JPH08314748A - 温度試験機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、電子計算機等の製品群の温度試験
に使用する温度試験機に関し、試験容器内が異常温度に
なって、被試験物を機能的に破壊することなく、効率的
に温度試験を行う。 【構成】 被試験物の温度試験を行う温度試験機であっ
て、被試験物から該温度試験機に対して電源制御を行う
電源制御インタフェースと、該温度試験の開始，停止
を行う開始，停止制御インタフェースと、該温度試験
の実行時間を通知する実行時間通知インタフェース
と、該温度試験の試験温度と制御温度を通知する環境設
定インタフェースと、該被試験物と温度試験機との間
で相互の状態を通知し合、互いの停止条件を監視する停
止条件監視インタフェースとを有し、上記温度試験の
開始〜終了迄の温度制御において、ダンパー制御機構を
設け、温度試験機内の発熱部と送風部による温度制御と
連携して、該ダンパー制御機構により、試験容器の開閉
を行うように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子計算機等の製品群
の温度試験に使用する温度試験機に関する。電子計算機
等の被試験物の温度試験を行う場合、設定された試験温
度（上限温度）迄被試験物の周囲温度が上昇したかを常
時監視する事で、温度上昇，温度下降の制御を行い、被
試験物に適切な温度環境を与えるために、温度試験機の
制御が複雑になってきている。又、被試験物に適切な温
度環境を与えるためには、試験容器を含めて制御するこ
とが必要となっている。

【０００２】又、被試験物も高価かつ精密部品が実装さ
れており、被試験物と温度試験機が連携をとり温度試験
機が異常を発生しても、被試験物に影響を与えない試験
環境を整備することが重要な要素となってきている。

【０００３】

【従来の技術】図７，図８は、従来の温度試験機を説明
する図であり、図７は全体構成の例を示し、図８は、温
度制御に関連する部分を示している。

【０００４】先ず、図７によって、温度試験システムの
全体構成について説明する。図７に示されているよう
に、従来の温度試験システムは、温度試験機 1と被試験
物 2との間に制御インタフェースがなく、それぞれが単
独で動作する。即ち、 ａ．被試験物 2の機能試験は、該被試験物 2の図示され
ていない中央処理装置(CPU) で、テストプログラム等を
実行させて試験を行うが、この時に、温度試験を並行し
て実施したい場合は、人手により温度試験機 1の操作部
10 を介して、温度試験情報（試験温度，制御温度，試
験時間等）を設定し、又、人手で試験の開始指示を行
う。 ｂ．温度試験の開始〜終了までは温度試験機 1で制御さ
れており、被試験物 2が動作中か停止中かの認識が温度
試験機 1では出来ない。 ｃ．温度試験機 1が異常状態であっても、被試験物 2
は、該温度試験機 1の異常を認識出来ず、そのままの状
態となり、被試験物 2の周囲温度、即ち、試験容器2a
内の温度が被試験物 2の許容範囲を越える異常温度とな
って、被試験物 2を機能的に破壊する恐れがある。

【０００５】又、図８に示した温度試験機 1で、従来の
温度制御を行う場合、指定された試験温度 (上限温度)
に達する迄、試験容器 2a 内に発熱部 12 を介して、送
風部−１ 13 から高温送風を行い、該試験容器 2a 内の
温度が試験温度 (上限温度)になったことを検出したと
きには、該送風部−１ 13 による高温送風から、送風部
−２ 14 により常温送風に切り換えて、該試験容器 2a
内の温度を下げ、一定の温度に下がったら、又、上記送
風部−１ 13 からの高温送風に切り換える。又、温度試
験終了時には、一定時間常温送風を行い、試験容器 2a
内の温度を下げた後、該温度試験機 1の動作を停止させ
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】図７で説明したよう
に、従来の温度試験システムでは、温度試験機 1と被試
験物 2との間に制御インタフェースが無かった為、前述
の a. 〜c.の何れの場合でも、仮に温度試験環境での試
験であった時に、機能試験が終了しても温度試験は継続
中，又は、その逆に機能試験が継続中でも温度試験時間
が終了し、温度試験が停止してしまう事が起きて、温度
試験のみ継続，又は、機能試験のみ継続という意味のな
い試験を行っている事になり、効率的な試験とは言えな
いという問題があった。特に、温度試験は夜間も含めて
の長時間試験となることが多く、効率的に行うためにも
重要な要素である。

【０００７】又、温度試験機 1が異常状態であっても、
被試験物 2は該温度試験機 1の異常を認識出来ず、その
ままの状態となり、被試験物 2の周囲温度 (例えば、試
験容器内の温度) が被試験物 2の許容範囲を越える異常
温度となって、被試験物 2を機能的に破壊する恐れがあ
る。従って、これらを解決する為に被試験物 2と温度試
験機 1の間に制御インタフェースを持たせ、被試験物 2
と温度試験機 1の制御を連携させる必要がある。

【０００８】又、図８で説明した温度制御においても、
効率の良い温度制御を行う為には、試験容器 2a の体
積, 送風部−１ 13,送風部−２ 14 の送風量等によっ
て、温度の制御に時間がかかる問題があり、例えば、試
験容器 2a に温度制御用の窓を設け、該窓の開閉等を行
うことで、外気の導入面積を増加させ、温度降下時間の
短縮と、該試験容器 2a の体積に合わせた開閉とするこ
とで、外気の導入方法を改善することができる。更に、
被試験物の自己発熱量も、該試験容器 2a の開閉制御の
要素にして、該開閉量を決めることで、温度降下時間を
短縮することができる。

【０００９】本発明は上記従来の欠点に鑑み、被試験物
と温度試験機の間に制御用インタフェースを設けて、被
試験物と温度試験機の制御を連携させることができる温
度試験機を提供すること、又、温度試験機の動作, 停止
の状態に係わらず、該試験容器内は、該被試験物の自己
発熱による温度上昇が考えられる｛従来は、超ＬＳＩと
いった高密度の集積回路（ＬＳＩ）が無かった為、該自
己発熱の問題は少なかった｝ので、該試験容器内の温度
状態を監視し、試験温度 (上限温度) 検出した場合に
は、被試験物を保護する為に、該試験容器内に、効果的
に外気を導入させることができる機構を具備した温度試
験機を提供することを目的とするものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】図１，図２は、本発明の
原理構成図であり、図１は、被試験物と温度試験機の間
に制御インタフェースを設ける場合を示し、図２は、温
度試験機内に試験容器の、例えば、窓を開閉する為のダ
ンパー制御機構を設けた場合を示している。上記の問題
点は下記の如くに構成した温度試験機によって解決され
る。

【００１１】(1) 被試験物 2の温度試験を行う温度試験
機 1であって、該被試験物 2から該温度試験機に対して
電源制御を行う電源制御インタフェースを備え、該電
源制御インタフェースを介して、被試験物 2から、温
度試験機 1の電源制御を行うように構成する。

【００１２】(2) 被試験物 2の温度試験を行う温度試験
機 1であって、該被試験物 2から該温度試験機 1に対し
て、温度試験の開始，停止の指示を行う開始，停止制御
インタフェースを備え、該開始，停止制御インタフェ
ースを介して、被試験物 2から、温度試験機 1の温度
試験の開始，停止制御を行うように構成する。

【００１３】(3) 被試験物 2の温度試験を行う温度試験
機 1であって、該被試験物 2から該温度試験機 1に対し
て、温度試験の実行時間を通知する実行時間通知インタ
フェースを備え、該被試験物 2からの上記実行時間通
知インタフェースを介して通知された実行時間に基づ
いて、温度試験を行うように構成する。

【００１４】(4) 被試験物 2の温度試験を行う温度試験
機 1であって、該被試験物 2から該温度試験機 1に対し
て、温度試験の試験温度 (上限温度) と制御温度を通知
する環境設定インタフェースを備え、該環境設定イン
タフェースを介して、温度試験機 1に、該被試験物 2
の温度試験の環境を設定して、温度試験を行うように構
成する。

【００１５】(5) 被試験物 2の温度試験を行う温度試験
機 1であって、該被試験物 2と該温度試験機 1との間
に、該被試験部 2と該温度試験機 1との状態を相互に通
知し合い、互いの停止条件を監視する停止条件監視イン
タフェースを備え、該停止条件監視インタフェース
を介して、相互に自己の状態を通知し合って、温度試験
を行うように構成する。

【００１６】(6) 被試験物 2の温度試験を行う温度試験
機 1であって、被試験物 2を収納する試験容器 2a 内を
指定された制御温度，試験温度の条件で温度試験を行う
に際して、後述の図５に示してあるように、該温度試験
機 2内の発熱部 12 と送風部 13,14の他に、該試験容器
2a のダンパーを制御して、該試験容器と外部との間の
通風を制御するダンパー制御機構 15 を設け、上記温度
試験機 1内の発熱部 12 と送風部 13,14による温度制御
と連携して、上記ダンパー制御機構 15 を制御して温度
制御を行うように構成する。

【００１７】(7) (1) 項〜(5) 項に記載の温度制御イン
タフェース〜の、何れかの組み合わせで温度制御を
行うように構成する。 (8) (1) 項〜(5) 項に記載の温度制御インタフェース
〜の、何れかの組み合わせで温度制御を行う温度試験
機 1に、上記(6) 項に記載のダンパー制御機構15 を備
えるように構成する。

【００１８】

【作用】即ち、本発明の温度試験機 1は、図１に示され
ているように、温度試験機 1と被試験物 2との間に制御
インタフェース〜を設けて、該温度試験機 1と被試
験物 2の動作をリンクさせたものである。

【００１９】具体的には、従来、温度試験機 1の操作部
10 ｛図８参照｝で操作していた、 ａ．温度試験機の電源の投入（ＯＮ），切断（ＯＦＦ） ｂ．温度試験環境の試験温度／制御温度の設定 ｃ．温度試験の試験時間設定 ｄ．温度試験機の状態監視／通知 ｅ．温度試験機の温度試験動作の開始／停止 を、温度試験機 1と被試験物 2の間に制御インタフェー
ス〜として設け、被試験物 2からの自動制御によ
り、温度試験機 1を制御して、自被試験物 2の温度試験
を行うようにしたものである。

【００２０】従って、被試験物 2からの自動制御が可能
となり、互いの動作状態を通知し合うことで、被試験物
2に対する効率的な温度試験を実施することができる。
又、通常、温度試験を行う場合、試験容器 2a 内の温度
変化は図２(b) に示したものとなる。ここで、以下の文
章中の(1),(2),(3),(4) は、図２(a) の (1),(2),(3),
(4)に対応する。即ち、 (1) 温度試験の開始指示により、前述の図８で説明し
た発熱部 12,送風部 13により、高温度の空気を試験容
器 2a に送風して、試験容器 2a 内の温度を上昇させ
る。 (2) この状態で、温度センサー 16 により、試験容器 2
a 内の温度が試験温度 (上限温度) になったことを検出
｛図２(a) 参照｝したとき、上記高温送風を停止させ、
送風部−２ 14 による常温送風を開始して、試験容器 2
a 内の温度を降下させる。 (3) 該試験容器 2a 内の温度が降下して、図２(a) に示
されている制御温度を検出したとき、上記常温送風から
高温送風に切り換える。温度試験が終了するまで、上記
(2)〜(3) を繰り返す。 (4) 温度試験終了時には、高温送風から常温送風に切り
換えて、該試験容器 2a内の温度を下げる。 (5) 一定時間、上記(4) を実施した後に、該温度試験機
1の動作を停止させる。従って、従来の温度試験手段で
は、上記 (2)〜(3) の期間、図２(a) で "t2" で示した
時間が長くなるという問題があった。

【００２１】そこで、本発明の温度試験機 1では、後述
の図５に示されているように、試験容器 2a の窓等を開
閉制御するためのダンパー制御機構 15 を設け、上記
(2) 項で示した高温送風から常温送風に切り換えて、該
試験容器 2a 内の温度を下げるとき、及び、上記(3) 項
での常温送風から高温送風に切り換えて温度を上げる時
に、上記ダンパー制御機構 15 により、該試験容器 2a
の外気を導入する窓の開閉を行うように構成すること
で、(2) 項の動作の開始から制御温度を検出する迄の時
間 "t2" を短縮することができる。従って、試験容器 2
a 内の温度が均一化され、効率の良い温度環境を作るこ
とができる。

【００２２】又、図２(b) に示されている如く、(a) の
温度試験終了時には、高温送風を停止し、(a) 〜(b) に
示した一定時間、前述の送風部−２ 14 を介して外気を
導入して、該試験容器 2a 内の温度を下げる。然しなが
ら、一定時間経過後、温度試験機 1が停止され、外気の
導入が停止すると、被試験物 2の自己発熱により、試験
容器 2a 内の温度は上昇する。｛図２(b) の太線参照｝ その結果として、該試験容器 2a の温度が試験温度を越
え、被試験物 2を機能的に破壊することが起こる。

【００２３】そこで、本発明の温度試験機 1において
は、温度試験機 1が停止中であっても、試験温度を常時
監視し、図２(b) の(c) 点で試験温度 (上限温度) を検
出した場合には、本発明のダンパー制御機構 15 を操作
して、該試験容器 2a の、例えば、窓の開閉を行い、大
量の外気を導入するように制御することで、該被試験物
2に異常な高温環境を与えることを抑止することができ
る。

【００２４】従来の温度制御でも、制御温度を検出した
(b) 点で外気の導入を停止することなく継続するように
すれば、上記のような、温度試験機 1が停止していると
きの温度監視手段は必要ないが、上記 (b),(c)の動作を
繰り返し行う制御機構を設けることで、該被試験物 2が
動作していない状態での温度試験、即ち、スタティック
バーンイン試験を行うことができ、温度試験機 1の有効
な活用方法を得ることができる。又、超ＬＳＩ等を使用
した自己発熱の大きい被試験物 2では、前述の高温送風
を行わなくても、該自己発熱により、試験容器 2a 内の
温度が上昇するため、温度試験のための試験環境を得る
ことができる。即ち、上記 (b),(c)でのダンパー制御を
繰り返す機能のみを持つ温度試験機 1でも、十分に、温
度試験を行うことができる。

【００２５】

【実施例】以下本発明の実施例を図面によって詳述す
る。前述の図１，図２は、本発明の原理構成図であり、
図３〜図６は、本発明の一実施例を示した図であって、
図３，図４は、被試験物で温度試験機を制御する場合の
インタフェースの例を示し、図５，図６は、温度試験機
にダンパー制御機構を備えた温度試験機の構成例を示し
ている。

【００２６】本発明においては、被試験物 2で温度試験
機 1を制御して、該被試験物 2の温度試験を行う制御イ
ンタフェース〜、又は、温度試験機 1内のダンパー
制御手段 15 が、本発明を実施するのに必要な手段であ
る。尚、全図を通して同じ符号は同じ対象物を示してい
る。

【００２７】以下、図１，図２を参照しながら、図３〜
図６によって、本発明の温度試験機の構成と動作を説明
する。図３において、温度試験機 1と、被試験物 2との
間のインタフェース〜が、本発明の制御インタフェ
ースである。本実施例においては、被試験装置 20 を制
御する被試験制御部 21 として、ワークステーションを
例にとる。本実施例で示されているコネクタインタフェ
ース (A)〜(C) は、 (A) ：温度試験機 1の電源制御，開始／停止制御，温度
設定，時間設定，状態通知を行う制御インタフェース
〜用のもので、その代表的なものとして、公知のＲＳ
２３２Ｃインタフェースが使用出来る。

【００２８】(B) ：温度試験機 1で異常な状態を検出
し、緊急を要する異常な場合に、ダイレクトに被試験物
2に通知する時のコネクタインタフェースで、被試験物
2に固有の電源制御インタフェースが使用出来る。

【００２９】(C) ：通常の被試験装置 20 の機能試験を
実施するインタフェースで、温度試験機 1から異常状態
が通知された時に、このコネクタインタフェース(C) を
介して、被試験物 2の機能試験を停止する事も出来る。
該インタフェースとしては、ＬＡＮ／ＨＤＬＣ手順等を
使用することができる。

【００３０】動作説明（丸付数字は，図中の丸付数字と
リンクする） 制御インタフェース：温度試験を開始する時、被試験
物 2側より温度試験機 1の電源を投入するのに使用され
る。 制御インタフェース：温度試験機 1に対して、温度試
験の開始, 停止の指示を行うのに使用される。温度試験
機 1は、該温度試験の開始〜終了迄の間、温度試験を実
施する。 制御インタフェース：温度試験機 1に対して、温度設
定（試験温度／制御温度）を行うのに使用される。該試
験温度，制御温度の使用目的を温度試験機 1の温度制御
による温度変化でみると、図４に示されているようにな
る。即ち、 (1) 温度試験開始指示により、温度試験機 1は、被試験
物 2を高温にするために被試験物 2に対して高温送風を
行う。

【００３１】(2) 温度試験機 1は、試験容器 2a 内に設
けられている温度センサー 16 ｛図８参照｝により、被
試験物 2の周囲温度を常時監視しており、試験温度 (上
限温度) を検出したら、前述の送風部−１ 13 による高
温送風｛後述の図５参照｝を停止し、送風部−２ 14 に
よる常温送風に切り換えて、被試験物 2の周囲温度を降
下させる。

【００３２】(3) 温度が降下して、制御温度を検出した
時、再度常温送風から高温送風に切り換えることで周囲
温度が上昇する。前述のように、通常、温度試験機 1
は、試験時間終了まで、(2) 〜(3) の繰り返し動作を行
う。

【００３３】尚、図４において、試験温度：温度試験を
行う上限温度（低温試験の下限温度） 制御温度：一度、上記試験温度まで上昇した温度が下降
して、再度温度を上げるための制御を開始する下限温度
である。

【００３４】制御インタフェース：温度試験機 1に対
して、試験時間の設定を行うのに使用される。温度試験
機 1は、開始指示より試験時間の減算を行い、“０”で
試験時間終了となる。

【００３５】制御インタフェース：温度試験機 1, 又
は、被試験物 2にて、異常状態が検出された時にその内
容を、相互に通知するのに使用される。被試験部 2の被
試験制御部 21 は、その内容により温度試験機 1の温度
試験動作の停止，電源切断,又は、被試験物 2の機能試
験の停止，電源切断を指示する。このように、被試験物
2と温度試験機 1との間に、制御インタフェース〜
を設けることで、被試験物 2からの温度試験機 1に対す
る自動制御が可能となり、互いの動作状態を通知し合う
ことで、効率的な温度試験を実施することができる。

【００３６】次に、図５, 図６によって、温度試験機 1
に設けられたダンパー制御機構 15の構成と動作を説明
する。 図５において、 2a ：試験容器────被試験物を収容
する容器で、通常、ビニールシート等でできている。 12：発熱部────試験容器 2a 内の温度を上昇させる
ためのヒータ等の発熱部 13：送風部−１──────発熱した高温の空気を試験
容器 2a 内に送る高温送風部 15：ダンパー制御機構───試験容器 2a 内の温度制御
のため、図６に示した試験容器 2a に設けられている窓
を開閉するダンパーをリニアモータ等で開閉制御して、
該試験容器 2a 内の高温空気を排気する機構である。該
ダンパーの開閉チェックを行うのに、所定の位置にセン
サーが設けられている。

【００３７】例えば、前述の発熱部 12 のヒータを停止
した後、該リニアモータを駆動して、ダンパーを開く。
該センサーチェックでダンパーの開チェックが“ＯＫ”
であると、図示されているフアンを駆動して、該試験容
器 2a 内の高温の空気を排気することで、常温の外気を
導入する。

【００３８】該試験容器 2a 内の温度が低下して、前述
の制御温度迄低下したら、上記フアンの動作を停止し
て、リニアモータを駆動 (ダンパー閉動作) し、前述の
センサーチェックにより閉チェックが“ＯＫ”が確認さ
れると、再度温度上昇動作に入る。

【００３９】このようにして、本発明によるダンパー制
御を行うことで、該試験容器 2a 内の、例えば、高温度
の空気を強制的に排気することができるので、温度制御
を高速に行うことができる。尚、本発明の温度試験機 1
内には、上記の外に、図８で説明した下記の機能 14：送風部−２──────試験容器 2a 内の温度を下
げるための外気導入を行う送風部。 11：制御部────────温度制御全体を監視する制
御部。 10：操作部・表示部────温度試験機 1の開始, 停止
他の操作と状態表示。 16：温度センサー─────試験容器内の温度を監視す
るセンサー 17：電源─────────各部の動作用電源で温度試
験機が停止中でも供給する。 がある。

【００４０】以下に、該温度試験機 1での動作を図５を
用いて説明する。図５において、（イ）〜（ニ）は、以
下の説明事項（イ）〜（ニ）にリンクしている。先ず、
図２〜図４で説明した制御インタフェース〜を用い
て、試験温度，制御温度，試験時間等を設定する。
（イ）操作部 10 より制御部 11 に対して温度試験の開
始を指示する。

【００４１】(ロ) 制御部 11 は、操作部 10 の開始指
示を受けて、ダンパー制御機構 15 に試験容器 2a の
「閉」を指示し、発熱部 12 と送風部−１ 13 を動作さ
せる。このとき、発熱部 12 で高温となった空気は、送
風部−１ 13 により試験容器 2a に送られ、試験容器 2
a 内の温度は上昇する。 （ハ）この時の試験容器 2a 内の温度は: 温度センサー
16 で監視され: 制御部11 に送られる。 （ニ）制御部 11 で、前述の試験温度を検出した時、制
御部 11 は、発熱部 12と送風部−１ 13 を停止させ、
ダンパー制御機構 15 に試験容器 2a の「開」を指示
し、且つ送風部−２ 14 を動作させる。送風部−２ 14
とダンパー制御機構15 が動作すると、大量の外気の導
入により、試験容器 2a 内の温度は高速降下する。 （ハ）この時の試験容器 2a 内の温度は、温度センサー
16 で監視され、制御部11 に送られる。 （ロ）制御部 11 は、前述の制御温度を検出すると、送
風部−２ 14 を停止させ、ダンパー制御機構 15 に試験
容器 2a の「閉」を指示し、且つ発熱部 12 と送風部−
１ 13 を動作させる。 （ニ）制御部 11 で、前述の試験温度を検出した時、制
御部 11 は発熱部 12 と送風部−１ 13 を停止させ、ダ
ンパー制御機構 15 に試験容器 2a の「開」を指示し、
且つ送風部−２ 14 を動作させる。送風部−２ 14 とダ
ンパー制御機構 15 が動作すると、大量の外気の導入に
より、試験容器 2a 内の温度は高速降下する。

【００４２】この状態で、操作部 10 より制御部 11 に
対して、試験時間の終了通知, 又は、温度試験の停止指
示が出される迄、上記（ロ）と（ニ）を繰り返し継続す
る。 （イ）操作部 10 より制御部 11 に対して温度試験の停
止が指示される。（試験時間終了／停止指示） （ニ）制御部 11 で、前述の試験温度を検出した時、制
御部 11 は発熱部 12 と送風部−１ 13 を停止させ、ダ
ンパー制御機構 15 に試験容器 2a の「開」を指示し、
且つ送風部−２ 14 を動作させる。このとき、制御部 1
1 は、あらかじめ指定されている時間内で、送風部−２
14 を動作させた後に、該送風部−２ 14を停止して温
度試験機を停止するが、引き続き、試験容器 2a 内の温
度制御を行う時は、本発明の場合、ダンパー制御機構 1
5 に試験容器 2a の「閉」を指示することで、該試験容
器 2a の温度は、被試験物 2の自己発熱により上昇す
る。又、試験容器 2a 内の温度を更に下げたい時には、
ダンパー制御機構 15 には「閉」の指示を出さずに
「開」状態を保持する。

【００４３】このように温度試験終了後の動作条件（温
度試験を継続する／温度試験を停止する）を、本発明の
上記ダンパー制御機構 15 と連携して選択出来る機能を
具備すれば、被試験物を機能的に破壊することなく、温
度試験を行うことが出来る。

【００４４】このように、本発明による温度試験機は、
被試験物の温度試験を行う温度試験機であって、被試験
物から該温度試験機に対して電源制御を行う電源制御イ
ンタフェースと、該温度試験の開始，停止を行う開
始，停止制御インタフェースと、該温度試験の実行時
間を通知する実行時間通知インタフェースと、該温度
試験の試験温度と制御温度を通知する環境設定インタフ
ェースと、該被試験物と温度試験機との間で相互の状
態を通知し合い、互いの停止条件を監視する停止条件監
視インタフェースとを設け、該制御インタフェース
〜を用いて、被試験物から温度試験機を制御して、該
被試験物の温度制御を行うと共に、上記温度試験の開始
〜終了迄の温度制御において、ダンパー制御機構を設
け、温度試験機内の発熱部と送風部による温度制御と連
携して、該ダンパー制御機構により、試験容器の開閉を
行うように構成し、試験容器 2a の温度制御を行うよう
にしたところに特徴がある。

【００４５】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
温度試験機の制御インタフェースによれば、 ａ．被試験物からの電源制御で温度試験機の電源投入,
切断を行う。この結果、温度試験機が停止状態での被試
験物の電源投入状態をなくすことができ、（電力の削
減）、又、被試験物が停止状態での温度試験機の電源投
入状態をなくすことができる。（電力の削減） ｂ．被試験物から温度試験情報（試験温度，制御温度，
試験時間等）の設定を行う。この結果、温度試験に係わ
る設定情報の指定を被試験物から行うことで、人手操作
による操作ミスがなくなり、試験精度が向上する。 ｃ．被試験物から温度試験の開始指示を行う。該温度試
験の開始を、機能試験の実施と並行して行う事で、被試
験物の動作とリンクした温度試験となる。（効率的な温
度試験の実施） ｄ．被試験物からの温度試験の停止指示を行う。この結
果、機能試験の終了時に該温度試験の停止を指示する事
で、被試験物の動作とリンクした温度試験動作とするこ
とができる（効率的な温度試験の実施） ｅ．温度試験機からの温度試験時間終了の通知を行い、
且つ温度試験機を停止する。この結果、温度試験動作と
被試験物の動作とをリンクさせることができる。（効率
的な温度試験の実施／電力の削減） ｆ．被試験物の異常および温度試験機の異常を相互に通
知し合う。この結果、互いの状態を認識する事で、異常
状態のまま試験を継続することがなくなり、被試験物の
機能的な破壊を防ぐこどが出来る。（効率的な温度試験
の実施／被試験物の保護） 又、本発明のダンパー制御機構によれば、 ａ．試験容器の自動開閉による外気導入により温度制御
時間の短縮が図れ，効率的な温度環境を得ることが出
来，試験容器内の温度のバラツキ範囲を最小限に抑える
ことが出来る。 ｂ．温度試験の終了後でも試験容器内の温度監視を行う
ことで被試験物を機能的に破壊することなく，被試験物
の保護が出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理構成図（その１）

【図２】本発明の原理構成図（その２）

【図３】本発明の一実施例を示した図（その１）

【図４】本発明の一実施例を示した図（その２）

【図５】本発明の一実施例を示した図（その３）

【図６】本発明の一実施例を示した図（その４）

【図７】従来の温度試験機を説明する図（その１）

【図８】従来の温度試験機を説明する図（その２）

【符号の説明】

1 温度試験機 2 被試験物 20 被試験装置 21 被試験制
御部 10 操作部・表示部 11 制御部 12 発熱部 13 送風部−
１ 14 送風部−２ 15 ダンパー
制御部 16 温度センサー 17 電源部 〜 制御インタフェース (A) 〜(C) インタフェース (1) 〜(3) 温度制御点 (イ) 〜 (ニ) 温度試験機における動作

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被試験物の温度試験を行う温度試験機であ
   って、該被試験物から該温度試験機に対して電源制御を
   行う電源制御インタフェースを備え、該電源制御インタ
   フェースを介して、被試験物から、温度試験機の電源制
   御を行うことを特徴とする温度試験機。
2. 【請求項２】被試験物の温度試験を行う温度試験機であ
   って、該被試験物から該温度試験機に対して、温度試験
   の開始，停止の指示を行う開始，停止制御インタフェー
   スを備え、該開始，停止制御インタフェースを介して、
   被試験物から、温度試験機の温度試験の開始，停止制御
   を行うことを特徴とする温度試験機。
3. 【請求項３】被試験物の温度試験を行う温度試験機であ
   って、該被試験物から該温度試験機に対して、温度試験
   の実行時間を通知する実行時間通知インタフェースを備
   え、該被試験物からの上記実行時間通知インタフェース
   を介して通知された実行時間に基づいて、温度試験を行
   うことを特徴とする温度試験機。
4. 【請求項４】被試験物の温度試験を行う温度試験機であ
   って、該被試験物から該温度試験機に対して、温度試験
   の試験温度と制御温度を通知する環境設定インタフェー
   スを備え、該環境設定インタフェースを介して、温度試
   験機に、該被試験物の温度試験の環境を設定して、温度
   試験を行うことを特徴とする温度試験機。
5. 【請求項５】被試験物の温度試験を行う温度試験機であ
   って、該被試験物と該温度試験機との間に、該被試験部
   と該温度試験機との状態を相互に通知し合い、互いの停
   止条件を監視する停止条件監視インタフェースを備え、
   該停止条件監視インタフェースを介して、相互に自己の
   状態を通知し合って、温度試験を行うことを特徴とする
   温度試験機。
6. 【請求項６】被試験物の温度試験を行う温度試験機であ
   って、被試験物を収納する試験容器内を指定された制御
   温度，試験温度の条件で温度試験を行うに際して、 該温度試験機内の発熱部と送風部の他に、該試験容器の
   ダンパーを制御して、該試験容器と外部との間の通風を
   制御するダンパー制御機構を設け、 上記温度試験機内の発熱部と送風部による温度制御と連
   携して、上記ダンパー制御機構を制御して温度制御を行
   うことを特徴とする温度試験機。
7. 【請求項７】請求項１〜５に記載の温度制御インタフェ
   ースの、何れかの組み合わせで温度制御を行うことを特
   徴とする温度試験機。
8. 【請求項８】請求項１〜５に記載の温度制御インタフェ
   ースの、何れかの組み合わせで温度制御を行う温度試験
   機に、請求項６に記載のダンパー制御機構を備えたこと
   を特徴とする温度試験機。