JPH0830990A

JPH0830990A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH0830990A
Application number: JP15859494A
Authority: JP
Inventors: Yasuto Soma; 康人相馬; Masayuki Shibano; 正行芝野; Yasuhiro Goto; 泰宏後藤
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1994-07-11
Filing date: 1994-07-11
Publication date: 1996-02-02
Anticipated expiration: 2015-07-17
Also published as: JP3067529B2

Abstract

(57)【要約】【目的】光スポットと情報トラックの位置関係を精度
良く観察することにより、より正確にトラッキング外れ
を検出することを可能とし、安定した記録再生動作が可
能な光ディスク装置を提供する。【構成】光ヘッド１１が出力するトラッキング誤差信
号を比較器１２，１３を用いて２つの比較値と比較し、
カウンタ１５，１１１，１１６を用いて、トラッキング
誤差信号が正の比較値より大きい期間、負の比較値より
小さい期間、および正の比較値と負の比較値の間にある
期間の長さを測定する。この測定結果を用いて、光スポ
ットが隣接するトラックに近づいたか、そのときの移動
速度は速いかどうかなどを判断し、トラッキング外れを
検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに対して情
報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光磁気ディスク装置のように、光
ディスクに対して情報を記録再生する光ディスクが実用
化されている。このような光ディスク装置では、光ビー
ムが情報トラックを追従できなくなる、いわゆるトラッ
キング外れが問題になり、これまで、いくつかのトラッ
キング外れ検出方法が提案されてきた。

【０００３】従来の読みだし専用の光ディスク装置で
は、ディスクから読み出されるアドレス情報の連続性を
監視して、トラック外れを検出していた。しかし、この
方法を記録型光ディスク装置に用いた場合、記録中にト
ラック外れが発生しても、それを検出するまでに十数ミ
リ秒から数十ミリ秒の時間がかかり、相当の時間、隣接
トラックに二重書きが行われてしまうという問題があっ
た。この問題を解決するために、さまざまな提案がなさ
れている。たとえば、特開昭６４−７９９４２号公報に
開示されている光ディスク装置は、トラッキング誤差信
号が所定値以上となったことによりトラッキング外れを
検知し、トラッキング外れを検知すると同時に記録動作
を停止させている。

【０００４】図１０に従来の光ディスク装置のブロック
図を示す。破線で囲まれた部分１０６が従来のトラッキ
ング外れ検出部である。１０１はデータを記録する情報
トラックを有する光ディスク、１０２は光ディスク１０
１に対して光ビームを照射し、反射光から光ビームと情
報トラックのずれを示すトラッキング誤差信号を生成、
出力する光ヘッドである。光ヘッド１０２は比較器１０
３に接続され、比較器１０３の出力はＤラッチ回路１０
４のクロック端子に接続されている。Ｄラッチ回路１０
４のデータ入力端子D とセット端子S は「Ｈ」に固定さ
れており、またリセット端子R はシステムコントローラ
１０５に接続されている。さらに、Ｄラッチ回路１０４
の出力Q は、システムコントローラ１０５に接続されて
いる。

【０００５】以上のように構成された光ディスク装置の
動作を説明する。まず、システムコントローラ１０５は
Ｄラッチ回路１０４のリセット端子R を「Ｌ」にする事
により、Ｄラッチ回路１０４の出力Q を「Ｌ」にする。
光ヘッド１０２は、トラッキング誤差信号を生成し、２
値化回路１０３に供給する。２値化回路１０３では、入
力したトラッキング誤差信号を比較値と比較し、トラッ
キング誤差信号の値が比較値より大きい場合、「Ｈ」を
出力する。比較器１０３の出力が「Ｈ」になると、Ｄラ
ッチ回路１０４はデータ入力端子D の「Ｈ」をラッチし
出力する。トラッキング誤差信号の振幅は、光スポット
がトラックからずれるほど大きくなるため、Ｄラッチ回
路１０４の出力Q が「Ｈ」であるということは、一瞬で
も光スポットとトラックとのズレが所定値を越えたとい
うことを示す。システムコントローラ１０５はこの信号
をトラッキング外れ信号として入力し、トラッキング外
れ信号が「Ｈ」になったら、記録／再生動作の中断など
の処理を行う。図１１の（ａ）に比較器１０３の入力信
号を、図１１の（ｂ）に比較器１０３の出力信号を、図
１１の（ｃ）にトラッキング外れ信号をそれぞれ示す。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】このようなトラッキン
グ外れ検出方法では、光ディスク上の傷などによりトラ
ッキング誤差信号の大きさが一時的に大きくなった場合
に、誤検出を起こすという問題があった。また、音声な
どの時間軸属性があるデータを記録する場合、多少記録
するデータ、あるいは読み出すデータに欠落が生じて
も、記録動作そのものの中断が少ない方が、光ディスク
装置としての使い勝手がよい場合もある。たとえば、音
声データであれば、エンコード時の誤り検出訂正符号の
付加や、デコード時の訂正しきれないデータの補間処理
を行うことが可能であり、誤り訂正や補間ができる程度
のデータの欠落は容認できる。ところが従来の方法で
は、少しでも光スポットがトラックから外れたらトラッ
キング外れとしていたため、頻繁にトラック外れを検出
して記録処理が中断され、使い勝手が悪いという問題が
あった。

【０００７】本発明は上記問題を解決するもので、光ビ
ームと情報トラックの位置関係および相対的な移動速度
をとらえ、正確にトラッキング外れを検出することを目
的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の光ディスク装置は、トラッキング誤差信号
を正の比較値と比較し、第１の比較結果を出力する第１
のレベル比較手段と、トラッキング誤差信号を負の比較
値と比較し、第２の比較結果を出力する第２のレベル比
較手段と、第１の比較結果あるいは前記第２の比較結果
を入力し、トラッキング誤差信号が正の比較値より大き
い期間、あるいは、負の比較値より小さい期間の長さを
測定する第１の期間測定手段と、第１の期間測定手段の
測定結果と第１の基準期間の長さを比較し、第３の比較
結果を出力する第１の期間比較手段と、第１の比較結果
と第２の比較結果を入力し、トラッキング誤差信号が正
の比較値より小さくなってから負の比較値より小さくな
るまでの期間、あるいは、負の比較値より大きくなって
から正の比較値より大きくなるまでの期間の長さを測定
する第２の期間測定手段と、第２の期間測定手段の測定
結果と第２の基準期間の長さを比較し、第４の比較結果
を出力する第２の期間比較手段と、第３、第４の比較結
果を入力し、第１の期間測定手段の測定結果が第１の基
準期間の長さより長く、第２の期間測定手段の測定結果
が第２の基準期間の長さより短い場合にトラック外れ信
号を出力するトラック外れ出力手段とを備えている。

【０００９】

【作用】本発明は上記の構成により、トラッキングサー
ボが外れて光ビームが隣接するトラックとの中間点を越
えて隣接するトラックに近づいたこと、および、そのと
きの移動速度を監視し、これによりトラッキング外れ信
号を生成する。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の第１の実施例について、図面
を参照しながら説明する。

【００１１】まず、本実施例の光ディスク装置の構成を
説明する。図１は第１の実施例のブロック図である。１
０は光ディスク、１１は光ディスク１０に光ビームを照
射して、情報を読み書きする光ヘッド、１２は光ヘッド
１１が出力するトラッキング誤差信号と正の比較値と比
較する比較器、１３は同じくトラッキング誤差信号を負
の比較値と比較する比較器である。ここで、正、あるい
は負とは、トラッキング誤差信号が誤差０の時の電圧を
基準として、それより大きい場合を正、小さい場合を負
としている。比較器１２，１３の出力はＯＲ回路１４に
接続され、ＯＲ回路１４の出力はカウンタ１５のクリア
端子CLR 、インバータ１８、Ｄラッチ回路１１４のクロ
ック端子、ＡＮＤ回路１１７に接続されている。カウン
タ１５は発振器１６が出力するクロックを用いてＯＲ回
路１４の出力が「Ｈ」の期間の長さを測るカウンタで、
キャリー出力端子C がＳＲラッチ回路１７のセット端子
Sに接続されている。ＳＲラッチ回路１７のリセット端
子R はシステムコントローラ１２０に接続されており、
出力端子Q はＡＮＤ回路１９とインバータ１１８に接続
されている。ＡＮＤ回路１９の他方の入力端子には、イ
ンバータ１８の出力が接続されている。ＡＮＤ回路１９
の出力はカウンタ１１１のクリア端子CLR に接続されて
いる。カウンタ１１１は発振器１１０からのクロック信
号を用いて、クリア端子CLR が「Ｈ」の期間の長さを測
り、カウント値を出力する。カウンタ１１１の出力端子
DATAは比較器１１２の入力端子B に接続されており、比
較器１１２は入力端子A に入力される基準値１１３とカ
ウンタ１１１の出力を比較し、基準値が大きければ
「Ｈ」を出力する。比較器１１２の出力A>B はＤラッチ
回路１１４のデータ入力端子D に接続されており、Ｄラ
ッチ回路１１４は、クロック端子に立ち上がりエッジが
入力したときの比較器１１２の出力A>B をラッチし、出
力端子Q に出力する。Ｄラッチ回路１１４の出力端子Q
はカウンタ１１６のクリア端子CLR に接続されている。
カウンタ１１６は、発振器１１５が発生するクロック信
号を用いてＤラッチ回路１１４の出力Q が「Ｈ」である
時間を測り、所定時間に達するとキャリー信号を出力す
る。キャリー出力端子C はＡＮＤ回路１１７に接続され
ている。ＡＮＤ回路１１７の出力はＳＲラッチ回路１１
９のセット端子S に接続されており、ＳＲラッチ回路１
１９のリセット端子R はインバータ１１８に接続されて
いる。ＳＲラッチ回路１１９の出力Q はシステムコント
ローラ１２０に接続されている。この信号がトラッキン
グ外れ信号である。破線で囲まれた部分１２１は、図１
０の従来のトラッキング外れ検出部１０６に相当する。

【００１２】このように構成された光ディスク装置につ
いて、以下、波形を参照しながら動作を説明する。はじ
めに、システムコントローラ１２０はＳＲラッチ回路１
７とＳＲラッチ回路１１９のリセット端子R を「Ｈ」に
することにより、両ＳＲラッチ回路の出力Q を「Ｌ」に
する。光ヘッド１１は、光ディスク１０からの反射光を
元に、図２の（ａ）に示すようなトラッキング誤差信号
を出力する。トラッキング誤差信号が正の比較値AAを越
えると、比較器１２は図２の（ｂ）に示すように「Ｈ」
レベルの信号を出力する。また、負の比較値BBより小さ
くなると、比較器１３は図２の（ｃ）に示すように
「Ｈ」レベルの信号を出力する。ＯＲ回路１４は、これ
らを加算することにより、トラック外れが内外周のどち
らの向きに発生してもトラック外れを検出できるように
挿入されている。ＯＲ回路１４の出力を図２の（ｄ）に
示す。内周側あるいは外周側のいずれかに光スポットが
ずれ、一つ目の「Ｈ」信号がカウンタ１５のクリア端子
CLR に入力されると、カウンタ１５はカウントを始め
る。カウント値が所定の数になると、図２の（ｅ）に示
すようにカウンタ１５はキャリー出力端子C に「Ｈ」を
出力し、これによって、ＳＲラッチ回路１７の出力Q が
「Ｈ」となる（図２の（ｆ））。これは、光スポットが
相当量ずれている時間（図２の（ａ）の期間Ｔａ）が長
いことを示し、トラッキングが外れかかっていることを
意味している。ＳＲラッチ回路１７の出力Qが「Ｈ」に
なり、一つ目の「Ｈ」の期間がすぎると、ＡＮＤ回路１
９の出力が図２の（ｇ）に示すように「Ｈ」になり、カ
ウンタ１１１が動作を始める。この期間（図２の（ａ）
の期間Ｔｂ）は、光スポットが隣接するトラックとの中
間にある期間である。カウンタ１１１はこの期間の時間
を測り、比較器１１２はこの時間が基準の時間より短い
かどうかを判断する。短ければ「Ｈ」を出力する。光ス
ポットが隣接するトラックとの間にある時間が短いとい
うことは、移動速度が速い、すなわち、サーボによるブ
レーキが効いていないことを示している。逆に、この時
間が長いということは、サーボによるブレーキが効い
て、引き戻される可能性が高いことを示している。さ
て、比較器１１２からの出力A>B （図２の（ｈ））が
「Ｈ」のうちにＯＲ回路１４の出力の２つめの「Ｈ」期
間がくると、Ｄラッチ回路１１４は「Ｈ」をラッチする
（図２の（ｉ））。Ｄラッチ回路１１４の出力Q が
「Ｈ」になると、カウンタ１１６はカウントを開始し、
所定のカウント値になると図２の（ｊ）に示すようにキ
ャリー出力C を「Ｈ」にする。これは、図２の（ａ）の
期間Ｔｃの長さが所定値より長いことを示す。ＡＮＤ回
路１１７は、ＯＲ回路１４の出力とカウンタ１１６のキ
ャリー出力C とのＡＮＤをとることにより、ＯＲ回路１
４の出力が「Ｈ」の期間以外でのキャリー出力C をマス
クし、誤動作を防いでいる。さて、カウンタ１１６のキ
ャリー出力C が「Ｈ」になると、ＳＲラッチ回路１１９
の出力Q は「Ｈ」になる（図２の（ｋ））。これは、隣
接トラックとの中間点をすぎて隣接トラック側に光スポ
ットが移動し、隣接トラックに乗りかかっていることを
示す。この信号をトラッキング外れ信号として用い、シ
ステムコントローラ１２０は直ちに記録動作を停止させ
る。

【００１３】以上、第１の実施例では、トラッキング誤
差信号が正あるいは負の敷居値を越えた時間と、一旦正
と負の敷居値の間に収まった時の時間と、一回目とは反
対の極性の敷居値を越えた時間をそれぞれ測定すること
により、光スポットの位置とそれぞれの状態での速度か
らトラッキング外れを検出している。この方法では、ト
ラッキング誤差信号の値が大きくなっているときの時間
を測定するため、ディスク上の傷などによるトラッキン
グ誤差信号のノイズの影響をほぼ無視できる程度に軽減
でき、また、光スポットの位置と速度を測定することに
より、正確かつ確実にトラッキング外れを検出すること
が可能となる。ちなみに、５Ｇの加速度でトラッキング
外れが起こった場合、図２の（ａ）の期間Ｔａは８０μ
秒、期間Ｔｃは５０μ秒程度になる。また、Ｔｂの期間
はサーボの作用で光スポットが引き戻されているかどう
かの目安ともいえるので、３００μ秒程度の比較的長い
時間を設定する。

【００１４】第１の実施例の方法では、正あるいは負の
敷居値を越えた時間が長いときに条件が成立したものと
しているが、想定した加速度以上の強い衝撃が加えられ
た場合、トラッキング外れが高い周波数で起こり、検出
が不可能な場合がある。第２の実施例として、この問題
に対応した光ディスク装置について説明する。

【００１５】図３は第２の実施例のブロック図である。
１０，１１，１２，１３は第１の実施例で説明した光デ
ィスクおよび光ヘッド、比較器である。１２２は第１の
実施例で説明したトラッキング外れ検出部で、図１の内
側の破線で囲まれた部分１２２に相当する（以下、第１
のトラッキング外れ検出部と称す。）。２つの比較器１
２，１３からの出力は、第１のトラッキング外れ検出部
１２２と、ＳＲラッチ回路３０に接続されている。ＳＲ
ラッチ回路３０の出力端子Q は発振器３２によって定期
的にリセットがかかるカウンタ３１のクロック端子に接
続されている。カウンタ３１のキャリア出力端子C はＳ
Ｒラッチ回路３３のセット端子S に接続されている。ま
た、ＳＲラッチ回路３３のリセット端子R はシステムコ
ントローラ３４に接続されている。第１のトラッキング
外れ検出部１２２の出力するトラッキング外れ信号とＳ
Ｒラッチ回路３３の出力Q は、ＯＲ回路３５でＯＲさ
れ、新しいトラッキング外れ信号としてシステムコント
ローラ３４に入力している。また、システムコントロー
ラ３４は、第１のトラッキング外れ検出部１２２にもリ
セット信号を送っている。破線で囲まれている部分３６
は、第１のトラッキング外れ検出部１２２に付加したブ
ロックであり、本実施例の特徴的な部分を示している。

【００１６】このような構成の光ディスク装置の動作を
波形図を用いて説明する。まず、システムコントローラ
３４は第１のトラッキング外れ検出部１２２とＳＲラッ
チ回路３３をリセットする。強い衝撃が外部から加わっ
た場合、光ヘッド１１は図４の（ａ）に示すようなトラ
ッキング誤差信号を出力する。この周波数がたとえば１
０ＫＨｚであったとすると、図２の（ａ）の期間Ｔａ，
Ｔｃに相当する部分は５０μ秒以下となり、第１のトラ
ッキング外れ検出部１２２では、検出が不可能となる。
このときの比較器１２の出力を図４の（ｂ），比較器１
３の出力を図４の（ｃ）に示す。比較器１２の出力はＳ
Ｒラッチ回路３０のセット端子S に、比較器１３の出力
はリセット端子R に接続されているため、ＳＲラッチ回
路３０の出力Q は図４の（ｄ）に示すようなパルスとな
る。ＳＲラッチ回路３０の出力Qはカウンタ３１のクロ
ック端子に入り、また、カウンタ３１は発振器３２が出
力する信号によって所定時間毎にリセットされるため、
所定時間内にキャリー出力C が「Ｈ」になるかどうかに
よって、トラッキング誤差信号の周波数が所定値以上に
なったかどうかを知ることができる。周波数が所定値以
上の場合、図４の（ｅ）に示すように、カウンタ３１の
キャリー信号C が「Ｈ」になり、図４の（ｆ）に示すよ
うに、ＳＲラッチ回路３３の出力Q が「Ｈ」になる。こ
れで、周波数が高いトラッキング外れが検出されたこと
となる。ＯＲ回路３５は、第１のトラッキング外れ検出
部１２２の出力とＳＲラッチ回路３３の出力Q を加算す
ることにより、１本の信号線でトラッキング外れを検出
可能にしている。

【００１７】以上のように、第２の実施例では、トラッ
キング誤差信号の周波数を監視することにより、第１の
実施例で想定している加速度より大きな加速度をもつト
ラッキング外れが起こった場合でも、トラッキング外れ
を検出することが可能となる。

【００１８】第３の実施例では、より簡便な方法で確実
にトラッキング外れが検出できる光ディスク装置につい
て説明する。図５は第３の実施例のブロック図である。
図中、１０，１１，１２，１３は第１の実施例と同様の
光ディスクと光ヘッドおよび比較器である。比較器１２
の出力は、ＳＲラッチ回路５０のセット端子S に、比較
器１３の出力はＳＲラッチ回路５０のリセット端子R と
Ｄラッチ回路５５のクロック端子に接続されている。Ｓ
Ｒラッチ回路５０の出力Q はカウンタ５１のクリア端子
CLR に接続され、カウンタ５１は発振器５２が出力する
クロックを用いて、クリア端子CLR が「Ｈ」のときの時
間長を測る。カウンタ５１の出力DATA（カウント値）は
比較器５３の入力端子B に接続されている。比較器５３
の入力端子A には基準値５４が入力され、比較器５３は
基準値がカウンタ５１のカウント値より大きいときに
「Ｈ」を出力する。比較器５３の出力A>B はＤラッチ回
路５５のデータ端子D に接続されており、Ｄラッチ回路
５５は、クロック端子に立ち上がりエッジが入力した時
のデータ端子D の値を出力する。Ｄラッチ回路５５のク
リア端子CLR はシステムコントローラ５６に接続されて
いる。Ｄラッチ回路５５の出力Q がトラッキング外れ信
号である。トラッキング外れ信号はシステムコントロー
ラ５６に入力する。破線で囲まれた部分５７は、第３の
実施例のトラッキング外れ検出部であり、従来のトラッ
キング外れ検出部図１０の１０６に相当する。

【００１９】以上のように構成された光ディスク装置に
ついて、波形を見ながら動作を説明する。光ヘッド１１
は光ディスク１０からの反射光から、図６の（ａ）に示
すようなトラッキング誤差信号を生成、出力する。比較
器１２はトラッキング誤差信号と正の比較値AAを比較
し、図６の（ｂ）に示すような信号を出力する。この信
号によってＳＲラッチ回路５０の出力Q は図６の（ｄ）
に示すように「Ｈ」になる。ＳＲラッチ回路５０の出力
Q が「Ｈ」になると、カウンタ５１のクリアが解除さ
れ、発振器５２が出力するクロックによってカウントア
ップが始まる。比較器５３は入力端子A から入力される
基準値５４と入力端子B から入力されるカウント値を比
較し、基準値が大きければ「Ｈ」を出力する。カウント
開始直後はカウンタ５１のカウント値は０であるので比
較器５３の出力A>B は「Ｈ」であり、所定時間経過する
とカウント値は基準値を越えて、比較器５３の出力A>B
は「Ｌ」になる。Ｄラッチ回路５５は比較器１３の出力
が「Ｈ」になった瞬間の比較器５３の出力A>B をラッチ
するので、Ｄラッチ回路５５の出力Q は、比較器１２の
出力が「Ｈ」になってから比較器１３の出力が「Ｈ」に
なるまでにカウント値が基準値を越えたかどうかを示す
信号ということになる。比較器１２の出力が「Ｈ」にな
ってから比較器１３の出力が「Ｈ」になるまでの時間
は、光スポットが所望のトラックから外れてから、隣接
するトラックとの中間点を越えて隣接するトラックに近
づくまでの時間を示している。これが短いということ
は、光スポットの移動速度が速いということを示し、サ
ーボによる復原力が効かなくなっていると言える。逆
に、これが長い場合は、一時的にトラッキング誤差信号
が大きくなったが、サーボによって正常な位置に引き戻
されたと考えることができる。このため、Ｄラッチ回路
５５の出力Q はトラッキング外れ信号として用いること
ができる。図６の（ｅ）は所定時間内にカウント値が基
準値を越えなかった場合、すなわち、トラッキング外れ
が起こった場合の比較器５３の出力A>B 、図６の（ｆ）
は、そのときのＤラッチ回路５５の出力Q を示す。トラ
ッキング外れが検出されると、システムコントローラ５
６は、記録を中断するなどの処理を行う。

【００２０】図７の（ａ）は、トラッキングサーボが外
れかかってサーボによって引き戻され、もう一度外れか
かって引き戻された場合のトラッキング誤差信号であ
る。このような場合、比較器１２，１３の出力は図７の
（ｂ），（ｃ）に示すようになり、ＳＲラッチ回路５０
の出力は図７の（ｄ）に示すように長い期間「Ｈ」にな
る。この間にカウンタ５１のカウント値は大きくなり、
基準値を越えて比較器５３の出力A>B は図７の（ｅ）に
示すように「Ｌ」になる。比較器１３の出力が「Ｈ」に
なっても（図７の（ｃ））、比較器５３の出力A>B が
「Ｌ」であるので、Ｄラッチ回路５５の出力Q は「Ｌ」
のままであり（図７の（ｆ））、トラッキング外れは検
出されない。

【００２１】以上のように、第３の実施例によれば、よ
り簡便なハードウエア構成で、光スポットが隣接トラッ
クとの中間点を越えたことを検出することが可能とな
り、安価にトラッキング外れ検出機構が構築できる。ま
た、この方法では、正負の比較値の絶対値を同じくした
場合、トラッキング誤差信号のちょうど半周期の長さを
測ることになるため、トラッキング誤差信号が正負の比
較値の間隔よりも大きな振幅を持っていればトラッキン
グ外れの検出が可能であり、温度変化による常数の変動
などにあまり影響されないという特徴をもつ。

【００２２】本発明の光ディスク装置では、トラッキン
グ誤差信号を正負２つの比較値と比較し、その結果を用
いてトラッキング外れを検出するため、トラッキング誤
差信号と比較値の関係が想定通りになっているかどうか
が重要となる。たとえば、何らかの原因で、図９の
（ａ）に示すようにトラッキング誤差信号の振幅が正負
の比較値の幅より狭くなった場合、トラッキング外れの
検出はまったくできなくなってしまう。また、図９の
（ｂ）に示すようにトラッキング誤差信号の振幅が極端
に大きくなった場合、トラッキング誤差信号が正の比較
値より大きな期間９１やトラッキング誤差信号が負の比
較値より小さな期間９３が正常な場合より長くなり、ま
た、正の比較値と負の比較値の間にある期間９２が短く
なるため、特に第１の実施例で説明した方法を用いた場
合、トラッキング外れを検出し易くなる。この問題を解
決するため、トラッキング誤差信号と比較値の関係が正
しいかどうかを測定し、調整する方法を下記で説明す
る。

【００２３】図８は第４の実施例のブロック図である。
８１は光ディスク、８２は対物レンズを移動させるトラ
ッキングアクチュエータを含む光ヘッド、８３は光ヘッ
ド８２が出力するトラッキング誤差信号を入力し、位相
補償を行って出力する位相補償回路、８４は光ヘッド８
２内の対物レンズを半径方向に移動させるキックパルス
を生成するキックパルス生成回路、８５は光ヘッド８２
内のトラッキングアクチュエータに印加する信号を切り
替えるスイッチ回路、８６は比較器に入るトラッキング
誤差信号の振幅を変化させる可変ゲインアンプ、８７は
可変ゲインアンプ８６が出力するトラッキング誤差信号
を正の比較値と比較する比較器、８８は可変ゲインアン
プ８６が出力するトラッキング誤差信号を負の比較値と
比較する比較器、１２２は第１の実施例で説明したトラ
ッキング外れを検出する回路で、第２の実施例で説明し
た第１のトラッキング外れ検出部１２２と同じものであ
る。８９はシステムコントローラである。

【００２４】このように構成された光ディスク装置にお
いて、まず、システムコントローラ８９は、スイッチ回
路８５を位相補償回路８３側に倒して、トラッキングサ
ーボがかかった状態にする。ついで、可変ゲインアンプ
８６のゲインを小さくし、図９の（ａ）に示すように、
比較器８７，８８に入るトラッキング誤差信号が、正負
の比較値の間に収まるようにし、第１のトラッキング外
れ検出部１２２にリセット信号を送り、トラッキング外
れ信号を「Ｌ」にする。次に、システムコントローラ８
９はスイッチ回路８５をキックパルス生成回路８４側に
倒して、ジャンプパルスをトラッキングアクチュエータ
に印加する。トラッキングアクチュエータは、ジャンプ
パルスを印加されると、それに従い対物レンズを駆動す
ることにより光スポットを隣接するトラック上に移動さ
せる。この場合、トラッキング誤差信号の振幅が小さい
ため、トラッキング外れは検出されず、第１のトラッキ
ング外れ検出部１２２が出力するトラッキング外れ信号
は「Ｌ」のままである。システムコントローラ８９はト
ラッキング外れ信号を監視し、「Ｌ」の場合は可変ゲイ
ンアンプ８６のゲインを大きくして同様の処理を行う。
可変ゲインアンプ８６のゲインが大きくなり、トラッキ
ング誤差信号と正負の比較値の値が想定した関係になる
と、トラッキング外れが検出され、トラッキング外れ信
号は「Ｈ」になる。トラッキング外れ信号が「Ｈ」にな
ると、システムコントローラ８９は可変ゲインアンプ８
６のゲインを固定し、調整を終了する。

【００２５】このように、第４の実施例によれば、トラ
ックジャンプを行うことによりトラッキング外れ状態を
つくり、トラッキング外れ信号をモニタしながらトラッ
キング誤差信号の振幅を変化させることにより、トラッ
キング誤差信号と正負の比較値を正しい関係にすること
ができ、精度良く、トラッキング外れを検出することが
可能となる。

【００２６】なお、第２の実施例、第３の実施例では、
トラッキング誤差信号と正の比較値を比較した結果をＳ
Ｒラッチ回路のセット端子に、負の比較値との比較結果
をリセット端子に入力したが、反対に、正の比較値との
比較結果をリセット端子に、負の比較値との比較結果を
セット端子に入力してもよい。

【００２７】また、第２の実施例では、第１の実施例で
説明したトラッキング外れ検出部に周波数測定によりト
ラッキング外れを検出するブロックを付加したが、第３
の実施例で説明したトラッキング外れ検出部と組み合わ
せてもよい。

【００２８】また、第４の実施例では、可変ゲインアン
プを用いてトラッキング誤差信号の振幅を変化させるこ
とによりトラッキング誤差信号と比較値の関係を調整し
たが、比較値を変化させる手段を設け、トラッキング誤
差信号の振幅を固定し、比較値を変化させることにより
調整を行ってもよい。

【００２９】また、第４の実施例では、あらかじめ可変
ゲインアンプのゲインを小さくしておき、ゲインを上げ
ていき、トラッキング外れが検出されたときに可変ゲイ
ンアンプのゲインを固定することにより調整を行った
が、あらかじめ、可変ゲインアンプのゲインを上げてお
き、だんだん小さくし、トラッキング外れが検出されな
くなる直前のゲインに可変ゲインアンプを固定すること
により調整を行ってもよい。

【００３０】また、第４の実施例では、トラッキング外
れの状態をつくるためにトラックジャンプを行ったが、
たとえば、光ディスクを回転させた状態でトラッキング
サーボをはずし、偏心によりトラッキング外れをつくる
方法や、光ヘッドとヘッド移送手段による２段サーボを
行う場合はヘッド移送手段を駆動することにより、トラ
ッキング外れ状態をつくるなど、どのような方法でもか
まわない。

【００３１】また、第４の実施例では、第１の実施例で
説明したトラッキング外れ検出部を用いて調整を行う方
法を説明したが、第２，第３の実施例で説明したトラッ
キング外れ検出部に対しても同様の調整が行えること
は、いうまでもない。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光スポットの位置を細かな精度でとらえ、正確にトラッ
キング外れを検出することができ、記録動作の中断が少
ない、安定した記録および再生動作を行う光ディスク装
置の実現が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における光ディスク装置
の構成を示すブロック図

【図２】同第１の実施例における光ディスク装置の動作
を示す波形図

【図３】本発明の第２の実施例における光ディスク装置
の構成を示すブロック図

【図４】同第２の実施例における光ディスク装置の動作
を示す波形図

【図５】本発明の第３の実施例における光ディスク装置
の構成を示すブロック図

【図６】同第３の実施例における光ディスク装置の、ト
ラック外れを検出する場合の動作を示す波形図

【図７】同第３の実施例における光ディスク装置の、ト
ラック外れを検出しない場合の動作を示す波形図

【図８】本発明の第４の実施例における光ディスク装置
の構成を示すブロック図

【図９】同第４の実施例における光ディスク装置の動作
を説明するための波形図

【図１０】従来の光ディスク装置のトラッキング外れ検
出回路の構成を示すブロック図

【図１１】従来の光ディスク装置のトラッキング外れ検
出回路の動作を示す波形図

【符号の説明】

１２，１３，１１２比較器１５，１１１，１１６カウンタ１７，１１９ＳＲラッチ回路１１４Ｄラッチ回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクの情報トラックに対して光ビ
ームを照射し、光学的手段で情報を読み出すと同時に、
前記情報トラックと前記光ビームの位置ずれを示すトラ
ッキング誤差信号を出力する光ヘッドと、前記トラッキング誤差信号を正の比較値と比較し、第１
の比較結果を出力する第１のレベル比較手段と、前記トラッキング誤差信号を負の比較値と比較し、第２
の比較結果を出力する第２のレベル比較手段と、前記第１の比較結果あるいは前記第２の比較結果を入力
し、前記トラッキング誤差信号が正の比較値より大きい
期間、あるいは、負の比較値より小さい期間の長さを測
定する第１の期間測定手段と、前記第１の期間測定手段の測定結果と第１の基準期間の
長さを比較し、第３の比較結果を出力する第１の期間比
較手段と、前記第１の比較結果と第２の比較結果を入力し、前記ト
ラッキング誤差信号が正の比較値より小さくなってから
負の比較値より小さくなるまでの期間、あるいは、負の
比較値より大きくなってから正の比較値より大きくなる
までの期間の長さを測定する第２の期間測定手段と、前記第２の期間測定手段の測定結果と第２の基準期間の
長さを比較し、第４の比較結果を出力する第２の期間比
較手段と、前記第３，第４の比較結果を入力し、前記第１の期間測
定手段の測定結果が前記第１の基準期間の長さより長
く、前記第２の期間測定手段の測定結果が前記第２の基
準期間の長さより短い場合にトラック外れ信号を出力す
るトラック外れ出力手段とを備えた光ディスク装置。
【請求項２】光ディスクの情報トラックに対して光ビ
ームを照射し、光学的手段で情報を読み出すと同時に、
前記情報トラックと前記光ビームの位置ずれを示すトラ
ッキング誤差信号を出力する光ヘッドと、前記トラッキング誤差信号を正の比較値と比較し、第１
の比較結果を出力する第１のレベル比較手段と、前記トラッキング誤差信号を負の比較値と比較し、第２
の比較結果を出力する第２のレベル比較手段と、前記第１の比較結果と前記第２の比較結果を入力し、前
記トラッキング誤差信号が正の比較値より大きくなって
から負の比較値より小さくなるまでの時間、あるいは、
負の比較値より小さくなってから正の比較値より大きく
なるまでの時間を測定する期間測定手段と、前記期間測定手段が測定した時間が所定の値より小さい
場合、トラッキング外れが発生したと判断し、トラッキ
ング外れ信号を出力するトラッキング外れ検出手段とを
備えた光ディスク装置。
【請求項３】第１の比較結果および第２の比較結果を
入力し、第１および第２の比較結果の変化の周波数を測
定する周波数測定手段と、前記周波数測定手段が測定した周波数が所定の値を越え
た場合に高周波トラック外れ信号を出力する高周波トラ
ック外れ出力手段を有することを特徴とする請求項１ま
たは２記載の光ディスク装置。
【請求項４】第１および第２の比較手段に入力するト
ラッキング誤差信号の振幅を変化させる可変ゲインアン
プ、あるいは、正負の比較値の値を変化させる比較値設
定手段と、前記可変ゲインアンプと比較値設定手段の片方、あるい
は両方を用いて、相対的にトラッキング誤差信号の振幅
を大きくしていき、トラッキング外れが検出された時点
で調整を終了する、あるいは、相対的にトラッキング誤
差信号の振幅を小さくしていき、トラッキング外れが検
出されなくなる直前の状態で調整を終了することによ
り、トラッキング誤差信号の振幅と正負の比較値の関係
を調整する調整手段とを備えた請求項１，２または３記
載の光ディスク装置。