JPH0822802A - 二重圧力勾配型pig放電によるプラズマプロセシング 装置 - Google Patents

二重圧力勾配型pig放電によるプラズマプロセシング 装置

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JPH0822802A
JPH0822802A JP6187688A JP18768894A JPH0822802A JP H0822802 A JPH0822802 A JP H0822802A JP 6187688 A JP6187688 A JP 6187688A JP 18768894 A JP18768894 A JP 18768894A JP H0822802 A JPH0822802 A JP H0822802A
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Japan
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plasma
discharge
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cathode
container
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JP6187688A
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Joshin Uramoto
上進 浦本
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は高密度プラズマを、大面積、大体
積に渡って、低圧力、弱磁場領域にも電極の配置なしで
安定に供給して、プラズマプロセシング装置を発展させ
ることにある。 【構成】 (1)気体圧力勾配のある直流放電の陰
極、中間電極、陽極及び陽極リングを主(真空)容器の
端に配置し、その陽極リングの中心穴から、放電プラズ
マ流が主容器内に拡散して行く。 (2)陽極領域には平行な強磁場がかかっており、PI
G放電となる。 (3)主容器内に拡散するプラズマ流の方向と形は永久
磁石によって調節される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】[産業上の利用分野]先ず、表面処理で一
般性のある大型高出力電子ビーム蒸着装置をイオンプレ
ーテング装置に発展させるとき、現在最高の大面積、大
体積の高密度プラズマを利用できる。また、絶縁膜の形
成のとき極めて便利である。他に、高密度、大面積のプ
ラズマCVD装置、プラズマエッチング装置として、特
長を発揮する。
【0002】[従来の技術] (1)小型の電子ビーム蒸着装置をイオンプレーテング
装置に発展させる方法としては、RFアンテナをハース
上に配置して、RF放電によって蒸気をプラズマ化(村
山式)するのが従来の最も一般性のある方式である。し
かし、商用のRF周波数13.56MHzでは、原理的
にプラズマ密度10/cc程度が限度である。また、
プラズマ面積の点でも20〜30cm四方が一様にでき
る限界である。他に、RFアンテナがイオンでスパタさ
れて、不純物が形成膜中に混入する欠点もある。以上の
原因で、大型の高出力電子ビーム蒸着装置にはRF併用
イオンプレーテング法は適しない。次に電子ビーム蒸着
のハース近くに放電陽極を配置し、ハースを陰極とし
て、アーク放電による蒸気のプラズマ化(バンシャ式)
の方式も、小型の電子ビーム蒸着装置には有効である。
しかし、そのアーク放電電力の大部分が陽極損失となる
ので、電子ビームの出力を上げて、それに伴って、アー
ク放電々力も上げるとき、陽極損失による電力効率の低
さが大問題となる。そして決定的な欠点は、ハース近く
でつくられたプラズマが大型容器内に拡散すれば、極め
て低いプラズマ密度になることである。以上の理由によ
り、このアーク放電併用方式も大型電子ビーム蒸着装置
を良質なイオンプレーテング装置に転化させることはで
きない。キャリヤガスを使用したマイクロ波プラズマ生
成源を大型電子ビーム蒸着装置に併用することも考えら
れるが、マイクロ波のカットオフ周波数によりプラズマ
密度の制限を受けて、プラズマ源で1012/ccが通
常の上限である。このプラズマを大型容器内に30倍程
度の直径で拡散させれば、10/ccにプラズマ密度
が低下する。他に2000ガウス程度の強磁場を使用す
るので、それを低下させることも障害のひとつである。 (2)そこで考えられるのが、直流放電と電子ビーム蒸
着装置の併用である。これは、真空容器の中に長距離で
向かい合う陰極と陽極を配置して直流放電を行なうのが
一般的である。この時キャリアガスの圧力は、例えばア
ルゴンで5×10−4Torr以上の圧力でないと効果
的にプラズマ生成できない。即ち、圧力に可成の制約を
受ける。また、放電の電子流を導くために、数10ガウ
ス程度の磁場も要求される。この磁場のために一様なプ
ラズマの直径は20cm〜30cm程度に限定される。
以上の問題の他に、本質的に障害となるのは、絶縁膜形
成の時の陽極表面の絶縁化による放電の不安定化−停止
である。絶縁膜形成は電子ビーム蒸着装置では可成一般
的なので、この障害は重大である。なお、電子ビーム蒸
着装置以外のプラズマCVD装置でも一般の直流放電の
陽極が絶縁化し大きな障害となっている。プラズマスパ
タリング装置でも同様であり、またプラズマエッチング
装置では負性イオンの発生のため、陰極−陽極間を長く
すると直流放電が困難になっている。 (3)従来の直流放電形式としては、磁場に垂直に放電
させるPIG放電もあり、放電々極は全て真空容器の端
に配置できる。その放電プラズマ流は端にある円筒状の
陽極の中から主たる真空容器内に拡散するので、(2)
で述べた陽極の絶縁化は軽減される。しかし、従来のこ
の形式によるプラズマプロセシング装置では陰極と陽極
の間にガス圧力の差がほとんどなく、陰極は低い圧力の
範囲になるので、陽極領域からのイオンの逆流衝突によ
ってスパタされ物理的損傷を受ける。また、反応ガスを
主容器内に流すと、陰極は化学的損傷も受ける。かくて
陰極の寿命が著しく短くなる。更に大きな欠点は放電領
域のガス圧力が低いので高密度プラズマが生成されず、
主(真空)容器内に大直径で拡散すれば、もっと著しく
プラズマ密度が低下する。それ故密度としては先のRF
放電プラズマ程度である。なお、主容器内に拡散するプ
ラズマ流の方向と形が変えられないのも、この従来型P
IG直流放電プラズマの欠点である。
【0003】[発明が解決しようとする課題]先ず、大
型電子ビーム蒸着装置内のプラズマ生成に焦点を合わせ (1)アルゴンのキャリアガスの高密度(1011/c
c以上)、高電子温度(電離能力のためには10数eV
以上)のプラズマを大面積(50cm巾以上で約1cm
長さ)で、且つある程度の厚み(効果的な蒸気の電離の
ためには10数m必要)を持って供給できること。 (2)アルゴンの低圧力(2×10−4Torr程度に
まで)の中でもそのプラズマ領域を形成できること。
(3)直流放電の陽極を薄膜形成の主(真空)容器内に
おかないこと。(4)大直径の強磁場(20ガウス程度
以上)コイルは使用しないこと。なお、(5)陰極が保
護され、長寿命、且つ、大電流で放電できることは基本
的要請である。プラズマCVD装置、プラズマスパタリ
ング装置、プラズマエッチング装置に関しては、プラズ
マの厚みはもっと薄くてもよいので相対的にプラズマ密
度を高くできる。また、電子ビーム蒸気源がないので
(4)の大直径コイルの条件も緩和される。
【0004】[課題を解決するための手段]先ず、本質
的にプラズマ生成密度に限界の生じない直流熱陰極放電
形式とする。具体的構成は(1)陰極の保護による長寿
命と大電流放電のために、すでに発表されて実績のある
プラズマ生成用複合型LaB陰極(特許第16337
号)による圧力勾配放電(真空25、781頁、198
2年)を利用する。(2)図1に示したように放電陽極
を主容器内に配置せず、プラズマガンの第2中間電極の
近くに配置する。(3)陽極領域と主容器の間には内径
2.6cmで長さ3.5cm程度の陽極リングが配置さ
れ、第2中間電極から数cm離してある。プラズマ流
は、この陽極リングを抜けて主容器内に入る。(4)陽
極領域にはそのプラズマ流に平行に強磁場(500ガウ
ス以上)がかかっており、電子は多数回のマグネトロン
運動と中性粒子との多数回の衝突の後にのみ陽極(陽極
リングはその一部)に到達できる。この部分はPIG放
電(磁場に垂直な直流放電)である。(5)陽極リング
を抜けたプラズマ流は主容器内には強磁場がかかってい
ないので(最大10ガウス程度)、ビーム的運動から熱
的運動に転換し、プラズマ電子流自身の空間電荷(負電
荷)で反射して陰極側に返され、中性粒子との多数回の
衝突の後陽極に入る。以上の(1)〜(5)で注目すべ
き点はキャリアガスの圧力勾配である。即ち、主容器の
実効排気速度を1000L/sec程度に取り、2枚の
中間電極の穴の合成排気コンダクタンスを約1L/se
c、陽極リング穴のそれを約30L/secに設定し
て、陰極側から0.3TorrL/sec(約25SC
CM)のアルゴンガスを流す。この時、陰極領域は約
0.3Torr、中間電極−陽極間は10−2Tor
r、主容器内は3×10−4Torrとなる。かくし
て、中間電極−陽極間でその大電流放電により完全電離
のプラズマを生成したとすれば約3×1014/ccの
高密度のプラズマとなる。ここで直径2cm程度でその
プラズマ流が陽極リング(内径2.6cm)を抜けて直
径60cm程度になって主容器内に拡散したとしても3
×1011/cc程度のプラズマ密度が保てることにな
る。なお、プラズマをシート化してプラズマ流の拡散断
面積(数分の1以下にできる)を小さくすれば1012
/ccは簡単に実現できる。以上の手段を要約すれば、
圧力勾配大電流放電とPIG放電を組み合わせて陰極を
保護すると共に、高密度−高電子温度のプラズマを主容
器内に拡散させることである。他に注目すべき手段とし
ては、陽極リングを抜けたプラズマ流の拡散方向を一つ
の永久磁石によって、図2(偏向式)に示したように簡
単に変えられることである。この方法は薄膜形成の試料
面に直接高電子温度プラズマをあてることができるの
で、高電流密度のイオンアシスト的な効果も期待でき
る。また、主容器の下にある電子銃とのプラズマ的干渉
を防ぐこともできる。更に、注目すべき手段としては、
主容器内に拡散させるプラズマの形を大直径からシート
形(厚みは自由に調節)に変えることができる。即ち、
浦本の発明の技術(特許第1755055号)によって
簡単な一対の角形永久磁石を陽極リングの後に図3(シ
ート式)のように配置すればよい。この時、主容器に弱
磁場をかけて調節(数ガウスから20ガウス程度まで)
すればシートプラズマの厚み(高電子温度で光っている
部分)を自由に変化(20cm〜数cm)させることが
できる。
【0005】[作用と実施例]本発明は先ず第一に大型
電子ビーム蒸着装置をイオンプレーテング装置に転換す
ることから出発しているので、その為のプラズマ生成の
実験例を挙げる。図1に示したような特許第16333
75号、特許第1649463号に素づく圧力勾配放電
プラズマ(真空25、781頁、1982年)を転用す
る。(1)直径2.6cmで長さ3.5cmの穴のある
陽極リングを第2中間電極から数cm離して配置し、そ
の中に500ガウス程度の強磁場をかける。(2)主容
器内に最大10ガウスの弱磁場を大直径(60cm)空
芯コイルによって発生させる。(3)陰極側からアルゴ
ンガス約25SCCMを流し、実効速度1000L/s
ec程度の真空ポンプで主容器内を排気する。この状態
で、陰極領域内は約0.3Torr、第2中間電極と陽
極リング間は、約10−2Torrと推定され、主容器
内は3×10−4Torrである。(4)主容器内に拡
散するプラズマ流をシート形に変える為に陽極リングか
ら数cm後に2枚のフェライト磁石を配置する。以上の
条件の下に放電が行なわれ、放電々流100A、放電々
圧70Vのとき、シート変形を行い主容器内に長さ80
cm、巾約60cm、厚み10数cmのアルゴンプラズ
マが生成され、平均プラズマ密度約2×1011/c
c、電子温度約15eVであった。
【0006】[発明の効果]当初目標の大型電子ビーム
蒸着装置への適用に限って見ても、従来の全てのプラズ
マより2桁程度プラズマ密度が高く、面積的にもより大
きな範囲を確保できる。実際に電子ビーム(10KV、
1A)で蒸気を発生させ、イオンプレーテングを行なっ
た結果も従来のRF併用方式では不可能な優れた薄膜が
形成されている。また絶縁膜でも陽極面の絶縁化による
放電の不安定は現われなかった。その他、強磁場の範囲
が陽極領域のみなので、電子銃への磁場的干渉も皆無で
あった。また、プラズマ的電子銃への干渉も、偏向式や
シート式の利用で全く問題はなかった。なお、すでに浦
本の開発した圧力勾配プラズマガン(真空25、781
頁、1982年)は、アルゴンガス使用の時、放電々流
250A程度まで、放電々圧100V程度まで可能なの
で、プラズマ密度1012/ccシートプラズマの巾1
m、長さ1m以上も期待できる。以上本発明によって、
従来の方式では実現できなかった高密度で大面積、大体
積のプラズマが極めて簡単にプラズマプロセスに利用で
きるようになった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基本的装置構成図
【図2】本発明のプラズマ流偏向対策図
【図3】本発明のプラズマ流シート化対策図
【符号の説明】
1は(放電)陰極、2は中間電極(2つの)、3は(放
電)陽極、4は陽極リング、5は磁場コイル、6は(キ
ャリヤ)ガス、7は主真空容器(排気ポンプに接続)、
8は(放電)プラズマ流、9は偏向用永久磁石、10は
偏向プラズマ流、11は(一対の)シート(化用)永久
磁石、12は大直径磁場コイル、13は厚い(大巾の)
シートプラズマ流。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】磁場に沿って、陰極−穴のある中間電極
    (複数でもよい)−円筒陽極−穴のある陽極を配置し、
    陰極側からガスを流して、圧力勾配のあるPIG放電を
    行なう。かくしてこの陽極の穴を通って、真空容器の中
    に拡散したプラズマを利用するプラズマプロセシング装
    置。
JP6187688A 1994-07-05 1994-07-05 二重圧力勾配型pig放電によるプラズマプロセシング 装置 Pending JPH0822802A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002129312A (ja) * 2000-10-20 2002-05-09 Chugai Ro Co Ltd 真空成膜装置
KR100429648B1 (ko) * 1996-12-31 2004-06-16 주식회사 엘지이아이 Ac 플라즈마 디스플레이 패널 및 그 구동회로
KR100479110B1 (ko) * 1996-12-31 2005-07-18 주식회사 엘지이아이 2층구조ac플라즈마디스플레이패널및그구동회로

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KR100429648B1 (ko) * 1996-12-31 2004-06-16 주식회사 엘지이아이 Ac 플라즈마 디스플레이 패널 및 그 구동회로
KR100479110B1 (ko) * 1996-12-31 2005-07-18 주식회사 엘지이아이 2층구조ac플라즈마디스플레이패널및그구동회로
JP2002129312A (ja) * 2000-10-20 2002-05-09 Chugai Ro Co Ltd 真空成膜装置

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