JPH02185969A - 陰極型マグネトロン装置 - Google Patents
陰極型マグネトロン装置Info
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- JPH02185969A JPH02185969A JP1297797A JP29779789A JPH02185969A JP H02185969 A JPH02185969 A JP H02185969A JP 1297797 A JP1297797 A JP 1297797A JP 29779789 A JP29779789 A JP 29779789A JP H02185969 A JPH02185969 A JP H02185969A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3402—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
- H01J37/3405—Magnetron sputtering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の属する技術分野]
本発明は祠料蒸若装置としてのスパッタリング装置及び
スパッタリング方法に関し、さらにスパッタ蒸着装置及
びスパッタリングを含む層の生成方法において用いられ
るマグネトロン装置に関する。
スパッタリング方法に関し、さらにスパッタ蒸着装置及
びスパッタリングを含む層の生成方法において用いられ
るマグネトロン装置に関する。
[従来技術の説明]
スパッタリング装置はエツチング及び蒸むプロセスに広
く用いられている。原子はターゲットの表面にぶっつけ
られ、真空区画中を通過する。噴出しされた多数の原子
はターゲットをエツチングし、基板表面上に蒸i′Jさ
れ、ターゲット飼料でコートする。
く用いられている。原子はターゲットの表面にぶっつけ
られ、真空区画中を通過する。噴出しされた多数の原子
はターゲットをエツチングし、基板表面上に蒸i′Jさ
れ、ターゲット飼料でコートする。
MitM上への祠F[のスパッタ蒸行において、ターゲ
ット及び基板の温度、ターゲット材料の利用形態及び基
板上での蒸着均−性等スバッタリングシステムパラメー
タについては市販のスノくツタリングシステムでは十分
ではない。これらパラメータはターゲット表面近くの電
子を閉じ込め、イオン化効果を増加させるマグトロンシ
ステムを形成することによってターゲットに垂直電磁界
を与え、効果的に制御される。上記システムは、蒸告速
度を短縮し、粒子の衝撃による基板温度上昇を減少させ
る。
ット及び基板の温度、ターゲット材料の利用形態及び基
板上での蒸着均−性等スバッタリングシステムパラメー
タについては市販のスノくツタリングシステムでは十分
ではない。これらパラメータはターゲット表面近くの電
子を閉じ込め、イオン化効果を増加させるマグトロンシ
ステムを形成することによってターゲットに垂直電磁界
を与え、効果的に制御される。上記システムは、蒸告速
度を短縮し、粒子の衝撃による基板温度上昇を減少させ
る。
マグネトロン装置によるスパッタリングシステムは、タ
ーゲットの腐蝕パターンのためターゲット祠¥−1の使
用効率が悪く、ターゲット材料の大部分を使い残したま
ま、ターゲット自身が使えなくなることが多い。平面型
マグネトロンの一般的な腐蝕パターンの1つに、レース
トラック腐蝕パターンがあり、ターゲット表面の楕円形
部分は消費されるが、ターゲット表面の他の部分は完全
にもとのままで比較的使われない。
ーゲットの腐蝕パターンのためターゲット祠¥−1の使
用効率が悪く、ターゲット材料の大部分を使い残したま
ま、ターゲット自身が使えなくなることが多い。平面型
マグネトロンの一般的な腐蝕パターンの1つに、レース
トラック腐蝕パターンがあり、ターゲット表面の楕円形
部分は消費されるが、ターゲット表面の他の部分は完全
にもとのままで比較的使われない。
作動中のマグネトロンシステムのターゲット材料は、大
きなイオン流が発生するために非常に高温となる傾向が
ある。従って、適切な作動を確保するために、マグネト
ロン装置を適Q」に冷却する必要がある。
きなイオン流が発生するために非常に高温となる傾向が
ある。従って、適切な作動を確保するために、マグネト
ロン装置を適Q」に冷却する必要がある。
同様に、コートされるム(成層面上での衝突エネルギー
による過度の高温化を防ぐために、イオン化粒子の軌道
は制御される必要かある。
による過度の高温化を防ぐために、イオン化粒子の軌道
は制御される必要かある。
上記装置を商品化する場合、コストパーフォーマンスを
上げるため、上記必要事項は全てマグネトロン装置内部
で実現されることが不可欠である。
上げるため、上記必要事項は全てマグネトロン装置内部
で実現されることが不可欠である。
現在市販中のマグネトロン装置は、正確な(j法17.
S造と複雑な冷却及び′1は気システムを必要とするた
め、非常に高価である。
S造と複雑な冷却及び′1は気システムを必要とするた
め、非常に高価である。
最も一般的なマグネトロン装置構成はシリンダー型、円
型及び平面型の3FT!類である。円型及び平面型構成
は局部浸蝕を受は易く、材料が使用可能な状態でもター
ゲットが使用不能になる。シリンダー型マグネトロン装
置はより均一に浸蝕を受けるが、高価なため人事面型領
域を−Hする基板をコートするのには適当でない。シリ
ンダー型マグネトロンは反転し、シリンダー内壁がター
ゲットであり、基板はシリンダー内に配置される。中空
陰極マグネトロンと呼ばれる上記マグネトロン基板両側
を効果的にスパッタし、中空陰極の内部によって決定さ
れる領域の中でスパッタリングを行なう。それらは内壁
からスパッタされるターゲット材料をHする中空シリン
ダー型ターゲットを必要とし、磁気フィールド生成には
複雑なソレノイド構成を用いることが代表的である。
型及び平面型の3FT!類である。円型及び平面型構成
は局部浸蝕を受は易く、材料が使用可能な状態でもター
ゲットが使用不能になる。シリンダー型マグネトロン装
置はより均一に浸蝕を受けるが、高価なため人事面型領
域を−Hする基板をコートするのには適当でない。シリ
ンダー型マグネトロンは反転し、シリンダー内壁がター
ゲットであり、基板はシリンダー内に配置される。中空
陰極マグネトロンと呼ばれる上記マグネトロン基板両側
を効果的にスパッタし、中空陰極の内部によって決定さ
れる領域の中でスパッタリングを行なう。それらは内壁
からスパッタされるターゲット材料をHする中空シリン
ダー型ターゲットを必要とし、磁気フィールド生成には
複雑なソレノイド構成を用いることが代表的である。
(発明の概要)
中空陰極型反転シリンダーマグネトロン装置構成は2つ
の独立ユニットで設計され、各ユニットが直角C型ある
いは直角チャネル型断面を有する。
の独立ユニットで設計され、各ユニットが直角C型ある
いは直角チャネル型断面を有する。
2つのC型ユニットは結合されて中空方形トンネルある
いは方形平行パイプ型穴を形成し、スパッタ対象物は上
記方形穴を通過する。単純な形からなる単純な要素のボ
ルト締め構造により、提供しやすい安f+tliな構成
となっている。
いは方形平行パイプ型穴を形成し、スパッタ対象物は上
記方形穴を通過する。単純な形からなる単純な要素のボ
ルト締め構造により、提供しやすい安f+tliな構成
となっている。
このマグネトロン構成は、ターゲット材料背後に甲面ア
レー状に同一の方位で配置される永久磁石を用いる。従
って、力線は表面付近の基板表面に平行で、基板の加熱
が最小限となる。冷却剤あるいは磁石とターゲット材料
との間に点在する冷却剤搬送チューブによって冷却が行
われる。
レー状に同一の方位で配置される永久磁石を用いる。従
って、力線は表面付近の基板表面に平行で、基板の加熱
が最小限となる。冷却剤あるいは磁石とターゲット材料
との間に点在する冷却剤搬送チューブによって冷却が行
われる。
この装置は磁界を形成し、はぼ方形穴の内部でスパッタ
リングを行ない、理想的にはすべての大きさの平1il
i基板に対し、両面同時蒸若が可能である。またそれは
ターゲットの利用及びスパッタされる粒子の捕獲効率を
最大にする。
リングを行ない、理想的にはすべての大きさの平1il
i基板に対し、両面同時蒸若が可能である。またそれは
ターゲットの利用及びスパッタされる粒子の捕獲効率を
最大にする。
(実施例の説明)
第1図において、本発明の原理を具体化するマグネトロ
ン装置を示す。マグネトロン装置はシールドサポートあ
るいはベースサポート部材101を白゛し、マグネトロ
ン装置の各部品は同部材上に載置され、サポートされる
。ベースサポート部+4’ I Olはアルミニウムの
ような非磁性材料からなり、熱伝導に適した十分な厚み
であることが望ましい。
ン装置を示す。マグネトロン装置はシールドサポートあ
るいはベースサポート部材101を白゛し、マグネトロ
ン装置の各部品は同部材上に載置され、サポートされる
。ベースサポート部+4’ I Olはアルミニウムの
ような非磁性材料からなり、熱伝導に適した十分な厚み
であることが望ましい。
2つのエンドシールドサポート部材102.103はサ
ポート部材101に係合され、マグネトロンのエンド部
材を形成する。エンドシールドはサポート部材102.
103の主平面は、シールドサポート部材!01の主平
面と垂直をなす。またエンドシールドサポート部材+0
2.103はアルミニウム製であり、容品に熱伝導する
厚みをaする。電気伝導サイドシールド部材104は、
複数のネジによってシールドサポート部材lot 、1
02.103の両エツジサイドに固定され、装置f+?
/造を形成する。第2サイドシールド105はシールド
サポート部材101.102.103の反対側のエツジ
サイドに固定され、基礎的サポート構造を形成する。サ
イドサポートプレート104と105は非磁性ステンレ
ス鋼材のような非磁性材料で構成される。シールドサポ
ート部材101.102.103 、サイドシールド1
04.105は電位的に陽極である。
ポート部材101に係合され、マグネトロンのエンド部
材を形成する。エンドシールドはサポート部材102.
103の主平面は、シールドサポート部材!01の主平
面と垂直をなす。またエンドシールドサポート部材+0
2.103はアルミニウム製であり、容品に熱伝導する
厚みをaする。電気伝導サイドシールド部材104は、
複数のネジによってシールドサポート部材lot 、1
02.103の両エツジサイドに固定され、装置f+?
/造を形成する。第2サイドシールド105はシールド
サポート部材101.102.103の反対側のエツジ
サイドに固定され、基礎的サポート構造を形成する。サ
イドサポートプレート104と105は非磁性ステンレ
ス鋼材のような非磁性材料で構成される。シールドサポ
ート部材101.102.103 、サイドシールド1
04.105は電位的に陽極である。
エンドフラックスバスプレート106.107、ペース
フラックスパスプレート108は(軟質鉄あるいは軟質
スチールのような高透磁性材料で構成され)、シールド
サポート部材101 、102 、+03の内側に平行
に配置される。プレート106.107.108はセラ
ミックスタンドオフ138によって部材+01 、+0
2 、+03から絶縁されている。複数の永久棒磁石1
10はエンドフラックスパスプレートlOG 、 +0
7及びペースフラックスバスプレート108の内側露出
表面上に載置されている。上記永久棒磁石は互いに平行
で、そのN−3磁極方向がすべて同方向をさすように配
置されている。この方向は、個々のマグネトロン装置の
全形を形成する方形チャネルの縦軸に平行である。
フラックスパスプレート108は(軟質鉄あるいは軟質
スチールのような高透磁性材料で構成され)、シールド
サポート部材101 、102 、+03の内側に平行
に配置される。プレート106.107.108はセラ
ミックスタンドオフ138によって部材+01 、+0
2 、+03から絶縁されている。複数の永久棒磁石1
10はエンドフラックスパスプレートlOG 、 +0
7及びペースフラックスバスプレート108の内側露出
表面上に載置されている。上記永久棒磁石は互いに平行
で、そのN−3磁極方向がすべて同方向をさすように配
置されている。この方向は、個々のマグネトロン装置の
全形を形成する方形チャネルの縦軸に平行である。
銅のような熱及び電気伝導飼料、あるいは冷却チューブ
に適する他の飼料からなる1夏数の冷却剤搬送チューブ
115.11G 、117は永久棒磁石110のトップ
に載置され、接触する。冷却剤搬送チューブ115 、
Il[i 、117は液体あるいは気体冷却剤で充填さ
れ、マグネトロン装置内の温度を所定の範囲内に保つ。
に適する他の飼料からなる1夏数の冷却剤搬送チューブ
115.11G 、117は永久棒磁石110のトップ
に載置され、接触する。冷却剤搬送チューブ115 、
Il[i 、117は液体あるいは気体冷却剤で充填さ
れ、マグネトロン装置内の温度を所定の範囲内に保つ。
冷却剤搬送チューブ115.11B、117は電気的に
陰極である。
陰極である。
永久棒磁石+10及び冷却剤搬送チューブ115、+1
[i 、117は、背面磁気サポートプレート121及
びエンド磁気サポートプレート122.123 (第
1図では見えない)によってマグネトロン装置のフラッ
クスバスプレート106.107.108に固定される
。磁気サポートプレート121 、122 、+23は
、永久棒磁石と共にフラックスバスプレート106.1
07 、logにネジによって固定される。
[i 、117は、背面磁気サポートプレート121及
びエンド磁気サポートプレート122.123 (第
1図では見えない)によってマグネトロン装置のフラッ
クスバスプレート106.107.108に固定される
。磁気サポートプレート121 、122 、+23は
、永久棒磁石と共にフラックスバスプレート106.1
07 、logにネジによって固定される。
スパッタされる非磁性特殊材料からなるターゲットプレ
ート131 、132.133はそれぞれ冷却剤搬送チ
ューブ115.116 、117の上部に載置される。
ート131 、132.133はそれぞれ冷却剤搬送チ
ューブ115.116 、117の上部に載置される。
ターゲットプレートの材料はスパッタに適する銅、金、
クロム、あるいは非磁性バナジウムニッケル等の非磁性
材料である。
クロム、あるいは非磁性バナジウムニッケル等の非磁性
材料である。
角型あるいはL字型断面を有するフラックス保持装置1
25は、ターゲットプレート131 、132と133
、エンドフラックスバスプレー目06と107及びバッ
クフラックスバスプレート108のサイドエツジに沿っ
て配置され、よってL字型のアームの一方は永久棒磁石
110の極片端を支え、又他のアームは、それら極片端
に隣接、接続する。フラックス保持装置125の長アー
ム部位の終端は、エンドフラックスバスプレート106
と107及びベースフラックスバスプレート108の平
面表面に隣接、接続する。フラックス保持装置125は
透磁性鉄あるいはソフト鋼からなり、フラックスバスプ
レー)10G 、107.10Bと共に永久棒磁石のフ
ラックスジオメトリ−を制御する。これらのフラックス
保持装置は陽極である。
25は、ターゲットプレート131 、132と133
、エンドフラックスバスプレー目06と107及びバッ
クフラックスバスプレート108のサイドエツジに沿っ
て配置され、よってL字型のアームの一方は永久棒磁石
110の極片端を支え、又他のアームは、それら極片端
に隣接、接続する。フラックス保持装置125の長アー
ム部位の終端は、エンドフラックスバスプレート106
と107及びベースフラックスバスプレート108の平
面表面に隣接、接続する。フラックス保持装置125は
透磁性鉄あるいはソフト鋼からなり、フラックスバスプ
レー)10G 、107.10Bと共に永久棒磁石のフ
ラックスジオメトリ−を制御する。これらのフラックス
保持装置は陽極である。
第4図において、第1図で示したマグネトロン装置構成
の断面及びフラックスジオメトリ−を示す。フラックス
400はターゲットプレー1−131の両サイドに配置
されたフラックス保持装置125で終端する。このフラ
ックスジオメトリ−は、第3図に示されるような隣接す
る2つのマグネトロンテバイス構成301 、302間
のスパッタリング領域中の自由電子及びイオンの軌跡を
含む。これらの粒子は、2つの隣接するマグネトロン装
置301と302によって決定される平行パイプ型スパ
ッタリング領域内のイγ円形バス内、及びスパッタ中の
通過領域の搬送バス方向303に垂直な面内を移動する
。
の断面及びフラックスジオメトリ−を示す。フラックス
400はターゲットプレー1−131の両サイドに配置
されたフラックス保持装置125で終端する。このフラ
ックスジオメトリ−は、第3図に示されるような隣接す
る2つのマグネトロンテバイス構成301 、302間
のスパッタリング領域中の自由電子及びイオンの軌跡を
含む。これらの粒子は、2つの隣接するマグネトロン装
置301と302によって決定される平行パイプ型スパ
ッタリング領域内のイγ円形バス内、及びスパッタ中の
通過領域の搬送バス方向303に垂直な面内を移動する
。
ステンレス鋼等の非磁性+1料からなるサイドシールド
部材104は曲げられ、フラックス保F、17装置12
5の上部に延長し、セラミックススタンドオフ138に
よってフラックス保持装置から絶縁され、陽極電位を有
する。シールド部材はアーム136を有するL字形をな
し、フラックス保持装置125をプラズマ中にスパッタ
される原子による衝撃から保護する。
部材104は曲げられ、フラックス保F、17装置12
5の上部に延長し、セラミックススタンドオフ138に
よってフラックス保持装置から絶縁され、陽極電位を有
する。シールド部材はアーム136を有するL字形をな
し、フラックス保持装置125をプラズマ中にスパッタ
される原子による衝撃から保護する。
永久棒磁石110冷却剤搬送チューブ115 、liB
と117、磁気サポートプレート+21 、+22と1
23、フラックス保持装置125、及びフラックスバス
プレート106.107と108はすべて陰極であり、
電気的絶縁セラミックスタンドオフH8中に挿入された
ネジ139によって、シールドサポート部材101、
、102と103及びサイドシール白04と105(こ
れらは陽画)にスタンドオフの穴を通して固定され、上
記のセラミックスタンドオフは陰極コンポーネントを陽
極コンポーネントから電気的に分離する。
と117、磁気サポートプレート+21 、+22と1
23、フラックス保持装置125、及びフラックスバス
プレート106.107と108はすべて陰極であり、
電気的絶縁セラミックスタンドオフH8中に挿入された
ネジ139によって、シールドサポート部材101、
、102と103及びサイドシール白04と105(こ
れらは陽画)にスタンドオフの穴を通して固定され、上
記のセラミックスタンドオフは陰極コンポーネントを陽
極コンポーネントから電気的に分離する。
第1図において、マグネトロン装置構造は第2図に示さ
れるハツチプレート250上に載置される。
れるハツチプレート250上に載置される。
ハツチプレーI・250は、マグネトロン装置構造の処
理区側内貫通用穴261において、ノ)ソチプレートを
処理区画側壁260に固定し、マグネトロン装置をスパ
ッタリング処理区画中に挿入する。マグネトロン装置は
ネジ242によってハツチプレート250のネジ穴に固
定され、ノ1ツチプレート250はネジ252によって
処理区画側壁260のネジ穴に固定される。マグネトロ
ン装置背面から突出する冷却チューブ253は、冷却剤
源及び電源に接続するため外部に延長ができる。上記チ
ューブはハツチプレート250内の真空密閉穴263を
通過する。
理区側内貫通用穴261において、ノ)ソチプレートを
処理区画側壁260に固定し、マグネトロン装置をスパ
ッタリング処理区画中に挿入する。マグネトロン装置は
ネジ242によってハツチプレート250のネジ穴に固
定され、ノ1ツチプレート250はネジ252によって
処理区画側壁260のネジ穴に固定される。マグネトロ
ン装置背面から突出する冷却チューブ253は、冷却剤
源及び電源に接続するため外部に延長ができる。上記チ
ューブはハツチプレート250内の真空密閉穴263を
通過する。
第3図において、第1図に示されるマグネトロン装置構
成301 と302は、互いに隣接して処理区画内に配
置され、直角の平行バイブ型スパッタリング領域305
を形成する。2つのマグネトロン装置の隣接するレッグ
は接触あるいはわずかに分離し、圧力で固定されるハツ
チプレート250が処理区画側壁260と共に空気密閉
部を形成できる。
成301 と302は、互いに隣接して処理区画内に配
置され、直角の平行バイブ型スパッタリング領域305
を形成する。2つのマグネトロン装置の隣接するレッグ
は接触あるいはわずかに分離し、圧力で固定されるハツ
チプレート250が処理区画側壁260と共に空気密閉
部を形成できる。
隣接マグネトロン装置構成301と302からなる装置
は実質上従来の中空陰極スパッタリング装置と同等に作
動するが、作成が容易で、コストも安価である。磁界は
スパッタリング領域305内に含まれるため、スパッタ
動作は同領域内に限定される。
は実質上従来の中空陰極スパッタリング装置と同等に作
動するが、作成が容易で、コストも安価である。磁界は
スパッタリング領域305内に含まれるため、スパッタ
動作は同領域内に限定される。
上記の装置は従来の中空陰極型マグネトロン構成の長所
の多くを有しながらも、従来の中空陰極装置はどコスト
が高くないことは明白である。
の多くを有しながらも、従来の中空陰極装置はどコスト
が高くないことは明白である。
第1図は、本発明のマグネトロン装置の直角C型コンポ
ーネントの斜視図; 第2図は、制御中の処理区画内に第1図のマグネトロン
装置を載置中の分解斜視図; 第3図は、中空陰極マグネトロン装置として作動するた
めに一体化された第1図のマグネトロン装置の斜視図; 第4図は、第1図のマグネトロン装置の片側断面図及び
磁力線GM成を示す。 101・・・ベースシールドサポート部材102.10
3・・・エンドシールドサポート部材104.1.05
・・・サイドシールド106、107・・・エンドフラ
ックスバスフーレート108・・・ベースフラックスバ
スプレート110・・・永久棒磁石 +21・・・バック磁気サポートプレート122、12
3・・・エンド磁石サポーI・プレート125・・・フ
ラックス保持装置 131.132.133・・・ターゲットプレート13
6・・・張出し 138・・・セラミックススタンドオフ139.242
,252・・・ネジ 250・・・ハツチプレート 253・・・冷却管 260・・・側壁 261・・・隙間 263・・・密閉穴 301.302・・・マグネトロン装置305・・・ス
パッタリング領域 400・・・磁力線 FIG、 2
ーネントの斜視図; 第2図は、制御中の処理区画内に第1図のマグネトロン
装置を載置中の分解斜視図; 第3図は、中空陰極マグネトロン装置として作動するた
めに一体化された第1図のマグネトロン装置の斜視図; 第4図は、第1図のマグネトロン装置の片側断面図及び
磁力線GM成を示す。 101・・・ベースシールドサポート部材102.10
3・・・エンドシールドサポート部材104.1.05
・・・サイドシールド106、107・・・エンドフラ
ックスバスフーレート108・・・ベースフラックスバ
スプレート110・・・永久棒磁石 +21・・・バック磁気サポートプレート122、12
3・・・エンド磁石サポーI・プレート125・・・フ
ラックス保持装置 131.132.133・・・ターゲットプレート13
6・・・張出し 138・・・セラミックススタンドオフ139.242
,252・・・ネジ 250・・・ハツチプレート 253・・・冷却管 260・・・側壁 261・・・隙間 263・・・密閉穴 301.302・・・マグネトロン装置305・・・ス
パッタリング領域 400・・・磁力線 FIG、 2
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)第1ヨーク部材と、第1ヨーク部材に垂直で、そ
の両端に配置される第1と第2のエンド部材とを有する
第1ターゲット、及び、 第1陰極ユニット内に磁界を生成する第1手段を含む第
1陰極ユニット; 第2ヨーク部材と、第2ヨーク部材に垂直で、その両端
に配置される第3と第4のエンド部材とを有する第2タ
ーゲット、及び、 第2陰極ユニット内に磁界を生成する第2手段を含む第
2陰極ユニット; 第1ターゲットの第1と第3エンド部材及び第2ターゲ
ットの第2と第4エンド部材の自由端はほぼ隣接するよ
う構成されて、第1及び第2の陰極ユニットは互いに隣
接して配置され、 それによって方形断面を有する通路が第1及び第2陰極
ユニットの内部で形成され、ターゲット材料でコートさ
れる被処理部材がその通路内を通過できることを特徴と
する陰極型マグネトロン装置。 (2)磁界を生成する第1及び第2手段は、第1及び第
2陰極ユニット内に配置される複数の永久棒磁石を含み
、 全ての棒磁石は、方形断面を有する通路に沿う縦軸方向
に平行に配置される南北極軸を有することを特徴とする
請求項1記載の装置。 (3)通路の入口及び出口でのターゲットのエッジは、
磁界を通路の中に閉じ込めるように動作する磁性材料製
フラックス保持素子で拘束されていることを特徴とする
請求項2記載の装置。 (4)冷却剤搬送用チューブを、磁界を生成する第1と
第2手段の間、及び第1と第2ターゲットとの間に有し
、 第1及び第2陰極ユニットに電位を与えるためにチュー
ブに電位が印加されることを特徴とする請求項3記載の
装置。 (5)フラックス保持素子をカバーし、それから絶縁さ
れ、陽極電位に保たれるサイドシールドを有する特徴と
する請求項4記載の装置。 (5)制御電磁界を領域内に閉じ込めるスパッタリング
生成方法において、 被処理部材の進入が可能な解放対抗面を有し、平行パイ
プを有する4面上で領域を形成する複数の平面ターゲッ
トを配置するステップ、 複数の平面ターゲットの裏面に、対抗面に直交する方向
にNS極を有する複数の永久磁気源を配置するステップ
、 平面ターゲットを電気的に陰極電位に励起するステップ
、 陽極電位を有するシールドで平面ターゲットの周辺露出
端をシールドするステップ からなることを特徴とするスパッタリング生成方法。 (7)高透磁材料のフラックス抑制構造で平面ターゲッ
トの露出エッジを包むステップを有することを特徴とす
る請求項9記載の方法。 (8)ターゲットを冷却するための冷却剤を提供するス
テップ、 フラックスを領域内に閉じこめるために磁気源に隣接す
る高透磁性フラックスパスを提供するステップ を有することを特徴とする請求項10記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/273,766 US4915805A (en) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | Hollow cathode type magnetron apparatus construction |
US273,766 | 1988-11-21 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02185969A true JPH02185969A (ja) | 1990-07-20 |
JPH0645872B2 JPH0645872B2 (ja) | 1994-06-15 |
Family
ID=23045309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1297797A Expired - Lifetime JPH0645872B2 (ja) | 1988-11-21 | 1989-11-17 | 陰極型マグネトロン装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4915805A (ja) |
JP (1) | JPH0645872B2 (ja) |
CA (1) | CA1338918C (ja) |
GB (1) | GB2227030B (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US5437778A (en) * | 1990-07-10 | 1995-08-01 | Telic Technologies Corporation | Slotted cylindrical hollow cathode/magnetron sputtering device |
US5482611A (en) * | 1991-09-30 | 1996-01-09 | Helmer; John C. | Physical vapor deposition employing ion extraction from a plasma |
US5277779A (en) * | 1992-04-14 | 1994-01-11 | Henshaw William F | Rectangular cavity magnetron sputtering vapor source |
US5286361A (en) * | 1992-10-19 | 1994-02-15 | Regents Of The University Of California | Magnetically attached sputter targets |
US5414588A (en) * | 1993-09-20 | 1995-05-09 | The Regents Of The University Of California | High performance capacitors using nano-structure multilayer materials fabrication |
DE19617155B4 (de) * | 1995-06-28 | 2007-07-26 | Oc Oerlikon Balzers Ag | Sputterbeschichtungsstation, Verfahren zur Herstellung sputterbeschichteter Werkstücke und Verwendung der Station oder des Verfahrens zur Beschichtung scheibenförmiger Substrate |
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GB9821903D0 (en) | 1998-10-09 | 1998-12-02 | Rolls Royce Plc | A method of applying a coating to a metallic article and an apparatus for applying a coating to a metallic article |
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EP1346085B1 (en) | 2000-11-30 | 2011-10-12 | North Carolina State University | Method for producing group iii metal nitride based materials |
WO2002043466A2 (en) | 2000-11-30 | 2002-06-06 | North Carolina State University | Non-thermionic sputter material transport device, methods of use, and materials produced thereby |
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EP2938752A4 (en) * | 2012-12-28 | 2016-05-25 | Sputtering Components Inc | PLASMA ACTIVATED CHEMICAL VAPOR DEPOSITION SOURCE (PECVD) |
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KR20180032523A (ko) * | 2016-03-30 | 2018-03-30 | 케이힌 람테크 가부시키가이샤 | 스퍼터링 캐소드, 스퍼터링 장치 및 성막체의 제조 방법 |
CN105734516B (zh) * | 2016-05-04 | 2018-01-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种磁控溅射用的靶背板及磁控溅射装置 |
US11170982B2 (en) * | 2018-08-10 | 2021-11-09 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for producing low angle depositions |
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US3369989A (en) * | 1964-07-22 | 1968-02-20 | Ibm | Cathode sputtering apparatus including precision temperature control of substrate |
US4013532A (en) * | 1975-03-03 | 1977-03-22 | Airco, Inc. | Method for coating a substrate |
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JPS6319748A (ja) * | 1986-07-11 | 1988-01-27 | Sony Corp | マグネトロン放電装置 |
-
1988
- 1988-11-21 US US07/273,766 patent/US4915805A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-08-31 CA CA000610053A patent/CA1338918C/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-11-15 GB GB8925879A patent/GB2227030B/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-11-17 JP JP1297797A patent/JPH0645872B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2227030A (en) | 1990-07-18 |
JPH0645872B2 (ja) | 1994-06-15 |
CA1338918C (en) | 1997-02-18 |
US4915805A (en) | 1990-04-10 |
GB2227030B (en) | 1993-05-05 |
GB8925879D0 (en) | 1990-01-04 |
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