JPH0824251A - Ｘ線断層像撮影装置および方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 Ｘ線検出器の走査駆動部に対する偏位や検出
器毎に生じる計測タイミングのずれに起因する投影デー
タの誤差を補正し、画像再構成時の画質低下要因を除去
する。 【構成】 検出器d0〜d(Nb-1)がダンパ17によって走査
機構部1に保持され、Ｘ線源2からファンビーム状Ｘ線3
が計測期間中連続的に照射され、計測された投影データ
が、各検出器毎にマルチプレクサ5を介して順次読み出
されるＸ線断層像撮影装置において、予め計測点配列
（Ｘ線源2と検出器djの位置を示すパラメータの組）に
基づいて補正用パラメータを計算し、メモリ22、23、24
に保管しておく。このパラメータを用いてメモリ19に保
管されている、計測された投影データを補正演算部20に
おいて補正し、それを再構成演算部6において再構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線を利用し、Ｘ線源
および検出器を被検体の周りに回転させて必要な投影デ
ータを計測する断層像撮影装置および方法に関し、特に
装置の機構や計測方法等の制約に起因する投影データの
不整合を補正するのに好適なＸ線断層像撮影装置および
方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】図２に従来の第三世代Ｘ線断層像撮影装
置の一般的な構成を示す。走査機構部１上にＸ線源２お
よび多数のＸ線検出器d0〜d(Nb-1)が被検体4をはさんで
互いに対向する位置に配置されている。Ｘ線源2はファ
ンビーム状にＸ線3を放射し、被検体4を透過したＸ線強
度がＸ線検出器d0〜d(Nb-1)によって計測される。計測
されたデータはマルチプレクサ5を介して再構成演算部6
に送られる。図３に計測系の幾何学的な構成を示す。角
度aの位置にあるＸ線源の焦点9からファンビーム状Ｘ線
を放射しているとする。このとき角度ｂによって示され
るＸ線検出器djに入射するＸ線ビーム15の、被検体4に
入射する際のＸ線強度をIi、透過後のＸ線強度をIoとす
る。このときln(Ii/Io)はそのＸ線ビーム15が通過した
経路上の被検体4のＸ線吸収系数を積分したものに等し
い。Ｘ線源がある角度に位置している時に透過したＸ線
強度から前記のように計算されて得られるデータを投影
データという。走査機構部1は駆動機構部12によって生
み出され駆動力伝達機構14によって伝達された駆動力に
よって駆動され、回転中心13を中心に回転運動するの
で、角度bを微小角度ずつ変えて多数の投影データを収
集することができる。一方、Ｘ線検出器d0〜d(Nb-1)は
微小な開口幅を持ち、その幅にほぼ等しい間隔で走査駆
動部上1に配列されているので、角度aも離散的な値を取
る。ある計測値は計測時のa、bによって一意に特定で
き、a、bを座標軸にとる座標平面上に点(a,b)としてプ
ロットすることができる。この点(a,b)を計測点と呼ぶ
ことにする。もし投影データが全周に渡って均等に計測
されていれば、計測点はaおよびbに沿ってそれぞれ等間
隔な格子点上に並ぶ。図４にこのような計測において得
られる計測点16の配列を示す。なお、実際の撮影装置に
おいては個々の計測値の計測にはある一定の微小時間を
要し、その間も操作機構部は回転を続けるため、aの値
はそれに対応した広がりを持つ。また、検出器d0〜d(Nb
-1)の開口幅分だけbの値も広がりを持つ。そのため、上
記計測点はむしろある広がりを持った微小領域になる
が、それを代表する一点をもって議論しても問題はな
い。さて、このようにして得た全投影データから再構成
演算部6において被検体の計測断面上のＸ線吸収系数分
布が計算される。Ｘ線吸収系数分布は操作盤7から入力
される指示に従い、画像表示部8において画像として表
示される。再構成演算方法としてはフィルタ補正逆投影
法等が知られている。従来の撮影装置においては、急激
な回転運動の開始および停止にともなう衝撃を緩和する
ために、Ｘ線検出器d0〜d(Nb-1)はダンパ等の衝撃吸収
機構17を介して走査機構部1に固定されている。そのた
め計測中にもＸ線検出器d0〜d(Nb-1)は走査駆動部1に対
して重力方向に偏位することになる。また、従来の撮影
装置においては、Ｘ線源からのＸ線照射を計測期間中連
続的に行ない、多数の検出器d0〜d(Nb-1)によって計測
された投影データを再構成演算部6 に転送する際、全検
出器d0〜d(Nb-1)の計測値を同時に転送せず、マルチプ
レクサ5を介して順次転送する。このため検出器毎に計
測のタイミングがずれることになる。従来の撮影装置に
おいては画像再構成演算時にこれら検出器列の偏位およ
び計測タイミングのずれを考慮しておらず、理想的な計
測が行なわれているものとして再構成演算を行なってお
り、そのために画質低下を招いていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】以上に述べたごとく、
従来装置においては走査機構部の構造および計測の方法
等から理想的な計測が行なわれないが、このことを考慮
せずに画像再構成演算が行なわれていたため再構成画像
において誤差が含まれるものとなっていた。このような
投影データ計測の問題点は座標平面上に計測点16として
プロットすることにより簡便に表現することができる
(図４参照)。Ｘ線検出器d0〜d(Nb-1)が走査駆動部1に対
して偏位すると計測点16はb軸に平行にずれる。一方、
検出器毎に計測のタイミングがずれることは、計測時の
Ｘ線源2の位置aが異なるということであり、計測点16は
a軸に平行にずれる。つまるところ投影データの不整合
という問題は、理想的な計測による計測点の配値に対す
る実際の計測による計測点の配置のずれという問題に帰
着する。図５において理想的な計測による計測点16は格
子点上に並び、実計測に対応する計測点は点18のように
ずれた配置をとる。従来のＸ線断層像撮影装置において
は、実際の計測による計測点が点18のような配置をとる
にもかかわらず、計測点が点16のような配置をとってい
るものとみなして再構成演算を行なっていたため、画質
低下（偽像の発生等）を招いていたのである。本発明の
目的は、このような問題点を改善し、装置の機構や計測
方法等の制約に起因する投影データの不整合を容易に補
正し、偽像の発生を低減して良好な再構成像を得るのに
好適なＸ線断層像撮影装置および方法を提供することに
ある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のＸ線断層像撮影装置および方法は、実際の
計測で得られた投影データに対応する計測点配置を計算
によって求め、その情報を元に理想的な計測による計測
点上にある投影データを補間演算によって求めることに
特徴がある。また、この補間演算に必要なパラメータを
保管する手段および補間演算手段を有し、保管するパラ
メータは、実際の計測による計測点の配置および理想的
な計測による計測点の配置の位置関係に基づいて計算さ
れることに特徴がある。より具体的には、Ｘ線源（図１
の2）およびそのＸ線源と被検体をはさんで対向する位
置に配列された多数の検出器（図１のd0〜d(Nb-1)）
と、被検体を中心にＸ線源および検出器を回転させる走
査駆動部（図１の1）と、Ｘ線を連続的に照射させ検出
器列からの信号を順次読み出す機構（図示しない制御部
等）と、検出器にて計測した、多方向からの投影データ
をもとに被検体内部のＸ線吸収系数の分布を再構成する
演算手段（図１の6）とを備えたＸ線断層像撮影装置に
おいて、計測時に発生する時間的な誤差(順次読み出し
にともなう各検出器の計測タイミングの遅れ等)から計
算される量、あるいは空間的な誤差(計測中に検出器列
が走査駆動部に対して偏位する量等)に基づいて計算さ
れる量をメモリ（図１の22〜24）に予め保管し、補間演
算手段(図１の20)にて、その計算量を用い、計測された
投影データにおける時間的あるいは空間的な誤差による
影響を補正する。特に、「計測中に検出器列が走査駆動
部に対して偏位するような計測が行なわれている場
合」、「検出器列からの信号を順次読み出す機構（図１
の5）を備えた装置によって計測された場合」、あるい
は「各計測データの計測タイミングの遅れが発生し、か
つ計測中に検出器列が走査駆動部に対して偏位するよう
な計測が行なわれている場合」には、所定の計算式（例
えば、数１〜数５）を用い、予め計測した偏位量あるい
は予め計算した計測タイミングの遅れ量に基づいて計測
点の配置を計算する。こうして求まった計測点の配置の
情報または、これに基づいて計算される補間に用いるパ
ラメータを、メモリ上に保管しておく。そして計測によ
って得られた投影データに対し、このメモリ上の情報を
用いて補間演算を行ない、時間的および空間的な誤差が
補正された、投影データを得る。

【０００５】

【作用】本発明においては、予め投影データに対応する
計測点配置を計算によって求め、それを元に理想的な計
測による投影データを補間演算（例えば、パラメータテ
ーブルを用いた補間演算）によって求めて、補正した投
影データにて再構成を行なうので、時間的および空間的
な計測点の配置のずれに起因する画質低下を回避するこ
とができる。また、理想的な計測による計測点の配置、
および実際の計測における計測点の配置は予め計算する
ことができ、それを元に補正用のパラメータをテーブル
化することができるので、装置実装上のコストもあまり
かからない。例えば、人体の肺野のＸ線再構成断層像を
得る場合、検出器系の重力による偏位および計測タイミ
ング遅れをともなう計測による誤差を補正した後の投影
データを用いて、再構成演算を行うことができるので、
従来技術では対処できなかった偽像（特に周辺部の放射
線状偽像）の発生を容易に低減し、画質低下を防ぐこと
が可能である。

【０００６】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面により詳細に
説明する。図１に本発明を実現するためのＸ線断層像撮
影装置の構成例を示す。計測によって得られたデータは
キャリブレーション等必要な信号処理を行なわれた後、
投影データとしてメモリ19に保管される。投影数をNa、
検出器数をNbとすればこのメモリ 19は少なくとも（Na
×Nb）のマトリックスサイズが必要である。データ補正
部20 において補間による補正演算が行なわれ、補正後
の投影データはメモリ21に書き込まれる。メモリ21はこ
の補正後の全投影データを保管しておくためには（Na×
Nb）のマトリックスサイズが必要である。しかし、たと
えばフィルタ補正逆投影法等の再構成演算方法では一度
に全投影データが揃っている必要はないので、これより
小さなサイズのメモリに必要十分な量の補正後の投影デ
ータを順次転送するようにしてもよい。メモリ19上の実
計測による投影データをインデックスi、jを用いて、P
(i,j)で表すことにする。このP(i,j)はi番目の投影時に
j番目の検出器によって計測された値を意味する（i=0,
1,...,Na-1,j=0,1,...,Nb-1）。一方、メモリ21に保管
されている補正後の投影データを同様にP'(i,j)で表す
ことにする。前述のようにメモリ 21は必ずしも（Na×N
b）のサイズがあるわけではないが、再構成演算時には
各計測値はi、jをインデックスとして参照されるので、
P'(i,j)(i=0,1,...,Na-1,j=0,1,...,Nb-1)として表すこ
とができる。補正演算として例えば近傍４点からの線形
補間を用いるとすると補正データP'(i,j)は数６のよう
に表される。このとき、重みG、インデックスi0およびj
0はi、jおよびkの関数であり、あらかじめ計算してお
く。計算されたそれらのパラメータをi、j、kをインデ
ックスとしたテーブル22、23、24にそれぞれ保管する。
補正演算部20はインデックスi、jを変えながら全補正デ
ータP'(i,j)を「数６」に従って計算する。

【数６】 この重みG、インデックスi0およびj0は計測点の配置に
関する情報を元に計算して求めることができ、i、jおよ
びkの関数として与えられる。撮影を開始してからi番目
（i=0,1,...,Na-1）の投影において、j番目（j=0,
1,...,Nb-1）の検出器djに入射するＸ線ビームに対応す
る計測点について考える。この計測点の座標を(a(i,j),
b(i,j))で表すことにする。a方向サンプル角Daは2Pi/Nb
となる（Piは円周率）。計測開始時のＸ線源の位置をa
0、b方向サンプル角をDb、i=0番目の検出器d0の位置をb
0とすると理想計測による計測点の位置(a(i,j),b(i,j))
は数１のように表せる。これに対して、実際の計測によ
る計測点の配置は、理想的な計測による配置からずれる
ことになる。しかし、従来の画像再構成演算においては
計測が均等に行なわれていること、すなわち計測点が
「数１」に示すような格子点上に存在することを前提と
しており、上記のような計測点のずれを考慮していなか
ったため、これが画質低下の要因となっていた。

【数１】

【０００７】実際の計測における計測点のずれ方は撮影
装置の機構や計測方法等の条件によって定まり、画像再
構成に先だって計算することができる。本発明の要旨は
この計測点のずれ方に関する情報を用いて投影データの
補正に必要でかつ適切なパラメータを決定する点にあ
る。このパラメータに基づいて投影データの補正を行な
えば計測点のずれに起因していた従来の画質低下要因を
除去することができる。ここで、この実際の計測による
計測点の位置を(a'(i,j),b'(i,j))として表すことにす
る。図６のように、P'(i,j)の計測点の位置(a(i,j),b
(i,j))に対して、実際の計測による計測点から近傍の４
点(a'(i1,j1),b'(i1,j1))、(a'(i2,j2),b'(i2,j2))、
(a'(i3,j3),b'(i3,j3))、(a'(i4,j4),b'(i4,j4))を決定
する。ik、jkはi,j,kの関数としてik=i0(i,j,k)、jk=j0
(i,j,k)と表すことができる（k=1,2,3,4）。また、これ
らの計測点の位置関係から補間演算の重みをG(i,j,k)と
して求める。i0、j0およびGは計測点の位置関係のみか
ら求めることができるので、計測点の配置がわかってい
ればあらかじめ計算しテーブル化しておくことができ
る。

【０００８】さて、次に実際の計測における計測点の配
置について述べる。この配置は前述のように撮影装置の
機構や計測方法等の条件によって定まる。まず、Ｘ線源
からのＸ線の照射が計測期間中連続的に行なわれ、各検
出器から計測値がマルチプレクサにより順次読み出され
る機構を持つ撮影装置によって、ひとつの投影データの
計測時にも各検出器毎に計測のタイミングが異なるよう
な計測を行なった場合の計測値の配置について述べる。
各計測値の読み出しは検出器d0から順番にd(Nb-1)まで
行なわれるとする。i番目の投影データの計測開始時の
Ｘ線源位置はa'(i,0)にあり、これはa0+iDaである。検
出器djからの読み出しと検出器d(j+1)からの読み出しの
間にもＸ線源および検出器列は被検体を中心に回転して
おり、その間の回転角は Da/Nbとなる。一方 検出器位
置b'(i,j)はこの影響を受けない。i番目の投影データ計
測における検出器djの読み出し時における計測点の位置
(a'(i,j),b'(i,j))は「数３」によって計算される。実
際の計測による計測点の配置が計算されれば、前述のよ
うにして補間用のパラメータを算出することができる。

【数３】

【０００９】次に、検出器列がダンパ等の衝撃吸収機構
を介して走査駆動部に支持されるという機構を持ち、計
測中に検出器系が重力によって偏位してしまうような計
測を行なった場合の計測値の配置について述べる。図７
のように軸u,vを定義し、検出器系の偏位を表すことに
する。この偏位はaによって決まるので、それぞれu
(a)、v(a)と表される。この関数の形は正確には検出器
を保持する衝撃吸収機構の特性等によって決まり、各a
毎にその量を実測して決定すればよいが、u0、v0をそれ
ぞれの方向のオフセット、U,Vをそれぞれの方向の振幅
とすると「数７」によって近似的に表すことができるの
で、十から数十点のaに関して実測した値に対して「数
７」をフィッティングしu0、v0、U、Vを求め、これを用
いて各aに対するu(a),v(a)を求めるようにしてもよい。
もちろん、「数７」の代わりにより厳密に実際の偏位量
を表す関数を用いてもよい。

【数７】 このように検出系が偏位するため元来b=b0+jDbの位置に
あるべき検出器djは実際には「図７」に示すごとくdj'
の位置に来る。そのため、実際に検出器dj'に入射する
Ｘ線ビームは25で示されるものとなる。その時のＸ線源
がaの位置にあるとすると検出器の位置b'は「数８」で
求まる。

【数８】 ここでSidはＸ線源-検出器間距離である。一方、a'(i,
j)はこの影響を受けないので、計測点の位置(a'(i,j),
b'(i,j))を「数２」によって計算する。実際の計測によ
る計測点の配置が計算されれば、前述のようにして補間
用のパラメータを算出することができる。

【数２】

【００１０】さらに、各検出器から計測値がマルチプレ
クサにより順次読み出され、検出器系がダンパ等の衝撃
吸収機構を介して走査駆動部に支持されるという機構を
持つ撮影装置によって、ひとつの投影データの計測時に
も各検出器毎に計測のタイミングが異なり、計測中に検
出器系が重力によって偏位してしまうような計測を行な
った場合、i番目の投影データにおけるj番目の検出器に
よる計測に対応する計測点(a'(i,j),b'(i,j))を「数
４」によって計算する。実際の計測による計測点の配置
が計算されれば、前述のようにして補間用のパラメータ
を算出することができる。

【数４】 以上、「数１」に従った補間演算を行なう際のパラメー
タテーブルの計算方法について述べた。しかし、本発明
の要旨はＸ線断層像撮影装置の構成等から計算される計
測点の配置に基づき、理想計測点上の投影データを生成
するという点にあるので、補間演算手法の具体的な詳細
はこれ以外のものであっても構わず、もちろん、より多
くの近傍点を用いた高次補間が使えればなお精度は向上
する。また、たとえ「数２」、「数３」、「数４」のご
とく定式化されないようなものであっても計測点の偏位
としてあらかじめ計算、あるいは測定し得るような画質
低下要因は除去することができる。例えば、検出器系を
保持する支持機構の特性等により生じるより高調波成分
を持った振動や、あるいはＸ線源の偏位等に起因する画
質低下に対しても有効である。

【００１１】また、検出器からのデータ転送速度を高速
にするためにマルチプレクサが複数系統用意されている
場合もあるが、この時も以上で述べた手法を自然に拡張
して対応できる。例えばマルチプレクサが４系統用意さ
れており、隣接し合った４検出器を一組とし、それらか
らは同時に測定値の読み出しが行われる場合には計測点
(a'(i,j),b'(i,j))は図８に示すように４つ毎にa軸に平
行に並ぶように配置し、その座標は「数９」によって与
えられる（関数Int(x)はxの小数点以下を切捨てた値を
返すものとする）。実際の計測による計測点の配置が計
算されれば、前述のようにして補間用のパラメータを算
出することができる。

【数９】 同様にマルチプレクサがn系統用意されており、隣接し
合ったn検出器を一組とし、それらからは同時に測定値
の読み出しが行なわれるＸ線断層像撮影装置において
は、計測点(a'(i,j),b'(i,j))はn個毎にa軸に平行に並
ぶように配列し、その座標は「数５」によって与えられ
る。上記同様、実際の計測による計測点の配置が計算さ
れれば、前述のようにして補間用のパラメータを算出す
ることができる。

【数５】 もし、実際の計測時に動的な要因によって計測点の配置
が変化し、どのような配置になるのかあらかじめ知り得
ないような場合、補間用のパラメータを前もって計算し
メモリ上に固定的に保管しておくことはできない。しか
し、本発明に基づく補正演算は画像再構成演算の前に投
影データに対して行なうものであるので、この時点で計
測点の配置がわかっていれば十分である。このような場
合、計測時にセンサ等を用いて計測した諸パラメータを
元に計測点の配置を計算し、さらにそれを元に補間用の
パラメータを算出するというような方法を考えることが
できる。

【００１２】

【発明の効果】図９は従来法による断層像と本発明によ
る補正手法を適用して得られる人体の肺野の断層像を比
較のため摸式的に表した図である。図９（ａ）は得られ
た計測データに対し、従来どうり、そのまま再構成演算
を行なった時の再構成断層像である。検出器系の重力に
よる偏位および計測タイミングの遅れのためにその計測
点配置は理想的な計測によるものとずれているにもかか
わらず再構成演算の段階ではこのずれを考慮していない
ため、特に周辺部に放射線状の偽像26が発生している。
一方図９（ｂ）は、同様に検出器系の重力による偏位お
よび計測タイミング遅れをともなう計測によって得られ
た投影データに対し本発明による補正手法を適用し、補
正後の投影データに再構成演算を行なって得られた再構
成断層像である。図９（ａ）では見られた放射線状偽像
26が低減している。本発明によれば断層撮影装置の計測
系自体、および再構成演算方式自体を改良することなく
検出器列の偏位および、計測のタイミング遅れに起因す
る画質低下を除去することができる。投影データの補正
方法も単純な補間演算に過ぎないため実現が容易であ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例におけるＸ線断層像撮影
装置の構成図である。

【図２】従来のＸ線断層像撮影装置の構成図である。

【図３】従来のＸ線断層像撮影装置における計測系の幾
何学的な構成を示す図である。

【図４】従来のＸ線断層像撮影装置にて理想的な計測を
行なった場合の計測点の配置を示す図である。

【図５】従来のＸ線断層像撮影装置にて理想的な計測を
行なった場合の計測点の配置と計測タイミングのずれお
よび検出器系の重力による偏位があるときの計測点の配
置を対比する図である。

【図６】本発明の第１の実施例におけるＸ線断層像撮影
装置にて理想計測点上の投影データを求めるために近傍
４点からの補間を行なう場合の計測点同士の位置関係を
説明する図である。

【図７】本発明の第１の実施例におけるＸ線断層像撮影
装置の検出器系の重力による偏位を説明するための幾何
学的な構成を示す図である。

【図８】本発明の第２の実施例におけるＸ線断層像撮影
装置にて４系統のマルチプレクサを用いてデータ転送を
行なう場合の計測点の配置を示す図である。

【図９】本発明のＸ線断層像撮影装置および方法による
再構成時の偽像低減効果を示す図である。

【符号の説明】

１…走査駆動部、２…Ｘ線源、３…ファンビーム状Ｘ
線、４…被検体、５…マルチプレクサ、６…再構成演算
部、７…操作卓、８…画像表示部、９…Ｘ線焦点、１０
…函体、１１…被検体支持台、１２…駆動部、１３…回
転中心、１４…駆動力伝達機構、１５…Ｘ線ビーム、１
６…理想的な計測における計測点、１７…検出器支持兼
衝撃吸収機構、１８…実際の計測における計測点、１９
…メモリ（計測投影データ保管）、２０…補正演算部、
２１…メモリ（補正投影データ保管）、２２…メモリ
（重みGテーブル保管）、２３…メモリ（インデックスi
0テーブル保管）、２４…メモリ（インデックスj0テー
ブル保管）、２５…Ｘ線ビーム、２６…放射線状偽像、
d0,d1,...,dj,...,d(Nb-1)…検出器

Claims (20)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 Ｘ線源および該Ｘ線源と被検体をはさん
   で対向する位置に配列された多数の検出器と、被検体を
   中心にＸ線源および検出器を回転させる走査駆動部と、
   Ｘ線を連続的に照射させ検出器列からの信号を順次読み
   出す機構と、検出器にて計測した、多方向からの投影デ
   ータをもとに被検体内部のＸ線吸収系数の分布を再構成
   する演算手段とを備えた装置のＸ線断層像撮影方法にお
   いて、順次読み出しにともなう各検出器の計測タイミン
   グの遅れを含む時間的な誤差から計算される量を予め保
   管し、該計算量を用いて、計測された投影データにおけ
   る前記タイミング遅れを含む時間的な誤差による影響を
   補正することを特徴とするＸ線断層撮影方法。
2. 【請求項２】 Ｘ線源および該Ｘ線源と被検体をはさん
   で対向する位置に配列された多数の検出器と、被検体を
   中心にＸ線源および検出器を回転させる走査駆動部と、
   Ｘ線を連続的に照射させ検出器列からの信号を順次読み
   出す機構と、検出器にて計測した、多方向からの投影デ
   ータをもとに被検体内部のＸ線吸収系数の分布を再構成
   する演算手段とを備えた装置のＸ線断層像撮影方法にお
   いて、計測中に検出器列が走査駆動部に対して偏位する
   量を含む空間的な誤差を予め計測しておき、該偏位量を
   含む空間的な誤差に基づいて計算される量を保管し、該
   計算量を用いて、計測された投影データにおける検出器
   列の偏位を含む空間的な誤差による影響を補正すること
   を特徴とするＸ線断層像撮影方法。
3. 【請求項３】 請求項１、２記載のＸ線断層像撮影方法
   において、i番目の投影においてj番目の検出器による計
   測が行なわれるときのＸ線源の位置をa(i,j)、当該検出
   器の検出器列中の位置をb(i,j)と定義し、計測開始時の
   Ｘ線源の位置をa0、回転ピッチをDa、検出器の基準とな
   る位置をb0、検出器の配列ピッチをDbとすると、 【数１】 から計算される計測時のＸ線源位置a(i,j)と検出器位置
   b(i,j)と実際のＸ線源位置a'(i,j)と検出器位置b'(i,j)
   から、計算により求まる量を保管することを特徴とする
   Ｘ線断層像撮影方法。
4. 【請求項４】 請求項２記載のＸ線断層像撮影方法にお
   いて、上記偏位量を計測か計算によって求め、該偏位量
   をもとに実際のＸ線源位置と検出器位置を計算し、計算
   した値か該値に基づいて計算される量の何れかを予め保
   管し、該値か計算量の何れかを用いて、計測された投影
   データにおける検出器列の偏位による影響を補正するこ
   とを特徴とするＸ線断層像撮影方法。
5. 【請求項５】 請求項４記載のＸ線断層像撮影方法にお
   いて、走査機構部上にて、回転接線方向に軸uを、回転
   中心-Ｘ線源方向に軸vをとり、検出器列の偏位量をＸ線
   源位置aの関数としてu(a)およびv(a)とし、Ｘ線源-検出
   器間距離をSidとすると、 【数２】 を用いて実際のＸ線源位置a'(i,j)と検出器位置b'(i,j)
   を計算し、計算した値か該値に基づいて計算される量の
   何れかを予め保管することを特徴とするＸ線断層像撮影
   方法。
6. 【請求項６】 請求項１記載のＸ線断層像撮影方法にお
   いて、順次読み出しにともなう各検出器の計測タイミン
   グの遅れの量を、計測か計算によって求め、求めたタイ
   ミング遅れ量をもとに実際のＸ線源位置と検出器位置を
   計算し、計算した値か該値に基づいて計算される量の何
   れかを予め保管し、該値か計算量の何れかを用いて、計
   測された投影データにおける前記タイミングの遅れによ
   る影響を補正することを特徴とするＸ線断層像撮影方
   法。
7. 【請求項７】 請求項６記載のＸ線断層像撮影方法にお
   いて、計測中連続的なＸ線照射を行ない、計測データを
   再構成演算手段に転送する際、マルチプレクサを介して
   データ読み出しを順次行ない、順次読み出しにともなう
   各検出器の計測タイミングの遅れの量を求める場合、Nb
   を検出器数とすると、 【数３】 を用いて実際のＸ線源位置a'(i,j)と検出器位置b'(i,j)
   を計算し、計算した値か該値に基づいて計算される量の
   何れかを予め保管することを特徴とするＸ線断層像撮影
   方法。
8. 【請求項８】 請求項１、６に記載のＸ線断層像撮影方
   法において、計測中連続的なＸ線照射を行ない、計測デ
   ータを再構成演算手段に転送する際、マルチプレクサを
   介してデータ読み出しを順次行ない、検出器列が請求項
   ５記載のu(a)およびv(a)で示されるように偏位する場
   合、 【数４】 を用いて実際のＸ線源位置a'(i,j)と検出器位置b'(i,j)
   を計算し、計算した値か該値に基づいて計算される量の
   何れかを予め保管することを特徴とするＸ線断層像撮影
   方法。
9. 【請求項９】 請求項６記載のＸ線断層像撮影方法にお
   いて、計測データを再構成演算手段に転送する際、n個
   のマルチプレクサを介して隣接するn個の検出器からの
   データを同時に読み出し、この動作をn個毎に順次繰り
   返してデータ読み出しを行なう際、Int(x)をxの整数部
   をとり出す関数とすると、 【数５】 を用いて実際のＸ線源位置a'(i,j)を計算し、計算した
   値か該値に基づいて計算される量の何れかを予め保管す
   ることを特徴とするＸ線断層像撮影方法。
10. 【請求項１０】 請求項１、２記載のＸ線断層像撮影方
    法において、実際のＸ線源位置と検出器位置を計算する
    ために必要なパラメータを計測するためのセンサを有
    し、該センサを用いての断層像撮影と並行して計測した
    パラメータを元に実際のＸ線源位置と検出器位置を計算
    し、計算した値か該値に基づいて計算される量の何れか
    を予め保管することを特徴とするＸ線断層像撮影方法。
11. 【請求項１１】 Ｘ線源および該Ｘ線源と被検体をはさ
    んで対向する位置に配列された多数の検出器と、被検体
    を中心にＸ線源および検出器を回転させる走査駆動部
    と、Ｘ線を連続的に照射させ検出器列からの信号を順次
    読み出す機構と、検出器にて計測した、多方向からの投
    影データをもとに被検体内部のＸ線吸収系数の分布を再
    構成する演算手段とを備えたＸ線断層像撮影装置におい
    て、順次読み出しにともなう各検出器の計測タイミング
    の遅れを含む時間的な誤差から計算される量を保管する
    手段と、該計算量を用い、計測された投影データにおけ
    る前記タイミング遅れを含む時間的な誤差による影響を
    補正する手段とを有することを特徴とするＸ線断層像撮
    影装置。
12. 【請求項１２】 Ｘ線源および該Ｘ線源と被検体をはさ
    んで対向する位置に配列された多数の検出器と、被検体
    を中心にＸ線源および検出器を回転させる走査駆動部
    と、Ｘ線を連続的に照射させ検出器列からの信号を順次
    読み出す機構と、検出器にて計測した、多方向からの投
    影データをもとに被検体内部のＸ線吸収系数の分布を再
    構成する演算手段とを備えたＸ線断層像撮影装置におい
    て、計測中に検出器列が走査駆動部に対して偏位する量
    を含む空間的な誤差に基づいて計算される量を保管する
    手段と、該計算量を用い、計測された投影データにおけ
    る前記検出器列の偏位を含む空間的な誤差による影響を
    補正する手段とを有することを特徴とするＸ線断層像撮
    影装置。
13. 【請求項１３】 請求項１１、１２記載のＸ線断層像撮
    影装置において、上記保管手段は、i番目の投影におい
    てj番目の検出器による計測が行なわれるときのＸ線源
    の位置をa(i,j)，当該検出器の検出器列中の位置をb(i,
    j)と定義し、計測開始時のＸ線源の位置をa0、回転ピッ
    チをDa、検出器の基準となる位置をb0、検出器の配列ピ
    ッチをDbとすると、 【数１】 から計算される計測時のＸ線源位置a(i,j)と検出器位置
    b(i,j)と実際のＸ線源位置a'(i,j)と検出器位置b'(i,j)
    から、計算により求まる量を保管する手段であることを
    特徴とするＸ線断層像撮影装置。
14. 【請求項１４】 請求項１２記載のＸ線断層像撮影装置
    において、上記保管手段は、計測か計算によって求め
    た、上記検出器列の走査駆動部に対する偏位量をもとに
    実際のＸ線源位置と検出器位置を計算した値か該値に基
    づいて計算される量の何れかを保管する手段であること
    を特徴とするＸ線断層像撮影装置。
15. 【請求項１５】 請求項１４記載のＸ線断層像撮影装置
    において、上記走査駆動部上にて、回転接線方向に軸u
    を、回転中心-Ｘ線源方向に軸vをとったとき、Ｘ線源位
    置aの関数としてu(a)およびv(a)で示されるように偏位
    する検出器列を有し、上記保管手段は、Ｘ線源-検出器
    間距離をSidとすると、 【数２】 を用いて実際のＸ線源位置a'(i,j)と検出器位置b'(i,j)
    を計算した値か該値に基づいて計算される量の何れかを
    保管する手段であることを特徴とするＸ線断層像撮影装
    置。
16. 【請求項１６】 請求項１１記載のＸ線断層像撮影装置
    において、上記保管手段は、計測か計算によって求めた
    上記計測タイミング遅れ量をもとに実際のＸ線源位置と
    検出器位置を計算した値か該値に基づいて計算される量
    の何れかを保管する手段であることを特徴とするＸ線断
    層像撮影装置。
17. 【請求項１７】 請求項１６記載のＸ線断層像撮影装置
    において、計測中連続的なＸ線照射を行ない、計測デー
    タを再構成演算手段に順次転送するマルチプレクサを有
    し、上記保管手段は、NbをＸ線検出器数とすると、 【数３】 を用いて実際のＸ線源位置a'(i,j)と検出器位置b'(i,j)
    を計算した値か該値に基づいて計算される量の何れかを
    保管する手段であることを特徴とするＸ線断層像撮影装
    置。
18. 【請求項１８】 請求項１１、１６記載のＸ線断層像撮
    影装置において、請求項１５記載のu(a)およびv(a)で示
    されるように偏位する検出器列と、計測データを再構成
    演算手段に順次転送するマルチプレクサと、 【数４】 を用いて実際のＸ線源位置a'(i,j)と検出器位置b'(i,j)
    を計算した値か該値に基づいて計算される量の何れかを
    保管する手段とを有することを特徴とするＸ線断層像撮
    影装置。
19. 【請求項１９】 請求項１６記載のＸ線断層像撮影装置
    において、計測データを再構成演算手段に転送する際、
    隣接するn個の検出器からのデータを同時に読み出し、
    この動作をn個毎に順次繰り返してデータ読み出しを行
    なう構成のn個のマルチプレクサを有し、上記保管手段
    は、Int(x)をxの整数部をとり出す関数とすると、 【数５】 を用いて実際のＸ線源位置a'(i,j)を計算した値か該値
    に基づいて計算される量の何れかを保管する手段である
    ことを特徴とするＸ線断層像撮影装置。
20. 【請求項２０】 請求項１１、１２記載のＸ線断層像撮
    影装置において、実際のＸ線源位置と検出器位置を計算
    するために必要なパラメータを計測するためのセンサを
    有し、上記保管手段は、該センサを用いての断層像撮影
    と並行して計測したパラメータを元に実際のＸ線源位置
    と検出器位置を計算した値か該値に基づいて計算される
    量の何れかを保管する手段であることを特徴とするＸ線
    断層像撮影装置。