JPH08261824A - 光測定器 - Google Patents
光測定器Info
- Publication number
- JPH08261824A JPH08261824A JP6027095A JP6027095A JPH08261824A JP H08261824 A JPH08261824 A JP H08261824A JP 6027095 A JP6027095 A JP 6027095A JP 6027095 A JP6027095 A JP 6027095A JP H08261824 A JPH08261824 A JP H08261824A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polarization
- light
- power
- photodetector
- linearly polarized
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】偏光特性を補正あるいは解消または低減させ得
る光測定器を実現する。 【構成】入射光の直交する２つの直線偏光成分の少なく
とも一方の偏光のパワーをモニタするモニタ部と、この
モニタ部でモニタする光のパワーを検出する光検出器
と、前記モニタ部からの光を受けた主光学系から出射さ
れる２つの直線偏光成分のパワーの和を検出する光検出
部と、前記光検出器と光検出部の各出力により偏光依存
による出力変動を補正する演算・補正部を備える。
る光測定器を実現する。 【構成】入射光の直交する２つの直線偏光成分の少なく
とも一方の偏光のパワーをモニタするモニタ部と、この
モニタ部でモニタする光のパワーを検出する光検出器
と、前記モニタ部からの光を受けた主光学系から出射さ
れる２つの直線偏光成分のパワーの和を検出する光検出
部と、前記光検出器と光検出部の各出力により偏光依存
による出力変動を補正する演算・補正部を備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバなどを入力
部に持ちその偏光状態によって出力が変動する光測定器
に関し、特に偏光状態をモニタすることにより、あるい
は２つの直交する直線偏光に対する光学系の効率を等し
くすることにより、偏光依存の出力変動を補正すること
のできる光測定器に関するものである。
部に持ちその偏光状態によって出力が変動する光測定器
に関し、特に偏光状態をモニタすることにより、あるい
は２つの直交する直線偏光に対する光学系の効率を等し
くすることにより、偏光依存の出力変動を補正すること
のできる光測定器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より偏光特性を補正あるいは解消す
る方式としては、次のようなものが知られている。 (1) 非偏光化素子（デポラライザ）を挿入する方式 (2) 偏光状態制御素子で入射光の偏光状態を制御する方
式 (3) 偏波ダイバーシティによる検波を行う方式 (4) ダブルパスにする方式
る方式としては、次のようなものが知られている。 (1) 非偏光化素子（デポラライザ）を挿入する方式 (2) 偏光状態制御素子で入射光の偏光状態を制御する方
式 (3) 偏波ダイバーシティによる検波を行う方式 (4) ダブルパスにする方式
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記
(1) および(2) の方式では波長板を回転させるための可
動部が必要となり、構成が大掛りになるという問題があ
る。また(3) の方式では主として検出時のみの偏光依存
性補償に限られるという問題があり、また(4) の方式が
有効なのは光学系が単純な場合に限られるという問題が
あった。
(1) および(2) の方式では波長板を回転させるための可
動部が必要となり、構成が大掛りになるという問題があ
る。また(3) の方式では主として検出時のみの偏光依存
性補償に限られるという問題があり、また(4) の方式が
有効なのは光学系が単純な場合に限られるという問題が
あった。
【０００４】本発明の目的は、このような点に鑑み、偏
光特性を補正あるいは解消または低減させ得る光測定器
を実現することにある。
光特性を補正あるいは解消または低減させ得る光測定器
を実現することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本願の第１の発明では、入射光の直交する２つ
の直線偏光成分の少なくとも一方の偏光のパワーをモニ
タするモニタ部と、このモニタ部でモニタする光のパワ
ーを検出する光検出器と、前記モニタ部からの光を受け
た主光学系から出射される２つの直線偏光成分のパワー
の和を検出する光検出部と、前記光検出器と光検出部の
各出力により偏光依存による出力変動を補正する演算・
補正部を備え、演算・補正部より入射光のパワーに対応
した信号を得るように構成したことを特徴とする。
るために本願の第１の発明では、入射光の直交する２つ
の直線偏光成分の少なくとも一方の偏光のパワーをモニ
タするモニタ部と、このモニタ部でモニタする光のパワ
ーを検出する光検出器と、前記モニタ部からの光を受け
た主光学系から出射される２つの直線偏光成分のパワー
の和を検出する光検出部と、前記光検出器と光検出部の
各出力により偏光依存による出力変動を補正する演算・
補正部を備え、演算・補正部より入射光のパワーに対応
した信号を得るように構成したことを特徴とする。
【０００６】本願の第２の発明では、入射光の直交する
２つの直線偏光成分の少なくとも一方の偏光を選択的に
減衰させる偏光依存型のアッテネータと、このアッテネ
ータからの光を受けた主光学系から出射される２つの直
線偏光成分のパワーの和を検出する光検出部を備え、光
検出部より入射光のパワーに対応した信号を得るように
構成したことを特徴とする。
２つの直線偏光成分の少なくとも一方の偏光を選択的に
減衰させる偏光依存型のアッテネータと、このアッテネ
ータからの光を受けた主光学系から出射される２つの直
線偏光成分のパワーの和を検出する光検出部を備え、光
検出部より入射光のパワーに対応した信号を得るように
構成したことを特徴とする。
【０００７】
【作用】第１の発明においては、モニタ部で入射光の直
線偏光成分の少なくとも一方の偏光を取り出し、光検出
器でそのパワーを検出する。またモニタ部からの光を受
けて主光学系より出射される光を光検出部で検出する。
この２つの検出結果に基づいて偏光変化に伴う出力変動
のキャンセルされた出力（入射光のパワーに対応した出
力）を得ることができる。第２の発明においては、偏光
に依存するアッテネータにより直交する２つの直線偏光
に対する効率（またはロス）を等しくすることにより、
偏光変化に伴う出力変動がキャンセルされた出力を得る
ことができる。
線偏光成分の少なくとも一方の偏光を取り出し、光検出
器でそのパワーを検出する。またモニタ部からの光を受
けて主光学系より出射される光を光検出部で検出する。
この２つの検出結果に基づいて偏光変化に伴う出力変動
のキャンセルされた出力（入射光のパワーに対応した出
力）を得ることができる。第２の発明においては、偏光
に依存するアッテネータにより直交する２つの直線偏光
に対する効率（またはロス）を等しくすることにより、
偏光変化に伴う出力変動がキャンセルされた出力を得る
ことができる。
【０００８】
【実施例】以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。
図１は本発明に係る光測定器の一実施例を示す構成図で
あり、偏光状態をモニタすることにより偏光特性を補正
あるいは解消または低減させる光測定器の構成例であ
る。図において、１は入射光の直交する２つの直線偏光
成分の少なくとも一方の偏光のパワーをモニタするモニ
タ部、２はモニタ部１でモニタする光のパワーを検出す
る光検出器、３はモニタ部１からの光が入射される主光
学系、４は主光学系３から出射される２つの直線偏光成
分のパワーの和を検出する光検出部、５は光検出器２と
光検出部４の各出力により偏光依存による出力変動を補
正する演算・補正部である。なお、主光学系３として
は、偏光特性を有する各種の光学系が対象となる。
図１は本発明に係る光測定器の一実施例を示す構成図で
あり、偏光状態をモニタすることにより偏光特性を補正
あるいは解消または低減させる光測定器の構成例であ
る。図において、１は入射光の直交する２つの直線偏光
成分の少なくとも一方の偏光のパワーをモニタするモニ
タ部、２はモニタ部１でモニタする光のパワーを検出す
る光検出器、３はモニタ部１からの光が入射される主光
学系、４は主光学系３から出射される２つの直線偏光成
分のパワーの和を検出する光検出部、５は光検出器２と
光検出部４の各出力により偏光依存による出力変動を補
正する演算・補正部である。なお、主光学系３として
は、偏光特性を有する各種の光学系が対象となる。
【０００９】このような構成において、モニタ部１には
光パワーＰinが入射される。Ｐinは直交する２つの直線
偏光成分に分けられ、図１を水平に置いたとき振動方向
が紙面に平行（水平）な偏光のパワーをＰH 、振動方向
が紙面に垂直な偏光のパワーをＰV とすると、 Ｐin＝ＰH ＋ＰV ……(1) となる。
光パワーＰinが入射される。Ｐinは直交する２つの直線
偏光成分に分けられ、図１を水平に置いたとき振動方向
が紙面に平行（水平）な偏光のパワーをＰH 、振動方向
が紙面に垂直な偏光のパワーをＰV とすると、 Ｐin＝ＰH ＋ＰV ……(1) となる。
【００１０】モニタ部１は例えばハーフミラーなどであ
り、垂直成分ＰV の内の一部ＲVＰV（ＲV はモニタ部１
での反射率）が光検出器２に入力される。光検出器２の
出力Ｐm は、 Ｐm ＝ＲV ×ＰV ……(2) である。
り、垂直成分ＰV の内の一部ＲVＰV（ＲV はモニタ部１
での反射率）が光検出器２に入力される。光検出器２の
出力Ｐm は、 Ｐm ＝ＲV ×ＰV ……(2) である。
【００１１】モニタ部１から主光学系３に入る光のパワ
ーは、ＴVＰV＋ＴHＰHである。ＴVは垂直成分の透過
率、ＴH は水平成分の透過率である。モニタ部１でのロ
スが無視できれば、 ＲV ＋ＴV ＝１ ……(3) が成立する。
ーは、ＴVＰV＋ＴHＰHである。ＴVは垂直成分の透過
率、ＴH は水平成分の透過率である。モニタ部１でのロ
スが無視できれば、 ＲV ＋ＴV ＝１ ……(3) が成立する。
【００１２】主光学系３から光検出部４に入る光のパワ
ーは、ηVＴVＰV＋ηHＴHＰHである。ηV およびηH は
主光学系の２つの直線偏光に対する効率であり、ηV は
垂直成分の効率、ηH は水平成分の効率である。光検出
部４の出力Ｐout は Ｐout ＝ηVＴVＰV＋ηHＴHＰH ……(4) である。
ーは、ηVＴVＰV＋ηHＴHＰHである。ηV およびηH は
主光学系の２つの直線偏光に対する効率であり、ηV は
垂直成分の効率、ηH は水平成分の効率である。光検出
部４の出力Ｐout は Ｐout ＝ηVＴVＰV＋ηHＴHＰH ……(4) である。
【００１３】上記(1) 式〜(4) 式より、 Ｐin＝｛Ｐout −（ηVＴV−ηHＴH）Ｐm／ＲV｝／（ηHＴH） ……(5) となり、ＲV ，ＴV ，ＴH ，ηV ，ηH は既知であるの
で、測定値Ｐm およびＰout が得られれば、(5) 式によ
りＰinを求めることができる。
で、測定値Ｐm およびＰout が得られれば、(5) 式によ
りＰinを求めることができる。
【００１４】演算・補正部５は、光検出器２からＰm 、
光検出部４からＰout をそれぞれ受けて上記(5) 式に基
づく演算を行いパワーＰinを求めて出力する。このよう
にして偏光変化に伴う出力変動をキャンセルしたパワー
を測定することができる。
光検出部４からＰout をそれぞれ受けて上記(5) 式に基
づく演算を行いパワーＰinを求めて出力する。このよう
にして偏光変化に伴う出力変動をキャンセルしたパワー
を測定することができる。
【００１５】図２は本願の第２の発明による光測定器の
一実施例を示す要部構成図であり、偏光に依存するアッ
テネータを追加して直交する２つの直線偏光に対する効
率（またはロス）を等しくすることにより、偏光特性を
補正あるいは解消または低減させる光測定器の構成例で
ある。
一実施例を示す要部構成図であり、偏光に依存するアッ
テネータを追加して直交する２つの直線偏光に対する効
率（またはロス）を等しくすることにより、偏光特性を
補正あるいは解消または低減させる光測定器の構成例で
ある。
【００１６】図１と異なるところは、モニタ部を偏光依
存型のアッテネータとし、光検出器と演算・補正部を除
いた点であり、本発明では偏光依存型のアッテネータ１
ａにより主光学系の偏光による効率（ηH ，ηV ）の違
いを補正し、前記アッテネータ１ａを含めた両偏光に対
する全体の効率を一致させ、偏光状態変化による出力変
動をなくすものである。なお、アッテネータとしては、
例えば比較的消光比の悪い波長板あるいはポラロイド板
が使用できる。
存型のアッテネータとし、光検出器と演算・補正部を除
いた点であり、本発明では偏光依存型のアッテネータ１
ａにより主光学系の偏光による効率（ηH ，ηV ）の違
いを補正し、前記アッテネータ１ａを含めた両偏光に対
する全体の効率を一致させ、偏光状態変化による出力変
動をなくすものである。なお、アッテネータとしては、
例えば比較的消光比の悪い波長板あるいはポラロイド板
が使用できる。
【００１７】すなわち、選択的にアッテネータ１ａの両
偏光に対する透過率を、水平方向ではＴH 、垂直方向で
はＴV とし、主光学系の効率を、水平方向はηH 、垂直
方向ではηV とすれば、光検出部４の出力Ｐout は、 Ｐout ＝ηHＴHＰH ＋ηVＴVＰV ……(6) となる。
偏光に対する透過率を、水平方向ではＴH 、垂直方向で
はＴV とし、主光学系の効率を、水平方向はηH 、垂直
方向ではηV とすれば、光検出部４の出力Ｐout は、 Ｐout ＝ηHＴHＰH ＋ηVＴVＰV ……(6) となる。
【００１８】ここで、ηHＴH＝ηVＴV、すなわちＴV／
ＴH＝ηH／ηVとなるように透過率を設定しておけば、
(6) 式は、 Ｐout ＝ηHＴH（ＰH＋ＰV）＝ηVＴV（ＰH＋ＰV）＝ηＰin ……(7) ただし、η＝ηHＴH＝ηVＴV となる。これは(5) 式でηHＴH＝ηVＴVとした場合に相
当し、偏光変化に依存しない出力が得られることが分か
る。
ＴH＝ηH／ηVとなるように透過率を設定しておけば、
(6) 式は、 Ｐout ＝ηHＴH（ＰH＋ＰV）＝ηVＴV（ＰH＋ＰV）＝ηＰin ……(7) ただし、η＝ηHＴH＝ηVＴV となる。これは(5) 式でηHＴH＝ηVＴVとした場合に相
当し、偏光変化に依存しない出力が得られることが分か
る。
【００１９】なお、上記(7) 式より明らかであるが、本
発明は次のような場合にも適用できる。 偏光状態が任意に変化、すなわちＰH とＰV の割合が
任意に変化する場合。 ηH とηV が著しく異なる場合すなわち本質的な偏光
依存性型の光学系、特に偏光による回折効率の差が大き
い回折格子を使用した場合。 最終的な出力Ｐout から入射パワーＰinを推定したい
場合。例えば波長に対するパワーを正確に知りたいよう
な光スペクトラムアナライザなどの場合（(7) 式ではＰ
out Ｐinが比例関係にあり、Ｐinを推定するのは容易で
ある）。
発明は次のような場合にも適用できる。 偏光状態が任意に変化、すなわちＰH とＰV の割合が
任意に変化する場合。 ηH とηV が著しく異なる場合すなわち本質的な偏光
依存性型の光学系、特に偏光による回折効率の差が大き
い回折格子を使用した場合。 最終的な出力Ｐout から入射パワーＰinを推定したい
場合。例えば波長に対するパワーを正確に知りたいよう
な光スペクトラムアナライザなどの場合（(7) 式ではＰ
out Ｐinが比例関係にあり、Ｐinを推定するのは容易で
ある）。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、任
意の偏光状態に対して容易に偏光依存性を無くすことが
できる。特に第２の発明では、多少パワーを犠牲にして
いるものの比較的消光比の悪い波長板あるいはポラロイ
ド板１枚で本質的に偏光依存性を無くすことができ、実
用に供してその効果は大である。
意の偏光状態に対して容易に偏光依存性を無くすことが
できる。特に第２の発明では、多少パワーを犠牲にして
いるものの比較的消光比の悪い波長板あるいはポラロイ
ド板１枚で本質的に偏光依存性を無くすことができ、実
用に供してその効果は大である。
【図１】本願の第１の発明に係る光測定器の一実施例を
示す構成図
示す構成図
【図２】本願の第１の発明に係る光測定器の一実施例を
示す構成図である。
示す構成図である。
１ モニタ部 １ａ アッテネータ ２ 光検出器 ３ 主光学系 ４ 光検出部 ５ 演算・補正部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 在原 守 東京都武蔵野市中町２丁目９番32号 横河 電機株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】入射光の直交する２つの直線偏光成分の少
なくとも一方の偏光のパワーをモニタするモニタ部と、 このモニタ部でモニタする光のパワーを検出する光検出
器と、 前記モニタ部からの光を受けた主光学系から出射される
２つの直線偏光成分のパワーの和を検出する光検出部
と、 前記光検出器と光検出部の各出力により偏光依存による
出力変動を補正する演算・補正部を具備し、前記演算・
補正部より前記入射光のパワーに対応した信号が得られ
るように構成したことを特徴とする光測定器。 - 【請求項２】入射光の直交する２つの直線偏光成分の少
なくとも一方の偏光を選択的に減衰させる偏光依存型の
アッテネータと、 このアッテネータからの光を受けた主光学系から出射さ
れる２つの直線偏光成分のパワーの和を検出する光検出
部を具備し、前記光検出部より前記入射光のパワーに対
応した信号が得られるように構成したことを特徴とする
光測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6027095A JPH08261824A (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | 光測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6027095A JPH08261824A (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | 光測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08261824A true JPH08261824A (ja) | 1996-10-11 |
Family
ID=13137286
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6027095A Pending JPH08261824A (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | 光測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08261824A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011045890A1 (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-21 | 株式会社アドバンテスト | 受光装置、受光装置の製造方法、および受光方法 |
-
1995
- 1995-03-20 JP JP6027095A patent/JPH08261824A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011045890A1 (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-21 | 株式会社アドバンテスト | 受光装置、受光装置の製造方法、および受光方法 |
| US8279379B2 (en) | 2009-10-15 | 2012-10-02 | Advantest Corporation | Light receiving device, light receiving device manufacturing method, and light receiving method |
| JP5542841B2 (ja) * | 2009-10-15 | 2014-07-09 | 株式会社アドバンテスト | 受光装置、受光装置の製造方法、および受光方法 |
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