JPH08319559A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
- Publication number
- JPH08319559A JPH08319559A JP12386195A JP12386195A JPH08319559A JP H08319559 A JPH08319559 A JP H08319559A JP 12386195 A JP12386195 A JP 12386195A JP 12386195 A JP12386195 A JP 12386195A JP H08319559 A JPH08319559 A JP H08319559A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum chamber
- grid
- thin film
- film forming
- filament
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
た薄膜を均一に形成することができる薄膜形成装置を提
供する。 【構成】本発明の薄膜形成装置は、真空槽Aと、真空槽
の両端に接続した基板ホルダー収納用の補助真空槽B,
Cと、基板ホルダー12を支持・搬送するガイド部材
(対電極)108と、グリッド10と、熱電子発生用フ
ィラメント8と、蒸発源4と、グリッド及び対電極、フ
ィラメントの間を所定の電位関係とする電源手段18
と、基板ホルダーを3つの真空槽の間で移動させる手段
を有し、真空槽Aが中央成膜部とその両端部に基板ホル
ダー収容部を有し、ガイド部材を駆動して基板ホルダー
12を真空槽内において両端の基板ホルダー収容部の間
を往復移動させる手段43と、補助真空槽内において多
段に配備された基板ホルダーを上下に移動させる手段1
4,16及び補助真空槽と真空槽の間を往復移動させる
手段109,110を有する。
Description
に、CVD法の長所である強い反応性と、PVD法の長
所である高真空中での成膜(これは緻密で強い膜が形成
できる)とを同時に実現しうる新規な薄膜形成装置に関
する。
する)上に薄膜を形成する薄膜形成装置(方法)として
は、CVD法やPVD法などを利用したものが良く知ら
れており、CVD法による装置は反応性が強く、PVD
法による装置は高真空中において緻密な強い薄膜を形成
できるなどの長所を有している。これら、CVD法やP
VD法などを利用した薄膜形成装置としては従来より種
々のものが提案されており、その方法も極めて多岐にわ
たっている。しかし、これら従来の薄膜形成装置にあっ
ては、形成された膜の基板との密着性が弱かったり、あ
るいは、耐熱性の弱いプラスチックフィルム等の基板へ
の膜形成が困難である、あるいは形成された薄膜の特性
が不均一であるなどの問題があった。
法として、従来、蒸発源と被蒸着物との間に高周波電磁
界を発生させて、活性あるいは不活性ガス中で蒸発した
物質をイオン化して真空蒸着を行なう、所謂、イオンプ
レーティング法や、蒸発源と被蒸着物との間に直流電圧
を印加するDCイオンプレーティング法が提案されてい
る(特公昭52−29971号、特公昭52−2909
1号,特開昭57−171666号等)。また、さらに
新規なものとしては、蒸発源と被蒸着物との間にグリッ
ド電極及び熱電子発生用のフィラメントを配備し、グリ
ッド電極及びフィラメントによりプラズマを発生させ、
活性あるいは不活性ガス中で蒸発した物質をイオン化し
て真空蒸着を行なう方法が提案されている(特許157
1203号(特開昭59−89763号))。
によるものはバッチ式の方法であるため、大面積の基板
に対して高い生産性を実現することが困難であった。
あって、基板に対して極めて強い密着性を持った薄膜を
形成でき、複数の大面積の基板に対して均一に薄膜を形
成でき、尚且つ、耐熱性のないプラスチックフィルムな
どをも基板として用いることができる新規な構成の薄膜
形成装置を提供することを目的とする。
め、請求項1の発明による薄膜形成装置は、活性ガスも
しくは不活性ガスあるいはこれら両者の混合ガスが導入
される真空槽と、この真空槽内において蒸発物質を蒸発
させるための蒸発源と、上記真空槽内に配置され基板を
上記蒸発源に対向するように保持する基板ホルダーを支
持・搬送するガイド部材からなる対電極と、上記蒸発源
と対電極との間に配備された蒸発物質を通過させうるグ
リッドと、上記グリッドと上記蒸発源との間に配置され
た熱電子発生用のフィラメントと、上記グリッドの電位
を上記対電極の電位と上記フィラメントの電位に対し正
電位とする手段と、上記真空槽の両端に接続した基板ホ
ルダー収納用の補助真空槽と、上記基板ホルダーを上記
3つの真空槽の間で移動させる手段を有し、上記真空槽
は中央成膜部とその両端部に基板ホルダー収容部を有
し、上記ガイド部材を駆動して上記基板ホルダーを真空
槽内において両端の基板ホルダー収容部の間を往復移動
させるための搬送駆動装置を有し、上記補助真空槽内に
おいて多段に配備された基板ホルダーを上下に移動させ
るための搬送駆動装置及び補助真空槽と真空槽の間を往
復移動させるための搬送駆動装置を有し、上記補助真空
槽内において2つの搬送駆動装置の間での基板ホルダー
の受け渡しを行う構成としたものである。
求項1の薄膜形成装置において、複数の蒸発源を上方を
通過する基板の進行方向に対して直交するように対向配
置する構成としたものである。
求項1及び2の薄膜形成装置において、基板とグリッド
の間に膜厚補正板を配置する構成としたものである。
求項1の薄膜形成装置において、真空槽内を通過する基
板を上方より加熱する基板加熱用ヒーターを配備する構
成としたものである。
求項1の薄膜形成装置において、一方の補助真空槽内に
グリッド収納部を設け、上記グリッドと蒸発源の間の位
置関係を規定する手段と、上記補助真空槽内において多
段に配備されたグリッドを上下に移動させるための搬送
駆動装置及び補助真空槽と真空槽の間を往復移動させる
ための搬送駆動装置を有し、上記補助真空槽内において
2つの搬送駆動装置の間でのグリッドの受け渡しを行う
構成としたものである。
求項1の薄膜形成装置において、一方の補助真空槽内に
フィラメント収納部を設け、上記フィラメントと蒸発源
の間の位置関係を規定する手段と、上記補助真空槽内に
おいて多段に配備されたフィラメントを上下に移動させ
るための搬送駆動装置及び補助真空槽と真空槽の間を往
復移動させるための搬送駆動装置を有し、上記補助真空
槽内において2つの搬送駆動装置の間でのフィラメント
の受け渡しを行う構成としたものである。
明する。請求項1の発明による薄膜形成装置は、真空槽
と、真空槽の両端に接続した基板ホルダー収納用の補助
真空槽と、基板ホルダーを支持・搬送するガイド部材か
らなる対電極と、グリッドと、熱電子発生用のフィラメ
ントと、蒸発源(単数又は複数)と、グリッド及び対電
極、フィラメントの間を所定の電位関係とする電源手段
と、基板ホルダーを上記3つの真空槽の間で移動させる
手段を有し、上記真空槽は中央成膜部とその両端部に基
板ホルダー収容部を有し、上記ガイド部材を駆動して上
記基板ホルダーを真空槽内において両端の基板ホルダー
収容部の間を往復移動させるための搬送駆動装置を有
し、上記補助真空槽内において多段に配備された基板ホ
ルダーを上下に移動させるための搬送駆動装置及び補助
真空槽と真空槽の間を往復移動させるための搬送駆動装
置を有する。
性ガス、あるいはこれら両者の混合ガスが導入される。
対電極は上記真空槽内に配備され、被蒸着基板(以下、
基板と記す)を蒸発源と対向する側の面に保持した基板
ホルダーを支持するガイド部材からなり、該ガイド部材
は搬送駆動装置により支持駆動される。グリッドは蒸発
物質を通過させうるものであって、蒸発源と対電極の間
に配備され、電源手段により対電極及びフィラメントの
電位に対して正電位にされる。熱電子発生用のフィラメ
ントは、真空槽内の、グリッドと蒸発源との間に配備さ
れ、このフィラメントにより発生する熱電子は、蒸発物
質の一部をイオン化するのに供される。蒸発源からの蒸
発物質は、その一部が、フィラメントからの電子により
正イオンにイオン化される。そしてこの様に一部イオン
化された蒸発物質は、グリッドを通過し、更に、イオン
化されたガスにより正イオン化を促進され、グリッド−
基板間の電界の作用により基板の方へと加速される。そ
して蒸発物質は上記加速による運動エネルギーを持って
基板に衝突し付着して薄膜を形成する。
ント温度に対応する運動エネルギーを持ってフィラメン
トから放射されるので、正電位のグリッドに直ちに吸引
されずにこれを通過し、グリッドによるクーロン力によ
り引き戻され、更にグリッドを通過し、と言うように、
グリッドを中心として振動運動を繰返し、遂にはグリッ
ドに吸収されるので、基板へは達せず、基板は電子衝撃
を受けないので、其れによる加熱がなく基板の温度上昇
が防止でき、プラスチックの様な耐熱性のない材質のも
のでも基板とすることができる。
ド部材を搬送駆動装置で駆動して基板ホルダーを真空槽
内において両端の基板ホルダー収容部の間を移動させつ
つ成膜を行う。また、成膜速度と、目標膜厚に応じて往
復移動させつつ成膜を行うことも可能である。また、成
膜時に、基板上の進行方向に並ぶ各点が同一の場所を通
過するために、均一な成膜が可能となる。さらに、補助
真空槽内において多段に配備された基板ホルダーを上下
に移動させ、新たな基板ホルダーを真空槽と両端の補助
真空槽の間で移動させることができるため、新たに基板
をセットする度に真空槽内を大気開放する必要がなく、
高い生産性を実現することができる。
ては、複数の蒸発源を上方を通過する基板の進行方向に
対して直交するように対向配置したことによって、蒸発
と、蒸発物質のイオン化、活性化による成膜を均一化
し、膜質、膜厚等の均一化を行うことが可能である。こ
こで、各蒸発源はそれぞれ独立に制御できる。
ては、基板とグリッドの間に膜厚補正板を配置したこと
により、膜厚の分布をより均一化できる。膜厚補正板
は、基板の進行方向に対して部分的に遮蔽するように設
定している。その形状については、蒸発源の形状、配
置、成膜状況等に応じて決定することが望ましい。
ては、真空槽内を通過する基板を上方(背面)より加熱
する基板加熱用ヒーターを設けている。ヒーターによる
加熱を行うことにより、基板上に吸着された水分等を放
出させ、密着性を向上させることができる。
ては、グリッドはグリッドホルダーに接続されて、蒸発
源と対電極の間に配備され、電源手段により対電極及び
フィラメントの電位に対して正電位にされる。また、必
要に応じてグリッドを真空槽と補助真空槽の間で移動さ
せることができる。さらに、グリッドを真空槽に導入す
る際にグリッドの位置を規定できるようにグリッドホル
ダーを固定するためのストッパーが真空槽内に設けられ
ている。本発明による装置では、グリッド上への蒸発粒
子の付着による被膜の形成によって放電が不安定とな
り、困難であった成膜回数の増大が、基板及び真空槽内
を大気に晒すことなく補助真空槽においてグリッドを交
換することによって可能となる。
ては、熱電子発生用のフィラメントは、フィラメントホ
ルダーに接続されて真空槽内のグリッドと蒸発源との間
に配備される。また、必要に応じてフィラメントを真空
槽と補助真空槽の間で移動させることができる。さら
に、フィラメントを真空槽に導入する際にフィラメント
の位置を規定できるようにフィラメントホルダーを固定
するためのストッパーが真空槽内に設けられている。こ
れにより、活性ガス中での通電加熱によるフィラメント
の消耗や、Alなどフィラメントを構成している材質を
侵す作用のある材料を蒸発材料に用いたときのフィラメ
ントの消耗が問題となり困難であった成膜回数の増大
が、基板及び真空槽内を大気に晒すことなく補助真空槽
において適宜新しいフィラメントに交換することによっ
て可能となる。
は請求項1の発明の実施例を示す薄膜形成装置の概略構
成図、図2は図1に示す薄膜形成装置の補助真空槽内の
ガイドベルト、基板ホルダー、及びストッカの配置例を
示す平面図である。図1,2において、真空槽Aと補助
真空槽B,CはゲートバルブD,Eを介して接続されて
いる。真空槽A内には上方から下方に向けて順に、基板
ホルダー12を支持・搬送する対電極を兼ねたガイドベ
ルト108と、回転軸43a,43b等からなるガイド
ベルト108の移動機構43と、防着板111と、グリ
ッド10と、フィラメント8と、蒸発源4が適宜間隔を
開けて設けられている。グリッド10、フィラメント
8、蒸発源4は各々支持体を兼用する電極9,7,3に
より水平状態に保持されている。これらの電極3,7,
9はいずれもベースプレート1との電気的な絶縁性を保
つ状態でベースプレート1を貫通して真空槽外部に引き
出されている。すなわち、これらの電極3,7,9は真
空槽の内外の電気的な接続・給電を行うもので、その他
の配線具と共に導電手段となりうるものであり、ベース
プレート1の貫通部においては気密性が確保されてい
る。
た蒸発源4は蒸発物質を蒸発させるためのものであり、
例えばタングステン、モリブデンなどの金属をコイル状
に形成してなる抵抗加熱式として構成されている。もっ
ともコイル状に換えてボート状に形成したものでも良
い。さらには、このような蒸発源に換えて電子ビーム蒸
発源など、従来の真空蒸着方式で用いられている蒸発源
を適宜使用することができる。一方、一対の電極7の間
には、タングステンなどによる熱電子発生用のフィラメ
ント8が支持されている。このフィラメント8の形状
は、複数本のフィラメント線材を平行に配列したり、あ
るいは網目状にしたりするなどして、蒸発源4から蒸発
した蒸発物質の粒子の広がりをカバーするように定めら
れている。また、支持体兼用電極9にはグリッド10が
支持されている。このグリッド10は、蒸発物質を通過
させうる形状にその形状が定められているが、この例で
は網目状である。
であって電極としての役割を兼ねており、それらの真空
槽A外へ突出した端部間は図1のように種々の電源に接
続されている。まず、蒸発源4は一対の電極3を介して
蒸発用電源17に接続されている。次に、直流電源18
が設けられ、この直流電源18の正極側は電極9を介し
てグリッド10に、直流電源18の負極側は接地されて
いる。対電極を兼ねたガイドベルト108とその移動機
構43は接地電位となっており、グリッド10の電位は
ガイドベルト108とその移動機構43の電位に対して
正電位となるように設定されている。これにより成膜時
にグリッド10と基板ホルダー12間の電界はグリッド
10側から基板ホルダー12側へと向かうものとなる。
また、フィラメント8は一対の電極7を介して直流電源
19の両端に接続されている。実際には、これらの電気
的接続には種々のスイッチ類を含み、これらの操作によ
り成膜プロセスを実現するのであるが、これらのスイッ
チ類は図中には示されていない。
ト側と蒸発源側とに上下に区切られており、ガイドベル
ト側の防着板111の開口部の領域が中央成膜部とな
り、その両端部の防着板111で遮蔽された領域が基板
ホルダー収容部となっている。そして、ガイドベルト1
08を駆動して基板ホルダー12を真空槽A内において
両端の基板ホルダー収容部の間を往復移動させるための
搬送駆動装置として、移動機構43は図示されない回転
導入機を介して動力を伝達され、ガイドベルト108を
走行させる(すなわち搬送駆動装置は、移動機構43、
ガイドベルト108、回転導入機、電源等で構成されて
いる)。尚、ガイドベルト108は移動機構43の回転
軸43a,43bに張架された2本のベルトからなり、
2本のベルトはレール状に所定の間隔を開けて配置され
ているため、蒸発源4からの蒸発物質の通過を妨げるこ
とはない。
内においてストッカ13に多段に配備され、上下に移動
させるための搬送駆動装置14により、1段づつ上下に
移動することができ、補助真空槽Bと真空槽Aの間を往
復移動させるための搬送駆動装置のガイドベルト109
上に移送される。そして、ゲートバルブDの開放時に補
助真空槽B内のガイドベルト109から真空槽A内のガ
イドベルト108に基板ホルダー12を移送することに
より、真空槽A内に基板ホルダー12を収容する。そし
て、移動機構43によりガイドベルト108を駆動し、
基板ホルダー12を、ガイドベルト108に沿って移動
させつつ成膜を行う。成膜終了後の基板ホルダー12は
ゲートバルブEの開放時に真空槽A内のガイドベルト1
08から補助真空槽C内のガイドベルト110に基板ホ
ルダー12を移送することにより、補助真空槽C内に基
板ホルダー12を収納する。そして、補助真空槽C内に
おいて基板ホルダー12はストッカ15に移送され、1
段づつ上下に移動することができる搬送駆動装置16に
より多段に収納される。
しており、真空槽内のガイドベルト、基板ホルダー、及
び蒸発源の配置例を示す平面図である。本実施例では図
3に示すように、複数の蒸発源4を上方を通過する基板
ホルダー12の進行方向に対して直交するように対向配
置することによって、蒸発と、蒸発物質のイオン化、活
性化による成膜を均一化し、膜質、膜厚等の均一化を行
うことが可能である。ここで、各蒸発源4はそれぞれ独
立に制御できる。
しており、基板ホルダー12とグリッド10の間に膜厚
補正板21を配置した例を示す平面図である。膜厚補正
板21は、基板の進行方向に対して部分的に遮蔽するよ
うに設定している。その形状については、蒸発源の形
状、配置、成膜状況等に応じて決定することが望まし
い。
しており、基板を背面から加熱できるように、真空槽内
を通過する基板ホルダー12を上方(背面)より加熱す
る基板加熱用ヒーター22を配備した例を示す図であ
る。図においてはヒーター22はランプヒーターである
が、基板ホルダー12に接触させ、伝導熱による加熱を
行う方式でも良い。このようにヒーター22による加熱
を行うことにより、基板上に吸着された水分等を放出さ
せ、密着性を向上させることができる。
しており、グリッドの搬送駆動装置及び交換機構を有す
る薄膜形成装置の概略要部構成図である。図6におい
て、真空槽Aと補助真空槽B,CはゲートバルブD,E
を介して接続されている。真空槽A内には上方から下方
に向けて順に、基板ホルダー12を支持・搬送する対電
極を兼ねたガイドベルト108と、回転軸43a,43
b等からなるガイドベルト108の移動機構43と、防
着板111と、グリッド用のガイドベルト112と、回
転軸53a,53b等からなるガイドベルト112の移
動機構と支持体兼用の電極9に保持された導電性のグリ
ッドストッパー10cと、フィラメント8と、蒸発源4
が適宜間隔を開けて設けられている。尚、本実施例の薄
膜形成装置は、図1に示した薄膜形成装置に、グリッド
の搬送駆動装置(ガイドベルト112,移動機構53
等)及び交換機構を付加したものであり、その他の構成
は図1の装置と同様である。
A内にあり、必要に応じてガイドベルト112に沿って
移動することにより、補助真空槽B内に移動できる。
尚、グリッド用のガイドベルト112は、回転軸53
a,53bに張架された2本のベルトからなり、2本の
ベルトはレール状に所定の間隔を開けて配置されている
ため、蒸発源4からの蒸発物質の通過を妨げることはな
い。また、グリッドホルダー10aを真空槽A内に導入
するとき、グリッドホルダー10aの形状は図7のごと
く円弧状の部分を有しており、またグリッドストッパー
10cは前記円弧状の部分に対応する凹んだ円弧状とな
っており、円弧状部分同士で確実に接続されるようにな
っている。尚、この円弧状の部分はテーパ状としても良
い。このようにグリッドホルダー10aの位置はグリッ
ドストッパー10cにより規定することができる。グリ
ッドホルダー10aには、グリッド10bが接続されて
いる。このグリッド10bは、蒸発物質を通過させうる
形状にその形状が定められているが、この例では網目状
である。
においてストッカ23に多段に配備され、上下に移動さ
せるための搬送駆動装置24により1段づつ上下に移動
することができ、補助真空槽Bと真空槽Aの間を往復移
動させるための搬送駆動装置のガイドベルト113上に
移送される。そして、ゲートバルブD開放時に補助真空
槽B内のガイドベルト113から真空槽A内のガイドベ
ルト112にグリッドホルダー10aを移送することに
より、真空槽A内にグリッドホルダー10aを収容し、
グリッドストッパー10cと接続する。ここで回転軸5
3a,53bの一部あるいは全部はセラミックス等の絶
縁物質で形成されており、真空槽Aとグリッド10bと
の電気的絶縁を維持できる構成となっている。
しており、フィラメントの搬送駆動装置及び交換機構を
有する薄膜形成装置の概略要部構成図である。図8にお
いて、真空槽Aと補助真空槽B,CはゲートバルブD,
Eを介して接続されている。真空槽A内には上方から下
方に向けて順に、基板ホルダー12を支持・搬送する対
電極を兼ねたガイドベルト108と、回転軸43a,4
3b等からなるガイドベルト108の移動機構43と、
防着板111と、グリッド10と、ガイドベルト11
4,回転軸63a,63b等からなるフィラメントホル
ダー8aの移動機構63と支持体兼用の電極7a,7b
に保持された導電性のフィラメントストッパー8cと、
蒸発源4が適宜間隔を開けて設けられている。尚、本実
施例の薄膜形成装置は、図1に示した薄膜形成装置に、
フィラメントの搬送駆動装置(ガイドベルト114,移
動機構63等)及び交換機構を付加したものであり、そ
の他の構成は図1の装置と同様である。
槽A内にあり、必要に応じてガイドベルト114に沿っ
て移動することにより、補助真空槽B内に移動できる。
尚、フィラメント用のガイドベルト114は、回転軸6
3a,63bに張架された2本のベルトからなり、2本
のベルトはレール状に所定の間隔を開けて配置されてい
るため、蒸発源4からの蒸発物質の通過を妨げることは
ない。また、フィラメントホルダー8aを真空槽A内に
導入するとき、フィラメントホルダー8aの形状は、図
9あるいは図10のごとく円弧状の部分を有しており、
またフィラメントストッパー8cは前記円弧状の部分に
対応する凹んだ円弧状となっており、円弧状部分同士で
確実に接続されるようになっている。尚、前記円弧状の
部分はテーパ状としても良い。このようにフィラメント
ホルダー8aの位置はフィラメントストッパー8cによ
り規定することができる。
ホルダー8aにはフィラメント8bが接続されている。
このフィラメント8bの形状は、複数本のフィラメント
線材を平行に配列して、蒸発源4から蒸発した蒸発物質
の粒子の広がりをカバーするように定められている。さ
らにフィラメントホルダー8aは図9、図10に示すよ
うに導電性の部分8aaと絶縁性の部分8abに分割さ
れており、フィラメント8bに通電可能な構造となって
いる。また、フィラメントストッパー8cは図9、図1
0に示すように絶縁性の部分8cbを中心とし、その両
脇に導電性の部分8caを配置した形のもので、導電性
の部分8caの位置は前記フィラメントホルダー8aの
導電性の部分8aaの位置に対応している。また、フィ
ラメントストッパー8cの両脇の導電性の部分8caは
それぞれ支持体兼用の電極7a,7bに接続されてお
り、電極7a,7bはそれぞれ直流電源19の正極側と
負極側に接続されている。従って、フィラメントホルダ
ー8aの導電性の部分8aa同士の間で電流を流すこと
ができ、フィラメント8bに通電することができるよう
になっている。
内においてストッカ33に多段に配備され、上下に移動
させるための搬送駆動装置34により、1段づつ上下に
移動することができ、補助真空槽Bと真空槽Aの間を往
復移動させるための搬送駆動装置のガイドベルト115
上に移送される。そして、ゲートバルブD開放時に補助
真空槽B内のガイドベルト115から真空槽A内のガイ
ドベルト114にフィラメントホルダー8aを移送する
ことにより、真空槽A内にフィラメントホルダー8aを
収容し、フィラメントストッパー8cと接続する。ここ
で回転軸63a,63bの一部あるいは全部はセラミッ
クス等の絶縁物質で形成されており、真空槽Aとフィラ
メント8bとの電気的絶縁を維持できる構成となってい
る。
成の例として、図1に示した装置例による薄膜形成につ
いて説明する。図1において、まず、蒸発源4に蒸発物
質を構成する母材をセットする。この蒸発物質を構成す
る母材、及び真空槽内に導入されるガス種の組合せは、
勿論どのような薄膜を形成するかに応じて選定する。例
えば、In2O3薄膜を形成する場合には蒸発物質として
In、導入ガスとして酸素を選択することができる。
予め10~5〜10~6Torrの圧力にされ、これに、必
要に応じて、活性ガス、もしくは不活性ガス、あるい
は、これらの混合ガスが必要とする圧力(例えば10~4
〜10~6Torr)で導入される。ここでは、説明の具
体性のため、導入ガスは、例えば、酸素などの活性ガス
であるとする。この状態において電源を作動させ、蒸発
源4、フィラメント8に通電することにより、蒸発源4
からは蒸発物質が蒸発し、フィラメント8には電流が流
され、フィラメント8は抵抗加熱により加熱され、熱電
子を放出する。また、グリッド10には対電極(ガイド
ベルト108及び基板ホルダー12)やフィラメント8
の電位に対して正の電位が印加される。
もって基板の側へ向かって飛行するが、その一部、及
び、前記導入ガスはフィラメント8より放出された熱電
子との衝突によって外殻電子が弾き出され、正イオンに
イオン化される。このように、一部イオン化された蒸発
物質はグリッド10を通過するが、その際、前記のよう
に、グリッド10の近傍において上下に振動運動する熱
電子及び、前記イオン化された導入ガスの衝突により、
さらにイオン化率が高められる。このようにして、正イ
オンにイオン化された蒸発物質は、グリッド10を通過
し、さらに、イオン化されたガスにより正イオン化を促
進され、グリッド−基板間の電界の作用により基板に向
かって加速され、基板に高エネルギーをもって衝突付着
する。この際、酸素ガスも活性化されているので、非常
に密着性の良い酸化薄膜が形成される。熱電子は最終的
には、その大部分がグリッド10に吸収され、一部の熱
電子はグリッド10を通過するが、グリッド10と基板
との間で、前記電界の作用によって減速されるので、仮
に基板に到達しても、同基板を加熱するには到らない。
真空槽A内において両端の基板ホルダー収容部の間を移
動させつつ成膜を行う。また、成膜速度と目標膜厚に応
じて往復移動させつつ成膜を行うことも可能である。こ
れにより、成膜時に基板上の進行方向に並ぶ各点が同一
の場所を通過するために、均一な成膜が可能となる。さ
らに、補助真空槽B,C内において多段に配備された基
板ホルダー12を上下に移動させ、新たな基板ホルダー
を真空槽Aと両端の補助真空槽B,Cの間で移動させる
ことができるため、新たに基板をセットする度に真空槽
A内を大気開放する必要がなく、高い生産性を実現する
ことができる。
質のイオン化率が極めて高いため、真空槽内に活性ガス
を単独で、あるいは不活性ガスと共に導入して成膜を行
うことにより、蒸発物質と活性ガスを化合させ、この化
合により化合物薄膜を形成する場合にも、所望の物性を
有する薄膜を容易に得ることができる。尚、真空槽内の
ガスのイオン化にはフィラメントによる熱電子が有効に
寄与するので10~4Torr以下の圧力の高真空下にお
いても蒸発物質のイオン化が可能であり、このため、薄
膜の構造も極めて緻密なものとすることが可能であり、
通常、薄膜の密度はバルクのそれより小さいとされてい
るが、本発明によれば、バルクの密度に極めて近い密度
が得られることも大きな特徴の一つである。さらに、こ
のような高真空下で成膜を行えることにより、薄膜中へ
のガス分子の取り込みを極めて少なくすることができ、
高純度の薄膜を得ることができる。また、本発明では、
大面積基板上への均一な低温成膜を高い生産性で行うこ
とができるため、例えば、液晶パネルのIn2O3透明電
極作製において特に有効である。
装置によれば、蒸発物質がイオン化し、高いエネルギー
を電気的に有する(電子・イオン温度)ので、反応性を
必要とする成膜、結晶化を必要とする成膜を温度(反応
温度、結晶化温度)という熱エネルギーを与えずに実現
できるので低温成膜が可能となる。従って、耐熱性のな
いプラスチックフィルムなどを基板に使用することがで
きる。さらに、本発明の薄膜形成装置では、ガイド部材
を搬送駆動装置で駆動して基板ホルダーを真空槽内にお
いて両端の基板ホルダー収容部の間を移動させつつ成膜
を行うことができ、また、成膜速度と目標膜厚に応じて
往復移動させつつ成膜を行うことも可能であるため、成
膜時に、基板上の進行方向に並ぶ各点が同一の場所を通
過するために、均一な成膜が可能となる。また、補助真
空槽内において多段に配備された基板ホルダーを上下に
移動させ、新たな基板ホルダーを真空槽と両端の補助真
空槽の間で移動させることができるため、新たに基板を
セットする度に真空槽内を大気開放する必要がなく、高
い生産性を実現することができる。従って、複数の大型
基板にも高い生産性で成膜を行うことができる。
の蒸発源を上方を通過する基板の進行方向に対して直交
するように対向配置したことによって、蒸発と、蒸発物
質のイオン化、活性化による成膜を均一化し、膜質、膜
厚等の均一化を行うことができる。
とグリッドの間に膜厚補正板を配置したことにより、膜
厚の分布をより均一化できる。
槽内を通過する基板を上方(背面)より加熱する基板加
熱用ヒーターを設け、ヒーターによる加熱を行うことに
より、基板上に吸着された水分等を放出させ、密着性を
向上させることができる。
の補助真空槽内にグリッドの収納部を有し、グリッドの
搬送・交換機構を有するため、必要に応じてグリッドを
真空槽と補助真空槽の間で移動させることができる。こ
れにより、グリッド上への蒸発粒子の付着による被膜の
形成によって放電が不安定となり、困難であった成膜回
数の増大が、基板及び真空槽内を大気に晒すことなく補
助真空槽においてグリッドを交換することによって可能
となる。
の補助真空槽内にフィラメント収納部を有し、フィラメ
ントの搬送・交換機構を有するため、必要に応じてフィ
ラメントを真空槽と補助真空槽の間で移動させることが
できる。これにより、活性ガス中での通電加熱によるフ
ィラメントの消耗や、Alなどフィラメントを構成して
いる材質を侵す作用のある材料を蒸発材料に用いたとき
のフィラメントの消耗が問題となり困難であった成膜回
数の増大が、基板及び真空槽内を大気に晒すことなく補
助真空槽において適宜新しいフィラメントに交換するこ
とによって可能となる。
概略構成図である。
ドベルト、基板ホルダー、及びストッカの配置例を示す
平面図である。
空槽内のガイドベルト、基板ホルダー、及び蒸発源の配
置例を示す平面図である。
板ホルダーとグリッドの間に膜厚補正板を配置した例を
示す平面図である。
板ホルダーを上方(背面)より加熱する基板加熱用ヒー
ターを配備した例を示す図である。
リッドの搬送駆動装置及び交換機構を有する薄膜形成装
置の概略要部構成図である。
ホルダー及びグリッドストッパーの一例を示す平面図で
ある。
ィラメントの搬送駆動装置及び交換機構を有する薄膜形
成装置の概略要部構成図である。
ントホルダー及びフィラメントストッパーの一例を示す
平面図である。
メントホルダー及びフィラメントストッパーの別の例を
示す平面図である。
イドベルト 111:防着板 112:真空槽内のグリッドホルダー移動用ガイドベル
ト 113:補助真空槽内のグリッドホルダー搬送用ガイド
ベルト 114:真空槽内のフィラメントホルダー移動用ガイド
ベルト 115:補助真空槽内のフィラメントホルダー搬送用ガ
イドベルト A:真空槽 B,C:補助真空槽 D,E:ゲートバルブ
Claims (6)
- 【請求項1】活性ガスもしくは不活性ガスあるいはこれ
ら両者の混合ガスが導入される真空槽と、この真空槽内
において蒸発物質を蒸発させるための蒸発源と、上記真
空槽内に配置され基板を上記蒸発源に対向するように保
持する基板ホルダーを支持・搬送するガイド部材からな
る対電極と、上記蒸発源と対電極との間に配備された蒸
発物質を通過させうるグリッドと、上記グリッドと上記
蒸発源との間に配置された熱電子発生用のフィラメント
と、上記グリッドの電位を上記対電極の電位と上記フィ
ラメントの電位に対し正電位とする手段と、上記真空槽
の両端に接続した基板ホルダー収納用の補助真空槽と、
上記基板ホルダーを上記3つの真空槽の間で移動させる
手段を有し、上記真空槽は中央成膜部とその両端部に基
板ホルダー収容部を有し、上記ガイド部材を駆動して上
記基板ホルダーを真空槽内において両端の基板ホルダー
収容部の間を往復移動させるための搬送駆動装置を有
し、上記補助真空槽内において多段に配備された基板ホ
ルダーを上下に移動させるための搬送駆動装置及び補助
真空槽と真空槽の間を往復移動させるための搬送駆動装
置を有し、上記補助真空槽内において2つの搬送駆動装
置の間での基板ホルダーの受け渡しを行うことを特徴と
する薄膜形成装置。 - 【請求項2】請求項1記載の薄膜形成装置において、複
数の蒸発源を上方を通過する基板の進行方向に対して直
交するように対向配置することを特徴とする薄膜形成装
置。 - 【請求項3】請求項1及び2記載の薄膜形成装置におい
て、基板とグリッドの間に膜厚補正板を配置することを
特徴とする薄膜形成装置。 - 【請求項4】請求項1記載の薄膜形成装置において、真
空槽内を通過する基板を上方より加熱する基板加熱用ヒ
ーターを配備することを特徴とする薄膜形成装置。 - 【請求項5】請求項1記載の薄膜形成装置において、一
方の補助真空槽内にグリッド収納部を設け、上記グリッ
ドと蒸発源の間の位置関係を規定する手段と、上記補助
真空槽内において多段に配備されたグリッドを上下に移
動させるための搬送駆動装置及び補助真空槽と真空槽の
間を往復移動させるための搬送駆動装置を有し、上記補
助真空槽内において2つの搬送駆動装置の間でのグリッ
ドの受け渡しを行うことを特徴とする薄膜形成装置。 - 【請求項6】請求項1記載の薄膜形成装置において、一
方の補助真空槽内にフィラメント収納部を設け、上記フ
ィラメントと蒸発源の間の位置関係を規定する手段と、
上記補助真空槽内において多段に配備されたフィラメン
トを上下に移動させるための搬送駆動装置及び補助真空
槽と真空槽の間を往復移動させるための搬送駆動装置を
有し、上記補助真空槽内において2つの搬送駆動装置の
間でのフィラメントの受け渡しを行うことを特徴とする
薄膜形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12386195A JP3833284B2 (ja) | 1995-05-23 | 1995-05-23 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12386195A JP3833284B2 (ja) | 1995-05-23 | 1995-05-23 | 薄膜形成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08319559A true JPH08319559A (ja) | 1996-12-03 |
JP3833284B2 JP3833284B2 (ja) | 2006-10-11 |
Family
ID=14871209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12386195A Expired - Fee Related JP3833284B2 (ja) | 1995-05-23 | 1995-05-23 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3833284B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014156567A1 (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-02 | 株式会社アツミテック | スパッタリング装置 |
-
1995
- 1995-05-23 JP JP12386195A patent/JP3833284B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014156567A1 (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-02 | 株式会社アツミテック | スパッタリング装置 |
JP2014189866A (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Atsumi Tec:Kk | スパッタリング装置 |
CN105074048A (zh) * | 2013-03-28 | 2015-11-18 | 株式会社渥美精机 | 溅射装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3833284B2 (ja) | 2006-10-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1308689C (en) | Method and apparatus for forming a thin film | |
US4982696A (en) | Apparatus for forming thin film | |
US4960072A (en) | Apparatus for forming a thin film | |
JP2834797B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP3833284B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP2843125B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH11335832A (ja) | イオン注入方法及びイオン注入装置 | |
JPS63472A (ja) | 真空成膜装置 | |
JP3717575B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH0250954A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP2843126B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH059717A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP2971541B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH059716A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH04165065A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP2716715B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH01177366A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH0375360A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH03219077A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP2892047B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH0499169A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH01177365A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH0421772A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH04221066A (ja) | 薄膜蒸着装置 | |
JPH02285070A (ja) | 薄膜形成装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040116 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040203 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20040405 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060718 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20060719 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 3 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090728 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100728 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110728 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |