JPH086648A - 温度制御装置 - Google Patents

温度制御装置

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Publication number
JPH086648A
JPH086648A JP13532994A JP13532994A JPH086648A JP H086648 A JPH086648 A JP H086648A JP 13532994 A JP13532994 A JP 13532994A JP 13532994 A JP13532994 A JP 13532994A JP H086648 A JPH086648 A JP H086648A
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JP
Japan
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output
value
programmer
variation rate
control
Prior art date
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Pending
Application number
JP13532994A
Other languages
English (en)
Inventor
Kaoru Aoki
薫 青木
Yasutaka Kobayashi
康敬 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi High Tech Control Systems Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Naka Electronics Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH086648A publication Critical patent/JPH086648A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、化学プラントおよび食品製造プラン
ト等の装置に係り、その目的は、高精度な温度制御装置
を提供することにある。 【構成】プログラマの出力の変化率から測定値の変化率
を減算し、その値に補正の強さを調節する定数を乗算し
た値と、プログラマの出力の変化率に補正の強さを調節
する定数を乗算した値を加算してマニュアルリセット値
とし、前記マニュアルリセット値をプログラマの設定の
勾配および測定値の勾配により自動的に変化する。プロ
グラマの出力が終点に到達し制御偏差が小さくなった時
点でPID制御に切り換える。これらにより、制御偏差
が逆転する前に操作出力を減少又は、増加することで達
成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、温度制御装置に係り、
化学プラントおよび食品製造プラント等の高精度の温度
制御を必要とする温度制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術は、PID制御の制御偏差のみ
が操作出力に加担していたため制御偏差が逆転するまで
操作出力を減少又は、増加ができず、オーバーシュート
またはハンチングが発生し高精度な温度制御が困難であ
った。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は制御偏
差が逆転するまで操作出力を減少又は、増加ができず、
時間遅れにより過操作となる。これによるオーバーシュ
ートまたはハンチングが発生し高精度の温度制御が困難
であった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、制御偏差が逆転する前に操作出力を減少又は、増加
させればよいことに着目し、プログラマの出力の変化率
と測定値の変化率の差からプロセスの傾向を予測し、そ
の値をPID調節計のマニュアルリセット値とすること
により、制御偏差が逆転する前に操作出力を減少又は、
増加できる。
【0005】
【作用】プログラマの出力の変化率から測定値の変化率
を減算し、その値に補正の強さを調節する定数を乗算し
た値と、プログラマの出力の変化率に補正の強さを調節
する定数を乗算した値を加算し、PID調節計のマニュ
アルリセット値とする。又、マニュアルリセット値はプ
ログラマの出力の変化率と測定値の変化率の差としてい
るためプログラマの設定の勾配および測定値の勾配によ
り自動的に変化する。プログラマの出力が終点に到達し
制御偏差が小さくなった時点でPID制御に切り換え
る。
【0006】これらにより、制御偏差が逆転する前に操
作出力を減少又は、増加させるためオーバーシュートの
少ない高精度な温度制御ができる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1により説明す
る。図1は本発明の一実施例を示す構成図である。
【0008】プログラマ4に昇温曲線を設定しておき、
その出力をPID調節計3の設定値とする。プログラマ
4の出力を変化率検出器6に入力し、プログラマ4の昇
温曲線の勾配に応じた出力に変換する。同じように測定
値を変化率検出器5に入力し、前記の変化率検出器6か
ら測定値の勾配変化に応じた出力に変換した値で減算器
9で減算し、補正の強さの定数K2を乗算器8で乗算し
変化率の偏差値とする。
【0009】マニュアルリセット値としての操作出力を
得るためにプログラマ4の出力を変化率検出器6で昇温
曲線の勾配に応じた出力に変換した値に乗算器7でゲイ
ンK1を乗算し、前記の乗算器8の偏差値出力を加算器
10で加算し、さらにバイアス11を加算し、昇温中に
ONとなるスイッチ12を経てマニュアルリセット値と
して加算器13でPID調節計3の出力に加算し、調節
弁15の操作出力とする。
【0010】プログラマ4の出力が終点に到達し、制御
偏差が小さくなったことを昇温中検出器14で検出しP
ID制御に切り換える。
【0011】これらにより、オーバーシュートの少ない
高精度な温度制御が実現できる。
【0012】
【発明の効果】本発明によれば、制御偏差が逆転する前
に操作出力を減少又は、増加させるためオーバーシュー
トの少ない高精度な温度制御ができる。
【0013】化学製品,食品は温度管理が適性であるこ
とが製品の品質を左右するので、本発明は製品の品質向
上に対して極めて重要な効果を生ずる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す構成図である。
【符号の説明】
1…反応缶、2…温度検出端、3…PID調節計、4…
プログラマ、5,6…変化率検出器、7,8…乗算器、
9…減算器、10,13…加算器、11…バイアス、1
2…スイッチ、14…昇温中検出器、15…調節弁。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プログラマとPID調節計を有する温度制
    御装置において、プログラマの出力の変化率から測定値
    の変化率を減算し、その値に補正の強さを調節する定数
    を乗算した値と、プログラマの出力の変化率に補正の強
    さを調節する定数を乗算した値を加算してマニュアルリ
    セット値とし、前記マニュアルリセット値をプログラマ
    の設定の勾配および測定値の変化率により自動的に変化
    させ、前記プログラマの出力が終点に到達し制御偏差が
    小さくなった時点でPID制御に切り換えることによ
    り、制御偏差が逆転する前に操作出力を減少又は増加さ
    せてオーバーシュートを最小限にする制御機能を有する
    ことを特徴とする温度制御装置。
JP13532994A 1994-06-17 1994-06-17 温度制御装置 Pending JPH086648A (ja)

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JP13532994A JPH086648A (ja) 1994-06-17 1994-06-17 温度制御装置

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JP13532994A JPH086648A (ja) 1994-06-17 1994-06-17 温度制御装置

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JPH086648A true JPH086648A (ja) 1996-01-12

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ID=15149225

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JP13532994A Pending JPH086648A (ja) 1994-06-17 1994-06-17 温度制御装置

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JP (1) JPH086648A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100441046B1 (ko) * 2001-02-06 2004-07-19 에이에스엠엘 유에스, 인코포레이티드 관성 온도 제어 시스템 및 방법
JP2008282413A (ja) * 2008-06-16 2008-11-20 Komatsu Ltd 流体温度制御装置及び方法
CN106814605A (zh) * 2017-03-28 2017-06-09 成都天奥电子股份有限公司 一种基于滑窗预估的恒温箱温控算法

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