつ移動させて、上述したように
光ヘッドの対物レンズ１ｄを出射する光束１０１の光軸
１０１ａと磁気ヘッド２の磁気コア２ｂの中心軸５０と
を一致させる。その後に、ねじ７をさらに締め込んで、
支持アーム６をキャリッジ５に固定すればよい。

【００２０】以上説明したように反射光の波形変化と対
物レンズの駆動波形とを用いる本発明の調整方法によ
り、光ヘッド１の光軸１０１ａと磁気ヘッド２の中心軸
５０を精度よく一致させることができる。なお本実施例
においては、対物レンズ１ｄを往復移動させた際の中立
位置を検出するために、対物レンズ１ｄを駆動する駆動
波形Ｓｄを用いたがこれに限るものではなく、例えば対
物レンズ１ｄの半径方向の位置を検出する位置検出手段
（例えば、ホトカプラを用いた位置センサ）により検出
してもよい。また本実施例においては、磁気ヘッド２の
調整の手順として、接線方向の位置調整を行なった後、
半径方向の調整を行なったが、これらの調整を同時に行
なってもよい。さらに、磁気ヘッド２上で光スポットを
移動するために対物レンズを移動させたがこれに限るも
のではなく、例えば光路中に偏向手段（ミラ−等）を新
たに設けた構成でもよい。また接線方向の調整に関して
も半径方向と同じ方法（位相を一致させる方法）を用い
てもよい。

【００２１】なお磁気ヘッド２において、磁気コア２ｃ
の反射率が他の部剤（本発明においては、スライダ−２
ｃと磁気ギャップ）の反射率と差が大きい場合、磁気ヘ
ッドに入射させる光束を偏向させず（本実施例において
は、対物レンズ１ｄを半径方向に駆動させた。）、検出
される光強度が、磁気コア２ｃの反射率の応じたレベル
となるように磁気ヘッド２を調整してもよい。

【００２２】以上説明した第１の実施例において、光ヘ
ッド１のフォ−カスサ−ボは調整ディスク３の半透明膜
２ｂに光束が合焦するように行なわれている。よって磁
気ヘッド２の端面に照射される光束は、調整ディスク３
の半透明膜２ｂから磁気ヘッド２の端面までの光路長だ
け若干デフォ−カスする。そこで磁気ヘッド２に照射さ
れるレ−ザ光がなるべく合焦するように、回路的にフォ
−カスオフセットを強制的に生じさせ、調整ディスク３
の半透明膜２ｂに照射される光束を反対にデフォ−カス
させてもよい。

【００２３】次に、本発明の光磁気ディスク装置におけ
る磁気ヘッドの位置調整方法の第２の実施例について説
明する。図６は本実施例による光磁気ディスク装置にお
ける磁気ヘッドの位置調整方法の説明図である。図６に
おいて、図１と同一機能部品には同じ番号を付し、特に
必要のない限りその説明は省略する。本実施例は、光ヘ
ッド１以外の光学系すなわち調整用光学系９０を有して
いる。この調整用光学系９０は光ヘッド１の半導体レ−
ザ１ａの波長λ１とは異なる波長λ２の半導体レ−ザ９
０ａを有しており、半導体レ−ザ９０ａから出射された
レ−ザ光１０９はビ−ムスプリッタ９０ｃを経て、波長
選択フィルタ−９０ｃ（波長λ１の光をを透過し、波長
λ２の光を反射する）を反射し、光ヘッド１の可動光学
系のミラ−１ｄで偏向され対物レンズ１ｄにより調整デ
ィスク１０に照射される。一方、光ヘッド１の固定光学
系内の半導体レ−ザ１ａから出射したレ−ザ光１００は
ビ−ムスプリッタ１ｃを経て、調整光学系９０の波長選
択フィルタ−９０ｃを透過し、さらに可動光学系のミラ
−１ｄで偏向され後対物レンズ１ｅにより調整用ディス
ク１０に照射される。図７に本実施例で用いられる調整
用ディスク１０の構成を示した。図７において、図２と
同一機能部品には同じ番号を付し、特に必要のない限り
その説明は省略する。調整用ディスク１０は図２に示し
た調整ディスク３の半透明膜３ｂの代わりに、波長選択
性を有する波長分離膜１０ｂを有している。本実施例の
波長分離膜１０ｂは、光ヘッド１のレ−ザ光（波長λ
１）は反射し、それとは異なる調整用光学系９０のレ−
ザ光（波長λ２）は透過する波長選択性を有している。
対物レンズ１ｄに入射した光ヘッド１のレ−ザ光１００
と、調整用光学系９０のレ−ザ光１０９は、対物レンズ
１ｄのレンズ作用により収束光１０１（波長λ１）と１
１０（波長λ２）とされ調整用ディスク１０に向かって
照射される。そして光束１０１と光束１１０はディスク
基板３ａを透過し波長分離膜１０ｂに入射し、この波長
分離膜１０ｂの波長選択性により反射光１０２（波長λ
１）と透過光１１１（波長λ２）に分離される。そして
波長分離膜１０ｂの反射光１０２は対物レンズ１ｅ，ミ
ラ−１ｄ、波長選択フィルタ−９０ｃを経て、光ヘッド
１の固定光学系に導かれた後、光検出器１ｆに入射す
る。この光検出器１ｆより得られたフォ−カス制御信号
を用いて、調整用ディスク１０の波長分離膜１０ｂに光
ヘッド１のレ−ザ光を合焦させる。一方、波長分離膜１
０ｂを透過した光束１１１は保護コ−ト３ｃを透過し磁
気ヘッド２の端面５１に照射される。磁気ヘッド２の端
面５１からの反射光１１２は再び、保護コ−ト３ｃ、波
長分離膜１０ｂ，ディスク基板３ａを透過し、対物レン
ズ１ｅ，ミラ−１ｄを経て、調整用光学系９０の波長選
択フィルタ−９０ｃで反射し、調整用光学系９０内の光
検出器９０ｆに入射する。

【００２４】以上の構成は、光ヘッド１のフォ−カスサ
−ボ（レ−ザ光を調整用ディスク１０の波長分離膜１０
ｂに常に合焦させる）により、調整用ディスクに常に接
触した磁気ヘッド２の端面５１にレ−ザ光を一定の状態
（レ−ザ光の収束状態を一定に保つている）で照射する
ことが可能な構成となっている。これにより磁気ヘッド
２に端面５１に照射されたレ−ザ光の反射率変化を正確
に検出することが可能となり、磁気ヘッド２の磁気コア
２ｂの位置を検出できる。なお本実施例において、調整
用光学系９０の光検出器９０ｆに入射した光を用いて、
光ヘッドの光軸１０１ａと磁気ヘッド２の中心軸５０を
一致させる、いわゆる磁気ヘッドの位置調整方法は、第
１の実施例における光ヘッド１の光検出器１ｆに入射し
た光を用い方法と同じように行なえばよい。

【００２５】以上の構成において、前述したように、光
ヘッド１のフォ−カスサ−ボは調整ディスク１０の波長
分離膜１０ｂに光束が合焦するように行なわれている。
よって磁気ヘッド２の端面に照射される光束は若干デフ
ォ−カスする。このデフォ−カスが生じないようにする
構成を図８に示す。図８において、図７と同一機能部品
には同じ番号を付し、特に必要のない限りその説明は省
略する。この構成においては、光ヘッド１のレ−ザ光１
０１が波長分離膜１０ｂに合焦する場合、調整用光学系
９０のレ−ザ光１１０は磁気ヘッド２の端面５１に合焦
するようにする。本実施例においては、図に示すよう
に、調整用光学系９０から出射し対物レンズ１ｄに入射
するレ−ザ光１０９を、光ヘッド１から出射し対物レン
ズ１ｄに入射するレ−ザ光１００に対して若干発散状態
としてある。これによりフォ−カスサ−ボにより、光ヘ
ッド１の光束が波長分離膜１０ｂに合焦している場合に
も、調整用光学系のレ−ザ光を磁気ヘッド２の端面５１
にデフォ−カスすることなく合焦させることができる。

【００２６】次に、本発明の光磁気ディスク装置におけ
る磁気ヘッドの位置調整方法の第３の実施例について説
明する。図９は本実施例による光磁気ディスク装置にお
ける磁気ヘッドの位置調整方法の説明図である。図９に
おいて、図１と同一機能部品には同じ番号を付し、特に
必要のない限りその説明は省略する。第１、第２の実施
例は磁気ヘッド２の端面５１で反射された光束を光検出
器により検出し行なう方法であった。これに対して本実
施例は、図に示すように磁気ヘッド２の端面５１で反射
された光束１０４（第１の実施例における図２の光束１
０４）をカメラ１で検出し、その出力をモニタ−７２に
表示し磁気ヘッド２の端面５１の磁気コア２ｂを直接検
出する方法である。本実施例においては、光ヘッド１の
固定光学系内に新たにビ−ムスプリッタ１ｃを設け、磁
気ヘッド２の端面５１の反射光１０４をカメラ７１に分
離することによって行なっている。

【００２７】なお、以上説明した第１、第２、第３の実
施例における光ヘッド１、調整用光学系９０の構成を示
した図において、本発明と直接関係のない光学部品等
（例えばレンズ類、光磁気信号検出用部品等）は省略し
た。また実施例の光ヘッド１は分離型光ヘッドであった
がこれに限るものでなく、構成等は本発明とは本質的に
関係ない。また磁気ヘッド２はコの字型の磁気コア２ｂ
をスライダ−２ｃに埋め込んだ構成と成っているがこれ
に限るものではなく、例えば、磁気コア２ｂの形状を、
図１０に示すような山形とした磁気ヘッド３０でもよ
い。図１０において、図２と同一機能部品には同じ番号
を付し、特に必要のない限りその説明は省略する。この
磁気ヘッド３０の磁気コア３０ｂの中心軸５０の検出
も、磁気ヘッド３０の端面５０に入射した光の磁気コア
３０ｂとスライダ−３０ｃとの反射率の差を用いて行な
えばよい。

【００２８】以上、本発明の磁気ヘッドの位置調整方法
により、光磁気ヘッドと光ヘッドを精度よく行なえる。

【００２９】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
ヘッドと磁気ヘッドとの位置合わせを、精度良くしかも
簡単な構成で行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例の調整法の構成図であ
る。

【図２】本発明の第１の実施例に用いる調整用ディスク
および磁気ヘッドの構成図である。

【図３】対物レンズの半径方向の移動を説明した図であ
る。

【図４】磁気ヘッドの半径方向の位置調整を説明する図
である。

【図５】磁気ヘッドの接線方向の位置調整を説明する図
である。

【図６】本発明の第２の実施例の調整法の構成図であ
る。

【図７】本発明の第２の実施例に用いる調整用ディスク
の構成図である。

【図８】対物レンズに入射するレ−ザ光束を説明した図
である。

【図９】本発明の第３の実施例の調整法の構成図であ
る。

【図１０】磁気ヘッドの別の構成例を示す図である。

【符号の説明】

１……光ヘッド、１ｆ…光検出器、２……磁気ヘッド、
２ｂ……磁気コア、３……調整用ディスク、５……キャ
リッジ、６……支持アーム、

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森 直樹 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所映像メディア研究所内 (72)発明者 井上 雅之 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所映像メディア研究所内

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】半透明膜と透明基板を有する第１の調整用
   ディスクと、該第１の調整用ディスクの両側に磁気ヘッ
   ドと光ヘッドとを設け、該光ヘッドから第１の調整用デ
   ィスクに光を照射し、第１の調整用光ディスクの半透明
   膜からの反射光を用いてフォ−カス制御を行ない、半透
   明膜を透過し磁気ヘッドに照射され磁気ヘッドから反射
   された光を光ヘッド内に具備された光検出器で検知する
   と共に、光ヘッドから出射されるレ−ザ光の位置、また
   は方向を一定周期で可変する光偏向手段を光ヘッド内に
   設け、前記光検出器で検出される前記磁気ヘッドからの
   反射光のうち磁気ヘッドの中心軸に相当する光強度が、
   前記光偏向手段のレ−ザ光の位置、または方向を可変す
   る駆動出力（またはレ−ザ光の位置、または方向を検出
   する出力）のうち該レ−ザ光の位置、または方向の中立
   位置に相当する出力位置と一致するように磁気ヘッドと
   光ヘッドとの位置調整を行なうことを特徴とする光磁気
   ディスク装置における磁気ヘッドの位置調整方法。
2. 【請求項２】波長選択性を有する波長分離膜と透明基板
   を有する第２の調整用ディスクトと、該第２の調整用デ
   ィスクの両側に磁気ヘッドと光ヘッドとを設け、さらに
   該光学ヘッドのレ−ザ光の波長λ１とは異なる波長λ２
   のレ−ザ光源を少なくとも有する調整用光学系を、該レ
   −ザ光源からレ−ザ光を前記光ヘッドの対物レンズに入
   射するように設け、第２の調整用ディスクに光ヘッドの
   レ−ザ光（波長λ１）と調整用光学系のレ−ザ光（波長
   λ２）を照射し、第２の調整用光ディスクの波長分離膜
   からの反射光（波長λ１）を用いてフォ−カス制御を行
   ない、該波長分離膜を透過し磁気ヘッドからの反射光
   （波長λ２）を前記調整用光学系内に具備された光検出
   器で検知すると共に、光ヘッドから出射されるレ−ザ光
   の位置、または方向を一定周期で可変する光偏向手段を
   光ヘッド内に設け、前記光検出器で検出される前記磁気
   ヘッドからの反射光のうち磁気ヘッドの中心軸に相当す
   る光強度が、前記光偏向手段のレ−ザ光の位置、または
   方向を可変する駆動出力（またはレ−ザ光の位置、また
   は方向を検出する出力）のうち該レ−ザ光の位置、また
   は方向の中立位置に相当する出力位置と一致するように
   磁気ヘッドと光ヘッドとの位置調整を行なうことを特徴
   とする光磁気ディスク装置における磁気ヘッドの位置調
   整方法。
3. 【請求項３】前記光学ヘッドの対物レンズにより集光さ
   れる調整用光学系のレ−ザ光の合焦位置を、該光ヘッド
   のレ−ザ光の合焦位置に対してずらしたことを特徴とす
   る請求項２に記載の磁気ヘッドの位置調整方法。
4. 【請求項４】前記磁気ヘッドで反射した光束を、カメラ
   を用いて検出することにより、磁気ヘッドと光ヘッドと
   の位置調整を行なうことを特徴とする請求項１から請求
   項３に記載の磁気ヘッドの位置調整方法。
5. 【請求項５】前記光偏向手段が、光ヘッドにおけるトラ
   ッキング用のアクチュエ−タであることを特徴とする請
   求項１から請求項４に記載の磁気ヘッドの位置調整方
   法。