JPH08265674A - マイクロチップフラットディスプレイスクリーンにおけるアドレス指定装置 - Google Patents

マイクロチップフラットディスプレイスクリーンにおけるアドレス指定装置

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JPH08265674A
JPH08265674A JP8052572A JP5257296A JPH08265674A JP H08265674 A JPH08265674 A JP H08265674A JP 8052572 A JP8052572 A JP 8052572A JP 5257296 A JP5257296 A JP 5257296A JP H08265674 A JPH08265674 A JP H08265674A
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charge
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Bernard Bancal
バンカル ベルナール
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Pixtech SA
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    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
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    • G09G2310/02Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
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    • G09G2310/027Details of drivers for data electrodes, the drivers handling digital grey scale data, e.g. use of D/A converters
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Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 フラットディスプレイスクリーンの電極
を制御する装置は、マイクロチップカソードを構成する
第1の電極と、蛍光体エレメントに設けられたアノード
を構成する第2の電極と、行に配列されるゲートとを含
む。電極の少なくとも1つが列に配列される。装置は各
列を個別にアドレス指定し、かつ電荷が所定のルミネン
ス値に相当する閾値電圧に達するや否やに列のバイアス
を中断するための回路を含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はフラットディスプレ
イスクリーンに関する。特に、マイクロチップスクリー
ンの電極のアドレス指定又は制御に関する。
【0002】
【従来の技術】図1は従来のマイクロチップフラットデ
ィスプレイスクリーンの機能構成を示す図である。
【0003】そのようなマイクロチップスクリーンはマ
イクロチップ2及びマイクロチップ2の位置に一致する
ホール4を用いたゲート3を含むカソード1からなる。
カソード1はスクリーンの表面を構成するガラス基板6
上に形成された陰極線ルミネセンスアノード5に対面す
るように設けられる。
【0004】そのようなマイクロチップの動作及び詳細
な構成はコミュサリアタ レネルジー アトミーク社に
よる米国特許第4,940,916号明細書に開示され
ている。
【0005】従来、カソード1は列に設けられ、かつガ
ラス基板10上に導体層からメッシュで配列されたカソ
ード導体を構成される。マイクロチップ2はカソード導
体上にデポジットされた抵抗層11上に設けられ、かつ
カソード導体によって定められたメッシュの内側に設け
られている。図1はカソード導体なしであって、メッシ
ュの内側を部分的に設けられている。カソード1は行に
配列されたゲート3に関係付けられている。絶縁層(図
示せず)はカソード導体とゲート3の間に挿入される。
カソード1の列とゲート3の行の交差点は画素を定め
る。
【0006】電子がマイクロチップ2からアノード5の
蛍光体エレメント7に向かって放射するように、その装
置はカソード1とゲート3の間に生じる磁場を使用す
る。カラースクリーンの場合、アノード5は色(青、
赤、緑)にそれぞれ相当する蛍光体エレメント7の交互
なるストリップ線で提供される。そのストリップ線は絶
縁材料8によって他部から隔離される。蛍光体エレメン
ト7はインジウム及び酸化スズ(ITO)のような透明
な導体層のストリップ線によって構成される電極9上に
デポジットされる。ストリップ線はカソードの列に並列
に設けられ、3つのストリップ線のグループ(各色に対
して1つ)はカソードの列に面している。そしてアノー
ド5のストリップ線のグループの幅は画素の幅に相当す
る。カソード/ゲートの1つの画素のマイクロチップ2
から抽出される電子が交互に各色の面する蛍光体エレメ
ント7に向かって向けられ、かつ真空空間12を交差す
るので、青、赤及び緑のストリップ線のグループは交互
にカソード1に関してバイアスされる。
【0007】図2はマイクロチップスクリーンの従来の
一例のアドレス指定モードを示す透視分解図である。
【0008】明確にするために、カソード列Kのメッシ
ュは表されていない。更に、カソード1はゲート3から
離れたように表示されており、特にマイクロチップ2の
臨界はゲート3に形成されたホール4でフラッシュされ
る。更に、画素における9個のマイクロチップ2のみが
表されている。特に、各画素はマイクロチップの数千を
含み、ゲート3は各マイクロチップ2の回りに1つのホ
ール4を含む。
【0009】画像は制御回路(図示せず)を介してアノ
ード5、カソード1及びゲート3を適切にバイアスする
ことによって画像期間(例えば50Hzの周波数で20
ms)中表示される。
【0010】アノード蛍光体エレメントのストリップ線
R、G及びBが必要なスイッチ時間によって減少される
画像期間の三分の一に相当するフレーム期間(例えば
6.6ms)における同じ色のストリップ線のグループ
によって結果としてバイアスされる。そのディスプレイ
は選択された色で(例えばLj )の現在の行に沿って表
示されるために画素の明るさによるカソードの各列Kが
電位に上昇される間に「ライン期間」中ゲート3の行L
を継続的にバイアスすることによってライン後ラインを
実行される。カソード1の列Kのバイアスを行うことは
ライン走査の各新規の行で変化する。「ライン期間」
(例えば10ms)はゲート3の行Lの数によって分割
される1つのフレームの継続に相当する。
【0011】図2は行Lj がバイアスされる中「ライン
期間」中、画素P(i−1,j)、P(i,j)及びP
(i+1,j)における緑色での所定の明るさによる電
位で上昇される列Ki-1 ,Ki 及びKi+1 のマイクロチ
ップから抽出された電子の通過を示す図である。画素P
の表面は点線及び破線で示される。
【0012】図3は例えば図2に示される1つであるマ
イクロチップスクリーンの簡単な電気回路図である。抵
抗層11は各マイクロチップ2に渡った抵抗RK によっ
て簡単に示されている。各カソード列K及び各ゲート行
Lは別々に制御電子回路(図示せず)に接続されてい
る。
【0013】アノード上で、同じ色の蛍光体エレメント
7のストリップ線の各グループは各々制御回路のバイア
ス端子AR ,AG 又はAB に接続されている。各ストリ
ップ線R,G又はBの電気的に活性用の抵抗RA を有す
る容量性の負荷のように作用する。
【0014】そして、蛍光体エレメント7のストリップ
線のグループはマイクロチップ2によって放射される電
子を誘引する電位に継続的に上昇される。この電位は例
えば300〜400ボルトのレンジで、かつアノードか
らカソード/ゲートを分離する距離に特に従い、使用者
によって選択される。ゲート3の行Lはフレーム期間中
継続的にバイアスされる。測定された行(例えばLj
は他の行が現在の行の「ライン期間」中の0電位である
ようにバイアス(例えば80ボルト)される。電位VKi
が色(例えば赤)での行Lj で列Kiの交差によって定
められる画素の明るさを各線で表すカソードの列Kは最
大放射電位と非放射電位(例えばそれぞれ0及び30ボ
ルト)の間に可変する電位を表すために上昇される。バ
イアス電位の値の選択は蛍光体エレメント7及びマイク
ロチップ2の特性に従う。通常、カソード1及びゲート
3の間の50ボルトの電位差より低く、電子放射は生じ
ないし、最大放射は80ボルト電位差に相当する。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】従来のスクリーンの欠
点は、マイクロチップの構成による技術的変形例が異な
る放射電力を有するためにスクリーンのマイクロチップ
を生じることである。言い換えれば、画素の所定のルミ
ネンス、明るさの変化を表す与えられる電位VKが生じ
ることである。
【0016】更なる欠点は、特別なカソード列Kのマイ
クロチップによって放射される電子が2つの調整列Kに
面する同じ色の蛍光体エレメントのストリップ線を励起
する傾向があることである。つまり、同じ色の2つのス
トリップ線は異なる色の2つのストリップ線によって分
離され、蛍光体エレメント7とマイクロチップ2の間の
距離(約0.2mm)は同じ色の隣接ストリップ線に向
かって逸れるために電子を導いてしまう。
【0017】隣接する画素のこの表示が、アノードのス
トリップ線Ri の全てがアドレス指定される間である赤
のフレーム期間において図3に示されている。カソード
列Ki のいくつかのマイクロチップによって放射される
電子はアノードの列Ri ,Ri+1 によって磁引される傾
向がある。
【0018】蛍光体エレメントのストリップ線のグルー
プがディスプレイを構成するときに生じるカソード列K
に対して一列になっていないときそのような現象が多く
なる。
【0019】本発明の目的は、所定のルミネンスに従っ
てスクリーンの画素の均一な明るさを保証するフラット
ディスプレイスクリーンの電極を制御するための装置を
提供することによって前記問題点を解決することであ
る。
【0020】このために、本発明はこの電極の列の電荷
の測定の基台上のフラットディスプレイスクリーンの電
極の制御又はアドレス指定を実施する。
【0021】
【課題を解決するための手段】この目的のために、本発
明はマイクロチップを含むカソードを構成する第1の電
極と、蛍光体エレメントに設けられたアノードを構成す
る第2の電極と、行に配列されるゲートとを含む、フラ
ットディスプレイスクリーンの電極を制御するための装
置において、前記電極の少なくとも1つが列に配列さ
れ、各列を個別にアドレス指定し、かつ電荷が所定のル
ミネンス値に相当する閾値電圧に達するや否やに列のバ
イアスを中断するための手段を含む。
【0022】本発明による実施の形態例によれば、前記
手段は、各列に対して、正の供給電位と負の供給電位の
間の列の電圧を切り替えるためのスイッチングユニット
と、前記列の電荷を検出するための検出ユニットを含
む。
【0023】本発明による実施例によれば、前記アノー
ドは列に配列された蛍光体エレメントの交互に繰り返さ
れるストリップ線の少なくとも2つのグループを含み、
前記カソードはスクリーンの全体表面を覆うマイクロチ
ップの表面からなる。
【0024】本発明による実施の形態例によれば、各ス
イッチングユニットは、負の供給電位と、関係づけられ
た検出ユニットのセンサを介する正の供給電位の間に直
列に接続された2つのスイッチと、ルミネンス制御電圧
及び前記検出ユニットによって供給される電圧が供給さ
れ、前記列によって供給される電荷の量を示す比較器と
を含み、前記スイッチは出力がインバータを介して第1
のスイッチを制御し、かつ第2のスイッチを直接に制御
する前記比較器によって制御される列のバイアス段を構
成する。
【0025】本発明による実施の形態例によれば、各検
出ユニットは、前記センサを構成する検出用抵抗におけ
る電圧が供給される非反転入力、負荷抵抗における電圧
が供給される反転入力を有し、負荷抵抗と蓄積されたキ
ャパシタの間に挿入された第1のNチャネルMOS形ト
ランジスタのゲートに接続された出力を有する第1の演
算増幅器を含み、キャパシタにおける電圧は前記列によ
って供給される電荷を示す電圧を構成する。
【0026】本発明による実施の形態例によれば、各制
御セルはアドレス指定される前記ゲートの各新規の行よ
り前に前記キャパシタを放電するための手段を含む。
【0027】本発明による実施の形態例によれば、前記
第1のスイッチはソースが前記負の供給電圧に接続さ
れ、ドレインが前記列の接続端子、及び前記センサを介
して前記正の供給電位に接続されたソースを有して前記
第2のスイッチを構成する第2のPチャネル電力MOS
形トランジスタのドレインに接続されるNチャネル電力
MOS形トランジスタによって形成される。
【0028】本発明による実施の形態例によれば、前記
比較器が、非反転入力には前記閾値電圧が供給されて出
力がバイアス段の前記電力トランジスタのゲートに供給
され、供給された電荷の量を示す前記電圧が供給される
入力を反転する第2の演算増幅器からなる。
【0029】本発明による実施の形態例によれば、前記
比較器の出力は遅延エレメント及び電圧変換装置を介し
てバイアス段の前記第1のトランジスタのゲートに接続
され、かつバイアス段の前記第2のトランジスタのゲー
トに直接に接続され、前記正の供給電圧は接地されてい
る。
【0030】本発明による実施の形態例によれば、前記
閾値電圧は、デジタル形式でルミネンス所定値が供給さ
れるデジタル/アナログ変換器によって供給される。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態例を図
面に基づいて説明する。本発明に係る装置は関係づけら
れた装置を用いて電極の各列の電荷の個別の測定を使用
する。
【0032】本実施の形態例によれば、装置はアノード
の、ストリップ線、又は列に関係付けられている。そし
てカソードマイクロチップによって射突された蛍光体エ
レメントの各列によって受けた電荷の量は「ライン期
間」で測定される。この量が色での画素の所定の明るさ
を得るために要求される量に相当し、バイアスする列は
スイッチオフされる。図4はそのような一実施の形態例
を示す図である。
【0033】本発明によれば、アノードの蛍光体エレメ
ント7の各ストリップ線は個別に制御される。言い換え
れば、アノードの列R,G,Bは集積化された本発明に
よる装置にスクリーン制御回路によって個別にアドレス
指定される。
【0034】各列は列の蛍光体エレメント7によって受
けた電荷をカウントするためのユニット22(センサ)
及びスイッチングユニット21を含む制御セルに関係付
けられている。ユニット21の機能は、正の供給電圧+
A と負の供給電圧、ここでは接地Mとの間バイアスす
る列を切り替えることである。正と負の電圧の間電位差
は例えば約300〜400ボルトの蛍光体エレメントの
列R,B,Gのアドレス指定の電圧を表す。スイッチン
グは列の色での画素の所定ルミネンス値LUMに実行さ
れ、かつユニット22によって検出される列による受け
た電荷の量によってサーボ制御される。
【0035】アドレス指定はフレーム期間、例えば50
Hz画像周波数における約6.6msの間に同じ色の列
(例えば赤の1つ)の全てを同時にアドレス指定するこ
とによって幾フレームも実施される。すでに、ゲート3
はライン走査を介して行Lによって継続的にアドレス指
定される。逆に、カソードはアノード制御がこの機能を
行うので列によってアドレス指定されることをもはや必
要でない。色(例えば赤)のフレーム期間中、ルミネン
ス所定値LUM(Ri-1 ),LUM(Ri ),LUM
(Ri+1 )及びこの色の列はルミネンス値LUM(G
i-1 ),LUM(Bi-1 ),LUM(Gi ),LUM
(Bi )LUM(Gi+1 )及び2つの他の色の列の全て
を無効にする。
【0036】そして、この実施の形態例によれば、本発
明はメッシュ及びカソード導体の列配列を除去すること
によってカソード構成の簡略化を実現する。本発明によ
れば、カソード1はスクリーンの全表面を覆うマイクロ
チップ2の平面によって形成され、かつ固定値VK でバ
イアスされる。好ましくは電圧VK はマイクロチップ2
の最大放射を生じる電位に一致する。例えば、もしゲー
ト3の行Lのバイアス電位VL は80ボルト、カソード
1は接地される(VK =0ボルト)。
【0037】同じ色のそれぞれ列R,G,Bはアドレス
指定され始めるゲートの行Lを各時刻に同時にアドレス
指定され始める。本発明に係る装置を介して列はアドレ
ス指定されることを個別に停止する。特別な列による受
けた電荷の量が特別なフレームでのゲートの行及びこの
列の交差によって定められる画素における所定のルミネ
ンスに相当するとき各「ライン期間」の間内でアドレス
指定は終了される。そして、列が電荷の量を受けるや否
やユニット21はもはや射突されないこの列をアドレス
指定することを停止する。
【0038】本発明の効果は同じ所定のルミネンス値に
おいて、画素の明るさがスクリーンの全表面に渡って規
則正しいことである。つまり、明るさはもはや各画素の
マイクロチップの放射能力によるものではない。
【0039】図4における実施の形態例の効果は、スク
リーンを組み立てる時アノード及びカソード/ゲートを
それぞれ支持するプレートの配置を簡単にしたことであ
る。つまり、アノードの列は、スクリーンの全表面を覆
うマイクロチップの表面によってこの場合に構成される
カソードの列に沿って配列される必要がもはや必要とし
ない。
【0040】この実施の形態例の効果は、もしカソード
のいくつかのマイクロチップが動作できないならば、ス
クリーン画素の大きさを有する領域に渡って、画素の明
るさは損なわない。効果的には、この画素に面する列が
十分充電されないと仮定すると、同じ色の隣接の列が適
切に充電された後再度接地されるや否や励起が隣接の画
素のマイクロチップによって継続される。
【0041】図4に示されたこの現象は、仮に赤フレー
ム期間が生じるならば、ブロック21のスイッチの位置
が画素P(i+1,j) の列Ri+1 が十分充電されることを必
要とする。この場合、点線はマイクロチップ2によって
放射された電子の一部を示し、画素P(i,j) の列Ri
画素P(i+1,j) を面するいくつかのマイクロチップによ
って射突される。
【0042】カソードのいくつかのマイクロチップ(例
えば画素P(i+1,j) の列Gi+1 に面するもの)によって
放射された電子はもはやアノード5によって磁引され得
ない。なぜなら、それらはバイアスされた列からかなり
離れているからであり、これらの電子はゲート3によっ
て制御されるからである。
【0043】図5は図4に示す装置を構成する制御セル
の実施の形態例を示す図である。スイッチングユニット
21は接地と検出ユニットとの間に直列に接続された2
つのスイッチK1,K2からなる。スイッチK1,K2
は、関係づけられるセルと共に蛍光体エレメント7の、
ここではAとして示されているが、列のバイアス段を構
成する。スイッチK1,K2は接地と電位+VA との間
に直列に接続されることを考慮され得ると検出ユニット
22のセンサはごくわずかな電圧降下を生じる。列Aは
スイッチK1,K2の組合せの接合に相当する端子Dに
電気的に接続される。
【0044】また、ユニット21はスイッチK1,K2
のスイッチングを可能にするための比較器23を含む。
比較器23の第1の入力には列Aによって受信された電
荷の量を示す電圧VCEが供給される。この電圧は電源か
ら列Aによって電流からユニット22によって供給され
る。比較器23の第2の入力には列Aの色の画素の所定
のルミネンス値LUMに相当する基準電圧Vref が供給
される。比較器23の出力はインバータ24を介して第
1のスイッチK1の制御入力に供給され、かつ第2のス
イッチK2の制御入力に直接供給される。
【0045】電圧VCEが電圧Vref より低いときスイッ
チK2はオンに切り替わり、スイッチK1はオフに切り
替わる。そして列Aは電圧+VA に対して上昇されるこ
とによってアドレス指定される。電圧VCEは列Aがルミ
ネンス基準に相当する電荷の量を受けることを意味する
ref に等しくなるや否や、比較器23の出力はカット
オフされるために列のバイアスを生じるスイッチK1及
びK2の位置を逆にする。
【0046】電圧Vref は色の画素における所定のルミ
ネンス値LUMに相当する電圧Vre f を供給するための
デジタル・アナログ変換器(DAC)25によって供給
される。DAC25は値が所定のルミネンス値LUMに
相当する例えば8ビット信号D0〜D7のようなデジタ
ル信号を制御回路(図示せず)から供給される。もし制
御回路はアナログ信号の形式でルミネンス値を直接に供
給するならば、そのような変換器はもはや必要でない。
【0047】ルミネンス基準LUMが数ビット(例えば
3)に符号化される場合に特に関するような代わりの方
法によれば、アナログ・デジタル変換器の少数は列の全
てに対して基準電圧Vref を供給するために使用され
得、かつこれらの電圧(各アノード列における1つのエ
レメント)を格納するためのエレメントに関係づけられ
る。
【0048】図6は検出ユニット22のスイッチK1,
K2の実施例の制御セルを示す回路図である。
【0049】この例によれば、正の供給電圧は接地Mに
よって構成され、負の供給電圧は電位−VA によって構
成される。後述するようが正の供給電圧としての接地を
選択することは、固定で正規の基準を得ること、かつ列
Aによって受けた電荷の量を測定するために使用される
セル構成の全てのバイアスを簡略化することを可能とな
る。
【0050】電位−VA は例えば−400ボルト、ゲー
ト3の行Lのバイアスにおける電位−VL は例えば−3
20ボルト及びカソード1の電位−VK は例えば−40
0ボルトである。
【0051】検出ユニット22は接地とスイッチK2と
の間に接続された検出用抵抗RS を含む。検出ユニット
のセンサを形成する抵抗RS の機能は列Aによって流れ
る電流IS を測定することである。
【0052】電圧交差抵抗RS は第1の演算増幅器26
の非反転入力に供給される。増幅器26の正のバイアス
電位は正の供給電位(接地)に相当し、その負の電位は
例えば約15ボルトの増幅器26の電圧演算レンジによ
る電位−VCCである。
【0053】増幅器26の反転入力は第2の端子が接地
された負荷抵抗Rchの第1の端子に接続されている。抵
抗Rchの第1の端子は第1のNチャネルMOS形トラン
ジスタMN1のドレインに接続されている。トランジス
タMN1のソースは蓄積コンデンサCを介して負の電位
−Vccに接続されている。トランジスタMN1のゲート
は増幅器26の出力に接続されている。
【0054】増幅器26の機能は抵抗Rchを交差する電
圧VS を再生することである。そして、Rchでの電流I
chはRS での電流に比例する。
【0055】Ich=Vs /Rch=Rch×IS /RS
【0056】もし抵抗RS とRchが同じ値ならば、この
値は大変高い値に達することから電流Ichを防ぐために
十分高い値(例えば100kΩ)となる。高い値の抵抗
を選択することはアノードのアドレス指定を害すること
はない。実際に、電圧降下の横切っている抵抗RS は約
10ボルトに達し、この電圧降下は300〜400ボル
トのアドレス指定電圧と比較してごくわずかである。
【0057】列Aがアドレス指定されるとき、接地に接
続されるとき及び列に電流IS 流れるとき、コンデンサ
Cは電流Ichによって充電される。そして、コンデンサ
Cにおける電圧VCEは列Aによって受ける電荷に比例す
る。特に、そのような電荷の測定は光放射が電荷による
ものであって電圧によらない蛍光体エレメントに適用さ
れる。
【0058】正の供給及びバイアスされる電位としての
接地を選択することは高い負のバイアス電圧の設備を不
要にする。更に、これは充電検出に影響するための供給
及びバイアス電圧の可能な変化を不要とする。
【0059】列Aのバイアス段を形成するスイッチK
1,K2は2つの電力MOS形トランジスタによって形
成される。そして、バイアス段はNチャネル、ML、及
びPチャネル、MH、電力MOS形トランジスタによっ
て形成される。第1のトランジスタMLのソースは負の
供給電位−VA に接続され、かつドレインは列Aの接続
端子Dに接続される。また端子Dは検出用抵抗RS を介
して接地に接続されるソースを有する第2のトランジス
タMHのドレインに接続される。
【0060】列AはトランジスタMHとMLのゲートの
適切な制御によってアドレス指定される。トランジスタ
MHとMLのゲートは例えば第2の演算増幅器によって
形成される比較器23を介して制御される。比較器23
にはDAC25によって供給される電圧Vref とコンデ
ンサCに渡っての電圧VCEがそれぞれ供給される。言い
換えれば、演算増幅器23の反転入力はトランジスタM
N1のドレインに接続され、非反転入力には電圧Vref
が供給されて出力はトランジスタMHとMLのゲートを
制御する。比較器23及びDAC25は増幅器26に類
似しているように接地と−VCCとの間でバイアスされ
る。そして、列Aが現在の画素における所定のルミネン
ス値LUMに相当する電荷の量を受けたことを示すV
ref に電圧VCEが達するやいなや、比較器23の出力電
圧は0になりかつ列Aのアドレス指定を中断する。
【0061】トランジスタMHとMLの同時に起きるス
イッチングを防ぐために、比較器23の出力は遅延エレ
メント27と電圧変換装置28を介してトランジスタM
Lのゲートに接続され、かつその出力はトランジスタM
Hのゲートに直接に接続されている。遅延エレメント2
7はトランジスタMHの制御に関してトランジスタML
の制御を遅らせ、そして同時のスイッチングを防ぐ。電
圧変換装置28はトランジスタMLが切り替わるそのよ
うなレベルに、例えばトランジスタMLの閾値電圧Vgs
によって増加される電圧−VA より低い、あるいは電圧
gsにって減少される電圧−VA より高い電圧に比較器
23の低電圧出力レベルとするものである。
【0062】各「ライン期間」の終わりに、コンデンサ
Cは第2のNチャネルMOS形トランジスタMN2を介
して放電される。トランジスタMN2のソースは電圧−
CCに接続され、ドレインはトランジスタMN1のドレ
インに接続され、かつゲートは制御回路によって供給さ
れる信号RESETによって制御される。
【0063】「ライン期間」の期間はゲート3の行Lの
数によって分けたフレーム期間に相当する。例えば、2
88行のスクリーンにおいて、「ライン期間」は約25
msである。充電閾値が達するまで電子を受けるために
継続することからアドレス指定の列を防ぐために、この
列と2つの隣接する列との間に存在する擬似的なキャパ
シタの放電が「ライン期間」に関して大変早くなされな
ければならない。トランジスタMLのオン状態でのドレ
イン−ソース間の抵抗RdsONによるそのような条件はM
OS形電力トランジスタの抵抗RdsONが通常約1kΩで
あるように従わされる。擬似的なキャパシタの値は通常
約10pFであるので放電時間は約10nsである。
【0064】代わりによれば、列の正の供給電位、かつ
演算増幅器及びDACの正のバイアス電位は電圧+VA
である。装置のバイアス電圧がVCCであるので演算増幅
器及びDACの負のバイアス電位はVA −VCCに相当し
なければならない。そのような代わりの実施は回路の接
地を要求されないように使用される低電圧装置として位
置するものである。一方、これらの装置は+VCCと接地
の間にバイアスされ、つまりアドレス指定電圧供給装置
は装置の動作を許容するために提供されなければならな
い。ここでは、供給装置28はトランジスタMHのゲー
トに関係づけられており、付加的な供給装置は前述のよ
うに増幅器26の非反転入力に関係づけれられている。
しかしながら、電圧+VA と+VCCはスクリーンの動作
条件の変数として固定されなければならず、又は少なく
とも誤った電荷検出を生じないように同じ比率で変化し
なければならない。
【0065】図4〜図6に示す本発明に係る装置は各列
のマイクロチップによって放射される電荷を測定するこ
とによってマイクロチップカソードの列の個別の制御に
置き換えられ得る。この場合に、各マイクロチップ列に
よって放射される電荷(電子)の量はライン走査の各行
で測定される。この量は現在の画素の所定の明るさを得
るために要求される量に相当するや否や、この列の放射
を中断するようにバイアスはカットオフされる。そのよ
うな実施例はマイクロチップ構成による技術の変化から
独立する明るさとするが、マイクロチップの重要な領域
の機能不全を防げず、かつカソードの列配列を維持する
ために機能を課することもできない。更に、ゲートとマ
イクロチップの間に存在する擬似的なキャパシタはスク
リーン全体で約5pFであり、これらの擬似的なキャパ
シタが放電されるとき高いエネルギー消滅が生じる。
【0066】当業者であれば、多種の改善は前述の説明
の実施例によって作成され得る。特に、開示された各構
成は同じ機能を有する1つ又は複数の構成で取り替えら
れ得る。
【0067】更に、本発明はモノカラーのスクリーンの
制御に適用される。その場合、そのようなスクリーンの
アノードは同じ色の択一的な列の2つのグループに分割
され、アノード列の個別の制御を介してアドレス指定を
実施するために有効である。逆に、もしアノードがスク
リーンの全体のスクリーンを覆う蛍光体エレメントの平
面によって形成されるならば、アドレス指定はこれらの
列によって放射される電荷の測定に関係づけられたカソ
ード列の個別の制御を介して実施される。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のスクリーンを示す図である。
【図2】従来のスクリーンを示す図である。
【図3】従来のスクリーンを示す図である。
【図4】本発明に係るフラットディスプレイスクリーン
を制御する装置を示す図である。
【図5】図4に示す回路を構成する制御セルの実施例を
示す図である。
【図6】図5に示す制御セルの実施例を示す回路図であ
る。
【符号の説明】
1 カソード 2 マイクロチップ 3 ゲート 5 アノード 7 蛍光体エレメント 21 スイッチングユニット 22 検出ユニット 23 比較器 24 インバータ 25 DAC 26 演算増幅器

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マイクロチップ(2)を含むカソード
    (1)を構成する第1の電極と、蛍光体エレメント
    (7)に設けられたアノード(5)を構成する第2の電
    極と、行(L)に配列されるゲート(3)とを含む、フ
    ラットディスプレイスクリーンの電極を制御するための
    装置において、 前記電極の少なくとも1つが列(R,G,B)に配列さ
    れ、各列を個別にアドレス指定し、かつ電荷が所定のル
    ミネンス値(LUM)に相当する閾値電圧(Vref )に
    達するや否やに列のバイアスを中断するための手段を含
    むことを特徴とする装置。
  2. 【請求項2】 前記手段は、各列(R,G,B;A)に
    対して、正の供給電位(+VA ;M)と負の供給電位
    (M;−VA )の間の列の電圧を切り替えるためのスイ
    ッチングユニット(21)と、前記列の電荷を検出する
    ための検出ユニット(22)を含む請求項1記載の装
    置。
  3. 【請求項3】 前記アノード(5)は列(R,G,B)
    に配列された蛍光体エレメント(7)の交互に繰り返さ
    れるストリップ線の少なくとも2つのグループを含み、
    前記カソード(1)はスクリーンの全体表面を覆うマイ
    クロチップ(2)の表面からなる請求項1記載の装置。
  4. 【請求項4】 各スイッチングユニット(21)は、負
    の供給電位(M;−VA )と、関係づけられた検出ユニ
    ット(22)のセンサ(RS )を介する正の供給電位
    (+VA ;M)の間に直列に接続された2つのスイッチ
    (K1,K2)と、ルミネンス制御電圧(Vref )及び
    前記検出ユニット(22)によって供給される電圧(V
    CE)が供給され、前記列(A)によって供給される電荷
    の量を示す比較器(23)とを含み、前記スイッチ(K
    1,K2)は出力がインバータ(24)を介して第1の
    スイッチ(K1)を制御し、かつ第2のスイッチ(K
    2)を直接に制御する前記比較器(23)によって制御
    される列のバイアス段を構成する請求項3記載の装置。
  5. 【請求項5】 各検出ユニット(22)は、前記センサ
    を構成する検出用抵抗(RS )における電圧(VS )が
    供給される非反転入力、負荷抵抗(Rch)における電圧
    が供給される反転入力を有し、負荷抵抗(Rch)と蓄積
    されたキャパシタ(C)の間に挿入された第1のNチャ
    ネルMOS形トランジスタ(MN1)のゲートに接続さ
    れた出力を有する第1の演算増幅器(26)を含み、キ
    ャパシタ(C)における電圧は前記列(A)によって供
    給される電荷を示す電圧(VCE)を構成する請求項4記
    載の装置。
  6. 【請求項6】 各制御セルはアドレス指定される前記ゲ
    ート(3)の各新規の行(L)より前に前記キャパシタ
    (C)を放電するための手段(MN2)を含む請求項5
    記載の装置。
  7. 【請求項7】 前記第1のスイッチ(K1)はソースが
    前記負の供給電圧(−VA ;M)に接続され、ドレイン
    が前記列(A)の接続端子(D)、及び前記センサ(R
    S )を介して前記正の供給電位(+VA ;M)に接続さ
    れたソースを有して前記第2のスイッチ(K2)を構成
    する第2のPチャネル電力MOS形トランジスタ(M
    H)のドレインに接続されるNチャネル電力MOS形ト
    ランジスタ(ML)によって形成される請求項4記載の
    装置。
  8. 【請求項8】 前記比較器(23)が、非反転入力には
    前記閾値電圧(Vre f )が供給されて出力がバイアス段
    (K1,K2)の前記電力トランジスタ(ML,MH)
    のゲートに供給され、供給された電荷の量を示す前記電
    圧(VCE)が供給される入力を反転する第2の演算増幅
    器からなる請求項7記載の装置。
  9. 【請求項9】 前記比較器(23)の出力は遅延エレメ
    ント(27)及び電圧変換装置(28)を介してバイア
    ス段(K1,K2)の前記第1のトランジスタ(ML)
    のゲートに接続され、かつバイアス段の前記第2のトラ
    ンジスタ(MH)のゲートに直接に接続され、前記正の
    供給電圧は接地(M)されている請求項7記載の装置。
  10. 【請求項10】 前記閾値電圧(Vref )は、デジタル
    形式(D0〜D7)でルミネンス所定値(LUM)が供
    給されるデジタル/アナログ変換器(25)によって供
    給される請求項1記載の装置。
JP8052572A 1995-02-17 1996-02-16 マイクロチップフラットディスプレイスクリーンにおけるアドレス指定装置 Ceased JPH08265674A (ja)

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