JPH0831531A - 電子装置の試験ソケット用接点案内・保持モジュール及び電子装置の試験ソケット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 経済的に製造でき、端子間の隔壁を比較的厚
くすることのできる電子装置の試験ソケット用接点案内
・保持モジュールを提供する。 【構成】 第１接点支持構造体１２２と第２接点支持構
造体１２４にギヤ状の歯を設ける。接点１２６,１２８
の端子１４２を、両接点支持構造体１２２,１２４の噛
み合った歯の間で千鳥配置する。一方の接点支持構造体
の歯が他方の接点支持構造体の谷を部分的に満たすよう
にして、接点１４２を収容して案内するポケットを各歯
間の谷に形成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、一般に、密集したコン
タクトパッドを有するテープ自動ボンディング（ＴＡ
Ｂ）の非常に大規模な集積回路（ＩＣ）のバーンイン電
気試験に使用される試験ソケットに関する。

【０００２】

【従来の技術】ＴＡＢ型ＩＣデバイスすなわち導線なし
のチップキャリヤのリードの数が多くなると、各接点を
ＴＡＢ型試験パッドに対して確実に電気的接触させるの
に十分な強い力で圧接させるために、ソケットの構造面
で独特の問題が生じる。全接点の力は累積的なものであ
り、ソケットの強度はこれに耐えるものでなければなら
ない。ソケットには、ＴＡＢ型ＩＣデバイスを電子試験
装置の外側部分に接続するために十分な本数の接点を設
けなければならない。さらに、ＴＡＢ型ＩＣデバイスを
正確な位置に重ね合わせ、熱膨張により変形しても接触
状態が維持されるように接点の配置とたわみを調節し、
一連の熱サイクルの間中、確実に電気接続させるのに十
分な高レベルの力を発生させる手段をソケットに設けな
ければならない。

【０００３】そのようなバーンイン試験ソケットの一例
が、本発明の譲受人に譲渡され参考としてここに取り込
まれた米国特許第４,９８６,７６０号に示されている。
このソケットは、接点のボデーの接触端を千鳥配置する
コーム状の接点支持部材を有している。接点支持部材
は、接点の先端を案内するとともにある接点を他の接点
から電気的に絶縁する薄く成形されたリブを隣合う接点
間に有している。この従来のソケットの接点支持部材
は、接点のボデーが、ＴＡＢ型ＩＣデバイスと接触する
先端から交互に反対方向に延び出すような構造を有して
いる。この構造には、正方形や長方形のＴＡＢ型ＩＣデ
バイスの４辺で接触させるために、接点を直角に数本の
列に並べなければならないという困難が伴う。接点のボ
デーの半分は直角パターンの中心に向かって延びている
ので、ある列の接点のボデーは、所望の直角パターンの
コーナーにおいて、他の列の接点のボデーと重なって干
渉し合う。その結果、直角パターンのコーナーでは何本
かの接点を取り除かなければならない。

【０００４】さらに、上記特許のソケットの構造は、薄
く成形したリブを隣合う接点間に設けなければならない
という点において、制限されている。新出のＴＡＢデバ
イスにより接点の間隔を減少する必要が生じると、接点
間のこの分離リブはあまりにも薄くなって確実に成形す
ることが不可能となり、接点の先端を所望の位置に案内
して保持するのに十分な強度が備わらなくなる。

【０００５】

【発明の要旨】ＴＡＢ型ＩＣデバイス用の従来の試験ソ
ケットに伴う欠点を克服するために、本発明によれば以
下の構造の試験ソケットが提供される。本発明に係る試
験ソケットは、突出したテーパー状のリブと隣合うリブ
間の谷とにより形成される直線的なギヤ状歯を含む第１
接点支持構造体と、第１接点構造体内に配置された、突
出した先端を有する接点とを備えている。接点は、隣合
うそれら接点の先端の一方が隣合うリブ間の谷の中に入
り、他方は第１接点支持構造体の突出したリブと位置を
合わせて配置されている。さらに本発明に係る試験ソケ
ットは、突出したテーパー状のリブと隣合うリブ間の谷
とにより形成される直線的なギヤ状歯を含む第２接点支
持構造体を備えている。第１接点支持構造体と第２接点
支持構造体の各歯が噛み合った状態で、一方の接点支持
構造体のリブが他方の接点支持構造体のリブ間の谷の中
に部分的に入り込み、接点の先端を収容するとともに収
容されたその先端を案内するポケットが、第１接点支持
構造体の谷と第２接点支持構造体の谷とに形成されてい
る。２つの接点支持構造体の歯がリブ間の谷からテーパ
ー状に形成されていて平坦な端部で終結し、この歯の平
坦な端部と歯間の谷とにより接点の先端用のポケットが
形成されることが好ましい。

【０００６】

【実施例】以下に、添付図面に示した本発明に係る実施
例について詳細に説明する。なお、各図中、同じ符号は
同じ部分を示している。

【０００７】米国特許第４,９８６,７６０号に係るソケ
ット１０は、ベース１１と蓋すなわちカバー１２とを有
している。蓋１２は、協働する耳部１３,１４とヒンジ
ピン１５によりベース１１にヒンジで取り付けられてい
る。スプリング１６が蓋１２を通常の起立位置に付勢す
る。蓋１２は、ピボット式の爪１７により閉じたラッチ
位置に保持される。爪１７は、ピン１９によりベースの
反対側で耳部１８に対して回動し、ねじりばね（図示せ
ず）により図１,２,５に示すように蓋１２の左側エッジ
のリップを覆うラッチ位置に付勢される。

【０００８】ベース１１は、金属もしくはガラス強化ポ
リスルホン等の絶縁材料よりなる、機械加工もしくは成
形されたフレーム２５を有している。フレームは、そこ
に形成された耳部１４,１８と、上面２６と底面２７と
を有している。図３に示されるように、フレーム２５
は、間隔を開けて対称に配置された開口部３１,３２,３
３,３４に取り囲まれた中央の長方形の開口部３０を有
しており、それら開口部の間には細くて厚い荷重支持ビ
ーム３５が形成されている。各ビーム３５は、中央に配
置された位置決め手段として突出部３６を有している。
ビーム３５の上面と開口部３１,３２,３３,３４の端部
は、その全体を参照符号４０で示したくし状接点部材を
受けるためにわずかにくぼんでいる。さらにフレーム２
５には開口部３０のコーナー位置に位置決めタワー４１
が直立して設けられている。各タワー４１は、ベースカ
バープレート５０（図４）の開口部内に配置される６角
形のベースと、それよりも小さな略正方形で、対角線上
にスロット４２が形成された上部と、タワー４１を垂直
方向に貫通する開口部４４とを有している。

【０００９】図２,５に最も良く示すように、スロット
４２は、参照符号２０で示すキャリヤのピン（図示せ
ず）を受けるために形成されている。これらスロット
は、キャリヤをフレーム２５と正確に位置決めするため
に配置されている。あるいは、キャリヤ２０のいくつか
に、位置決めピンを受ける穴を設けてもよい。この場合
には、そのような位置決めピンを開口部４４に取り付け
ることができる。キャリヤ２０を正しい方向性で配置す
るためにピン４５が配置されている。ピン４５はベース
フレーム２５に取り付けられており、キャリヤの縁部の
エッジのくぼみに受けられるようになっている。フレー
ム２５のその他の開口部は、ベースカバープレート５０
をくし状接点部材４０を覆ってフレーム２５に固定する
とともにフレーム２５を試験装置のプリント回路板に固
定するために使用されるプリント回路板取り付けスクリ
ューを入れるために形成されている。

【００１０】カバープレート５０は、上面２６に載り、
図４に示すようにくし状接点部材４０の上部が貫通する
開口部５１を有している。但し、プレート５０はくし状
接点部材４０の端部のタブと係合し、それらがビーム３
５から持ち上がるのを阻止している。プレート５０は、
位置決めピン４５を受ける３つの穴５２と、中央開口部
５３と、タワーを受ける穴と、アセンブリ締結具を受け
る穴とを有している。

【００１１】くし状接点部材４０は、図６,７,８により
明瞭に示している。部材４０は、コーム５５と複数本の
接点とを有している。図に示す接点は、３つの異なる形
状を有しており、参照符号５６,５７,５８で識別されて
いる（図７）。接点５６,５７,５８は、ピン６０,６１,
６２がそれぞれ異なる位置に配置されているという点を
除けば、同様の全体形状を有している。

【００１２】コーム５５は、好ましくは強度の大きな高
分子の電気絶縁材料より、機械加工もしくは成形されて
おり、中央に配置された上側の壁６４を備えている。壁
６４は、両端を有し、その両端間においてコーム５５の
略長手方向に延びている。壁６４は、互いに離れた垂下
脚部６５,６６により形成される上部、両側部、及びベ
ースを有している。脚部６５,６６は、棚部６７,６８を
形成する反対方向外側に突出した足部を有しており、棚
部６７,６８の上面と底面は、接点５６,５７,５８に対
する係留手段を形成している。壁６４は、互いに離れた
薄い隔壁すなわちガセット６９によりベース１１から両
側で支持されており、棚部６７,６８は、同様に並んだ
隔壁７０,７１をその上面と底面それぞれに有してい
る。この隔壁７０,７１の間に接点５６,５７,５８が配
置されている。壁６４の両端にはタブ７２が配置されて
おり、このタブ７２は、上記のようにベースカバープレ
ート５０と接触できるように延びている。脚部６５,６
６は互いに分かれており、ビーム３５を受けるのに十分
大きな溝がそれらの間に形成されている。脚部６５,６
６の側面に沿って互いに離れて配置されているのが円筒
形の突出部７５である。これら突出部は互いに平行であ
り、ビーム３５の両面と線接触して支持コーム５５をビ
ーム３５に対して正確に配置する。コーム５５のベース
の中心には、コーム５５をビーム３５に対して長手方向
に配置するための突出部３６を受けるくぼみ７６が形成
されている。

【００１３】各接点５６,５７,５８は、ＴＡＢ型デバイ
スすなわちキャリヤ上のコンタクトパッドに圧接する接
触端８０と、接触端８０が移動可能な中間ボデー部８１
と、電子試験装置の一部であるプリント回路板と接続す
る接続端をなすピン６０,６１,６２とを有している。接
触端８０は、コーム５５の壁６４に対して接触端８０を
実質的に直線運動させ得る中間部８１の第１弧状可撓部
８３に接続した直線部８２を有している。第１可撓部８
３は、コーム５５の壁６４に対して接触端８０を移動さ
せ得る反対側に湾曲した第２弧状可撓部８４につながっ
ている。接触端が図７に示す通常の湾曲していない位置
から図５に示す湾曲した位置まで完全に直線方向に運動
するように、好ましくは約０.００２インチ（０.０５ｍ
ｍ）水平移動するように端８０と壁６４の形状が定めら
れており、ＴＡＢ型デバイスすなわちキャリヤの試験パ
ッドに適当なワイパー作用をしてパッドに堆積している
虞れのある酸化物を取り除くようになっている。さらに
中間部８１は、接点をコーム５５に係留する手段をなす
接点係留部分を有している。この中間ボデー部８１の係
留部分は、互いに離れた一対の片持ち式のビーム８６,
８７を有しており、その一方は足部すなわち棚部６７も
しくは６８の上面と係合し、他方８７はその棚部の底部
と係合している。ビーム８６には、棚部の上部と機械的
に係合し、互いに離れた２つの隔壁６９,７０,７１間に
おいて接点をコームに対して固着させやすくするかかり
８８が形成されている。ピン６０,６１,６２により、接
点をプリント回路板やソケットあるいは他の接点等電子
装置の一部に接続する手段が形成されている。

【００１４】図５に示すように、ＴＡＢ型デバイスすな
わちキャリヤのパッドを接点の接触端８０の方へ垂直方
向直線状に力強く移動させ、接点５６,５７,５８と十分
に電気的接触させる手段が蓋１２に設けられている。蓋
１２は、長方形の中央開口部９１と、開口部９１を取り
囲む上面の円形のくぼみ９２とを有する長方形のフレー
ム９０を備えている。フレームのくぼみ９２内の互いに
間隔の開いた穴にスプリング９４が収納されている。フ
レーム９０は、耳部１３を支持するとともに、爪１７を
受けるリップを備えている。くぼみ９２内に配置されて
いて長方形の開口部９１を貫通しているのは、垂下リブ
９６を有する円形のプレート９５である。各リブ９６
は、所定平面内の平坦な面において終結しており、ＴＡ
Ｂ型デバイスすなわちキャリヤにおける、パッドと相対
する表面に接触している。プレート９５の反対側の面に
は、複数の弧状の傾斜面すなわちカム面９８が形成され
ている。プレート９５の傾斜面９８の上方に配置されて
いるのは、平坦なディスク形状をなすアクチュエータ部
材１００である。アクチュエータ部材１００は、一方の
エッジから径方向外側に延びるレバー１０１と、そこに
固定されたノブ１０２とを有している。ディスク１００
は、傾斜面９８の上方に配置された中央開口部１０４
と、互いに間隔の開いたスロット１０５とを有してい
る。各スロット１０５は、アクチュエータディスク１０
０の回転時に、傾斜面９８と係合してプレート９５を垂
直移動させる一対の円筒形ローラ１０９を収納してい
る。アクチュエータ１００の上方への移動を阻止するた
めにフレーム９０の上方には上プレート１１０が取り付
けられている。従って、アクチュエータ１００の回転移
動は、傾斜面を通じ、スプリング９４のばね力を受けな
がら、プレート９５の垂直移動に変換される。上プレー
ト１１０はプリント回路板締結用スクリューによりベー
スすなわちフレーム９０に固定されており、両者は互い
に確実に保持されている。

【００１５】プレート９５の垂直移動により、ＴＡＢ型
デバイスすなわちキャリヤは、ビーム３５上でコーム５
５内に支持されている接点５６,５７,５８の接触端に対
して移動する。コーム５５を中央部で取り付けているこ
とにより、コーム５５がビーム３５の中央突出部３６か
ら長手方向に伸びることは制限され、ビーム３５の一切
の運動はその同じ中心点３６に対して長手方向に生じ
る。接点５６,５７,５８の接触端８０は図示するように
実質的に垂直方向に移動するので、接点５６,５７,５８
によるＴＡＢ型デバイスの座屈やその他のたわみは抑制
される。

【００１６】以上ソケット１０に関して説明した。この
ソケット１０は、ＴＡＢ型ＩＣデバイスの試験において
非常に有用であることが証明されているが、いくつかの
欠点も持っている。例えば、図７に最も良く示されてい
るように、接点５６,５７,５８は接触端８０の位置から
反対方向に延びている。これは、直角配列のコーナー部
では接触端８０が互いにそれほど近くには接近できない
ことを意味する。このことは、図１に非常にはっきりと
示されている。さらに、将来において接点の間隔を縮め
ることは隔壁６９,７０の厚さが成形が不可能なほどの
薄さにまで小さくなるので、困難であろう。

【００１７】図９,１０,１１に、上記のようなソケット
１０内で都合良く使用できる、その全体を参照符号１２
０で示した本発明に係る接点案内・保持モジュールを表
している。モジュールは、その中に配置された接点１２
６,１２８を保持できるように協働する互いに等しい２
つの接点支持構造体１２２,１２４を有している。

【００１８】各接点支持構造体１２２,１２４は、ほぼ
平坦なベース１３０と、ベース１３０の中心に沿って走
行していて接点１２６,１２８の一端を保持する、溝の
付いた稜線状隆起１３２と、ラックギヤと同質のギヤ状
歯１３６を含む直立壁１３４と、直立壁１３４のギヤ状
歯１３６と同様の歯１４０を有する、ベース１３０の平
坦拡大端１３８とを備えている。

【００１９】接点１２６,１２８は、スプリング部１４
４,１４６に接続する延伸した端子１４２を有してい
る。このスプリング部１４４,１４６が、端子１４２を
ＴＡＢ型ＩＣデバイスに対応させ、端子１４２とＩＣと
を確実に十分に電気的接触させるのに必要な上向きの力
をもたらす。接点１２６,１２８は、それらのベース１
４８,１５０がスプリング部１４６からそれぞれ反対方
向に延びているという点において、２タイプのものから
なっている。

【００２０】図１１に最も良く示されているように、ギ
ヤ状歯１３６,１４０は、その間の谷から延びた突出部
として形成されている。この谷は、上方から見ると略長
方形をなしており、歯１３６,１４０は、切頭の平坦な
端部１５４で終結するテーパー面１５２を有している。

【００２１】端子１４２が歯１３６間の谷内に歯１３６
の端部１５４に対して千鳥配置されるように、接点１２
６,１２８は接点支持構造体１２２内に並べられてい
る。他方の接点支持構造体１２４を第１の接点支持構造
体１２２に取り付けると、各接点支持構造体１２２,１
２４の壁すなわち歯１３６と拡大端１３８が図１１に示
すように互いに係合した状態で、接点支持構造体１２
２,１２４のテーパー面１５２が接触する。

【００２２】歯１３６,１４０は突出部間の谷内を完全
には満たしておらず、残った部分にポケット１５６が形
成され、端子１４２は、ポケットに保持・案内されると
ともにその長手方向に沿って出し入れ可能になってい
る。接点の端子１４２は、接点１２６,１２８のスプリ
ング部１４４,１４６により突出位置の方へ付勢されて
いる。

【００２３】図１２は、歯１６０,１６２が図１１の歯
１３６のような二段階傾斜構造ではなく連続的なテーパ
ー側面１６４,１６６を有する、本発明に係る変形例を
示している。この構造によりポケット１６８の形状は先
に図示したものよりも三角形に近くなるが、ポケット１
６８は必要に応じて接点の端子１４２を適切に案内す
る。図１２より、歯の形状は多様に変形できることが分
かる。

【００２４】図１０に示すような４つのモジュール１２
０を図１〜８に示すものと同様のソケット内の（上記開
口部３１〜３４と同様の）くぼみの中に据え付け、長方
形のＩＣに対応する長方形のグリッドを形成することが
できる。本発明に係るモジュール１２０の大きな利点
は、接点のベース１４８,１５０がすべて端子１４２の
位置から一方向に延びているので、図１〜８に関して記
載したような従来の接点構造を使用する場合よりも、長
方形のコーナーにおいてモジュール１２０を互いに接近
させることができるということである。

【００２５】以上、単一の部材に２つの機能を持たせて
いるので経済的に製造でき、かつ接点の端子を千鳥配置
して接点を分ける部分を比較的厚くできるために非常に
頑丈で成形容易な試験ソケット用接点案内・保持モジュ
ールに関して説明した。さらに、接点の端子をモジュー
ルの片側から延ばすことにより、端子を同じタイプの別
のモジュールにかなり接近させることができる。

【００２６】本発明をただ１つの実施例に関して記載し
たが、当該技術分野において通常の知識を有する者であ
れば、本発明に多くの変形をなすことができることが明
らかであろう。例えば、図１〜８に関して説明したソケ
ット１０はモジュール１２０を使用できるタイプのソケ
ットの一例を示しているに過ぎず、その他のソケットで
も多くのものから本発明の効果が得られる。ＴＡＢタイ
プのデバイスではなくリード線付で使用されるソケット
でも、デバイスのリード線を接点の先端に対して圧接さ
せる手段がソケットのカバーに設けられていれば、本発
明により利益を得ることができる。ソケットに使用でき
るモジュールの数や並べ方は限定されておらず、それら
は、ソケットに収容されるデバイスの形状のみに左右さ
れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 従来の技術に係るソケットの平面図である。

【図２】 図１のソケットの側面図であり、キャリヤ装
置がソケット内に挿入されていてくし状接点部材が取り
外された状態を示している。

【図３】 図１のソケットのベースの平面図であり、ベ
ースカバープレートを取り外した状態で４つのくし状接
点部材中３つを示している。

【図４】 図１のソケットに使用されるベースフレーム
カバープレートの平面図である。

【図５】 図１の５−５線断面図である。

【図６】 図１のソケットのくし状接点部材の拡大平面
図である。

【図７】 図６のソケットのくし状接点部材の横断面図
である。

【図８】 図６のソケットのコームの部分縦断面斜視図
である。

【図９】 本発明に係る接点支持構造体を、数本の接点
とともに示す斜視図である。

【図１０】 図９の接点支持構造体を含む接点案内・保
持モジュールの斜視図である。

【図１１】 図１０の接点案内・保持モジュールの部分
平面図である。

【図１２】 本発明の変形例に係る接点案内・保持モジ
ュールの部分平面図である。

【符号の説明】

１０ ソケット １１,１３
０ ベース １２ 蓋 １３,１４,
１８ 耳部 １５ ヒンジピン １６,９４
スプリング １７ ピボット爪 １９,６０,
６１,６２ ピン ２０ キャリヤ ２５ ベー
スフレーム ２６ 上面 ２７ 底面 ３０,３１,３２,３３,３４,４４,５１ 開口部 ３５ ビーム ３６,７５
突出部 ４０ くし状接点部材 ４１ 位置
決めタワー ４２,１０５ スロット ４５ 位置
決めピン ５０ ベースカバープレート ５２ 穴 ５３,９１,１０４ 中央開口部 ５５ コー
ム ５６,５７,５８,１２６,１２８ 接点 ６４ 上側
の壁 ６５,６６ 垂下脚部 ６７,６８
棚部 ６９,７０,７１ 隔壁 ７２ タブ ７６,９２ くぼみ ８０ 接触
端 ８１ 中間部 ８２ 直線
部 ８３ 第１可撓部 ８４ 第２
可撓部 ８６,８７ 片持ちビーム ８８ かか
り ９０ フレーム ９５ プレ
ート ９６ リブ ９８ 傾斜
面 １００ アクチュエータ部材 １０１ レ
バー １０２ ノブ １０９ ロ
ーラ １１０ 上プレート １２０ 接
点案内・保持モジュール １２２,１２４ 接点支持構造体 １３２ 稜
線状隆起 １３４ 直立壁 １３６,１
４０,１６０,１６２ 歯 １３８ ベースの端部 １４２ 端
子 １４４,１４６ スプリング部 １４８,１
５０ 接点のベース １５２,１６４,１６６ テーパー面 １５４ 端
部 １５６,１６８ ポケット

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジュアン・パブロ・リオス アメリカ合衆国55144−1000ミネソタ州セ ント・ポール、スリーエム・センター（番 地の表示なし)

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 突出したテーパー状のリブと隣合う該リ
   ブ間の谷とにより形成される直線的なギヤ状歯（１３
   ６）を有する第１接点支持構造体（１２２）と、 上記第１接点支持構造体（１２２）内に配置された、突
   出した先端（１４２）を有する接点（１２６,１２８）
   とを備え、 上記接点（１２６,１２８）は、隣合う該接点（１２６,
   １２８）の先端の一方が隣合う上記リブ間の谷内に入れ
   られ他方が上記第１接点支持構造体（１２２）の突出し
   たリブと位置を揃えて配置されており、 さらに、突出したテーパー状のリブと隣合う該リブ間の
   谷とにより形成される直線的なギヤ状歯（１４０）を有
   する第２接点支持構造体（１２４）を備え、 上記第１接点支持構造体（１２２）と上記第２接点支持
   構造体（１２４）の各歯が噛み合った状態で、一方の上
   記接点支持構造体のリブが他方の上記接点支持構造体の
   リブ間の谷の中に部分的に入り込み、上記接点の先端
   （１４２）を収容するとともに収容された該先端（１４
   ２）を案内するポケット（１５６）が、上記第１接点支
   持構造体（１２２）の谷と上記第２接点支持構造体（１
   ２４）の谷とに形成されたことを特徴とする電子装置の
   試験ソケット用接点案内・保持モジュール。
2. 【請求項２】 上記第１接点支持構造体（１２２）の歯
   （１３６）と上記第２接点支持構造体（１２４）の歯
   は、該歯間の谷からテーパー状に形成され平坦な表面で
   終結していることを特徴とする請求項１記載の接点案内
   ・保持モジュール。
3. 【請求項３】 上記第１接点支持構造体（１２２）と上
   記第２接点支持構造体（１２４）は同一であり、該第１
   接点支持構造体と該第２接点支持構造体との間に上記接
   点を保持するように噛み合うことを特徴とする請求項１
   記載の接点案内・保持モジュール。
4. 【請求項４】 長方形に並んだ接触面を有する電子装置
   の電子試験用試験ソケットにして、 上記電子装置の接触面に対応するように長方形状に並ん
   だ４つの接点案内・保持モジュール（１２０）を有し、 上記各接点案内・保持モジュールは、 突出したテーパー状のリブと隣合う該リブ間の谷とによ
   り形成される直線的なギヤ状歯（１３６）を有する第１
   接点支持構造体（１２２）と、 上記第１接点支持構造体（１２２）内に配置された、突
   出した先端（１４２）を有する接点（１２６,１２８）
   とを備え、 上記接点（１２６,１２８）は、隣合う該接点（１２６,
   １２８）の先端の一方が隣合う上記リブ間の谷内に入れ
   られ他方が上記第１接点支持構造体（１２２）の突出し
   たリブと位置を揃えて配置されており、 さらに、上記各接点案内・保持モジュール（１２０）
   は、突出したテーパー状のリブと隣合う該リブ間の谷と
   により形成される直線的なギヤ状歯（１４０）を有する
   第２接点支持構造体（１２４）を備え、 上記第１接点支持構造体（１２２）と上記第２接点支持
   構造体（１２４）の各歯が噛み合った状態で、一方の上
   記接点支持構造体のリブが他方の上記接点支持構造体の
   リブ間の谷の中に部分的に入り込み、上記接点の先端
   （１４２）を収容するとともに収容された該先端（１４
   ２）を案内するポケット（１５６）が、上記第１接点支
   持構造体（１２２）の谷と上記第２接点支持構造体（１
   ２４）の谷とに形成されたことを特徴とする試験ソケッ
   ト。