JPH082628Y2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は、論理集積回路や半導体メモリなどのIC
（半導体集積回路）を試験する装置に関する。

「従来の技術」 IC試験装置の試験回路部および電源部は、それぞれ発
熱を伴うので、それぞれ冷却する必要があるが、その冷
却方法としては空気冷却方式がとられ、しかも従来は空
気を下から上に流すアップフロー方式がとられている。

第２図は、このように試験回路部および電源部に対し
てアップフロー空気冷却方式をとる従来のIC試験装置の
一例で、全体として棚型に構成される。

装置の正面からみて右側部分には棚51〜54が設けら
れ、棚51と棚52の間および棚53と棚54の間には試験回路
部を形成する多数のボードが二分されて、それぞれ左右
方向に配列されることにより上部ボード群67および下部
ボード群68が配置され、棚53上に空気を下から上に流す
ボード用ファンユニット69が取り付けられる。また、装
置の正面からみて左側部分には棚56〜59が設けられ、棚
56,57および58上には、それぞれ空気を正面側から背面
側に流すファンを備えた電源ユニット76,77および78が
配置され、棚59上にはコントローラ75が配置され、左側
部分の最上部に空気を下から上に流す電源用ファンユニ
ット79が取り付けられる。

そして、上記のIC試験装置においては、装置の右側部分
では、ボード用ファンユニット69を通じて矢印６で示す
ように空気が下から上に流れることによって上部ボード
群67および下部ボード群68が冷却されるとともに、装置
の左側部分では、電源ユニット76〜78に設けられたファ
ンによって電源ユニット76〜78の正面側から背面側に空
気が流れ、その空気が電源用ファンユニット79を通じて
矢印７で示すように下から上に流れることによって電源
ユニット76〜78が冷却される。

「考案が解決しようとする課題」 上述したように従来のIC試験装置は試験回路部および
電源部に対してアップフロー空気冷却方式をとっている
が、いわゆるクリーンルームにおいては、このように空
気を下から上に流すアップフロー方式は好ましくなく、
空気を上から下に流すダウンフロー方式が望ましい。し
かしまた、ダウンフロー空気冷却方式をとるには、その
IC試験装置が設置される部屋に、それに相応した排気設
備が必要である。

そこで、この考案は、試験回路部および電源部をそれ
ぞれ空気冷却方式によって冷却するIC試験装置におい
て、装置が設置される部屋の状況などに応じて試験回路
部および電源部の空気冷却方式としてアップフロー方式
とダウンフロー方式のいずれをも選択することができる
ようにしたものである。

「課題を解決するための手段」 この考案においては、試験回路部を形成する多数のボ
ードを上部と下部に二分して配置し、その上部ボード群
と下部ボード群の間にボード用ファンユニットを上下を
逆転できるように装着するとともに、複数の電源ユニッ
トを上部と下部に二分して配置し、その上部電源ユニッ
ト群と下部電源ユニット群の間に電源用ファンユニット
を上下を逆転できるように装着する。

「作用」 上記のように構成された、この考案のIC試験装置にお
いては、ボード用ファンユニットおよび電源用ファンユ
ニットが、それぞれ上下方向において、ある向きに装着
されたときには、ボード用ファンユニットおよび電源用
ファンユニットのファンが、それぞれ上方からみて、あ
る向きに回転することによって、ボード用ファンユニッ
トおよび電源用ファンユニットを通じて、それぞれ空気
が下から上に流れて、上部ボード群と下部ボード群およ
び上部電源ユニット群と下部電源ユニット群が、それぞ
れアップフロー方式によって冷却され、ボード用ファン
ユニットおよび電源用ファンユニットが、それぞれ上下
方向において逆の向きに装着されたときには、ボード用
ファンユニットおよび電源用ファンユニットのファン
が、それぞれ上方からみて逆の向きに回転することによ
って、ボード用ファンユニットおよび電源用ファンユニ
ットを通じて、それぞれ空気が上から下に流れて、上部
ボード群と下部ボード群および上部電源ユニット群と下
部電源ユニット群が、それぞれダウンフロー方式によっ
て冷却される。

「実施例」 第１図は、この考案のIC試験装置の一例である。

装置は、下部にキャスタ11が取り付けられて容易に移
動できるようにされる。

装置の図において左側部分である前方部には、それぞ
れ空気が通る穴13a〜16aが形成された棚13〜16が設けら
れ、棚13と棚14の間および棚15と棚16の間には試験回路
部を形成する多数のボードが二分されて、それぞれ図に
おいて紙面に垂直な方向である左右方向に配列されるこ
とにより上部ボード群27および下部ボード群28が配置さ
れ、棚14と棚15の間にボード用ファンユニット29が上下
を逆転できるように装着される。具体的にボード用ファ
ンユニット29は、前方側に取手29aが取り付けられると
ともに、上下に防音材が取り付けられ、上下方向におい
て、ある向きに装着されたときには、ファンが上方から
みて、ある向きに回転することによって、空気を下から
上に流し、上下方向において逆の向きに装着されたとき
には、ファンが上方からみて逆の向きに回転することに
よって、空気を上から下に流すものである。

装置の図において右側部分である後方部には、後方側
に取手18が取り付けられ、後方側に回転させて引き出す
ことのできるボックス19が設けられ、このボックス19に
複数の電源ユニット31〜36が上部と下部に二分されて取
り付けられることにより上部電源ユニット群37および下
部電源ユニット群38が配置されるとともに、上部電源ユ
ニット群37と下部電源ユニット群38の間において電源用
ファンユニット39が上下を逆転できるように装着され
る。具体的に電源用ファンユニット39は、前方側に取手
39aが取り付けられるとともに、上下に防音材が取り付
けられ、上下方向において、ある向きに装着されたとき
には、ファンが上方からみて、ある向きに回転すること
によって、空気を下から上に流し、上下方向において逆
の向きに装着されたときには、ファンが上方から見て逆
の向きに回転することによって、空気を上から下に流す
ものである。なお、コントローラは外部に設置される。

上記のIC試験装置においては、ボード用ファンユニッ
ト29および電源用ファンユニット39が、それぞれ上下方
向において、ある向きに装着されたときには、装置の前
方部および後方部においてボード用ファンユニット29お
よび電源用ファンユニット39を通じて、それぞれ矢印２
および３で示すように空気が下から上に流れて、上部ボ
ード群27と下部ボード群28および上部電源ユニット群37
と下部電源ユニット群38が、それぞれアップフロー方式
によって冷却され、ボード用ファンユニット29および電
源用ファンユニット39が、それぞれ上下方向において逆
の向きに装着されたときには、装置の前方部および後方
部においてボード用ファンユニット29および電源用ファ
ンユニット39を通じて、それぞれ矢印４および５で示す
ように空気が上から下に流れて、上部ボード群27と下部
ボード群28および上部電源ユニット群37と下部電源ユニ
ット群38が、それぞれダウンフロー方式によって冷却さ
れ、ボード用ファンユニット29および電源用ファンユニ
ット39の装着方向を選択することによって、装置が設置
される部屋の状況などに応じて試験回路部および電源部
の空気冷却方式としてアップフロー方式とダウンフロー
方式のいずれをも選択することができる。

また、上部ボード群27と下部ボード群28はアップフロ
ー方式によって冷却し、上部電源ユニット群37と下部電
源ユニット群38はダウンフロー方式によって冷却すると
いうように、または上部ボード群27と下部ボード群28は
ダウンフロー方式によって冷却し、上部電源ユニット群
37と下部電源ユニット群38はアップフロー方式によって
冷却するというように、試験回路部および電源部に対し
て空気の流れの方向を互いに逆にすることもできる。

「考案の効果」 上述したように、この考案によれば、IC試験装置が設
置される部屋の状況などに応じて試験回路部および電源
部の空気冷却方式としてアップフロー方式とダウンフロ
ー方式のいずれをも選択することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この考案のIC試験装置の一例を示す側断面
図、第２図は、従来のIC試験装置の一例を示す正面図で
ある。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】試験回路部を形成する多数のボードが上部
   と下部に二分されて配置され、 その上部ボード群と下部ボード群の間にボード用ファン
   ユニットが上下を逆転できるように装着され、 複数の電源ユニットが上部と下部に二分されて配置さ
   れ、 その上部電源ユニット群と下部電源ユニット群の間に電
   源用ファンユニットが上下を逆転できるように装着され
   た、 IC試験装置。