JPH08253860A - イオン注入装置 - Google Patents

イオン注入装置

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JPH08253860A
JPH08253860A JP8025525A JP2552596A JPH08253860A JP H08253860 A JPH08253860 A JP H08253860A JP 8025525 A JP8025525 A JP 8025525A JP 2552596 A JP2552596 A JP 2552596A JP H08253860 A JPH08253860 A JP H08253860A
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ion
plasma
frequency
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electron beam
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JP8025525A
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Yasunori Ono
康則 大野
Tomoe Kurosawa
巴 黒沢
Tadashi Sato
忠 佐藤
Yukio Kurosawa
幸夫 黒沢
Yoshimi Hakamata
好美 袴田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 広範囲で均一なイオンビームが得られると同
時に、耐久性に優れたものとする。 【解決手段】 高周波放電によって生成されるプラズマ
を保持する気密性のプラズマ生成室1と、高周波放電を
行わせるための高周波コイル7と、生成されたプラズマ
からイオンビームを引出すためのビーム引出部10とを
有する高周波イオン源とし、電子サイクロトン共鳴を用
いたイオン源よりも広範囲で均一なイオンビームを得
る。これに加えて、高周波放電を開始させるための種と
なる電子を得る手段として、プラズマ生成室で発生した
プラズマを遮る加速電極を備えた電子ビーム発生器4を
プラズマ生成室1に設けることにより、フィラメントや
放電電極の耐久性を向上させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、イオン打込み装置
および中性粒子入射装置などのイオン注入装置に係り、
特に高周波コイルを用いて高周波放電によりプラズマを
生成するイオン源を備えたイオン注入装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体や機能性薄膜の生成および
加工に際しイオンビームが用いられるようになってい
る。例えば、いわゆるサブミクロンデバイスを製作する
うえで不可欠なドライエッチング装置の1つとして、特
開昭59−46748号ではマイクロ波を使ったイオン
ビームエッチング装置が提案されている。この装置によ
れば、高精度のエッチングが可能であると同時に、酸素
やフッ素系、塩素系ガス等の反応性ガスを使用した場合
でも、電子衝撃型のイオン源を用いたエッチング装置の
ようにフィラメントが消滅するという問題もなく、長時
間の使用に耐え得るという利点がある。しかし、電子サ
イクロトン共鳴(ECR)を利用してプラズマを生成し
ているため、広範囲で均一なイオンビームを得ることは
難しく、したがって多数のウエハを一度に処理するよう
な用途には向いていない。
【0003】一方、米国ローレンス・バークレイ研究所
は、核融合用の中性粒子入射装置に用いるイオン源とし
て、高周波イオン源を開発し、100mm×100mm
の均一な強度の水素イオンビームを得ることに成功し、
このことが「RadioFrequency Ion Source Develop
ment for Neutral Beam Application」(K.H.Leu
ng et,al,J.Vac,Sci,Technol A2(2),Ap
r,−June,1984)で報告されている。このイオン源に
よれば、広範囲で均一なイオンビームが得られると同時
に、プラズマを生成する際に高周波放電を用いているた
めに反応性ガスの下でも電子衝撃型のイオン源に比較し
て長時間安定に動作させ得るという利点がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記バークレ
イ研究所の開発したイオン源は、高周波放電を用いてい
るとは言え、それを開始させる際の種となる電子は放電
開始当初にフィラメントを短時間点灯させることによっ
て得ているため、フィラメントの消耗によってイオン源
としての耐久性が低下するという問題がある。
【0005】本発明が解決しようとする課題は、電子サ
イクロトン共鳴を用いたイオン源よりも広範囲で均一な
イオンビームが得られると同時に、耐久性に優れたイオ
ン源を実現することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、まず、電子サイクロトン共鳴を用いたイオン源より
も広範囲で均一なイオンビームが得られるようにするた
めに、イオン源を、高周波放電によって生成されるプラ
ズマを保持する気密性のプラズマ生成室と、高周波放電
を行わせるための高周波コイルと、生成されたプラズマ
からイオンビームを引出すためのビーム引出部とを有す
る高周波イオン源とする。これに加えて、フィラメント
や放電電極の耐久性を向上させるため、高周波放電を開
始させるための種となる電子を得る手段として、プラズ
マ生成室へ電子を注入する電子ビーム発生器を設けるこ
とを特徴とする。周知のとおり、電子ビーム発生器は発
生した電子をビームに形成するための加速電極を備えて
いるから、プラズマ生成室で発生したプラズマはその加
速電極により遮られて電子ビーム発生器の内部に進入し
にくいので、電子ビーム発生器の電子発生源であるフィ
ラメントや放電極がプラズマにより消耗することを防ぐ
ことができる。
【0007】この場合において、電子ビーム発生器は、
少なくともその電子ビームの放射端をプラズマ生成室に
挿入して設けてもよく、又はイオンビーム引出部を介し
たプラズマ生成室の反対側、つまりイオンビーム引出部
の加工室側に設けてもよい。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態の一例
を示す縦断面図であり、イオン打込み装置に本発明を適
用したものである。図2は高周波放電開始時の動作を説
明するためのタイムチャートである。図1において、プ
ラズマ生成室1は側壁が絶縁物で形成された真空容器構
造となっており、例えば1×10~6Torr程度の真空状
態にて運転される。プラズマ生成室1の上部には、例え
ばフレオンガス(CF4)等の所望のガスを導入するガ
ス導入口2が設けられている。また、制御装置3によっ
て制御される電子ビーム発生器4と、電源5から加速電
圧が印加される加速電極6が設けられている。さらに、
プラズマ生成室1の外部周囲には高周波コイル7が設け
られ、電源8から高周波コイル7に印加する高周波電力
および生成室外壁に印加する電位を制御装置9によって
調整可能に構成されている。そして、加速電極6に高電
圧を印加することによってイオンビーム引出部10から
引出されたイオンビーム11は質量分離器12によって
特定のエネルギーを持つイオンのみが選別され、選別さ
れたイオンはスリット13を介して加工室14の被加工
物に所定量だけ打込まれるようになっている。
【0009】この構成において、高周波コイル7に印加
する高周波電力、加速電極6に印加する加速電圧、電子
ビーム発生器の制御装置3に対するビーム発生指令を、
図2(a)〜(c)に示すようなシーケンスで制御し、
電子ビーム発生器4からの電子ビームを、高周波放電開
始当初にプラズマ発生室1に一時的に入射することによ
り、高周波放電が開始される。すなわち、時刻t0で高
周波電力を高周波コイル7に印加した後、時刻t1で電
子ビーム発生器4から電子ビームを一定時間だけ発生さ
せてプラズマ生成室1に入射する。すると、この時の電
子ビームを種として高周波放電が開始され、時刻t1
後は持続的な放電状態に移行する。以後は、時刻t2
おいて加速電圧を印加してイオンビーム11をプラズマ
生成室1のイオンビーム引出部10から引出して加工室
2に導く。
【0010】このように、図1のイオン打ち込み装置に
よれば、フィラメントや放電極をプラズマ生成室1内で
用いることなく高周波放電を開始させることができるか
ら、フィラメント等が化学的に活性なプラズマにより損
傷するのを防ぐことができる。
【0011】なお、上記実施例では電子ビームをプラズ
マ生成室に入射することによって高周波放電を開始させ
ているが、レーザ光をプラズマ生成室の一部に入射して
導入ガスの一部を電離させ、この電離の際に発生する電
子を種として高周波放電を開始させるようにすることが
できる。また、図1の例において、電子ビーム発生器4
を加工室14側に取付けて、つまりイオンビーム引出部
10の加工室13側に取付けて、発生した電子ビームを
プラズマ生成室1へ導くように構成してもよい。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
プラズマ生成室内にフィラメントや放電電極を設けるこ
となく高周波放電を開始することができるため、反応性
ガスの雰囲気で使用しても頻繁な部品交換や清掃が不要
となり、イオン源装置としての耐久性を向上させること
が可能になる。また、電子サイクロトロン共鳴によるイ
オン源よりも、広範囲で均一なイオンビームを得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一例を示す縦断面図であ
る。
【図2】高周波放電開始時の動作を説明するためのタイ
ムチャートである。
【符号の説明】
1 プラズマ生成室 2 ガス導入口 3 制御装置 4 電子ビーム発生器 6 加速電極 7 高周波コイル 10 イオンビーム引出部 11 イオンビーム 12 質量分離器 14 加工室
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05H 1/46 H01L 21/265 D (72)発明者 黒沢 幸夫 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内 (72)発明者 袴田 好美 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高周波放電によって生成されるプラズマ
    を保持する気密性のプラズマ生成室と、前記高周波放電
    を行わせるための高周波コイルと、前記生成されたプラ
    ズマからイオンビームを引出すためのビーム引出部とを
    有するイオン源を備えたイオン注入装置において、 前記高周波放電を開始させるための種となる電子を得る
    手段として、前記プラズマ生成室へ電子を注入する電子
    ビーム発生器を設けたことを特徴とするイオン注入装
    置。
  2. 【請求項2】 前記電子ビーム発生器の少なくとも電子
    ビームの放射端を前記プラズマ生成室に挿入して設けた
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のイオン
    注入装置。
  3. 【請求項3】 前記電子ビーム発生器を前記イオンビー
    ム引出部の前記プラズマ生成室の反対側に設け、前記イ
    オンビーム引出部を介して前記プラズマ生成室へ電子ビ
    ームを入射することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    に記載のイオン注入装置。
JP8025525A 1996-02-13 1996-02-13 イオン注入装置 Expired - Lifetime JP2654769B2 (ja)

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JPH08253860A true JPH08253860A (ja) 1996-10-01
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101141520B1 (ko) * 2009-06-26 2012-05-15 염세환 Ecr 장비를 이용한 철망 가공장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101141520B1 (ko) * 2009-06-26 2012-05-15 염세환 Ecr 장비를 이용한 철망 가공장치

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