JPH08249659A - 光ディスクの欠陥検査方法 - Google Patents
光ディスクの欠陥検査方法Info
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- JPH08249659A JPH08249659A JP8074195A JP8074195A JPH08249659A JP H08249659 A JPH08249659 A JP H08249659A JP 8074195 A JP8074195 A JP 8074195A JP 8074195 A JP8074195 A JP 8074195A JP H08249659 A JPH08249659 A JP H08249659A
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- optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ディスクの各トラック の各セクタに設定
された、同期符号エリアの各種の媒体欠陥を検出して検
査する。 【構成】 ＭＯヘッド３により、光ディスク１にスポッ
トＳP を照射し、その反射光より抽出された２つの偏光
信号ＳA,ＳB の和信号ＳADと差信号ＳSBとを作成し、こ
れらをそれぞれのコンパレータにより閾値に比較してパ
ルスを検出し、和信号より作成されたゲート信号ＧS に
より、同期符号エリア内の、トラック溝の媒体の傷、付
着異物、光学的変質による各欠陥パルスをそれぞれ抽出
し、抽出された各欠陥パルスのセクタ内の位置と幅とを
それぞれ算出し、欠陥がセクタ内の重要な位置あると
き、その欠陥のトラックとセクタの番号を管理トラック
のディフェクトエリアに登録してセクタを使用禁止する
とともに、各欠陥の種別、トラックとセクタの番号、セ
クタ内の位置と幅の各データを出力する。
された、同期符号エリアの各種の媒体欠陥を検出して検
査する。 【構成】 ＭＯヘッド３により、光ディスク１にスポッ
トＳP を照射し、その反射光より抽出された２つの偏光
信号ＳA,ＳB の和信号ＳADと差信号ＳSBとを作成し、こ
れらをそれぞれのコンパレータにより閾値に比較してパ
ルスを検出し、和信号より作成されたゲート信号ＧS に
より、同期符号エリア内の、トラック溝の媒体の傷、付
着異物、光学的変質による各欠陥パルスをそれぞれ抽出
し、抽出された各欠陥パルスのセクタ内の位置と幅とを
それぞれ算出し、欠陥がセクタ内の重要な位置あると
き、その欠陥のトラックとセクタの番号を管理トラック
のディフェクトエリアに登録してセクタを使用禁止する
とともに、各欠陥の種別、トラックとセクタの番号、セ
クタ内の位置と幅の各データを出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスクの欠陥、
特に記録フィールド内の同期符号エリアの欠陥に対する
検査方法に関する。
特に記録フィールド内の同期符号エリアの欠陥に対する
検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクには各種の型式があるが、い
ずれも磁気ディスクに比較して膨大な記録密度を有し、
非接触でデータがアクセスできるので、データの保存性
が優れているなどの利点があり、書き換え可能な光ディ
スクは、コンピユータシステムなどの記憶装置として使
用されている。図３は光ディスク１を示し、光ディスク
１にはスパイラル状のトラックＴR の溝が穿溝され、各
トラックＴR は円周方向に複数ｎ個のセクタＳ0 〜Ｓn
に区分されている。なお、各トラックＴR のうちの最内
周と最外周の適当数は、制御と管理用に充当される。
ずれも磁気ディスクに比較して膨大な記録密度を有し、
非接触でデータがアクセスできるので、データの保存性
が優れているなどの利点があり、書き換え可能な光ディ
スクは、コンピユータシステムなどの記憶装置として使
用されている。図３は光ディスク１を示し、光ディスク
１にはスパイラル状のトラックＴR の溝が穿溝され、各
トラックＴR は円周方向に複数ｎ個のセクタＳ0 〜Ｓn
に区分されている。なお、各トラックＴR のうちの最内
周と最外周の適当数は、制御と管理用に充当される。
【０００３】図４は、ＪＩＳにより規格された各セクタ
Ｓの展開図を示す。各セクタＳは、５２バイト（Ｂ）の
ヘッダ部と、６７２Ｂの記録フィールドよりなる。ヘッ
ダ部は、セクタマークＳＭを前頭として、同期用のＶＦ
Ｏ１、アドレスマークＡＭ、トラック番号，セクタ番号
などよりなるＩＤ１、………が、それぞれ図示のバイト
数とし、これらは予めピットとして穿溝（プリフォーマ
ット）される。ヘッダ部の後には、トラッキング補正用
として１バイトの溝無しのＯＤＦを介在し、これに続く
記録フィールドは、空白ＧＡＰ、同期用のＶＦＯ３とＳ
ＹＮ、データフィールド、ポストアンブルＰＡ、バッフ
ァが、それぞれ図示のバイト数と決められ、ユーザの使
用領域とされる。ＶＦＯ３の１２Ｂの符号構成は、１Ｂ
を１６チャンネルビット（ＣＨｂ）として、１９２ＣＨ
ｂの”1” と”0” が図示のように配列される。ＳＹＮ
の３Ｂ＝４８ＣＨｂは、いわゆる２−７コード方式によ
り図示のように配列される。
Ｓの展開図を示す。各セクタＳは、５２バイト（Ｂ）の
ヘッダ部と、６７２Ｂの記録フィールドよりなる。ヘッ
ダ部は、セクタマークＳＭを前頭として、同期用のＶＦ
Ｏ１、アドレスマークＡＭ、トラック番号，セクタ番号
などよりなるＩＤ１、………が、それぞれ図示のバイト
数とし、これらは予めピットとして穿溝（プリフォーマ
ット）される。ヘッダ部の後には、トラッキング補正用
として１バイトの溝無しのＯＤＦを介在し、これに続く
記録フィールドは、空白ＧＡＰ、同期用のＶＦＯ３とＳ
ＹＮ、データフィールド、ポストアンブルＰＡ、バッフ
ァが、それぞれ図示のバイト数と決められ、ユーザの使
用領域とされる。ＶＦＯ３の１２Ｂの符号構成は、１Ｂ
を１６チャンネルビット（ＣＨｂ）として、１９２ＣＨ
ｂの”1” と”0” が図示のように配列される。ＳＹＮ
の３Ｂ＝４８ＣＨｂは、いわゆる２−７コード方式によ
り図示のように配列される。
【０００４】ユーザが光ディスク３を使用するときは、
ドライブ装置の光学ヘッドにより、ヘッダ部を読出して
そのデータの正当性を確認した後、同期符号エリアにＶ
ＦＯ３とＳＹＮを、データフィールドに情報データをそ
れぞれ書込む。その読出しにおいては、光学ヘッドによ
りヘッダ部を読出して同様に確認し、ＶＦＯ３とＳＹＮ
を読出しながら再生用のクロックパルスの同期をとっ
て、記録された情報データが読出される。
ドライブ装置の光学ヘッドにより、ヘッダ部を読出して
そのデータの正当性を確認した後、同期符号エリアにＶ
ＦＯ３とＳＹＮを、データフィールドに情報データをそ
れぞれ書込む。その読出しにおいては、光学ヘッドによ
りヘッダ部を読出して同様に確認し、ＶＦＯ３とＳＹＮ
を読出しながら再生用のクロックパルスの同期をとっ
て、記録された情報データが読出される。
【０００５】上記の各トラックＴR の溝には傷や付着異
物などの欠陥がないことが必要である。この欠陥の有無
を検査するために、光ディスク１は以下に述べる方法に
よりサーティファイされている。すなわち、各記録フィ
ールドの同期符号エリアにＶＦＯ３とＳＹＮを、またデ
ータフィールドにテストデータをそれぞれ書込み／読出
し、読出したテストデータと書込みしたテストデータと
を照合して、両者が一致したときは、もちろん、データ
フィールド部は良好と判定し、同時にＶＦＯ３とＳＹＮ
の各ピットも良好と判定する。ＶＦＯ３とＳＹＮの領域
に重大な欠陥がある場合は、データフィールド部にたと
え全てのピットがまったく問題なくデータが記録されて
いても、読み取るためのクロックが発生できず復調、再
生不能となる。また、もし不一致が発生した場合は、そ
の不一致の大きさによりそのセクタＳが使用できるかど
うかバットセクタ（不良セクタ）判定基準と照合され、
使用不可と判定されれば、前記した管理用のトラックの
ディフェクトエリア（欠陥部分の登録エリア）に登録し
て使用禁止とする。以上のサーティファイを行って、光
ディスク１は品質が保証されて出荷されている。
物などの欠陥がないことが必要である。この欠陥の有無
を検査するために、光ディスク１は以下に述べる方法に
よりサーティファイされている。すなわち、各記録フィ
ールドの同期符号エリアにＶＦＯ３とＳＹＮを、またデ
ータフィールドにテストデータをそれぞれ書込み／読出
し、読出したテストデータと書込みしたテストデータと
を照合して、両者が一致したときは、もちろん、データ
フィールド部は良好と判定し、同時にＶＦＯ３とＳＹＮ
の各ピットも良好と判定する。ＶＦＯ３とＳＹＮの領域
に重大な欠陥がある場合は、データフィールド部にたと
え全てのピットがまったく問題なくデータが記録されて
いても、読み取るためのクロックが発生できず復調、再
生不能となる。また、もし不一致が発生した場合は、そ
の不一致の大きさによりそのセクタＳが使用できるかど
うかバットセクタ（不良セクタ）判定基準と照合され、
使用不可と判定されれば、前記した管理用のトラックの
ディフェクトエリア（欠陥部分の登録エリア）に登録し
て使用禁止とする。以上のサーティファイを行って、光
ディスク１は品質が保証されて出荷されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】さて、上記によりサー
ティファイして出荷された光ディスク１を、ユーザが実
使用して、同期符号エリアにＶＦＯ３，ＳＹＮを、デー
タフィールドに情報データをそれぞれ所定通り書込んだ
後、この情報データを読出そうとすると、読出し不能の
事態がしばしば発生している。その原因を検討したとこ
ろ、ユーザのドライブ装置の光学ヘッドの汚損などによ
り、読出し不良また不能もありうるが、すくなくとも上
記のサーティファイの際には、ＶＦＯ３とＳＹＮの各符
号は確かに正しく書込みされた筈であり、そうでなけれ
ば読出しと書込みの両テストデータは一致しない。しか
し現実には読出しは不能であり、この原因として次のこ
とが考えられる。いまＶＦＯ３とＳＹＮの符号構成をみ
ると、図４に示したように多数の ”1”と”0” よりな
り、一方ドライブの回転速度は微小変化するので、”
1”と”0” の位置は変動する。いま媒体に欠陥がある
とし、これが ”0”に相当する位置に存在するときは無
害であるが、もし ”1”に相当する位置にあるとすれ
ば、この ”1”は欠陥により消失または変化するため
に、再生用のクロックパルスの同期が崩れて、情報デー
タの再生が不能となる、という事実が判明した。また媒
体には上記の傷や付着異物などのほかに、媒体の光学的
な変質、例えばストレスによる屈折率の変化や複屈折状
態の変化があり、こような変質もデータ記録に対する欠
陥となることが確認されている。そこで、出荷前に上記
のサーティファイとともに、同期符号エリアの媒体に存
在するこれら各種の欠陥を検出して検査することが是非
とも必要とされる。この発明は、以上に鑑みてなされた
もので、各セクタＳの同期符号エリアの媒体に存在する
各種の欠陥を検出して検査するための、欠陥検査方法を
提供することを目的とする。
ティファイして出荷された光ディスク１を、ユーザが実
使用して、同期符号エリアにＶＦＯ３，ＳＹＮを、デー
タフィールドに情報データをそれぞれ所定通り書込んだ
後、この情報データを読出そうとすると、読出し不能の
事態がしばしば発生している。その原因を検討したとこ
ろ、ユーザのドライブ装置の光学ヘッドの汚損などによ
り、読出し不良また不能もありうるが、すくなくとも上
記のサーティファイの際には、ＶＦＯ３とＳＹＮの各符
号は確かに正しく書込みされた筈であり、そうでなけれ
ば読出しと書込みの両テストデータは一致しない。しか
し現実には読出しは不能であり、この原因として次のこ
とが考えられる。いまＶＦＯ３とＳＹＮの符号構成をみ
ると、図４に示したように多数の ”1”と”0” よりな
り、一方ドライブの回転速度は微小変化するので、”
1”と”0” の位置は変動する。いま媒体に欠陥がある
とし、これが ”0”に相当する位置に存在するときは無
害であるが、もし ”1”に相当する位置にあるとすれ
ば、この ”1”は欠陥により消失または変化するため
に、再生用のクロックパルスの同期が崩れて、情報デー
タの再生が不能となる、という事実が判明した。また媒
体には上記の傷や付着異物などのほかに、媒体の光学的
な変質、例えばストレスによる屈折率の変化や複屈折状
態の変化があり、こような変質もデータ記録に対する欠
陥となることが確認されている。そこで、出荷前に上記
のサーティファイとともに、同期符号エリアの媒体に存
在するこれら各種の欠陥を検出して検査することが是非
とも必要とされる。この発明は、以上に鑑みてなされた
もので、各セクタＳの同期符号エリアの媒体に存在する
各種の欠陥を検出して検査するための、欠陥検査方法を
提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成した光ディスクの欠陥検査方法であって、 (1) 光学ヘッドにより、回転する光ディスクのトラック
溝に対してレーザスポットを照射し、その反射光より抽
出された、互いに直角方向に偏光した２つの偏光波をそ
れぞれの受光器に受光し、両受光器が出力する２つの偏
光信号の和信号と差信号とを作成し、和信号と差信号を
それぞれのコンパレータにより閾値に比較して閾値を越
えるパルスを検出する。 (2) 和信号より各セクタのセクタマークを検出し、検出
されたセクタマークからの一定のバイト数をクロックパ
ルスによりカウントして、同期符号エリアの始点と終点
を検出して、始点と終点間を継続するゲート信号を作成
する。 (3) ゲート信号と、各コンパレータの検出パルスとをそ
れぞれアンド合成して、同期符号エリア内の、和信号に
含まれたトラック溝の媒体の傷または付着異物と、差信
号に含まれた媒体の光学的変質とによる各欠陥パルスを
それぞれ抽出し、抽出された各欠陥パルスのセクタ内の
位置と幅とを、クロックパルスによりカウントしてそれ
ぞれ算出する。 (4) 上記により算出されたセクタ内の位置、欠陥の種
別、欠陥の大きさによる各欠陥の重要性を判定し、重要
なとき、各欠陥の存在するトラックとセクタの番号を、
管理用トラックのディフェクトエリアに登録してセクタ
の使用禁止措置をとり、かつ各欠陥の種別、トラックと
セクタの番号、セクタ内の位置と幅の各データを出力す
る。
達成した光ディスクの欠陥検査方法であって、 (1) 光学ヘッドにより、回転する光ディスクのトラック
溝に対してレーザスポットを照射し、その反射光より抽
出された、互いに直角方向に偏光した２つの偏光波をそ
れぞれの受光器に受光し、両受光器が出力する２つの偏
光信号の和信号と差信号とを作成し、和信号と差信号を
それぞれのコンパレータにより閾値に比較して閾値を越
えるパルスを検出する。 (2) 和信号より各セクタのセクタマークを検出し、検出
されたセクタマークからの一定のバイト数をクロックパ
ルスによりカウントして、同期符号エリアの始点と終点
を検出して、始点と終点間を継続するゲート信号を作成
する。 (3) ゲート信号と、各コンパレータの検出パルスとをそ
れぞれアンド合成して、同期符号エリア内の、和信号に
含まれたトラック溝の媒体の傷または付着異物と、差信
号に含まれた媒体の光学的変質とによる各欠陥パルスを
それぞれ抽出し、抽出された各欠陥パルスのセクタ内の
位置と幅とを、クロックパルスによりカウントしてそれ
ぞれ算出する。 (4) 上記により算出されたセクタ内の位置、欠陥の種
別、欠陥の大きさによる各欠陥の重要性を判定し、重要
なとき、各欠陥の存在するトラックとセクタの番号を、
管理用トラックのディフェクトエリアに登録してセクタ
の使用禁止措置をとり、かつ各欠陥の種別、トラックと
セクタの番号、セクタ内の位置と幅の各データを出力す
る。
【０００８】
【作用】上記の欠陥検査方法の(1) においては、ＭＯ型
の光学ヘッド（以下ＭＯヘッド）により、回転する光デ
ィスクのトラック溝に対してレーザスポットを照射する
と、ＭＯヘッドは、その反射光より互いに直角方向に偏
光した２つの偏向波を抽出する。この両偏向波は、プリ
フォーマットされたヘッダ部による強度が変化する反射
光を含むが、これが無い記録フィールドでは、前記した
媒体の光学的変質により偏光方向と強度とが変化する。
両偏向波はそれぞれの受光器により受光されて２つの偏
光信号が出力され、この両偏光信号の和信号の強度は、
偏光方向にはほぼ無関係で、媒体の傷や付着異物の反射
光量に比例する。一方、差信号の強度は両偏光信号の偏
光方向の変化に依存して変化するもので、媒体の光学的
変質を示すとされる。和信号と差信号はそれぞれのコン
パレータにより閾値に比較されて、閾値を越えるパルス
が検出される。ただし検出されたパルスには、同期符号
エリアの媒体によるもののほかに、ヘッダ部の反射光に
よるものがある。(2) においては、和信号中の各セクタ
のセクタマークを検出し、検出したセクタマークからの
一定のバイト数をクロックパルスによりカウントする
と、同期符号エリアの始点と終点が検出され、これより
始点と終点間を継続するゲート信号が作成される。(3)
において、ゲート信号と、各コンパレータの検出パルス
とをそれぞれアンド合成すると、ヘッダ部が除外されて
同期符号エリアが選択され、和信号に含まれているトラ
ック溝の傷または付着異物の欠陥パルスと、差信号に含
まれている媒体の光学的変質による欠陥パルスとがそれ
ぞれ抽出される。これらの各欠陥パルスはクロックパル
スによりカウントされて、セクタ内の位置と幅とがそれ
ぞれ算出される。(4) においては、上記により算出され
たセクタ内の位置、欠陥の種別、欠陥の大きさによる各
欠陥の重要性が判定される。この意義は、ＶＦＯ３の大
きいバイト数の各チャンネルビット（ＣＨｂ）は、すべ
てが必ず正しくなくとも同期用には差し支えないが、し
かし少なくとも、その中央部分の数バイトは必ず正しい
ことが必要である。すなわちＶＦＯ３のバイトは位置に
より重要性に軽重がある。そこで、重要と判定された欠
陥は、そのトラックとセクタの番号が管理用トラックの
ディフェクトエリアに登録されて、セクタの使用禁止措
置がとられ、また各欠陥の種別、トラックとセクタの番
号、セクタ内の位置と幅の各データがプリント出力され
る。
の光学ヘッド（以下ＭＯヘッド）により、回転する光デ
ィスクのトラック溝に対してレーザスポットを照射する
と、ＭＯヘッドは、その反射光より互いに直角方向に偏
光した２つの偏向波を抽出する。この両偏向波は、プリ
フォーマットされたヘッダ部による強度が変化する反射
光を含むが、これが無い記録フィールドでは、前記した
媒体の光学的変質により偏光方向と強度とが変化する。
両偏向波はそれぞれの受光器により受光されて２つの偏
光信号が出力され、この両偏光信号の和信号の強度は、
偏光方向にはほぼ無関係で、媒体の傷や付着異物の反射
光量に比例する。一方、差信号の強度は両偏光信号の偏
光方向の変化に依存して変化するもので、媒体の光学的
変質を示すとされる。和信号と差信号はそれぞれのコン
パレータにより閾値に比較されて、閾値を越えるパルス
が検出される。ただし検出されたパルスには、同期符号
エリアの媒体によるもののほかに、ヘッダ部の反射光に
よるものがある。(2) においては、和信号中の各セクタ
のセクタマークを検出し、検出したセクタマークからの
一定のバイト数をクロックパルスによりカウントする
と、同期符号エリアの始点と終点が検出され、これより
始点と終点間を継続するゲート信号が作成される。(3)
において、ゲート信号と、各コンパレータの検出パルス
とをそれぞれアンド合成すると、ヘッダ部が除外されて
同期符号エリアが選択され、和信号に含まれているトラ
ック溝の傷または付着異物の欠陥パルスと、差信号に含
まれている媒体の光学的変質による欠陥パルスとがそれ
ぞれ抽出される。これらの各欠陥パルスはクロックパル
スによりカウントされて、セクタ内の位置と幅とがそれ
ぞれ算出される。(4) においては、上記により算出され
たセクタ内の位置、欠陥の種別、欠陥の大きさによる各
欠陥の重要性が判定される。この意義は、ＶＦＯ３の大
きいバイト数の各チャンネルビット（ＣＨｂ）は、すべ
てが必ず正しくなくとも同期用には差し支えないが、し
かし少なくとも、その中央部分の数バイトは必ず正しい
ことが必要である。すなわちＶＦＯ３のバイトは位置に
より重要性に軽重がある。そこで、重要と判定された欠
陥は、そのトラックとセクタの番号が管理用トラックの
ディフェクトエリアに登録されて、セクタの使用禁止措
置がとられ、また各欠陥の種別、トラックとセクタの番
号、セクタ内の位置と幅の各データがプリント出力され
る。
【０００９】
【実施例】図１は、この発明を具体化した光ディスクの
欠陥検査装置の一実施例における概略構成を示し、欠陥
検査装置は、スピンドル２a を有する回転機構２と、Ｍ
Ｏヘッド３、媒体の傷または付着異物に対する異物検査
部４、媒体の光学的欠陥に対する光学欠陥検査部５、お
よびデータ処理部６よりなる。図２は、図１に対する欠
陥検査方法の説明図である。以下、図１と図２により、
同期符号エリアの欠陥検査方法を説明する。光ディスク
１はスピンドル２a に装着されて回転し、これに対し
て、ＭＯヘッド３のレーザ光源31が出力する直線偏光の
レーザビームは、偏光ビームスプリッタＰＢＳ1 を透過
し、ミラーＭR により反射され、対物レンズＴＬにより
スポットＳP に集束され、その偏光面をトラックＴR の
溝の方向として照射される。光ディスク１の回転によ
り、スポットＳP はトラックＴR の溝とヘッダ部の各ピ
ットにより反射され、反射光はＴＬとＭR を経てＰＢＳ
1 により、偏光方向が変化した成分が反射され、これが
さらにハーフミラーＨＭにより反射され、λ／２板を経
てＰＢＳ2 に入射して互いに直角方向の偏向波に分割さ
れ、一方は受光器32、他方はＭR を経て受光器33に受光
されて、それぞれより偏光信号ＳA,ＳB が出力される。
欠陥検査装置の一実施例における概略構成を示し、欠陥
検査装置は、スピンドル２a を有する回転機構２と、Ｍ
Ｏヘッド３、媒体の傷または付着異物に対する異物検査
部４、媒体の光学的欠陥に対する光学欠陥検査部５、お
よびデータ処理部６よりなる。図２は、図１に対する欠
陥検査方法の説明図である。以下、図１と図２により、
同期符号エリアの欠陥検査方法を説明する。光ディスク
１はスピンドル２a に装着されて回転し、これに対し
て、ＭＯヘッド３のレーザ光源31が出力する直線偏光の
レーザビームは、偏光ビームスプリッタＰＢＳ1 を透過
し、ミラーＭR により反射され、対物レンズＴＬにより
スポットＳP に集束され、その偏光面をトラックＴR の
溝の方向として照射される。光ディスク１の回転によ
り、スポットＳP はトラックＴR の溝とヘッダ部の各ピ
ットにより反射され、反射光はＴＬとＭR を経てＰＢＳ
1 により、偏光方向が変化した成分が反射され、これが
さらにハーフミラーＨＭにより反射され、λ／２板を経
てＰＢＳ2 に入射して互いに直角方向の偏向波に分割さ
れ、一方は受光器32、他方はＭR を経て受光器33に受光
されて、それぞれより偏光信号ＳA,ＳB が出力される。
【００１０】両偏光信号ＳA,ＳB は、異物検査部４のア
ンプ411,412 により適当なレベルに増幅されて加算器42
により加算され、和信号ＳADは２個のコンパレータ431,
432の＋端子と−端子にそれぞれ入力して閾値ｖ1,ｖ2
に比較され、閾値を越えるパルスが検出される。ただし
この検出パルスには、同期符号エリアの媒体によるもの
のほかに、ヘッダ部の各ピットの反射光によるものがあ
る。一方、和信号ＳADはＳＭ検出回路46にも入力してセ
クタマークＳＭが検出され、検出されたＳＭがゲート信
号作成回路47に入力すると、図２(a) に示すように、ク
ロックパルスｐa によりカウントが開始され、カウント
数が５８Ｂ（図４参照）に達すると、同期符号エリアの
始端となり、さらに１５Ｂカウントすると終端となる。
この始端と終端を検出して両者間を継続するゲート信号
ＧS が作成されて出力される。上記の両コンパレータ43
1,432 の検出パルスは、２個のアンド回路441,442 に入
力し、これらに与えられるゲート信号ＧS とアンド合成
されて、同期符号エリア内の検出パルスが抽出される。
この検出パルスは、和信号ＳADに対するもの、すなわち
媒体の傷や付着異物による欠陥パルスであり、これを図
２(b) の(イ) に例示する。欠陥パルスはカウンタ（ＣＯ
ＵＮＴ）451,452 のクロックパルスｐbによりカウント
されて、セクタＳ内の位置ＰB と幅ｗとが算出され、こ
れらに、欠陥種別と、存在するトラックとセクタ番号と
を付加した欠陥データが、データ処理部６のメモリ（Ｍ
ＥＭ）62に逐次に記憶される。
ンプ411,412 により適当なレベルに増幅されて加算器42
により加算され、和信号ＳADは２個のコンパレータ431,
432の＋端子と−端子にそれぞれ入力して閾値ｖ1,ｖ2
に比較され、閾値を越えるパルスが検出される。ただし
この検出パルスには、同期符号エリアの媒体によるもの
のほかに、ヘッダ部の各ピットの反射光によるものがあ
る。一方、和信号ＳADはＳＭ検出回路46にも入力してセ
クタマークＳＭが検出され、検出されたＳＭがゲート信
号作成回路47に入力すると、図２(a) に示すように、ク
ロックパルスｐa によりカウントが開始され、カウント
数が５８Ｂ（図４参照）に達すると、同期符号エリアの
始端となり、さらに１５Ｂカウントすると終端となる。
この始端と終端を検出して両者間を継続するゲート信号
ＧS が作成されて出力される。上記の両コンパレータ43
1,432 の検出パルスは、２個のアンド回路441,442 に入
力し、これらに与えられるゲート信号ＧS とアンド合成
されて、同期符号エリア内の検出パルスが抽出される。
この検出パルスは、和信号ＳADに対するもの、すなわち
媒体の傷や付着異物による欠陥パルスであり、これを図
２(b) の(イ) に例示する。欠陥パルスはカウンタ（ＣＯ
ＵＮＴ）451,452 のクロックパルスｐbによりカウント
されて、セクタＳ内の位置ＰB と幅ｗとが算出され、こ
れらに、欠陥種別と、存在するトラックとセクタ番号と
を付加した欠陥データが、データ処理部６のメモリ（Ｍ
ＥＭ）62に逐次に記憶される。
【００１１】次に光学欠陥検査部５においては、異物検
査部４のアンプ411,412 により適当なレベルに増幅され
た両偏光信号ＳA,ＳB は、減算器51に入力して差信号Ｓ
SBが出力され、上記の和信号ＳADの場合と同様に、２個
のコンパレータ521,522 の＋端子と−端子にそれぞれ入
力して、閾値ｖ3,ｖ4 に比較されてパルスが検出され
る。ただしこの検出パルスも、ヘッダ部の反射光による
ものがある。両コンパレータ521,522 の検出パルスは、
２個のアンド回路531,532 においてゲート信号ＧS とア
ンド合成されて、同期符号エリア内の検出パルスが抽出
される。この検出パルスは、差信号ＳSBに対するもの、
すなわち媒体の光学欠陥による欠陥パルスであり、これ
を図２(b) の(ロ) に例示する。欠陥パルスはカウンタ
（ＣＯＵＮＴ）541,542 のクロックパルスｐb によりカ
ウントされて、セクタ内の位置ＰB と幅ｗとが算出さ
れ、上記と同様な欠陥データが逐次にＭＥＭ62に記憶さ
れる。
査部４のアンプ411,412 により適当なレベルに増幅され
た両偏光信号ＳA,ＳB は、減算器51に入力して差信号Ｓ
SBが出力され、上記の和信号ＳADの場合と同様に、２個
のコンパレータ521,522 の＋端子と−端子にそれぞれ入
力して、閾値ｖ3,ｖ4 に比較されてパルスが検出され
る。ただしこの検出パルスも、ヘッダ部の反射光による
ものがある。両コンパレータ521,522 の検出パルスは、
２個のアンド回路531,532 においてゲート信号ＧS とア
ンド合成されて、同期符号エリア内の検出パルスが抽出
される。この検出パルスは、差信号ＳSBに対するもの、
すなわち媒体の光学欠陥による欠陥パルスであり、これ
を図２(b) の(ロ) に例示する。欠陥パルスはカウンタ
（ＣＯＵＮＴ）541,542 のクロックパルスｐb によりカ
ウントされて、セクタ内の位置ＰB と幅ｗとが算出さ
れ、上記と同様な欠陥データが逐次にＭＥＭ62に記憶さ
れる。
【００１２】以上によりＭＥＭ62に記憶された各欠陥デ
ータは、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）61に取り込ま
れ、位置ＰB がＶＦＯ３の中央部の数バイトに相当する
ときはこの欠陥は重要であるので、そのトラックＴR と
セクタＳの番号を管理用のトラックのディフェクトエリ
アに登録して、このセクタＳの使用を禁止する。また、
各欠陥の種別、位置ＰB 、幅ｗ、トラックとセクタ番号
を適当に編集して、プリンタ（ＰＲＮＴ）63によりプリ
ント出力する。なお付言すると、上記の同期符号エリア
の欠陥検査は、前記したサーティファイ検査と併用する
ことにより、光ディスク１の品質が完全に保証される。
ータは、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）61に取り込ま
れ、位置ＰB がＶＦＯ３の中央部の数バイトに相当する
ときはこの欠陥は重要であるので、そのトラックＴR と
セクタＳの番号を管理用のトラックのディフェクトエリ
アに登録して、このセクタＳの使用を禁止する。また、
各欠陥の種別、位置ＰB 、幅ｗ、トラックとセクタ番号
を適当に編集して、プリンタ（ＰＲＮＴ）63によりプリ
ント出力する。なお付言すると、上記の同期符号エリア
の欠陥検査は、前記したサーティファイ検査と併用する
ことにより、光ディスク１の品質が完全に保証される。
【００１３】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明の欠陥検
査方法によれば、光ディスクのトラックの各セクタに設
定された、記録フィールドの同期符号エリアは、その媒
体の傷、付着異物、光学的欠陥がいずれも検出され、さ
らに検出された欠陥の位置及び大きさにより重要性を判
定して、重要な欠陥のトラックとセクタ番号を管理用ト
ラックに登録してセクタの使用を禁止するとともに、各
欠陥の位置、種別、幅、トラックとセクタの番号などの
欠陥データをプリント出力するもので、従来出荷後に発
生した読出し不能トラブルが防止され、光ディスクの品
質保証に寄与する効果には大きいものがある。また、本
媒体の傷、付着異物や光学的欠陥を検出する機能を、一
般に出荷されている光ディスクドライブ装置に付加する
ことも大事なユーザデータを取り扱う記憶装置として、
信頼性の面で大きな利点となりうる。
査方法によれば、光ディスクのトラックの各セクタに設
定された、記録フィールドの同期符号エリアは、その媒
体の傷、付着異物、光学的欠陥がいずれも検出され、さ
らに検出された欠陥の位置及び大きさにより重要性を判
定して、重要な欠陥のトラックとセクタ番号を管理用ト
ラックに登録してセクタの使用を禁止するとともに、各
欠陥の位置、種別、幅、トラックとセクタの番号などの
欠陥データをプリント出力するもので、従来出荷後に発
生した読出し不能トラブルが防止され、光ディスクの品
質保証に寄与する効果には大きいものがある。また、本
媒体の傷、付着異物や光学的欠陥を検出する機能を、一
般に出荷されている光ディスクドライブ装置に付加する
ことも大事なユーザデータを取り扱う記憶装置として、
信頼性の面で大きな利点となりうる。
【図１】図１は、この発明を具体化した欠陥検査装置の
一実施例における概略構成図である。
一実施例における概略構成図である。
【図２】図２は、図１に対する欠陥検査方法の説明図で
あって、（ａ）は、記録フィールドとゲート信号との関
係の説明図、（ｂ）は、光学欠陥による欠陥パルスの説
明図である。
あって、（ａ）は、記録フィールドとゲート信号との関
係の説明図、（ｂ）は、光学欠陥による欠陥パルスの説
明図である。
【図３】図３は、光ディスクのトラック とセクタの説
明図である。
明図である。
【図４】図４は、ＪＩＳにより規格された各セクタの展
開図である。
開図である。
１…光ディスク、２…回転機構、２a …スピンドル、３
…ＭＯ型光学ヘッド、31…レーザ光源、32,33 …受光
器、４…異物検査部、411,412 …アンプ、42…加算器、
431,432 …コンパレータ、441,442 …アンド回路、451,
452 …カウンタ（ＣＯＵＮＴ）、46…ＳＭ検出回路、47
…ゲート信号作成回路、５…光学欠陥検査部、51…減算
器、521,522 …コンパレータ、531,532 …アンド回路、
541,542 …カウンタ（ＣＯＵＮＴ）、６…データ処理
部、61…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、62…メモリ
（ＭＥＭ）、63…プリンタ（ＰＲＮＴ）、ＳP …レーザ
スポット、ＳＭ…セクタマーク、ＶＦＯ３，ＳＹＮ…同
期符号、ＰＢＳ…偏光ビームスプリッタ、ＭR …ミラ
ー、ＴＬ…対物レンズ、ＨＭ…ハーフミラー、ｖ1,ｖ2,
ｖ3,ｖ4 …閾値、ＧS …ゲート信号、ｐa,ｐb …クロッ
クパルス、ＰB …セクタ内の欠陥の位置、ｗ…欠陥の
幅。
…ＭＯ型光学ヘッド、31…レーザ光源、32,33 …受光
器、４…異物検査部、411,412 …アンプ、42…加算器、
431,432 …コンパレータ、441,442 …アンド回路、451,
452 …カウンタ（ＣＯＵＮＴ）、46…ＳＭ検出回路、47
…ゲート信号作成回路、５…光学欠陥検査部、51…減算
器、521,522 …コンパレータ、531,532 …アンド回路、
541,542 …カウンタ（ＣＯＵＮＴ）、６…データ処理
部、61…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、62…メモリ
（ＭＥＭ）、63…プリンタ（ＰＲＮＴ）、ＳP …レーザ
スポット、ＳＭ…セクタマーク、ＶＦＯ３，ＳＹＮ…同
期符号、ＰＢＳ…偏光ビームスプリッタ、ＭR …ミラ
ー、ＴＬ…対物レンズ、ＨＭ…ハーフミラー、ｖ1,ｖ2,
ｖ3,ｖ4 …閾値、ＧS …ゲート信号、ｐa,ｐb …クロッ
クパルス、ＰB …セクタ内の欠陥の位置、ｗ…欠陥の
幅。
Claims (1)
- 【請求項１】光ディスクのトラック溝を複数のセクタに
区分し、各セクタのプリフォーマットされたヘッド部の
前頭のセクタマークから、一定のバイト数の位置に設定
された書き換え可能な記録フィールド内の、一定のバイ
ト数の同期符号エリアを検査対象とし、 (1) 光学ヘッドにより、回転する該光ディスクのトラッ
ク溝に対してレーザスポットを照射し、その反射光より
抽出された、互いに直角方向に偏光した２つの偏光波を
それぞれの受光器に受光し、該両受光器が出力する２つ
の偏光信号の和信号と差信号とを作成し、該和信号と差
信号をそれぞれのコンパレータにより閾値に比較して該
閾値を越えるパルスを検出し、 (2) 該和信号より前記各セクタのセクタマークを検出
し、該検出されたセクタマークからの前記一定のバイト
数をクロックパルスによりカウントして、前記同期符号
エリアの始点と終点を検出して、該始点と終点間を継続
するゲート信号を作成し、 (3) 該ゲート信号と、前記各コンパレータの検出パルス
とをそれぞれアンド合成して、該同期符号エリア内の、
該和信号に含まれた前記トラック溝の媒体の傷または付
着異物と、該差信号に含まれた該媒体の光学的変質とに
よる各欠陥パルスをそれぞれ抽出し、該抽出された各欠
陥パルスのセクタ内の位置と幅とを、クロックパルスに
よりカウントしてそれぞれ算出し、 (4) 該算出されたセクタ内の位置による該各欠陥の重要
性を判定し、重要と判定さた欠陥の存在するトラックと
セクタの番号を、管理用トラックのディフェクトエリア
に登録して該セクタの使用禁止措置をとり、かつ該各欠
陥の種別、トラックとセクタの番号、セクタ内の位置と
幅の各データをプリント出力することを特徴とする、光
ディスクの欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8074195A JPH08249659A (ja) | 1995-03-13 | 1995-03-13 | 光ディスクの欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8074195A JPH08249659A (ja) | 1995-03-13 | 1995-03-13 | 光ディスクの欠陥検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08249659A true JPH08249659A (ja) | 1996-09-27 |
Family
ID=13726830
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8074195A Pending JPH08249659A (ja) | 1995-03-13 | 1995-03-13 | 光ディスクの欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08249659A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000007185A1 (en) * | 1998-07-28 | 2000-02-10 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| CN100365728C (zh) * | 2003-09-08 | 2008-01-30 | 上海乐金广电电子有限公司 | 光记录播放器的格式化方法 |
| CN100371999C (zh) * | 2002-10-16 | 2008-02-27 | 联发科技股份有限公司 | 判别光学存储媒体的记录区的检测系统与方法 |
| US7430155B2 (en) | 1998-07-01 | 2008-09-30 | Lg Electronics Inc. | Defect area management system and method for optical storage medium |
| US7539103B2 (en) | 1998-07-29 | 2009-05-26 | Lg Electronics Inc. | Method for real time recording/playback of data to/from and optical recording medium and method for managing files thereof |
-
1995
- 1995-03-13 JP JP8074195A patent/JPH08249659A/ja active Pending
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7430155B2 (en) | 1998-07-01 | 2008-09-30 | Lg Electronics Inc. | Defect area management system and method for optical storage medium |
| US7558163B2 (en) | 1998-07-01 | 2009-07-07 | Lg Electronics Inc. | Defect area management system and method for optical storage medium |
| US7525882B2 (en) | 1998-07-01 | 2009-04-28 | Lg Electronics Inc. | Defect area management system and method for optical storage medium |
| US7380178B2 (en) | 1998-07-28 | 2008-05-27 | Lg Electronics, Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| US7146527B2 (en) | 1998-07-28 | 2006-12-05 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| US7711982B2 (en) | 1998-07-28 | 2010-05-04 | Lg Electronics, Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| US7380159B2 (en) | 1998-07-28 | 2008-05-27 | Lg Electronics, Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| US7380162B2 (en) | 1998-07-28 | 2008-05-27 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| WO2000007185A1 (en) * | 1998-07-28 | 2000-02-10 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| CN100405495C (zh) * | 1998-07-28 | 2008-07-23 | Lg电子株式会社 | 光记录介质和缺陷管理方法 |
| US7603584B2 (en) | 1998-07-28 | 2009-10-13 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| US7441149B2 (en) | 1998-07-28 | 2008-10-21 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| US7139935B2 (en) | 1998-07-28 | 2006-11-21 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| US6782488B1 (en) | 1998-07-28 | 2004-08-24 | Lg Electronics Inc. | Method and apparatus of recording data in the optical recording medium |
| US7539103B2 (en) | 1998-07-29 | 2009-05-26 | Lg Electronics Inc. | Method for real time recording/playback of data to/from and optical recording medium and method for managing files thereof |
| US7599269B2 (en) | 1998-07-29 | 2009-10-06 | Lg Electronics Inc. | Method for real time recording/playback of data to/from an optical recording medium and method for managing files thereof |
| CN100371999C (zh) * | 2002-10-16 | 2008-02-27 | 联发科技股份有限公司 | 判别光学存储媒体的记录区的检测系统与方法 |
| CN100365728C (zh) * | 2003-09-08 | 2008-01-30 | 上海乐金广电电子有限公司 | 光记录播放器的格式化方法 |
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