JPH08261872A - 多芯ファイバ検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 多芯ファイバ検査装置において、安価な装置
構成により、ファイバの順番を効率よく確認することで
きるようにする。 【構成】 多芯ファイバに光を入力するための光源１と
光切り換え器２と、多芯ファイバのそれぞれの出射光４
Ａ〜４Ｄを、スリット幅の異なったスリットが形成さ
れ、モータ７により回転駆動される円盤６に与え、各出
射光４Ａ〜４Ｄに対応したパルス変調光５Ａ〜５Ｄを各
スリットから得る。そして、これらのパルス変調光５Ａ
〜５Ｄの光パワーを光検出器８とレベル計９とにより測
定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光通信の分野に使用
される多芯ファイバ検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】多芯ファイバの検査には、主にファイバ
の損失測定とファイバの順番を識別する項目がある。フ
ァイバの順番の識別とは、片端で順番に整列していた多
芯ファイバが、反対側で入れ違っていないかを確認する
ことである。もしも入れ違っていた場合は、ファイバ敷
設後に光信号が、伝送すべきファイバから異なったファ
イバへ伝送してしまうため、誤った光通信を行ってしま
う。したがって、必ず多芯ファイバの順番を識別し、多
芯ファイバの順番に誤りが無いことを確認する必要があ
る。

【０００３】このような多芯ファイバの順番の検査は、
多芯ファイバを構成する各ファイバの１つに光を入射さ
せ、この光が各ファイバのうちいずれのファイバから出
射されるかを光検出器を用いて確認することにより行
う。

【０００４】図６は、このような多芯ファイバの検査に
使用される従来の多芯ファイバ検査装置の構成を示す図
である。図６において、１は光源、３は検査対象たる多
芯ファイバ、２は光源１からの出力光を切り換えて多芯
ファイバ３を構成する各ファイバ３Ａ〜３Ｄに入射させ
る光切り換え器である。また、１１は１芯のファイバの
光しか受けないような小さな受光素子により構成された
光検出器である。１２は多芯ファイバ３の１番目のファ
イバ３Ａの出射光４Ａと光検出器１１の光軸を精密に合
わせるためのＸＹＺステージである。またＸＹＺステー
ジ１２は、多芯ファイバを１芯づつ順番に測定するた
め、多芯ファイバの間隔に合わせて精密に光検出器１１
を移動させるものである。９は光検出器の出力信号レベ
ルを測定するレベル計である。

【０００５】このような構成において、まず、光源１の
出射光を光切り換え器２を介して多芯ファイバ３の１番
目のファイバ３Ａに入射させる。次に、１番目のファイ
バ３Ａの出射光のパワーが最大になるように、ＸＹＺス
テージ１２を調整する。そして、光検出器１１とレベル
計９により光パワーＰ１’を測定する。

【０００６】つぎに、光切り換え器２を切り換え、光源
１の出射光を２番目のファイバ３Ｂに入力する。ステー
ジ１２を多芯ファイバに並んでいるファイバの間隔に合
わせて移動させる。その時の光パワーＰ２’を測定す
る。

【０００７】以後、順番に光切り換え器２を切り換え、
またステージ１２を移動させ、３番目のファイバ３Ｃと
４番目のファイバ３Ｄの光パワーＰ３’とＰ４’を測定
する。

【０００８】この時に、もしも測定した光パワーが他の
光パワーと比較して明らかに小さかった場合は、そのフ
ァイバの途中で異常（破断等）が発生しているか、ファ
イバの順番が途中で入れ違っていることが識別できる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の多芯ファイバ検査装置において、検査を正確に行う
ためには、光検出器が多芯ファイバの１芯のみのファイ
バの出射光しか検出しないようにする必要があり、その
ためには光検出器の受光素子の大きさを小さくする必要
がある。

【００１０】しかし、正確にファイバの出射光を測定す
るためには、極めて精密に多芯ファイバの位置と光検出
器の位置との光軸合わせをしなければならない。この光
軸合わせを簡単にするためには、光検出器の受光素子を
大きくしなければならない。

【００１１】ところが、光検出器の受光素子を大きくし
たすると、ファイバが入れ違っていても光パワーを測定
してしまうため、ファイバの順番を識別できなくなる。
従って、結局は極めて精密なステージを使用することに
より、受光素子を大きくすることなく、正確な光軸合せ
を行う、という手段を採ることとなり、検査のためのコ
ストが嵩んでしまうという問題があった。また、ファイ
バを順番に測定するために、ファイバの位置に合わせて
光検出器の位置を多芯ファイバの間隔に合わせて正確に
移動しなければならない。したがって、ステージとして
極めて高精度のものが要求される。

【００１２】この発明は、以上説明した事情に鑑みてな
されたものであり、上述のような高価なステージを使用
することなく、多芯ファイバの各ファイバの順番を正確
に識別することができる多芯ファイバ検査装置を提供す
ることを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明によ
る多芯ファイバ検査装置は、連続光を出力する光源と、
多芯ファイバを構成する各ファイバに対し、前記光源
によって出力される連続光を切り換えて入射させる光切
り換え器と、駆動用モータと、前記駆動用モータによっ
て回転駆動される円盤であって、前記各ファイバからの
出射光を各々通過させるスリット幅の異なった複数のス
リットを有し、回転駆動されることにより前記各ファイ
バからの各出射光に対応したパルス変調光を出力する円
盤と、前記円盤の各スリットから得られるパルス変調光
を受光して電気信号に変換する光検出器と、前記光検出
器で受光した光パワーを測定するレベル計とを具備する
ことを特徴とする。

【００１４】請求項２記載の発明による多芯ファイバ検
査装置は、連続光を出力する光源と、多芯ファイバを構
成する各ファイバに対し、前記光源によって出力される
連続光を切り換えて入射させる光切り換え器と、駆動用
モータと、前記駆動用モータによって回転駆動される円
盤であって、前記各ファイバからの出射光を各々通過さ
せるスリット幅の異なった複数のスリットを有し、回転
駆動されることにより前記各ファイバからの出射光に対
応したパルス変調光を出力する円盤と、前記各ファイバ
からの各出射光が前記円盤の各スリットを通過するよう
に前記円盤を停止させる停止手段と、前記円盤が回転駆
動されているときに前記円盤から得られるパルス変調光
または前記円盤が停止しているときに前記スリットを介
して得られる連続光を受光して電気信号に変換する光検
出器と、前記光検出器で受光した光パワーを測定するレ
ベル計とを具備することを特徴としている。

【００１５】

【作用】請求項１記載の発明によれば、多芯ファイバの
各ファイバからの出射光は、円盤を通過することによ
り、パルス変調される。パルス変調された光を光検出器
で受光し、その平均光パワーがレベル計で測定される。

【００１６】ここで円盤には、例えば図２へ示すよう
に、スリット幅が円の中心に向かって広がるようにスリ
ットを形成してあるため、円盤へ対向配置させた多芯フ
ァイバの各ファイバの位置により、円盤のスリットを通
過するファイバ出力光のデューティー比は、各ファイバ
ごとに異なる。この時、光源の出力レベルが一定であれ
ば、パルス変調のデューティー比により、平均光パワー
のレベルに大小関係が成立する。

【００１７】したがって、平均光パワーの大小関係を識
別することにより、ファイバの順番を確認することがで
きる。

【００１８】請求項２記載の発明によれば、多芯ファイ
バの各ファイバからの出射光は、一定の回転数で回転し
ている円盤を通過することにより、パルス変調される。
パルス変調された光は光検出器で受光され、その平均光
パワーがレベル計で測定される。

【００１９】円盤には、例えば図２に示すように、スリ
ット幅が円の中心に向かって広がるようにスリットを形
成してあるため、円盤へ対向配置させた多芯ファイバの
各ファイバの位置により、円盤のスリットを通過するフ
ァイバ出力光のデューティー比は、各ファイバごとに異
なる。この時、光源の出力レベルが一定であれば、パル
ス変調のデューティー比により、平均光パワーのレベル
に大小関係が成立する。

【００２０】したがって、平均光パワーの大小関係を識
別することにより、ファイバの順番を確認することがで
きる。

【００２１】また、多芯ファイバの出射光が各スリット
を通過する位置で円盤を停止させ、各ファイバの出力を
測定することにより、各ファイバの損失も測定すること
ができる。

【００２２】

【実施例】以下、図面を参照して、この発明の一実施例
について説明する。 §１．第１実施例 図１は、この発明の第１実施例による多芯ファイバ検査
装置の構成を示すブロック図である。この図において、
１は１チャンネルのＣＷ（連続）光出力の光源であり、
光切り換え器２を介し、多芯ファイバ３の各ファイバ３
Ａ〜３Ｄに順番に光を入力する。

【００２３】光切り換え器２によりファイバ３Ａに入力
された光は、ファイバ３Ａを伝搬しファイバから出射さ
れる。６はスリット６’を備えた円盤であり、モータ７
により一定の回転を与えられ、ファイバからの出射光４
Ａをパルス変調光５Ａに変換する。８はパルス変調光５
Ａ〜５Ｄまでを位置を動かすことなく受光可能な大口径
の受光素子を備えた光検出器である。パルス変調光５Ａ
は、光検出器８で受光し、レベル計９で平均光パワーＰ
１を測定する。

【００２４】同じように光切り換え器２を順番に切り換
え、ファイバ３Ｂ〜３Ｄの出射光４Ｂ〜４Ｄをパルス変
調光５Ｂ〜５Ｄに変換し、それぞれの平均光パワーＰ２
〜Ｐ４を測定する。

【００２５】この実施例では、４本の多芯ファイバの場
合を例にとって説明するが、勿論、多芯ファイバの本数
はこれに限定されるものではない。また、多芯ファイバ
に入力する光源として、１チャンネルの光源を光切り換
え器で切り換えて出力するが、光切り換え器を使用せず
多チャンネルの光源を用いてもよい。

【００２６】ここで、図２に、円盤６に開いているスリ
ット６’と、ファイバ出射光４Ａ〜４Ｄが円盤６に当た
る位置の軌跡４Ａ’〜４Ｄ’を示す。スリット６’は、
円盤の中心に対し点対称に形成されている。この図に示
すように、ファイバ出射光の位置により、スリットを通
る場所が異なる。したがって、ファイバ出射光の位置に
より、スリットの開いている部分と開いていない部分の
距離が異なるため、パルス変調光５Ａ〜５Ｄのデューテ
ィー比が、ファイバ出射光の位置すなわち多芯ファイバ
の各ファイバの位置により異なる。

【００２７】この実施例では、円盤上に三角形のスリッ
トを４箇所配置しているが、形状はこれに限定されるも
のではない。また、スリットの数もこれに限定されるも
のではない。また、円盤の場合を例にとって説明する
が、板にスリットが開いている場合やドラムにスリット
が開いていてもかまわない。

【００２８】図３に、パルス変調光５Ａ〜５Ｄの波形図
を示す。この図に示すように、スリット幅の最も狭い部
分を通過したパルス変調光５Ａは、デューティー比が最
も小さく、平均光パワーＰ１も最も小さくなる。スリッ
ト幅の最も広い部分を通過したパルス変調光５Ｄは、デ
ューティー比が最も大きくなり、平均光パワーＰ４も最
も大きくなることが解る。したがって、光切り換え器２
の切り換える順番すなわち多芯ファイバの各ファイバの
位置と、平均光パワーの間に”Ｐ１＜Ｐ２＜Ｐ３＜Ｐ
４”の相関関係が成立する。

【００２９】このようにして、ファイバの途中で異常
（破断等）が発生していたり、ファイバの順番が途中で
入れ違っていた場合は、上記相関関係が成立しなくな
り、異常を検出することができる。

【００３０】以上のように、本実施例によれば、従来の
ような精密な光軸合わせを行うことなく、多芯ファイバ
と円盤の位置がずれても、多芯ファイバの各ファイバの
位置と平均光パワーの相関関係が成立するので、複雑な
光軸合わせ操作の必要がない。また、受光面積の大きな
光検出器を使用するため、センサを移動するための精密
なステージを設ける必要がない。

【００３１】§２．第２実施例 図４は、この発明の第２実施例による多芯ファイバ検査
装置の構成を示すブロック図である。この図において、
１０は検出器であり、多芯ファイバ３の位置と円盤６の
スリットと光検出器８とが一直線上になった場合に円盤
６の回転を停止させる信号を出力する。すなわち、この
検出器１０は、円盤６の各スリットを多芯ファイバ３の
各ファイバからの各出射光が通過するように円盤６を停
止させる停止手段としての役割を果すものである。

【００３２】また、検出器１０は、発光器と受光器を空
間距離をおいて対向配置し、スリット幅の中心に対して
最大の受光出力が得られるように円盤６を挟んで対置さ
せてある。

【００３３】このような構成によれば、円盤６を一定に
回転することにより、第１実施例のごとく、ファイバの
順番を識別することが可能である。

【００３４】また、円盤６のスリットが多芯ファイバ３
の位置と光検出器８とが一直線上になる位置になり、か
つそのスリットとは別のスリットに検出器１０を配置す
ることにより、検出器１０がスリットを検出し円盤６を
停止させると、必ず円盤６のスリットと多芯ファイバ３
の位置と光検出器８とが一直線上で停止できる。その場
合に光検出器８で受光する光は、円盤６によりパルス変
調されることなく、ＣＷ（連続）光のまま光検出器８に
到達する。

【００３５】ここで、図５に、円盤６と光検出器８と検
出器１０の配置図を示す。この図に示すように、光検出
器８と検出器１０は、スリットの開いている位置に配置
し、検出器１０でスリットを認識し円盤６を停止すれ
ば、必ず光検出器８もスリットの位置になる。

【００３６】ファイバの損失を測定するためには、多芯
ファイバに入力する光パワーすなわち光切り換え器２の
光出力と、多芯ファイバの出射光パワーを測定し、その
差を算出すればよい。

【００３７】したがって、上記のように円盤６を停止さ
せ、光切り換え器２の光出力２Ａ〜２Ｄを光検出器８で
受光し、レベル計９で光パワーＰ２Ａ〜Ｐ２Ｄを測定す
る。

【００３８】今度は、光切り換え器２の出力をファイバ
３Ａに入力し、ファイバ３Ａの出射光４Ａを光検出器８
で受光しレベル計９で光パワーＰ４Ａを測定する。同じ
ように光切り換え器２を順番に切り換え、ファイバ３Ｂ
〜３Ｄの出射光４Ｂ〜４Ｄの光パワーＰ４Ｂ〜Ｐ４Ｄを
測定する。

【００３９】それぞれのファイバの損失は、 ファイバ３Ａの損失は、１０ｌｏｇＰ４Ａ−１０ｌｏｇＰ２Ａ（ｄＢ） ファイバ３Ｂの損失は、１０ｌｏｇＰ４Ｂ−１０ｌｏｇＰ２Ｂ（ｄＢ） ファイバ３Ｃの損失は、１０ｌｏｇＰ４Ｃ−１０ｌｏｇＰ２Ｃ（ｄＢ） ファイバ３Ｄの損失は、１０ｌｏｇＰ４Ｄ−１０ｌｏｇＰ２Ｄ（ｄＢ） となる。

【００４０】このようにして、異常を検出するだけでな
く、ファイバの損失も測定することができる。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明によれば、連続光を出力する光源と、多芯ファイバを
構成する各ファイバに対し、前記光源によって出力され
る連続光を切り換えて入射させる光切り換え器と、駆動
用モータと、前記駆動用モータによって回転駆動される
円盤であって、前記各ファイバからの出射光を各々通過
させるスリット幅の異なった複数のスリットを有し、回
転駆動されることにより前記各ファイバからの各出射光
に対応したパルス変調光を出力する円盤と、前記円盤の
各スリットから得られるパルス変調光を受光して電気信
号に変換する光検出器と、前記光検出器で受光した光パ
ワーを測定するレベル計とを設けたので、安価で簡単に
多芯ファイバの順番を識別することができるという効果
がある。また、請求項２に係る発明によれば、連続光を
出力する光源と、多芯ファイバを構成する各ファイバに
対し、前記光源によって出力される連続光を切り換えて
入射させる光切り換え器と、駆動用モータと、前記駆動
用モータによって回転駆動される円盤であって、前記各
ファイバからの出射光を各々通過させるスリット幅の異
なった複数のスリットを有し、回転駆動されることによ
り前記各ファイバからの出射光に対応したパルス変調光
を出力する円盤と、前記各ファイバからの各出射光が前
記円盤の各スリットを通過するように前記円盤を停止さ
せる停止手段と、前記円盤が回転駆動されているときに
前記円盤から得られるパルス変調光または前記円盤が停
止しているときに前記スリットを介して得られる連続光
を受光して電気信号に変換する光検出器と、前記光検出
器で受光した光パワーを測定するレベル計とを設けたの
で、上記請求項１記載の発明の効果に加え、円盤を停止
させることにより、多芯ファイバの損失も測定すること
ができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１実施例による多芯ファイバ検査
装置の構成を示すブロック図である。

【図２】同実施例におけるファイバ出射光４Ａ〜４Ｄが
円盤６に当たる位置の軌跡を示す図である。

【図３】同実施例におけるパルス変調光５Ａ〜５Ｄの波
形図である。

【図４】この発明の第２実施例による多芯ファイバ検査
装置の構成を示すブロック図である。

【図５】同実施例における円盤６と光検出器８と検出器
１０の配置図である。

【図６】従来の多芯ファイバ検査装置の構成を示すブロ
ック図である。

【符号の説明】

１ 光源 ２ 光切り換え器 ３ 多芯ファイバ ３Ａ 多芯ファイバの１番目のファイバ ３Ｂ 多芯ファイバの２番目のファイバ ３Ｃ 多芯ファイバの３番目のファイバ ３Ｄ 多芯ファイバの４番目のファイバ ４Ａ 多芯ファイバの１番目のファイバからの出射光 ４Ｂ 多芯ファイバの２番目のファイバからの出射光 ４Ｃ 多芯ファイバの３番目のファイバからの出射光 ４Ｄ 多芯ファイバの４番目のファイバからの出射光 ５Ａ パルス変調光 ５Ｂ パルス変調光 ５Ｃ パルス変調光 ５Ｄ パルス変調光 ６ 円盤 ６’ スリット ７ モータ ８ 光検出器 ９ レベル計

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 連続光を出力する光源と、 多芯ファイバを構成する各ファイバに対し、前記光源に
   よって出力される連続光を切り換えて入射させる光切り
   換え器と、 駆動用モータと、 前記駆動用モータによって回転駆動される円盤であっ
   て、前記各ファイバからの出射光を各々通過させるスリ
   ット幅の異なった複数のスリットを有し、回転駆動され
   ることにより前記各ファイバからの各出射光に対応した
   パルス変調光を出力する円盤と、 前記円盤の各スリットから得られるパルス変調光を受光
   して電気信号に変換する光検出器と、 前記光検出器で受光した光パワーを測定するレベル計と
   を具備することを特徴とする多芯ファイバ検査装置。
2. 【請求項２】 連続光を出力する光源と、 多芯ファイバを構成する各ファイバに対し、前記光源に
   よって出力される連続光を切り換えて入射させる光切り
   換え器と、 駆動用モータと、 前記駆動用モータによって回転駆動される円盤であっ
   て、前記各ファイバからの出射光を各々通過させるスリ
   ット幅の異なった複数のスリットを有し、回転駆動され
   ることにより前記各ファイバからの出射光に対応したパ
   ルス変調光を出力する円盤と、 前記各ファイバからの各出射光が前記円盤の各スリット
   を通過するように前記円盤を停止させる停止手段と、 前記円盤が回転駆動されているときに前記円盤から得ら
   れるパルス変調光または前記円盤が停止しているときに
   前記スリットを介して得られる連続光を受光して電気信
   号に変換する光検出器と、 前記光検出器で受光した光パワーを測定するレベル計と
   を具備することを特徴とする多芯ファイバ検査装置。