JPH08214123A

JPH08214123A - 画像読取装置

Info

Publication number: JPH08214123A
Application number: JP7015359A
Authority: JP
Inventors: Nobuo Suzuki; 伸夫鈴木
Original assignee: Fuji Xerox Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Business Innovation Corp
Priority date: 1995-02-01
Filing date: 1995-02-01
Publication date: 1996-08-20

Abstract

(57)【要約】【目的】機械的な構成要素を追加することなく、画像
の読取を高精度に行なう。【構成】プラテンローラ１４により押し付けられた読
取ガラス１５上の原稿１３を、プラテンローラ１４によ
り送るとともに、原稿１３に記載される画像を主走査す
る一方、送り方向に主走査することにより、画像を読み
取る画像読取装置において、画像読取を行なう前に調整
モードを実行するようにし、調整モードにおいて、画像
の読取位置を駆動手段４３により左右方向に移動させ、
プラテンローラ１４による反射光の強さが最大となる位
置を検出し、この位置に画像の読取位置を設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、自動原稿送り装置
（ＡＤＦ）を用いて、複数枚の原稿画像を読み込む場合
に用いて好適な画像読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、ＡＤＦを用いない場合には、
ユーザ自身が原稿を１枚ずつコンタクトガラス上に載置
し、当該原稿を光学系側が走査して画像を読み取る一
方、ＡＤＦを用いる場合には、ＡＤＦにより原稿を供給
するとともに、光学系を固定とし、さらに、ＡＤＦに設
けられるプラテンローラで原稿を送ることにより副走査
を行なって画像を読み取る画像読取装置が知られてい
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、ＡＤＦは、
一般に工場出荷時から設けられるものではなく、オプシ
ョンとして設定されることが多い。このため、ＡＤＦ
は、画像読取装置に対して後付けという形で取り付けら
れるため、その取付精度にバラツキが生じやすい。この
ため、ＡＤＦの取付状態によっては、プラテンローラと
光学系とが、所定の位置関係にならない場合がある。こ
の場合、原稿が浮き上がった状態で読み込みが行なわれ
ることとなるので、ＡＤＦ使用時においては、画像読取
の精度が低下するなどの不具合があった。この不具合を
解決する技術としては、例えば、特開平１−１７７２６
号公報に記載の発明のように、原稿を読取位置に搬送さ
せるガイドを設けることが考えられる。しかし、この技
術では、かかるガイド自体の取付精度の問題や、取付に
伴って製造工程が増えるという問題などがあった。

【０００４】この発明は、上述した問題に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、機械的な構成要素
を追加することなく、画像の読取を高精度に行なうこと
が可能な画像読取装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項１に記載の発明にあっては、プラテンロ
ーラにより押し付けられた読取ガラス上の原稿を照射す
る一方、前記プラテンローラにより送ることで前記原稿
に記載される画像を主走査するとともに、送り方向に副
走査することにより、前記画像を読み取る画像読取装置
において、前記画像を読み取る前にあたって、前記画像
の読取位置を副走査方向に移動させるための駆動手段
と、前記駆動手段により読取位置を移動させた場合に、
前記プラテンローラによる反射光の強さが最大となる位
置を検出する検出手段と、前記画像の読取位置を、前記
検出手段により検出された位置に設定する設定手段とを
具備することを特徴としている。

【０００６】請求項２に記載の発明にあっては、請求項
１に記載の発明において、前記検出手段は、前記プラテ
ンローラによる反射光の強さが均一であったときに、当
該均一範囲における中間位置を、反射光の強さが最大と
なる位置として検出することを特徴としている。請求項
３に記載の発明にあっては、請求項１に記載の発明にお
いて、前記検出手段は、副走査方向に対して左右対称と
なる２箇所において、それぞれ前記反射光の強さが最大
となる位置を検出し、前記設定手段は、前記画像の読取
位置を、これら２つの位置の中間位置に設定することを
特徴としている。請求項４に記載の発明にあっては、請
求項３に記載の発明において、前記設定手段は、前記２
つの位置で定まる範囲内に、設計により予め定められた
位置が含まれている場合、前記画像の読取位置を設計位
置に設定することを特徴としている。請求項５に記載の
発明によれば、請求項１に記載の発明において、前記検
出手段は、検出した位置での前記反射光の強さがしきい
値以下であるか否かを判断する判断手段を備え、しきい
値以下であると判断したならば、前記プラテンローラを
所定量だけ回転させて、再度、反射光の強さが最大とな
る位置を検出することを特徴としている。

【０００７】

【作用】請求項１に記載の発明によれば、駆動手段は、
画像の読取位置を副走査方向に移動させ、この際、検出
手段は、プラテンローラによる反射光の強さが最大とな
る位置を検出する。そして、設定手段は、実際に画像を
読み込む位置を、検出手段により検出された位置に設定
する。ここで、プラテンローラによる反射光の強さが最
大となる位置とは、プラテンローラと読取ガラスとが接
する部分である。この部分で原稿画像の読み取るため、
原稿の浮き上がりが生じない。

【０００８】請求項２に記載の発明によれば、プラテン
ローラが圧接されて、読取ガラスに押し潰された場合、
その接地面では反射光の強さが均一となるが、この場
合、検出手段は、当該均一範囲における中間位置を、反
射光の強さが最大となる位置とみなす。請求項３に記載
の発明によれば、検出手段は、副走査方向に対して左右
対称となる２箇所において、反射光の強さが最大となる
位置をそれぞれ検出し、設定手段は、２箇所に対応して
検出された位置の中間位置に、画像の読取位置を設定す
る。このため、プラテンローラの中心軸と主走査方向と
がねじれの位置にある場合であっても、主走査方向両端
における画像読取精度の低下を最小限に抑えることがで
き、結果的に、画像読取の精度は高く保たれる。請求項
４に記載の発明によれば、プラテンローラの中心軸と主
走査方向とのねじれが許容範囲であれば、設計により定
められた位置が画像読取の位置とされる。このため、請
求項３に記載の発明による設定を必要時のみに行なうこ
とができる。プラテンローラの周面が局所的に汚れ、そ
の部分の反射光強度が低下した場合、反射光の強さが最
大となる読取位置を正確に検出することができないおそ
れが生じるが、請求項５に記載の発明によれば、検出し
た位置での前記反射光の強さがしきい値以下であるなら
ば、プラテンローラが所定量だけ回転し、再度、反射光
の強さが最大となる位置が検出されるので、このような
おそれをなくすことができる。

【０００９】

【実施例】

１：実施例以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。１−１：実施例の機械的構成まずはじめに、この実施例の機械的構成について図１を
参照して説明する。図１は、この実施例の画像読取装置
１０の構成を示す側端面図である。この画像読取装置１
０において、ＡＤＦ１１を用いる場合、原稿トレイ１２
に載置された原稿１３は、ＡＤＦ１１により１枚ずつ送
り出され、所定の搬送経路を介し、プラテンローラ１４
および読取ガラス１５の間を通過して、排紙トレイ１６
に排出されるようになっている。

【００１０】次に、光源ユニット２０は、露光ランプ２
１と反射板２２とミラー２３とにより一体に構成され、
この図では図示しない駆動手段により左右方向に移動可
能となっている。一方、ミラー３１、３２、レンズ３３
およびＣＣＤ（ライン）センサ３４は、この画像読取装
置１０の本体に対し固定されている。そして、光源ユニ
ット２０は、プラテンローラ１４および読取ガラス１５
の間に位置する原稿を照射し、その際の反射光をミラー
２３により反射させる。そして、この反射光は、さらに
ミラー３１、３２により順次反射して、レンズ３３によ
り結像し、ＣＣＤセンサ３４により読み取られる。すな
わち、原稿１３がプラテンローラ１４の送りにより副走
査されて、ＣＣＤセンサ３４により読み取られるように
なっている。

【００１１】なお、この画像読取装置１０において、Ａ
ＤＦ１１を用いない場合、原稿１３は、ユーザによりコ
ンタクトガラス１７に載置される一方、光源ユニット２
０がコンタクトガラス１７下を左右に移動して当該原稿
を副走査し、これにより、ＣＣＤセンサ３４が画像を読
み取るようになっている。また、ＣＣＤセンサ３４はラ
イン型センサであるため、原稿の主走査は、このライン
方向、すなわち図１の紙面に対し垂直方向に行なわれ
る。

【００１２】ここで、プラテンローラ１４や光源ユニッ
ト２０近傍について図２を参照して説明する。光学ユニ
ット２０は、前述のように、露光ランプ２１および反射
板２２により図の上方を照射する。このとき、ミラー２
３以降の光学系により読み取られる読取線であって、図
の左右方向の座標を示す位置の読取線をＡとする。この
読取線Ａは、図２では点であるが、実際には、紙面に対
して直交する線である。次に、駆動手段４３は、ステッ
ピングモータ４３₁、プーリ４３₂、４３₃、およびベル
ト４３₄から構成され、制御手段４２による制御パルス
にしたがってステッピングモータ４３₁が駆動され、こ
れにより光学ユニット２０が左右に移動するようになっ
ている。また、符号４４は位置センサであり、光学ユニ
ット２０による読取線Ａがコンタクトガラス１７の左端
位置Ｎに到達したことを検出する。なお、説明の便宜
上、読取ガラス１５の左端位置をＬ、右端位置をＭと
し、また、プラテンローラ１４の周面と読取ガラス１５
の表面とが接触することにより得られる接触線をＢとす
る。

【００１３】１−２：実施例の電気的構成次に、実施例の電気的構成について図３を参照して説明
する。図３は、この実施例の構成を示すブロック図であ
る。この図において、ピーク検出手段４１は、後述する
ように、ＣＣＤセンサ３４における特定の画素に着目
し、光学ユニット２０が読取ガラス１５の下を移動した
場合、当該画素の出力が最大となる読取線Ａの位置を検
出するものである。このため、ピーク検出手段４１は、
データを一時的に記憶するためＲＡＭ等を有する。制御
ユニット４２は、位置センサ４４の検出信号を入力する
とともに、ピーク検出手段４１の動作や、ＣＣＤセンサ
３４による読取動作、駆動手段４３の駆動動作などを制
御するものである。

【００１４】１−３：実施例の動作次に、上述した実施例の動作について図３を参照して説
明する。図３は、この実施例における調整モードの動作
を示すフローチャートである。この実施例は、例えば、
電源オン直後などのように、ＡＤＦ１１を用いる場合で
あって、プラテンローラ１４および光学ユニット２０に
位置関係を校正すべき場合に、所定の命令により調整モ
ードに移行する（ステップＳａ１）。なお、この際、原
稿１３は、原稿トレイ１２には載置されておらず、ま
た、載置されていても、プラテンローラ１４へは送出さ
れないようになっている。この後、ステップＳａ２にお
いて、制御手段４２は、読取線Ａが位置Ｍに到達するよ
うに光学ユニット２０を移動させる。具体的には、制御
手段４２は、位置センサ４４が光学ユニット２０を検知
した時点から、図２において左方向に、位置Ｎおよび位
置Ｍ間の距離だけ移動させる。

【００１５】次に、ステップＳａ３において、制御手段
４２は、光学ユニット２０を、位置Ｍから位置Ｌの方
向、すなわち図２において左方向に光学ユニット２０を
１ステップだけ移動させるべく駆動手段４３に制御パル
スを１つ供給する。これを受けて、ピーク検出手段４１
は、ステップＳａ４において、移動後のＣＣＤセンサ３
４における特定の画素、この実施例では、中央の画素の
出力に着目し、この画素に対応するデータを読み込み、
この読み込んだデータを、ステップＳａ５においてＲＡ
Ｍ（１）に記憶する。ここでは、原稿１３が送出されて
いないから、ＣＣＤセンサ３４は、読取線Ａにおけるプ
ラテンローラ１４の反射光の強さを示すデータを読み込
んで記憶することとなる。

【００１６】一方、ピーク検出手段４１は、ステップＳ
ａ６において、ＲＡＭ（１）に記憶したデータがＲＡＭ
（２）において記憶したデータよりも大であるか否かを
判別する。ここで、ＲＡＭ（２）には、前回以前のデー
タ、詳細には光学ユニット２０の１ステップ移動以前に
おいて、プラテンローラ１４の反射光が最も大きいデー
タが記憶されているので（後述するステップＳａ７参
照）、結局、ステップＳａ６では、現時点で読み込んだ
ＣＣＤセンサ３４の出力データが、過去の出力データの
最大値よりも大きいか否かが判別されることとなる。な
お、はじめて、このステップＳａ６が実行される場合に
は、ＲＡＭ（２）には何もデータが記憶されていないの
で、無条件にステップＳｂ７にスキップするものとす
る。

【００１７】そして、大きくないと判別されれば、ステ
ップＳａ９に処理がスキップする一方、大きいとと判別
されれば、次のステップＳａ７において、ピーク検出手
段４１は、今回読み込んだデータを次回の判別において
用いるべく、ＲＡＭ（１）のデータをＲＡＭ（２）にセ
ットし、ステップＳａ８において、現時点における光学
ユニット２０の位置を記憶する。ここで、ピーク検出手
段４１は、光学ユニット２０の位置を、例えば次のよう
にして記憶する。すなわち、ピーク検出手段４１は、制
御手段４２がステップＳａ３の処理を実行するごとに、
カウンタを「１」ずつインクリメントしておき、ステッ
プＳａ８では、このカウンタの内容を記憶すれば良い。
このカウンタの内容が、現時点における光学ユニット２
０の読取線Ａが位置Ｍから位置Ｌ方向へ何ステップだけ
移動させた地点であるかを示すことになるからである。

【００１８】次に、ステップＳａ６における判別結果が
「Ｎｏ」である場合、あるいはステップＳａ８の処理が
終了すると、制御手段４１は、ステップＳａ９におい
て、位置Ｍから位置Ｌまでの範囲を、光学ユニット２０
の読取線Ａが移動したかを判別する。制御手段４２は、
「Ｎｏ」と判別すれば、当該範囲のすべてにわたって同
じ処理をくり返し実行すべく、ステップＳａ３にスキッ
プする一方、「Ｙｅｓ」と判別すれば、この調整モード
を終了する。そして、ＡＤＦ１１を用いた原稿読み取り
を行なう場合に、制御手段４２は、ステップＳａ８にお
いて記憶された位置に、光学ユニット２０を移動させ
て、この位置において、供給された原稿１３の読み込み
を行なわように設定を行なう。

【００１９】１−４：実施例の具体的動作次に、図４に示した調整モードの処理が実行される結
果、実施例が具体的にどのような動作をするかについて
説明する。まず、この実施例が調整モードに移行する
と、ステップＳａ２において、光学ユニット２０の読取
線Ａが位置Ｍまで移動する。そして、ステップＳａ３〜
Ｓａ９のループ処理により、読取線Ａが位置Ｍから位置
Ｌまで１ステップ毎に移動するとともに（ステップＳａ
３）、移動毎にＣＣＤセンサ３４のデータ、すなわち読
取線Ａにおいてプラテンローラ１４によって反射される
光の強さを示すデータが読み込まれ（ステップＳａ
４）、このデータがＲＡＭ（１）に記憶される。ここ
で、読取線Ａが位置Ｍから位置Ｂまでの範囲に位置する
ならば、１ステップだけ移動する毎に反射光が強くなる
から、ステップＳａ６の判別により処理はステップＳａ
７に分岐する。そして、この分岐は、読取線Ａが位置Ｂ
に達するまで行なわれ、その際において光学ユニット２
０の読取線Ａの位置が書き換えられる。

【００２０】次に、読取線Ａが位置Ｂを過ぎると、その
地点での反射光は、位置Ｂにおける反射光よりも弱くな
るから、ステップＳａ６の判別により処理はステップＳ
ａ９にスキップする。このため、位置Ｂを示すデータ
は、ステップＳａ９にスキップする直前に実行されたス
テップＳａ８において記憶されることとなる。以降、読
取線Ａが位置Ｌまでの範囲において、１ステップだけ移
動する毎に反射光が弱くなって、ステップＳａ９へのス
キップが維持される結果、位置Ｂが、先のステップＳａ
８において記憶されることとなる。ここで、反射光が最
も強くなる位置Ｂとは、プラテンローラ１４と読取ガラ
ス１５との距離が最も短い地点、すなわち接している地
点である。したがって、ＡＤＦ１１を用いた原稿１３の
読み取りは、原稿１３がプラテンローラ１４により読取
ガラス１５に密着した地点Ｂにおいて常に実行されるこ
ととなるので、ＡＤＦ１１の取付精度に拘わらず原稿１
３が浮き上がらず、高解像度の原稿読取を行なうことが
可能となる。

【００２１】なお、上述した実施例において、説明のた
め、ＣＣＤセンサ３４において中心画素に着目し、この
画素により読み込まれた反射光の強さにより読取位置Ｂ
を求めたが、着目する画素は、これにとらわれない。例
えば、複数の画素に着目し、これら画素により求められ
た反射光の強さの平均値により求めても良い。また、全
画素に着目しても良い。

【００２２】２：実施例の改良次に、実施例の改良例について説明する。２−１：第１の改良例上述した実施例における説明では、プラテンローラ１４
が読取ガラス１５に対し地点Ｂにおいて理想的に接して
いることを前提としていた。しかし、プラテンローラ１
４は、原稿１３を副走査するべく正確に送る必要がある
ため、その周面がゴム等の弾性体に成形され、さらに、
ある程度の力をもって読取ガラス１５に圧接される。こ
のため、図５に示すように、プラテンローラ１４は、読
取ガラス１５に対して、ある程度押し潰れることにな
る。

【００２３】ここで、図５において、押し潰れたプラテ
ンローラの右端の位置をＢ−とし、左端の位置をＢ＋と
すると、光学ユニット１０の読取線Ａが位置Ｂ−から位
置Ｂ＋までの範囲を移動しても、その範囲での反射光の
強さは均等になるはずである。このため、上述した実施
例では、位置Ｂ−が、反射光の最大強度位置と設定され
る。もっとも、この位置Ｂ−でも、原稿１３は読取ガラ
ス１５に密着するので、高解像度の原稿読取を行なうこ
とが可能ではあるが、なんらかの原因（例えば圧接力の
不均一など）により、位置Ｂ−が副走査中に左方に移動
してしまうと、原稿が浮き上がって読取の解像度が低下
する可能性がある。かかる状況を鑑みれば、位置Ｂ−お
よび位置Ｂ＋の中心、すなわち位置Ｂにおいて原稿１３
を読み込むのが望ましい。そこで、かかる状態において
も、位置Ｂを原稿の読取位置と設定する第１の改良例に
ついて説明する。

【００２４】この第１の改良例は、構成的には実施例と
同一であるが、調整モードでの処理が図６に示すように
なる。なお、ステップＳａ１〜Ｓａ５は、図４に示した
ものと同一であるので、その処理にかかる説明を省略す
る。

【００２５】この改良例におけるピーク検出手段４１
は、ステップＳｂ６において、ＲＡＭ（１）に記憶した
データとＲＡＭ（２）において記憶したデータとの大小
関係を判別する。ここで、ＲＡＭ（２）には前回以前の
データ、詳細には光学ユニット２０の１ステップ移動以
前におけるプラテンローラ１４の反射光の大きさが最も
大きいデータが記憶されている点（後述するステップＳ
ｂ７参照）では、実施例と同様である。すなわち、ステ
ップＳａ６では、現時点で読み込んだＣＣＤセンサ３４
の出力データが、過去の出力データの最大値に比べて大
きいか、等しいか、あるいは小さいかが判別されること
となる。

【００２６】まず、光学ユニット２０の読取線Ａが、プ
ラテンローラ１４の位置Ｂ−の手前である場合について
考える。この場合、プラテンローラ１４の反射光は、１
ステップ毎の左方の移動により、次第に強くなるので、
現時点における反射光は、前回のそれよりも強い。した
がって、ステップＳｂ６での判別結果は過去の出力デー
タの最大値に比べて大きいとされるので、ステップＳｂ
７に分岐することになる。このため、ピーク検出手段４
１は、ステップＳａ７において、今回読み取ったデータ
を次回の判別において用いるべく、ＲＡＭ（１）のデー
タをＲＡＭ（２）にセットするとともに、ステップＳａ
８において、現時点における光学ユニット２０の位置を
新たに設けたＲＡＭ（３）に記憶し、さらにステップＳ
ａ９において、新たに設けたＲＡＭ（５）に「０」をセ
ットする。

【００２７】次に、光学ユニット２０の移動が進んで、
その読取線Ａがプラテンローラ１４の位置Ｂ−からＢ＋
の範囲に至った場合、当該範囲におけるプラテンローラ
１４の反射光は均等であるから、現時点における反射光
は、前回のそれと同じになる。したがって、ステップＳ
ｂ６での判別結果は過去の出力データの最大値と同じと
されるので、ステップＳｂ１０に分岐することになる。
また、プラテンローラ１４の位置Ｂ−は、ステップＳｂ
８によりＲＡＭ（３）にセットされているはずである。
なぜならば、光学ユニット２０の読取線Ａが左方への１
ステップずつ移動するのに際し、位置Ｂ−の手前までは
ステップＳｂ７〜Ｓｂ９がくり返し実行される一方、位
置Ｂ−に至るとステップＳｂ１０に分岐するためであ
る。すなわち、位置Ｂ−を示すデータは、ステップＳｂ
８において当該分岐直前まで書き換えられるが、ステッ
プＳｂ１０への分岐以後では書き換えられないためであ
る。

【００２８】ピーク検出手段４１は、ステップＳｂ１０
において、とりあえず現時点における光学ユニット２０
の読取線Ａの位置を示すデータを、新たなに設けたＲＡ
Ｍ（４）に格納し、次のステップＳｂ１１において、Ｒ
ＡＭ（３）で定められる位置とＲＡＭ（４）で定められ
る位置との中心（中間）位置を求め、この中心位置を示
すデータをＲＡＭ（５）に格納する。このとき、ＲＡＭ
（３）には位置Ｂ−がセットされているはずであるか
ら、ステップＳｂ１１におけるＲＡＭ（５）には、現時
点における光学ユニット２０の読取線Ａの位置と、位置
Ｂ−との中間位置がセットされることになる。

【００２９】さらに、光学ユニット２０の移動が進ん
で、その読取線Ａがプラテンローラ１４の位置Ｂ＋より
も左方に至った場合、当該範囲におけるプラテンローラ
１４の反射光は、次第に弱くなるので、現時点における
反射光は、前回のそれよりも弱い。したがって、ステッ
プＳｂ６での判別結果は過去の出力データの最大値に比
べて小さいとされるので、ステップＳｂ１２に直接スキ
ップすることになる。また、プラテンローラ１４の位置
Ｂ＋は、ステップＳｂ１０によりＲＡＭ（４）にセット
され、また、位置Ｂ−および位置Ｂ＋の中間位置たる位
置Ｂは、ステップＳｂ１１によりＲＡＭ（５）にセット
されているはずである。なぜならば、光学ユニット２０
の読取線Ａが左方への１ステップずつ移動するのに際
し、位置Ｂ＋の手前まではステップＳｂ１０〜Ｓｂ１１
がくり返し実行される一方、位置Ｂ＋からはステップＳ
ｂ１２にスキップするためである。すなわち、位置Ｂ＋
を示すデータは、ステップＳｂ１２において当該スキッ
プ直前まで書き換えられるが、ステップＳｂ１２へのス
キップ以後、書き換えられないためである。

【００３０】そして、光学ユニットの読取線Ａが位置Ｍ
から位置Ｌまで移動し、その際の１ステップの移動毎
に、ステップＳａ３〜ステップＳａ５およびステップＳ
ｂ６〜Ｓｂ１１までの処理がくり返し実行されると、ス
テップＳｂ１２の判別結果が「Ｙｅｓ」となって、さら
にステップＳａＢ１３において、ピーク検出手段４１
は、ＲＡＭ（５）にセットされているデータが「０」で
あるか否かを判別する。

【００３１】ここで、ＲＡＭ（５）に「０」がセットさ
れている場合とは、ステップＳｂ６における分岐が、ス
テップＳｂ７から、ステップＳｂ１０を経ることなく、
直接ステップＳｂ１２に変更された場合である。すなわ
ち、プラテンローラ１４が実施例のように、ほぼ理想的
に読取ガラス１５に接している場合である。この場合、
位置Ｂ＋から位置Ｂ−までの範囲は極めて狭いため、１
ステップの移動に際し、反射光の強さが同じになること
がなく、ステップＳｂ１０を経ることがないのである。
この場合には、ステップＳｂ８でＲＡＭ（３）にセット
されたデータが位置Ｂそのものを示すことになるから、
ステップＳｂ１４において、ＡＤＦ１１を用いるときの
読取位置がＲＡＭ（３）に格納されたデータにしたがっ
てセットされるのである。

【００３２】また、ＲＡＭ（５）に「０」がセットされ
ていない場合とは、ステップＳｂ６における分岐が、ス
テップＳｂ７から、ステップＳｂ１０へ、そして、ステ
ップＳｂ１２に変更された場合である。すなわち、プラ
テンローラ１４が図５に示すように押し潰れた場合であ
って、位置Ｂ＋から位置Ｂ−までの範囲では、１ステッ
プの移動に際し、反射光の強さが同じになる場合であ
る。この場合には、ステップＳｂ１１でＲＡＭ（５）に
セットされたデータが位置Ｂそのものを示すことになる
から、ステップＳｂ１５において、ＡＤＦ１１を用いる
ときの読取位置がＲＡＭ（５）に格納されたデータにし
たがってセットされるのである。

【００３３】このように、かかる改良例によれば、ＡＤ
Ｆ１１を用いるときの読取位置は、プラテンローラ１４
がほぼ理想的に読取ガラス１５に接しているときは、そ
の接線位置となる地点（位置Ｂ）となる一方（ステップ
Ｓｂ１５）、プラテンローラ１４が押し潰れているとき
でも、その押し潰された中間（位置Ｂ）となる（ステッ
プＳｂ１４）。したがって、この改良例では、プラテン
ローラ１４が押し潰れて読取ガラス１５に接していると
きであっても、ＡＤＦ１１の取付精度に拘わらず原稿１
３が浮き上がらずに、高解像度の原稿読取を行なうこと
が可能となる。

【００３４】２−２：第２の改良例上述した実施例および第１の改良例では、プラテンロー
ラ１４の中心軸と、読取線ＡすなわちＣＣＤセンサ３４
の主走査方向とは、平行であることを前提として説明し
た。しかし、ＡＤＦ１１は、一般にコンタクトガラス１
７に対して開閉する構造であり、また、製品的にはオプ
ションとして設定される場合が多いので、その取付状態
によっては、プラテンローラ１４の中心軸とＣＣＤセン
サ３４の主走査方向とが、ねじれの位置となることが多
々ある。この場合、上述した実施例および第１改良例で
は、ＣＣＤセンサ３４のうち着目している画素を基礎と
して読取位置が決定されてしまうので、当該画素近傍で
の読取精度は確かに向上するが、主走査方向全体での、
特にその両端部での読取精度が低下してしまう可能性が
高い。そこで、かかる状態においても、高精度に原稿読
取を行なうことが可能な第２改良例について説明する。

【００３５】この改良例は、構成および動作的には、前
述した実施例および第１の改良例と同一であるが、１ス
テップ毎の移動に際し、ＣＣＤ３４から読み込むデータ
に対応する画素を、副走査方向に対して左右対称となる
２箇所の画素、例えば、主走査方向の両端に位置する２
つの画素とする（ステップＳａ４）。そして、この２つ
の画素のそれぞれについて、反射光が最大となる位置Ｂ
（ステップＳａ８、Ｓｂ１５）、あるいは反射光が最大
となる範囲の中心位置Ｂ（ステップＳｂ１４）を求める
とともに、ＡＤＦ１１を用いた場合における光学ユニッ
ト２０の読取位置（読取線Ａ）を、両端の画素に対応し
てそれぞれ求めた位置Ｂの中間位置に設定する。

【００３６】かかる第２改良例について、図７（ａ）を
参照して説明する。ここでは、同図に示すように、読取
ガラス１５を真上から見た場合に、プラテンローラ１４
の中心軸がねじれて、読取ガラス１５との接線たる位置
Ｂが傾いているときを考えると、この改良例では、光学
ユニット２０の読取線Ａは、位置Ｍから位置Ｌまで１ス
テップ毎に移動し、この際、両端に位置する画素のデー
タが読み込まれる。ここで、ＣＣＤセンサ３４におい
て、移動（副走査）方向の左側端部（図７（ａ）では下
方）に位置する画素を３４_Lとし、同右側端部（図７
（ａ）では上方）に位置する画素を３４_Rとすると、画
素３４_L、３４_Rによりそれぞれ読み込まれる反射光の強
さは、図７（ｂ）に示すように、ねじれにより、それぞ
れ位置Ｂ₁、Ｂ₃において最大となる。が、この改良例で
は、当該位置Ｂ₁、Ｂ₃の中間である位置Ｂ₂が、ＡＤＦ
１１の使用時における読取位置に設定される。このた
め、プラテンローラ１４の傾きにより読取精度は多少低
下するものの、読取線Ａが線分Ｂにかかる範囲の中間位
置で読取が行なわれることになるので、その精度低下を
最小減にくい止めることが可能となる。なお、図７
（ｂ）に示した読取位置に対する光の強度は、本来なら
ば読取位置が１ステップ毎の移動となるため離散値とな
るが、説明簡略化のため連続値としている。

【００３７】また、この改良例において、位置Ｂ₁およ
びＢ₃で定まる範囲に、設計により予め定められた接線
位置Ｂが含まれる場合には、この接線位置ＢをＡＤＦ１
１の使用時の原稿読取位置としても良い。これにより、
かかる第３改良例の動作を、プラテンローラ１４の中心
軸が極端にズレている場合のみ行ない、必要時以外には
行なわないで済む構成とすることができる。

【００３８】２−３：第３の改良例次に、実施例の第３の改良例について説明する。前述し
た実施例や改良例では、調整モードにおいてプラテンロ
ーラ１４を回転させないで、その反射光の強さを読み込
むようにしていた。しかし、プラテンローラ１４は、使
い込むにつれて原稿のインクやトナー等が付着し局所的
に汚れる場合が多々ある。このため、反射光が弱くな
り、読取位置Ｂを正確に求めることができなくなるおそ
れが生じる。そこで、この改良例は、図４または図６の
調整モードにより、読取位置Ｂを求めるとともに、この
際の反射光の強さがしきい値以下であれば、プラテンロ
ーラ１４を所定量だけ、例えば、半回転などのように局
所的な汚れの影響を受けにくくなる程度だけ回転させ
て、再度、調整モードを実行して読取位置Ｂを求める構
成とした。かかる構成により、プラテンローラ１４の周
面における汚れに依存することなく、ＡＤＦ１１使用時
の読取位置Ｂを求めることができる結果、より高精度な
画像読取を行なうことが可能となる。

【００３９】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、次のような効果がある。プラテンローラと読取ガラ
スとが接する部分において、原稿の画像が読み込みが行
なわれるので、プラテンローラの取付精度に拘わらず、
画像読取を極めて高精度に行なうことが可能となる。ま
た、機械的な付加構成は必要としないで済む（請求項
１）。プラテンローラが圧接されて、読取ガラスに対し
押しつぶされた場合であっても、画像読取を極めて高精
度に行なうことが可能となる（請求項２）。プラテンロ
ーラの中心軸と主走査方向とがねじれの位置にある場合
であっても、主走査方向両端における画像読取精度の低
下を最小限に抑えることができ、結果的に、画像読取の
精度は高く保たれる（請求項３）。請求項３に記載の発
明による設定を必要時のみに行なうことができので、原
稿読取に直接寄与しない動作を最小限にすることが可能
となる（請求項４）。プラテンローラの周面が局所的に
汚れ、その部分の反射光の強度が低下して場合、反射光
の強さが最大となる読取位置を正確に検出することがで
きないというおそれをなくすることが可能となる（請求
項５）。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明による実施例の要部構成を示す側端
面図である。

【図２】同実施例における読取ガラス近傍の構成を示
す側端面図である。

【図３】同実施例における電気的構成を示すブロック
図である。

【図４】同実施例における調整モードの動作を示すフ
ローチャートである。

【図５】同実施例の第１改良例を説明するための図で
ある。

【図６】同改良例における調整モードの動作を示すフ
ローチャートである。

【図７】第２改良例の効果を説明するための図であ
る。

【符号の説明】

１１……ＡＤＦ、１３……原稿、１４……プラテンロー
ラ、１５……読取ガラス、４１……ピーク検出手段（検
出手段）、４２……制御手段（設定手段、判別手段）、
４３……駆動手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】プラテンローラにより押し付けられた読
取ガラス上の原稿を照射する一方、前記プラテンローラ
により送ることで前記原稿に記載される画像を主走査す
るとともに、送り方向に副走査することにより、前記画
像を読み取る画像読取装置において、前記画像を読み取る前にあたって、前記画像の読取位置
を副走査方向に移動させるための駆動手段と、前記駆動手段により読取位置を移動させた場合に、前記
プラテンローラによる反射光の強さが最大となる位置を
検出する検出手段と、前記画像の読取位置を、前記検出手段により検出された
位置に設定する設定手段とを具備することを特徴とする
画像読取装置。
【請求項２】前記検出手段は、前記プラテンローラに
よる反射光の強さが均一であったときに、当該均一範囲
における中間位置を、反射光の強さが最大となる位置と
して検出することを特徴とする請求項１記載の画像読取
装置。
【請求項３】前記検出手段は、副走査方向に対して左
右対称となる２箇所において、それぞれ前記反射光の強
さが最大となる位置を検出し、前記設定手段は、前記画像の読取位置を、これら２つの
位置の中間位置に設定することを特徴とする請求項１記
載の画像読取装置。
【請求項４】前記設定手段は、前記２つの位置で定ま
る範囲内に、設計により予め定められた位置が含まれて
いる場合、前記画像の読取位置を設計位置に設定するこ
とを特徴とする請求項３記載の画像読取装置。
【請求項５】前記検出手段は、検出した位置での前記
反射光の強さがしきい値以下であるか否かを判断する判
断手段を備え、しきい値以下であると判断したならば、
前記プラテンローラを所定量だけ回転させて、再度、反
射光の強さが最大となる位置を検出することを特徴とす
る請求項１記載の画像読取装置。