JPH08287588A - ディスク判別装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 多種類の光ディスクを１台の記録再生装置で
記録再生する光ディスク駆動装置において、重量及び外
形寸法が同一で、基材厚のみが異なるディスクを判別可
能なディスク判別装置を提供することを目的とする。 【構成】 光ディスクに光ビームを照射する発光手段
と、光ディスクからの反射光を検出する受光手段と、受
光手段の光検出出力の大きさを２種類のレベルで比較す
る２つの比較手段と、上記比較回路出力の変化する時間
間隔を測定する計時手段と、計時部の測定結果によりデ
ィスク基材厚を判定する判定手段とを備え、光ビーム焦
点を光ディスクに対して一定の速度で近づけて行った時
の、光ディスク基材の表面からの反射光が検出された時
点から、光ディスクの信号面からの反射光が検出される
までの時間を計測し、その時間差によって光ディスク基
材厚を判別することが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光ディスク記録再生装置
のディスク判別装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、ディスク判別装置は多種類の光デ
ィスクを１台の記録再生装置で記録再生するという要求
により注目されている。従来は、光ディスクの直径や重
量などの機械的形状を測定してディスク判別を行なう事
が行なわれてきた。

【０００３】図５に従来例の構造斜視図を示す。図５に
おいて、２１は光ディスク駆動装置の基台、２２は反射
センサー、２３はターンテーブル、２４は大径ディスク
装着時のディスク外形の想像線、２５は小径ディスク装
着時のディスク外形の想像線である。 反射センサー２
２は、基台に固定されており、その位置は小径ディスク
２５の外形より外側で、大径ディスク２４の外形より内
側になるように設定されている。

【０００４】ディスクの判別は、ターンテーブル２３に
光ディスクが装着された時に、反射センサー２２が反射
面を検出していれば大径ディスク、反射面を検出してい
なければ小径ディスクとして判別される。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら光ディス
クの記録密度向上を実現する為に、ディスクの基材厚を
薄くした光ディスクが提案されつつあり、上記のように
ディスクの機械的形状を計測する従来の方法では、重量
及び外形寸法が同一で、基材厚のみが異なるディスクを
判別出来ないという問題点を有していた。

【０００６】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、外形寸法が同一で、基材厚のみが異なるディスクを
判別可能なディスク判別装置を提供することを目的とす
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のディスク判別装置は、光ディスクに光ビーム
を照射する発光手段と、光ディスクからの反射光を検出
する受光手段と、受光手段の光検出出力の大きさを２種
類のレベルで比較する２つの比較手段と、上記比較回路
出力の変化する時間間隔を測定する計時手段と、計時部
の測定結果によりディスク基材厚を判定する判定手段と
を備えている。

【０００８】

【作用】本発明は上記した構成により、光ビームの焦点
が光ディスクに対して近いていった時の、光ディスク基
材の表面からの反射光が検出された時点から、光ディス
クの信号面からの反射光が検出されるまでの時間を計測
し、その時間差によって光ディスク基材厚を判別する物
である。

【０００９】

【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。図１は本発明の第１の実施例におけ
るディスク判別装置のブロック図を示すものである。図
１において、１は光ディスク、１ａは光ディスクの信号
面、１ｂは光ディスクの基材、１ｃは光ディスクの基材
表面、２は発光手段を備えた光ヘッド、３は信号読み取
りの為の光ビーム焦点、４はフォーカスアクチュエー
タ、５は光ディスクから反射された光を検出する受光素
子、６はサーチ信号発生手段、７と８はそれぞれ固有の
比較レベルが設定されている比較手段、９は比較手段１
と比較手段２の出力の変化の時間間隔を測定する計時手
段、１０は計時部９の結果によって光ディスク基材厚の
判定を行なう判定手段である。

【００１０】サーチ信号発生部６の出力はフォーカスア
クチュエータ４に接続され、光ビーム焦点３を光ディス
クに一定の速度で近づけるように動作する。比較手段７
と比較手段８には受光素子５の出力が接続され、それぞ
れレベル１とレベル２で入力信号レベルを比較した検出
信号を計時手段９に出力している。以上のように構成さ
れた本実施例のディスク判別装置について、以下その動
作について図２と図３を用いて説明する。

【００１１】図２は基材厚が薄い光ディスク、図３は基
材厚が厚い光ディスクを判定する際の、光ビーム焦点位
置、受光素子出力、比較器出力のタイミングチャートで
ある。サーチ信号発生手段６によって光ビーム焦点３
が、光ディスク１から十分遠い位置から近づいてゆく
と、光ビーム焦点３は光ディスク１の外部からまず最初
に基材表面１ｃに到達する。この時、受光素子５では基
材表面１ｃからの反射光が検出され、比較手段７と比較
手段８の適切に設定された比較レベル１及び比較レベル
２によって、比較手段７は検出信号を発生するが、比較
手段８は検出信号を発生しない状態となる。計時手段９
はこの状態を検出して計時を開始する。

【００１２】光ビーム焦点３が光ディスク表面１ｃを通
過して光ディスク基材１ｂの内部に在る時には、反射光
が受光素子５に入射しないので、比較手段７と比較手段
８は共に検出信号を発生しない状態となっている。この
状態は光ビーム焦点３が光ディスク信号面１ａに到達す
るまで持続し、その持続時間は、光ビーム焦点３の光デ
ィスク１に対する相対速度が一定であれば、光ディスク
の基材厚に比例する事になる。

【００１３】光ビーム焦点３が光ディスク信号面１ａに
到達すると、再び反射光が受光素子５に入射し、この場
合には比較手段７と比較手段８は共に検出信号を発生す
る。計時手段９はこの状態を検出して計時を終了し、判
定手段１０に結果を出力する。図２及び図３に示すよう
に、光ディスク１の基材厚によって計時手段９の計時結
果Ｔは異なるので、判定手段１０はあらかじめ定められ
た値と計時結果を比較して、光ディスク基材厚を判定す
る事が出来る。

【００１４】図４は受光素子５の回路構成を示すブロッ
ク図である。図４において、１５は受光面を直交する２
本の分割線で分割した４分割受光素子、１６及び１７は
加算器、１８は減算器である。光ヘッド２のフォーカス
光学系がアスティグマ法であれば、４分割受光素子１５
の受光面を対角をなす２対の領域に分けた時の、各領域
の出力の差がフォーカスエラー信号となる。上記の受光
素子５の出力としてこのフォーカスエラー信号を用いれ
ば、同相雑音成分が抑圧される事により、基材表面１ｃ
からの極めて微小な反射光信号を良好なＳ／Ｎ秀検出す
る事が可能となる。

【００１５】

【発明の効果】以上のように本発明は光ディスクに光ビ
ームを照射する発光手段と、光ディスクからの反射光を
検出する受光手段と、受光手段の光検出出力の大きさを
２種類のレベルで比較する２つの比較手段と、上記比較
回路出力の変化する時間間隔を測定する計時手段と、計
時部の測定結果によりディスク基材厚を判定する判定手
段とを設けることにより、外形寸法が同一で、基材厚の
みが異なるディスクを判別可能にする優れたディスク判
別装置を実現できるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例におけるディスク判別装置のブ
ロック図

【図２】本発明の動作を示すタイミングチャート

【図３】本発明の動作を示すタイミングチャート

【図４】受光素子の回路構成ブロック図

【図５】従来のディスク判別装置の斜視構造図

【符号の説明】

１ 光ディスク １ａ 光ディスクの信号面 １ｂ 光ディスクの基材 １ｃ 光ディスクの基材表面 ２ 光ヘッド ３ 光ビーム焦点 ４ フォーカスアクチュエータ ５ 受光素子 ６ サーチ信号発生手段 ７、８ 比較手段 ９ 計時手段 １０ 判定手段

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに光ビームを照射する発光手
   段と、光ディスクからの反射光を検出する受光手段と、
   受光手段の光検出出力の大きさを２種類のレベルで比較
   する２つの比較手段と、上記比較回路出力の変化する時
   間間隔を測定する計時手段と、計時部の測定結果により
   ディスク基材厚を判定する判定手段とを備えたディスク
   判別装置。
2. 【請求項２】 発光手段と受光手段は、光ディスクに記
   録された情報を読み取るための発光及び受光手段と同一
   である請求項１記載のディスク判別装置。
3. 【請求項３】 受光手段の受光面の２つの領域の出力の
   差信号をもって、ディスクからの反射光とする請求項１
   記載のディスク判別装置。