JPH08236594A - 半導体装置の検査装置 - Google Patents

半導体装置の検査装置

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JPH08236594A
JPH08236594A JP6469095A JP6469095A JPH08236594A JP H08236594 A JPH08236594 A JP H08236594A JP 6469095 A JP6469095 A JP 6469095A JP 6469095 A JP6469095 A JP 6469095A JP H08236594 A JPH08236594 A JP H08236594A
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JP
Japan
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station
pellet
inspection
pellets
semiconductor device
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Application number
JP6469095A
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English (en)
Inventor
Norihiro Yazaki
憲弘 矢崎
Takeshi Ogura
剛 小倉
孝夫 ▲うるし▼山
Takao Urushiyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高い位置決め精度で半導体装置個々に検査す
る。 【構成】 半導体レーザダイオード(LD)検査装置に
おいて、ローディングステーション11、アンローディ
ングステーション30、検査ステーション40とは別に
LDペレット4の外形を視覚するペレット外形視覚ステ
ーション60を設け、このステーション60で視覚され
たペレット外形に基づき検査ステーション40でペレッ
ト4の位置決め保持を実行する。検査ステーション40
にてキャピラリーに挿通したワイヤ57、59を電極パ
ッド4aに接触させてペレット4に給電して発光させ、
発光特性を検査する。 【効果】 検査ステーションにてペレットを正確に位置
決め保持できるため、発光特性検査を精度良く実行でき
る。ペレット1個ずつの検査のため、検査後の分割作業
時の不良品発生を未然に回避でき、検査の信頼性を向上
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の検査技
術、特に、検査ステーションにおける被検査物の位置決
め精度を高める技術に関し、例えば、半導体レーザダイ
オード(以下、LDという。)の製造工程において、発
光素子の発光特性を検査するのに利用して有効な技術に
関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、LDの製造工程においては、L
Dから発光する光の三次元空間での出射輝度分布(Fa
r−Field Pattern)および発光スペクト
ルについての特性(以下、発光特性ということがあ
る。)の検査が実施されている。通例、この発光特性の
検査作業はLDの発光素子(以下、ペレットという。)
に対して実施される。
【0003】従来のこの種のLD検査装置として、精度
良く製作されたトレーに個々に分割したペレットを予め
整列させておき、このトレーからペレットを1個ずつ順
次ピックアップして検査ステーションに移載し、検査ス
テーションにおいて特性検査を実行して良品不良品を選
別した後に、良品および不良品に仕訳けしてトレーに移
し換えるように構成されているものがある。
【0004】また、別のLD検査装置として、複数個の
ペレットを一列に連結したバー状の被検査物をウエハか
ら切出し、このバー状の被検査物を検査ステーションに
移載し、複数個のペレットについて特性検査を実行して
良品不良品を選別するとともに、良品不良品にマークを
付するように構成されているものがある。
【0005】なお、光半導体装置の検査技術を述べてあ
る例としては、株式会社工業調査会1988年5月1日
発行「100例にみる半導体評価技術」P146〜14
8がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、個々の
ペレットを1ずつピックアップして検査するLD検査装
置においては、精度良く製作されたトレーにペレットが
整列されることによって検査ステーションにおける位置
決め精度が確保されないため、検査ステーションにおけ
るペレットの位置や姿勢の精度が低く、その結果、レー
ザの出射方向に誤差が発生したり、ペレットの電極パッ
ドに対する給電端子の接続不良が発生するという問題点
があることが本発明者によって明らかにされた。
【0007】他方、複数個のペレットを一列に連結した
バー状の被検査物について検査を実施するLD検査装置
においては、検査後に個々のペレットに分割されること
になるため、分割作業時に発生する不良品についての選
別検査は実施されないことになるという問題点がある。
【0008】本発明の目的は、高い位置決め精度をもっ
て個々の半導体装置についての検査を実行することがで
きる検査技術を提供することにある。
【0009】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0011】すなわち、検査すべき半導体装置を払い出
すローディングステーション、検査済の半導体装置を収
納するアンローディングステーション、半導体装置を位
置決め保持した状態で半導体装置の特性を検査する検査
ステーションとは別の位置に、半導体装置の外形を視覚
する外形視覚ステーションが設定されており、このステ
ーションにて視覚された外形に基づいて検査ステーショ
ンにおける半導体装置の位置決めが正確に実行されるこ
とを特徴とする。
【0012】
【作用】前記した手段において、ローディングステーシ
ョンのこれから検査される半導体装置は移送装置に保持
されて外形視覚ステーションに移送される。外形視覚ス
テーションにおいて半導体装置はその外形を視覚され
る。移送装置は外形を視覚された半導体装置を保持して
検査ステーションに移送する。検査ステーションに位置
決め保持されるに際して、半導体装置は視覚された外形
に基づいて位置および姿勢を修正されて正確に位置決め
保持される。検査が終了した後に、検査済の半導体装置
は移送装置に保持されてアンローディングステーション
に移送されて、指定の位置に収納される。
【0013】このようにして、前記した手段によれば、
外形視覚ステーションにおいて視覚された外形に基づい
て半導体装置の検査ステーションにおける位置決め保持
が正確に実行されるため、正確な検査を確保することが
できる。
【0014】
【実施例】図1は本発明の一実施例であるLD検査装置
を示す模式的な斜視図である。図2はその一部切断正面
断面図である。図3はそのローディングステーションを
示す拡大部分断面図である。図4の(a)はその外形視
覚ステーションを示す拡大部分断面図、(b)は画像を
示す模式図である。図5は検査ステーションを示してお
り、(a)はハンドリングステーションの拡大部分断面
図、(b)は出射輝度分布検査ステーションの拡大部分
断面図、(c)は発光スペクトル検査ステーションの拡
大部分断面図である。図6はLDを示しており、(a)
は一部切断斜視図、(b)はペレットおよびサブチップ
を示す分解斜視図である。
【0015】本実施例において、本発明に係る半導体装
置の検査装置は、半導体レーザダイオード(LD)の製
造において、発光素子であるペレットの発光特性を検査
するLD検査装置として構成されている。
【0016】なお、LDは図6に示されているように構
成されている。すなわち、LDは3極の端子を有するス
テム1を備えており、ステム1の一主面には直方体形状
のマウント2がボンディングされている。マウント2の
一主面にはサブチップ3がボンディングされており、サ
ブチップ3のマウント側と反対の主面には発光素子であ
るペレット4がボンディングされている。ペレット4の
電極パッド4aと第1端子との間には両者間を電気的に
接続する第1のボンディングワイヤ5が橋絡されてい
る。ステム1におけるペレット4の後方位置にはペレッ
ト4からの発光を反射するための反射鏡6がボンディン
グされており、反射鏡6と第2端子との間には両者間を
電気的に接続する第2のボンディングワイヤ7が橋絡さ
れている。ステム1には気密封止用のキャップ8が被せ
付けられており、キャップ8には光を通すための窓9が
嵌め込まれている。そして、ワイヤ5、7によってペレ
ット4に電圧が印加されると、ペレット4の一対の側面
からレーザが励起されて反射鏡6を介して窓9から出射
されるようになっている。
【0017】このLD検査装置10は、検査すべきペレ
ット4を払い出すローディングステーションと、検査済
のペレット4を収納するアンローディングステーション
と、ペレット4を位置決め保持した状態でペレット4の
特性を検査する検査ステーションと、ペレット4を保持
して各ステーション間を移送する移送装置と、各ステー
ションとは別の位置に設備されてペレット4の外形を視
覚する外形視覚ステーションとを備えており、外形視覚
ステーションにおいて視覚されたペレット4の外形に基
づいて検査ステーションにおけるペレット4の正確な位
置決めが確保されるように構成されている。
【0018】本実施例において、ローディングステーシ
ョン11はペレット群粘着シートからペレット4を1個
ずつピックアップして払い出すように構成されている。
このペレット群粘着シート12は次のようにして製造さ
れて構成されている。すなわち、LDの製造工程におけ
る所謂前工程において、発光素子であるペレット4はウ
エハに縦横の碁盤の目のように作り込まれる。ウエハ
(図示せず)の裏面には粘着シート13が粘着される。
粘着シート13は樹脂等の伸縮性を有する材料が用いら
れてウエハよりも大径の薄膜形状に形成されているシー
ト基材14の片側主面に適当な粘着剤15が塗布されて
形成されており、粘着剤15によってウエハの裏面に粘
着される。
【0019】続いて、分割工程において、ウエハは各ペ
レット4に分断される。このとき、ウエハの裏面に貼着
されている粘着シート13は切断されないため、ペレッ
ト4群はばらばらにならずに一群にまとまった状態にな
っている。次いで、治具装着工程において、ステンレス
鋼等からなる円形の保持リング16内に対向するように
して粘着シート13が配された後、径方向外向きに粘着
シート13が引き伸ばされてその外周辺部が保持リング
16に固定される。このとき、粘着シート13の伸びに
伴って隣合うペレット4、4間が離れることになる。
【0020】ローディングステーション11はペレット
群粘着シート12を保持するためのテーブル17を備え
ており、テーブル17はXYZ方向に移動し得るように
構成されている。このテーブル17の上面にはペレット
群粘着シート12を真空吸着保持するための吸着溝18
が複数条、後記するニードル孔の周りに同心円状に形成
されており、各吸着溝18には真空導入孔19がそれぞ
れ流体的に接続されている。真空導入孔19には真空ポ
ンプ等の負圧供給装置(図示せず)が配管を介して接続
されている。したがって、テーブル17の上面はペレッ
ト群粘着シート12を真空吸着保持する吸着面20を構
成している。
【0021】テーブル17の中央部にはニードル孔21
が上下方向に貫通するように形成されており、このニー
ドル孔21にはニードル22が上下動自在に挿通されて
いる。ニードル22は駆動装置(図示せず)によって上
下動されるようになっており、その下限位置ではニード
ル孔21内に格納されているが、その上限位置において
は、テーブル17の上面である吸着面20から上方に突
出するようになっている。なお、詳細な説明および図示
は省略するが、テーブル17にはペレット群粘着シート
12の保持リング16を真空吸着保持するための吸着面
が、粘着シート13を真空吸着保持するための吸着面2
0と同様に構成されている。
【0022】ローディングステーション11のニードル
孔21の真上にはローディングステーション用の視覚装
置(以下、第1視覚装置という。)23が設備されてお
り、この第1視覚装置23はテーブル17上においてニ
ードル22によってピックアップされるペレット4を視
覚するように構成されている。詳細な説明および図示は
省略するが、第1視覚装置23は撮像装置としての工業
用テレビ・カメラと、このカメラに装着されている鏡筒
と、鏡筒の先端部に装着されている照明装置と、テレビ
カメラに接続されてその撮像信号に基づいて被撮像物の
外形を認識する認識装置としての画像信号処理装置(図
示せず)とを備えており、テーブル17から独立したス
タンドによってテレビカメラが垂直方向下向きになるよ
うに吊持された状態になっている。そして、ピックアッ
プされるべきペレット4の位置が認識されると、その認
識結果は移送装置のコントローラに送信されるように構
成されており、このコントローラの指令によって移送装
置はピックアップすべきペレット4の真上にコレットを
移動させるようになっている。
【0023】本実施例において、アンローディングステ
ーション30はトレー31に検査済のペレット4を1個
ずつ収納するように構成されている。このトレー31は
長方形の平盤形状に形成された本体32を備えており、
本体32の上面にはペレット4を1個ずつ収納する収納
穴33が多数個、縦横に碁盤の目のように整列されて没
設されている。そして、アンローディングステーション
30はトレー31を保持するテーブル34を備えてお
り、テーブル34はXY方向に移動し得るように構成さ
れている。テーブル34には良品ステージ35と不良品
ステージ36とが設定されており、両ステージ35、3
6には空のトレー31がそれぞれ載置状態に保持される
ようになっている。
【0024】アンローディングステーション30の所定
位置の真上にはアンローディングステーション用の視覚
装置(以下、第2視覚装置という。)37が設備されて
おり、この第2視覚装置37はテーブル34の上におい
て移送装置のコレットによってペレット4がプットダウ
ンされる収納穴33を視覚するように構成されている。
この第2視覚装置も第1視覚装置と同様に構成されてお
り、プットダウンされるべき収納穴33の位置が認識さ
れると、その認識結果は移送装置のコントローラに送信
されるように構成されている。このコントローラの指令
によって移送装置はプットダウンすべき収納穴33の真
上にコレットを移動させるようになっている。
【0025】本実施例において、検査ステーション40
はペレット4を1個ずつ位置決め保持した状態で、出射
輝度分布検査および発光スペクトル検査を実行するよう
に構成されている。この検査ステーション40はローデ
ィングステーション11とアンローディングステーショ
ン30との間のローディングステーション11寄りの適
当な場所に設定されており、Yテーブル41を備えてい
る。Yテーブル41はローディングステーション11と
アンローディングステーション30とを結ぶ直線に直交
する水平方向(以下、Y方向とする。)に敷設されてお
り、その両端位置と中間位置とによってハンドリングス
テーション42、出射輝度分布検査ステーション43、
発光スペクトル検査ステーション44がそれぞれ設定さ
れている。Yテーブル41の上にはXテーブル45がY
テーブル41によってY方向に送られるように支持され
ており、Xテーブル45はYテーブル41に設定された
各ステーション42、43、44に停止されるようにな
っている。
【0026】Xテーブル45はY方向と直交する水平方
向(すなわち、ローディングステーション11とアンロ
ーディングステーション30とを結ぶ直線の水平方向。
以下、X方向とする。)に敷設されている。Xテーブル
45の上には移動台46がXテーブル45によってX方
向に送られるように支持されている。つまり、移動台4
6はXテーブル45およびYテーブル41によってXY
方向に移動されるようになっている。
【0027】移動台46の上にはペレット保持テーブル
47が垂直に立脚されて支持されている。このテーブル
47の上面にはペレット4を真空吸着保持するための吸
着口48が略中央部に開設されており、この吸着口48
には真空導入孔49が流体的に接続されている。真空導
入孔49には真空ポンプ等の負圧供給装置(図示せず)
が配管を介して接続されている。したがって、テーブル
47の上面はペレット4を真空吸着保持する吸着面50
を構成している。
【0028】一方、Yテーブル41の始端側に設定され
たハンドリングステーション42は移送装置のコレット
の通過路に直交するように設定されている。このハンド
リングステーション42におけるペレット保持テーブル
47の真上には検査ステーション用の視覚装置(以下、
第3視覚装置という。)51が設備されており、この第
3視覚装置51はテーブル47上において移送装置によ
ってピックアップされるペレット4を視覚するように構
成されている。この第3視覚装置51も第1視覚装置と
同様に構成されており、ピックアップされるべきペレッ
ト4の位置が認識されると、その認識結果は移送装置の
コントローラに送信されるように構成されている。この
コントローラの指令によって移送装置はハンドリングス
テーション42におけるピックアップすべきペレット4
の真上にコレットを移動させるようになっている。
【0029】Yテーブル41の中間部に設定された出射
輝度分布検査ステーション43には出射輝度分布検査装
置52が、保持テーブル47に保持されたペレット4に
対向するように設備されている。また、Yテーブル41
の終端側に設定された発光スペクトル検査ステーション
44には発光スペクトル検査装置53が、ペレット4に
対向するように設備されている。
【0030】さらに、保持テーブル47と出射輝度分布
検査ステーション43および発光スペクトル検査ステー
ション44との間には、ペレット4の上下で一対の電極
パッド4aおよび4bに電気的に接続する一対の給電端
子を有する接続装置54が設備されている。接続装置5
4の一方の端子は、保持テーブル47の上面にペレット
4の下面側の電極パッド4bに接触し得るように形成さ
れたコンタクト55によって構成されている。他方の端
子は出射輝度分布検査ステーション43および発光スペ
クトル検査ステーション44にそれぞれ昇降自在に吊持
されたキャピラリー56、58のワイヤ57、59によ
ってそれぞれ構成されている。すなわち、両ワイヤ5
7、59の後端は接続装置54の電力供給装置(図示せ
ず)に接続されており、キャピラリー56、58の先端
から突き出されてボールをそれぞれ形成されている。そ
して、キャピラリー56、58によってワイヤ57、5
9のボールがペレット4の上面側電極パッド4aにそれ
ぞれ押接されることにより、ペレット4に電気的に接続
されるようになっている。
【0031】本実施例において、ローディングステーシ
ョン11とアンローディングステーション30との間の
アンローディングステーション30寄りの適当な場所に
は、ペレット外形視覚ステーション60が設定されてお
り、このステーション60にはペレット外形視覚装置
(以下、第4視覚装置という。)61が上向きに設備さ
れている。この第4視覚装置61は移送装置のコレット
に保持されたペレット4を下方から視覚するように構成
されており、視覚したペレット4の外形情報を移送装置
のコントローラに送信するようになっている。
【0032】すなわち、第4視覚装置61は、撮像装置
としての工業用テレビカメラ62と、鏡筒63と、背後
照明装置64と、テレビカメラ62に接続されてその撮
像信号に基づいて被撮像物の外形を認識する認識装置と
しての画像信号処理装置(図示せず)とを備えている。
画像信号処理装置は移送装置のコントローラにペレット
の外形情報を送信するように接続されている。背後照明
装置64は暗箱65を備えており、暗箱65は下端が開
口した円筒形状に形成されて、鏡筒63の先端部に同心
的に配されて嵌入されている。暗箱65の上端の閉塞壁
にはペレット挿入口66が同心的に開設されており、挿
入口66はペレット4よりも若干大き目に形成されてい
る。暗箱65の外周にはリング照明器67がペレット挿
入口66の真上領域を径方向内向きに照明するように嵌
装されている。リング照明器67は多数本の光ファイバ
68がリングの中心の法線に沿う放射状に配線されて、
リング形状に束ねられており、その下端部において、暗
箱65の上端部外周に嵌合されて固定されている。この
光ファイバ68群は他端において光源(図示せず)に対
向されることにより、光源の光をリングの内周面からリ
ング中心に向かって照射させるようになっている。
【0033】そして、リング照明器67はこのリング照
明器67の中心にコレットが挿入された際に、コレット
の先端部に形成された円錐面によって実質的に形成され
た円錐反射面へ光ファイバ68群から照明光69を照射
する状態になる。このコレットの円錐反射面に照射され
た照明光69は、円錐反射面においてコレットの軸心方
向下向きに全反射されることになる。したがって、コレ
ットの先端にペレット4が保持されている場合には、照
明光69はペレット4をそのテレビカメラ62と反対側
(背後)方向からテレビカメラ62に向かって照射する
状態になる。
【0034】本実施例において、ペレットを移送する移
送装置80は、ペレット4を真空吸着保持するコレット
81と、コレット81を支持して水平面内で垂直方向に
延在する中心線を中心に回転させるθロボット82と、
θロボット82を支持してコレット81を昇降させるZ
ロボット83と、Zロボット83を支持してコレット8
1をX方向に搬送するXロボット84と、これらのロボ
ットを制御するコントローラ85とを備えている。コン
トローラ85はコンピュータ等から構築されており、後
述する各種の作業を実行するように構成されている。X
ロボット84は送りねじ装置またはリニアモータやシリ
ンダ装置等が使用されて構成されており、ローディング
ステーション11とアンローディングステーション30
とを結ぶ仮想の走行線路に沿ってコレット81を搬送す
るように敷設されている。Zロボット83は送りねじ装
置やアーム機構等が組み合わされて構成されており、ペ
レット4のピックアップ時やプットダウン時にコレット
81を昇降させるようになっている。θロボット82は
回転軸やサーボモータおよび回転伝達機構等が組み合わ
されて構成されており、コレット81を回転させること
によりペレット4の水平面内における向き(姿勢)を修
正するようになっている。コレット81はθロボット8
2の回転軸に垂直方向下向きに支持されており、負圧供
給チューブ(図示せず)等を接続されて負圧を供給され
ることにより、ペレット4を上から真空吸着保持し得る
ように構成されている。
【0035】次に、前記構成に係るLD検査装置による
LDペレットの発光特性の検査方法を説明する。
【0036】ローディングステーション11において、
ペレット群粘着シート12がテーブル17の吸着面20
に適正にアライメイントされて配置されると、負圧供給
装置が作動されて、真空導入孔19および吸着溝18を
介して粘着シート13の裏面が吸着面20に真空吸着さ
れる。ペレット群粘着シート12が吸着保持されると、
上方に配置されている第1視覚装置23がニードル22
によってピックアップされるべきペレット4を撮映す
る。この視覚装置23はペレット4に不良品のマークが
付されているか否か、あるいは、欠けがあるか否かを認
識する。そして、不良品の場合は次のピックアップすべ
きペレット4がニードル22の上方位置に対向配置さ
れ、次のペレット4が第1視覚装置23によって撮映さ
れる。
【0037】ペレット4が良品であると、ペレット4の
外形からペレット4の位置が第1視覚装置23によって
認識され、その認識結果はペレット移送装置80のコン
トローラ85に送信され、コントローラ85の指令によ
ってコレット81がXロボット84により、ローディン
グステーション11においてピックアップされるべきペ
レット4の真上位置へ移動して配置される。
【0038】続いて、ニードル22が上昇されると、粘
着シート13はテーブル17の吸着面20に吸着保持さ
れているため、シート基材14のニードル22により突
かれた部分のみがニードル22により突き破られる。シ
ート基材14がニードル22により突き破られると、シ
ート基材14の表面に粘着剤15によって粘着されてい
るペレット4のみが、ニードル22によりシート基材1
4から剥離されて持ち上げられる。このとき、ニードル
22により突かれた位置のシート基材14の周囲の部分
は、テーブル17によって吸着保持されているため、連
れ上がりすることはない。
【0039】このようにしてニードル22により突き上
げられたペレット4は、その真上に待機されているコレ
ット81に吸着保持されるとともに、ニードル22の下
降作動に伴って、コレット81に受け渡される。ペレッ
ト4を受け渡されたコレット81はZロボット83によ
って上昇されるとともに、Xロボット84によってペレ
ット外形視覚ステーション60に移送される。
【0040】ペレット外形視覚ステーション60におい
て、コレット81に吸着保持されたペレット4は第4視
覚装置61における挿入口66から暗箱65内に挿入さ
れる。ペレット4が暗箱65に挿入されると、コレット
81の円錐反射面81aにはリング照明器67の照明光
69が照射し、このコレット円錐反射面81aに照射し
た照明光69は円錐反射面81aにおいて垂直方向下向
きに全反射される状態になる。この状態において、ペレ
ット4はコレット81の円錐反射面81aよりも下方位
置で吸着されているため、垂直方向下向きの照明光69
はペレット4を挟んだ状態で、第4視覚装置61のテレ
ビカメラ62に鏡筒を介して光学的に対向した状態にな
る。つまり、垂直方向下向きの照明光69はテレビカメ
ラ62との関係において、ペレット4を背後から照明す
る状態になる。
【0041】このようにしてペレット4が背後から照明
された場合、テレビカメラ62によって撮影されて、画
像信号処理装置によって二値化処理された画像71は、
図4(b)に示されている状態になる。すなわち、ペレ
ット4の領域は、照明光69が透過しないので、黒色に
なる。逆に、背景に相当するペレット4の外方領域は、
照明光69が透過するので、白色になる。黒色領域72
と白色領域73との境界74がペレット4の外形線に相
当するため、ペレット4の外形形状はその境界74によ
って認識することができる。したがって、背後照明によ
ってペレット4の外形形状が認識される場合、ペレット
4のテレビカメラ62との対向面75は、黒色領域72
の状態になってしまうため、ペレット4のテレビカメラ
62との対向面75の表面状態は、外形形状の認識処理
において何ら影響しない。換言すれば、ペレット4のテ
レビカメラ62との対向面75に圧痕や傷等が形成され
ていた場合であっても、ペレット4の外形形状について
の認識は誤りや認識不能を発生することなく、正確かつ
安定して、しかも、高い精度をもって実行されることに
なる。
【0042】以上のようにして、ペレット4の外形形状
が認識されると、その外形形状に基づいてペレット4の
基準位置に対する相対的位置関係は、ペレット移送装置
80のコントローラ85において簡単かつ正確に求める
ことができる。すなわち、コントローラ85において、
このペレット4の外形形状による基準位置と、第1視覚
装置23に基づいて認識されたペレット4の基準位置と
が照合される。この照合に基づいて、コレット81に保
持されたペレット4の基準位置に対するXYθ方向の誤
差(位置ずれおよび傾き)が修正される。修正作業はペ
レット移送装置80のコントローラ85の指令に基づい
て、ペレット移送装置80におけるXロボット84およ
びθロボット82並びに検査ステーション40における
Yテーブル41およびXテーブル45によって実行され
る。
【0043】続いて、コレット81に保持されたペレッ
ト4はXロボット84によって検査ステーション40に
おけるハンドリングステーション42に移送され、Zロ
ボット83およびコレット81によってペレット保持テ
ーブル47の上に受け渡される。すなわち、Zロボット
83によってペレット4がテーブル47の上面に当接さ
れると、コレット81の真空吸着保持が解除されるとと
もに、テーブル47の吸着口48に負圧が供給されるこ
とにより、ペレット4はコレット81からテーブル47
に受け渡される。ペレット4がコレット81からテーブ
ル47に受け渡されるに際して、ペレット4の基準位置
に対する位置ずれおよび傾きは前述した通りにペレット
4の外形に基づいて予め修正されているため、ペレット
4はテーブル47に予め指定された位置決め状態で保持
されることになる。この状態で、ペレット4の下面側電
極4bにはテーブル47のコンタクト55が接触された
状態になる。
【0044】ペレット4がテーブル47に保持される
と、テーブル47はYテーブル41によって出射輝度分
布検査ステーション43に移動される。この検査ステー
ション43において、キャピラリー56が下降されてワ
イヤ57の先端のボールがテーブル47に保持されたペ
レット4の上面側電極パッド4aに接触される。この
際、ペレット4がテーブル47に正確に位置決め保持さ
れているため、ワイヤ57の先端はペレット4の上面側
電極パッド4aに確実に接触される。
【0045】続いて、接続装置54によって電圧がペレ
ット4にコンタクト55、電極パッド4a、4bおよび
ワイヤ57を介して印加される。この通電により、ペレ
ット4からレーザが発光される。発光されたレーザは出
射輝度分布検査装置52によって出射輝度分布を測定さ
れて良否を判定される。この際、ペレット4がテーブル
47に正確に位置決め保持されているため、ペレットか
ら発光されたレーザは出射輝度分布検査装置52に正確
に照射され、出射輝度分布の測定および良否判定が正確
に実行されることになる。
【0046】出射輝度分布が「良」と判定されると、テ
ーブル47はYテーブル41によって発光スペクトル検
査ステーション44に移動される。この発光スペクトル
検査ステーション44においてもペレット4とテーブル
47との位置決めが正確に確保されているため、キャピ
ラリー58が下降されると、ワイヤ59のボールが正確
に接触される。そして、出射輝度分布検査ステーション
43と同様にペレット4に接続装置54によりペレット
4に電圧が印加されると、ペレット4からレーザが発光
される。発光されたレーザは発光スペクトル検査装置5
3によって発光スペクトルを測定されて良否を判定され
る。この際、ペレット4がテーブル47に正確に位置決
め保持されているため、ペレットから発光されたレーザ
は発光スペクトル検査装置53に正確に照射され、発光
スペクトルの測定および良否判定が正確に実行されるこ
とになる。
【0047】所定の検査が終了すると、テーブル47は
ハンドリングステーション42にYテーブル41によっ
て戻される。ハンドリングステーション42の上方に配
置されている第3視覚装置51は、これからアンローデ
ィングすべきペレット4としてテーブル47上の検査済
ペレット4を撮映する。この第3視覚装置51はペレッ
ト4の外形からペレット4の基準位置を認識し、その認
識結果をペレット移送装置80のコントローラ85に送
信する。そして、コントローラ85はこの送信された基
準位置に基づいてテーブル47に位置決め保持されたペ
レット4の位置を判定し、所定の制御信号を各ロボット
に指令する。コントローラ85の指令によってコレット
81がXロボット84により、ハンドリングステーショ
ン42においてピックアップされるべきペレット4の真
上位置へ移動して配置される。ハンドリングステーショ
ン42に移動したコレット81はテーブル47上のペレ
ット4をZロボット83によってピックアップする。ペ
レット4をピックアップしたコレット81はアンローデ
ィングステーション30にXロボット84によって移送
する。
【0048】アンローディングステーション30におい
て、コレット81はピックアップしたペレット4が良品
である場合には良品ステージ35に保持されたトレー3
1の収納穴33にプットダウンさせ、不良品である場合
には不良品ステージ36に保持されたトレー31の収納
穴33にプットダウンさせる。この際、プットダウンさ
せるべき収納穴33は第2視覚装置37によって予め撮
像されることにより、コレット81のプットダウンすべ
き位置に適正に移動されている。そして、ペレット移送
装置80のコントローラ85は、検査ステーション40
の第3視覚装置51のペレット4の位置情報と、アンロ
ーディングステーション30の第2視覚装置37の位置
情報とを照合して相対的に修正することにより、コレッ
ト81が保持したペレット4を収納穴33内に適正にプ
ットダウンして収納させる。
【0049】以上の作動が繰り返されることにより、ロ
ーディングステーション11に供給されたペレット群粘
着シート12のペレット4について発光特性の検査が順
次実施されて行く。
【0050】前記実施例によれば次の効果が得られる。 (1) LD検査方法の実施に際して、ローディングス
テーション、アンローディングステーションおよび検査
ステーションとは別にペレットの外形を視覚するペレッ
ト外形視覚ステーションを設定し、このステーションに
よって視覚されたペレットの外形に基づいて検査ステー
ションにおけるペレットの位置決め保持を実行すること
により、ペレットを正確に位置決め保持することができ
るため、ペレットの発光特性について正確な検査を確保
することができる。
【0051】(2) ペレットを1個ずつ検査すること
により、検査後の分割作業時に発生する不良品の発生を
未然に回避することができるため、検査の信頼性を高め
ることができる。
【0052】(3) ペレットの外形形状を視覚するに
際して、ペレットを背後から照明することにより、視覚
装置の画像においてペレットにおける視覚装置側の対向
面が黒色領域になるため、ペレットの対向面に圧痕や傷
等が形成されている場合であっても、それらはペレット
の外形の認識作用の障害にはならず、ペレットの外形を
正確かつ安定して、しかも、高い精度をもって認識する
ことができる。
【0053】(4) 検査すべきペレットを払い出すロ
ーディングステーションと、検査済のペレットを収納す
るアンローディングステーションと、ペレットを位置決
め保持した状態でペレットの発光特性を検査する検査ス
テーションと、ペレットを保持して各ステーション間を
移送する移送装置と、ペレットの外形を視覚するペレッ
ト外形視覚ステーションとを設け、外形視覚ステーショ
ンにおいて視覚されたペレットの外形に基づいて検査ス
テーションにおける位置決めを修正することにより、被
検査物であるペレットを検査ステーションのテーブルに
精密に位置決めさせることができるため、LDの発光特
性についての検査作業を全自動化することができる。
【0054】(5) 検査ステーションに検査済のペレ
ットを視覚する視覚装置を設備し、この視覚装置によっ
て視覚された位置に基づいて移送装置の保持を修正させ
ることにより、ペレットをアンローディングステーショ
ンのトレーに適正に収納させることができる。
【0055】(6) 検査ステーションにおいてペレッ
トの電極パッドに電気的に接続する接続装置に、ワイヤ
が挿通されたキャピラリーを設備するとともに、ワイヤ
の先端部に形成されたボールをキャピラリーによって電
極パッドに当てがうように構成することにより、簡単な
構成および作動並びに制御をもってペレットの電極パッ
ドに接続装置を適正に接続させることができるととも
に、ペレットへの接続装置による機械的特性破壊および
給電端子のメンテナンスを簡単化することができる。
【0056】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0057】例えば、ローディングステーションはペレ
ット群粘着シートからペレットを払い出すにように構成
するに限らず、トレーからペレットをピックアップする
ように構成してもよい。
【0058】検査ステーションはペレットのテーブルと
コレットとの間のハンドリング(受け渡し作業)と、実
際の検査作業とを同一の場所で実行するように構成して
もよい。
【0059】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である半導体
レーザダイオードの検査技術に適用した場合について説
明したが、それに限定されるものではなく、発光ダイオ
ード(LED)、フォトダイオード、その他の光半導体
装置等についての半導体装置の検査技術全般に適用する
ことができる。
【0060】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0061】半導体装置の検査装置において、ローディ
ングステーション、アンローディングステーションおよ
び検査ステーションとは別に半導体装置の外形を視覚す
る外形視覚ステーションを設定し、このステーションに
よって視覚された半導体装置の外形に基づいて検査ステ
ーションにおける半導体装置の位置決め保持を実行する
ことにより、半導体装置を正確に位置決め保持すること
ができるため、半導体装置について正確な検査を確保す
ることができる。
【0062】半導体装置を1個ずつ検査することによ
り、検査後の分割作業等の検査後に発生する不良品の発
生を未然に回避することができるため、検査の信頼性を
高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるLD検査装置を示す模
式的な斜視図である。
【図2】その一部切断正面断面図である。
【図3】そのローディングステーションを示す拡大部分
断面図である。
【図4】(a)はその外形視覚ステーションを示す拡大
部分断面図、(b)はその画像を示す模式図である。
【図5】検査ステーションを示しており、(a)はハン
ドリングステーションの拡大部分断面図、(b)は出射
輝度分布検査ステーションの拡大部分断面図、(c)は
発光スペクトル検査ステーションの拡大部分断面図であ
る。
【図6】LDを示しており、(a)は一部切断斜視図、
(b)はペレットおよびサブチップを示す分解斜視図で
ある。
【符号の説明】
1…ステム、2…マウント、3…サブチップ、4…ペレ
ット(LDの発光素子)、4a、4b…電極パッド、5
…第1ボンディングワイヤ、6…反射鏡、7…第2ボン
ディングワイヤ、8…キャップ、9…窓、10…LD検
査装置(半導体装置の検査装置)、11…ローディング
ステーション、12…ペレット群粘着シート、13…粘
着シート、14…シート基材、15…粘着剤、16…保
持リング、17…ペレット群粘着シート保持テーブル、
18…吸着溝、19…真空導入孔、20…吸着面、21
…ニードル孔、22…ニードル、23…ローディングス
テーション用視覚装置(第1視覚装置)、30…アンロ
ーディングステーション、31…トレー、32…本体、
33…収納穴、34…トレーテーブル、35…良品ステ
ージ、36…不良品ステージ、37…アンローディング
ステーション用視覚装置(第2視覚装置)、40…検査
ステーション、41…Yテーブル、42…ハンドリング
ステーション、43…出射輝度分布検査ステーション、
44…発光スペクトル検査ステーション、45…Xテー
ブル、46…移動台、47…ペレット保持テーブル、4
8…吸着口、49…真空導入孔、50…吸着面、51…
検査ステーション用視覚装置(第3視覚装置)、52…
出射輝度分布検査装置、53…発光スペクトル検査装
置、54…接続装置、55…コンタクト(給電端子)、
56、58…キャピラリー、57、59…ワイヤ(給電
端子)、60…ペレット外形視覚ステーション、61…
ペレット外形視覚装置(第4視覚装置)、62…工業用
テレビカメラ、63…鏡筒、64…背後照明装置、65
…暗箱、66…ペレット挿入口、67…リング照明器、
68…光ファイバ、69…照明光、71…画像、72…
黒色領域、73…白色領域、74…境界、75…対向
面、80…ペレット移送装置、81…コレット、81a
…円錐反射面、82…θロボット、83…Zロボット、
84…Xロボット、85…コントローラ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検査すべき半導体装置を払い出すローデ
    ィングステーションと、検査済の半導体装置を収納する
    アンローディングステーションと、半導体装置を位置決
    め保持した状態で半導体装置の特性を検査する検査ステ
    ーションと、半導体装置を保持して各ステーション間を
    移送する移送装置とを備えている半導体装置の検査装置
    において、 前記各ステーションとは別の位置に半導体装置の外形を
    視覚する外形視覚ステーションが設定されており、この
    視覚ステーションによって視覚された半導体装置の外形
    に基づいて前記検査ステーションにて半導体装置が位置
    決めされることを特徴とする半導体装置の検査装置。
  2. 【請求項2】 検査ステーションに検査済の半導体装置
    を視覚する視覚装置が設備されており、この視覚装置に
    よって視覚された検査済の半導体装置の位置に基づいて
    移送装置がその検査済の半導体装置を保持して移送する
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の検査装
    置。
  3. 【請求項3】 検査ステーションに半導体装置の電極パ
    ッドに電気的に接続する接続装置が設備されており、こ
    の接続装置はワイヤが挿通されたキャピラリーを備えて
    いるとともに、ワイヤの先端部に形成されたボールがキ
    ャピラリーによって電極パッドに当てがわれるように構
    成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体
    装置の検査装置。
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