JPH08272453A - Icテストハンドラの基準位置ズレ自動検出機構 - Google Patents

Icテストハンドラの基準位置ズレ自動検出機構

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JPH08272453A
JPH08272453A JP9452595A JP9452595A JPH08272453A JP H08272453 A JPH08272453 A JP H08272453A JP 9452595 A JP9452595 A JP 9452595A JP 9452595 A JP9452595 A JP 9452595A JP H08272453 A JPH08272453 A JP H08272453A
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JP
Japan
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reference position
detected
movement
limit sensor
phase
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9452595A
Other languages
English (en)
Inventor
Kuniaki Sakauchi
邦昭 坂内
Takeshi Onishi
武士 大西
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ハンドラでICデバイスをハンドリングする
際に各駆動軸上で所定の手順を経て決めた基準位置にズ
レが発生したとき自動的に検出してアラームが出せる基
準位置ズレ自動検出機構を提供する。 【構成】 エンコーダ5が付いているモータ6、ボール
ネジ7及びモータ6にボールネジ7に接続するカップリ
ング8からなる駆動軸と、エンコーダ5やモータ6を制
御したり、検出データを記憶するRAMや動作を制御す
るCPUからなる制御部9と、上記駆動軸上を移動する
ものをセンシングするリミットセンサA1及びリミット
センサB2と、で構成された機構。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICテストハンドラに
使用する駆動軸上の基準位置ズレ自動検出機構に関す
る。
【0002】
【従来の技術】ICデバイスの電気的特性をテストする
のに用いられるICテスタにおいて、ICデバイスを所
定の位置にハンドリングするのはハンドラによって行
う。従って、ハンドラには可能な限り正確に所定の位置
にICデバイスをハンドリングすること、即ち搬入又は
搬出することが求められる。また、所定の位置にハンド
リングするのには、縦軸をX軸とし横軸をY軸として、
エンコーダ付きパルスモータ及びサーボモータを使用す
る駆動軸を持ったX−Yテーブルと、垂直軸をZ軸とし
た吸着ヘッドとを組み合わせた機構のもので行うのが通
常である。
【0003】その為に、正確に位置決めを行うのには、
数多く用いられる各駆動軸上を移動させる吸着ヘッドの
移動量をどのようにして正確に制御することができる機
構とするか、ということにかかってくる。また、ハンド
リングは無限といってもいい程繰り返して行われなけれ
ばならないのであり、どの時点での移動量も常に正確で
あることがその都度繰り返し求められているわけであ
る。
【0004】そこで、所定の位置決めを行うためには基
準点となる基準位置を設ける。そして、それは所定の手
順によって決定され、その基準位置を原点にして移動量
が決められ各方向への動作シーケンスに従った動作が行
われる。図2に従来技術によって基準位置を決める機構
と手順とを示した。
【0005】図2に示すように、(1)リミットセンサ
A1を検出するまで、基準位置方向3に連続移動12さ
せる。 (2)リミットセンサA1が検出できなくなるまで、1
ステップずつ確認しながら基準位置方向3と逆の方向へ
移動させる。 (3)エンコーダ5のZ相11、即ち起点位置となる1
パルスが検出されるまで1ステップずつ基準位置方向3
と逆の方向へ移動させる。 (4)エンコーダ5のZ相11を検出したらその位置を
基準位置に決定して、そこから所定の移動量を移動させ
るための動作を行う。
【0006】ところが、従来技術による基準位置決めの
機構では、何らかの原因で基準位置とした点がずれて変
わってしまうことが生ずる。しかも、その変わってしま
ったことを認知できないまま動作を続けていると、移動
量が次第に変化を続けて大きく変わり遂には所定位置に
配置されたテストトレイ内の収納部である凹部の縁にI
Cデバイスが当たるようになり、それを無理に吸着ヘッ
ドが押し込むことになり、ICデバイスを破損してしま
うばかりでなく、吸着ヘッドも故障させハンドラの各所
に歪みを生じさせてしまうという問題点を有していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、ハンドラでICデバイスをハンドリングす
るのに際して各駆動軸上において、所定の手順を経て決
めた基準位置のズレが発生してしまったときには、直ち
に認識することができて、位置ズレしたことを示すアラ
ームを出すことで、オペレータに異常状態を通知し、直
ちに異常発生に対処できる機構を実現することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明においては、
(1)先ず従来技術による決定手順に加えて、カウント
開始の位置センサであるリミットセンサA1が検出でき
なくなったポイントから、1ステップずつ移動量をカウ
ントしながら移動させて、エンコーダのZ相、つまりエ
ンコーダの基準ポイントである1パルスが発生するポイ
ントを検出するまで移動させ、(2)Z相を検出したな
らば、そのポイントを基準位置と決定するが、同時にそ
こまでのリミットセンサAからの移動量を、制御部に設
けたCPUによってRAMなどのメモリに記憶し、デー
タとして保存しておき、
【0009】(3)次に、所定の移動を繰り返すための
動作命令をスタートさせる動作の度毎に基準位置を確認
するための基準位置確認モードに切り換える。(4)そ
して上記(1)によってZ相を検出し、さらに上記
(2)によって制御部に記憶させ保存した移動量のデー
タと、実際に所定の位置へハンドリングするための動作
の度毎に検出したデータとが、一致しているかどうかを
確認させ、一致していない場合には動作をストップし
て、基準位置ズレが発生したことをアラームによってオ
ペレータに知らせ、オペレータが直ちに対応できる構成
とした。
【0010】
【作用】従来技術においては、基準位置を所定の手順に
よって設定したものは、理論的にはその後も繰り返しコ
ントロールされていくもの、ということを前提としてい
た。ところが、実際には何らかの原因で基準位置ズレが
発生してしまい結果的にはハンドラとしての不具合を発
生してしまっていた。そこで、本発明においては、より
高い繰り返し精度を保つことができるようにするため
に、基準位置ズレが例えば1ステップ分だけでも発生し
たら、それを感知しハンドラを停止してアラームが出せ
る制御部を設けることで、オペレータに直ちに対応させ
ることを可能とした。
【0011】
【実施例】図1は、本発明の実施例のICテストハンド
ラの基準位置ズレ自動検出機構を示す概念図である。図
1には、本発明のICテストハンドラの基準位置ズレを
自動検出する機構の構成とその動作シーケンスのタイム
チャートを示した。
【0012】図1に示すように、本発明によるICテス
トハンドラの基準位置ズレ自動検出機構は、エンコーダ
5が付いているモータ6、ボールネジ7及びモータ6を
ボールネジ7に接続するカップリング8からなる駆動軸
と、エンコーダ5、モータ6を制御したり、検出データ
をメモリするRAMや動作を制御するCPUからなる制
御部9と、上記駆動軸上を移動するものをセンシングす
るリミットセンサA1、リミットセンサB2とで構成さ
れる。尚リミットセンサA1は、移動量を1ステップず
つカウントする際に起点となるカウント開始位置を決め
るセンサであり、またリミットセンサB2は上記駆動軸
上の移動方向4での移動量の限界とする位置を検出する
センサである。
【0013】また図1に示したように本発明の機構によ
る操作シーケンスのタイムチャートはなっている。即
ち、 (1)当初は基準位置決定モードとして、(A)リミッ
トセンサA1を検出するまで基準位置方向3に連続移動
12させる。(B)リミットセンサA1が検出できなく
なるまで1ステップずつ確認しながら基準位置方向3と
逆の方向にステップ移動A13させる。(C)リミット
センサA1が検出できなくなったポイントから移動量を
カウント15しながら1ステップずつエンコーダ5のZ
相11を検出するまでステップ移動B14させる。
(D)Z相11を検出したならば、そのポイントを基準
位置と決定し、リミットセンサA1からの移動量をデー
タとして制御部9のメモリに保存する。
【0014】(2)次に、所定の移動を繰り返すための
動作命令をスタートさせるためには、基準位置確認モー
ドに切り換えるが、上記記載の(A)〜(C)は同じ動
作で行わせ、次に、(E)Z相11を検出するまでを1
ステップずつカウント15して得た移動量のデータと、
上記記載の(1)の基準位置決定モードでのデータとが
一致しているか比較させる。比較確認の結果一致してい
なければ、その時点で動作をストップして基準位置ズレ
発生のアラームを発しオペレータに通知するものとし
た。
【0015】(3)本発明による基準位置ズレ自動検出
機構とその手順とはICテストハンドラ以外の駆動軸と
して用いることは極めて有用である。
【0016】上記実施例では、駆動機構としてボールネ
ジ7による場合での説明であったが、所望によりこの代
わりにタイミングベルト及びワイヤーによる駆動機構を
用いても良く、同様にして実施可能である。
【0017】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。 (1)何らかの原因で基準位置ズレが発生しても、オペ
レータが認知できないまま動作させていると遂にはズレ
が積み重なって、X−Y両軸の座標点で決められた移動
方向と移動量は、正しい所定の位置とはかけ離れ、Z軸
の下降動作で無理な力を加えることで、被測定対象物で
あるICデバイスを壊すことがなくなった。 (2)さらにICデバイスのみならずハンドラの一部を
壊すこともなくなったので、稼働率が格段に向上した。 (3)基準位置ズレが発生したら直ちにハンドラをスト
ップしてアラームを出しオペレータに知らせて対応させ
るので、原因を追求して根本対策が取れるようになっ
た。 (4)従ってオペレータの負担が減ったので、多数台持
ち運転が楽になりさらには無人化運転も可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の機構を示す概念図である。
【図2】従来技術によって基準位置を決める機構を示す
概念図である。
【符号の説明】
1 リミットセンサA 2 リミットセンサB 3 基準位置方向 4 移動方向 5 エンコーダ 6 モータ 7 ボールネジ 8 カップリング 9 制御部 11 Z相 12 連続移動 13 ステップ移動A 14 ステップ移動B 15 カウント

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 エンコーダ(5)付きのモータ(6)に
    よ一軸駆動手段と、 エンコーダ(5)やモータ(6)を制御し、検出データ
    を記憶するRAMや動作を制御するCPUからなる制御
    部(9)と、 上記駆動上を移動するものをセンシングするリミットセ
    ンサA(1)及びリミットセンサB(2)と、 を具備することを特徴とするICテストハンドラの基準
    位置ズレ自動検出機構。
  2. 【請求項2】 当初は基準位置決定モードに設定し、リ
    ミットセンサA(1)を検出するまで基準設定位置方向
    (3)に連続移動(12)させて、 次にリミットセンサA(1)が検出できなくなるまで1
    ステップずつ確認しながら基準位置方向(3)と逆の方
    向にステップ移動A(13)させて、 リミットセンサA(1)が検出できなくなったポイント
    から移動量をカウント(15)しながら1ステップずつ
    エンコーダ(5)のZ相(11)を検出するまでステッ
    プ移動B(14)させて、 Z相(11)を検出したならばそのポイントを基準位置
    と決定し、リミットセンサA(1)からの移動量をデー
    タとして制御部(9)のメモリに保存し、 次いで所定の移動を繰り返すための動作命令をスタート
    させるためには基準位置確認モードに切り換えて、 上記記載のZ相(11)を検出して、そのポイントを基
    準位置として決定し、リミットセンサA(1)からの移
    動量をデータとしてメモリに記憶した後はZ相(11)
    を検出するまでを1ステップずつカウント(15)して
    得た移動量のデータと上記記載の基準位置決定モードで
    のデータとが一致しているかどうかを比較し、 一致していなければ、その時点で動作をストップして基
    準位置ズレ発生のアラームを発しオペレータに通知する
    手順としたことを特徴とするICテストハンドラの基準
    位置ズレ自動検出機構。
  3. 【請求項3】 一軸駆動手段は、ボールネジ(7)、タ
    イミングベルト、あるいはワイヤーによる駆動機構とし
    た請求項1記載のICテストハンドラの基準位置ズレ自
    動検出機構。
JP9452595A 1995-03-28 1995-03-28 Icテストハンドラの基準位置ズレ自動検出機構 Withdrawn JPH08272453A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100451586B1 (ko) * 2002-03-13 2004-10-08 미래산업 주식회사 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 이송장치의 작업 높이인식장치 및 이를 이용한 작업 높이 인식방법
JP2009291922A (ja) * 2008-06-09 2009-12-17 Shinmaywa Industries Ltd 往復移動装置の位置ずれ検出装置およびそれを備えたカッター装置

Cited By (3)

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KR100451586B1 (ko) * 2002-03-13 2004-10-08 미래산업 주식회사 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 이송장치의 작업 높이인식장치 및 이를 이용한 작업 높이 인식방법
US6870360B2 (en) 2002-03-13 2005-03-22 Mirae Corporation Apparatus for recognizing working height of device transfer system in semiconductor device test handler and method thereof
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