JPH08505022A - 電話網の性能監視及び試験システム - Google Patents

電話網の性能監視及び試験システム

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JPH08505022A JP6515340A JP51534094A JPH08505022A JP H08505022 A JPH08505022 A JP H08505022A JP 6515340 A JP6515340 A JP 6515340A JP 51534094 A JP51534094 A JP 51534094A JP H08505022 A JPH08505022 A JP H08505022A
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Abstract

(57)【要約】 電話網のアクセス、モニタ及びテストシステム(170)。システム(170)は、局所チャネルの何れか、例えばDS1、DS0及び低速チャネルにおいて、信号(134)、例えばDS3において、選択的な及び瞬断のないビット上書きを与える。多重DS0と低速チャネルは、本願発明の再結合器(458)と接続した非同期タイムスロット相互接続を介して試験してよい。本願発明は、さらに、DS3信号(134)にフレーム指定するための先見リフレーマ(reframer)(474)を包含する。また、本願発明は、DS3信号のDS1チャネル毎にFDLチャネルデータを取り込むための機能データリンク(FDL)ハンドラ(254,1068)も包含する。高速ビット対ビット比較(470)は防御経路にインタフェースされ、本願発明のシステムではl:lの故障防御を与える。DS1とDS3信号に対する全時間性能監視は共用資源によって実行される。本願発明のシステムは、同期測定と相対測定に統合した手段を提供し、また、警報相関及び階層事象フィルタリングも与える。相対同期法の一部は、自動探索基準選択シーケンス(1168)である。チャネルの性能監視と試験を相関させるシステムの一部は、警報相関とフィルタ処理である(1270)。

Description

【発明の詳細な説明】 電話網の性能監視及び試験システム 発明の背景 産業上の利用分野 本願発明は、電話網に関し、より詳細には、電話網にアクセスし、それを監視 し且つ試験するためのシステムと方法に関する。関連技術の説明 電話産業は、ベルシステム(Be11 System)の譲渡以来徹底的に変化を遂げた 。今日、7地域のベル運用会社(RBOCs)と独立した電話会社が166の地域アクセ ス転送領域(LATAs)内で地域電話サービスを提供している。これらの会社は、 1つのLATAから他へのコール伝送に関しては、AT&T、MCI及びSprintのような中 継キャリヤ(転送業者)に頼らざるを得ない。電話回線の品質と性能に対する責 任は、従って、地域電話会社と中継キャリヤの間で分担される。 RBOCsは、独立会社として財務履行の圧力をかけられている。ユーティリティ 委託によって制限される料金の故に、そして当面するコスト上昇及びLATA境界外 へのコール伝送に関する制限との新たな競合のため、電話会社は、新技術、より 活発な事業顧客、及び旧式ネットワークの保守システムの早急な導入に直面して いることに気付いている。 情報伝送の需要は、1980年代の間に劇的に増大した。その10年間の初期の頃は 、ほとんどのデータ伝送システムは、主として比較的低速度のモデムを通してア ナログネットワークをインタフェースした。”高速”伝送システムを求める所で は、一般的に、ディジタル・データシステム(DDS)の56kbpsの速度を選択した 。 前述の伝送速度の上昇についての少なからぬ圧力は、コンピュータ及び他の事 務システムの日々増大する可能性と計算速度を利用したいという要望から生じた ものである。その10年間での伝送技術の改善によって、伝送速度上昇のはずみが 刺激されたのである。銅ケーブルのガラスファイバとの取替えは、外部施設の伝 送容量を何倍も拡大した。同時に、電子技術及びコード化算法(coding algorit hms)の改善によって、光ファイバへの変換を伴う帯域幅の莫大な増加を利用で きるように設計された端末装置が作られた。 標準がないために、実際上は全ての光波ベンダは、光波端末とそのネットワー ク間のインタフェースとしてDS3(44.736 Mbps)を選択した。図1は、DS0(64 kbps)レベル102、DS1(l.544Mbps)レベル104、DS2(6.312Mbps)レベル106及 びDS3(44.736Mbps)レベル108を有する従来技術の北米ディジタル階層(North American Digital Hierarchy)を説明するものである。この階層は、米国規格協 会(ニューヨーク、1987年)のANSI Tl.102-1987-”ディジタル階層、電気イン タフェース”によって定められるものである。DS2は、DS1とDS3間のリンクとし て重要である。転送媒体としてのDS2には進展はほとんど無いとはいえ、DS2レベ ルは、DS1とDS3の信号を仲介しなければならないあらゆるマルデム(muldem)( マルチプレクサ/デマルチプレクサ(multiplexer/demultiplexer))又は他の ネットワーク要素に存在する。DS0は、本質的にはディジタル信号に限られるが 、アナログ音声周波数信号に対する基準(リファレンス)は、ディジタル・チャ ネルバンクにより階層のDS1前述の信号を広範にインタフェースするという理由 から、図1に包含される。 かくして、電気通信の1990年代への切替えは、ネットワーク内のインタフェー スにほとんど普遍的に用いられるDS3速度で起こるのである。顧客と運用会社間 のDS1の伝送は現在は普通であり、常に増大する多数の顧客は、さらに高速での サービス提供者との及び他のエンドユーザとのインタフェースを求めている。DS 2速度は、表面上はDS1とDS3間の論理上の中間段階であるが、いくつかの特殊な 場合以外は転送には不経済であることが分かっている。従って、DS3は、高帯域 幅の光信号に関しては基礎をなすビルディングブロックであると立証されつつあ る。 図2は、従来技術の、光波ネットワークの簡略化モデルであって、4例のネッ トワーク・キャリヤ(キャリヤA、キャリヤB、キャリヤC及びキャリヤD)を示し 、且つ顧客X 140を顧客Y 142に相互接続するのにDS0レベルライン130、DS1レベ ル ライン132、DS3レベルライン134及び光学(光)ファイバライン136がどのように 用いられているか、を示すものである。顧客構内又はサイト140及び142での装置 は、例えば、電話、ファクシミリモデム又はデータモデムであってよい。 マルチプレクサ/デマルチプレクサ又はチャネルバンク144は、ライン130上の 24のDS0レベル信号をライン132上の1つのDS1レベル信号に多重化するのに用いる 。このモデル120では、ライン132上の28のDS1レベル信号をライン134上の1つのD S3レベル信号に多重化するのに、M1/3モデムを用いる。ライン134上のDS3レベル 信号は、光波転送マルチプレクサ122を使ってキャリヤAによりさらにライン136 上の光ファイバ信号に結合される。このモデル120では、3つの中央局152、154及 び156を使い、中間の中央局154は交差接続158の使用によりDS3レベルで交差接続 された3つのキャリヤを有する。 顧客X 140から顧客Y 142への長距離コールには、多レベルの多重化及び多くの キャリヤ切換え(ハンドオフ)が関係する。キャリヤAは顧客X 140の地域運用会 社であり、中央局152及び154を持っている。キャリヤBとキャリヤCは長距離キャ リヤであり、キャリヤDは中央局156を有し且つ顧客Y 142にサービスを提供する 地域運用会社である。 顧客X 140から顧客Y 142へのコールは、3つの中央局と3つの転送キャリヤとに 関連する。そのコールがネットワーク120を通過する際、それぞれその要素に特 有の監視技術を有するいくつかのネットワーク要素、例えば、チャネルバンク14 4、M1/3モデム146、128、及び光波転送マルチプレクサ122、126、によって処理 されてよい。保守及び課金問題は、この相互影響について常に生ずる問題である 。 ほとんどのネットワーク要素は、それらが処理するデータに関して何らかの形 の監視、試験、及び制御機構を組み入れている。しかし、これらのオプションの 何れもDS3及び全ての局所チャネル(embedded channels)の連続監視又は試験ア クセスを支援しない。 帯域幅のコストは、先の10年でそうであったようには設備計画者をもはや悩ま さない程度まで急落したとはいえ、DS3への移行はそのコストを免れることはな い。これらのうち主なものは、DS3ビットストリームに埋め込まれたレート・チ ャネルを下げる便利で経済的な試験アクセスの欠如及びDS3定様式信号に埋め込 まれた性能データを利用できるよう設計された監視システムの欠如である。 DS3(及びそれほどではないがDS1)信号は単位時間当たり大量のデータを搬送 し、これは帯域幅が運用会社の設備計画者にとって安くなったほどエンドユーザ にとって安価ではなく、エンドユーザの側でのかなりの金融投資に相当するもの である。DS3を用いる運用会社は、前述の高速ディジタル機能の有害な損傷又は 全面的故障の場合に事実上停止するという危険を冒すことになる。従って、エン ドユーザとサービス提供者の両方のDS3設備を管理する者は、彼らのネットワー クにおけるディジタル・リンクの性能に実際に興味を持つことになる。彼らは、 彼らが扱うビット・ストリームに埋め込まれた性能情報を、ネットワークを管理 する上で及びサービス機能停止という損失の大きい衝撃を極力少なくする上で極 めて有用であり得るデータを抽出しないで、ただ単に通過させることには満足し ない。 DSX-3の交差接続パネルのモニタジャックのところでDS3信号を得ること及び望 まれる補助信号は全てDS3から多重分離することが可能である。その後で、前述 の信号を携帯型試験装置に補ってよく、又は分析用試験システムへ経路選択して よい。DS0からDS3までの任意の速度で抽出された信号を分析する多くの試験セッ トが利用できる。しかし、この技術は、パッチングを実行するには手動アクセス を必要とし、一時に1つのDS3だけに関して試験及び/又は監視装置の使用を可 能にするものである。この方式の携帯型試験配置では、一般に試験信号又はデー タを同一のDS3で搬送される他のサービスを妨害しないでDS3ビット・ストリーム の出接チャネル(outgoing channels)に挿入できない。 ディジタル交差接続システム(DCS)はDS3ネットワークにおける試験アクセス 車両としての用途を考えることができる。DCSの多用途型で複雑なスイッチング 能力では、アクセスに費用がかさむことになる。加えて、ネットワーク全体にわ たり、監視又は試験アクセスを要する全ての箇所に前述のシステムを分散させる ことには適しないDCSの使用に関連した損傷がある。DCSによってもたらされる損 傷の中では、その一定量が入接及び出接フレーム構成を同期させるのに必要であ る遅延、及び奪取ビット書き直し歪み(robbed-bit writeover distortion)が あり、後者の障害はDS0の速度へスイッチングダウンを行う時だけ生ずるもので ある。 コストを削減しながらサービスを改善するため、RBOCsは、現場技術者の手元 の携帯型試験装置から中央のネットワーク管理センターに接続される永久設置試 験システム又は運用支援システム(OSS)に変わり;そして顧客からの障害申告 に応ずる修理行為から先行したネットワーク性能監視と予防保守へ変わった。電 話会社で使われる現存装置は、電話会社で必要とされる機能性のわずかに小部分 を提供するだけであり、しかも非常に費用がかかるものである。 電話網においては、同期監視機能により試験中のDS1信号のクロック周波数が 基準のDS1信号と比較される。その基準信号は、試験システムにおける(埋め込 まれた又は直接インタフェースの)DS1の何れかであってよく、又は試験システ ムポートを通して受信された外部DS1に基づく基準であってよい。 同期測定は、ネットワークの周波数オフセットがDS1の副フレームの追加又は 欠失である”スリップ”に帰着し得るという理由から、重要である。もし全ての クロック及び信号遅延が完全に安定であったなら、電話網のタイミングは問題に はならないだろう。その時は、それら全てが同一速度で動作するためにはクロッ クについての初期校正だけが必要であろう。電話網は、漠然とタイミング障害を 免れて同一速度で動作するであろう。しかし、物理的装置は完全ではなく、従っ て同期技術が用いられるのである。しかし、現在知られている同期法をもってし ても、周波数オフセットは、依然として問題を起こすといっても差し支えない。 従って、監視機能がネットワークにおけるスリップの発生を正確に且つ迅速に予 測することは、大切な長所であろう。 また、二方向経路が相互に又は外部基準と同期しているかどうかを決めるため に、選択したDS1信号の2つの方向を比較することも望ましいことであろう。さら に、特定の時間中における許容数のスリップに対してしきい値レベルを確立する 必要性、及びしきい値を上回る時に適切な行動をとり得るネットワーク管理セン ターに自律警報メッセージを送る必要性が現存している。 性能監視は、二方向の又はDS3の回路又はチャネル及び通常DS2s及びDS1sとし て知られているそれらの構成準回路の全てを通して実行される。これらのDS3、D S2及びDS1の回路は、DS3当り7つのDS2s及びDS2当たり4つのDS1sを有する階層 構造の形でネットワークに編制される。Bellcore TR-TSY-833及びANSI TlM1.39 1規定に従い、各回路はいくつかのネットワーク妨害条件に対して監視される。 妨害は、サービス損失を招来する故障となり、もしくは質低下状態を招く欠陥と なり得る。これらの妨害には、信号損失(LOS)、フレーム損失(LOF)、警報表 示信号(AIS)、イエロー警報、等があり、Bellcore TL1のプロトコルを使って 、自律事象として制御動作支援システム(OSS)に典型的には9600ボー(baud) リンクを介して発せられるものである。 DS3レベルの妨害の場合、従属の又は局所回路が故障する確率が非常に高くな る。このシナリオでは、埋め込んだDS2及びDS1回路からのおびただしい量の”過 剰”情報は、0SSへ向かう自律事象の血液の形で生成されるという可能性を有す る。本質的に、この構成情報は、最高レベルの欠陥だけが係わるのでほとんど価 値がない。故障を識別する上で最も妥当な情報をOSSに供給するためには、より 上位(DS3又はDS2)のレベルの故障の場合に発せられる過剰情報量を減らす階層 フィルタリング機構は、大いに有用であろう。 従って、稼動中のDS3ライン及び経路に本質的に透明であるシステムを使用す るDS3の監視及び試験に関する必要性があり、それは非割り込み(non-intrusive )の監視及び性能モニタリングをもたらすもので、必要なとき割り込み試験アク セスを提供でき且つDS3の監視及び試験アクセスを要するあらゆる箇所に設置す るのに十分な経済性を有する。また、DS3ネットワークの運用についての情報に 通じた決定をなすために、ネットワーク管理者がDS3フォーマットに埋め込んだ 包括的性能データにアクセスする必要性もある。発明の概要 本願発明は、会社が彼らの高速電気通信網を効率よく管理するのを支援するた めの統合したアクセス、性能モニタリング及び試験システムを提供するものであ る。アクセスシステムによって、電話会社はサービスに影響する停止が起こる以 前にサービス品質の低下を確認し、彼らのネットワーク管理センターからの全回 路の性能を連続的に監視することが可能となる。システムを通過する全てのDS3 信号は、Bellcoreの伝送要件によって規定された性能指標に関してモニタされる 。 現在好まれるアクセスシステムは、警報信号を伝送しない限り10マイクロ秒未 満の絶対遅延の単射を除いて本質的にはDS3ネットワークに透明である。そのシ ステムは、前述の任意の回路での発信情報をDS3の他の回路での伝送に影響させ ずに伝送することによりDS3に埋め込んだ回路と相互作用する。 本願発明の一様相では、複数の局所通信チャネルを有する信号用の保守システ ムがあり、そのシステムは、信号受信装置、1つ以上のチャネル群の何れかに同 時にアクセスする装置、及びアクセスしたチャネルを性能監視する装置から構成 される。 発明の他の様相では、局所チャネルを有する信号に対する性能監視システムが あり、そのシステムは、局所チャネルへのアクセスをもたらすための共用資源、 信号に複数の多重化チャネルを有するチャネルを連続的に監視する装置、及びそ のチャネルと同時に多重化されたチャネル群を連続的に監視する装置から構成さ れる。 発明の他の様相では、1つ以上の信号に埋め込んだ複数のチャネル間の相対同 期を測定するシステムがあり、そのシステムは、各局所チャネルが複数ビットか ら成る局所チャネル群に同時にアクセスするための装置、アクセスした局所チャ ネルにおけるビットをカウントするための装置、及びその局所チャネルの1つに おけるビットカウント数をその局所チャネルの他のビットカウント数と比較する ための装置から構成される。 発明の他の様相では、1つの信号の1組のチャネル群の同期を測定する方法が あり、その方法は、各チャネルの周波数を測定する操作と、各チャネルの周波数 を比較して1つ以上の相対周波数の測定値を得る操作とから成る。 さらに発明の他の様相では、1つの信号の1組のチャネル群から内部基準を順 応するよう選択する方法があり、その方法は、チャネル群のプールを選択する操 作と、他の全てのチャネルに関する周波数測定結果を正規化するためにそのプー ルから基準チャネルを選ぶ操作と、基準チャネルと比較してその信号の各チャネ ルの周波数を測定する操作とを含む。 本願発明の他の様相では、複数の局所チャネルを有するチャネルについて性能 監視と試験を相関させるためのシステムがあり、チャネルの妨害を検出する装置 と、局所チャネル群の1つにおける妨害を検出する装置と、チャネルの妨害を局 所チャネル群の妨害と相関させる装置と、局所チャネル群の妨害がチャネルの妨 害と相関する時に局所チャネル群の妨害の警報を封鎖する手段を含む妨害に対し て警報を発する装置から構成される。図面の簡単な説明 図1は、本願発明によってアクセスされる電話網に用いられる北米ディジタル 階層の線図であり; 図2は、模範的な簡略化ネットワークモデルのブロック図であり; 図3は、統合転送アクセスユニット(ITAUs)として示される本願発明の1組 のDS3信号アクセスシステムを有する模範的な簡略化ネットワークモデルのブロ ック図であり; 図4は、本願発明による現在望まれるアクセスシステム・アーキテクチャの機 能的ブロック図であり; 図5は、図4に示すアクセスシステムのシステムブロック図であり; 図6は、図6に示すDS3のインタフェースモジュールのブロック図であり; 図7は、図4及び5に示すアクセスシステムの動作フローチャートであり; 図8は、図6に示すドロップ・インサート(DAI)回路の入出力(I/O)線図で あり; 図9は、図8に示すDAI回路の高レベルブロック図であり; 図10aは、図8に示すDAI回路の詳細ブロック図であり; 図10bは、図10aに示すDAI M23多重分離副回路のブロック図であり; 図10cは、図10aに示すDAI M12多重分離副回路のブロック図であり; 図10dは、図10aに示すDAI DS1モニタ副回路のブロック図であり; 図10eは、図10aに示すDAI再結合器副回路のブロック図であり; 図10fは、図10aに示すDAIプロセッサ・インタフェース副回路のブロック図で あり; 図11は、図10eに示すDAI再結合器の疑似DS2挿入部分のブロック図であり; 図12は、図1に示すDS3レベルに対するDS3フレーム指示フォマットの線図であ り; 図13は、図1に示すDS3レベルに対するDS3付加ビットの線図であり; 図14は、図1に示すDS3レベルに対するDS3 C-ビットパリティ付加ビットの線 図であり; 図15aは、図10bに示すDAI M23Demuxの先見枠組み部分のブロック図であり、 図15bは、図15aのピラミッド・シフトレジスタに関する線図であり; 図16は、図4に示すアクセスシステムの一部分の機能的ブロック図であり; 図17は、図5に示すパルス符号変調(PCM)ハイウェイのブロック図であり; 図18は、1組のPCMハイウェイ・タイムスロットのタイミング/ビットフォマ ット線図であり; 図19は、図18に示す2つのタイムスロットの明細を与えるPCMハイウェイ転送 状態タイミングのタイミング/ビットフォマット線図であり; 図20は、図6に示す非同期タイムスロット中継(TSI)回路の入出力(I/O)線 図であり; 図21aは、図20に示す非同期TSI回路のトップレベルのブロック図であり; 図21bは、図21aに示すTSI機能データリンク(FDL)副回路のブロック図であり ; 図21cは、図21aに示すTSI周波数カウンタ副回路のブロック図であり; 図21dは、図21aに示すTSI低速ハンドラ副回路のブロック図であり; 図22は、TSIとDAI間のインタフェースのタイミング線図であり; 図23は、図6に示す機能データリンク(FDL)マイクロコントローラ・インタ フェースのブロック図であり; 図24は、図23に示すTSI FDLハンドラ論理のブロック図であり; 図25は、図23及び24に関連してFDLインタフェース・タイミングのタイミング 図であり; 図26は、図5に示す1対のDS3インタフェース・モジュールのDS3データ経路の ブロック図であり; 図27は、図5に示すDS3モニタ・モジュールを含む、アクセスシステムのDS3保 護のブロック図であり; 図28は、図10aに示すDAI回路のビット対ビット比較部分のブロック図であり; 図29は、図6に示すDS3線形インタフェース(LI)回路のDS3データ経路遅延調 整部分のブロック図であり; 図30a及び30bは、制御スリップの前後のT1ビット・シーケンスを説明するもの であり; 図31は、図1に示すDS1レベルに対するDS1スーパフレーム・フォマットの線図 であり; 図32は、基準クロック経路を含む、図4に示すアクセスシステムのシステムブ ロック図であり; 図33は、図32に示す管理プロセッサ・モジュールによって実行される自動探索 基準選択シーケンスのフローチャートであり; 図34は、図4及び5に示すアクセスシステムの事象及び性能監視階層フィルタ リング処理の高レベル・ブロック図であり; 図35は、図34に示す警報相関及びフィルタ処理に対応する警報当りの走査シー ケンスのフローチャートであり;そして 図36は、図34に示す警報相関及びフィルタ処理に対応する回路当りの走査シー ケンスのフローチャートである。 好ましい実施例の詳細な説明 図面全体を通じて、同等の部品には同じ参照番号が用いるものとする。 便宜上、以下の説明は次の主要な6セクションに分けて概説するものとする。 即ち、システムの概観、DS3ドロップ及びインサート(DAI)回路、非同期 タイムスロット相互接続(TSI)回路、保護パス(通路)、相対同期化、及び 、警報の相互関係である。 I.システムの概観 図3に示すように、統合移送アクセスユニット(ITAU)とも呼ばれるDS 3信号アクセス、モニタ、及び、テストシステム170は、RegionalB ell Operating社(RBOC)、及び、長距離キャリアのファイバ 光およびマイクロ波無線伝送システムの必須部品として、設置される。図2に示 す簡素化されたネットワークモデル120は、ネットワークモデル168に例と して示す数箇所にDS3信号アクセスシステム170を追加することによって図 3に示すように強化される。中央局152において、DS1信号132は、M1 /3マルデム146により、アクセスシステム170a用入力になるDS3信号 134に多重化される。アクセスシステム170は、1つのDS3信号から最大 96のDS3信号までの範囲に亙って、入力として受け入れ可能であり、出力D S3信号の個数は入力信号の個数と同じである。実際、アクセスシステム170 は、双方向性であり、そして、2方向音声またはデータ通信を扱うためにネット ワーク自体が双方向性である。 DS3レベルライン134’を含むアクセスシステム170a出力は、キャリ アAにより、光波輸移送マルチプレクサ122を用いて、ライン136上のファ イバ光信号に結合するか、或いは、その代わりに、中央局154に送信されるべ き他の既知の手段をもちいて、マイクロ波信号に結合される。中央局154にお いて、例えば、キャリアAは、デマルチプレックサ122を介し、てファイバ光 信号136を、別のアクセスシステム170bへの入力として用いられる多重D S3レベル信号に非多重化する。同様に、キャリアB、及び、キャリアCは、D S3レベル信号を、それぞれ、アクセスシステム170c、及び、170dに供 給することができる。3つのアクセスシステム170b、170c、及び、17 0dの出力は、点158において相互接続される。最後のアクセスシステム17 0eは、中央電話局156内に示すように、キャリアCとキャリアDとの間に取 り付けられる。 DS3レートにおいてインタフェースすることにより、アクセスシステム17 0は、DS3データを再生することが可能であり、そして、以下に説明するよう に高い信頼性を保証するために、保護パス計画を用いて、1対1保護が可能であ る。アクセスシステム170を通ることに起因する遅延は公称値(10マイクロ セカンド未満)であり、従って、図3に示すように、システムは、終端間DS3 パス遅延に対して殆ど影響を及ぼすことなしに複数のネットワークロケーション (場所)において使用可能である。 アクセスシステム170は、DS3チャネル146及び全ての埋め込みDS1 回路132を監視する連続的性能を提供する。埋め込みメンテナンス(保守整備 )システムとして、性能情報は、データ崩壊を引き起こすことなしに、監視され 、そして、収集される。アクセスシステム170は、他のチャネルへのサービス 崩壊を引き起こすことなく、即ち、ヒットレスアクセスとして、DS3ビットス トリーム内の任意の埋め込みチャネルへのアクセスを提供する。 アクセスシステム170は、高容量デジタルサービス(HICAP)または、 HCDS)テスト用多重DSI信号;音声周波数(VF)、デジタルデータサー ビス(DDS)、及び、信号発信のテスト及び測定を行うための多重埋め込みD S0、及び、サブレートチャネル、及び、テストアクセスダイグループ(TAD )、及び、ファシリティアクセスダイグループ(FAD)のためのDS1及びD S0職人(コラフトパースン)インタフェースへの同時ヒットレスアクセスをサ ポートする。サブレートチャネルは、例えばモデムのようなデータアプリケーシ ョン用としてのDS0 DDSネットワークのサブチャネルである。使用するデ ータレートに応じて、サブレートDS0Aは1つのサブカスタマを持つことが可 能であり、他方、サブレートDS0Bは複数のカスタマを持つことができる。 例えばキャリア122、124、126、及び、128のような移送キャリア は、アクセスシステム170をネットワーク内の任意の場所に自由に置くことが できる。アクセスシステム170の応用としては、特殊サービス及びDDSハブ を対象とする2つのキャリアの間の境界における使用、及び、有人、無人、或い は、遠隔電話局における使用が含まれる。アクセスシステム170との管理セン タインタフェースは、以下において説明するように、産業標準オペレーション支 援システム通信プロトコルを介して提供される。オペレーション支援システム( OSS)は、オペレーションシステム(OS)とも呼ばれる。 図4は、現時点において好ましいとされるアクセスシステム170のアーキテ クチャを示す機能ブロック図である。本発明のアクセスシステム170は、DS 3及び埋め込みDS1チャネルを監視する連続的な非侵入的性能;要求に応じて DS0及び埋め込みチャネルの非侵入的性能;多重化されたDS1、DS0、及 び、サブレートチャネルへのヒットレスアクセス;DS1、DS0、及び、サブ レートチャネルの侵入的或いは非侵入的なテスト;及び、報告、及び、制御のた めのOSインタフェースを提供するために、48の双方向性DS3信号、または 、96の例えば、ライン134を介して供給されるDS3のような一方向性DS 3信号にインライン接続する。 一般に、性能監視機能は、注目に値するイベントを記憶し、そして、例えばエ ラーレートのような統計値を計算する。アクセスシステム170によりDS3レ ベルにおいて監視されるパラメータ及びイベントに含まれる項目には、特に、フ レームフォーマット、バイポーラ(二極式)侵害(BPV)、及び、信号喪失( LOS)が含まれる。例えばフレームフォーマット状態、Fビットエラーカウン ト、及び、フレームパリティエラーカウントを含むDS3レベル統計結果は、記 憶され、そして、報告される。同様に、DS1レベル性能監視および統計、及び 、TAD/FAD性能監視は、システム170によってメモリに記憶される。 更に、アクセスシステム170は、サービス前テスト、故障の確認或いは故障 の隔離、及び、修理の確認を支援する形において、全てのDS1、DS0、及び 、サブレートチャネルへのヒットレスモニタ又はスプリットアクセスを提供する 。モニタアクセスは、混乱を起こすことなくシステムを通過する際に、アクセス されたチャネルをシステム170が「聞く」ことを可能にする。モニタアクセス を確立すること、或いは、破壊することは、チャネル、或いは、ビットストリー ムの他の構成要素にとって、崩壊を引き起こす原因にはならない。スプリットア クセスは、チャネルの正常通路を破壊しそして、各方向から受信したデータは、 出送信チャネルに挿入されたデータを有する。 最後に、アクセスシステム170は、システムを通る同一情報の伝達に影響を 及ぼすことなしに、受信されたDS3及びDS1ビットストリームからDS1、 DS0、及び、サブレートチャネルを抽出するための非侵入的テスト能力を提供 する。侵入的テストは、出DS1、DS0、及び、DS3ビットストリームに埋 め込まれたサブレートチャネルへの情報記入を可能にする。例えば、侵入的テス トは、HCDS及びDDS再構成コマンド、ルーピングコマンド、テストパター ン及び音声周波数テストトーン、及び、例えばP/ARのために必要な波形のよ うな複雑な波形を含む。 再度、図4において、ライン134において受信されたDS3信号は、同じデ ジタル情報を有するDS3信号を出力する受信機または再生機(リジェネレータ )172を介して供給され、次に、コンバイナ174と通り、そして、送信機ま たは、再生機176を通って供給される。閉じた状態で図示される一次パスリレ ー178は、DS3信号が、出力ライン134’を通ってこの一次パスから出力 されることを可能にする。同時に、入来DS3信号は、2つの再生機172’、 176’を通って供給されるが、しかし、保護パスリレー178’と呼ばれる二 次リレーは開いているので、この保護パスがそのDS3信号を出力ライン134 に供給することを防止する。以下において更に説明されるように、リレー178 、178’は、協同作動し、2つのパス(通路)のうちの1つからの信号を出力 ライン134’に供給し、従って、DS3信号がアクセスシステム170を通っ てフェールセーフトランスミッション(伝達)されることを可能にする。 既に説明したように、アクセスシステムの性能監視機能は一次パスからのDS 3信号を受け取る180において図4に示される機能ブロックに導入される。ア クセス及びテスト機能は、一次パスからのDS3信号を、埋め込まれたチャネル データを 1つ又は複数のDS1テスト資源184、または、DS0テスト資源 186に選択的にルートするDS1/DSOルータ182に供給することによっ て達成される。DS1及びDS0テストシステムは周知であるので、テスト資源 184、186の機能については、ここでは、これ以上説明しないこととする。 DS1信号を伝達するためのTAD/FADインタフェースライン188は、遠 隔テストユニットとして、或いは、外部のテスト装置によって入来DS3信号か ら非多重化されたビットストリームのための1つのローカルテストユニットとし て、アクセスシステム170が使用できるように、ルータ182に接続される。 ビットの重ね書きを必要とするテストはルータ182を介してコンバイナ174 にデータを伝達し、ここにおいて、ビットは選択的にDS3信号に重ね書きされ ることに注意されたい。 性能監視、アクセス、及び、テストは、高レベルデータリンク制御(MDLC ) バス、或いは、性能モニタ180、DS1/DS0ルータ182、及び、DS1 、及び、DS0テスト資源184、186に接続されたリンク192を介してシ ステムコントローラ190によって制御される。更に、システムコントローラ1 90は、遠隔場所からの制御のためにライン196を通ってOS(図示せず)へ の通信を提供するユーザーインタフェースサブシステム194と交信する。ユー ザーインタフェースは、一般に、現代の機械化されたシステム、または、プログ ラム文書化システム(PDS)フォーマットによって用いられるトランザクショ ン言語1(TL1)において送信されたメッセージを解読する。マンマシン言語 (MML)は、技巧専門家とインターフェイスするために使われる。従って、例 えばBellSouthのようなローカル(市内)電話会社、或いは、例えばM CIのような交換キャリアは、本発明のアクセスシステム170を用いてDS3 、及び、埋め込みチャネルへの即刻アクセスが可能である。 図5は、現時点において好ましいアクセスアクセスシステム170のシステム 構成図である。アクセスシステム170は、モニタ、アクセス、及び、テスト機 能を金属製品の3つのシェルフ(棚)を有する1つのシステムに統合する。48 のDS3をサポートする完全に構成されたアクセスシステム170は2つの装置 ベイ内に格納され、各ベイは5つのシェルフをサプートする、即ち、1つの管理 シェルフ200、8つの高速インタフェースシェルフ202、及び、1つのテス ト資源シェルフ棚204である。アクセスシステム170は、電話局環境におけ る動作用に設計されている。 アクセスシステム170は設計上はモジュール式であり、展開するとネットワ ークをサポートし、そして、ハードウェア及びソフトウェア能力の容易な統合を 可能にする。各ハードウェアモジュールは、以下に説明するように、中央管理プ ロセッサ190にデータ収集、制御、及び、通信を供給するプロセッサコンプレ ックス(複合体)を有する。アクセスシステム170の設計は、ネットワークお 保守整備要素の追加によってネットワークの信頼度を低下させてはならないと言 う哲学に基づく。この目標を達成するために、アクセスシステム170は、その 回路及びソフトウェアの機能性を注意深く監視する。アクセスシステム170は 、システムにネットワーク信頼性に関する工業的目標を実質的に越えさせるよう な 程度の冗長性によって保護されている。アクセスシステム170の信頼度を更に 高めるために、各DS3パス(通路)は、一対一の冗長性を提供するバイパスリ ピータ(中継器)によって保護され、アクセスシステム170を通る正常なパス (通路)が幾つかの厳しい内部診断テストのうちのいずれかに合格出しなかった 場合には、リピータが自動的にサービス状態に切り替えられる。 管理シェルフ(棚) 図5に示すように、管理シェルフ200は、中央演算エレメント及び、メモリ 記憶資源を有する。更に、このシェルフ(棚)は、シェルフ間交信、及び、サポ ートおよび管理センタとの交信のための資源を提供する。内部交信は、多重直列 通信プロトコル「電子産業協会(EIA)232」及び「EIA 423」によ る。外部インタフェース言語フォーマットは、TL1、PDS、及び、MMLを 含む。管理シェルフ200は、可聴、可視、遠隔測定並びにディスプレイを含む システム生成オフィスアラームの供給源(ソース)である。管理シェルフ200 は、以下に示すように、4つのハードウェアモジュールを有する。 管理プロセッサモジュール190は、中央システムコントローラであり、HD LCリンク192を介してシェルフ間交信、及び、以下に説明する通信プロセッ サモジュールを194を介して外部インタフェースとの通信を提供する。管理プ ロセッサモジュールは、内部システム制御のための直列インタフェースを用いる 、即ち、例えばハードディスクドライブ(図示せず)のような周辺装置の制御の ための小型コンピュータシステムインタフェース(SCSI)インタフェース2 08、及び、他のVNE標準モジュールと交信するためのVersaModul e Eurocard(VME)データバスインタフェース210である。SC SIインタフェース208は、管理プロセッサモジュール190を周辺サブシス テム212に接続し、そして、VMEインタフェースは、モジュール190を通 信プロセッサモジュール194及びオフィスアラームインタフェースモジュール 214に接続する。 周辺サブシステム212は、1.44メガバイのトフロッピーディスクドライ ブ、105メガバイトのハードディスクドライブ、60メガバイトの任意装備( オプション)のテープドライブ、及び、図5には一切図示されていない周辺モジ ュールを有する。これらの部品は、監視データを記憶し、そして、レコードユー ザーの活動を記録する。 通信プロセッサモジュール194は、外部のオペレーションズシステム(OS )、または、テストシステム制御センタ(図示せず)に通信インタフェース19 6を提供する。インタフェース はTL1又はPDSを介する。電気プロトコル は、直列「EIA 232」、または、「EIA 423」である。クラフトイ ンタフェースは、ユーザーの友好オーバレイを用いるMMLである。システムに 対して外部の他の通信196’は、国際電信電話諮問委員会(CCITT)規格 X.25に基づく直列インタフェース電気プロトコルを用いて、TL1及びPD Sにより行われる。 オフィスアラームインタフェースモジュール214は、重要、主要、そして、 些細なオフィスアラーム用に、可聴216a、視覚的216b、及び、遠隔測定 216cアラームを生成し、更に、ビルディング統合タイミングソース(BIT S)クロック(図示せず)に基づくDS1を受信して変換し、内部同期のための クロック及びフレームを提供する。BITSクロックは、中央電話局全体ののた めのクロック基準である。 高速インタフェースシェルフ 各高速インタフェースシェルフ(棚)202は、最大6つまでの双方向性DS 3信号ライン134とインターフェイスする能力をサポートする。システム当た り合計48のDS3をサポートするために、8つまでのシェルフが装備可能であ る。各DS3パス(通路)134には、一対一防護が提供されている。DS3及 びDS1パラメータ、DS1及び全ての埋め込みDS0チャネルへのヒットレス アクセス、及び、DS3ビットストリームに対するDS1及びDS0チャネルの ドロップ及びインサートのDS3レートにおける連続的な性能監視が提供される 。プロプラエタリ(所有権主張可能)にフォーマットされた利用可能なDS1デ ー タ用として、HCDSテスト能力が備えられる。フォーマットされたDS0デー タは、テストのために、PCMハイウェイ220経由で、テスト資源シェルフ2 04まで移送可能である。次に説明するように、高速インタフェースシェルフ2 02は、4つのハードウェアモジュールを有する。 1組のDS3インタフェースモジュール(図5には2つのモジュールを示す) 171および171’は、デジタルDS3ビットストリーム134うインターフ ェイスし、そして、DS3を部分DS1、DS0、及び、サブレートチャネルに デマルチプレックス(非多重化)するための資源を提供する。DS3インターフ ェイスモジュール171及び171’PCMハイウェイ220を経てシェルフモ ニタモジュール232及びDS3モニタモジュール224に接続される。DS3 インタフェースモジュールは、DS1、DS0、及び、サブレートデジタルレベ ルにおけるドロップ及びインサート入能力により、DS3再生回路をサポートす る。完全なフレーミング及び連続的性能監視情報は、DS3及びDS1レベルに おいて収集され、そして、報告される。モジュール171はDS3保護及び再生 回路を有し、隣接モジュール171’のDS3ビットストリームに対して一対一 の次カード保護を提供する。 シェルフモニタモジュール232は、HDLCリンク192を用いて、DS3 インタフェースモジュール171及び171’、DS3モニタモジュール224 及びDS1アクセス及びテストモジュール184を相互接続する。シェルフモニ タモジュール232は、HDLCリンク192を介して管理プロセッサ190へ のイントラシェルフ通信インタフェースとして機能する。更に、モジュール23 2は、PCMハイウエイ220経由で、テスト資源シェルフ204上のシェルフ モニタモジュール232’へ接続される。シェルフモニタモジュール232は、 再タイミング、バッファリング、及び、差をデータ及び制御ラインの単一終終了 変換に対する微分を提供する。 DS3モニタモジュール224は、モニタバス226及び226’を経て、各 々、DS3インタフェースモジュール171及び171’へ接続される。DS3 モニタモジュール224は、ビットの比較用として1つのビットを用いることに よりDS3インタフェースモジュール171及び171’の故障管理を行う。エ ラー状況は、HDLCリンク192を用いて報告される。 DS1アクセス/テストモジュール184は、疑似DS2(PDS2)バス2 30経由でDS3インタフェースモジュール171及び171’に接続される。 同様に、モジュール184は、PDS2バス230(リンクは図示せず)経由で DS3モニタ224へ接続される。DS1アクセス/テストモジュール184は 、埋め込みDS1にHCDSテストを提供する。このモジュールは2つのDS1 チャネルの同時HCDSテストをサポートする。DS1チャネルは、疑似DS1 (PDS1)バス234を経て、テストのために、テスト資源シェルフ204に ルート可能である。高速インタフェースシェルフ202当たり1つのDS1アク セス/テストモジュールが用いられる。 テスト資源シェルフ テスト資源シェルフ204は、DS1、及び、DS0及びサブDS0テストの 全範囲に対してテスト資源機能性をサポートする。同様に、TAD188及びF AD188’ポートは、DS1アクセスを介して、DS1及びDS0をテストす るためのインタフェースを提供する。次に説明するように、テスト資源シェルフ 204は4つのモジュールを有する。 DS1インタフェースモジュール238は、TAD或いはFADポートのいず れかとして構成可能なDS1レートにおいてアクセスシステムネットワークイン タフェースを提供する。TADインターフェイス188として、DS1インタフ ェースモジュール238は、入来DS1チャネル非多重化し、そして、テスト用 として選定されたDS0回路を抽出する。FADインターフェイス188’とし て構成された場合、このモジュール238は、完全なDS1ファシリティを受信 し、送信し、そして、ループする。FADを介して入力されたDS1のHCDS のために、性能監視およびテストアクセス管理が、同様に提供される。DS1イ ンタフェースモジュール238は、DS1アクセス及びテストモジュール184 及び184’、DS0アクセス及びテストモジュール186、及び、シェルフモ ニタモジュール232に接続される。 DS1アクセス/テストモジュール184’は、埋め込まれたDS1にHCD Sテストを提供する。このモジュールは2つのDS1チャネルの同時HCDSテ ストをサポートする。 DS0アクセス/テストモジュール186は、DDS、及び、DS0およびD S3またはDS1ビットストリームに埋め込まれたサブレートチャネルのVFテ ストのために、ディジタル信号処理(DSP)を組み込む。各モジュールは6つ までの同時テストをサポートする。 シェルフモニタモジュール232’は、イントラシェルフ通信インタフェース として役立ち、そして、データ及び制御ラインの単一終端変換に対して再タイミ ング、バッファリング、及び、微分機能を提供する。 DS3インタフェースモジュール 図6は、アクセスシステム170において、DS3モジュールとも呼ばれる、 DS3インタフェースモジュール171に関する構成図である。各DS3モジュ ール171は、1つの単一DS3信号134に対して完全な受信および送信機能 を提供する。アクセスシステム170は、48の完全DS3用サービスを提供す る最大96 までのDS3モジュール用キャパシティを提供する。一対一保護計 画は、DS3モジュールペア171及び171’の隣接DS3モジュール用の冗 長通路を有する各DS3モジュールによって実現される。 DS3モジュールは、DS3からDS0Bまでの全てのレートにおいて、ドロ ップ及びインサート能力を提供する。特に、4つまでのDS0Bまでサブレート チャネルまたは24までの完全DS0チャネルが、DS1s又はDS2sの入来 源に関する一切の制約条件なしに挿入可能である。全ての挿入はヒットレスであ り、その結果、挿入の開始、挿入期間中、或いは、挿入終了に際して、他のチャ ネルに一切影響を及ぼさない。 更に、DS3モジュールは、DS2ビットのドロップ及びインサート機能を提 供する。個々のDS1チャネル132を含む全DS2ビットストリーム又はビッ トストリームの任意の部分集合のいずれかには重ね書き可能である。DS3制御 ビットの重ね書きに関しても同様に能力がある。全ての挿入はDS3レートで行 われるので、挿入されないあらゆるビットは、影響を受けないモジュールを簡単 に通過する。 更に、DS3モジュール171は、DS3信号134’、7つの埋め込まれた 全てのDS2、及び、28全ての埋め込まれたDS1 132の性能を絶えず監 視する。サポートされる様々なフレームフォーマットには、DS3レートにおけ るC‐ビットパリティ、スーパーフレーム(SF)、拡張されたスーパーフレー ム(ESF)、T1データマルチプレクサ(T1DM)、及び、DS1レートに おけるSLC−96が含まれる。 DS3モジュール171は、次のサブシステムに分類できる、即ち、DAI回 路250、TSI回路252、FDIハンドラー254、DS1フレーマ256 、保護サブシステム258、DS2ハンドラー260、及び、そのエキステンシ ョン264に沿ったCPUコンプレックス(複合体)262である。これらのサ ブシステムの各々について次に説明する。全てのDS3モジュールサブシステム 、及び、インタフェースの概観については、図6の構成図を参照されたい。 主DS3入力134及び保護DS3入力268は、DS3アナログインタフェ ースブロック270においてDS3モジュール170に入る。DS3アナログイ ンタフェースブロック270内には、主DS3線形インタフェース(L1)回路 272、及び、保護DS3 LI回路272が含まれる。LI回路272及び2 72’は、入力信号134及び268に関してはアナログからデジタル(TTL 規格論理レベル)への変換を実施し、そして、出力信号134’及び268に関 してはデジタルからのアナログレベル変換を実施する。 DS3アナログインタフェースブロック270は、保護コントロール258へ 接続され、更に、隣接モジュール171の保護コントロールへ接続される。同様 に、ブロック270は、DS3レベルにおいて、DAI回路250に双方向性接 続される。 DAI回路250は、DS1レベルにおいて、DS1フレーマサブシステム2 56に双方向的に接続される。警報指示信号(AIS)クロックソース274は 、DAI回路250へ供給する。更に、DAI回路250は、DS2ハンドラー 2 60内のDS2グルーロジック276のブロックに双方向的に接続される。DS 2グルーロジック276は、同じく更にバッファ280に接続されるDS2ハン ドラー260内の、7x7交差点アレイ278に双方向的に接続される。バッフ ァ280は、DS3モジュール171を離れる7つの双方向的DS2リンク28 2を提供する。 同様に、DS2グルーロジック276は、TSI回路252への双方向性接続 を持ち、この回路は、更に、双方向性DS0レベルにおいてバッファ284に接 続される。次に、バッファ284は、双方向性PCMハイウェイ220に接続さ れる。TSI回路252は、FDLハンドラー254への双方向性接続を持ち、 ハンドラーは、標準CPUコンプレックス(複合体)262へ双方向的に接続さ れる。同様に、HDLCリンク192は、コンプレックス262への双方向性接 続を持つ。CPU複合体エキステンション264は、付加的I/O能力を提供す るために、コンプレックス262と結合される。 DS3モジュールサブシステム機能性について、次に説明する。 DAI回路 DAI回路250は、DS3並びに全ての埋め込みDS2及びDS1の連続的 な性能監視を遂行する。更に、DAIは、PDS2インタフェースを介して、任 意のDS2ビットのドロップ及びインサートをDS2ハンドラー260に提供す る。同様に、DAI250は、任意のDS3制御ビットのドロップ及びインサー トを可能にする。第2のDS3インタフェースは、次に説明するように当該DS 3信号フローの確認を可能にするためのビット比較回路のための構成可能なビッ トと共に装備される。DAI250は、次に説明するようにDS3レベルにおい て、非同期マルデム)DS1/DS3(M13)及びC‐ビットパリティフレー ムフォーマットの双方をサポートする。DAI250については、「DS3ドロ ップ及びインサート(DAI)回路」首題の下に後で更に詳細に説明される。 非同期TSI回路 非同期TSI回路252の主な機能は、DS1信号を多重化/非多重化し、そ して、非同期DS0信号の交換(スイチング)及び経路指示(ルーティング)を 遂行することである。TS1252は、最大24までのDS0チャネルに対して ドロップ及びインサートをサポートする。TSI252の他の機能には、周波数 カウンタ、DS0Bサブレートハンドラー(4 DS0Bチャネル)、DS0に 関するPDS2重ね書き制御、そして、ESFフォーマットされたDS1に対す るファシリティデータリンク(FDL)が含まれる。同様に、TSI252は、 最大24までのDS0のドロップ及びインサートを可能にすることにより、DD S第2チャネルに対してサポートを提供する。TSI252については、「非同 期タイムスロット交換(TSI)回路」の首題の下に以下に更に詳細に説明する 。 ファリティデータリンク(FDL)サブシステム DS3モジュール171は、TSI252上の専用回路を介して、FDLサポ ートを提供し、外部のマイクロコントローラ(図23参照)と関連して作動する 。FDLは、ESFフォーマットされたDS1信号に埋め込まれた4Kbデータ ストリームである。 TSI252は、28のDS1の各々からFDLビットを連続的に抽出し、そ して、これらを内部バッファに記憶する。バッファは、各DS1当たり7つまで のFDLビットを保持することが出来る。バッファのオーバフローを防止するた めには、FDLマイクロコントローラ(uC)254は、最大7つまでのFDL ビットがポーリングサイクルの間に記憶されるような頻度においてTSIをポー リングしなければならない。最悪の場合にも速いDS1は1.7498ms内に 7つのFDLビットを生成するので、1.7msの公称ポーリングサイクルを用 いれば、これが達成される。 FDLuC254は、20MHzにおいてランする工業用標準8052である 。8052は、8KバイトのROM、256バイトのRAM、クロックオッシレ ータ、3つのタイマカウンタ、割込みコントローラ、及び、1.66Mb直列ポ ー トを有する。TSI252からFDLuC254へのデータ転送を始めるために は、FDLuCは、FDLDIR信号を表明し、そして、最小限2マイクロセカ ンド待つ。これによって、TSI252は記憶されているFDLビットをオンラ インバッファから出力バッファに移動させる。TSI252の出力バッファから データを抽出するためには、FDLuC254は、8052直列ポートから28 の連続したバイト読取り動作を実施する。各バイトは、#1によって開始し、そ して、#28によって終了するDS1チャネルに対応する。 全てのFDLチャネルが、わずかに異なるレートにおいてランできるので、2 8のFDLバイトは、有効なFDLビットと同数でなくても差し支えない。各バ イトに含まれる有効FDLビットの数を決定するためには、FDLuCは、最下 位のビットにおいて開始し、そして、ゼロを含む第1ビット位置を探す。バイト 内の残りの全てのビットは有効である。例えば、7つの有効なデータビットがあ る場合には、最下位ビット(lsb)はゼロであり、そして、残りの7ビットは 、有効なFDLデータビットと解釈される。最下位ビットが1であり、そして、 次のビットがゼロである場合には、6つの有効なFDLビットがある。 FDLuC254は、スケジュールされるか、又は、スケジュールされないか 両方の性能メッセージに関して、TSI252から受け取った各4KbsのFD Lビットストリームを解釈する。毎秒発生するスケジュールされた性能報告メッ セージに関しては、FDLuC254は、現行秒(t0)と関連した情報の16 ビット(2バイト)を抽出する。メッセージの残りの13バイトのは廃棄される 。スケジュールされないメッセージに関しては、ただ1つだけの黄色警報が認識 され、他の全てのメッセージは廃棄される。 標準CPUコンプレックス(複合体)262内にふくまれるDS3モジュール 68000プロセッサ(モトローラ社から入手可能)は、10ms毎に、FDL uC254から16ビットのワードを読む。16ビットのワードは、DS1チャ ネル、メッセージタイプ(スケジュール済み/未スケジュール)、及び、805 2の内部バッファ状態を確認するために、ヘッダ情報と共に抽出されたFDLメ ッセージを含む。同様に、68000は、コンフィギュレーションデータを必要 とする将来のアプリケーションに関して、FDbuC254に、8ビットの値を 記入することが出来る。68000と8052との間のインタフェースは、2つ の8ビット3状態バッファ、及び、1つの8ビットレジスタによって実現される 。 標準のCPUコンプレックス262内の68000は、プログラム制御の下で FDLuC254をリセットすることが可能であり、そして、ウォッチドッグ低 速クロック信号が、健全さの指示を提供するために、uCから68000に送ら れる。 DS1フレーミングサブシステム DS3モジュール171は、SF、ESF、TlDM、または、SLC−96 フォーマットにおける28全てのDS1のフレーミングにサポートを提供する。 DS1レベルにおけるフレーミングは、DS1フレーマサブシステム256内に おいて、DAIと関連して作動する外部のマイクロコントローラによって遂行さ れる。フレーマuCは、16MHzにおいてランする8052(FDLuC25 4と同じ)である。 DSIフレーミングサブシステム256は、一時に1つのDS1信号によって 作動する。全体のDS1データストリーム(72フレームまで)は、DAI25 0により、外部の16KX1RAMにロードされる。次に、フレーマuCは、フ レーミングパターンの所在を決定するために、RAMを調査する。次に、フレー マuCは、フレーミングパターンが発見された場所を指示するために、DAIに オフセットを供給する。DAIのRAMアドレス発生機は、14ビットのカウン タを有する。このカウンタは、或る種のグルーロジックと共に、小型の消去可能 プログラム可能な論理装置(EPLD)、インテル5C60/アルテラEP6O Oとして実現されている。 DS2ハンドラーサブシステム DS2ハンドラーサブシステム260は、DAI250、TSI252、及び 、バックプレーンとの間において流れるDS2レベル信号を処理する回路を有す る。 DAI250とTSI252との間のインタフェースは、疑似DS2(PDS 2)信号のグループを含む。「疑似」とは、信号はDS2レートにおいてランす るが、クロックは非DS1データビットの期間中間隙が設けられ、そして、全て のDS1フレーミング情報が提供されると言う事実を意味する。7つのグループ は、DS3に埋め込まれた7つのDS2sを表す。DAI250は、反転された DS2データストリームを直接TSI252に供給する。更に、DAI250は 、DS2付加(オーバヘッド)ビットの位置を示すためにサイクル「ブロック」 信号と共にDS2クロックを送信する。クロックをブロック信号によってゲート し、その結果として、間隙のあるDS2クロックをTSI252に供給するため に外部回路が備えられる。更に、DAI250は、DS2データストリーム内の DS1データビット及びフレームビットの位置を特定するために使われる信号を 供給する。DS2データライン上の現行ビットがどのDS1と関係があるかを示 すために、1つの2ビット値がDAI250からTSI252に供給されるDS 1マルチフレームの第1FビットがDS2データライン上において実際に作動化 されている時を示すためにDS1マルチフレーム信号は、同様に、TSIに供給 される。 TSI252は、TSI252から入来するビットのうちのどのビットが出D S3データストリームに重ね書きされるべきかをDAI250に示すためにDS 2レートにおいて、重ね書き信号と共に反転データをDA1250に送り返す。 TSI252の出力データ及び重ね書き信号は、これらの信号が、DAI250 に送られる以前に、DS2付加ビットの期間中、非作動化されるように外部回路 によって処理される。 交差点スイッチアレイ278は、DAI250とバックプレーン上のDS2リ ンク282との間のインタフェースとしての装備される。この方法により、DA I250からの7つのDS2信号のうちの任意の信号を、バックプレーン上の7 つのDS2リンク282のうちの任意のリンクに接続することができる。7つの DS2の各々と関連した5つの信号は、スイッチ機能を提供するために、5つの 7X7交差点アレイ278を必要とする。指定されたDS2のための信号のグル ープは常に一緒にルートされるので5つ全ての交差点アレイ278は、作動化さ れている同じ交差点によって構成される。 DAI250から入来したDS2データは、交差点アレイ278を通過した後 で、反転バッファ280を通って、バックプレーンに供給される。DS2クロッ ク及びDAI250から入来したフレーム信号は、7x7交差点アレイ278を 通って送られ、そして、非反転バッファ280’(図示せず)を通過し、バック プレーンに供給供給される。 バックプレーンから入来したDS2データは、TSI252から入来するデー タによって「オアされ(論理和され)」、そして、DAI250に送られる以前 に、反転され、そして、7X7交差点アレイ278を通って送信される。バック プレーンか入来する同伴DS2重ね書き信号は、同様に、TSI252から入来 するデータによって「オアされ(論理和され)」、そして、DAI250に送ら れる以前に、7X7交差点アレイ278を通って送信される。 交差点アレイ278は、ディジタル信号を扱うように設計された8X8アナロ グスイッチ装置(Mitel MT8809)によって実現される。DS2信号 は7つのグループに配列されているので、装置の7X7部分のみが実際に用いら れる。 DS3保護サブシステム アクセスシステム170は一対一保護計画を提供する。各々の主要DS3パス (通路)134は、隣接DS3モジュール上に当該パスと関連した保護パス26 8を有する。主要パス134上に故障状態が発生した場合には、DS3信号は保 護パス268に切り替えられる。故障が除かれると、信号は、メインパス134 戻される。 幾つかの条件により、保護パスへの切り替えが引き起こされる。保護コントロ ール258によるハードウエア制御の下において、停電が起きるか、或は、DS 3LI回路272の出力が作動しない場合には、保護パス268への切り替えが 行われる。68000CPUコンプレックスドッグウオッチがタイムアウトした 場合には、保護パスへの切り替えが強制される。更に、ソフトウェア制御の下で 、 CPUは保護切り替えを強制することが出来る。更に、CPUは、隣接基板上の メインパスの保護スイッチを強制的にオフの状態にする能力を備える。保護切り 替えを発生させる条件のいすれかかが除去されると、DS3信号は、再びメイン パス134を通ってルートされる。 ソフトウェアによって制御された保護スイッチを作動させる時点の決定を支援 すCPUは幾つかの状態信号を利用できる。これらの信号には、メインパスの非 作動化、隣接DS3用メインパスの非作動化、メインパス上の信号の喪失、隣接 DS3信号用保護パス上の信号の喪失、及び、隣接基板用メインパス上の信号の 喪失が含まれる。 保護切り替えが呼び出される場合、イベント(出来事)が次の順序で起きるよ うに、信号のタイミングが決定される。 1.保護通路リレーを閉じる。 2.15ms遅延する。 3.保護通路DS3LI272’の作動化とメインパス(主通路)DS3LI 272の無能化が同時に起きる。 4.メインパス(主通路)リレーを開く。 DS3信号がメインパスに戻される(スイッチバックされる)場合、出来事は 、次の順序で起きる。 1.メインパス(主通路)リレーを閉じる。 2.15ms遅延する。 3.保護パスLI272’の無能化とメインパス(主通路)LI272の作動 化が同時に起きる。 4.保護パスリレーを開く。 一度、保護スイッチが呼び出されると、CPUは、メインパスLI272出力 の作動化を強制し、活動検出器が機能を回復し、そして、活動が再び検出された 場合には、メインパス134への復帰を可能にしなければならない。メインパス LI出力の作動化が再度検出された場合には、CPUは、LI出力作動化(イネ イブル)の制御を放棄しなければならない(この結果として、LI出力は無能化 される)。活動検出器が、活動の喪失を即座にフラグ(表示)出来ず、そして、 メインパス(主通路)134へのスイッチバックを阻止する場合には、活動喪失 検出時間を最小30msだけ遅延させなければならない。こうすれば、メインパ ス(主通路)LI272作動化のための十分な時間(メインパスへのスイッチバ ック開始後15ms)が得られる。従って、保護スイッチが再度即座に呼び出さ れることがなく、活動検出器は、活動化されていることを表明する前に、最大5 ms遅延しなければならない。保護通路については、「保護通路」の首題の下に 後で更に詳しく説明する。 DS3通路遅延の調整 アクセスシステム170におけるDS3信号は、DS3LI272及びDAI 250を通過する。保護切り替え画においては、DS3信号が通過する2つの並 列通路が設けられる、即ち、主通路(メインパス)134、及び、防護通路(パ ス)268である。一方の通路に故障が起きると、DS3はもう一方の通路を通 るようにルートされる(導かれる)。 ネットワーク下流における混乱を最小限にするために、アクセスシステム17 0は、2つのDS3通路の間で切り替えを行う場合、ヒットレス(衝撃の無い) 切り替え能力を提供する。製造上の通常の許容範囲は、主通路と保護通路との間 に潜在的な遅延差をもたらすので、ヒットレス切り替えは不可能である。この問 題に対する対策としては、モジュールを作動させる以前に、全てのDS3通路を 通ることに起因する遅延が絶対基準に適合するように調節される。 DS3LI272及び272’の一部を構成する遅延調整回路1120を図2 9に示す。回路1120は、伝送方向に弾力のある(エラスチック)8ビット記 憶装置1122(先入れ先出し、または、FIFO構造)を有する。入力DS3 データは、回復されたデータクロック1124を用いて、弾力のある記憶装置1 122内にクロックされる。回復されたデータクロック1124は、DS3LI 回路(図示せす)の他の部分において44.736MHzLCタンク回路に導か れる電流パルスを生成する信号処理回路を介して入力DS3データストリームか ら抽出される。タンク回路はインダクタンス及びキャパシタンスを持ち、1つの 単一周波数の周りに連続的に配分された1つの周波数帯に亙って電気エネルギー を蓄えることが可能である。当該回路は、前記の1つの単一周波数に共振または 同調する。出力DS3データは、電圧制御された水晶発振器(VOXO)112 6によって生成される出力クロックを用いてクロックアウトされる。 VCXO1126の周波数は、分散が+/−20ppmであるような入来デー タの周波数にマッチするまで自動的に調節される。自動周波数調整は、弾力のあ る記憶装置1122及びループ増幅器1130の状態を監視する位相コンパレー タ1128を用いて実現される。状態信号には、半分未満充満した弾力のある記 憶装置、半分以上充満した弾力のある記憶装置、最後のビットから読み取った弾 力のある記憶装置、及び、最初のピットから読み取った弾力のある記憶装置が含 まれる。 位相コンパレータ1128、ループ増幅器1130、及び、VCXO1126 は、位相ロックループ回路として一緒に用いられる。位相コンパレータ1128 出力は、ループ増幅器1130に接続された平滑化されたアナログ遅延エラー信 号である。ループ増幅器出力は、VCXO1126に瞬時周波数及び位相情報を 提供するDC制御信号である。位相コンパレータ1128及びループ増幅器11 30は、弾力のある記憶装置1122が公称的に半分充満位置にとどまるように VCXQ1126の周波数を調節する。更に、VCXOクロック1126の位相 は、DS3通路全体を通る遅延が厳密に980+/−1ナノセカンドになるまで 手動で調節される。VCXOオフセット位相調整は、DS3モジュール171の 製造時に、出力DS3遅延への入力が、弾力のある記憶装置において要求される 公称ビット数に概略等しいことを保証するように手動で調節されるポテンショメ ータ1132によって制御される。ヒトレス(無衝撃の)保護機能は、全てのD S3モジュール171をこの方法によって調節することにより、保証される。 68000CPUコンプレックス 再び図6において、DS3モジュール上のCPUコンプレックスは、DS3モ ジュールに特有の機能によって必要とされるいくらかの付加的回路264と共に 「標準CPUコンプレックス」262を有する。DS3モジュールに完全に含ま れた「標準CPUコンプレックス」262は、次の項目を有する。即ち、 1.クロック発生機を有する68HC000マイクロプロセッサ 2.電気的にプログラム可能な128Kバイト読取り専用記憶装置(EPRO M) 3.256Kバイトフラッシュメモリ 4.オートリフッレシュ付き256Kバイト疑似静的RAM 5.電気的に消去可能な2KバイトPROM(EEPROM) 6.待ち状態発生機/バスエラー発生機 7.割込みコントローラ 8.電源入れリセット回路 9.ウォッチドッグタイマ 10.HDLC直列リンクコントローラ 11.多重機能I/Oポート − 4カウンタ − 汎用非同期受信機送信機(UART) − 8ビットI/Oポート 次の条件を示すために、DS3モジュール上には4つの発光ダイオード(LE D)が設置される。 1.ユニット故障(赤) 2.CPU作動中(緑) 3.DS3メインオンライン(緑) 4.DS3保護オンライン(琥珀) CPUコンプレックスエキステンション DS3モジュールは、標準CPUコンプレックス装備の外に付加的I/O機能 を必要とする。この付加的能力は、CPUコンプレックスエキステンション26 4によって提供される。標準CPUコンプレックス262は利用可能な5つのI /Oラインを有する。ただし、フレーママイクロコントローラ(1状態、3制御 )用として必要とされる付加的I/O、FDLマイクロコントローラ254(4 状態、1制御)、DAI250(2状態)、DS3LI保護回路(13状態、1 1制御)DS2リンク3状態イネイブル(7制御)、及び、2つの付加的発光ダ イオードである。標準CPUコンプレックス262によって規制される条件以外 には、付加的なチップ選定必要条件は一切無い。 ピンを節約するために、DAI250は、多重化されたアドレス/データバス を必要とする。DAI250に供給する以前に68000アドレスの下位8ビッ ト及びデータバスを一緒に多重化するための回路を備える。 DS3モジュールインタフェース DS3モジュール171とアクセスシステム170の残りの部分との間の全て のインタフェースは、1つの140ピンエッジコネクタを介してルートされる。 一時インタフェースには、DS3インターフェイス134、PCMハイウェイイ ンタフェース220、7つのDS2インターフェイス282、及び、HDLCイ ンターフェイス192が含まれる。以下に説明するような幾つかの付加的インタ フェースがある。 DS3アナログインタフェース DS3モジュールを通過するDS3信号用には2つの通路がある、即ち、主通 路134及び保護通路268である。全性能監視およびドロップ及びインサート 機能は主通路DS3134用として存在し、他方、保護通路268は、基本的に 、主通路にマッチするように挿入された遅延を伴った中継器として機能する。 DS3モジュール上のDS3アナログインタフェースには3つのタイプがある 、即ち、線路受信機(ラインレシーバ)、線路送信機(ライントランスミッタ) 、及び、モニタ出力である。線路受信機は、DS3ライン134から入力を取り 、 そして、それをTTLレベルディジタル信号正クロックに変換する。線路送信機 は、TTL信号正クロックを取り、そして、それをアナログ二極式DS3信号1 34に変換する。モニタ出力は、送信機出力と同様であり、そして、バックプレ ーンを介してモニタカードへ送られる。 PCMハイウェイインタフェース PCMハイウェイインタフェース220は、アクセスシステム170全体に亙 ってDS0をルーティングするためのメカニズムを提供する。PCMハイウェイ 220は、128タイムスロットを備え、最大128までの双方向性非同期DS 0チャネルの伝達をサポートする。PCMハイウェイ220は、マスター/スレ ーブ様式において配列される。この場合、例えばDS3モジュール171のよう なマスターは、それぞれ32のタイムスロットをサポートする4つのTxライン を介して送信し、そして、それぞれ32のタイムスロットをサアポートする4つ のRxラインから受信する。 更に、マスターは、関連タイムスロットが現行フレーム内に有効なデータ又は スタッフデータを含むかどうかを示す付加的な送信状態ラインをドライブする。 スタッフデータ及びビットスタッフィングについては、あとで説明する。例えば DSPモジュールのようなPCMハイウェイスレーブ装置は、Txラインから受 信し、そして、Rxラインに送信し、同時に、DS0タイミングを抽出するため に送信状態ラインを監視する。 PCMハイウェイ220のアービトレーション(調停機能)は、システム全体 に亙って所在する種々のマスター又はスレーブ装置の間において、タイムスロッ トを適切に割り当てることにより、ソフトウェアによって制御される。1つの単 一クロック及びフレーム同期化信号は、同期化のために、PCMハイウェイ22 0の全ての装置に供給される。 正常な作動状態においては、任意の所定タイムスロット期間中、ただ1つの装 置がPOMハイウェイ220をドライブする。ただし、クロックスキュー、及び 、ドライバーとレシーバのバッファ遅延の差に起因して、タイムスロット遷移の 近 辺において短期間(約50ns)だけバスコンテンション(回線競合)が起きる 可能性がある。このコンテンションを解決するには、POMハイウェイ220に よる送信のためにオープンコレクタードライバー(例えば74ALS1005/ 74ALS1035)が用いられる。オープンコレクターバッファを用いると、 バッファは論理「0」の状態において電流を吸入し、そして、論理「0」の状態 においては通信中でないので、コンテンションは問題ない。2つ以上のドライバ ーが同時に通信中である場合には、バックドライブが起きることなしに、全てノ ドライバーが、回線を同一の論理「0」レベルにしようと試みる。PCMハイウ ェイ220における集中化されたプルアップ抵抗器は、通話中でない回線にデフ ォルト論理「1」レベルを供給する。 同様に、DS3モジュール171は、5つの送信作動化信号を出力し、そのう ちの1つは4つのTx回線の各々用であり、そして、1つは送信状態回線用であ る。これらの信号は、特定のDS3モジュール171がPCMハイウェイ220 上の関連回線をドライブしていることを示す。 図7は、好ましいアクセスシステム170に関する操作上の流れ図である。シ ステムソフトウェアの第1の部分は、メッセージ駆動され、従って、状態350 において、通信プロセッサ194においてTL1メッセージを待つ(図5)。O Sリンク196を介してOS(図示せず)から送信されたメッセージは、命令機 能及び状態352において確認されるアクセス識別(AID)を含む。状態35 2までの進行過程において、命令機能は、テストコマンドが要求されたかどうか に関してチェックされ、そして、要求済みである場合には、状態356において 、当該テストがDS1、または、DS0レベルいずれのテストであるかに関して 決定が行われる。DS1レベルテストが要求済みである場合には、テスト情報は 、管理プロセッサ190に送られ、その結果、管理プロセッサは、HDLCバス 192を介してDS3インタフェース171の1つ、及び、DS1テスト資源1 84の1つに通信し、ルーティング(経路指示)、及び、資源を割当てる(状態 358、及び、360)。 この段階において、アクセスシステム170は、DS1テストを始める準備が 整う。状態362及び364まで継続して、アクセスシステム170は、DAI 回路250に、イネイブル(作動化)バイト及び安全バイトを送り、入力ライン 134から受信したDS3ビットストリームからの要求済みDS1チャネルを非 多重化する。要求されたDS1チャネルは、疑似DS1バス234を介して、割 当てられたDS1テスト資源(A/Tモジュール)184に送られ、状態366 においてテストが行われる。状態368に移動し、テストの結果は、HDLCバ ス192を介して管理プロセッサ190に送られる、ここで、テスト結果は周辺 サブシステム212のディスクに記憶され、状態370において、テスト結果を 含めた出力メッセージが、アクセスシステム170によって作られる。 状態の最終シーケンスは、テスト結果をOSに送り返すことが必要である。管 理プロセッサ190は、フォーマットされていない出力メッセージを通信プロセ ッサ194に伝達し、ここにおいて、メッセージはTL1フォーマットにされる (状態372)。次に、メッセージは、出力を待って列を作り(状態374)、 そして最終的に、状態376において、OSリンク196を介してOSに伝達さ れる。次に、アクセスシステム170は状態376まで戻って、他の命令メッセ ージを待つ。 状態356において命令機能がDS0レベルテストを要求することが決定され た場合には、処理フローに別の分岐が起きる。状態377及び378において、 PCMハイウェイスロット、及び、DS0マルチプレクサ/デマルチプレックサ 回路は、管理プロセッサ190からDS3インターフェイス171のTS1回路 252に送られた命令によって割当てられる。状態379に移動して、DDSサ ブレートテストが要求された場合には、管理プロセッサ190は、TS1回路2 52(状態380)においてDS0サブレートフレーマを割当てる。次に、状態 381−386は、DS0インサートは状態383におけるTS1252におい て作動可能化されねばならないということを除けば、状態362−370と同様 に実行され、そして、DS0テスト資源186は、PCMハイウェイ220を介 してDS0チャネルを受け取る。状態372から、DS0テストの結果は、DS 1テスト結果と同じ方法においてOSに送られる。 図7の状態354を決定するための討論に戻って、命令機能がテスト命令でな い場合には、プロセッサ194は、命令が性能監視(PM)データ検索を要求す るかどうかをテストするために状態387に移動する。PMデータは、DS3信 号並びに全ての埋め込まれたDS2及びDS1チャネルに関して連続ベースにお いて維持される。命令がPM命令でない場合には、他の命令がチェックされ、そ して、それに応じて(図示せず)処理される。OSから受信された命令がPM統 計の検索であるものと仮定すると、状態388において、現行またはヒストリい ずれの統計が要求されたかを決定するためのテストが行われる。 現行PM統計の要請は、管理プロセッサ190からDS3インターフェイス1 71への要請によって扱われる。次に、DS3インタフェース171は、メモリ から現行PM統計を検索し、そして、プロセッサ190(状態389)へ送り返 す。ここに、現行PM統計を含む出力メッセージが組み立てられ(状態390) 、そして、状態372から進行する以前に、OSに後方伝達される。 一方、ヒストリPM統計が要求された場合には、管理プロセッサ190は、周 辺サブシステム212の部分をこうせいする(状態391)ディスクからPM統 計を検索する。ヒストリPM統計を含む出力メッセージは状態392において組 み立てられ、そして、状態372から進行する以前にOSに後方伝達される。 更に、アクセスシステム170のソフトウェアは、DS3インターフェイス1 71(図4)において定期的に実施される性能監視(PM)プロセス393を含 む。プロセス393は、DAI回路250内に設置された性能監視(PM)レジ スタを読むことにより状態394において始まる。PM統計は、蓄積され、そし て、状態395においてオンボード半導体メモリに記憶される。状態396に移 動して、何等かのスレショルドを超過したかどうかに関して、統計結果がテスト される。スレショルドを超過していた場合には、警報/出来事メッセージが状態 397において組み立てられ、管理プロセッサ190に送られる。そして、状態 372から進行する以前に、OSに後方伝送される。スレショルドに一切到達し ていない場合、または、警報/出来事メッセージが既に送られた場合には、PM プロセス393は終了する。状態398によって示されるように、いったん、P Mインタバルが満了すると、PMプロセス393は再開される。 II.DS3ドロップ及びインサート(DAI)回路 A.インタフェース 図8は、DAI回路250用入力/出力図である。各I/Oピングループにつ いて以下に説明する。 DS3プロセッサインタフェース DS3プロセッサインタフェース400は、DAI250を構成することを可 能にするため、及び、DAIによって報告されるために生成される状態のために に装備される。 DS3トランシーバインタフェース DS3トランシーバインタフェース402は、DS3クロックを回復し、そし て、DS3信号134を受信方向における2つのレール非ゼロ復帰(NRZ)デ ータに変換し、そして、DAIからの2つのレールNRZデータ及びクロックを 送信方向におけるDS3信号134’に変換するDS3ラインインタフェース装 置に対してDAI250をインタフェース可能にするために装備される。 疑似DS2インタフェース 疑似DS2インタフェース404は、DS3信号134におけるあらゆる情報 ビットを重ね書きする能力を外部装置に対して与えるために装備される。 DS1フレーマインタフェース DS1フレーマインタフェース406は、DAI250の内部DS1状態カウ ンタを内部的に生成された28本の構成要素DS1チャネルに同期させる能力を 外部装置に対して与えるために装備される。 交互DAIインタフェース 交互DAIインタフェース408(図8におけるシステムインタフェース41 2の一部として図示)は、西から東DS3信号内のパリティエラーに応答して東 から西DS3信号に遠端ブロックエラー(FEBE)を挿入する能力を、交互D AIに対して、与えるために装備される。 制御ビットインタフェース 制御ビットインタフェース410(システムインターフェイス412の一部と して図示される)は、DS3信号134内のあらゆる制御ビットを重ね書きする 能力を外部装置に対して与えるために装備される。 システムインタフェース システムインタフェース412は、例えばクロック、リセット、イネーブル、 電源供給、接地、及び、警報のような種々の雑信号用に装備される。 B.機能性 DAI回路250のトップレベル構成図を図9に示す。DS3アナログインタ フェース270(図6)からの二次DS3入力は、固定遅延422を通って二極 式3ゼロ代用(B3ZS)デコーダ420に供給され、そして、B3ZSエンコ ーダ423によって符号化された後でデコーダから出る。DS3アナログインタ フェース270からの一次DS3入力は、B3ZSデコーダ424に供給され、 そして、遅延422と異なる値を持つ固定遅延426を通る。遅延426に接続 されたマルチプレクサ428は、更にB3ZSエンコーダ429に接続され、信 号は、ここから、DAI回路250を放れる。 B3ZSデコード424の出力からの信号ラインは、DS3性能モニタ430 に接続され、更に、DS3からDS2までのデマルチプレックサ432に接続さ れる。DS3:DS2デマルチプレックサ432は、7つの出力ラインを有する 。図9に、そのうちの最初433及び最後(第7)433’のみを示す。第1の 出力ライン433は、DS2性能モニタ434およびDS2からDS1までのデ マルチプレックサ436に接続される。最後の出力ライン433’は、DS2性 能モニタ434’およびDS2からDS1までのデマルチプレックサ436に接 続される。DAI回路250は、モニタ434のような7つのDS2性能モニタ 、及び、デマルチプレックサ436のような7つのDS2:DS1デマルチプレ クサを有する。DS2:DS1デマルチプレックサ436は4つの出力信号を持 ち、各出力信号は、DS1性能モニタ438a−dに接続される。DS2:DS 1デマルチプレックサ436’は4つの出力信号を持ち、各出力信号は、DS1 性能モニタ438e−hに接続される。7つのDS2:DS1デマルチプレクサ 436の各々の4つの出力信号は、DS1性能モニタ438に接続される。DA I回路250には、合計28のDS1性能モニタを備える。 DAI回路250は、DS3信号及びその構成チャネルの単一方向における性 能を監視する。サポートされたフレームフォマットには、M13非同期、C-ビ ットパリティ、SF、ESF、T1DM、及び、SLC−96が含まれる。DS 3フレームフォーマットとも呼ばれるM13非同期フォーマット、及び、DS3 C‐ビットパリティフォーマットについては、図12−14と関連して以下に 説明する。 DAI回路250は、DS2インターフェイス404(図8)を介してDS3 信号における4704情報ビットのうちの任意のビット、及び、制御ビットイン ターフェイス412(図8)を介してDS3信号における56の制御ビットのう ちの任意のビットのドロップ及びインサートを提供する。 DAI回路250は、同じに構成された他のDAI回路の動作の検査、又は、 ヒットレスな切り替え動作を保証するために2つのDS3信号の循環配列を可能 にするビット比較回路(図10a、470)用の構成可能なビットと共に第2の デジタルDS3インタフェースを提供する。 図10aに示すように、DAI回路の詳細レベル機能ブロック図は6つの異な る回路のサブグループに分割される。 −1.DS3データ通路450 −2.M23デマックス452(図10b) −3.M12デマックス454(図10c) −4.DS1モニタ456(図10d) −5.レコンバイナ458(図10e) −6.プロセッサインタフェース460(図10f) 1.DS3データ通路 DAI回路250のDS3データ通路セクション450は2つの回路のグルー プを含む。そのうちの一方は一次通路462用であり、いま一方は二次通路46 4用である。一次通路462は、DS3データ及び制御ビットを重ね書きする能 力を持つ通路であり、二次通路464は重ね書き能力を持たない。DS3データ 通路セクションにおいて行われる4つの主要機能を次に示す。 − B3ZSの符号化/復号 − ビット比較用ビット − DS3データ遅延 − DS3データ及び制御ビットの重ね書き a.B3ZS符号化/復号 DS3レベルにおいて使われるゼロコード抑制は、電話ネットワーク技術にお いては周知の3ゼロの代用(B3ZS)フォーマットによるバイポーラである。 B3ZSフォーマットにおいて、3つの連続したゼロの各ブロックが除去され、 そして、B0V又は00Vによって交換される。ここに、Bはバイポーラ規定に 適合するパルスを表し、0はゼロ(パルスなし)であり、そして、Vはバイポー ラ規定に違反するパルスを表す。連続するVパルスの間のBパルスの数が奇数で あるようにB0V又は00Vが選定される。 B3ZSデコーダ420及び424は、入来する正のレールデータ及び負のレ ールデータをとり、そして、情報を単一NRZチャネルに変換する。B3ZSエ ンコーダ423及び429は、単一NRZチャネルをとり、そして、情報を正レ ール及び負レールの2つのNRZチャネルに変換する。 b.ビット比較用ビット ビット比較回路470用ビットは、遅延422の出力、及び、遅延426の入 力に接続される。ビット比較回路470用ビットは、作動中におけるDAI25 0の機能性を検査し、、そして、「ヒットレスな」切り替えを行う前に一次通路 462、及び、二次或いは冗長通路464の配列を検査する能力を提供する。ビ ット比較回路470用ビットについては、図28に関連して更に検討することと する。 c.DS3データ遅延 DS3データ遅延回路422及び426は、個々のビットの重ね書きに際して リコンバイナ458によって使用されるDS3ストリーム内のデータに対するポ インタを計算するために、M23デマルチプレックサ452及びM12デマルチ プレックサ454に対して十分な処理時間を提供する。 d.7:1マルチプレクサブロック 7:1マルチプレクサ回路428は、6つの供給源のうちの任意のソースから のデータによって一次通路462内のDS3データを重ね書きする能力をリコン バイナ458に提供する。このマルチプレクサ用の選定ラインは、リコンバイナ によって生成される。 2.M23デマルチプレックサ 図10bにおいて、DS3一次データ通路462は、DS3からDS2までの デマルチプレックサ452に対する主要入力である。DS3からDS2デマルチ プレックサ452内のDS3性能モニタ430出力リコンバイナへ458(図1 9e)へ接続され、一方、図9及び10においてDS3:DS2デマルチプレッ クサと呼ばれるDS2データ発生機432の出力の各々は、7つのM12デマル チプレクサ454(図10c)の1つに接続される。図10aに示すように、デ マルチプレックサ452の他の出力は、DAII/Oピンへ接続される。 DS3からDS2デマルチプレックサ452は、関連した間隙を持つクロック と共にDS3信号をその7つの構成DS2チャネルへ非多重化する。M13非同 期フレームフォーマットに関しては図12及び13を参照し、そして、C‐ビッ トパリティフレームフォーマットに関しては図14を参照されたい。 DS3からDS2デマルチプレックサセクションの4つの主要機能を次に示す 。 − DS3フレーミング − DS2クロック生成 − DS2データ生成 − DS3性能監視 a.DS3フレーミング DS3フレーマ474は、DS3状態カウンタ472を入来DS3信号に同期 させる。DS3状態カウンタ472は、入来DS3データビットがどちらのDS 3M‐フレームのビットと関連するかを示すポインタを提供する。DS3フレー マ474及びDS3状態カウンタ472については、図15a及び15bを参照 しながら更に検討することとする。 b. DS2クロック生成 DS2クロック発生機476は、間隙のある7つの6.312MHzクロック を生成するために、DS3状態カウンタ472からのタイミング情報を使用する 。特定のデータビットと関連したクロックパルスは、クロックの供給先に応じた 幾つかの条件によって削除されるか、或いは、間隙が設けられる。 c. DS2データ生成 DS2データ発生機432は、7つの6.312MHz直列データストリーム を生成するために、DS3状態カウンタ472からのタイミング情報を使用する 。DS2データチャネルは、間隙を持つ関連するD52クロックと同期する。D S3からDS2へ非多重化する際には、一切のビット反転を必要としない。 d. DS3性能監視 DAI回路250は、Bellcore TR−TSY−000009に規定 された標準M13非同期信号フォーマット、及び、AT&T PUB 5401 4に規定されたDS3 C‐ビットパリティ信号フォーマット双方の性能を監視 する。モニタ430によって連続的に監視されるDS3性能監視パラメータを次 に示す。 − 二極式違反カウント − 信号状態の喪失 − ラインAクロック状態の喪失 − ラインBクロック状態の喪失 − Fビットエラーカウント − フレーム外れ状態 − フレーム配列状態の変化 − ラインパリティエラーカウント − C‐ビットパリティエラーカウント − 遠端ブロックエラー(FEBE)カウント − 入来C‐ビットパリティフレームフォーマット状態 − 入来全1状態 − 入来黄色警報状態 − 入来警報指示信号(AIS)検出状態 − 入来積み重ねスタッフィング検出状態 − 入来アイドル信号状態 3.M12デマルチプレックサ DAI回路250上には構成DS2チャネル1つにつき1つずつ合計7つのD S2からDS1デマルチプレクサが有る。各DS2からDS1デマルチプレック サは類似し、そして、同じ機能を遂行する。第1のDS2からDS1デマルチプ レックサ454、及び、最後の(第7)DS2からDS1デマルチプレックサ4 54’を図10aに示す。既に述べたように、各DS2からDS1デマルチプレ ックサは、DS2データ発生機432(図10b)の出力によってドライブされ る。図10cにおいて、DS2からDS1デマルチプレックサ454の出力は、 DS1データ発生機436によってドライブされる。同様に、図9及び10に示 すDS2:DS1デマルチプレックサはDS1クロック発生機482によりドラ イブされる。各DS1データ発生機436は、4つのDS1モニタ456(図1 0d)に接続され、そして、マルチプレクサ484(図10a)に接続される4 つの出力を供給する。各DS1クロック発生機482は、486(図10a)を マルチプレクサへ接続する4出力を供給し、そして、マルチプレクサ488に接 続される。マルチプレクサ484、486、及び、488の各々は、7つのDS 2からDS1デマルチプレクサからの28の入力を持つ。 DS2からDS1デマルチプレックサ454は、関した間隙を持つクロックと 共にDS2チャネルを4つの構成DS1チャネルに非多重化する。 DS2からDS1デマルチプレックサセクションの4つの主要機能を次に示す 。 − DS2フレーミング − DS1クロック生成 − DS1データ生成 − DS2性能監視 a.DS2フレーミング DS2フレーマ480は、DS2状態カウンタ478を入来DS2チャネルに 同期させる。フレーム同期化は、その中の010101...フレーミングパタ ーンが連続した9つのFビットに亙って観察される1つのビット位置を発見する ことによって獲得される。DS2フレームフォーマットは、BellcoreT R−TSY−000009に規定される。DS2フレームにつき4つのサブフレ ームが有り、そして、各サブフレームは、49ビットの6つのブロック又はグル ープを含む。各グループの第1のビットは、制御ビット、または、付加ビットで ある。グループ3および6と関連した制御ビットはFビットである。一時に1ビ ットの位置を検索する直列法(アプローチ)における最大平均再フレーム時間( MART)は、DS2フレーミングパターンの場合に約6.85msecである 。ビット位置の最大数がフレーミングパターンに対して調査されなければならな い場合において、最大平均再フレーム時間は再フレームするための平均時間であ る。この時間は統計的に到達されなければならず、そして、計算に際しては、非 フレームビットは等しい確率で1及びゼロであるものと仮定される。DS2レー トのための必要条件は、MARTが7.0msec未満であることであり、従っ て、直列サーチアルゴリズムが用いられる。使用されたアルゴリズムのMART は約6.85msecである。 アルゴリズムは、最初、状態カウンタ478の現行状態が正しく、そして、F ビット位置として状態カウンタによって現在識別されたビット位置においてフレ ーミングパターンを発見しようと試行するものと仮定する。1つの単一ビットが フレーミングパターンと相関関係がないことが発見された場合には、状態カウン タの状態は1サイクルだけ遅らせられる。状態カウンタを一時に1サイクルだけ 遅らせ、そして、観察されたビットの妥当性をチェックすることにより、DS2 フレーマ480は、最終的にサブフレームに同期する。 フレーミングプロセスにおける次の過程は、マルチフレーム配列を獲得するこ とである。シフトレジスタ(図示せず)は、4つの第1コラム(グループ1)制 御ビットの全ての値を記憶するために用いられる。これらの制御ビットは、M1 、M2、M3、及び、M4ビットである。ただし、フレーミングプロセス内のこ の時点においては、シフトレジスタ内のビットがどの制御ビットに対応するかは 未知である。シフトレジスタは、Mビットの011パターンに関して検索される 。多重011パターンが発見されるか、或いは、011パターンが存在しない場 合には、フレーミングプロセスが再び始まる。1つの単一011パターンが発見 された場合には、状態カウンタは、M−フレーム配列を獲得するために、サブフ レームの正しい数だけ進めるか、又は、遅らせる。 b.DS1クロック生成 DS1クロック発生機482は、間隙を持つ4つの1.544MHzクロック を生成するために、DS2状態カウンタ478からのタイミング情報を使用する 。特定のデータビットと関連するクロックパルスは、クロックの供給先に応じた 幾つかの条件により、削除されるか、或いは、間隙が設けられる。 c.DS1データ生成 DS1データ発生機436は、4つの1.544MHz直列データストリーム を生成するために、DS2状態カウンタ478からのタイミング情報を使用する 。DS1データチャネルは、間隙を持つ関連DS1クロックと同期する。第1及 び第3のDS1チャネルは反転され、他方、チャネル2及び4は反転の必要がな い。 d.DS2性能監視 DAI回路250は、Bellcore TR−TSY−000009に規定 されるように、標準DS2チャネルフォーマットの性能を監視する。モニタ43 4によって連続的に監視されるDS2性能監視パラメータを次に示す。 − 信号状態の喪失 − Fビットエラーカウント − フレーム外れ状態 − フレーム配列状態の変化 − 入来黄色警報状態 − 入来警報指示信号(AIS)状態 4.DS1モニタ 各DS1モニタ456(図10a)は、DS1データ発生機436(図10c )の4つの出力の1つに接続される。DA1250には合計7つのDS1データ 発生機が有るので、合計28のDS1モニタが有るが、図10aには、第1のモ ニタ456及び最後の(第28)モニタ456’のみを示す。図10dを参照し ながら、次のDS1モニタ機能について説明する。 a.DS1状態カウンタ DS1状態カウンタ520は、図8に示すように、インタフェース404の一 部分をドライブする。DS1状態カウンタ520は、外部のDS1フレーマサブ システム256(図6)の使用範囲全体に亙って同期化される。 b.DS1性能監視 DA1回路250は、Bellcore TR−TSY−000009、及び 、T1C1.2/87−001R3の規定に従ったスーパーフレームフォーマッ トにおいて、Bellcore TR−TSY−000194、及び、T1C1 .2/87−001R3の規定に従った拡張スーパーフレームフォーマットにお い て、Bellcore TA−TSY−000278の規定に従ったT1DMフ ォーマットにおいて、及び、Bellcore TR−TSY−000008の 規定に従ったSLC−96フォーマットにおいて、DS1チャネルの性能を監視 する。モニタ438によって連続的に監視されるDS1性能パラメータを次に示 す。 信号状態の喪失 − Fビットエラーカウント − フレーム外れ状態 − フレーム配列状態の変化 − フレームフォーマット状態 − 入来黄色警告状態 − 入来警告指示信号(ASI)状態 − 周期的冗長性チェックエラーカウント 5.リコンバイナ 図10eにおいて、リコンバイナ458は、DS3データストリーム、或いは 、あらゆる構成的DS2又はDS1チャネルに、こっらをブロッキングすること なしに、データを挿入することを可能にする。データを重ね書きする様々な方法 を可能にするために、幾つのインタフェースが提供される。DS3データストリ ームに挿入可能な全てのタイプのデータは、ソフトウェア構成を介して、個々に 作動可能にされる。リコンバイナ458への入力は、疑似DS2インタフェース 404(図8)のDAI入力ピン、及び、M23デマルチプレックサ452から 供給される。疑似DS2挿入回路490、制御ビット挿入回路492、ラインパ リティ挿入回路494、C‐ビットパリティ挿入回路496、遠端ブロックエラ ー回路498、及び、警報表示信号挿入回路500は、全て、7:1マルチプレ クサ428(図10a)の入力へ接続される出力を提供する。 a.疑似DS2インサート 疑似DS2挿入回路490は、個別ビットベースにおいてあらゆる所定のDS 3情報ビットを重ね書きする能力を提供する。この能力の用途には、個々のDS 1チャネル、DS0チャネル、サブレートチャネル、または、二次チャネルのヒ ットレスな重ね書きが含まれる。PDS2挿入ブロック490については、図1 1を参照しながら更に検討することとする。 b.制御ビットインサート 制御ビット挿入回路492は、あらゆるDS3制御ビットを重ね書きする能力 を提供する。 c.ラインパリティインサート ラインパリティ挿入回路494は、ラインパリティを訂正するか、或いは、受 信したパリティをパスさせる能力を提供する。 d.C−bitパリティインサート C‐ビットパリティ挿入回路496は、重ね書きが実施される場合にC‐ビッ トパリティを修正するか、或いは、受信したパリティをパスさせる能力を提供す る。 e.遠端ブロックエラーインサート 遠端ブロックエラー(FEBE)挿入回路498は、交互方向においてパリテ ィエラーが検出された場合に、DS3の一方向にFEBEを挿入する能力を提供 する。 f.警報表示信号インサート 警報表示信号(AIS)挿入回路500は、DS3性能監視回路によって検出 されたある種の故障条件に応答してAISを挿入する能力を提供する。 6.プロセッサインタフェース 図10fにおいて、DS3プロセッサインタフェース回路460は、DAIの 溝成、及び、DAIによって生成された状態情報の報告を可能にする。このイン タフェースは、一般目的設計であり、そして、様々な異なるプロセッサファミリ と共に使用することができる。プロセッサインタフェースのためには2つの個別 モードが存在する。 ASYNCMD 非同期モードにおいて、周辺装置は、データ転送肯定応答 信号を生成する。 SECMD 安全モードにおいて、プロセッサは、あらゆる記入に先立 って、次の記入イネイブルレジスタと関連しているアドレスに記入しなければな らない。この特徴は、無効な書込み試行の濾過を可能にする。 a.構成(コンフィギュレーション) DAIは、DS3プロセッサインタフェースを介して構成されることが可能で ある。構成(コンフィギュレーション)データは、1組の特定の構成レジスタ5 10、512、及び、514に記入される。正しいデータが記入されたことを確 認するためにデータを読み戻すことが可能である。 DAI250をリセットすると、チップの構成をデフォルトモードに強制し、 全て重ね書き能力を不能化する。 b.状態 DAI250によって内部的に生成された状態は、DS3プロセッサインター フェイス516とを介して、DS3プロセッサによって読み取られる。DS3プ ロセッサ262(図6)が、転送するために複数のワード(例えば或るカウント のような)を必要とするDAI250によって生成された状態情報を読みつつあ る場合には、最初に最下位のワードが読取らせ、その直後に最上位のワードが読 まれなければならない。 c.DSIフレーミングプロセッサインタフェース DSIフレーミングプロセッサインタフェース518は、例えば状態カウンタ 520のような28個の内部DSI状態カウンタを同期化する能力をそれぞれの DSIチャネルに提供するために、DS1フレーミングプロセッサ回路256( 図6)に接続される。DS1フレーミングプロセッサ256は、28個のDS1 チャネルを巡回し、そして、DAI250によってOOFであると識別されたチ ャネルを同期化することにより独立して作動する。DS3プロセッサ262は、 構成要素としての全てのDS1チャネルのフレームフォーマットを、プロセッサ インターフェイス460を介してダウンロードすることによってDAI250を 構成する。DAI250は、全てのDS1チャネルのフレーミング状態を継続的 に監視する。特定のDS1チャネル上のOOF条件が検出されると、直ちに、対 応する状態ビットがセットされる。 疑似DS2挿入回路490(図10e)がどのようにしてDAI回路250の 他の回路に接続されるかを図11に示す。CPUコンプレックス262(図6) 内のマイクロプロセッサは、読み取ろうとする構成レジスタ510、512、及 び、514を作動化するためにDAI250のマイクロプロセッサインタフェー ス516に相互接続される。構成レジスタ510、512、及び、514の出力 は、比較回路530に接続される。状態カウンタ472(図10b)、478 (図10c)、及び、520(図10d)、サブ回路452、454、及び、4 56(図10a)から、各々、デコード回路532をドライブする。デコード5 32の出力は、第2の入力を比較回路530に供給する。比較回路の出力は、選 定ライン入力として7:1マルチプレクサ428(図10a)に接続される。マ ルチプレクサ428への2つのデータ入力は、遅延426(図10a)の出力か らのDS3データ、及び、PDS2インターフェイス404(図8)からのPD S2データである。遅延回路426からの入力以外の入力が選定された場合には 、マルチプレクサ428の出力は重ね書きされたDS3データである。 疑似DS2挿入回路490は、個別ビットベースにより、あらゆる所定のDS 3情報ビットを重ね書きする能力を提供する。この能力を使用する用途には、個 々のDS1チャネル、DS0チャネル、サブレートチャネル、または、第2のチ ャネルのヒットレスな重ね書きが含まれる。 リコンバイナ458は、非多重化されたチャネルのタイミングが、多重化され たチャネルのタイミングと同じであるという事実を利用する。このタイミング関 係は、完全なDS1からDS2、及び、DS2からDS3マルチプレクサを提供 する必要性を排除する。DS3の構成要素としての各DS2及びDS1チャネル は、非多重化されたデータと同期化された状態カウンタを有する。これらの状態 カウンタ478及び520は、DS3データストリーム内の所定のビットがDS 2又はDS1のどちらのチャネルと関連するかを示すポインタとして使われる。 CPUコンプレックス262内のマイクロプロセッサは、例えば所定のDS1チ ャネルを重ね書きする能力をDAI回路250に提供する。状態カウンタの値は 、ビットがどのDS1チャネルと関連するかを決定するために、デコードブロッ ク532によって、全てのDS3サイクル毎に解読される。状態カウンタの復号 が、比較ブロック530を使用し、マイクロプロセッサインタフェース51Cを 介して、作動化された値にマッチした場合、マルチプレクサ428の選択ライン が作動化され、PDS2インタフェースからのデータを特定のDS3データビッ トに重ね書き可能にする。 DAI回路250は、出力として、それぞれの間隙を持ったクロック7つのD S2データチャネルを提供する。更に、3ビット幅データバスは、DS1フレー ミングビットの位置、及び、DS2データストリーム内のあらゆる所定のビット がどのDS1チャネルと関連するかを示すために、それぞれDS2を備える。こ の情報が与えられれば、外部回路は、所定の用途に対して、どのビットが重ね書 きされるべきかを正確に決定することが出来る。7つの重ね書き信号と共に7つ の疑似DS2データ入力を入力としてDAI回路250供給することにより、D S3データストリーム内の任意情報ビットを重ね書きすることが可能である。重 ね書き信号は、疑似DS2入力内のどのビットがDS3データストリームに挿入 されるべきかを示すために使われる。 制御ビットインサート 制御ビット挿入回路492(図10e)は、任意のDS3制御ビットを重ね書 きする能力を提供する。制御ビットが、制御ビットドロップ回路を介して、DA I回路250からクロックされてから17DS3サイクル後に、DS3データス トリーム内の同一制御ビットは、外部的に供給された制御ビットによって重ね書 きされる。DS3制御ビットのこの重ね書き機能は、ソフトウェア構成によって 作動化される。 ラインパリティインサート ラインパリティ挿入回路494(図10e)は、ラインパリティを訂正し、或 いは、受信したパリティをパスさせる能力を提供する。ラインパリティ挿入には 、3つのモードが存在する。 モードA ラインパリティは、パリティが正しいかどうかに無関係に 、また、挿入が行われつつあるかどうかにも無関係に、DAI回路250をパス される。 モードB 入来信号のラインパリティが間違っている場合には、挿入 が行われつつある場合であっても、出信号のラインパリティは間違いである。 モードC 入来パリティが間違っているとしても、また、挿入が行わ れつつあるとしても、出信号のラインパリティは正しい。 各モードは、2つのビット構成ワードによって作動化される。 C‐ビットパリティインサート C‐ビットパリティ挿入回路496(図10e)は、重ね書きが行われつつあ る場合であっても、C‐ビットパリティを修正し、或いは、受信したパリティを パスする能力を提供する。通路パリティ挿入には2つのモードが存在する。 モードA パリティが正しいかどうかには無関係に、また、挿入が行わ れつつあるかどうかには無関係に、C‐ビットパリティは、DAI回路250を パスされる。 モードB 挿入が行われつつあり、そして、入来C‐ビットパリティが 間違っている場合には、出C‐ビットパリティは間違っている。挿入が行われつ つあり、入来がC‐ビットパリティが正しい場合には、出C‐ビットパリティは 正しい。 モードは、構成ビットを介して選定される。 遠端ブロックエラーインサート 遠端ブロックエラー(FEBE)挿入回路498(図10e)は、交互方向に おいてパリティエラーが検出された場合に、FEBEをDS3の1つの方向に挿 入する能力を提供する。パリティエラーは、Fビットエラー、Mビットエラー、 または、ラインパリティエラーとして定義される。更に、一層の詳細については 、Bellcore TIX1.4/89−017を参照されたい。FEBEは 、C‐ビットパリティM‐フレーム構造の第4サブフレーム内の3つのC‐ビッ トを全てゼロにセットすることによって生成される。 DS3信号の非同期的関係により、パリティエラーが検出された時点とFEB Eが反対方向に挿入される時点との間の待ち時間が全てM‐フレームであること が可能である。 警報表示信号インサート 警報表示信号(AIS)挿入回路500(図10e)は、DS3性能監視回路 によって検出された特定の故障条件に応答してAISを挿入する能力を提供する 。 LOSまたはOOFの宣言は、DS3ヅタックスタッフィング警報信号(AI S)を随意に生成する能力を持つ。DS3AISは、約2.55msecから2 .66msec継続する約24から25Nフレームの遅延の後で作動化される。 必要条件は、最大平均再フレーム時間の1.5から2倍である。最大平均再フレ ーム時間は、パターンをフレーミングするためにビット位置の最大数を調査され なければならない場合における、再フレームするための平均時間ある。この時間 は統計的に決定され、そして、計算に際しては、「非フレーム」ビットは、等し い確率を以て1およびゼロであるものと仮定されなければならない。DS3に関 する最大平均再フレーム時間のための所要上限は1.5msecである。 LOS、または、OOFの後において、有効なフレーミング、及び、ラインパ リティが発見された場合、そして、平均1密度がは少なくとも33%である場合 に、DS3良好信号が宣言される。33%未満の1密度は、DS3制御ビットの 発生する間におけるBPVの数をカウントすることによって実測される。BPV の数が8を越えた場合には、1密度は33%未満であるものと決定される。DS 3良好信号検出時間は、最大平均再フレーム時間の1.5倍を超過しない。DS 3良好信号が識別された後において、AISは、遅延なしに非作動化される。L OS状態の期間中、適切な機能性を保証するために、有効なDS3クロックがD AI250に供給される。DS3AISクロックレートは、外部的に生成され、 そして、44.736Mbit/s+/−20 ppmのクロック周波数を持つ 入力としてDAIに供給される。 図12は、DS3N‐フレーム、または、M13フレームと呼ばれ、7つのサ ブフレームを有するDS3フレームのフォーマットを示す。各サブフレームは、 8つのグループ、または、ブロック550を持つ。この場合、各ブロックは、最 初のオーバーヘッド(OH)ビット552とこれに続く84のDS2入力1専用 のタイムスロットを表すビット554のようなDS2情報ビットを有する。 図13は、図12と同様である、ただし、各サブフレーム、及び、各ブロック 用の特定付加ビット、サブフレーム、非同期DS3フレームフォーマットの1組 を示す。例えば、第1サブフレームのブロック1550の付加(オーバーヘッド )ビットはX‐ビット552’である。 図14は、図12と同様であるが、各サブフレーム及び各ブロック用の特定の 付加ビット、サブフレームの、C‐ビットパリティDS3フレームフォーマット の1組を示す。例えば、第4サブフレームのブロック3の付加ビットはFEBE 554である。 図15aは、DS3フレーマ474及びDS3状態カウンタ472の構成図で あり、両者共、図10bに示すM23デマルチプレクサ452の一部である。D S3データ462は、ピラミッド型シフトレジスタ594、及び、DS3フレー マ474内のN‐ビットシフトレジスタ596に接続される。ピラミッド型シフ トレジスタ594の出力は比較回路598に接続される。比較598のEqua l(同等)出力は、DS3状態カウンタ472のグループカウンタ604をドラ イブするMx170サイクルブロック602によりスリップに接続されるカウン タ600に接続される。N‐ビットシフトレジスタ596の出力は、比較回路6 08に接続される。比較回路608のEqual(同等)出力は、DS3状態カ ウンタ472のサブフレームカウンタ614をドライブするためにMサブフレー ムブロック612によりスリップに接続されたカウンタ610に接続される。比 較598のNotEqual(不同等)出力及び比較608は双方共に、DS3 状態カウンタ472の1つのビットカウンタ606に相互接続される。 DS3フレーマ474は、入来DS3信号462にDS3状態カウンタ472 を同期化する。DS3状態カウンタ472は、入来DS3データビットがDS3 Mフレームのどちらのビットと関連するかを示すポインタを提供する。DS3フ レーマ474によって実施される同期化プロセスは、状態カウンタ472とデー タストリームのDS3M‐フレーム構造とをアライン(配列)する。非同期DS 3フレームフォーマットに関しては図13を参照し、そして、C‐ビットパリテ ィDS3フレームフォーマットに関しては図14を参照されたい。DS3フレー ムにつき7つのサブフレームが有り、そして、各サブフレームは、85ビットの 8ブロック又グループを有する。各グループの第1のビットは、制御ビット、ま たは、付加ビットである。グループ2及び8と関連する制御ビットはF1ビット であり、そして、グループ4及び6と関連する制御ビットはF0ビットである。 F1ビットは1に、そして、F0ビットは0に等しいので、フレーミングパター ン1001...は、全ての第170番目の位置を観察することにより発見でき る。このビットパターンへの同期化は、DS3ストリームへの同期化全体の第1 の過程であるサブフレームに配列を構成する。 サブフレーム同期化への標準的な方法は直列アプローチである。フレーミング への直列アプローチは、当該位置が有効または無効であると決定されるまで1つ のビット位置を観察する。当該ビット位置が無効であると決定されると、1クロ ックサイクルの期間中状態カウンタは一定に保たれ、その結果、状態カウンタを 1サイクルまたはビット位置だけ効果的に遅らせる。前の位置に隣接する新しい ビット位置は、有効或いは無効であると決定される時までフレーミングパターン に関して観察される。ビット位置が有効であると判断されるまで、このサイクル は継続する。一時に1つのビッの位置を検索するこの直列アプローチの最大平均 再フレーム時間(MART)はDS3フレーミングパターンに関して約1.9m secである。最大平均再フレーム時間は、ビット位置の最大数がフレーミング パターンに関して調査された場合におけるリフレームするための平均時間である 。この時間は統計的に求められ、そして、計算に際しては、非フレームビットは 同一確率を以て1及びゼロであるものと仮定される。DS3レートのための必要 条 件は、MARTが1.5msec未満であることであり、従って、実施された直 列アプローチは、必要とされるMARTに適合しない。 好ましい実施例において実行されるサブフレーム同期化への強化されたアプロ ーチは、直列予見アプローチである。170ビット毎に1つの単一ビット位置を 観察する代りに、必要に応じて、将来使用するために、N隣接ビットが記憶され 、一方、現在位置は以前と同様に評価される。必要とされる時に先立って、隣接 ビット位置の値を記憶しておくことにより、フレーマ474は、MARTの短縮 について実質的に予見する。170ビット毎の後で、現行ビット位置の妥当性に 関しては判定が行われる。直列アプローチにおいて、現行ビット位置が無効であ ると判定された場合には、少なくとも3x170ビットの期間中は、(フレーミ ングパターン1001...においては、00、01、10、及び、11は全て 有効なパターンであるので)他の判定は実施不可能である。ただし、直列予見ア プローチにおいては、新しいビット位置の前の2つの値は前以て記憶されている ので、170ビット内に別の判定を行うことが可能であることもあり得る。将来 の使用のめに記憶されている隣接ビット数Nを増大すると、MARTは減少する が、フレーミング回路のゲートカウントが増大する。速度またはサイズ寸法のい ずれかに関して回路を最適化するためにNが選定される。好ましい実施例におい てはN=3の値が実現し、そして、次の説明用に用いられる。この値は、1.5 msecの仕様に適合するMARTを提供する。 図15bに示すピラミッド580は、異なる基準に基づいてシフトアップ又は シフトダウンするシフトレジスタの形を示し、現行ビット位置の値並びに現行フ レーミング位置に隣接するビット位置の値を記憶するために使われるメカニズム である。ピラミッドの各方形は記憶エレメントを表す。あらゆる所定の時点にお いて、ピラミッド580に対応するピラミッド型シフトレジスタ594は、DS 3データストリームに対する状態カウンタ472の現行配列と関連した3つの連 続したフレーミングビットの値を有する。状態カウンタ472が新しいフレーミ ングビット位置、即ち、170サイクルに到達すると、最後のフレーミングビッ ト位置P1 584はP2 586にシフトされるので、P0582はP1 5 84にシフトされ、そして、新しいフレーミングビットは、P0 582にシフ トされる。Q0 588である前回のフレーミングビット位置−1は、Q1 5 90にシフトされ、そして、現行フレーミングビット位置−1はQ0 588に シフトされる。現行フレーミングビット位置−2は、R0 592にシフトされ る。この時点において、P0 582はP2 586と比較される。これらが異 なる場合には、現行位置は、依然として、有効なフレーミングビット位置であり 得る(フレーミングパターンは、10011001...である)。別の170 サイクルの後で、P0 582からP2 586まで連続した7つの比較が同じ でないと判定されるまで前述の手順が繰り返される。同じでないと判定された時 点において、状態カウンタをグループに配列するために、状態カウンタ472の 状態は、170の倍数だけ進むか、或いは、遅れる。この時点において、サブフ レーム同期化が宣言され、そして、全同期化への第1の過程が完了する。 ただし、比較の結果、P0ビットとP2ビットが同じ値であることが示された 場合には、現行ビット位置は、無効のフレーミング位置として宣言され、そして 、新しいフレーミング位置として、隣接ビット位置が選定される。DS3データ ストリームに対する状態カウンタ472の関係は、状態カウンタを1サイクルだ け遅らせることによって修正される。Q0は、通常、現行フレーミングビット位 置−1の値を含むが、状態カウンタ472を調整することにより、実際には、Q 0は、現行フレーミングビット位置の値を含む。Q0はP0にシフトされ、Q1 はP1にシフトされ、そして、R0はQ0にシフトされる。状態カウンタ472 が新しいフレーミングビット位置、即ち、170サイクルに到達すると、最後の フレーミングビット位置P1がP2にシフトされるので、P0はP1にシフトさ れ、そして、新しいフレーミングビットはP0にシフトされる。Q0である前回 のフレーミングビット位置−1はQ1にシフトされ、そして、現行フレーミング ビット位置−1はQ0にシフトされる。現行フレーミングビット位置−2はR0 にシフトされる。この時点において、P0はP2と比較される。両者が異なる場 合には、現行位置は依然として有効なフレーミングビット位置である。別の17 0サイクルの後で、POとP2との連続した7つの比較結果が異なると判断され るまで、前述の手順が繰り返される。異なると判断された時点において、状態カ ウンタをグループに対して正しく配列するために、状態カウンタ472は、17 0の 倍数だけ進めるか、或いは、遅らされる。この時点において、サブフレーム同期 化が宣言され、そして、全同期化への第1の過程が完了する。 同期化プロセスの第2の過程は、マルチフレームのアラインメント(配列)を 発見することである。サブフレーム5及び7のグループ1と関連した制御ビット はM0ビットであり、そして、サブフレーム6のグループ1と関連した制御ビッ トはM1ビットである。M1ビットは1に等しく、また、M0ビットは0に等し いので、フレーミングパターン010は、各サブフレームの第1制御ビットを観 察することによって発見できる。このビットパターンへの同期化は、マルチフレ ーム配列を構成し、これは、DS3ストリームへの全同期化における第2のそし て最後の過程である。マルチフレーム配列は、各サブフレームのグループ1関連 している制御ビットを、M−ビットシフトレジスタ596にシフトすることによ って遂行される。7つのサブフレームがあるので、シフトレジスタ596は長さ 7ビットである。Mビットと結合したマルチフームフレーミングパターン010 が2つの有効な連続したマルチフレームであると考えられる場合には、状態カウ ンタ472の状態は、状態カウンタをサブフレームに調整するために、680の 倍数だけ進めるか、或いは、遅らせる。この時点において、状態カウンタ472 は、フレーム内にあること、及び、完全同期化の最後の過程として宣言される。 Fビットエラーが検出される、或いは、Mビット配列パターンが無効であると考 えられるならば、マルチフレーム配列プロセスの期間、フレーマ474は、状態 カウンタ472の状態を遅らせ、そして、サブフレーム同期化プロセスはもう一 度スタートする。 III.非同期タイムスロット交換(TSI)回路 図16は、ライン134を介して供給されたDS3信号に埋め込まれたDS0 チャネルをDS0テスト資源16に、そして、ライン134を介して切り替える ための非同期DS0スイッチ1000の機能ブロックダイアグラムである。その 最大構成において好ましいアクセスシステム170は、その96のDS3インタ フェースモジュール171(96 X 672=64,512)を介して64, 512のDSOにアクセスできる。更に、アクセスされたDS0チャネルをテス トするために使われるアクセスシステム170には最大24までのDS0テスト 資源186がある。共有されたテスト資源186へのアクセスを可能にするため に、交換機能1000が必要とされる。スイッチアーキテクチャは、64,51 2のアクセスされたDS0チャネルのうちのどれでもと24のDS0テスト資源 のうちのどれでもの間で2方向接続を確立することが可能でなければならない。 AT&Tによって実行されたタイムスロット交換のような従来のスイッチアー キテクチャは、全てのアクセスされたDSOチャネルが共通基準(例えば、スト レイタム1クロック)に同期することを必要とする。DS0チャネルのうちの任 意のチャネルが基準に同期していない場合には、スリップ、即ち、1つのビット が喪失されることが発生し、そうすれば、DS0信号が歪められ、たとえば、可 聴クリック、または、データパケットの喪失が起きる。従って、機能的な非同期 スイッチ1000は、ひずみを導入せずに非同期DS0チャネルを収容するため にアクセスシステム170に含まれる。 図17を参照して、非同期交換機能1000の要諦は、非同期タイムスロット 交換(TSI)回路252にある。TSI252は、所定のDS3信号の中で全 ての672DS0チャネルにアクセスすることができ、そして、DS1またはD S2チャネルがDS0チャネルを埋め込むと言う拘束条件なしに最大24までの 672 DS0チャネルの交換能力を提供する。アクセスシステム170におけ る全てのTSI252は、PCMハイウェイ、または、PCMバス220として 参照される各DS0テスト資源186におけるディジタル信号プロセッサ(DS P)1001と共に、一緒に接続される。アクセスシステム170内の最大12 8までのDSOチャネルを扱うためにTSI252は交換機能を供給し、そして 、PCMハイウエイ220は経路指示機能を提供する。 PCMハイウェイ220は、アクセスシステム170全体に亙ってDSOチャ ネルを経路指示するためのメカニズムを提供する。PCMハイウェイ220は、 イントラシェルフ部分1002、及び、インターシェルフ部分1004を持つ。 これらは、シェルフモニタモジュール232、232’上の1組のバッファ10 06に接続される。128タイムスロットを備えたPCMハイウェイ220は、 2方向性非同期DS0チャネルの最大128までの伝達をサポートする。PCM ハイウェイ220は、マスター/スレーブ様式において配列される。ここに、T SI252のようなマスターは、それぞれ32のタイムスロットをサポートする 4つの伝送ライン(図示せず)により送信し、そして、それぞれ32のタイムス ロットをサポートする4つの受信ライン(図示せず)により受信する。 図18は、PCMハイウェイ220のタイムスロットの間の関係を示すタイミ ング/ビット位置ダイアグラムである。PCMフレーム同期化信号(PFRM) 1008は、128本のスロットを1つの単一フレームに並べる。同様に、図1 8は、4つの信号TXA 1010、TXB 1012、TXC 1014、及 び、TXD 1016、及びTXSTAT信号1018の各々のための32の送 信タイムスロット、及び、4つの信号RXA 1020、RXB 1022、R XC 1024、及び、RXD 1026の各々のための32の受信タイムスロ ットを示す。各タイムスロットは直列送信されるDS0の8ビットを表す。非同 期DS0チャネルを扱うために、PCMハイウェイ220は、あらゆる入来DS 0チャネルのレート(約8kHz)より高い或るレート(好ましくは11.16 kHz)でランする。PCMハイウェイ220は伝送中のデータより高いレー トにおいてランするので、「スタッフィング」技法が実行されている。この場合 、選定済みタイムスロットがバス220上で利用可能であるとしても、伝送する 有効なデータは無い。スタッフィング技法は、関連しているタイムスロットが、 現行フレーム内に有効データ、または、スタッフデータを含むかどうかを示すた めに使われる伝送状態ラインを使うことによって達成される(TXSTAT信号 1018によって示す)。 PCMハイウェイ220のアービトレーション(調停)は、アクセスシステム 170の至る所に配置された種々のマスター、または、スレーブ装置の間にタイ ムスロットを適当に割当てることによってソフトウェアによって制御される。単 一クロック、及び、フレーム同期化信号は、PCMハイウェイ220を同期化す るために全ての装置に供給される。 TSI252は、後で説明する内部走査方法に基づいて、伝送状態ライン(T XSTAT信号1018)をドライブする。例えばDS0テスト資源186(図 17)のDSP1001のようなPCMハイウェイスレーブディバイス装置は、 TSI252が喪心に使用するラインから受信し、そして、TSI252が受信 するラインにより送信する。更に、DS0テスト資源186内のDSP1001 は、DS0タイミングを抽出するために、送信状態信号1018を監視する。 DS0ビットが送信状態信号1018と共にどのようにしてマップされるかを 示す共有PCMコロック信号(PCLK)を含む特定のタイムスロットの詳細を 図19に示す。TXSTAT信号1018は、マークされたデータビットを含む タイムスロットN 1032以前にタイムスロットN−1 1030に有効なビ ット及びフレームコードを提供することに注意されたい。タイムスロットN 1 032内のバイトのような1つのバイトをスタッフするためには、バイトが有効 でないことを示すためにタイムスロットN−1 1030におけるTXSTAT 1018のVAビット1036は「1」にセットされる。 TSI 252へのインタフェースについては、図20のI/Oダイアグラム に示す。好ましいアクセスシステム170において、TSI 252は、は、D S0交換機能を提供し、DS3信号とPCMハイウェイ220との間にタイムス ロット交換機能を提供できるようにDS3側の672 DS0チャネル、及び、 PCMハイウェイ220上の128タイムスロットにインターフェイスする。T SIは、周波数カウンタ、DS0サブレートハンドラー、CRC生成、ファシリ ティデータリンク(FDL)ハンドラー、二次チャネルのサポート、及び、DS 1スーパーフレーム配列のためのサポートを含むDS0交換機能を越えた付加的 機能を含む。 マイクロプロセッサインタフェース マイクロプロセッサインタフェース1027は、TSI 252とCPUコン プレックス256(図6)におけるマイクロプロセッサとの間で制御及び状態情 報をパスするために使われる。マイクロプロセッサインタフェース1027は、 8ビットアドレスバス、8ビットの2方向性データバス、チップセレクト、読み /書き制御信号、及び、アドレスラッチ作動化信号を含む。TSI 252は、 読み/書きサイクルが完了可能であることをマイクロプロセッサに通告するたに 、データ転送肯定応答を表明する。更に、「安全な」書込み動作を可能にし、そ して、多種多様な標準マイクロプロセッサのインターフェイスを可能にするため に2つのモード制御ピンがある。 PCMハイウェイインタフェース PCMハイウェイインタフェース1029は、PCMハイウェイ220(図1 7)にTSI 252を接続するために使われる。受信したデータ用の4ライン 、及び、送信データ用4ラインがある。各一対のTx/Rx信号は、4つの32 タイムスロットPCMハイウェイライン220の1つに接続される。送信状態ラ インは、有効なデータが出力されつつあることを示す。各送信ラインは、PCM ハイウェイ220がヅライブされつつあることを示す関連イネイブル作動化信号 を持つ。更に、全てのTSI252、及び、PCMハイウェイ220上のDS0 テスト資源186(図17)を同期化するために。クロック、及び、フレーム同 期化信号は、TSI 252に送られる DAI回路インタフェース 疑似DS2(PDS2)バスインタフェース1031は、TSI 252をD AI 250(図6)にインターフェイスするために使われる。DAI 250 は、DS1レベルにおけるビットの識別を可能にするために、関連しているクロ ック、及び、DSI同期化状態と共に7つのDS2データストリームをTSI2 52に送る。TSI 252は、DAI 250へ重ね書き制御と共にDS2デ ータをパスする。重ね書き制御は、DAI 250によってどちらのDS3にお けるビットが重ね書きされるべきであるかを決定するために使われる。 FDLマイクロ‐コントローラインタフェース ファシリティデータリンク(FDL)インタフェース1033は、FDLデー タを処理するために外部のマイクロ‐コントローラ256(図6)にTSI 2 52を接続するために使われる。マイクロコントローラ256は、ストロボスコ ープ、及び、クロックラインをドライブする。TSI 252は、28のESF フォーマットされたDSIの各々のからFDLデータビットをシフトアウトする 。 システムインタフェース システムインタフェース1035は、DSI周波数カウンタ測定のための基準 クロック、TSI初期化のためのリセット信号、及び、全TSIオペレーション のためのクロックを含む種々雑多なTSI 252信号を含む。 テストインタフェース テストインタフェース1037は、故障対策としての可制御性、及び、可観測 性を提供する。更に、制御信号は、基板レベルテストを容易にするために、全て のTSI出力を無能にするために利用可能である。 電源(パワー) パワーインタフェース1039は、電源及び接地用のピンを含む。 図21aは、非同期TSI回路252の構成図である。送信方向において、T SI 252は、疑似DS2(PDS2)インタフェースを介して入力デマック ス1040においてDAI回路250からDS0データを受信し、そして、PC Mハイウェイ送信機1045において、PCMハイウェイ220(図17)にD S0データを送信する。送信方向において、TSI252の全体的な機能は、入 来DS0データを送信サンプルバッファ1044にロード化、到着し次第DS0 データを送信機サンプルバッファ1044から抽出し、そして、以前に割り当て られたタイムスロットにおいて、PCMハイウェイ220に配置する。 DAI 250(図6)からのDS2データは、入力デマックス1040によ ってTSI 252に入力される。図22は、TSI/DAI PDS2インタ フェースの詳細を示すタイミングダイアグラムである。図21aにおいて、入力 デマックスは、7つのインタフェース1031(図20)の部分であるDS2デ ータ、及び、クロックラインから28のDSIデータストリームを抽出する。2 つのDSINUM信号(インタフェース1031…図20)は、2ビット2進数 を形成するそれは、DSIが広く4のどちらであるかがDS2ライン上の活性デ ータを持つことを指定する。TSI 252は、これらの信号を多重化に使う個 々のDSIラインへの活性のDS2そして続き物として各々の入来DSI信号( 28)をDSI入力シフトレジスタ1041に供給する。 一旦、8ビットのDS0チャネルバイトが変えられたならば所定のDSIのた めに、DS0バイトは、レジスタ登録1042を保持するDS0に載せられる。 28保持レジスタ登録1042がある各DS1チャネルのための1つ保持レジス タ登録1042は、幅10ビットであり、DS0バイトの8ビット、マルチフレ ーム同期化状態のための1ビットは、「親」DS1チャネルと結合、及び、ビッ ト使われる同じくらい有効なデータフラグ新しいDS0バイトが入り、そして、 今なお処理されない。 TSI 252は、処理DS0チャネルに利用可能な24本の内部の「チャネ ルスロット」を持つ。チャネルスロットは、中間のメカニズムを供給するPCM ハイウェイ220に入来DS0チャネル、及び、タイムスロットの間の接続を確 立する。外部のマイクロプロセッサ(uP)インタフェース1060は、図21 aにおいて示される。24本のチャネルスロットが割当てられる。uPは、所定 のチャネルスロットの2つのアサインメントを行うことによって変えられた接続 を始める。第1のアサインメントは、チャネルスロットをPCMハイウェイタイ ムスロットに結び付け、アサインメントがチャネルスロットを特定のDS0チャ ネルに結び付ける第2DS3の特定のDS1チャネルの中で結び付ける。 PCMハイウェイタイムスロットアサインメントは、行われる「書込み」の上 方で二つのタイムスロットアサインメントに、メモリ(128 X 8)105 9を向けなさい。DS0アサインメントは、uPがDS0の精選された内容アド レス可能なメモリ(CAM)1049に記入する。DS0数(1−24)のため のDSI数(1−28)、及び、1つの書込みのための1つの書込みである。い ったん、適切なアサインメントが進まれたならば、DS0は、CAM 1049 、及び、タイムスロットアサインメントメモリ1059を選択する。更なるuP 訴訟は、必要とされないDS0チャネルは、頻繁に処理され、そして、構成かu Pによって変えられる時まで接続は維持される。 DS0バイトが保持レジスタ登録1042にロードされた後で、それらは、そ れらが送信サンプルバッファ1044へ移されるべきであるかどうかを決定する ために、スキャンされる。TSI 252は、5ビットDSI走査スキャンカウ ンタ1048を含むそれは、順々に28保持レジスタ登録各々の1042を走査 するために使われる。保持レジスタ登録各々の1042と関連しているDS0チ ャネルカウンタ1047であるDS0チャネルのDS0数を記憶格納するそれは 、現在保持レジスタ登録1042にある。DS1走査スキャンカウンタの間にマ ッチがあるならば、1048/DS0走査スキャンカウンタ1047、及び、D S0の内容は、CAM 1049を選択する。CAMの24 DS0チャネルス ロット「マッチ」信号の1つを作動化する。マッチ信号は、アドレスエンコーダ 1050に5ビット送信サンプルバッファアドレスにおいてコード化される。マ ッチが活性であると同時に。DS0バイトは、保持レジスタ登録1042から送 信サンプルバッファ1044に移される。既にアドレスされた保持レジスタ登録 1042におけるDS0バイトが処理されたならば、有効なデータは、衰える。 マルチプレクサ1043を通る装備された「無効の」データ、及び、保持レジス タ登録1042から送信サンプルバッファ1044への伝送は起こらない。 PCMハイウェイ側において、タイムスロットカウンタ1058は、トラック を保持するタイムスロットは、現在PCMハイウェイ220に活性であるタイム スロットカウンタ1058の内容は、タイムスロットアサインメント(TSA) メモリ1059にアドレスとして使われる各々の128タイムスロットのための ロケーションが用いられる。チャネルスロットがタイムスロットに割り当てられ たならば、TSAメモリ1059出力チャネルスロット数そのタイムスロットが 来るとき出力する。チャネルスロット数は、その時選定済みDS0バイトの回復 のために送信サンプルバッファ1044のPCMハイウェイ辺へのアドレスとし て使われる。送信サンプルバッファ1044における有効なデータフラグは、有 効なデータを示す場合にはDS0バイトは、PCMハイウェイ220に続き物と して送られるPCMハイウェイ送信機レジスタ1045を通って送られる。有効 なデータフラグ自体、送信状態ライン(インタフェース1029、図20)経由 でPCMハイウェイ220に同様に送信される。 依然として図21aを参照する事とし、DS0データは、殺到する方向を受け 取る送信方向におけるタイミング派生で駆動するこれは、支払われるべきである 列をなしてアクセスシステム170のアーキテクチャを下げ、そして、挿入する 。特定のTSI 252は、送信を扱い、そして、データ双方共受け取るの同じ DS3信号と関連する。このアーキテクチャは、それを口述する辺タイミングを 受け取る送信辺タイミングと同じである挿入が降下が得られたのと同じDS3信 号に起こるので異なるタイミングによってDS0バイトを挿入することは可能で はない。修正するための方法がないので関連しているDS1タイミングDS0ビ ットのみが全ての他のDS3ビットをパスしてDS3に挿入されつつあるとき透 明である。 受信方向において、TSI 252は、PCMハイウェイ220(図17)か らDS0データを受け取り、そして、PDS2インタフェースを介してDAI2 50(図6)までDS0データを送る。TSI 252の全体の機能方向を受け 取る入来DS0バイトを載せることであるその割り当てられたタイムスロットの 間の見本のバッファ1062を受け取り。DS0バイトを抽出する見本のバッフ ァ1062を受け取り、そして、関連している送信DS0バイトは、TSI25 2に載せられつつある同じタイムでそれをDAI 250に送る。更に、外部の マイクロプロセッサ(図示せず)によってそのように共同‐計算されたならはT SI 252は、重ね書き信号(インタフェース1031…図20)を生成する 。重ね書き信号は、関連しているPDS2ライン上のデータビットは、DS3信 号に過度の‐書かれるべきであるDAI 250を信号で知らせるために使われ る。 PCMハイウェイから入来し、そしてPCMハイウェイ受信機レジスタ106 1に入るデータの直列から並列への変換と共に受信側におけるデータフローが開 始する。データは、取り去られるデータがPCMハイウェイに置かれるのと同じ タイムにおけるPCMハイウェイ送信側に配置される。PCMハイウェイ受信機 レジスタからのデータ、ロケーションに見本のバッファ1062を受け取るTS Aメモリ1059によって指定されるタイムスロットに1058によってアドル スされたとき、ロードされる。 次に、DS0データは、受信側DS0保持レジスタ1063にロードされる。 保持レジスタ登録1063からDS0バイトは、DS1出力シフトレジスタ10 64に供給されるそれらが出力マルチプレクサ1067をパスされ、そして、D AI 250まで先に送られる所でPDS2のセットは、データラインを受け取 る(インタフェース1031、図20)。 更に、TSI 252は3つの付加的サブ回路を含む、即ち、TSI FDL ハンドラー1068(図21b)、周波数カウンタ1069(図21c)、及び 、サブレートハンドラー1056(図21d)である。TSI FDLハンドラ ー1068は、TSIデマルチプレックサ1040の出力からその入力を獲得し 、そして外部のFDLマイクロ‐コントローラ254からのクロック信号を獲得 する。データは、マイクロ‐コントローラ254まで、そして、TSIシフトレ ジスタ1041まで出力である。周波数カウンタサブーサーキット1069は、 TSIデマルチプレックサ1040の出力からその入力を獲得する及び、TSI システムインタフェース1035標準クロックから獲得される。サブレートハン ドラー1056は、その入力をレジスタ1042及びDS0チャネルマッチ信号 を保持するTSI DS0から獲得する。サブレートハンドラー1056の出力 は、ANDゲート1057への入力の1つをドライブする。 DS1ファシリティデータリンク(FDL)ハンドラー 図23は、非同期タイムスロット交換(TSI)回路252のFDLハンドラ ーサブ回路1068と 好ましいアクセスシステム170におけるFDLマイク ロコントローラ(uC)254との間のファシリティデータリンク(FDL)イ ンタフェースの構成図である。TSIインタフェース1033の3つのI/Oピ ン(図20)254をマイクロコントローラに相互接続するFDLDIR、FD LCLK、及び、FDLDATである。FDLは、4Kbit/sデータリンク であるそれは、フォーマットされるたS1信号拡張の極上のフレーム(ESF) に埋め込まれる。アクセスシステム170において、DS3インタフェース17 1(図5)は全てがDS2、及び、DS1信号を埋め込んだのと同様に、DS3 信号の性能動作監視を提供する。ESFの性能動作モニタリングの部分は、DS 1チャネルをフォマットされたFDL上でアクセスシステム170に送られるメ ッセージを解釈することを必要とする。所定のDS3インタフェースモジュール 171において、以下を通過する少なくとも28のDS1チャネルが存在可能で あり、それらの各々は4Kbit/sec独立したFDLチャネルを含むことが できる。FDL様データリンクを扱うための従来の技法(例えばHDLC)は、 マイクロプロセッサ、及び、1つまたは2つのデータリンクの間のインタフェー ス(例えばUSARTチップッ、DLCチップ、等。)の棚外集積回路(IC) の使用を含む。。好まれたアクセスシステム170において、この技法は、実用 的ではないICの必要とされた数が単一にフィットしないので、ボード基板、及 び、コストの点において禁止的である。 本発明は、アクセスシステム170において、単一DS3インターフェイスモ ジュール171上の28の4Kbit/secデータリンクを、過度のコストを 導入せずに収容する多重非同期データリンクを扱うための新奇なアプローチを含 む。このアプローチは、CPUコンプレックス262(図6)における基板マイ クロプロセッサ(uP)に高水準のメッセージインタフェースを提供するために 外部マイクローコントローラ(uC)254と共に作動するTSI 252にお けるサンプリング/パッキングサブ回路(FDLハンドラー1068)を包含す る。 図21c及び24を参照して、TSI 252のFDLハンドラーサブ回路1 068は、FDLビットを絶えす抽出する各々の28からDSIは、入力シフト レジスタ(ISR)1070と呼ばれる内部のバッファにそれらにチャネルを開 き、そして、記憶する。ISR 1070は、各DS1チャネルのための7FD Lビットに耐え得る。各々として、新しいビットは、中に変えられる。FDLビ ットカウンタ1071は、インクレメントされる。外部のuC 254がTRA NSFER信号(FDLDIRから派生、図23)を表明するときFDLフラグ ロジック1072は、FDLビットカウンタ1071をサンプルし、そして、入 力シフトレジスタ1070から出力シフトレジスタ1073(28のうちの1つ だけを図示)に有効なFDLデータビットをパスする。フラグロジック論理10 72は、その時未使用のビットの状態を決定する出力シフトにおいて、以下に示 すように出力シフトレジスタ1073を決定する。 全てのFDLチャネルはわずかずつ異なるレートでランすることができるので 、28のFDLバイトは、有効なFDLビットと同数でなくても差し支えない。 ただし、出力シフトレジスタ1073のサイズは、8ビットであり、有効なFD Lデータビットの数は7或いはそれよりも小さい。FDLビットカウンタ107 1に基づいて、フラグロジックは、出力シフトレジスタ1073内の有効なFD Lビットの数を決定し、そして、次のビットを「0」にセットし、そして、未使 用のビットが残っている場合には、それら全てが「1」にセットされる。 次に、外部FDLuC254(図23)は、最下位のビット(LSB―ビット 0)において開始し、そして、ゼロを有する最初のビット位置を探すことにより 各バイトに含まれる有効なFDLビットの数を決定することが出来る。バイトに おける全ての残っているビットは有効なである。例えば7つの有効なデータビッ トがあるならばLSB(ビット0)は、ゼロ、そして、残っている7つのビット は、有効なFDLデータビットと解釈される。最下位のビットが1であり、そし て、次のビット(ビット1)は、ゼロである場合、6つの有効なFDLビットが ある。FDLデータビットの到着の順序は、最下位ビットから最上位ビットまで である。これは、TSI 252に載せられたために最上位ビット(ビット7) が最も最近のビットであることを意味する。 28の出力シフトレジスタ1073は、TSI 252のFDLハンドラーサ ブ回路1068内においてビット長(28X8)のシフトレジスタ224を形成 するために、一緒に接続される。これは、直列インタフェースを介してTSI 252から抽出されるために、全ての28 DS1チャネルのためにFDbテー タを見込む。図25は、TSI 252から、そして、外部のuC254(図2 3)にシフトされた状態のFDLデータのフォーマットを示す。 バッファのオーバフローを回避するために、FDLuC254は、例えば最大 7つのFDLビットがポーリングサイクルの間に記憶されるような周波数でTS I 252をポーリングしなければならない最悪の場合、高速DS1が1.74 98msに7つのFDLビットを生成するので、これは、公称1.7msのポー リングサイクルを用いて達成される。 IV.保謹通路(プロテクトパス) 図26は、アクセスシステム170における正常なDS3信号通路および保護 DS3信号通路を示す。DS3チャネルは、防護のための2一次必要条件を持つ 。第1は、通路のアクセスシステム170の故障に関係し、そして、第2は、専 門家を必要とするスイッチに関係する。第1のケーシングにおいて、DS3通路 は、故障したユニット単位から第2の防護通路まで動かされなければならない。 装置は故障しているので、DS3チャネルに主要な影響が発生するものと仮定さ れる。 第2の必要条件は、専門家によって要求される保護スイッチに関係する。この 種のスイッチ種は、DS3インターフェイスモジュール上のサービス(業務)に 直接影響のない故障(例えば、発光ダイオードの焼損)を修正するために必要と される。この情況の下では、DS3チャネルのメジャーなヒットは、許されない 。同期化が喪失されることのない、2、3のビットエラーではあるが、装置の下 流に発生するものと仮定する。 これら両方のシナリオは、アクセスシステム170を通るDS3信号の保護を 取扱う。DS3信号入力134は、正常なそして防護通路モジュール171a, 171bに電報で知らせられる。DS3信号がDS3モジュールからの伝達され た済みであるとき、171は、178を中継する178’は、双方共に使われる 正常な、そして、防護出力通路わずかその1 DS3モジュールを保証するため に、171a,bは、ライン134’をあらゆる所定の時点にドライブする。特 別なオン/オフ順序はヒットレス(衝撃無し)必要条件を満たすことを要求され る。これらの必要条件の下の、アクセスシステム170の保護計画を以下に述べ る。 DS3通路の防護は、次のカード防護アプローチを用いて達成される。図26 に示すように、DS3インタフェースモジュール171a,bは、機能的ペアに きつく連結される。各モジュール171は、正常な通路1080a、DS3チャ ネルのための1080bを持つ。更にモジュール171は、第2の通路1082 a、利用可能な1082bを持つそれは、その相手モジュールを保護するために 使われる。すなわち、「1A」モジュール171aは、DS3チャネル1Bのた めにDS3チャネル1A、及び、防護通路1082aのために正常な通路108 0aを持つ。同じ方法において、「1B」モジュール171bは、DS3チャネ ル1AのためにDS3チャネル1B、及び、防護通路1082bのために正常な 通路lOSObを持つ。同じカップリングは、シェルフにおいて他の5つの組の DS3モジュール各々の171で発生する。このように、交互の通路は、全ての DS3チャネルに利用可能である。2つの通路1080、1082の差は、2つ のカテゴリに分類される、即ち、チャネル統計及び重ね書き能力である。 正常な通路1080は、DS3チャネルに関する全統計情報を集める。DS3 の十分な範囲DS2、及び、DS1統計がとられる。更に、全DS1及びDS0 チャネルは、入来DS3チャネルから抽出可能であり、そして、出チャネルに置 き換えることができる。 一方、保護通路1082は基本的にチャネル中継器である。DS3信号は、受 信された済みであり、遅延は、正常な通路1080とマッチさせられ、そして、 信号は、再伝達される。信号(LOS)喪失のような統計敵に極めて稀な場合だ けが、保護通路1082により検出され、そして、報告される。一切の挿入は行 われない。保護通路1082の一次目的である正常な通路のモジュールにおける 故障の場合にはDS3チャネルを保護する。 図27に示すように、他のDS3インタフェースモジュール171cが、DS 3シェルフ202(図5)上の別のモジュール171a,bのモニタとして使わ れる。信号は、DS3 LI回路272aのモニタポート、272a、272b から掘られるDS3 LI回路272cへの272b、モニタモジュール171 cに関する272cである。LI回路272のモニタ出力は、2結線の1つに結 び付けられ、DS3へのインタフェースは、モジュール171cを監視する。L I回路272aからのDS3 RCV MONライン1084DS3の正常な通 路への入力として、モジュールを監視するために正常な通路1080a,b上の 272b(図26)が使われる。モジュール171aを用いて比較を行う2つの 例を次に示す。 1.ライン134a上の入力信号をライン134a’上の正常なデータ通路出 力と比較する。 2.ライン134a上の入力信号をライン1082b(図26)上の保護通路 出力と比較する。 DS3「1A」モジュール171aを例として使用するイベントのシーケンス によって比較が行われる状況を示す。このテストの準備、及び、制御はシェルフ モニタモジュール232によって達成されることに注意されたい。 監視通路に対して正當な通路出力を比較するためのシーケンス 1.先ず、シェルフモニタモジュール232は、DS3インタフェースモジュ ール171aのDS0/DS1挿入パラメータをDS3モニタモジュール171 cにパスする。 2.次に、シェルフモニタモジュール232は、DS3インタフェースモジュ ール#1A171aに、ライン1084上のDS3 RCV MON OUT信 号用の出力ドライバーをオンするように正常な通路LI 272aから命令(コ マンド)する。これは、ライン1084にDS3 1A入力信号の増幅されたイ メージを置く。このラインは、DS3モニタモジュール171cに関して正常な 通路LI 272cに電報で知らせられる。同様に、シェルフモニタ232は、 例えば171b、ライン1084までそれらのドライバーを無能にするために全 ての他のモジュールに命令する。 3.次に、シェルフモニタ232は、DS3インターフェイスモジュール## 1A 171aに命令して、DS3 XMT MON OUTのためのその出力 ドライバー上の正常な通路LI 272aからのライン1086をオンする。こ れは、DS3 1A出力信号のイメージをライン1086上に置く。ライン10 86は、DS3モニタモジュール171cに関して保護通路LI 272cに電 報で知らせられる。同様にシェルフモニタ232は、例えば171b、ライン1 086までそれらのドライバーを無能にするために全ての他のモジュールに命令 する。 4.最後に、シェルフモニタ232は、ライン1088にDS3インタフェー スモジュール#1A 171aをFEBE MON OUT信号のためのその出 力ドライバーをオンするように命令する。図27に示すように、この信号は、D S3モニタモジュール171cに関してDA1回路250aからDA1 250 cのFEBE入力まで生成する。同様にシェルフモニタ232は、例えば171 b、ライン1088までそれらのドライバーを無能にするために全ての他のモジ ュールに命令する。 5.この時点において、物理的リンクがモニタモジュールに確立されたので、 テストが開始できる。DS3モニタモジュール171cに関して正常な通路LI 272cに来る信号は、#1Aモジュール171aによって見られる効果的に同 じ入力134aである。性能データ全ては、DAI 250cによって、そして 、#1Aモジュール171aに関して発見されたそれと比べると集められる。こ の比較は、シェルフモニタ232によって行われる。主要な差異、即ちフレーム 喪失、等々、が発見されると、故障が検出される。 6.DS3モニタモジュール171cは、例えば171bのような他のモジュ ール上で同じテストをすることによって前の機能を保証するために、最初に検査 されねばならない。問題がDS3と共に発見されないならば、モニタモジュール 171c、そして、シェルフモニタ232は、故障は、発見されたかどうかその 後#1Aモジュール171aを命令する或いは#1Bモジュール171b、#1 Aモジュールの正常なDS3通路1080a(図26)の保護変更を行うために 決定しなければならない。 7.DS3処理の間、遠端ビットエラー(FEBE)信号が、DAI 250 cによって生成される。このFEBE信号は、#1Aモジュール171aからラ イン1088に1受信された済みと比較されなければならない。ミスマッチが発 生した場合には、スイッチが必要であるかどうかを決定するために、過程6に示 された手順に従う。 8.次の過程は、#1Aモジュール171aに関して発生したDS0/DS1 データの挿入を遂行することである。一旦これが達成されると、正常な通路10 80に関するDAI 250cにおけるデータ信号は、保護通路1082にはい ることであるものと同じである。 9.DS3モニタモジュール171cの保護通路1082は、その上に#1A モジュール171aの出力のイメージを持つことを想起されたい。信号がDAI 250cに着くと、それは、既知の数のクロックサイクルだけ遅れる。調整は、 これらのサイクルにマッチするために、このモジュール上でDAI 250cの 正常な通路1080に行われる。DAIの個別差による変動があるので、追加ク ロックサイクルは、必要とされるかもしれない。DAI 250cは、最大3ビ ットの分散が許容される。 10.遅延分散が補償されると、2つの信号(ライン1086からの#1A出 力、及び、DS3モニタ出力)のビット対ビット比較がDAI 250cにおい て行われる。 11.モジュール#1A 171aが警告状態にないものと仮定すると、一切 の性能故障は、DS3モニタモジュール171cによって検出されず、そして、 比較に失敗し、次の2つのうちのいずれかが起きる。即ち、モジュール#1A1 71aが故障したか、或いは、DS3モニタモジュール171cが故障した。故 障したのはモニタモジュール171cであることを決定するためには、例えば1 71bのような他のDS3インタフェースモジュールに対して同じテストが行わ れる。 12.故障がDS3モニタモジュール171cに発見されない場合には、故障 が検出され、そして、シェルフモニタ232は、#1A DS3通路134aの 保護切り替えを行うためにモジュール#1A 171a、または、#1B 17 1bにコマンドを出す。更に、#1ADS3モジュール171aは、そのユニッ ト故障ランプを点灯する。 保護通路出力をモニタ通路に対して比較するためのシーケンス 1.シェルフモニタ232は、DS3インタフェースモジュール#1A 17 1aに対し、正常な通路LI 272aからのライン1084上のDS3 RC V MON OUT信号の出力ドライブをオンするように命令する。以前に述べ たように、これは、DS3 1A入力信号の増幅されたイメージをライン108 4上に置く。ライン1084は、DS3モニタモジュール171cに関して正常 な通路LI 272cに電報で知らせる。同様に、シェルフモニタ232は、ラ イン1084までそれらのドライバーを無能にするために全ての他のモジュール 例えば171bに命令する。 2.次に、シェルフモニタ232は、DS3インタフェースモジュール#1B 171bに対して、DS3 XMT MON OUT信号1086の出力ドラ イブをオンするように保護通路LI 272bから命令する。これは、DS31 A保護出力信号のイメージ画像をライン1086に置く。ライン1086は、D S3モニタモジュール171cに関して保護通路LI 272cに電報で知らせ る。同様に、シェルフモニタ232は、例えば171aにライン1086それら のドライバーをこれに無能にするために、全ての他のモジュールを命令する。 3.この段階において、モニタモジュール171cへの物理的リンクが確立さ れ、テストの開始が可能である。以前のテストと同様に、正常な通路LI 27 2cに来る信号DS3上でモニタモジュール171cは、効果的に同じ入力13 4aであるそれは、#1Aモジュール171aによって見られる。性能データ全 ては、そして、それと比べると、#1Aモジュール171aに基づいて、DAI 250cによって集められる。この比較は、シェルフモニタ232により行われ る。主要な差異が発見される(即ちフレーム喪失、等々)ならばそして、故障が 検出される。 4.DS3モニタモジュール171cは、先ず、◇他のモジュール例えば17 1bに同じテストを行うことにより、正しい機能を保証するたに、検査されなけ ればならない。DS3モニタモジュール171cに問題が発見されないならば、 その時シェルフモニタ232は、決定する#1A DS3の正常な通路の保護変 更を行うために1080a(図26)故障は、発見されたか、その後、#1Bモ ジュール171bを命令するかどうかを決定する。 5.保護通路1082b(図26)は、一切のDS0/DS1データの挿入を 許さないので、このテストのために挿入は必要とされない。更に、DS3モニタ モジュール171cの保護通路1082は、それに#1B DS3保護通路10 82bの出力のイメージを持つことを想起されたい。この信号は、更生させられ た#1A DS3信号である。信号がDAI 250cに着くとき、それは、既 知の数のクロックサイクルによって遅れる。早期に示された同じサイクル調整は 、再び行われる。 6.一旦、遅延分散が補償されると、2つの信号のビット対ビットの比較(ラ イン1086、及び、DS3モニタ出力からの#1B保護出力)がDAI 25 0cにおいて行われる。 7.#1B保護通路が警報状態にないものと仮定すると、一切の性能故障は、 DS3モニタモジュール171cによって検出されず、そして、比較は失敗イル する。そして、次の2つのいずれか1つが可能である。どちらのモジュール#1 B 171bでも、失敗したか、或いは、DS3モニタモジュール171cは、 失敗した。それがモニタモジュール171cであるかどうかを決定するために、 例えば171aのような他のDS3インタフェースモジュールに対して同じテス トが行われる。 8.DS3モニタモジュール171cに故障が発見されない場合には、故障は #1B DS3モジュール171b上の保護通路に検出され、そして、シェルフ モニタ232は、モジュール#1A 171aに対し#1B DS3正常通路1 080bの保護切り替えを命令する。これは、除去のために#1Bモジュール1 71bを分離するために、必要とされる。更に、#1B DS3モジュール17 1bは、そのユニット故障ランプを点灯する。 図28は、DAI構成図(図10a)に示し、正常通路出力テストの過程10 及び保護通路出力テストの過程6において既に検討したビット対ビットBit比 較回路470の構成図である。正常なデータ入力(入力A)は、遅延1100ま で更にシフトレジスタ1102を7ビットへ接続するものを接続する。シフトレ ジスタ1102の出力は比較ブロック1104に接続される。比較ブロック11 04に接続される保護データ入力(入力B)は、シフトレジスタ1106を4ビ ットへ接続する。その時適切にブロック1104を比較回路470の出力である 信号を生成する。ビット対ビット比較回路470は、DAI 250の機能性を 検査するため、及び、サービス中においては、「ヒットレスな(衝撃の無い)」 切り替えを行う前に正常通路と保護通路との配列を検査するための能力を提供す る。 DAI250(図26)の機能性を検査するために、正常入力(入力A) 上の同じ入力を有する全く同じに構成された2つのDAIが必要である。第1の DAI250aの正常な出力は、(挿入の後で)第2のDAI250bの保護入 力(入力B)に供給される。この入力は、正常な出力と内部で比較される。回路 は、2つのストリーム間に最大3サイクルまでの待ち時間がある場合であっても 比較を検出できる。 機能性、及び、DAI250aの正常な通路と第2のDAI250bの保護通 路との間における相対的配列をチェックするために図27に示すような第3のD AI250cが必要とされる。保護通路には挿入能力が存在しないので、正常な 通路がチェックされつつあるDAI250aは、重ね書きが許されないように構 成されることに注意されたい。第1のDAI 250aの正常な出力は、第3の DAI 250cの保護通路に接続する。第2のDAI 250bの保護出力が 第3のDAI 250cの正常な入力に接続する。第1及び第2のDAI250 a,bは、正常入力上に同じ入力信号を持たねばならない。第3のDAI250 cのビット対ビット比較回路470は2つのストリームを比較し、そして、3ビ ット以内の関係のある配列を報告する。 V.相対的同期化 DS1同期化の監視 DS1同期化モニタは、アクセスシステム170(図32)における、全ての (埋め込み、或いは、直接インタフェース)DS1信号の同期化を絶えず監視す る。同期化の監視は、基準DS1信号へのテストの下のDS1のクロック周波数 の比較によって行われる。基準信号は、好ましいアクセスシステム170におけ るあらゆる(埋め込み、或いは、直接インタフェース)DS1信号、或いは、D S1は、局内警報インタフェースモジュール214(図32)上のアクセスシス テム170に装備されたポートを介して受信された基準信号に基づくDS1であ っても差し支えない。基準からの周波数偏差は、所定期間中における全DS1サ ブフレームの「スリップ」の数として観察され、そして、報告される。例えば、 1.544X10 ヘルツ(Hz)のクロックレートを用いると、1秒測定期間 、及び、毎秒約16ビット又はクロックサイクルは、毎分5スリップの予測結果 となる。この場合、1分間に960ビットの周波数エラーが予測され、5つの1 93ビットDS1サブフレームスリップを必要とする。制御されたスリップにつ いては、図30a、及び、30bに関連して、後で、更に詳しく検討する。クロ ックサイクル、クロックパルス、及び、ビットと言う用語は、1つのT1ビット の期間(タイムインタバル)である1つの単一T1クロックサイクル(1/1. 544 MHz)または、0.648マイクロセカンド)を示すために使われる 。 スリップは、例えば、端末装置(図示せず)のような外部装置(アクセスシス テム170に対して外部)におけるタイミング発生機、及び、通路遅延の不安定 性に起因する。端末装置は、ごく小さい周波数逸脱を収容するためのメモリバッ ファを含む。これらの逸脱は、ジッタ及びワンダを含む。ジッタは、連続するパ ルスの周波数における短期の、突発的な、スプリアス変動として定義され、そし て、10Hzレート以上の全ての変動値を含む。ワンダはジッタと同様であるが 、連続するパルスの周波数における長期の変動であり、そして、10Hzレート 以下の全ての変動値を含む。システムにおいては、変動値がバッファの容量を越 えない限りジッタもワンダも共に問題ない。ただしバッファは、周波数逸脱また は過度の変動に応答してオーバーフローまたはアンダーフローし、その結果とし てスリップを生じる。端末装置は、離れて投げるか、或いは、192データビッ トのブロックを削除する(即ち、フレーミングビットより1つのT1サブフレー ム だけ少ない)オーバフローの間のそのバッファにおいて発生するデータがそれよ り速いバッファに来るとき、除去される、発生する。バッファは、アンダーフロ ーの期間中、192データビットのブロックを繰り返す。外部の装置は、バッフ ァを持ち、そして、データビットの現実の削除、または、繰返す。本発明のアク セスシステム170は、スリップが発生しようとしていることを判定ないし予測 する。T1制御されたスリップは、T1サブフレームバッファがオーバフローま たはアンダフローする場合に起きる。1つのT1サブフレームにおける全192 データビットは、サブフレームバッファがスリップする場合に、削除される(オ ーバーフロー)か、或いは、繰り返される(アンダーフロー)。すなわち、制御 されたスリップ中に、1バイト(8ビット)が、各DS0信号から削除られるか 、或いは、繰り返される。 図30aは、制御されたスリップが発生しようとしている前における、T1ビ ットシーケンスを示す。T1サブフレームS1 1136は、192データビッ ト1138が後続するフレーミングビットF 1137とともに始まる。図31 と共に次に説明するように、このパターンは、サブフレームの残りの期間中(F /S2、F/S3、F/S4、F/S5,..とラベル付された)繰り返される 。図30bは、制御されたスリップの原因となるバッファフローの後におけるT 1ビットシーケンスを示す。図に示す制御されたスリップにおいて、サブフレー ム53 1139における全ての192データビットが削除される。 図32において、スリップを報告するためのメカニズムは、オペレーション支 援システム(OSS)からインタフェース196を経てアクセスシステム170 に専門家によって送られる監視されたパラメータタイプの「SLIPC」を用い るトランザクション言語1(TL1)コマンド「RTRV−PM−T1」である 。通信プロセッサモジュール194は、外部のOSS、または、ネットワーク管 理センタに通信インタフェース196を提供する。TL1コマンド「SET−T H−T1」は、許された数のためにスレショルドをセットするために指定された 時限におけるスリップののために、OSSにおけるクラフトパーソンによって使 われる。スレショルドを超過した場合、独立メッセージは、アクセスシステム1 70からOSSに出力される。 DS1相対同期化監視 スリップを識別するための手段として、アクセスシステム170は、DS1ス ーパーフレーム(SF)フォーマット、或いは、DS1拡張スーパーフレーム( ESF)フォーマットを用いる。図31は、Bellcore TR−TSY− 000499に規定されているDS1スーパー‐フレームフォーマットを示す。 DS1スーパーフレームにつき12のT1サブフレームがある。各サブフレーム は、192のDS0データ、または、情報ビットによって後続される第1のオー バーヘッド、または、制御ビット(F‐ビット)を有する。192のデータビッ トは、それぞれ8ビットの24チャネルに分割される。ここに、ビットは、漏話 問題を最小限にするために、標準化されたパターンである。DS1スーパー‐フ レームフォーマットにおける制御ビット2つのタイプのF‐ビットの1つである 。端末フレーミング(Ft)ビットは、サブフレームの境界を確認するために使 われる。信号フレーミング(Fs)ビットは、スーパーフレームの境界を確認す るために使われる。DS1 ESFフォーマットは、図31に示すように、12 のサブフレームでなくて、24のサブフレームを持つこと以外はDS1 SFフ ォーマットと同じである。アクセスシステム170の好ましい実施例において、 スリップレートを予測するために基準DS1及びテストDS1のクロックパルス が比較されるが、いかし、代替実施例においては他の方法を用いても差し支えな い。F‐ビットでないクロックパルスを用いると、アクセスシステム170は、 F‐ビットを用いるよりも193倍速いスリップレートを予測することが可能で ある。これは、フレーミング(F−bit)レートがクロック周波数を193で 割った値に等しいことに因る。他の方法で表現すれば、DS1レベルでフレーム スリップを監視するためにクロックパルスを使うことによってアクセスシステム 170は、1秒において同じ精度を達成し得るもう一方は、F‐ビットを用いた 他の監視機能によれば193秒を要する精度を1秒で達成する。 相対同期化コンセプトに戻って、アクセスシステム170によって使われる基 準ソースは、システム170によって受信されるDS1を生成するために用いら れるクロックよりも安定性くても差し支えない。基準供給源ソースがこの程度に 不安定である場合、全てのDS1信号に亙って組織的な周波数エラーが導入され 得る。この可能性としてのエラーを要素として摘出するために、標準信号に関し ての複合的なDS1信号の同期化は、調査されなければならない。本発明の機能 関数を監視する関係のある同期化は、2方向上の通路の各方向が同じ基準へ同時 性をもたれるならばOSSにおけるクラフトパースンによって決定するために、 選定済みDS1チャネルの2つの方向を比較するために使用できる。 付加的特徴として、基準ソースがユーザーによって既に定義済みでない場合、 アクセスシステム170は、相対同期化の使用に際して基準を自動的に選ぶこと が可能である。 図32において、ライン1140によりアクセスシステム170に入力される 同期化基準に優先位が与えられるが、しかし任意のDS1(埋め込み、或いは、 直接インタフェース、例えばライン134に埋め込まれるか、或いは、ライン1 88に直接)を選定することが可能である。基準ソースは、以下に示すように、 管理プロセッサモジュール190上でランするオートサーチプログラムによって 選定される。 アクセスシステム能力 全般的に図32を参照することとし、ここに示す好ましいアクセスシステム1 70は、同期化基準として、任意の単一(埋め込まれるか、或いは、直接インタ フェース)DS1を使用する能力を持つ。更に、ビルディング統合タイミングソ ースクロック(BITSCLK)インタフェースに対するDS1に基づく基準は 、ライン1140におけるシステム170及び、基準信号として使われるクロッ クパルスにより受信可能である。このインタフェースは、オフィスアラームイン タフェースモジュール214に位置している。 各DS3インタフェースモジュール171は、基準を受信し、そして、埋め込 まれた任意のDS1を、一時に1つ監視するためにそれを使うことが可能である 。図21a、及び、21cにおいて、周波数カウンタサブ回路1069は、DS 3 モジュール171にTSI回路252(図6)の部分であり、そして、11ビッ ト周波数カウンタ1054を符号ビットに入れる。以前に選定なDS1基準クロ ックは周波数カウンタ1054をインクリメントテストの下のDS1のクロック の間に、28クロック回路1052の1による選定済みカウンタ1054をデク リメントする。タイムを介して結果的な値は、周波数差異に変えられ得る。例え ば、基準クロックが1,544,000Hz(T1指定周波数)でランしており 、そして、テストされているDS1クロックが1,544,016Hzでランし ている場合、エラーレートまたは周波数差は1.04X10-5であり、1分に5 スリップに相当する。 ここに示すアクセスシステム170の好ましい実施例は、各DS3インターフ ェイスモジュール171上のカウンタサブ回路1069の1つを含むので、同期 化のための全ての28 DS1回路を監視するために量子化アルゴリズムが使わ れる。すなわち、定期的に、各DS1回路は、選定済み時限のために周波数カウ ンタ1069を動かす。このアプローチは、有意義な統計を達成し、そして、D S1、DS2、及び、DS3レートにおける信号の喪失(LOS)に対処するた めに、28全てのDS1回路に関して監視されたインタバルを蓄積することが要 求される。各DS1回路のための周波数差異の測定は、データベースに蓄えられ る。各DS3インターフェイスモジュール171に加えて、DS1インタフェー スモジュール238は、それが受信するDS1信号の同期化監視を遂行する能力 を持つ。 基準ソース 図32において、同期化基準のための一次供給源(ソース)は、オフィス警報 インタフェースモジュール214へのビルディング統合タイミングソース(BI TS)入力1140である。BITSクロック信号は、モジュール214におい て組み込み式のクロック位相/周波数固定化及び平滑化を持つDS1インタフェ ースチップ(図示せず)によって受信される。基準クロック(REFCLK)は 、ライン1142経由でシェルフモニタモジュール232までオフィスアラーム イ ンタフェースモジュール214を接続する。ここに、REFCLKインタフェー ス回路(図示せず)は、REFCLK上で中継器機能を遂行する。REFCLK は、シェルフ監視モジュール232からREFCLKバス1144に置かれ、高 速のインタフェースシェルフ202上の例えば171,171’のような全ての DS3インタフェースモジュールに送られる。 一次ソースの状態、即ち、BITSクロック(及び、二次ソース)は、次に示 すタイプの状態にあるTL1コマンド「RTRV−COND」を使用し、OSS において、クラフトパースンにより獲得される。 SFI 同期化故障表示が検出された SYNC 同期化リンクのタイミングが喪失 SYNCOOS 一次および二次両同期化リンク上のタイミングが喪失 SYNCPRI 一次同期化リンクのタイミングが喪失 SYNCSEC 二次同期化リンク上のタイミングが喪失 基準の二次ソースは、アクセスシステム170によってアクセスされ任意のD S1(埋め込まれるか、或いは、直接インタフェース)であって差し支えない。 各DS3インタフェースモジュール171に関する各DAI回路250(図6) は、すでに述べたように、図10aのマルチプレクサ回路486を介して28の DS1クロック(REFCLKとして)のうちの1つを選定することが可能であ る。同様にこの選定済みクロック(REFCLK)は、REFCLKバス114 4で接続する。以前に示されたように、管理プロセッサモジュール190は、同 期化基準クロックであるべきBITSクロックかDAI250(図10)によっ て生成されたクロックの1つのいずれかを選択する。例えば、DS3モジュール 1171によって制御されるDS3の第3のDS1は選定可能である。埋め込ま れたDS1が基準として使われる場合、内部バス上で出される信号は、間隙を持 つDS1クロックであることに注意されたい。間隙を持つクロックは、期間を通 じて正しい数のパルスを持つが、しかし、瞬間的には、等しいパルス幅を持つと は限らない。この信号は平滑化されない。管理プロセッサモジュール190によ る平滑化は、クロックパルス幅を、間隙を持つ状態から正規の状態に復元させる 。 更に、ここに示す好ましいアクセスシステム170は、基準を見付けるための 特別なアルゴリズムを必要とする自動探索機能を有する。DS1またはチャネル 基準プール使用の創造あ、以下の原理、ネットワークにおけるいくらかの監視さ れたチャネルの過半数票は、最も良い利用可能な基準タイミング供給源ソースを 示す。所定のレート(この場合はDS1)における全てのチャネルは、基準クロ ックとして使われるための候補者として扱われる。 この好ましい実施例における自動探索機能のためのソフトウェアは、「C」言 語において書かれた。ここに示されたソフトウェアは、Microtec Re searchから入手可能な最適化MCC6BK「C」クロスコンパイラバージ ョン3.3を用いてソースコードから目的コードへ翻訳されたものである。ただ し、当該技術分野における熟達者であれば、添付流れ図に示す過程は、多数の異 なる言語、言語翻訳プログラムコンピュータ、及び、回路言語を用いて実行可能 であることが理解できる筈である。 チャネルタイミング基準の自動選択用シーケンス1168の流れ図を図33に 示す。順次的なDS1チャネル走査は状態1170において始まる。判定状態1 172において、可能性を持つ測定されつつある各チャネルは、接続されたファ シリティ(設備)が「サービス中」、または、有効であることを保証するために 、先ず、サービス状態に関してチエックされる。一旦、チャネルが有効な候補者 であることに決定されると、前以て決定済みの期間、例えば、状態1176、及 び、決定状態1178における5秒間に亙る測定が、状態1174において開始 される。測定結果が獲得された後で、状態1178によって決定されるように、 シーケンス1168は、判定状態1180に動く。測定結果は、測定期間に亙り 差のビットカウントとして表現される。この場合、DS1チャネルの公称ビット レートは1.544メガビット/秒である。状態1180において、結果の妥当 性、即ち、チャネルは、安定した状態を維持し、そして、測定期間中サービス状 態に保たれることがチェックされる。測定期間中に信号の喪失が検出された場合 、測定結果は、無効であるとみなされ、シーケンス1168は状態1182に移 動し、次のDS1チャネルを選定し、そして、状態1172において継続する。 状態1 180において結果が有効であると決定された場合には、基準としてチャネルの 活力を決定する際のデータポイントとして1平均秒が使われる。2つの非同期チ ャネル間の周波数差を測定するために周波数カウンタ1069(図21)を使用 する場合、この平均値算出方法は、固有の+/−1カウント不確定性をキャンセ ルするために役立つ。状態1184において、この1平均秒は、後のポスト処理 のために、データベースに、DS1チャネル番号と共に保存される。 決定状態1186において、システム170内の全てのDS1チャネルが測定 済みであるかどうかについて決定が行われる。測定済みでない場合には、シーケ ンス1168は、次のチャネルを選択する状態1182に戻る。この測定ループ は、システム170に全ての次のDS1チャネルのために繰り返される。一旦、 全てのチャネルが測定されれば、システムに亙る平均は、状態1188に計算さ れる。状態1190に、そして、各チャネルは、他のチャネルを備えるの同じ差 異カウントによって分類される。結果的配電、または、増量は、その時全ての一 意的差異カウント結果のために獲得される差異につきDS1チャネルの数に関し て、増量値をカウントする。 前述の分散配置は差カウントベースにより走査される。決定状態1192にお いて、差カウントが全体の平均差カウントの+/−7カウント内にあるかどうか に関して決定が行われる。この判定基準に適合する全ての差カウントから、適合 チャネルの最大数の差カウントは、状態1194、及び、1196において、「 正規化標準」としてマークされる。全ての結果が走査済みかどうかが決定状態1 198において行われる。走査済みでない場合には、シーケンス1168は状態 1200に移動し、次のDS1チャネルを選定し、そして、状態1192におい て継続する。 全ての結果が走査されると、状態1198において決定されたように、全ての チャネルを正規化標準に適合するプールに組み込むことによって状態1202に おいて、基準プールが獲得される。(次に述べるように、必要に応じて)状態1 204において、正規化標準から許容偏差内の全てのDS1チャネルは基準プー ルのメンバーになる。識別状態1206において、基準プールに少なくとも10 チャネルがあるに拘らず、決定は、行われる。獲得された正規化標準に適合する チャネル数が未満である場合には、適合基準は、プール内に最小10チャネルが 獲得されるまで、ループ状態1206、1208、及び、1204による正規化 標準から増分的に拡大された+/−1の差カウントである。同様にこの基準プー ル選択メカニズムは、状態1210、及び、1212にプールにおける全てのチ ャネルが例えばDS3チャネルのような同じ高位チャネルの埋め込まれたチャネ ルであることを妨げるために選択フィルタを組み込む。この選択フィルタは、高 位チャネルが信号喪失(LOS)に遭遇した場合、基準プールが使い果たされな いことを保証する。有効な基準プールは、このように状態1214において獲得 される。 この自動基準プール選択は、基準プールの長期の妥当性を保証するために、定 期的に、例えば1時間毎に繰り返される。一旦、初期基準プールが選定されると 、次の2つの状況の1つが発生するまで、適合チャネルは、基準プール内に残る 。 1.適合チャネル、または、更に高位のチャネルにおいて信号の喪失が検出さ れた場合、適合チャネルがプールから削除される。プールから選定された基準チ ャネルにおいて信号喪失が検出された場合には、当該チャネルは、基準として除 去され、そして、随意のチャネルが基準プールから選定される。 2.前述のシーケンス1168による定期的な再評価により、適合チャネルが 新しいプール内に所在しないということを決定する。これは、時間が経つと安定 性が低下するか、または、ドリフトするような一時的に有効な基準チャネルを濾 過して取り除くことに役立つ。 自動探索基準アルゴリズムの本実施例は、アクセスシステム170によって受 信されたDS3チャネルに埋め込まれた、DS1チャネルの連続的な同期化監視 を提供する。基準ソースは、主としてBITS入力からとられるそれは、オフィ スアラームインタフェースモジュール214(図32)に受信される。既に述べ たように、単一周波数カウンタ1069(図21)の資源分割のために他の実施 例は複数のカウンタを有する場合もあるが量子化アルゴリズムは、DS3インタ フェースモジュール171に使われる。このアルゴリズムは、各DS3インタフ ェースモジュール171のCPUコンプレックス262(図6)において遂行さ れる。 自動探索基準アルゴリズムにおいては、測定時間への2レベルアプローチが利 用される。第1のレベルは、(例えば1秒間の)短期間に亙って28のDS1の 各々を監視することを必要とする。第2のレベルは、更に長い期間に亙り特定の DS1を監視する。2つのレベルの間の周期的方法は、更に長い期間に亙り特定 のDS1を監視する。2つのレベルの間の周期的方法は、結果として、特定の周 波数差、更に、スリップレートに特別な相互関係を持つデータポイントをもたら す。表1は、DS1チャネルの監視時間の分ベースによる分類を示す。チャネル 番号の実際の順序は重要ではない。例えば、或る期間に亙ってチャネル番号が減 少する順位であっても差し支えない。 表1に定義されたレートを用いて、各DSIに関し次の監視時間が保証される 。 テスト中のDS1信号の同期化レベル規定するためにこれらの時間が十分であ るかどうかを決定するためには、2つの主要要素が関係する。第1は、DS1ク ロック周波数の予測された精度である。このパラメータは、監視されているDS 1のソースにおけるストラタムクロックの使用に関係する。Bell Comm unicationS Research TA‐NPL−000426(第1 版、1986年11月)の記述に従い、各々のストラタムクロックの精度を次に 示す。 同期化レベル定義に影響する第2のパラメータに関しては、ジッタ及びカウン ト値精度を考慮しなければならない。このパラメータの持つ3つのサブパラメー タを次に示す。 1.計数値精度は、カウンタの瞬間的な指示値、及び、2つのクロックの位相 に依存する。カウンタ指示時点における時間の非同期性に起因して、カウンタか ら得られる値には常に±1ビットの不確定性がある。或る期間に亙る場合には、 この差はゼロビットに平均化されるが、しかし、瞬時値の使用には不確定性を加 味しなければならない。 2.同期化測定には、平滑化されないDS1クロックが用いられるので、±1 ビットの待合せ時間ジッタが導入される。カウント値の場合と同様に、或る期間 に亙れば、このジッタはゼロに平均化される。しかし、瞬間的なカウント値が使 われる場合には、不確性を考慮しなければならない。 3.DS1信号自体は、瞬間的な計数値に影響するピークツーピークジッタの ±5ビットまで許容される。他の場合と同様に、このジッタは或る期間に亙って ゼロビットに平均化される。 不確定性のこれら3つの原因の累積を次に示す。 従って、周波数またはスリップのあらゆる定義が可能である以前に+7から− 7までの範囲において受信されたあらゆるカウントは、複数のタイムサンプルに 亙って統合されなければならない。 判定基準が定義された場合、量子化アルゴリズムを用いて次の結果が得られる 。 収隻データの使用 1分報告時間に利用可能な唯一のデータポイントは1秒蓄積であることが表4 から明白である。代表的な分に関するスリップカウント計算するために使用する アルゴリズムを次に示す。 1分報告 注1 スリップの小数部分が0.5より小さい場合は切り捨てる。スリップの小 数部分≧0.5であれば切り上げる。 注2 スリップ数<3であれば、スリップ数=0。 注3 報告されたスリップ数が常に正であるように、カウントの数の絶対値を使 用すること。 注4 スリップ数の精度は、±7であるカウント数の精度に依存する。 時間報告のためにどちらのデータポイントを使うかを決定する際には、2つの ソースが利用可能である。1秒データポイント及び15秒データポイントの精度 は、両方とも±7ビットである。1時に亙る場合には、60の1秒サンプル及び 4つの15秒(即ち、1分)サンプルが採取される。各々のサンプルに対する監 視時間量が同じであるものとすれば、不確定係数は4サンプル分累積対1秒サン プルの60サンプル分累積であるので、15秒サンプルの方がより正確である。 従って、1時間計算ならびに1日計算には15秒サンプルのみを使用すべきであ る。15秒サンプリング基準に基づき、新しいスリップカウント結果は、15分 毎にのみ報告して差し支えない。時間のうちの1分から14分までは、利用可能 なデータは一切報告しないか、或いは、1分サンプルの平均を報告することがで きる。 同期化に関する報告 使用した”RTRV−PM−T1”監視パラメータのタイプは”SLIPC” である。不確定値を係数化した後において、カウントは、DS1サブフレームの 期間(即ち、分、時間、日)当たりのスリップ数に変換される。次に、このスリ ップ値は、TL1コマンド”RTRV−PM−T1”に応答してOSSにおける クラフトパースンに報告される。 特定のスリップ数に関して独立した応答を得るためには、TL1コマンド”S ET−TH−T1”が使用される。ユーザーは、所定の期間を対象として、”S ET−TH−T1”のTL1”SLIPC”パラメータタイプにスリップのスレ ショルド数を指定し、スレショルドを超過した場合には独立メッセージ出力を得 ることができる。 VI.警報の相関性 アクセスシステムの階級イベント、及び、PM濾過 アクセスシステム170は、最大48までの2方向性、或いは、全DS3回路 、または、チャネル、及び、それらの構成要素としてのDS2及びDS1サブ回 路の全てを全時間(フルタイム)性能監視することができる。各回路は、種々の ネットワーク妨害条件に関して、アクセスシステム170によって監視される。 好ましい本実施例においては、Bellcore TL1プロトコルを使用し、 9600ボーリンクを介して、これらの条件状態は、独立事象として、制御オペ レーションサポートシステム(OSS)に送られる。 DS3レベルが欠陥または故障の場合には、下位回路、或いは、埋め込まれた 回路が故障する確率が非常に高く、そして、多量の「冗長」情報がOSSに向か って独立イベントの洪水の形で生成される可能性が大きい。故障の識別に最も関 係のある情報をOSSに提供するために、アクセスシステム170は、高い方の (DS3、または、DS2)レベル故障に際して発行される冗長情報の量を減少 するための階級的濾過メカニズムを有する。 重度の故障はサービス喪失の原因となり、軽度の故障はサービス低下の原因と なる。軽度の故障は、所定期間に亙るユーザー指定のデータエラー数の累積によ って分類される。この種の軽度の故障の検出は、以下に説明する”STATS” サブシステムによるポストプロセスとして行われる。 図34に示す高レベル構成図において、アクセスシステム170(図5)の階 層的フィルタの基本部分は、パーDS3/DS2/DS1レベルベースに基づく ハードウエアレジスタサンプリングタスク1260、1262、1264の階層 的区分である。DAI性能モニタ430、434、及び、438(図10b、1 0c、10d、及び、34)の各々DS3、DS2、及び、DS1レベル用レジ スタは、マイクロプロセッサインタフェース400(図8及び10a)を介して 、DS3インターフェイス171でランするタスク1260、1262、126 4によってアクセスされ、そして、重度故障情報が検索される。(マイクロプロ セッサアクセスは、性能監視プロセス393の状態394(図7)に対応する。 ) 引き続き図34において、DS3レベルは、高優先位タスク1260により、 約50msのレートにおいてサンプルされる。DS2レベルは、DS3レベルよ り低く、DS1レベルより高い優先位のタスク1262によってサンプルされる 。更に、DS2サンプリングレートは、DS3レートのレートの半分より大きく ないレートにセットされることが好ましい。DS1レベルは、DS2レートより も大きくないレートにおいて、最低優先位タスク1264により、サンプルされ る。タスク1260、1262、1264は、重度故障を識別する。 (PM ISR)1266と分類された最高優先位タスクは、約3msのレー トにおいて、性能モニタ(PM)割り込みサブルーティン(ISR)によって遂 行される。PM ISRタスク1266は、DS3、DS2、及び、DS1性能 モニタ430、434、438から性能監視データを検索し、そして、PMデー タを、PM弾性バッファ1268、例えばメモリエレメントに記憶する。バッフ ァ1268内のPMデータは、軽度故障を識別するために用いられる。PM I SRタスク1266は、性能監視プロセス393の状態395(図7)に対応す る。 欠陥または故障がDS3またはDS2レベルにおいて検出されるので、こ の情報は、外部OSSへの最終的な報告のために、イベントサンプラ1260、 1262により、警報相関およびフィルタプロセス1270にキューされる。更 に、1組のDS2イベントフラグ1274の中のDS3イベントフラグ1272 、または、DS2イベントフラグ1275が揚げられる。例えば、DS3イベン トフラグ1272用1262のような構成要素的レベルのタスクは、揚げられた イベントフラグを読み取ると、イベント処理を中断し、そして、あらゆる既存の 警報をスケルチする。更に、これらのイベントフラグ1272、1275は、「 オフ遷移」ヒステリシスまたは遅延の公称量を用いて、構成要素的レベルが高い 方のレベルのイベントの発生を確認する機会を持つことを保証する。イベントフ ラグ1272、1275は、イベントを追跡するが、それを報告はしないために 用いられることに注意されたい。PM弾性バッファ126S及びイベントフラグ 1272、1275の両方は、CPUコンプレックス262(図6)のRAMメ モリ内に維持される。階層イベント濾過に関しては、全ての性能モニタ(PM) データ収集は、各下位回路のPMデータが上位イベント条件を反映するように維 持される。 冗長な独立警報イベントを減少させ、そして、アクセスシステム170をOS Sリンク196(図5)バンド幅に保持するための最後の手順としての、警報統 合状態マシン1276は、ANSI TIM1.3の勧告に従って実現される。 既に述べた警報相関およびフィルタプロセス1270、及び、状態マシン127 6は、図7に示す性能監視プロセス393の状態396及び397に、機能的に 、対応することに注意されたい。 アラーム統合状態マシン1276は、ユーザーが、例えば0から15秒の期間 に亙って、その期間中は外部警報レポートが出される以前に回路指向ベース(パ ーサーキットベース)でイベントが存在するような統合継続期間を指定すること を可能にする。すなわち、状態マシン1276は、プロセス1270まで更に濾 過するためのポストプロセスであり、そして、故障が報告される以前に当該故障 の「重度」を決定する。従って、状態マシン1276は、重度故障のみを報告し 、そして、軽度故障の原因である不調を無視する。 再度、図34において、状態マシン1276は、警報及び例外報告(AERE P)サブシステム(図示せず)から、故障コードの形で、1277として示され たフィードバックを受け取る。故障コードは、内部メッセージバッファプール完 全消耗の検出手段によって、状態マシン1276によって呼び出される警報およ び例外報告ユーティリティを用いて受信される。バッファプールは、弾性バッフ ァ(図示せず)を利用する。このフィードバックは、警告レポートの抑圧、及び 、イベント喪失の防止を助ける。警報および例外報告サブシステムは、管理プロ セッサモジュール190(図5)の一部分ある。 パーセカンド(秒当たり)PM量子化、相互関係、及び、フィルタプロセス1 278は プロセス1270からのイベントデータ及びPM弾性1268バッフ ァからの未加工PMデータを受け取る。次に、プロセス1278は、故障を重度 および軽度故障に分類し、そして、更に、重度故障を、回路及び警報のタイプに よって階層的に分類する。プロセス1278は、パーセカンドベースで、工業規 格(Bellcore、または、ANSI)エラーカウントを提供する。127 9として示される結果は、分散型データベースを含むSTATSサブシステムに 送られる。STATSサブシステムは、主とし管理プロセッサモジュール190 (図5)に存在するが、DS3インターフェイスモジュール171にも存在する 。次に、OSSは、OSSリンク196を介して、PM統計レポートに関して、 STATSサブシステム下に問い合わせることも可能である。 イベント及び図34に示すPM階層濾過と関連したタスクは、例えばSan Jose所在のSoftware Components Groupから入手 可能なPSOSプログラムのようなリアルタイムのオペレーティングシステムに よって制御されることが好ましい。プロセス1270、及び、プロセス1278 は、DS3インターフェイスモジュール171上のCPUコンプレックス262 (図6)によって実行される。 典型的シナリオの一例を示せば、一旦、警報統合状態マシン1276が重度故 障についてOSSに報告すると、クラフトパースンは、埋め込まれたあらゆる回 路と共に当該回路上のトラヒックをリルート(再経路指定)する。次に、クラフ トパーソンは、埋め込まれた回路と共に当該回路を、警報相関およびフィルタプ ロセス1270による処理から一時的に除外する。次に、クラフトパーソンは、 故障を分離するために割り込みテストを使用しても差し支えない。例えばDS3 のような特定のレベルにおける当該回路の割り込みテストは、原因が識別される まで、継続しても差し支えない。ただし、超上位回路が間欠的或いは継続的な重 度故障を持つものと推測される場合には、回路のテストは、中止、或いは、中断 される。重度故障の原因が識別され、そして、訂正された場合には、当該回路は 、プロセス1270による取り扱いのために、埋め込まれた回路と共に復元され る。 階層的イベントの濾過および警報相互関係 DS3またはDS2レベルの故障が発生した場合、OSSに送られる「冗長な 」イベント発行または情報を濾過して除去するために、幾つかのシーケンス又機 能が、アクセスシステムソフトウェアにおいて、用いられる。 図35及び36 において、濾過機能性は、所定の回路指向走査シーケンス1292の部分を構成 する多数の警報指向走査シーケンス1290に分割される。すなわち、回路シー ケンス1292は幾つか警報シーケンス1290(ワンパーアラームタイプ)か ら成る。双方のシーケンス1290、1292は、図34の警報相互関係及びフ ィルタプロセス1270の構成部分である。 好ましい本実施例において、シーケンス1290、1292のためのソフトウ ェアは「C」言語で書かれている。ここに示されたソフトウェアは、Micro tec Researchから入手可能な最適化MCC68K”C”クロスコン パイラバージョン3.3を用いて、ソースコードから目的コードへ翻訳された。 ただし、技術的な熟達者であれば、添付流れ図における過程は、多数の別の言語 、言語トランスレータ、コンピュータ、及び、回路を用いて実現可能であること が理解出来るはずである。 パーアラーム(警報指向)走査シーケンス1290(図35)は、スタート状 態1300において開始し、そして、状態1302まで進行する。この場合、例 えばDS3のような処理されつつある回路に関するサンプルデータは、ビット地 図バッファから読取られる。バッファにおいて、例えば信号喪失のような所定の 警報タイプの故障状態は個々のビットによって示される。ビット地図バッファは 、DAI性能モニタレジスタ430、434、438(図34)内にデータのイ メージを有する。決定状態1304に移動して、所定の警報シーケンス1290 の例示に対応するビットは、故障が警報タイプに相当するかどうか決定するため にテストされる。 故障が状態1304に存在することが判明した場合には、サンプルデータバッ ファは、状態1306において、クリアされ、その結果、当該回路に対する全て の後続的に走査された警報に関する故障表示をクリアする。イベントフラグ12 72、1275(図34)は階層的故障フラグとも呼ばれる。階層的故障フラグ の1つは、例えば、図36の状態1349によってセットされるように、状態1 308においてセットされ、埋め込まれた回路にとって、超上位の故障が検出さ れたことを示す。 状態1310に進行して、故障フラグがセットされたままであることを保証す るために、対応する階層的故障タイマ(図示せず)が初期化され、下位、或いは 、埋め込まれた回路が超上位の故障を認識することを可能にする。次に、状態マ シン1276(図34)の一部である重み付けされた故障インジケータが、状態 1312においてインクレメントされ、そして、決定状態1314において、複 数の故障が重度の故障条件に統合されたかどうかを決定するためにテストが行わ れる。故障統合器は、種々の妨害を分類し、そして、当該故障がOSSに報道す る必要のある程度に重大であるかどうかを決定する。 状態1314において故障状態に達した場合には、故障状態が既に活動的であ ったかどうか決定するために、決定状態1316においてテストが行われる。状 態1316において故障状態が未だ活動的でなかった場合には、状態1318に おいて独立メッセージか、外部のOSS、或いは、制御ポートに対して開始され 、故障状態が活動的であることを示す。 状態1304に故障が存在しない場合には、重み付けされた故障統合器が、状 態1322においてデクリメントされる。決定状態1324に移動し、統合器が ゼロまでデクリメント済みである場合には、故障状態が活動的であるかどうかを 決定するために、決定状態1326においてテストが行われる。状態1326に おける故障状態が活動的である場合には、独立メッセージは、外部のOSSに対 して状態1328において開始され、現行警報に関する故障状態がクリアされた ことを示す。状態1318または1328が完了するか、或いは、決定状態13 14、1316、1324、または、1326のいずれかが誤りである場合には 、警報シーケンス1290は状態1330において終了し、そして、回路指向走 査シーケンス1292は、次の走査期間中、別の例の警報シーケンス1290を 用いて次の警報タイプを走査する。 図36において、回路指向走査シーケンス1292は、DS3回路に対して約 50msのインタバルDS2回路に対しては125msのインタバル、及び、D S1回路に対しては250msのインタバルにおいてリアルタイムオペレーティ ングシステムによって実行されるようにスケジュールされる。シーケンス129 2は、状態1342において始まり、そして、状態1340に進行する。この場 合、性能モニタ430、434、または、438の一部である当該DAI警報状 態レジスタは、CPUコンプレックス262(図6)のメモリ内に位置する警報 サンプルバッファにおいて当該回路に関してサンプルおよび緩衝される。関連す る階層レベル故障フラグのテストにより超高位の故障が存在するかどうかを見る ために決定状態1344においてチェックが行われる。 超高位故障が状態1344に存在すると判定される場合には、警報サンプルバ ッファが状態1346においてクリアされ、その結果、その次の警報シーケンス 1290において故障「クリア」プロセスが効果的に開始する。次に、状態13 48、1350、1352、及び、1354においてLOS、AIS、OOF、 及び、他の警報として指定された所定の進行順序において警報シーケンス129 0が進行する。状態1348、1350、及び、1352は、階層レベル故障フ ラグがセットされることを示すために、それぞれ関連した状態1349、135 1、及び、1353を持つ。このシーケンスは、特定の回路内において、警報の ヒエラルキーを割り当てる。例えば、警報指示信号(AIS)故障は活動的なア ウトオブフレーム(OOF)欠陥/故障をスケルチする、等々。 一旦、全ての警報が状態1356において走査されると、走査されたレベルに 対する階層レベル故障タイマがデクリントされる。次に、決定状態1358に移 動し、この関連した故障タイマが満期になった(ゼロに等しい)かどうかを決定 するためにテストが行われる。故障タイマが状態1358において満期になった 場合には、この走査された回路と関連した階層レベル故障フラグが、状態136 0において、クリアされ、そして、シーケンス1292は、状態1362におい て終了する。適切な時点において、DS3、DS2、または、DS1回路のいず れかにおいて実行するために、オペレーティングシステムは、回路シーケンス1 292をスケジュールする。 VII.要約 DS3信号アクセスシステム170に関してここに開示された実施例は、他の 電話および通信ネットワークまで拡張可能である。 本発明は、特定の実施例に関して開示されたが、記述内容は、本発明の例証を 意図したものであり、制限することを意図するものではない。当該技術分野に熟 練した者であれば、添付特許請求の範囲に定義済みであるような本発明の真の精 神および有効範囲から逸脱することなしに種々の修正および応用を実施すること が可能なはずである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 08/157,900 (32)優先日 1993年11月23日 (33)優先権主張国 米国(US) (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),JP (72)発明者 ティバルスキー,エドワード,エス. アメリカ合衆国,92130 カリフォルニア, サン ディエゴ,カミニート カーメル ランディング 3653番地 (72)発明者 ハートマン,ポール,アール. アメリカ合衆国,92025 カリフォルニア, エスコンディード,リッチリン リッジ ロード 2720番地 【要約の続き】 ステムの一部は、警報相関とフィルタ処理である(127 0)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.各局所チャネルが複数のビットから成る局所チャネル群に同時にアクセスす る装置と; アクセスした局所チャネル群におけるビットを計数する装置と; 局所チャネル群の1つのビットカウントを局所チャネル群の他のビットカウ ントと比較する装置と から成る、1つ以上の信号における複数の局所チャネル間の相対同期を測定する システム。 2.計数装置がアクセスした局所チャネル群においてビットを同時に計数する請 求項1記載のシステム。 3.比較装置が、比較結果がしきい値より大きい時に、警報信号を発する装置を 包含する請求項1記載のシステム。 4.各ビットはクロックパルスから成る請求項1記載のシステム。 5.ビットがフレム指示ビットから成る請求項1記載のシステム。 6.各チャネルの周波数を測定することと; 各チャネルの周波数を比較して1つ以上の相対周波数の測定値を得ることか ら成る、信号の1組のチャネル群の同期を測定する方法。 7.さらに、比較結果がしきい値より大きい時に警報信号を発する操作から成る 請求項6記載の方法。 8.チャネル群のプールを選択することと; 他の全てのチャネル群に関する周波数測定結果を正規化するためにそのプー ルから基準チャネルを選ぶことと; 基準チャネルと比較してその信号の各チャネルの周波数を測定することから 成る、信号の1組のチャネル群から内部基準を順応できるよう選択する方法。 9.基準チャネルがもはや適切な基準でないと決められた時に基準プールから新 基準をダイナミックに選択する追加操作を包含する請求項8記載の方法。 10.チャネルにおける妨害を検出する装置と; 局所チャネルの1つにおける妨害を検出する装置と;チャネルにおける妨害 を局所チャネルにおける妨害と相関するための装置と; 局所チャネルの妨害がチャネルの妨害と相関する時、局所チャネルの妨害の 警報を封鎖する手段を含む妨害に対して警報を発する装置と から成ることを特徴とする、複数の局所チャネル群を有するチャネルについて性 能監視と試験を相関させるシステム。 11.チャネル試験ができないとき局所チャネルの試験が中断される請求項10記載 のシステム。 12.さらに、相関手段がフィルタした妨害に与えられるところの、検出装置から 受ける各妨害をろ波(フィルタリング)する装置から成る請求項10記載のシステ ム。 13.検出装置が事象サンプラを包含する請求項10記載のシステム。 14.検出装置が事象フラグを包含する請求項10記載のシステム。 15.さらに、未使用の性能監視データを記憶する装置から成る請求項10記載のシ ステム。 16.さらに、記憶装置から受けた性能監視データを報告する装置から成る請求項 15記載のシステム。
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