JPH0831064B2 - Memory diagnostic circuit - Google Patents

Memory diagnostic circuit

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JPH0831064B2
JPH0831064B2 JP1269793A JP26979389A JPH0831064B2 JP H0831064 B2 JPH0831064 B2 JP H0831064B2 JP 1269793 A JP1269793 A JP 1269793A JP 26979389 A JP26979389 A JP 26979389A JP H0831064 B2 JPH0831064 B2 JP H0831064B2
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JP
Japan
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circuit
parity
shift register
parallel
memory
Prior art date
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JP1269793A
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Japanese (ja)
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長彦 南角
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NEC Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はパラレル信号を記憶するとともにパリテイ信
号も記憶し、パラレル信号の読出しに際し、同時に読出
したパリテイ信号によりパリテイチエツクを行うメモリ
回路の診断回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention stores a parallel signal as well as a parity signal, and when reading a parallel signal, a diagnostic of a memory circuit for performing parity check by the parity signal read at the same time. Regarding the circuit.

(従来の技術) 第3図は従来のメモリ診断回路の一例を示す回路図で
ある。
(Prior Art) FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a conventional memory diagnostic circuit.

パラレル入力信号はメモリ回路11に記憶されるととも
にパリテイ演算回路10で演算され、規則に従いパリテイ
信号1ビツトが追加される。
The parallel input signal is stored in the memory circuit 11 and is operated by the parity operation circuit 10 to add one bit of the parity signal according to the rule.

パリテイ演算回路10のパリテイ信号はメモリ回路11に
記憶される。
The parity signal of the parity calculation circuit 10 is stored in the memory circuit 11.

メモリ回路11から読出されるパラレル出力信号はパリ
テイエラー検出回路12に入力され、パリテイ演算がなさ
れる。パリテイエラー検出回路12はこのパリテイ演算結
果とメモリ回路11から読出されるパリテイ信号とを比較
し、メモリ回路11での誤りの検出をしている。
The parallel output signal read from the memory circuit 11 is input to the parity error detection circuit 12 and the parity calculation is performed. The parity error detection circuit 12 compares the parity calculation result with the parity signal read from the memory circuit 11 to detect an error in the memory circuit 11.

(発明が解決しようとする課題) さて、この従来のメモリ診断回路はメモリの書込み側
の回路が停止した場合、誤りを検出できないという欠点
があつた。
(Problems to be Solved by the Invention) The conventional memory diagnostic circuit has a drawback that an error cannot be detected when the circuit on the write side of the memory is stopped.

本発明の目的は上記欠点を解決するもので、メモリの
書込み側の回路が停止した場合のメモリ回路での誤りを
検出できるメモリ診断回路を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above drawbacks and to provide a memory diagnostic circuit capable of detecting an error in the memory circuit when the circuit on the write side of the memory is stopped.

(課題を解決するための手段) 前記目的を達成するために本発明によるメモリ診断回
路は、N本のパラレル信号をそれぞれ入力し、N個の信
号にそれぞれ異なる遅延量を与えるN個の第1のシフト
レジスタ回路と、前記N個の第1のシフトレジスタ回路
出力をパリティ演算するパリティ演算回路と、前記N個
のパラレル入力信号と前記パリティ演算回路出力とを入
力し、前記N個のパラレル入力信号を同一順かつ連続的
に書込み、読出しを行うメモリ回路と、前記メモリ回路
から読出したN本のパラレル出力信号を入力し、このN
個の信号にそれぞれ第1のシフトレジスタ回路で与えら
れた遅延量と同じ遅延量を与えるN個の第2のシフトレ
ジスタ回路と、前記N個の第2のシフトレジスタ回路出
力をパリティ演算し、このパリティ演算した信号と前記
メモリ回路から読出したパリティ信号とを比較し、エラ
ーを検出するパリティエラー検出回路とから構成してあ
る。
(Means for Solving the Problem) In order to achieve the above-mentioned object, a memory diagnostic circuit according to the present invention inputs N parallel signals and gives N first signals each having a different delay amount. Shift register circuit, a parity operation circuit for performing a parity operation on the N first shift register circuit outputs, the N parallel input signals and the parity operation circuit output, and the N parallel inputs A memory circuit that writes and reads signals in the same order and continuously and N parallel output signals read from the memory circuit are input, and the N
N second shift register circuits that give the same amount of delay to the respective signals as the delay amounts given by the first shift register circuit, and the N second shift register circuit outputs are subjected to parity calculation, The parity error detection circuit detects an error by comparing the parity-calculated signal with the parity signal read from the memory circuit.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明をさらに詳しく説明す
る。
(Example) Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

第1図は本発明によるメモリ診断回路の実施例を示す
回路図である。本実施例はデータの書込み、読出しが連
続的に行われている状態での動作を示している。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a memory diagnostic circuit according to the present invention. The present embodiment shows an operation in a state where data writing and reading are continuously performed.

N本のパラレル入力信号はそれぞれあらかじめ決めら
れたビツト数だけ第1のシフトレジスタ回路1、2で遅
延させられる。そして、パリテイ演算回路3は第1のシ
フトレジスタ回路1、2のN個のそれぞれ異なる遅延量
を持つ出力のパリテイ演算を行い、その演算結果はメモ
リ回路4に記憶される。
The N parallel input signals are delayed by the first shift register circuits 1 and 2 by a predetermined number of bits. Then, the parity calculation circuit 3 performs the parity calculation of the N shift outputs of the first shift register circuits 1 and 2 respectively, and the calculation result is stored in the memory circuit 4.

メモリ回路4から読出されるN本のパラレル出力信号
は入力側と同じ規則で第2のシフトレジスタ回路5、6
で遅延させられ、パリテイ演算される。パリテイエラー
検出回路7はこのパリティ演算結果と、メモリ回路4か
らのパリテイ信号との比較を行い、誤りがあるか否かを
判断する。
The N parallel output signals read from the memory circuit 4 have the same rules as the input side, and the second shift register circuits 5 and 6 have the same rule.
Delayed by and the parity calculation is performed. The parity error detection circuit 7 compares the parity calculation result with the parity signal from the memory circuit 4 to determine whether or not there is an error.

パリテイ演算は奇数パリテイ、偶数パリテイ、奇偶数
交番パリテイが用いられる。
Parity calculation uses odd parity, even parity, and odd and even alternation parity.

第2図は3本のパラレル信号が入力する場合のタイミ
ングチヤートである。
FIG. 2 is a timing chart when three parallel signals are input.

3本のパラレル信号20〜22が入力されると、3本のパ
ラレル入力信号はそれぞれ第1のシフトレジスタ回路
1、2に入力され、パラレル入力信号(A)20は2ビツ
ト分、パラレル信号(B)21は1ビツト分、パラレル信
号(C)22は0ビツトの遅延がかけられる。そしてパリ
テイ演算(AとBとCのパリテイ演算)がなされ、メモ
リ回路4を通つてパリテイ信号23が出力される。メモリ
回路4から読出されるパラレル信号は第2のシフトレジ
スタ回路5、6で入力側と同様の遅延が与えられ、パリ
テイエラー検出回路7でパリテイ演算がなされ、メモリ
回路4からのパリテイ信号23と比較される。
When the three parallel signals 20 to 22 are input, the three parallel input signals are input to the first shift register circuits 1 and 2, respectively, and the parallel input signal (A) 20 corresponds to 2 bits and the parallel signal (A). B) 21 is delayed by 1 bit, and parallel signal (C) 22 is delayed by 0 bit. Then, the parity calculation (parity calculation of A, B, and C) is performed, and the parity signal 23 is output through the memory circuit 4. The parallel signal read from the memory circuit 4 is given a delay similar to that on the input side by the second shift register circuits 5 and 6, the parity operation is performed by the parity error detection circuit 7, and the parity signal 23 from the memory circuit 4 is supplied. Compared to.

以上によりメモリ回路4の故障および入力側つまり書
込み側が停止した場合も、パリティエラーとして検出さ
れることになる。
As described above, even when the memory circuit 4 fails and the input side, that is, the writing side is stopped, it is detected as a parity error.

データの書込み、読出しの開始時においては、データ
の誤りが発生する可能性があるが、連続的にデータの読
み書きが行われている定常状態では監視が可能である。
At the start of writing and reading of data, a data error may occur, but it can be monitored in a steady state where data is continuously read and written.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明はメモリ回路の動作チエ
ツクのためN本のパラレル入力信号のそれぞれの信号に
重なる量の遅延をかけて時間的にずらしパリテイ演算を
行い、パリテイ演算結果をメモリ回路を通過させること
により、メモリ回路の入力側、つまり書込み側の回路が
停止した場合もエラーを検出することができる。
(Effect of the Invention) As described above, according to the present invention, due to the operation check of the memory circuit, the parity calculation is performed by delaying the time by applying an amount of delay that overlaps each signal of the N parallel input signals to perform the parity calculation. By passing the result through the memory circuit, the error can be detected even when the input side of the memory circuit, that is, the writing side circuit is stopped.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明によるメモリ診断回路の実施例を示す回
路図、第2図は本発明回路および従来回路の動作を説明
するためのタイミングチヤート、第3図は従来のメモリ
診断回路の例を示す図である。 1、2……第1のシフトレジスタ回路 3、10……パリテイ演算回路 4、11……メモリ回路 5、6……第2のシフトレジスタ回路 7、12……パリテイエラー検出回路 20……パラレル入力信号A 21……パラレル入力信号B 22……パラレル入力信号C 23……パリテイ信号
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a memory diagnosis circuit according to the present invention, FIG. 2 is a timing chart for explaining the operation of the circuit of the present invention and a conventional circuit, and FIG. 3 is an example of a conventional memory diagnosis circuit. FIG. 1, 2 ... first shift register circuit 3, 10 ... parity operation circuit 4, 11 ... memory circuit 5, 6 ... second shift register circuit 7, 12 ... parity error detection circuit 20 ... Parallel input signal A 21 …… Parallel input signal B 22 …… Parallel input signal C 23 …… Parity signal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】N本のパラレル信号をそれぞれ入力し、N
個の信号にそれぞれ異なる遅延量を与えるN個の第1の
シフトレジスタ回路と、 前記N個の第1のシフトレジスタ回路出力をパリティ演
算するパリティ演算回路と、 前記N個のパラレル入力信号と前記パリティ演算回路出
力とを入力し、前記N個のパラレル入力信号を同一順か
つ連続的に書込み,読出しを行うメモリ回路と、 前記メモリ回路から読出したN本のパラレル出力信号を
入力し、このN個の信号にそれぞれ第1のシフトレジス
タ回路で与えられた遅延量と同じ遅延量を与えるN個の
第2のシフトレジスタ回路と 前記N個の第2のシフトレジスタ回路出力をパリティ演
算し、このパリティ演算した信号と前記メモリ回路から
読出したパリティ信号とを比較し、エラーを検出するパ
リティエラー検出回路と から構成したことを特徴とするメモリ診断回路。
1. N parallel signals are input respectively, and N
N first shift register circuits that give different delay amounts to the respective signals, a parity operation circuit that performs a parity operation on the N first shift register circuit outputs, the N parallel input signals, and the N parallel input signals A parity operation circuit output is input, and a memory circuit that writes and reads the N parallel input signals in the same order and continuously, and N parallel output signals read from the memory circuit are input. The N second shift register circuits that give the same delay amount to the respective signals as the delay amounts given by the first shift register circuit and the N second shift register circuit outputs are subjected to parity calculation, A parity error detection circuit for detecting an error by comparing the parity-calculated signal with the parity signal read from the memory circuit. Memory diagnostic circuit to be.
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JPH03130852A JPH03130852A (en) 1991-06-04
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