JPH08228044A - Mount structure of semiconductor laser - Google Patents

Mount structure of semiconductor laser

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Publication number
JPH08228044A
JPH08228044A JP7056485A JP5648595A JPH08228044A JP H08228044 A JPH08228044 A JP H08228044A JP 7056485 A JP7056485 A JP 7056485A JP 5648595 A JP5648595 A JP 5648595A JP H08228044 A JPH08228044 A JP H08228044A
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JP
Japan
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submount
semiconductor laser
laser chip
heat sink
solder
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Withdrawn
Application number
JP7056485A
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Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Suzuki
哲哉 鈴木
Toshiyuki Terada
敏行 寺田
Yukihisa Fujita
恭久 藤田
Satoshi Fujii
智 藤井
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors

Abstract

PURPOSE: To bring about a high efficient heat radiating effect in this mount structure of semiconductor laser. CONSTITUTION: The first flat plate type submount 6 fixed on a heat sink 11 and a semiconductor laser chip 10 mounted on the first submount 6 are contained and held by recessions formed by anisotropical etching step of the second submount 3 and then the first and second submounts 6 and 3 are mutually fixed together by fusion welding step. Through these procedures, the operational heat can be radiated from both surfaces of this semiconductor laser chip 10 simultaneously eliminating the heat sink to be provided on both sides of this semiconductor chip 10 as well as suppressing the thickness to the utmost thereby enabling the compactness of the semiconductor element to be enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザのマウン
ト構造に関し、特に、半導体レーザの動作中の熱を発散
させるための半導体レーザのマウント構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser mounting structure, and more particularly to a semiconductor laser mounting structure for dissipating heat during operation of the semiconductor laser.

【0002】[0002]

【従来の技術】ブロック状の半導体レーザチップの互い
に相反する両面に電圧を印加して、その側面からレーザ
光を取り出すようにした半導体レーザにおいては、半導
体レーザチップの動作中の熱を発散させるためにヒート
シンクを用いている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor laser in which voltages are applied to opposite sides of a block-shaped semiconductor laser chip to extract laser light from the side surfaces thereof, heat is dissipated during operation of the semiconductor laser chip. It uses a heat sink.

【0003】従来、例えば特開昭60−81884号公
報に開示されているものでは、半導体レーザチップの1
面をサブマウントを介してヒートシンク(放熱体)に接
合し、相反する他の1面にはボンディング線を接続し
て、両面に電圧を印加していた。この構造によれば、サ
ブマウントに接している面からの放熱効果は高いが、相
反する面の放熱効果が低いという問題がある。
Conventionally, for example, in one disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 60-81884, a semiconductor laser chip 1 is used.
The surface was joined to a heat sink (heat radiator) via a submount, and a bonding wire was connected to the other opposite surface to apply a voltage to both surfaces. According to this structure, the heat dissipation effect from the surface in contact with the submount is high, but the heat dissipation effect on the opposite surface is low.

【0004】また特開平1−181490号公報には、
半導体レーザチップの互いに相反する両面にそれぞれサ
ブマウントを接合している。この構造によれば、半導体
レーザチップの両面から放熱させることができるが、各
サブマウントにそれぞれヒートシンクを積層しており、
半導体レーザチップの両側にそれぞれ厚くなり、装置が
大型化するという問題があるばかりでなく、各サブマウ
ント毎にリードを接続しており、構造が複雑化するとい
う問題がある。
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 1-181490 discloses that
Submounts are bonded to opposite sides of the semiconductor laser chip, respectively. According to this structure, heat can be radiated from both sides of the semiconductor laser chip, but heat sinks are laminated on each submount,
Not only is there a problem that the semiconductor laser chip becomes thicker on both sides to make the device larger, but also leads are connected to each submount, which complicates the structure.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このような従来技術の
問題点に鑑み、本発明の主な目的は、簡単な構造で高効
率な放熱効果を得られる半導体レーザのマウント構造を
提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems of the prior art, a main object of the present invention is to provide a mount structure for a semiconductor laser which can obtain a highly efficient heat dissipation effect with a simple structure. is there.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このような目的は、本発
明によれば、ヒートシンクに固着される平板状の第1の
サブマウントと、前記第1のサブマウント上に載置され
る半導体レーザチップを受容し得る凹部を形成された第
2のサブマウントとを有し、前記半導体レーザチップを
前記第1のサブマウントと前記第2のサブマウントの前
記凹部の底面との間に挟持するように前記第1のサブマ
ウント上に前記第2のサブマウントを固着したことを特
徴とする半導体レーザのマウント構造を提供することに
より達成される。
According to the present invention, a flat plate-shaped first submount fixed to a heat sink and a semiconductor laser mounted on the first submount are provided. A second submount formed with a recess capable of receiving a chip, and sandwiching the semiconductor laser chip between the first submount and the bottom surface of the recess of the second submount. It is achieved by providing a mounting structure for a semiconductor laser, characterized in that the second submount is fixed on the first submount.

【0007】[0007]

【作用】このようにすれば、半導体レーザチップを第1
及び第2のサブマウントにより挟持する構造のため、動
作熱を発半導体レーザチップの両面から放散させること
ができると共に、半導体レーザチップを第2のサブマウ
ントの凹部により受容するようにして第2のサブマウン
トを第1のサブマウント上に固着したことから、第2の
サブマウントに伝わった熱を第1のサブマウントを介し
てヒートシンクに伝えて放散することができる。
By doing so, the semiconductor laser chip is
Since the structure is sandwiched by the second submount, the operating heat can be dissipated from both sides of the semiconductor laser chip, and the semiconductor laser chip can be received by the recess of the second submount. Since the submount is fixed onto the first submount, the heat transferred to the second submount can be transferred to the heat sink via the first submount and can be dissipated.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明の好適実施例を添付の図面につ
いて詳しく説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings.

【0009】図1〜図4に、本発明が適用された半導体
レーザ用マウント構造の第1の実施例の作成プロセスを
示す。まず、図1(a)に示されるように、結晶構造
(100)の平板状のSi材1の図における上面に化学
的エッチング用の複数のマスク2を間隔をあけてパター
ニングにより形成する。図1(a)のSi材1に対して
異方性エッチングを行うと、図1(b)に示されるよう
に逆台形断面形状の凹部1a及び相伴って凸部1bが形
成される。そしてマスク2を除去することにより、第2
のサブマウント3が図1(c)に示されるように形成さ
れる。
1 to 4 show a manufacturing process of a first embodiment of a semiconductor laser mount structure to which the present invention is applied. First, as shown in FIG. 1A, a plurality of masks 2 for chemical etching are formed at intervals on the upper surface of a flat Si material 1 having a crystal structure (100) in the figure by patterning. When anisotropic etching is performed on the Si material 1 of FIG. 1A, a concave portion 1a having an inverted trapezoidal cross-sectional shape and a convex portion 1b are formed as shown in FIG. 1B. Then, by removing the mask 2, the second
The submount 3 is formed as shown in FIG.

【0010】そして図2(a)に示されるように、第2
のサブマウント3の凹部1a及び凸部1bの表面に、全
面を覆うように金属電極4を形成する。その金属電極4
の凹部1aに対応する底面と、凸部1bの突出端面に対
応する上面とに、それぞれはんだ5を図2(b)に示さ
れるように層状に形成する。このようにして、第2のサ
ブマウント3が、その部分斜視図を示す図2(c)に示
されるように形成される。
Then, as shown in FIG.
The metal electrode 4 is formed on the surfaces of the concave portion 1a and the convex portion 1b of the submount 3 so as to cover the entire surface. The metal electrode 4
Solder 5 is formed in layers on the bottom surface corresponding to the concave portion 1a and the top surface corresponding to the protruding end surface of the convex portion 1b, as shown in FIG. 2B. In this way, the second submount 3 is formed as shown in FIG. 2C showing a partial perspective view thereof.

【0011】次に絶縁体からなる第1のサブマウント6
の構造を示す。この第1のサブマウント6は、上記図2
(c)に示される第2のサブマウント3に対応する部分
を示す図3(a)に示されるように、絶縁性板状体の一
方の表面に帯状の各金属電極7a・7b・7cを所定の
間隔をあけて形成されて、各金属電極7a・7b・7c
の長手方向各一端部の上面にそれぞれ各ボンディング用
パッド8a・8b・8cを形成されていると共に、中間
の金属電極7bの長手方向他端部の上面にはんだ9をパ
ターンニングされている。
Next, the first submount 6 made of an insulating material.
Shows the structure of. The first submount 6 is the same as that shown in FIG.
As shown in FIG. 3A showing the portion corresponding to the second submount 3 shown in FIG. 3C, the strip-shaped metal electrodes 7a, 7b, and 7c are provided on one surface of the insulating plate-shaped body. The metal electrodes 7a, 7b, 7c are formed at a predetermined interval.
The bonding pads 8a, 8b, 8c are formed on the upper surfaces of the respective one ends in the longitudinal direction of the above, and the solder 9 is patterned on the upper surface of the other end in the longitudinal direction of the intermediate metal electrode 7b.

【0012】次に図3(b)に示されるように、上記構
造の第1のサブマウント6のはんだ9上に半導体レーザ
チップ10を載置して、はんだ9を融着して半導体レー
ザチップ10を第1のサブマウント6に固着する。さら
に図3(c)に示されるように、前記第2のサブマウン
ト3を、その凹部1a内に半導体レーザチップ10を受
容するように第1のサブマウント6上に載置し、はんだ
5を融着して両サブマウント3・6同士を互いに固着し
て一体化する。
Next, as shown in FIG. 3B, the semiconductor laser chip 10 is placed on the solder 9 of the first submount 6 having the above-mentioned structure, and the solder 9 is fused to the semiconductor laser chip. 10 is fixed to the first submount 6. Further, as shown in FIG. 3C, the second submount 3 is placed on the first submount 6 so as to receive the semiconductor laser chip 10 in the concave portion 1a, and the solder 5 is placed thereon. By fusion bonding, both submounts 3 and 6 are fixed to each other and integrated.

【0013】そして図4(a)に示されるように、ヒー
トシンク11上に層状に形成されたはんだ12の上に第
1のサブマウント6の底面(第2のサブマウント3を固
着された表面とは相反する面)を載置し、はんだ12を
融着して第1のサブマウント6をヒートシンク11上に
固着する。また、各ボンディング用パッド8a・8b・
8cにリード線を接続する。なお、はんだ9の融点が一
番高く、次にはんだ5の融点が高く、はんだ12の融点
が一番低くなるようにする。
As shown in FIG. 4A, the bottom surface of the first submount 6 (the surface to which the second submount 3 is fixed is formed on the solder 12 formed in layers on the heat sink 11). Are placed on the heat sink 11 and the solder 12 is fused to fix the first submount 6 on the heat sink 11. Also, each bonding pad 8a, 8b,
Connect the lead wire to 8c. The melting point of the solder 9 is the highest, the melting point of the solder 5 is the second highest, and the melting point of the solder 12 is the lowest.

【0014】このようにして構成された半導体レーザ素
子の断面(図4(a)のIVb−IVb線に沿って見た断
面)を図4(b)に示す。図4(b)に示されるよう
に、絶縁体の第1のサブマウント6と、化学的エッチン
グにより形成された第2のサブマウント3の凹部1aと
の間に半導体レーザチップ10を挟持したことから、動
作中に発生する熱を半導体レーザチップ10の2つの端
面から各サブマウント3・6を介して放散することがで
きる。また、上記したようにはんだの融着回数も少な
い。また、第1のサブマウント6の主面(各ボンディン
グ用パッド8a・8b・8c)からコンタクトを取るた
め、複雑な配線構造を回避でき、断線を好適に防止し得
る。
FIG. 4B shows a cross section of the semiconductor laser device thus configured (a cross section taken along line IVb-IVb in FIG. 4A). As shown in FIG. 4 (b), the semiconductor laser chip 10 is sandwiched between the first submount 6 made of an insulator and the recess 1a of the second submount 3 formed by chemical etching. Therefore, the heat generated during the operation can be dissipated from the two end faces of the semiconductor laser chip 10 through the respective submounts 3 and 6. Further, as described above, the number of times of solder fusion is small. Further, since the contact is made from the main surface (each bonding pad 8a, 8b, 8c) of the first submount 6, it is possible to avoid a complicated wiring structure and preferably prevent disconnection.

【0015】次に、図5及び図6に本発明に基づく第2
の実施例を示す。なお、前記実施例と同様の部分につい
ては同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。ま
た、第2のサブマウント3にあっては、前記実施例と同
様に形成されるため、その図示及び説明を省略する。
Next, referring to FIG. 5 and FIG. 6, the second embodiment of the present invention will be described.
An example of is shown. The same parts as those in the above embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. Further, the second submount 3 is formed in the same manner as in the above-mentioned embodiment, so its illustration and description will be omitted.

【0016】また、第1のサブマウント13は、図5
(a)に示されるように、その主面(図における上面)
の全面に絶縁膜14を形成され、その絶縁膜14上に前
記実施例と同様に第2のサブマウント3に対応する部分
に帯状の各金属電極7a・7b・7cを形成され、各金
属電極7a・7b・7cの長手方向一端部の上面にそれ
ぞれボンディング用パッド8a・8b・8cを形成され
ていると共に、中間の金属電極7bの長手方向他端部の
上面にはんだ9をパターニングにて形成されている。次
に図5(b)に示されるように、はんだ9上に半導体レ
ーザチップ10を載置し、はんだ9を融着して半導体レ
ーザチップ10を第1のサブマウント13に固着する。
そして前記実施例と同様に図5(c)に示されるよう
に、前記第2のサブマウント3を、その凹部1a内に半
導体レーザチップ10を受容するように第1のサブマウ
ント13上に載置し、はんだ5を融着して両サブマウン
ト3・13同士及び半導体レーザチップ10の上面と第
2のサブマウント3との間をそれぞれ互いに固着して一
体化する。
The first submount 13 is shown in FIG.
As shown in (a), its main surface (upper surface in the figure)
An insulating film 14 is formed on the entire surface of the metal film, and strip-shaped metal electrodes 7a, 7b, and 7c are formed on the insulating film 14 in a portion corresponding to the second submount 3 as in the above-described embodiment. Bonding pads 8a, 8b, 8c are formed on the upper surfaces of the one ends in the longitudinal direction of 7a, 7b, 7c, respectively, and solder 9 is formed on the upper surface of the other end of the intermediate metal electrode 7b in the longitudinal direction by patterning. Has been done. Next, as shown in FIG. 5B, the semiconductor laser chip 10 is placed on the solder 9, and the solder 9 is fused to fix the semiconductor laser chip 10 to the first submount 13.
Then, as shown in FIG. 5C, the second submount 3 is mounted on the first submount 13 so as to receive the semiconductor laser chip 10 in the recess 1a, as shown in FIG. Then, the solder 5 is fused and the submounts 3 and 13 and the upper surface of the semiconductor laser chip 10 and the second submount 3 are fixed and integrated with each other.

【0017】そして、ヒートシンク11上に層状に形成
されたはんだ12を融着して、第1のサブマウント13
の底面をヒートシンク11上に固着する(図6
(a))。また、各ボンディング用パッド8a・8b・
8cにリード線を接続する。この第2の実施例において
も、前記実施例と同様に図6(b)に示されるように、
第1のサブマウント13と、化学的エッチングにより形
成された第2のサブマウント3の凹部1aとの間に半導
体レーザチップ10を挟持したことから、動作中に発生
する熱を半導体レーザチップ10の2つの端面から各サ
ブマウント3・13を介して放散することができると共
に、前記実施例と同様の効果を奏し得る。また、第1の
サブマウント13が導電体であっても、絶縁膜14によ
り各金電極7a・7b・7cがそれぞれ電気的に絶縁さ
れるため、半導体レーザチップ10の両面への電圧印加
に対して何等不都合を生じることがない。
Then, the solder 12 formed in layers on the heat sink 11 is fused to form the first submount 13
The bottom surface of the is fixed on the heat sink 11 (see FIG. 6).
(A)). Also, each bonding pad 8a, 8b,
Connect the lead wire to 8c. Also in this second embodiment, as shown in FIG.
Since the semiconductor laser chip 10 is sandwiched between the first submount 13 and the recess 1a of the second submount 3 formed by chemical etching, the heat generated during the operation of the semiconductor laser chip 10 is generated. It is possible to dissipate the light from the two end faces via the submounts 3 and 13, and to obtain the same effect as that of the above-described embodiment. Even if the first submount 13 is a conductor, since the gold electrodes 7a, 7b, and 7c are electrically insulated by the insulating film 14, the voltage applied to both sides of the semiconductor laser chip 10 is not affected. There is no inconvenience.

【0018】[0018]

【発明の効果】このように本発明によれば、第1のサブ
マウントが導電体であるか絶縁体であるかにかかわら
ず、半導体レーザチップを第1及び第2のサブマウント
により挟持して、動作熱を発半導体レーザチップの両面
から放散させることができると共に、第2のサブマウン
トに伝わった熱を第1のサブマウントを介してヒートシ
ンクに伝えて放散することにより、半導体レーザチップ
の両側にヒートシンクを設ける必要がなく、厚さを極力
抑えることができ、半導体レーザ素子のコンパクト化を
向上し得る。また、半導体レーザチップを第2のサブマ
ウントの凹部により受容するため、両サブマウント同士
を固着するのみで半導体レーザチップの位置決めを行う
ことができる。
As described above, according to the present invention, the semiconductor laser chip is held between the first and second submounts regardless of whether the first submount is a conductor or an insulator. , The operating heat can be dissipated from both sides of the semiconductor laser chip, and the heat transmitted to the second submount is transmitted to the heat sink via the first submount to be dissipated, so that both sides of the semiconductor laser chip can be dissipated. It is not necessary to provide a heat sink on the substrate, the thickness can be suppressed as much as possible, and the size reduction of the semiconductor laser device can be improved. Further, since the semiconductor laser chip is received by the concave portion of the second submount, the semiconductor laser chip can be positioned only by fixing the both submounts.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)は第2のサブマウントを形成するべく化
学的エッチング用のマスクを形成しした状態を示す部分
正面図であり、(b)は異方性エッチング後の形状を示
す部分正面図であり、(c)はエッチング後にマスクを
除去した状態を示す部分正面図。
FIG. 1A is a partial front view showing a state in which a mask for chemical etching is formed to form a second submount, and FIG. 1B is a portion showing a shape after anisotropic etching. It is a front view, (c) is a partial front view which shows the state which removed the mask after etching.

【図2】(a)は第2のサブマウントに金属電極を形成
した状態を示す部分正面図であり、(b)はさらにはん
だを形成した状態を示す部分正面図であり、(c)は
(b)に対応する要部斜視図。
2A is a partial front view showing a state in which a metal electrode is formed on the second submount, FIG. 2B is a partial front view showing a state in which solder is further formed, and FIG. The principal part perspective view corresponding to (b).

【図3】(a)は第1のサブマウントを示す要部斜視図
であり、(b)は第1のサブマウントに半導体レーザチ
ップを固着した状態を示す要部斜視図であり、(c)は
第1のサブマウントに第2のサブマウントを固着した状
態を示す要部斜視図。
FIG. 3A is a perspective view of a main part showing a first submount, FIG. 3B is a perspective view of a main part showing a state in which a semiconductor laser chip is fixed to the first submount, and FIG. FIG. 7A is a perspective view of a main part showing a state in which the second submount is fixed to the first submount.

【図4】(a)はサブマウントをヒートシンクに固着し
た状態を示す要部斜視図であり、(b)は(a)のIVb
−IVb線に沿って見た断面図。
FIG. 4A is a perspective view of a main part showing a state in which a submount is fixed to a heat sink, and FIG. 4B is a IVb of FIG.
-A sectional view taken along line IVb.

【図5】第2の実施例を示す図であり、(a)は第1の
サブマウントを示す要部斜視図であり、(b)は第1の
サブマウントに半導体レーザチップを固着した状態を示
す要部斜視図であり、(c)は第1のサブマウントに第
2のサブマウントを固着した状態を示す要部斜視図。
5A and 5B are views showing a second embodiment, FIG. 5A is a perspective view of an essential part showing a first submount, and FIG. 5B is a state in which a semiconductor laser chip is fixed to the first submount. FIG. 4C is a perspective view of relevant parts showing a state where the second submount is fixed to the first submount.

【図6】第2の実施例を示す図であり、(a)はサブマ
ウントをヒートシンクに固着した状態を示す要部斜視図
であり、(b)は(a)のVIb−VIb線に沿って見た断
面図。
FIG. 6 is a view showing a second embodiment, (a) is a perspective view of a main part showing a state where a submount is fixed to a heat sink, and (b) is a view taken along line VIb-VIb of (a). Cross-section view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 Si材 1a 凹部 1b 凸部 2 マスク 3 第2のサブマウント 4 金属電極 5 はんだ 6 第1のサブマウント 7a・7b・7c 金属電極 8a・8b・8c ボンディング用パッド 9 はんだ 10 半導体レーザチップ 11 ヒートシンク 12 はんだ 13 第1のサブマウント 14 絶縁膜 1 Si Material 1a Recess 1b Convex 2 Mask 3 Second Submount 4 Metal Electrode 5 Solder 6 First Submount 7a, 7b, 7c Metal Electrode 8a, 8b, 8c Bonding Pad 9 Solder 10 Semiconductor Laser Chip 11 Heat Sink 12 solder 13 first submount 14 insulating film

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 智 相模原市淵野辺5−10−1 新日本製鐵株 式会社エレクトロニクス研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Satoshi Fujii 5-10-1 Fuchinobe, Sagamihara City Nippon Steel Corp. Electronics Research Laboratories

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ヒートシンクに固着される平板状の第1
のサブマウントと、前記第1のサブマウント上に載置さ
れる半導体レーザチップを受容し得る凹部を形成された
第2のサブマウントとを有し、 前記半導体レーザチップを前記第1のサブマウントと前
記第2のサブマウントの前記凹部の底面との間に挟持す
るように前記第1のサブマウント上に前記第2のサブマ
ウントを固着したことを特徴とする半導体レーザのマウ
ント構造。
1. A flat plate-shaped first member fixed to a heat sink.
And a second submount formed with a recess capable of receiving the semiconductor laser chip mounted on the first submount, the semiconductor laser chip being mounted on the first submount. A mounting structure for a semiconductor laser, wherein the second submount is fixed on the first submount so as to be sandwiched between the second submount and the bottom surface of the recess of the second submount.
JP7056485A 1995-02-21 1995-02-21 Mount structure of semiconductor laser Withdrawn JPH08228044A (en)

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JP7056485A JPH08228044A (en) 1995-02-21 1995-02-21 Mount structure of semiconductor laser

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Publications (1)

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JPH08228044A true JPH08228044A (en) 1996-09-03

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