JPH0835826A - Substrate tester - Google Patents

Substrate tester

Info

Publication number
JPH0835826A
JPH0835826A JP7180578A JP18057895A JPH0835826A JP H0835826 A JPH0835826 A JP H0835826A JP 7180578 A JP7180578 A JP 7180578A JP 18057895 A JP18057895 A JP 18057895A JP H0835826 A JPH0835826 A JP H0835826A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
land
component
image
data
board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7180578A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2576815B2 (en
Inventor
Teruhisa Yotsuya
輝久 四ッ谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP7180578A priority Critical patent/JP2576815B2/en
Publication of JPH0835826A publication Critical patent/JPH0835826A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2576815B2 publication Critical patent/JP2576815B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable the judging of the quality of a mount of a part by extracting an electrode area and a land part formed on a substrate automatically. CONSTITUTION:A substrate 25 with no parts mounted and a substrate 26 with parts on are fixed on an X-Y table 32 and photographed with a color TV camera 34 of an image pickup section 22 being lighted with a lighting section 21. A processing section 23 determines pixels to be those of a copper foil parts(parts of lands 28b and 28c) when values of red hues of the pixels obtained exceed values determined previously. The relative positional relationship is determined between the land 28c and a part 27c based on the results of the judgment to judge the quality of a mount of the part 27c. In other words, the processing section 23 extracts an electrode area from image information concerning an electrode of the part 27c stored previously and a land part from the pixels. Then, a color signal of the mounted substrate 26 to be inspected is processed to judge whether the relative position between the land 28c and the part 27c formed on the substrate 26 is within an allowable range or not.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、基板上にマウントされ
た実装基板上の部品のマウント良否を検査する基板検査
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a board inspection device for inspecting the mounting quality of a component mounted on a board.

【0002】[0002]

【従来の技術】マウンタ等を用いて作成された実装基板
上の部品のマウント良否を検査する実装基板検査装置と
しては、従来、図12に示すものが知られている。
2. Description of the Related Art As a mounting board inspection apparatus for inspecting the mounting quality of components on a mounting board prepared by using a mounter or the like, a mounting board inspection apparatus shown in FIG. 12 is conventionally known.

【0003】この図に示す実装基板検査装置は、部品1
bが実装された被検査実装基板2bや検査基準となる基
準実装基板2aを撮像するTVカメラ3と、このTVカ
メラ3によって得られた前記基準実装基板2aの画像
(基準画像)を記憶する記憶部4と、この記憶部4に記
憶されている基準画像と前記TVカメラ3から供給され
る前記被検査実装基板2bの画像(被検査画像)とを比
較して前記被検査実装基板2b上に部品1bが全て有る
かどうか、またこれらの部品1bが位置ずれ等を起こし
ていないかどうかを判定する判定回路5と、この判定回
路5の判定結果を表示する表示器6とを備えて構成され
ている。
The mounting board inspecting apparatus shown in this figure has a component 1
a TV camera 3 for capturing an image of the mounting board 2b on which the b is mounted and the reference mounting board 2a serving as an inspection reference, and a storage for storing an image (reference image) of the reference mounting board 2a obtained by the TV camera 3 Unit 4 and a reference image stored in the storage unit 4 and an image (inspection image) of the inspection mounting substrate 2b supplied from the TV camera 3 to compare the reference image on the inspection mounting substrate 2b. A determination circuit 5 for determining whether all the parts 1b are present and whether or not these parts 1b are displaced or the like are provided, and a display 6 for displaying a determination result of the determination circuit 5 is provided. ing.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところでこのような従
来の実装基板検査装置は、基準実装基板2a上にある部
品1aの位置と、被検査実装基板2b上にある部品1b
の位置とを単純に比較し、これらの位置がずれていると
きに、マウント不良と判定するようにしていたので、図
13に示す如く、被検査実装基板2b上にある部品1b
が正規の位置7(基準実装基板2aの部品1aによって
示される部品位置)からずれているとき、この部品1b
の電極とランド9とが電気的に接続し得る範囲内にあっ
ても、マウント不良と判定してしまう。
However, in such a conventional mounting board inspection apparatus, the position of the component 1a on the reference mounting board 2a and the component 1b on the mounting board 2b to be inspected are known.
Are simply compared with each other, and when these positions deviate, it is determined that the mounting is defective. Therefore, as shown in FIG. 13, the component 1b on the mounting board 2b to be inspected is
Is shifted from the normal position 7 (the component position indicated by the component 1a of the reference mounting board 2a),
Even if the electrode and the land 9 are within a range where they can be electrically connected, it is determined that the mounting is defective.

【0005】そこで、部品1bの正規の位置に基づい
て、許容できる範囲(許容範囲)8を決め、この許容範
囲8に入っていれば、正常にマウントされていると判定
するようにすることも考えられるが、この場合、これら
各実装基板2a、2b上にマウントされている部品一つ
一つに対して、個別に許容範囲8を設定すると、この許
容範囲8に関するデータを入力するだけでも、大変な手
間と、労力とが必要になる。
Therefore, an allowable range (allowable range) 8 is determined based on the regular position of the component 1b, and if it is within the allowable range 8, it may be determined that the mount is normally performed. In this case, if the allowable range 8 is individually set for each of the components mounted on each of the mounting boards 2a and 2b, in this case, even if the data regarding the allowable range 8 is input, It requires a lot of work and effort.

【0006】またこのような実装基板では、同一のパタ
ーンマスクを用いても、基板上に形成されるパターンが
各基板毎に少しずつ異なるので、実装基板2a上のラン
ド9に部品1bが正しく載っていても、このランド9が
基準実装基板2aのランド位置と異なっている場合、つ
まり図14に示す如く基準実装基板2aに基づいて入力
されたランド位置9a、部品位置10aと、被検査実装
基板2bを撮像して得られたランド位置9b、部品位置
10bとがずれている場合、ランド位置9bに対する部
品位置10bが正しい関係にあっても、この部品1bに
対してマウント不良と判定してしまう。
In such a mounting board, even if the same pattern mask is used, the pattern formed on the board is slightly different for each board, so that the component 1b is correctly mounted on the land 9 on the mounting board 2a. However, if the land 9 is different from the land position of the reference mounting board 2a, that is, as shown in FIG. 14, the land position 9a, the component position 10a input based on the reference mounting board 2a, and the If the land position 9b and the component position 10b obtained by capturing the image of the component 2b deviate from each other, even if the component position 10b is in a correct relationship with the land position 9b, it is determined that the component 1b is defective in mounting. .

【0007】本発明は上記問題点に鑑み、基板上に形成
された電極領域とランド部位を自動的に抽出することに
より、これら電極領域およびランド部位とにより部品の
マウント良否を判定できるようになした基板検査装置を
提供することを目的としている。
In view of the above problems, the present invention automatically determines the electrode area and the land portion formed on the substrate, so that it is possible to determine the mounting quality of the component based on the electrode area and the land portion. It is an object of the present invention to provide a substrate inspection apparatus that has

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決する
ために本発明による基板検査装置は、予め記憶された未
実装基板上の部品の位置、方向、種類および前記部品毎
のランド部位に関するデータを記憶する部品およびラン
ド記憶手段と、該部品およびランド記憶手段からランド
部位の場所を算出して記憶する記憶手段と、被検査部品
実装基板を撮像する撮像手段と、該撮像手段により撮像
された撮像画像から前記記憶手段の各部品のランド部位
を抽出するランド部位抽出手段と、予め部品の電極に関
する画像情報を記憶する電極記憶手段と、前記ランド部
位抽出手段により抽出した抽出画像から前記電極記憶手
段に記憶された画像情報を用いて抽出された電極領域と
前記ランド部位抽出手段により抽出されたランド部位と
により部品のマウントの良否を判定する判定手段と、を
備えたことを特徴としている。
In order to solve the above problems, a board inspection apparatus according to the present invention relates to a position, a direction, a kind, and a land portion of each of the parts, which are stored in advance on an unmounted board. A component and land storage means for storing data, a storage means for calculating and storing a location of a land portion from the component and land storage means, an image pickup means for picking up an image of a component mounting board to be inspected, and an image picked up by the image pickup means. Land part extraction means for extracting the land part of each part of the storage means from the captured image, electrode storage means for storing image information regarding the electrode of the part in advance, and the electrode from the extracted image extracted by the land part extraction means. The component part is mounted by the electrode region extracted using the image information stored in the storage means and the land part extracted by the land part extraction means. It is characterized by comprising determination means for determining bets quality, a.

【0009】[0009]

【作用】基板上に形成された電極領域とランド部位を自
動的に抽出して、部品のマウント良否を判定する。
The electrode region and land portion formed on the substrate are automatically extracted to judge the quality of the component mounting.

【0010】[0010]

【実施例】図1は本発明による基板検査装置の一実施例
を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a substrate inspection apparatus according to the present invention.

【0011】この図に示す基板検査装置は、X−Yテー
ブル部20と、照明部21と、撮像部22と、処理部2
3とを備えており、未実装基板25や被検査実装基板2
6を撮像して得られた画像の各画素を色相明度変換し、
これによって得られた各画素の赤色相の値が予め決めら
れた値以上であるとき、この画素を銅箔部分(ランド2
8b、28c部分)の画素と判定する。そして、この判
定結果に基づいて、ランド28cと部品27cとの相対
的な位置関係を求めて、部品27cのマウント良否を判
定する。
The board inspection apparatus shown in FIG. 1 includes an XY table section 20, an illumination section 21, an imaging section 22, a processing section 2
3 and the unmounted board 25 and the board 2 to be inspected.
Each pixel of the image obtained by imaging 6 is converted into hue and brightness,
When the value of the red phase of each pixel obtained as described above is equal to or greater than a predetermined value, this pixel is placed in a copper foil portion (land 2).
8b and 28c portions). Then, based on the determination result, the relative positional relationship between the land 28c and the component 27c is obtained, and the quality of the mounting of the component 27c is determined.

【0012】照明部21は、前記処理部23からの制御
信号に基づいてオン/オフ制御(または、調光制御)さ
れるリング状の白色光源19を備えており、前記処理部
23から照明オン信号を供給されたときに点灯して、前
記処理部23から照明オフ信号を供給されるまで前記X
−Yテーブル部20の上面側を照明する。
The illumination unit 21 includes a ring-shaped white light source 19 which is on / off controlled (or dimming controlled) based on a control signal from the processing unit 23. The light is turned on when a signal is supplied, and the light is turned off when the lighting off signal is supplied from the processing unit 23.
-Illuminates the upper surface side of the Y table portion 20.

【0013】X−Yテーブル部20は、前記処理部23
からの制御信号に基づいて動作するパルスモータ31
a、31bと、これら各パルスモータ31a、31bに
よってX軸方向およびY軸方向に駆動されるX−Yテー
ブル32と、このX−Yテーブル32上に設けられ、こ
のX−Yテーブル32上に各基板24〜26が載せられ
たとき、前記処理部23が出力する制御信号に応じて前
記各基板24〜26をX−Yテーブル32上に固定する
チャック機構33とを備えており、このチャック機構3
3によって固定された前記各基板24〜26は照明部2
1によって照明されながら撮像部22によって撮像され
る。
The XY table section 20 includes the processing section 23
Pulse motor 31 that operates based on the control signal from
a, 31b, an XY table 32 driven by the respective pulse motors 31a, 31b in the X-axis direction and the Y-axis direction, provided on the XY table 32, and provided on the XY table 32. A chuck mechanism 33 for fixing the substrates 24 to 26 on the XY table 32 in accordance with a control signal output from the processing unit 23 when the substrates 24 to 26 are placed; Mechanism 3
Each of the substrates 24 to 26 fixed by the
The image is captured by the image capturing unit 22 while being illuminated by 1.

【0014】撮像部22は、前記照明部21の上方に設
けられるカラーTVカメラ34を備えており、前記各基
板24〜26の光学像は、このカラーTVカメラ34に
よって電気画像(R、G、Bカラー信号)に変換されて
処理部23に供給される。
The imaging unit 22 includes a color TV camera 34 provided above the illumination unit 21. The optical images of the substrates 24 to 26 are converted into electric images (R, G, B signal is supplied to the processing unit 23.

【0015】処理部23は、A/D変換部36と、メモ
リ37と、ティーチングテーブル38と、画像処理部3
9と、X−Yステージコントローラ41と、撮像コント
ローラ42と、CRT表示器43と、プリンタ44と、
キーボード45と、制御部(CPU)46とを備えてお
り、ティーチング時においては、前記撮像部22から供
給される各基板24、25のR、G、Bカラー信号を処
理して、被検査実装基板26を検査するときの検査デー
タファイルを作成する。そして、検査時においては、前
記検査データファイルに基づいて前記撮像部22から供
給される被検査実装基板26のR、G、Bカラー信号を
処理し、この被検査実装基板26上に形成されているラ
ンド28cと、部品27cとの相対的な位置が許容され
る範囲内にあるかどうかを判定して、この判定結果を表
示する。
The processing unit 23 includes an A / D conversion unit 36, a memory 37, a teaching table 38, and an image processing unit 3.
9, an XY stage controller 41, an imaging controller 42, a CRT display 43, a printer 44,
A keyboard 45 and a control unit (CPU) 46 are provided. At the time of teaching, R, G, and B color signals of each of the substrates 24 and 25 supplied from the imaging unit 22 are processed and mounted on a board for inspection. An inspection data file for inspecting the substrate 26 is created. At the time of inspection, R, G, and B color signals of the inspected mounting board 26 supplied from the imaging unit 22 are processed based on the inspection data file, and are formed on the inspected mounting board 26. It is determined whether or not the relative position between the land 28c and the component 27c is within the allowable range, and this determination result is displayed.

【0016】A/D変換部36は、前記撮像部22から
画像信号(R、G、Bカラー信号)を供給されたとき
に,これをA/D変換(アナログ・デジタル変換)して
カラーの画像データを作成し、これを制御部46へ供給
する。
When the image signals (R, G, B color signals) are supplied from the image pickup unit 22, the A / D conversion unit 36 performs A / D conversion (analog / digital conversion) on the image signals to convert them into color signals. Image data is created and supplied to the control unit 46.

【0017】またメモリ37は、RAM(ランダム・ア
クセス・メモリ)等を備えて構成されており、前記制御
部46の作業エリアとして使われる。
The memory 37 includes a RAM (random access memory) and the like, and is used as a work area of the control unit 46.

【0018】また画像処理部39は、前記制御部46を
介して画像データを供給されたとき、この画像データを
2値化して部品の位置、形状データを抽出したり、前記
画像データから必要な画像を切り出したり、この切り出
した画像を色相明度変換したり、この色相明度変換結果
を予め決められた閾値で2値化して、ランドパターンの
位置、形状等を抽出したりするように構成されており、
ここで得られた各データは前記制御部46に供給され
る。
When the image processing unit 39 is supplied with the image data via the control unit 46, the image processing unit 39 binarizes the image data to extract the position and shape data of the parts, and the necessary data from the image data. The image is cut out, the hue and brightness of the cut out image are converted, and the result of the hue and brightness conversion is binarized by a predetermined threshold to extract the position, shape, etc. of the land pattern. Cage,
The respective data obtained here are supplied to the control unit 46.

【0019】またティーチングテーブル38は、フロッ
ピーディスク装置等を備えており、前記制御部46から
検査データファイル等を供給されたときに、これを記憶
し、前記制御部46から転送要求が出力されたとき、こ
の要求に応じて検査データファイル等を読み出して、こ
れを前記制御部46に供給する。
The teaching table 38 is provided with a floppy disk device and the like. When a test data file or the like is supplied from the control unit 46, it is stored and a transfer request is output from the control unit 46. At this time, an inspection data file or the like is read in response to the request, and the read data file is supplied to the control unit 46.

【0020】撮像コントローラ42は、前記制御部46
と、前記照明部21や撮像部22とを接続するインタフ
ェース等を備えており、前記制御部46の出力に基づい
て前記照明部21や撮像部22を制御する。
The imaging controller 42 includes the control unit 46
And an interface for connecting the illumination unit 21 and the imaging unit 22, and controls the illumination unit 21 and the imaging unit 22 based on the output of the control unit 46.

【0021】またX−Yステージコントローラ41は、
前記制御部46と、前記X−Yテーブル部20とを接続
するインタフェース等を備えており、前記制御部46の
出力に基づいて前記X−Yテーブル部20を制御する。
The XY stage controller 41 includes:
The control unit 46 includes an interface for connecting the XY table unit 20 and the like, and controls the XY table unit 20 based on the output of the control unit 46.

【0022】またCRT表示器43は、ブラウン管(C
RT)等を備えており、前記制御部46から画像デー
タ、判定結果、キー入力データ等を供給されたとき、こ
れを画面上に表示させる。
The CRT display 43 is a cathode ray tube (C
RT) and the like, and when image data, determination results, key input data, etc. are supplied from the control unit 46, these are displayed on the screen.

【0023】またプリンタ44は、前記制御部46から
判定結果等を供給されたとき、これを予め決められた書
式(フォーマット)でプリントアウトする。
When the printer 44 is supplied with the judgment result and the like from the control section 46, it prints out the judgment result in a predetermined format.

【0024】また、キーボード45は、操作情報や前記
被検査実装基板26の名称、基板サイズ等に関するデー
タ、この被検査実装基板26上にある部品27cの関す
るデータ等を入力するのに必要な各種キーを備えてお
り、このキーボード45から入力された情報やデータ等
は制御部46に供給される。
The keyboard 45 is used for inputting operation information, data on the name of the board 26 to be inspected, board size, etc., and data on the components 27c on the board 26 to be inspected. Keys are provided, and information, data, and the like input from the keyboard 45 are supplied to the control unit 46.

【0025】制御部46は、マイクロプロセッサ等を備
えており、次に述べるように動作する。
The control section 46 includes a microprocessor and the like, and operates as described below.

【0026】まず、新たな被検査実装基板26を検査す
るときには、制御部46は図2(A)に示すティーチン
グフローチャートのステップST1でCRT表示器43
上に基板名称(例えば、基板の識別番号)と、基板サイ
ズとを要求するメッセージを表示させる。
First, when inspecting a new mounting board 26 to be inspected, the control section 46 executes the CRT display 43 in step ST1 of the teaching flowchart shown in FIG.
A message requesting a board name (for example, a board identification number) and a board size is displayed above.

【0027】そして、キーボード45からこれら基板名
称と、基板サイズとが入力されれば、制御部46はステ
ップST2でX−Yテーブル32上にティーチング用の
基板(部品27a部分が白く、それ以外の部分が黒く塗
装された実装基板)24が載せられるまで待つ。この後
この基板24が載せられれば、制御部46はX−Yテー
ブル部20を制御してカラーTVカメラ34の下方に基
板24の第1撮像エリアを配置させる。
When the board name and the board size are input from the keyboard 45, the control unit 46 displays a board for teaching (the part 27a is white and the other parts are white on the XY table 32) in step ST2. Wait until the mounting board 24 whose part is painted black) is mounted. Thereafter, when the substrate 24 is placed, the control unit 46 controls the XY table unit 20 to arrange the first imaging area of the substrate 24 below the color TV camera 34.

【0028】次いで制御部46は、カラーTVカメラ3
4によって得られた画像信号をA/D変換部36でA/
D変換させるとともに、このA/D変換結果(基板24
の画像データ)をメモリ37にリアルタイムで記憶させ
る。
Next, the control unit 46 controls the color TV camera 3
The A / D converter 36 converts the image signal obtained by
Along with D conversion, this A / D conversion result (the substrate 24
Image data) is stored in the memory 37 in real time.

【0029】次いで制御部46は、前記メモリ37に記
憶されている画像データのR画素(または、G、B画
素)を順次読み出して、これを画像処理部39で2値化
させ、前記基板24の白く塗られている部分(部品27
a部分)を抽出させた後、この抽出動作によって得られ
た各部品27aの位置データと、形状データとをティー
チングテーブル38に記憶させる。
Next, the control section 46 sequentially reads out the R pixels (or G and B pixels) of the image data stored in the memory 37, binarizes them by an image processing section 39, and Part painted white (part 27
After extracting the part (a), the position data and the shape data of each part 27a obtained by this extraction operation are stored in the teaching table 38.

【0030】この後、制御部46は、ステップST3で
前記ティーチングテーブル38に記憶されている各部品
27aの位置データと、形状データとに基づいて図3に
示すような部品27aの位置、形状画面29を作成し、
これをCRT表示器43上に表示させるとともに、特殊
な部品については、キーボード45から手動で入力する
ように要求するメッセージを表示させる。
Thereafter, the control unit 46 determines the position and shape screen of the part 27a as shown in FIG. 3 based on the position data of each part 27a stored in the teaching table 38 and the shape data in step ST3. Create 29,
This is displayed on the CRT display 43, and a message requesting manual input from the keyboard 45 is displayed for special parts.

【0031】ここで、操作員が特殊な部品について、そ
の位置データ、形状データを入力すれば、これに応じて
ティーチングテーブル38に記憶されている特殊な部品
の位置データ、形状データが修正される。
Here, if the operator inputs the position data and the shape data of the special part, the position data and the shape data of the special part stored in the teaching table 38 are corrected accordingly. .

【0032】次いで制御部46は、ステップST4でC
RT表示器43上に各部品27aの種類と、方向とを入
力するように要求するメッセージを表示させ、これら各
部品27aの種類と、方向とが入力されれば、これら各
部品27aの形状、種類、方向に応じてランドが存在す
べき領域(ランド抽出領域)を求める。
Next, the control unit 46 sets C in step ST4.
A message requesting the user to input the type and direction of each component 27a is displayed on the RT display 43. When the type and direction of each component 27a are input, the shape and shape of each component 27a are displayed. An area where a land should exist (land extraction area) is determined according to the type and direction.

【0033】この場合、部品27aがトランジスタのよ
うな3電極部品であれば、図4に示す如く部品27aの
各電極47aを含むように、かつこの部品27aの外側
に広がるようなランド抽出領域48aが求められ、また
部品27aが抵抗等のような2電極部品であれば、図5
に示す如く部品27aの両端に形成された電極47aを
含むように、かつこの部品27aの外側に広がるような
ランド抽出領域48aが求められる。
In this case, if the component 27a is a three-electrode component such as a transistor, a land extraction region 48a including the electrodes 47a of the component 27a and extending outside the component 27a as shown in FIG. If the component 27a is a two-electrode component such as a resistor, etc., FIG.
The land extraction region 48a is required to include the electrodes 47a formed at both ends of the component 27a and spread outside the component 27a as shown in FIG.

【0034】次いで、制御部46は、図6(A)、
(B)に示す如くこれらの各ランド抽出領域48aを広
げ、これによって得られたランド抽出領域49aをティ
ーチングテーブル38に記憶させる。
Next, the control unit 46 controls the operation shown in FIG.
As shown in (B), each of these land extraction areas 48a is expanded, and the land extraction areas 49a obtained thereby are stored in the teaching table 38.

【0035】この後、この第1撮像エリア内の残ってい
る部品27aに対しても、上述した処理が実行される。
After that, the above-mentioned processing is executed also for the parts 27a remaining in the first image pickup area.

【0036】そして、第1撮像エリア内にある部品27
aの全てについてランド抽出領域49aの作成動作が終
了すれば、制御部46はステップST5を介して前記ス
テップST2に戻り、残りの撮像エリアについて上述し
た処理を繰り返し実行し、全ての撮像エリアの部品27
aについてランド抽出領域49aが得られたとき、ステ
ップST5からステップST6へ分岐する。
Then, the component 27 in the first imaging area
When the operation of creating the land extraction areas 49a for all a is completed, the control unit 46 returns to step ST2 via step ST5, repeatedly executes the above-described processing for the remaining imaging areas, and 27
When the land extraction area 49a is obtained for a, the process branches from step ST5 to step ST6.

【0037】そして、このステップST6において、制
御部46は、X−Yテーブル部2cからティーチング用
の基板24が外されて、未実装基板25が載せられるま
で待つ。
In step ST6, the control unit 46 waits until the teaching board 24 is removed from the XY table 2c and the unmounted board 25 is placed.

【0038】次いで、このX−Yテーブル部20上に未
実装基板25がセットされれば、制御部46はX−Yテ
ーブル部20を制御してカラーTVカメラ34の下方に
未実装基板25の第1撮像エリアを位置させる。
Next, when the unmounted board 25 is set on the XY table section 20, the control section 46 controls the XY table section 20 to place the unmounted board 25 below the color TV camera 34. Position the first imaging area.

【0039】この後、制御部46はカラーTVカメラ3
4によって得られた画像信号をA/D変換させるととも
に、このA/D変換結果(未実装基板25の画像デー
タ)をメモリ37にリアルタイムで記憶させる。
Thereafter, the control unit 46 controls the color TV camera 3
A / D conversion is performed on the image signal obtained in step 4 and the result of the A / D conversion (image data of the unmounted board 25) is stored in the memory 37 in real time.

【0040】次いで、制御部46は、ティーチングテー
ブル38から拡大されたランド抽出領域49aを読み出
して、これを画像処理部39に供給するとともに、メモ
リ37に記憶されている未実装基板25の画像データを
画像処理部39に供給して、この画像データからランド
抽出領域49aの画像(ランド抽出領域49a内の画
像)を切り出させる。
Next, the control section 46 reads out the enlarged land extraction area 49 a from the teaching table 38, supplies it to the image processing section 39, and stores the image data of the unmounted board 25 stored in the memory 37. Is supplied to the image processing unit 39, and an image of the land extraction region 49a (the image in the land extraction region 49a) is cut out from the image data.

【0041】次いで、制御部46は、この画像処理部3
9に色相明度変換指令を供給して、前記ランド抽出領域
49a内の画像を構成する各画素を色相明度変換させ
る。
Next, the control unit 46 controls the image processing unit 3
A hue / luminance conversion command is supplied to 9 to convert each pixel forming the image in the land extraction area 49a into hue / luminance.

【0042】この場合の色相明度変換式としては、例え
ば、次に示す式が用いられる。
As the hue / lightness conversion equation in this case, for example, the following equation is used.

【0043】 BRT(ij)=R(ij)+G(ij)+B(ij)…(1) Rc(ij)=α・R(ij)/BRT(ij) …(2) Gc(ij)=α・G(ij)/BRT(ij) …(3) Bc(ij)=α・B(ij)/BRT(ij) …(4) ただしこの場合、R(ij):i行目のj列目にある画
素(画素(ij))のR信号強度 G(ij):i行目のj列目にある画素(画素(i
j))のG信号強度 B(ij):i行目のj列目にある画素(画素(i
j))のB信号強度 BRT(ij):画素(ij)の明るさ α:係数 Rc(ij):画素(ij)の赤色相 Gc(ij):画素(ij)の緑色相 Bc(ij):画素(ij)の青色相 そして、前記ランド抽出領域49a内の全画素につい
て、上述した色相明度変換が終了すれば、制御部46
は、ステップST7で図2(B)に示すランド抽出ルー
チンを呼び出し、このルーチンのステップST25で1
つの画素(ij)に対する赤色相Rc(ij)を抽出す
る。この後、制御部46はステップST26でこの赤色
相が予め決められたランド抽出基準値C(例えば、C=
0.4・d)以上かどうかをチェックし、Rc(ij)
>CであればステップST27でこの赤色相Rc(i
j)に対応する画素(ij)を銅箔部分の画素と判定す
る。また、Rc(ij)≦Cであれば、制御部46は、
ステップST28でこの赤色相Rc(ij)に対応する
画素(ij)を銅箔部分以外の画素と判定する。
BRT (ij) = R (ij) + G (ij) + B (ij) ... (1) Rc (ij) = α.R (ij) / BRT (ij) ... (2) Gc (ij) = α G (ij) / BRT (ij) (3) Bc (ij) = α.B (ij) / BRT (ij) (4) However, in this case, R (ij): the j-th column of the i-th row R signal intensity of the pixel (pixel (ij)) in G (ij): the pixel (pixel (i
j)) G signal intensity B (ij): pixel (pixel (i
j)) B signal intensity BRT (ij): Brightness of pixel (ij) α: Coefficient Rc (ij): Red phase of pixel (ij) Gc (ij): Green phase of pixel (ij) Bc (ij) : Blue hue of pixel (ij) Then, when the hue / luminance conversion described above is completed for all the pixels in the land extraction area 49a, the control unit 46
Calls the land extraction routine shown in FIG. 2B in step ST7, and 1 in step ST25 of this routine.
The red color Rc (ij) for one pixel (ij) is extracted. Thereafter, the control unit 46 determines the land extraction reference value C (for example, C =
0.4.d) or more, and Rc (ij)
If> C, this red phase Rc (i) is determined in step ST27.
The pixel (ij) corresponding to j) is determined to be the pixel of the copper foil portion. If Rc (ij) ≦ C, the control unit 46
In step ST28, the pixel (ij) corresponding to the red phase Rc (ij) is determined to be a pixel other than the copper foil portion.

【0044】そして、ランド抽出領域49a内の全画素
について銅箔・非銅箔判定処理が終了すれば制御部46
はステップST29を介してステップST30に分岐
し、ここで銅箔部分の画素と判定された部分を総合して
ランド28bの位置データと、形状データとを算出(抽
出)し、この後、元のフローに戻る。
When the copper foil / non-copper foil determination processing is completed for all pixels in the land extraction area 49a, the control unit 46
Branches to step ST30 via step ST29, where the position data and shape data of the land 28b are calculated (extracted) by integrating the portions determined to be pixels of the copper foil portion, and then the original Return to flow.

【0045】この後、制御部46はこのフローのステッ
プST8でランド28bに関する位置データ、形状デー
タをティーチングテーブル38に記憶させるとともに、
各部品27aに対するランド間の距離を算出し、この算
出結果(距離データ)をティーチングテーブル38に記
憶させる。
After that, the control unit 46 stores the position data and shape data regarding the land 28b in the teaching table 38 in step ST8 of this flow, and
The distance between lands for each component 27a is calculated, and the calculation result (distance data) is stored in the teaching table 38.

【0046】この場合、これら各距離データはマウンタ
に各部品27の許容誤差を教示したり、ランドパターン
の設計を評価したりするためのデータとして使用され
る。
In this case, these distance data are used as data for instructing the mounter on the tolerance of each component 27 and for evaluating the design of the land pattern.

【0047】次いで、制御部46は、ステップST9で
図7(A)、(B)に示す如く前記ランド28bの形状
データを広げて、ランド検査領域50bを算出し、これ
をティーチングテーブル38に記憶させる。
Next, in step ST9, the control section 46 expands the shape data of the land 28b as shown in FIGS. 7A and 7B, calculates a land inspection area 50b, and stores it in the teaching table 38. Let it.

【0048】この後、制御部46は、ステップST10
で前記ランド28bの位置、形状に基づいて、図8
(A)、(B)に示す如く、各部品27aの中央部分を
切り出すための部品ボデー検査領域51bを算出して、
これをティーチングテーブル38に記憶させるととも
に、CRT表示器43上に各部品27aのボデーに関す
る特徴データ(例えば、色データ)を要求するメッセー
ジを表示させる。
Thereafter, the control unit 46 proceeds to step ST10.
8 based on the position and shape of the land 28b.
As shown in (A) and (B), a component body inspection area 51b for cutting out a central portion of each component 27a is calculated,
This is stored in the teaching table 38, and a message requesting feature data (for example, color data) relating to the body of each component 27a is displayed on the CRT display 43.

【0049】そして、操作員がキーボード45を操作し
て、全部品27aの特徴データを入力すれば、制御部4
6は、これをティーチングテーブル38に記憶させる。
When the operator operates the keyboard 45 to input the characteristic data of all the parts 27a, the control unit 4
6 stores this in the teaching table 38.

【0050】この後、制御部46はステップST11を
介して前記ステップST6に戻り、残りの撮像エリアに
対して、上述したランド抽出処理から特徴データの入力
処理を繰り返し実行する。
Thereafter, the control unit 46 returns to step ST6 via step ST11, and repeatedly executes the above-described land extraction processing and the input processing of the characteristic data for the remaining imaging areas.

【0051】この後、全ての撮像エリアの部品27aに
ついて上述した処理が終了したとき、制御部46はステ
ップST11からステップST12へ分岐する。
Thereafter, when the above-described processing is completed for the components 27a in all the imaging areas, the control unit 46 branches from step ST11 to step ST12.

【0052】そして、このステップST12において、
制御部46は、前記ティーチングテーブル38に記憶さ
れている各データを整理して検査データファイルを作成
し、これをティーチングテーブル38に記憶させ、ティ
ーチング動作を終了する。
Then, in this step ST12,
The control unit 46 arranges each data stored in the teaching table 38 to create an inspection data file, stores it in the teaching table 38, and ends the teaching operation.

【0053】またこのティーチング動作が終了して検査
モードにされれば、制御部46は、図2(C)に示す検
査フローチャートのステップST13でCRT表示器4
3上に被検査実装基板26の基板名称を要求するメッセ
ージを表示させる。
When the teaching operation is completed and the inspection mode is set, the control unit 46 sets the CRT display 4 in step ST13 of the inspection flowchart shown in FIG.
A message requesting the board name of the mounting board 26 to be inspected is displayed on 3.

【0054】そして、キーボード45からこの基板名称
が入力されれば、制御部46はステップST14でX−
Yテーブル32上に被検査実装基板26が載せられるま
で待つ。この後この被検査実装基板26が載せられれ
ば、制御部46はX−Yテーブル部20を制御してカラ
ーTVカメラ34の下方に被検査実装基板26の第1撮
像エリアを配置させる。
Then, if this board name is input from the keyboard 45, the control section 46 performs X- in step ST14.
Wait until the mounting board 26 to be inspected is placed on the Y table 32. After this, when the mounting board 26 to be inspected is placed, the control section 46 controls the XY table section 20 to arrange the first imaging area of the mounting board 26 to be inspected below the color TV camera 34.

【0055】次いで制御部46は、カラーTVカメラ3
4によって得られた画像信号をA/D変換部36でA/
D変換させるとともに、このA/D変換結果(被検査実
装基板26の画像データ)をメモリ37にリアルタイム
で記憶させる。
Next, the control unit 46 controls the color TV camera 3
The A / D converter 36 converts the image signal obtained by
The D / D conversion is performed, and the result of the A / D conversion (image data of the board 26 to be inspected) is stored in the memory 37 in real time.

【0056】次いで、制御部46は、ティーチングテー
ブル38から部品ボデー検査領域51bを読み出して、
これを画像処理部39に供給するとともに、メモリ37
に記憶されている被検査実装基板26の画像データを画
像処理部39に供給して、この画像データから検査領域
51bの画像を切り出させる。
Next, the control unit 46 reads the component body inspection area 51b from the teaching table 38,
This is supplied to the image processing unit 39, and the memory 37
Is supplied to the image processing unit 39, and an image of the inspection area 51b is cut out from the image data.

【0057】次いで、制御部46は、この画像処理部3
9に特徴抽出指令を供給して、前記部品ボデー検査領域
51bによって切り出した画像の特徴データを抽出させ
る(例えば、画像の各画素を色相明度変換させる)。
Next, the control unit 46 controls the image processing unit 3
9, a feature extraction command is supplied to extract feature data of an image cut out by the component body inspection area 51b (for example, each pixel of the image is converted into hue and brightness).

【0058】この後、制御部46は、ステップST15
で前記部品ボデー検査領域51b内にある画像の特徴デ
ータがティーチングテーブル38に記憶されている各部
品27aの特徴データと一致しているかどうかを判定
し、もしこれらが一致していれば、このステップST1
5からステップST16へ分岐し、ここでティーチング
テーブル38からランド検査領域50bを読み出して、
これを画像処理部39に供給するとともに、メモリ37
に記憶されている被検査実装基板26の画像データを画
像処理部39に供給して、この画像データからランド検
査領域50bの画像を切り出させる。
Thereafter, the control section 46 proceeds to step ST15.
It is determined whether the feature data of the image in the component body inspection area 51b matches the feature data of each component 27a stored in the teaching table 38, and if they match, this step is performed. ST1
5 branches to step ST16, where the land inspection area 50b is read from the teaching table 38,
This is supplied to the image processing unit 39, and the memory 37
The image data of the mounting substrate 26 to be inspected stored in is supplied to the image processing section 39, and the image of the land inspection region 50b is cut out from this image data.

【0059】次いで、制御部46は、この画像処理部3
9に色相明度変換指令を供給して、前記ランド検査領域
50bの画像を構成する各画素を色相明度変換させる。
Then, the control unit 46 controls the image processing unit 3
9 is supplied with a hue / lightness conversion command to convert the pixels constituting the image of the land inspection area 50b into hue / lightness.

【0060】そして、前記ランド検査領域50b内の全
画素について、上述した色相明度変換が終了すれば、制
御部46はステップST17でランド検査領域50b内
の各画素(ij)に対する赤色相Rc(ij)が予め入
力されたランド抽出基準値C(例えば、C=0.4・
α)以上かどうかをチェックして、ランド検査領域50
b内にあるランド28cを抽出する。
When the above-described hue / lightness conversion is completed for all the pixels in the land inspection area 50b, the control unit 46 proceeds to step ST17 where the red hue Rc (ij) for each pixel (ij) in the land inspection area 50b is determined. ) Is a land extraction reference value C (for example, C = 0.4 ·
α) is checked, and the land inspection area 50 is checked.
The land 28c in b is extracted.

【0061】この後、制御部46はステップST18で
ランド検査領域50b内の各画素(ij)に対するBR
T(ij)が予め入力された電極抽出基準値D以上かど
うかをチェックして、ランド検査領域50b内にある電
極47cを抽出する。
Thereafter, the control unit 46 determines in step ST18 the BR for each pixel (ij) in the land inspection area 50b.
It is checked whether or not T (ij) is equal to or greater than a previously input electrode extraction reference value D, and an electrode 47c in the land inspection area 50b is extracted.

【0062】次いで、制御部46はステップST19で
ランド検査領域50b内にある電極47cの位置と、形
状とを参照しながらランド28cの形状と、ティーチン
グテーブル38に記憶されている未実装基板25のラン
ド28bの形状とを比較してランド28cの部品27c
で隠されている部分を算出(推定)する。
Next, in step ST 19, the control unit 46 refers to the position and the shape of the electrode 47 c in the land inspection area 50 b and the shape of the land 28 c and the shape of the unmounted board 25 stored in the teaching table 38. Compare the shape of the land 28b with the part 27c of the land 28c.
Calculate (estimate) the part hidden by.

【0063】この後、制御部46はこの算出結果から図
9(A)、(B)に示す如くこれらランド28cと、部
品27cとの位置関係を示すかぶり面積データ(ランド
28cの部品27cで隠されている部分の面積デー
タ)、幅データ、奥行きデータを求めるとともに、ステ
ップST20でこれらの各データの値が充分かどうかを
チェックする。
Thereafter, the control unit 46 calculates the fogging area data (shown by the part 27c of the land 28c) indicating the positional relationship between the land 28c and the part 27c as shown in FIGS. Area data), width data, and depth data are obtained, and it is checked in step ST20 whether the values of these data are sufficient.

【0064】そして、これらの各値が充分であれば、制
御部46はこのステップST20からステップST21
に分岐し、ここでこの部品27cが良好にマウントされ
ていると判定して、CRT表示器43上にこれを表示し
たり、プリンタ44からプリントアウトしたりする。
If these values are sufficient, the control unit 46 proceeds from step ST20 to step ST21.
Then, it is determined that the component 27c is mounted well, and the component 27c is displayed on the CRT display 43 or printed out from the printer 44.

【0065】また前記各ステップST15、ST20に
おいて、部品ボデー検査領域51b内にある画像の特徴
データがティーチングテーブル38に記憶されている各
部品27aの特徴データと一致していないと判定された
り、ランド28cと、部品27cとの位置関係を示すか
ぶり面積データ、幅データ、奥行きデータが充分でない
と判定されれば、制御部46はこれらの各ステップST
15、ST20からステップST22へ分岐し、ここで
この部品27cがマウント不良であると判定して、CR
T表示器43上にこれを表示したり、プリンタ44から
プリントアウトしたりする。
In each of the steps ST15 and ST20, it is determined that the feature data of the image in the component body inspection area 51b does not match the feature data of each component 27a stored in the teaching table 38, If it is determined that the fogging area data, the width data, and the depth data indicating the positional relationship between the component 28c and the component 27c are not sufficient, the control unit 46 performs these steps ST
15. The process branches from ST20 to step ST22, where it is determined that the component 27c is defective in mounting, and the CR 27 is determined.
This is displayed on the T display 43 or printed out from the printer 44.

【0066】この後、制御部46はステップST23を
介して前記ステップST14に戻り、残りの撮像エリア
に対して、上述した処理を繰り返し実行する。
Thereafter, the control unit 46 returns to step ST14 via step ST23, and repeatedly executes the above-described processing on the remaining imaging areas.

【0067】そして、全ての撮像エリアの部品27cに
ついて判定処理が終了したとき、この検査処理を終了す
る。
When the determination process is completed for the parts 27c in all the imaging areas, this inspection process is completed.

【0068】このようにこの実施例においては、ランド
28b、28cを抽出することができる。これによっ
て、被検査実装基板26のランド28cが基板毎に異な
っていても、ランド28c上の許容できる範囲内に部品
27cがマウントされていれば、マウント良好と判定す
ることができる。また、基板の加工誤差に起因する誤判
定を防止することができるとともに、各部品27cに対
して最適な位置ずれ許容量を自動的に設定することがで
きる。
As described above, in this embodiment, the lands 28b and 28c can be extracted. Thereby, even if the land 28c of the mounting board 26 to be inspected differs for each board, if the component 27c is mounted within an allowable range on the land 28c, it can be determined that the mounting is good. In addition, it is possible to prevent erroneous determination due to a processing error of the board, and to automatically set an optimum positional deviation allowable amount for each component 27c.

【0069】これによって、図10(A)、(B)およ
び図11(A)、(B)に示すような場合には、マウン
ト良好と判定し、また図10(C)および図11
(C)、(D)に示すような場合には、マウント不良と
判定することができる。
Thus, in the cases shown in FIGS. 10 (A), (B) and FIGS. 11 (A), (B), it is judged that the mount is good, and FIGS. 10 (C) and 11
In the cases shown in (C) and (D), it can be determined that the mounting is defective.

【0070】また上述した実施例においては、ティーチ
ングのとき、部品27aの種類を手動で入力するように
しているが、基準実装基板等を用いて入力された画像か
ら部品27aの電極を検出し、この電極位置から部品2
7aの種類を自動で入力するようにしても良い。
In the above-described embodiment, the type of the component 27a is manually input at the time of teaching. However, the electrode of the component 27a is detected from an image input using a reference mounting board or the like. From this electrode position, part 2
The type of 7a may be automatically input.

【0071】また上述した実施例においては、画像処理
部39によって画像の色相明度変換を行うようにしてい
るが、撮像部22の出力をアナログ処理したり、また制
御部46のプログラム処理によって色相明度変換を行う
ようにしても良い。
In the above-described embodiment, the hue / lightness conversion of the image is performed by the image processing unit 39. However, the output of the image pickup unit 22 is analog-processed, and the hue / lightness is controlled by the program processing of the control unit 46. Conversion may be performed.

【0072】また上述した実施例においては、ティーチ
ングのとき、部品27aの特徴データを手動で入力する
ようにしているが、基準実装基板等を用いて、これを自
動的に入力するようにしても良い。
In the above-described embodiment, the feature data of the component 27a is manually input at the time of teaching. However, the feature data may be automatically input using a reference mounting board or the like. good.

【0073】[0073]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、基
板上に形成された電極領域とランド部位を自動的に抽出
することができ、これによって電極領域およびランド部
位とにより部品のマウント良否を判定することができ
る。
As described above, according to the present invention, it is possible to automatically extract the electrode area and the land portion formed on the substrate, and thereby, it is possible to mount the component by the electrode area and the land portion. Can be determined.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による基板検査装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a substrate inspection apparatus according to the present invention.

【図2】(A)は同実施例のティーチング動作例を示す
フローチャートである。(B)は同実施例のランド抽出
ルーチンのフローチャートである。(C)は同実施例の
検査動作例を示すフローチャートである。
FIG. 2A is a flowchart illustrating an example of a teaching operation of the embodiment. (B) is a flowchart of a land extraction routine of the same embodiment. (C) is a flowchart showing an example of the inspection operation of the embodiment.

【図3】同実施例の部品の位置、形状画面の一例を示す
模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing an example of a position / shape screen of a part of the embodiment.

【図4】同実施例のトランジスタ等に対するランド抽出
領域の一例を示す模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of a land extraction region for a transistor and the like according to the embodiment.

【図5】同実施例の抵抗等に対するランド抽出領域の一
例を示す模式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of a land extraction region for a resistor and the like in the embodiment.

【図6】(A)、(B)は各々同実施例の各部品に対す
る拡大されたランド抽出領域の一例を示す模式図であ
る。
6A and 6B are schematic diagrams showing an example of an enlarged land extraction area for each component of the embodiment.

【図7】(A)、(B)は各々同実施例の各部品に対す
るランド検査領域の一例を示す模式図である。
FIGS. 7A and 7B are schematic diagrams each showing an example of a land inspection area for each component of the embodiment.

【図8】(A)、(B)は各々同実施例の各部品に対す
る部品ボデー検査領域の一例を示す模式図である。
FIGS. 8A and 8B are schematic views showing an example of a component body inspection region for each component of the embodiment.

【図9】(A)、(B)は各々同実施例における部品
と、ランドとの位置関係に対する判定動作を説明するた
めの模式図である。
FIGS. 9A and 9B are schematic diagrams for explaining a determination operation for a positional relationship between a component and a land in the embodiment.

【図10】(A)〜(C)は各々同実施例の判定例を説
明するための模式図である。
FIGS. 10A to 10C are schematic diagrams for explaining a determination example of the embodiment.

【図11】(A)〜(D)は各々同実施例の判定例を説
明するための模式図である。
FIGS. 11A to 11D are schematic diagrams for explaining a determination example of the same embodiment.

【図12】従来の実装基板検査装置の一例を示すブロッ
ク図である。
FIG. 12 is a block diagram illustrating an example of a conventional mounting board inspection apparatus.

【図13】この実装基板検査装置におけるマウントずれ
を説明するための模式図である。
FIG. 13 is a schematic diagram for explaining a mount shift in the mounting board inspection apparatus.

【図14】この基板検査装置におけるランドと部品との
位置関係を示す模式図である。
FIG. 14 is a schematic diagram showing a positional relationship between lands and components in the board inspection apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

22 撮像部 25 未実装基板 26 被検査実装基板 27c 部品 28b、28c ランド 39 色相変換部(画像処理部) 46 判定部(制御部) 22 image pickup unit 25 unmounted board 26 inspected mounted board 27c parts 28b, 28c land 39 hue conversion unit (image processing unit) 46 determination unit (control unit)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 13/08 D 8315−4E ─────────────────────────────────────────────────── ───Continued from the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location H05K 13/08 D 8315-4E

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 予め記憶された未実装基板上の部品の位
置、方向、種類および前記部品毎のランド部位に関する
データを記憶する部品およびランド記憶手段と、 該部品およびランド記憶手段からランド部位の場所を算
出して記憶する記憶手段と、 被検査部品実装基板を撮像する撮像手段と、 該撮像手段により撮像された撮像画像から前記記憶手段
の各部品のランド部位を抽出するランド部位抽出手段
と、 予め部品の電極に関する画像情報を記憶する電極記憶手
段と、 前記ランド部位抽出手段により抽出した抽出画像から前
記電極記憶手段に記憶された画像を用いて抽出された電
極領域と前記ランド部位抽出手段により抽出されたラン
ド部位とにより部品のマウントの良否を判定する判定手
段と、 を備えたことを特徴とする実装基板検査装置。
1. A component and land storage means for storing data on a position, a direction, a type, and a land portion of each component stored in advance on an unmounted board, and a land portion from the component and land storage means. Storage means for calculating and storing a place; image pickup means for picking up an image of the component mounting board to be inspected; and land part extraction means for extracting land parts of each part of the storage means from an image picked up by the image pickup means An electrode storage unit that stores image information about the electrodes of the parts in advance; an electrode region and the land region extraction unit that are extracted from the extracted image extracted by the land region extraction unit using the image stored in the electrode storage unit; A mounting board inspection apparatus comprising: a determination unit that determines whether the mount of the component is good or bad based on the land portion extracted by .
JP7180578A 1995-06-26 1995-06-26 Mounting board inspection equipment Expired - Lifetime JP2576815B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7180578A JP2576815B2 (en) 1995-06-26 1995-06-26 Mounting board inspection equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7180578A JP2576815B2 (en) 1995-06-26 1995-06-26 Mounting board inspection equipment

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61256994A Division JP2664141B2 (en) 1986-10-03 1986-10-30 Mounting board inspection equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0835826A true JPH0835826A (en) 1996-02-06
JP2576815B2 JP2576815B2 (en) 1997-01-29

Family

ID=16085723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7180578A Expired - Lifetime JP2576815B2 (en) 1995-06-26 1995-06-26 Mounting board inspection equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2576815B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8371027B2 (en) 2006-04-13 2013-02-12 Panasonic Corporation Electronic components mounting method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8371027B2 (en) 2006-04-13 2013-02-12 Panasonic Corporation Electronic components mounting method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2576815B2 (en) 1997-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5027295A (en) Apparatus for inspecting packaged electronic device
JPH0535849A (en) Teaching data preparation method
JPS62261048A (en) Printed circuit board inspecting device
JP2664141B2 (en) Mounting board inspection equipment
JP2576815B2 (en) Mounting board inspection equipment
JPS63225153A (en) Method for inspecting substrate
JPH0820229B2 (en) Mounting board inspection equipment
JPH07120420B2 (en) Mounted board inspection device
JP3289070B2 (en) Mounted parts inspection device
JP3264020B2 (en) Inspection data creation method and mounted component inspection device
JP3146644B2 (en) Teaching method of mounted part inspection data
JPH0526815A (en) Method for teaching mounted parts inspection data
JP2917970B2 (en) Output method of mounting board inspection result
JPH11258176A (en) Apparatus and method for inspection
JPS62180251A (en) Teaching method for reference substrate data of automatic inspecting device
JPS62261049A (en) Printed circuit board inspecting device
JPS62298750A (en) Inspecting device for printed circuit board
JPS63148152A (en) Substrate inspection device
JPH06258244A (en) Instruction method of mounting part inspection data
JPS62261050A (en) Printed circuit board inspecting device
JPH06201340A (en) Mounted part inspection device
JP3273378B2 (en) Characteristic parameter determination device in substrate inspection device
JP3035574B2 (en) Teaching method of mounted component inspection device
JPS62261047A (en) Printed circuit board processor
JP2638792B2 (en) Teaching device for inspecting mounting boards

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term