JPH08219985A - 原子吸光分光光度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定データ用の記憶容量を抑えつつ、検出信
号の正確な波形の表示・保存を可能とする。 【構成】 検出信号ＳdのサンプリングデータＤS1を第
１メモリ１６ａに格納しつつ、格納データの中央点が最
大ピーク頂点か否かをピーク検出部１２で判定し、デー
タ収集制御部１４により最大ピーク付近のデータＤS1を
第２メモリ１６ｂに転写する。一方、間引き部１８によ
って得られる粗サンプリングデータＤS2を粗サンプルメ
モリ２０に格納する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は原子吸光分光光度計に関
するものであり、更に詳しくは、ファーネス測定や、フ
レームマイクロサンプリング測定、水銀還元気化装置又
は高感度ヒ素分析付属装置を用いた測定等によりピーク
状の検出信号が得られる原子吸光分光光度計に関する。

【０００２】

【従来の技術】原子吸光分光分析では、試料中の測定対
象成分が原子化され、原子化された測定対象成分による
吸光度が測定される。測定対象成分の原子化の方法とし
ては、バーナのフレーム（炎）により原子化するフレー
ム原子化法と、電気炉による加熱等によりフレームを用
いないで原子化するフレームレス原子化法とがある。こ
のうちフレーム原子化法を採用した場合には、通常、バ
ーナに試料が供給されている間、測定される吸光度はほ
ぼ定常値となる。これに対し、フレームレス原子化法を
採用した場合、例えばグラファイトチューブ等を用いた
電気炉で試料を加熱することにより試料中の測定対象成
分を原子化するファーネス測定の場合には、吸光度を示
す検出信号としてピーク状の信号が得られる。また、フ
レーム原子化法であっても、100〜200μｌ程度の少量の
試料を瞬時的にフレーム中に導入して原子化するフレー
ムマイクロサンプリング測定の場合には、吸光度を示す
検出信号としてピーク状の信号が得られる。さらに、水
銀還元気化装置によって試料中の測定対象成分である水
銀を原子化する場合や、高感度ヒ素分析付属装置によっ
て試料中の測定対象成分であるヒ素を原子化する場合に
も、測定対象成分による吸光度を示す検出信号としてピ
ーク状の信号が得られる。

【０００３】このように測定対象成分による吸光度を示
す検出信号としてピーク状の信号が得られる原子吸光分
光分析では、その検出信号におけるピーク波形を急峻な
ものとする必要がある。このために、測定者が検出信号
におけるピーク波形を見ながら測定条件を試行錯誤的に
変えることにより、急峻で尾を曳かないピーク波形が得
られる測定条件を見い出している。なお、ここで測定条
件とは、例えばファーネス測定では、グラファイトチュ
ーブ（ファーネス）に流すＡｒ等の不活性ガスの流し方
（流量、流す期間）及びグラファイトチューブの温度条
件（温度の設定値、設定温度の保持期間、昇温速度）な
どをいい、フレームマイクロサンプリング測定では、試
料の導入量と導入速度、燃料と助燃剤の流量、及び、燃
料と助燃剤との混合比などをいう。

【０００４】上記のようにして測定条件を見い出すため
には検出信号のピーク波形を表示する必要があり、この
ピーク波形の表示は検出信号をＡ／Ｄ変換して得られる
測定データに基づいて行なわれる。従来、測定データを
得るためのＡ／Ｄ変換におけるサンプリングは、検出信
号を捕らえる必要のある期間（以下「測定期間」とい
う）の全体にわたって一律の周期で、次の３通りのうち
のいずれかの方法により行なわれていた。 （１）概略のピーク波形を得るだけでよい場合には、測
定データ用メモリの使用量の低減を重視して、全測定期
間にわたり粗くサンプリングする。 （２）正確なピーク波形を得たい場合には、全測定期間
にわたり細かくサンプリングする。 （３）測定データ用のメモリ容量が固定されている場合
には、測定期間が長ければ粗くサンプリングし、測定期
間が短ければ細かくサンプリングする。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】前記説明からわかるよ
うに、検出信号としてピーク状の信号が得られる原子吸
光分光光度計において最適な測定条件を検討する際に
は、その検出信号における幅の狭い急峻なピーク波形を
正確に表示する必要がある。しかし、正確なピーク波形
を表示するために上記（２）のように全測定期間にわた
って細かくサンプリングすると、測定データの格納によ
るメモリの使用量が増大する。

【０００６】また、原子吸光分光光度計による分析毎に
得られる測定データをハードディスやフロッピーディス
ク等の記憶媒体に保存しておき、後日、検出信号の波形
を参照したいという要求もある。この場合、上記（１）
のように全測定期間にわたって粗くサンプリングする
と、後日、検出信号の正確な波形を表示させることがで
きない。一方、上記（２）のように全測定期間にわたっ
て細かくサンプリングすると、測定データの保存のため
に大容量の記憶媒体が必要となる。また、上記（３）の
ようにサンプリングすると、得られる波形の精度が測定
期間に依存し、測定期間が長くなると正確な波形を表示
できなくなる。

【０００７】本発明はこのような問題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、測定デ
ータの格納や保存のためのメモリや記憶媒体の使用量を
抑えつつ、検出信号の波形を正確に表示し保存すること
ができる原子吸光分光光度計を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明では、原子化された試料中の測定対象
成分による吸光度を示す検出信号としてピーク状の信号
が得られる原子吸光分光光度計において、 ａ）所定のサンプリング周期で前記検出信号に対してＡ
／Ｄ変換を行なうことにより、前記検出信号の値を示す
サンプリングデータ列を生成するＡ／Ｄ変換手段と、 ｂ）前記サンプリングデータ列に基づいて前記検出信号
におけるピーク頂点を検出するピーク検出手段と、 ｃ）前記サンプリングデータ列からデータを間引くこと
により、前記サンプリング周期よりも長い所定周期でサ
ンプリングされたデータ列に相当する粗サンプリングデ
ータ列を生成する間引き手段と、 ｄ）記憶手段と、 ｅ）前記吸光度を示す測定データとして、ピーク検出手
段によって検出されるピーク頂点の前後の所定区間につ
いては前記サンプリングデータ列を記憶手段に記憶さ
せ、該所定区間以外の区間については間引き手段によっ
て生成される粗サンプリングデータ列を記憶手段に記憶
させる測定データ収集制御手段と、を備えた構成として
いる。

【０００９】

【作用】測定対象成分による吸光度を示す検出信号とし
てピーク状の信号が得られる原子吸光分光光度計では、
検出信号におけるピークの波形を正確に知る必要がある
が、ピーク以外の波形の重要度は低い。本発明はこの点
に着目した構成となっており、以下のようにして測定デ
ータが収集される。

【００１０】まず、Ａ／Ｄ変換手段が検出信号をＡ／Ｄ
変換してサンプリングデータ列を生成し、ピーク検出手
段はこのサンプリングデータ列に基づいて検出信号にお
けるピーク頂点を検出する。一方、間引き手段は、この
サンプリングデータ列からデータを間引いて粗サンプリ
ングデータ列を生成する。そして、測定データ収集制御
手段が、検出信号におけるピーク頂点の前後の所定区間
についての測定データとして、Ａ／Ｄ変換手段によって
生成されたサンプリングデータ列をそのまま記憶手段に
記憶し、その所定区間以外の測定データとして、粗サン
プリングデータ列を記憶手段に記憶する。以上により、
検出信号におけるピーク付近については密にサンプリン
グされ、ピーク付近以外については粗くサンプリングさ
れたデータ列が、測定データとして収集される。

【００１１】

【実施例】図２は、本発明の一実施例である原子吸光分
光光度計の全体構成を示す。この原子吸光分光光度計で
は、グラファイトチューブ等を用いた電気炉である原子
化部３４によって試料が加熱され、測定対象成分が原子
化される。そして、光源３２からの光が原子化部３４に
投射され、原子化された測定対象成分を通過する。測定
対象成分を通過した光は分光器３６で分光され、測定対
象成分に対応する特定波長の光が取り出される。この特
定波長の光は検出器３８で受光され、原子化された測定
対象成分による吸光度が検出される。この吸光度を示す
検出信号Ｓdはアンプを経て制御部３０に入力される。

【００１２】制御部３０はＣＰＵ、Ｉ／Ｏポート、メモ
リ、Ａ／Ｄ変換器等から構成されており、メモリに記憶
された所定のプログラムに基づいてＣＰＵが動作するこ
とにより種々の機能が実現される。すなわち制御部３０
は、光源３２、原子化部３４、分光器３６、及び検出器
３８を制御して上記の測定動作を行なわせ、これにより
吸光度を示す検出信号Ｓdを得る。また、この検出信号
ＳdをＡ／Ｄ変換してサンプリングデータを得、このサ
ンプリングデータから後述の処理により測定データを収
集する。そして、この測定データに基づき、制御部３０
に接続された表示部５０又はプリンタ４８に吸光度を示
す検出信号Ｓdの波形等を出力する。さらに、制御部３
０にはハードディスクドライブ４２及びフロッピーディ
スクドライブ４４が接続されており、必要に応じて測定
データをハードディスク又はフロッピーディスに保存す
る。

【００１３】図１は、上記実施例における測定データの
収集に関する部分（以下「測定データ収集部」という）
の構成を概念的に示すブロック図である。この測定デー
タ収集部は、Ａ／Ｄ変換器１０、ピーク検出部１２、デ
ータ収集制御部１４、間引き部１８、第１メモリ１６ａ
と第２メモリ１６ｂから成る密サンプルメモリ１６、及
び、粗サンプルメモリ２０から構成されている。このう
ちピーク検出部１２、データ収集制御部１４、及び間引
き部１８は、ＣＰＵが所定のプログラムに基づいて動作
することにより実現される。また、第１メモリ１６ａ、
第２メモリ１６ｂ、及び粗サンプルメモリ２０は、制御
部３０内のメモリにおいてそれぞれに対応する所定の領
域を確保することにより実現される。

【００１４】以下、上記構成の測定データ収集部の動作
を図３及び図４を参照しつつ説明する。図３は、検出信
号Ｓdにおける最大ピーク付近の区間についての測定デ
ータを収集するための処理を示すフローチャートであ
り、図４は、その最大ピーク付近以外の区間についての
測定データを収集するための処理を示すフローチャート
である。

【００１５】まず、図３に示したフローチャートの処理
について説明する。吸光度を示す検出信号Ｓdは、その
信号変化に対して十分に短い所定のサンプリング周期で
Ａ／Ｄ変換器１０によりデジタル信号に変換され、その
デジタル信号の値を示すサンプリングデータＤS1が順次
生成される。このサンプリングデータＤS1は、１点分の
データが生成される毎に第１メモリ１６ａに格納される
（ステップＳ１０、Ｓ１２）。この第１メモリ１６ａ
は、検出信号Ｓdにおける最大ピークの波形に対応する
サンプリングデータＤS1を格納できる程度の容量を有し
ている。以下では、第１メモリ１６ａは検出信号Ｓdの
１０秒分のサンプリングデータＤS1を格納できる容量を
有しているものとして説明する。

【００１６】１０秒分のサンプリングデータＤS1が第１
メモリ１６ａに格納されると、その１０秒分のサンプリ
ングデータＤS1は、データ収集制御部１４によって第１
メモリ１６ａから第２メモリ１６ｂに転写される（ステ
ップＳ１６）。この第２メモリ１６ｂは第１メモリ１６
ａと同一の容量を有している。

【００１７】その後、引き続き、Ａ／Ｄ変換器１０によ
って生成されたサンプリングデータＤS1が第１メモリ１
６ａに順次格納され（ステップＳ１８、Ｓ２０）、これ
により、第１メモリ１６ａに既に格納されている１０秒
分のデータが順次更新されていく。このとき第１メモリ
１６ａに既に格納されている１０秒分のサンプリングデ
ータＤS1のうち古いデータから順次更新されていく。す
なわち、第１メモリ１６ａは１０秒分の容量を有するリ
ングバッファとして機能する。

【００１８】第１メモリ１６ａでの上記データ更新にお
いて１点分のサンプリングデータが格納される毎に、ピ
ーク検出部１２は、第１メモリ１６ａに格納されている
１０秒分のサンプリングデータＤS1の中央の値（以下
「中央値」という）が現時点までに得られたサンプリン
グデータＤS1のうちで最大か否かを判定する（ステップ
Ｓ２２）。この判定の結果、中央値が最大であれば、こ
の中央の点はピーク頂点であり、そのピークは現時点で
の最大ピークである。この場合、データ収集制御部１４
により、第１メモリ１６ａに格納されている１０秒分の
サンプリングデータＤS1が第２メモリ１６ｂに転写され
る（ステップＳ２４）。その後、次に入力されるサンプ
リングデータが第１メモリ１６ａに格納される（ステッ
プＳ１８、Ｓ２０）。一方、中央値が最大でないときに
は、第１メモリ１６ａから第２メモリ１６ｂへの転写は
行なわれることなく、次に入力されるサンプリングデー
タＤS1が第１メモリ１６ａに格納される（ステップＳ１
８、Ｓ２０）。

【００１９】上記動作は測定期間の終了まで続き（ステ
ップＳ１８〜Ｓ２６）、測定期間が終了すると、データ
収集制御部１４により、その終了時点で第１メモリ１６
ａに格納されている１０秒分のサンプリングデータＤS1
のうちの最大値と第２メモリ１６ｂに格納されている１
０秒分のサンプリングデータＤS1のうちの最大値とが比
較される。その結果、第１メモリ１６ａにおける最大値
が第２メモリ１６ｂにおける最大値よりも大きい場合に
のみ、データ収集制御部１４により、第１メモリ１６ａ
に格納されている１０秒分のサンプリングデータＤS1が
第２メモリ１６ｂに転写される（ステップＳ３０）。

【００２０】以上の動作により、まず、図５（ａ）に示
すように、測定開始直後の１０秒分のサンプリングデー
タＤS1が第２メモリ１６ｂに格納される（ステップＳ１
０〜Ｓ１６参照）。この１０秒分のサンプリングデータ
ＤS1の最大値が測定期間全体における最大値でもある場
合には、そのサンプリングデータＤS1がそのまま第２メ
モリ１６ｂに保持されるが、通常は、図５（ｂ）に示す
ように、吸光度の測定が進行するにしたがって次第によ
り高いピーク値のピーク波形に対応するサンプリングデ
ータＤS1が第２メモリ格納されるようになる（ステップ
Ｓ２２、Ｓ２４参照）。そして、図３に示したフローチ
ャートの処理が完了した時点では、検出信号Ｓdの測定
期間における最大ピークの付近の１０秒分のサンプリン
グデータＤS1が第２メモリ１６ｂに格納されている。こ
れにより、ピーク値の最も大きなピーク波形を示すデー
タが収集されたことになる。なお、測定期間の終了後に
おいて、第１メモリ１６ａにおける最大値が第２メモリ
１６ｂにおける最大値よりも大きい場合に第１メモリ１
６ａから第２メモリ１６ｂへサンプリングデータＤS1を
転写している（ステップＳ２８、Ｓ３０）のは、測定期
間の最後の１０秒間のうち測定終了時点から５秒未満の
間に最大ピークが存在する場合を考慮したものである。

【００２１】次に、図４に示したフローチャートの処理
について説明する。図１に示すように、Ａ／Ｄ変換器１
０によって得られるデジタル信号の値を示すサンプリン
グデータＤS1は、ピーク検出部１２及び第１メモリ１６
ａに入力されて上記データ収集が行なわれる他、間引き
部１８にも入力され（ステップＳ５０）、１点分のサン
プリングデータＤS1が入力される毎に、間引くべきデー
タか否かが判定される（ステップＳ５２）。この結果、
間引くべきデータではないときには、そのサンプリング
データＤS1は粗サンプルメモリ２０に格納され、その
後、次の１点分のサンプリングデータＤS1が間引き部１
８に入力される（ステップＳ５０）。一方、間引くべき
データであるときには、そのサンプリングデータＤS1は
粗サンプルメモリ２０には格納されることなく、次の１
点分のサンプリングデータＤS1が間引き部１８に入力さ
れる（ステップＳ５０）。以上により、サンプリングデ
ータＤS1の列から所定のデータが間引かれ、Ａ／Ｄ変換
器１０のサンプリング周期よりも長い周期でサンプリン
グされたデータ列に相当する粗サンプリングデータＤS2
の列が得られる。この粗サンプリングデータＤS2の列が
粗サンプルメモリ２０に格納される。

【００２２】上記動作は測定期間の終了まで続き（ステ
ップＳ５０〜Ｓ５６）、測定期間が終了すると図４に示
したフローチャートの処理が完了する。この動作の完了
時点では、検出信号Ｓdの測定期間全体に対する粗サン
プリングデータＤS2が粗サンプルメモリ２０に格納され
ている。これにより、検出信号Ｓdの測定期間全体に亘
る波形を示すデータが収集されたことになる。

【００２３】以上のようにして第２メモリ１６ｂに格納
された最大ピーク付近のサンプリングデータＤS1及び粗
サンプルメモリ２０に格納された測定期間全体の粗サン
プリングデータＤS2は、測定データとして表示部５０に
送られる。なお、このとき、第２メモリ１６ｂに格納さ
れているデータに対応する区間すなわち最大ピーク付近
の区間についての粗サンプリングデータＤS2を、測定デ
ータから除外してもよい。表示部５０では、送られて来
た測定データに基づいて検出信号Ｓdの波形が表示され
る。すなわち、第２メモリ１６ｂに格納されているサン
プリングデータＤS1に対応する１０秒分の区間について
は、そのサンプリングデータＤS1に基づいて検出信号Ｓ
dの波形（ピーク波形）が表示され、その他の区間につ
いては、粗サンプルメモリ２０に格納されていた粗サン
プリングデータＤS2に基づいて検出信号Ｓdの波形が表
示される。また、このような測定データに基づく検出信
号Ｓdの波形は、操作部４６からの指令によりプリンタ
４８にも出力される。さらに、検出信号Ｓdの波形を後
日参照したい場合には、操作部４６からの指令により、
測定データがハードディスクドライブ４２又はフロッピ
ーディスクドライブ４４に送られ、ハードディスク又は
フロッピーディスクに保存される。

【００２４】以上説明したように本実施例によれば、吸
光度を示す検出信号Ｓdの波形を表示する際、測定期間
のうち検出信号Ｓdにおける最大ピーク頂点の前後の１
０秒分の区間については、検出信号Ｓdの変化に応じた
密なサンプリングデータＤS1が用いられるため、最大ピ
ークについて正確な波形が表示される。そして操作者
は、この正確な最大ピーク波形に基づいて測定条件を最
適又は好適な状態に設定することができる。また、この
正確な最大ピーク波形に基づいてピーク高さやピーク面
積を求めることにより、精度の高い分析データを得るこ
とができる。一方、最大ピークの区間以外における波形
の表示に用いられる測定データは粗サンプリングデータ
ＤS2であるため、粗サンプルメモリ２０は大きな容量を
必要としない。したがって、最大ピークの波形表示につ
いては高い精度を保持しつつ、測定データの格納のため
のメモリの使用量を抑えることができる。また、測定デ
ータを保存するためのハードディスクやフロッピーディ
スク等の記憶媒体の使用量も抑えることができる。

【００２５】上記実施例では、測定データとして収集さ
れる密なサンプリングデータＤS1（第２メモリ１６ｂに
格納されるデータ）は、検出信号Ｓdにおける最大ピー
クの波形に対するものであるが、最初に出現したピーク
又は２番目に出現したピークというように、出現した順
番により密なサンプリングデータＤS1を収集すべきピー
クを指定することが必要な場合もある。例えば、原子化
部３４の加熱温度が図６において点線で示されるように
制御されることにより、試料の乾燥、灰化、原子化、及
びクリーニングが順次行なわれ、この図６に示された期
間全体が測定期間とされた場合には、吸光度を示す検出
信号は例えば図６において太い実線で示されるようにな
り、４個のピークが存在する。ここで、測定データとし
て密なサンプリングデータを収集すべきピークは原子化
に対応するピークであるが、このピークは最大ピークで
はなく、クリーニングに対応するピークが最大となって
いる。この場合、３番目に出現するピークが原子化に対
応するピークであるため、３番目のピークについてのサ
ンプリングデータＤS1を第２メモリ１６ｂに格納する必
要がある。このためには、１点分のサンプリングデータ
ＤS1が第１メモリ１６ａに格納される毎に、第１メモリ
１６ａ内のサンプリングデータＤS1に対応する１０秒分
の区間の中央点がピーク頂点か否かを判定し、中央点が
３番目のピーク頂点となったときに、第１メモリ１６ａ
内の１０秒分のサンプリングデータＤS1を第２メモリ１
６ｂに転写するような構成とすればよい。なお、中央点
がピーク頂点か否かを判定するには、例えば、中央値が
第１メモリ１６ａ内の１０秒分のサンプリングデータＤ
S1における最大値か否かを調べればよい。

【００２６】また、測定データとして収集される密なサ
ンプリングデータＤS1（第２メモリ１６ｂに格納される
データ）は、図６に示す温度曲線の原子化の区間に出現
したピークの波形に対するものというように、ピークの
出現した時期によって、密なサンプリングデータＤS1を
収集すべきピークを指定することもできる。

【００２７】さらに、上記実施例では、検出信号Ｓdに
おける一つのピークについてのみ密なサンプリングデー
タＤS1を測定データとして収集しているが、第２メモリ
を複数個設けることにより、複数のピークについて密な
サンプリングデータＤS1を測定データとして収集するこ
とも可能である。

【００２８】なお以上では、電気炉によって試料中の測
定対象成分を原子化するファーネス測定により吸光度を
検出する原子吸光分光光度計を例にとって説明したが、
ピーク状の検出信号が得られる他の原子吸光分光光度計
の測定データ収集部にも上記と同様の構成（図１、図
３、図４参照）を採用することができる。例えば、フレ
ームマイクロサンプリング測定や、水銀還元気化装置又
は高感度ヒ素分析付属装置を用いた測定等により検出信
号が得られる原子吸光分光光度計の測定データ収集部に
も、上記と同様の構成を採用することができ、同様の効
果が得られる。

【００２９】

【発明の効果】本発明によれば、吸光度を示す測定デー
タとして、検出信号におけるピーク付近の所定区間につ
いては密なサンプリングデータが収集され、他の区間に
ついては粗なサンプリングデータが収集される。このた
め、測定データを格納するためのメモリの使用量を抑え
つつ、収集された測定データを用いて、形状を詳細に知
る必要のあるピーク波形を正確に表示することができ
る。また、測定データを保存するためのハードディスク
やフロッピーディスク等の記憶媒体の使用量を抑えつ
つ、後日、保存された測定データにより正確なピーク波
形を表示することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施例である原子吸光分光光度計
における測定データ収集部の構成を概念的に示すブロッ
ク図。

【図２】 本発明の一実施例である原子吸光分光光度計
の全体構成を示す図。

【図３】 前記実施例における測定データ収集部の動作
を示すフローチャート。

【図４】 前記実施例における測定データ収集部の動作
を示すフローチャート。

【図５】 前記実施例における測定データ収集部の動作
を説明するための図。

【図６】 前記実施例に対する変形例を説明するための
図。

【符号の説明】

１０ …Ａ／Ｄ変換器 １２ …ピーク検出部 １４ …データ収集制御部 １８ …間引き部 １６ａ…第１メモリ １６ｂ…第２メモリ ２０ …粗サンプルメモリ ３０ …制御部 Ｓd …検出信号 ＤS1 …サンプリングデータ ＤS2 …粗サンプリングデータ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 原子化された試料中の測定対象成分によ
   る吸光度を示す検出信号としてピーク状の信号が得られ
   る原子吸光分光光度計において、 ａ）所定のサンプリング周期で前記検出信号に対してＡ
   ／Ｄ変換を行なうことにより、前記検出信号の値を示す
   サンプリングデータ列を生成するＡ／Ｄ変換手段と、 ｂ）前記サンプリングデータ列に基づいて前記検出信号
   におけるピーク頂点を検出するピーク検出手段と、 ｃ）前記サンプリングデータ列からデータを間引くこと
   により、前記サンプリング周期よりも長い所定周期でサ
   ンプリングされたデータ列に相当する粗サンプリングデ
   ータ列を生成する間引き手段と、 ｄ）記憶手段と、 ｅ）前記吸光度を示す測定データとして、ピーク検出手
   段によって検出されるピーク頂点の前後の所定区間につ
   いては前記サンプリングデータ列を記憶手段に記憶さ
   せ、該所定区間以外の区間については間引き手段によっ
   て生成される粗サンプリングデータ列を記憶手段に記憶
   させる測定データ収集制御手段と、を備えることを特徴
   とする原子吸光分光光度計。