JPH0820834A - ディスク用アルミニウム合金 - Google Patents
ディスク用アルミニウム合金Info
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- JPH0820834A JPH0820834A JP15507794A JP15507794A JPH0820834A JP H0820834 A JPH0820834 A JP H0820834A JP 15507794 A JP15507794 A JP 15507794A JP 15507794 A JP15507794 A JP 15507794A JP H0820834 A JPH0820834 A JP H0820834A
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- aluminum alloy
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- disk
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 メッキ時のメッキ欠陥が少なく、強度が高
く、ディスク用基盤のより一層の薄肉化が可能なディス
ク用アルミニウム合金を提供する。 【構成】 ディスク用アルミニウム合金は、10乃至3
0重量%のZnを含有し、残部がアルミニウム及び不可
避的不純物からなり、この不可避的不純物のうちのFe
含有量が0.2重量%以下に規制されている。なお、前
記Znに加えて、更に0.02乃至0.2重量%のCu
及び0.05乃至0.5重量%のMnを含有していても
よい。
く、ディスク用基盤のより一層の薄肉化が可能なディス
ク用アルミニウム合金を提供する。 【構成】 ディスク用アルミニウム合金は、10乃至3
0重量%のZnを含有し、残部がアルミニウム及び不可
避的不純物からなり、この不可避的不純物のうちのFe
含有量が0.2重量%以下に規制されている。なお、前
記Znに加えて、更に0.02乃至0.2重量%のCu
及び0.05乃至0.5重量%のMnを含有していても
よい。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ノートブック型及びパ
ームトップ型等の小型コンピュータに搭載するハードデ
ィスクに使用するのに好適のディスク用アルミニウム合
金に関する。
ームトップ型等の小型コンピュータに搭載するハードデ
ィスクに使用するのに好適のディスク用アルミニウム合
金に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、コンピュータ等の記録媒体とし
て使用される磁気ディスク等の基盤材としてはAl−M
g合金(JIS5000系合金)が使用されている。こ
れは、5000系のアルミニウム合金は、ディスク基盤
用材料として必要な特性、即ち、軽量であること、非磁
性であること、高速の回転に耐え得る剛性を有するこ
と、精密加工が可能であること及び研磨により良好な表
面精度が容易に得られること等の点で優れているためで
ある。
て使用される磁気ディスク等の基盤材としてはAl−M
g合金(JIS5000系合金)が使用されている。こ
れは、5000系のアルミニウム合金は、ディスク基盤
用材料として必要な特性、即ち、軽量であること、非磁
性であること、高速の回転に耐え得る剛性を有するこ
と、精密加工が可能であること及び研磨により良好な表
面精度が容易に得られること等の点で優れているためで
ある。
【0003】以下に、アルミニウム合金基盤を使用した
ディスクの製造方法を説明する。先ず、アルミニウムを
溶解し、このアルミニウム溶湯中にMgを3〜6重量%
程度添加し、更にCu、Zn及びMn等を微量添加す
る。Mgは強度を得るために添加し、Cu及びZnは後
工程で行うNi−Pメッキ時にメッキ欠陥を防止するた
めに添加する。また、Mnは、メッキ欠陥の防止のため
ばかりでなく、強度向上のためにも添加する。
ディスクの製造方法を説明する。先ず、アルミニウムを
溶解し、このアルミニウム溶湯中にMgを3〜6重量%
程度添加し、更にCu、Zn及びMn等を微量添加す
る。Mgは強度を得るために添加し、Cu及びZnは後
工程で行うNi−Pメッキ時にメッキ欠陥を防止するた
めに添加する。また、Mnは、メッキ欠陥の防止のため
ばかりでなく、強度向上のためにも添加する。
【0004】次に、この溶湯を鋳造してアルミニウム合
金鋳塊を得る。そして、この鋳塊に対し、鋳造時の歪み
を除去して圧延可能な状態とすると共に、後工程で実施
するNi−Pメッキ時にメッキ欠陥が生じる原因となる
金属間化合物及び晶出物を微細化するために、均熱処理
を施す。なお、5000系合金では、金属間化合物とし
て、Al−Fe系、Al(Mn,Fe)系及びMg−S
i系等の金属間化合物がある。これらの金属間化合物の
うち、Al−Fe系及びAl(Mn,Fe)系金属間化
合物は、Feが殆どAl中に固溶しないため、前述の均
熱処理ではAl中に固溶させることができない。一方、
Mg−Si系晶出物においては、前述の均熱処理によ
り、Si及びMgはいずれもAl中に固溶し、低減す
る。
金鋳塊を得る。そして、この鋳塊に対し、鋳造時の歪み
を除去して圧延可能な状態とすると共に、後工程で実施
するNi−Pメッキ時にメッキ欠陥が生じる原因となる
金属間化合物及び晶出物を微細化するために、均熱処理
を施す。なお、5000系合金では、金属間化合物とし
て、Al−Fe系、Al(Mn,Fe)系及びMg−S
i系等の金属間化合物がある。これらの金属間化合物の
うち、Al−Fe系及びAl(Mn,Fe)系金属間化
合物は、Feが殆どAl中に固溶しないため、前述の均
熱処理ではAl中に固溶させることができない。一方、
Mg−Si系晶出物においては、前述の均熱処理によ
り、Si及びMgはいずれもAl中に固溶し、低減す
る。
【0005】次に、均熱処理したアルミニウム合金鋳塊
を熱間圧延する。この熱間圧延工程においては、例えば
開始温度が450〜550℃であっても、圧延終了時に
は100〜400℃になる。圧延終了時の温度が低い
と、Al中へのSiの固溶量が極めて少なくなり、Mg
−Si系金属間化合物が析出する。このため、高温で熱
間圧延を実施して、Mg−Si系金属間化合物が析出す
ることを防止する必要がある。
を熱間圧延する。この熱間圧延工程においては、例えば
開始温度が450〜550℃であっても、圧延終了時に
は100〜400℃になる。圧延終了時の温度が低い
と、Al中へのSiの固溶量が極めて少なくなり、Mg
−Si系金属間化合物が析出する。このため、高温で熱
間圧延を実施して、Mg−Si系金属間化合物が析出す
ることを防止する必要がある。
【0006】次に、熱間圧延材を所定の厚さに冷間圧延
しアルミニウム合金圧延板を得て、このアルミニウム合
金圧延板を巻き取り、アルミニウム合金コイルを作製す
る。
しアルミニウム合金圧延板を得て、このアルミニウム合
金圧延板を巻き取り、アルミニウム合金コイルを作製す
る。
【0007】その後、打ち抜き工程において、アルミニ
ウム合金コイルから巻き解いた圧延板を円盤状のディス
ク形状に打ち抜く。次に、このディスクに対しその厚さ
方向に圧力を印加しつつ熱処理を施す。この熱処理によ
り、ディスクのフラットネスを例えば5μm程度にす
る。次いで、このディスク表面を研磨又は切削して、表
面の酸化物等を除去することにより、表面精度及び粗度
を更に改善する。この研磨又は切削工程により、ディス
クはディスクサブストレートとなる。
ウム合金コイルから巻き解いた圧延板を円盤状のディス
ク形状に打ち抜く。次に、このディスクに対しその厚さ
方向に圧力を印加しつつ熱処理を施す。この熱処理によ
り、ディスクのフラットネスを例えば5μm程度にす
る。次いで、このディスク表面を研磨又は切削して、表
面の酸化物等を除去することにより、表面精度及び粗度
を更に改善する。この研磨又は切削工程により、ディス
クはディスクサブストレートとなる。
【0008】このアルミニウムディスクサブストレート
をそのまま磁気ディスクとして使用すると、基盤の表面
硬度が低いため、磁気記録用ヘッドが基盤に衝突した場
合に、基盤に孔があいてエラーになってしまう。従っ
て、基盤表面にNi−Pメッキを施し、その表面を硬化
させる必要がある。以下、Ni−Pメッキ工程について
説明する。メッキ工程においては、基盤に対し、通常脱
脂、酸洗浄及びHNO3処理を順次施す。これらの工程
は、前処理工程と呼ばれ、アルミニウム合金基盤表面に
存在する油等を除去すると共に、アルミニウム合金基盤
表面の酸化物等を除去することが目的である。そして、
通常、アルミニウム合金基盤の表面に直接Ni−Pメッ
キ膜を形成することができないため、アルミニウム合金
基盤表面を一旦Znで置換するジンケート処理を施し、
その後基盤表面にNi−Pメッキを施す。この場合に、
基盤表面のメッキ膜にピット(孔)及びノジュール(突
起)と呼ばれるメッキ欠陥が生じることがある。これら
の欠陥のサイズは、数μm〜30μm程度である。
をそのまま磁気ディスクとして使用すると、基盤の表面
硬度が低いため、磁気記録用ヘッドが基盤に衝突した場
合に、基盤に孔があいてエラーになってしまう。従っ
て、基盤表面にNi−Pメッキを施し、その表面を硬化
させる必要がある。以下、Ni−Pメッキ工程について
説明する。メッキ工程においては、基盤に対し、通常脱
脂、酸洗浄及びHNO3処理を順次施す。これらの工程
は、前処理工程と呼ばれ、アルミニウム合金基盤表面に
存在する油等を除去すると共に、アルミニウム合金基盤
表面の酸化物等を除去することが目的である。そして、
通常、アルミニウム合金基盤の表面に直接Ni−Pメッ
キ膜を形成することができないため、アルミニウム合金
基盤表面を一旦Znで置換するジンケート処理を施し、
その後基盤表面にNi−Pメッキを施す。この場合に、
基盤表面のメッキ膜にピット(孔)及びノジュール(突
起)と呼ばれるメッキ欠陥が生じることがある。これら
の欠陥のサイズは、数μm〜30μm程度である。
【0009】これらの欠陥が生じる原因の一つはアルミ
ニウム合金基盤中の金属間化合物にある。これらの金属
間化合物はAlと電位が異なるため、例えば、Mg−S
i系金属間化合物、Al(Mn,Fe)系金属間化合物
及び小さいAl−Fe系金属間化合物の場合は、これら
の金属間化合物がメッキ前処理工程中に溶解又は脱落
し、アルミニウム合金基盤にピットが形成される。これ
らのアルミニウム合金基盤のピットはNi−Pメッキ膜
のノジュール(突起)又は浅いメッキピットの原因にな
る。また、例えば直径が10μmという大きいAl−F
e系金属間化合物は、メッキ時まで基盤表面に残留す
る。これらの金属間化合物にはジンケートが付着しにく
いため、メッキ膜が付着せずメッキピットが発生する。
ニウム合金基盤中の金属間化合物にある。これらの金属
間化合物はAlと電位が異なるため、例えば、Mg−S
i系金属間化合物、Al(Mn,Fe)系金属間化合物
及び小さいAl−Fe系金属間化合物の場合は、これら
の金属間化合物がメッキ前処理工程中に溶解又は脱落
し、アルミニウム合金基盤にピットが形成される。これ
らのアルミニウム合金基盤のピットはNi−Pメッキ膜
のノジュール(突起)又は浅いメッキピットの原因にな
る。また、例えば直径が10μmという大きいAl−F
e系金属間化合物は、メッキ時まで基盤表面に残留す
る。これらの金属間化合物にはジンケートが付着しにく
いため、メッキ膜が付着せずメッキピットが発生する。
【0010】メッキ欠陥が生じるもう一つの原因はジン
ケートの厚さが均一でないことによる。例えば、ジンケ
ートが厚く付着した部分が生じると、その部分ではメッ
キが過剰に付着してしまうため、ノジュール又は島状の
突起となる。このため、これらのメッキ欠陥を防止する
ために、前述の如く、Al合金にCu、Zn及びMn等
を適正量添加し、ジンケートが一様に付着するようにし
ている。
ケートの厚さが均一でないことによる。例えば、ジンケ
ートが厚く付着した部分が生じると、その部分ではメッ
キが過剰に付着してしまうため、ノジュール又は島状の
突起となる。このため、これらのメッキ欠陥を防止する
ために、前述の如く、Al合金にCu、Zn及びMn等
を適正量添加し、ジンケートが一様に付着するようにし
ている。
【0011】次いで、Ni−Pメッキした基盤に対し、
メッキ面の平滑性を向上させると共に、メッキ欠陥を除
去するために、Ni−Pメッキ膜の表面を研磨する。そ
の後、必要に応じて、磁気ヘッドの基盤への吸着を防止
するためにテクスチャ処理を施し、基盤表面を粗面化す
る。その後、基盤表面に磁性膜を塗布する。これによ
り、磁気ディスクが完成する。
メッキ面の平滑性を向上させると共に、メッキ欠陥を除
去するために、Ni−Pメッキ膜の表面を研磨する。そ
の後、必要に応じて、磁気ヘッドの基盤への吸着を防止
するためにテクスチャ処理を施し、基盤表面を粗面化す
る。その後、基盤表面に磁性膜を塗布する。これによ
り、磁気ディスクが完成する。
【0012】ところで、近年、磁気ディスクに使用され
るアルミニウム合金基盤には、高強度化が求められてい
る。これは、近年、ノートブック型及びパームトップ型
等の小型コンピュータが大きな市場を形成しつつあり、
これらのコンピュータに対応するためにハードディスク
も薄肉小径化が要求されているためである。例えば、小
径化に関しては、直径が2.5インチ等の小径ディスク
が広く使用されるようになっており、薄肉化に関して
は、従来基盤の厚さが1.3mm程度であったものが、
現在厚さは0.8mm程度となっている。更に、近年、
厚さが0.6mmの基盤が主流になりつつあるが、より
一層の薄肉化が要求されている。即ち、現在、HDDは
コンピュータのカード用インターフェースとの共用が計
画されており、このためには基盤の厚さを0.4mmま
で薄肉化することが必要である。
るアルミニウム合金基盤には、高強度化が求められてい
る。これは、近年、ノートブック型及びパームトップ型
等の小型コンピュータが大きな市場を形成しつつあり、
これらのコンピュータに対応するためにハードディスク
も薄肉小径化が要求されているためである。例えば、小
径化に関しては、直径が2.5インチ等の小径ディスク
が広く使用されるようになっており、薄肉化に関して
は、従来基盤の厚さが1.3mm程度であったものが、
現在厚さは0.8mm程度となっている。更に、近年、
厚さが0.6mmの基盤が主流になりつつあるが、より
一層の薄肉化が要求されている。即ち、現在、HDDは
コンピュータのカード用インターフェースとの共用が計
画されており、このためには基盤の厚さを0.4mmま
で薄肉化することが必要である。
【0013】しかし、アルミニウム等の金属材料は、薄
肉化すると強度が急激に低下するという問題点がある。
例えば、前述の如く磁気ディスク用アルミニウム合金基
盤にはNi−Pメッキを施し、その表面を硬化させるこ
とが必須である。このNi−Pメッキ膜形成時にはメッ
キ膜に強い張力が発生し、その張力が基盤の表面と裏面
とで異なるため、基盤を薄肉化するとディスクが変形し
てしまう。また、薄肉化したアルミニウム合金基盤は、
ハンドリング等において応力が加えられると簡単に変形
してしまう。
肉化すると強度が急激に低下するという問題点がある。
例えば、前述の如く磁気ディスク用アルミニウム合金基
盤にはNi−Pメッキを施し、その表面を硬化させるこ
とが必須である。このNi−Pメッキ膜形成時にはメッ
キ膜に強い張力が発生し、その張力が基盤の表面と裏面
とで異なるため、基盤を薄肉化するとディスクが変形し
てしまう。また、薄肉化したアルミニウム合金基盤は、
ハンドリング等において応力が加えられると簡単に変形
してしまう。
【0014】通常、HDDでは、基盤とヘッドとの間に
0.1〜0.5μm程度の隙間を設けている。この隙間
は、基盤を回転させてヘッドと基盤との間に空気の層を
形成し、ヘッドを一定の高さに浮上させることにより形
成する。この目的のため、ヘッドには浮上用の羽根が取
り付けられている。この隙間により、ディスクを高速回
転させることが可能になり、高速のアクセス及びデータ
転送が可能になる。この隙間をヘッドの浮上高さとい
い、この浮上高さが低い程、強磁性が得られ、高磁気記
録密度が可能になる。ところが、前述したように、基盤
に変形が生じると、その分ヘッドと基盤との間を広くと
る必要が生じて、高密度化が達成できないばかりでな
く、ヘッドの浮上高さが不安定になり、出力も安定せ
ず、データエラーの原因にもなる。また、基盤とヘッド
とが衝突して、欠陥領域が生じる可能性が極めて高くな
る。従って、変形が生じた基盤はディスクに使用するこ
とができない。
0.1〜0.5μm程度の隙間を設けている。この隙間
は、基盤を回転させてヘッドと基盤との間に空気の層を
形成し、ヘッドを一定の高さに浮上させることにより形
成する。この目的のため、ヘッドには浮上用の羽根が取
り付けられている。この隙間により、ディスクを高速回
転させることが可能になり、高速のアクセス及びデータ
転送が可能になる。この隙間をヘッドの浮上高さとい
い、この浮上高さが低い程、強磁性が得られ、高磁気記
録密度が可能になる。ところが、前述したように、基盤
に変形が生じると、その分ヘッドと基盤との間を広くと
る必要が生じて、高密度化が達成できないばかりでな
く、ヘッドの浮上高さが不安定になり、出力も安定せ
ず、データエラーの原因にもなる。また、基盤とヘッド
とが衝突して、欠陥領域が生じる可能性が極めて高くな
る。従って、変形が生じた基盤はディスクに使用するこ
とができない。
【0015】このため、ハードディスクメーカでは今後
の薄肉化に対応する基盤としてガラス又はカーボン等の
基盤が検討されている。これらの基盤では、硬さ及び強
度が高いため、表面にメッキを施す必要がないので、変
形が生じにくく、薄肉化が可能である。
の薄肉化に対応する基盤としてガラス又はカーボン等の
基盤が検討されている。これらの基盤では、硬さ及び強
度が高いため、表面にメッキを施す必要がないので、変
形が生じにくく、薄肉化が可能である。
【0016】しかし、これらの基盤では、アルミニウム
合金基盤に比して、コストが高く、生産性が悪いという
難点がある。また、これらの基盤を使用した場合には、
熱膨張係数及び弾性係数が従来のアルミニウム合金基盤
と異なるため、ハードディスクの設計を変更しなければ
ならないという問題点も発生する。従って、ディスクの
薄肉化のためには、アルミニウム合金を高強度化するこ
とが、現状では最も優れた解決方法といえる。
合金基盤に比して、コストが高く、生産性が悪いという
難点がある。また、これらの基盤を使用した場合には、
熱膨張係数及び弾性係数が従来のアルミニウム合金基盤
と異なるため、ハードディスクの設計を変更しなければ
ならないという問題点も発生する。従って、ディスクの
薄肉化のためには、アルミニウム合金を高強度化するこ
とが、現状では最も優れた解決方法といえる。
【0017】そこで、本願発明者等はメッキ時の欠陥が
少なく且つ強度が高いディスク用アルミニウム合金とし
て、強度向上に有効なMgを5.8〜7.5重量%添加
したアルミニウム合金を提案した(特願平4−2486
43号)。このアルミニウム合金の耐力は160〜17
0N/mm2 であり、従来のディスク用アルミニウム合
金に比して50%程度の強度向上を達成できた。
少なく且つ強度が高いディスク用アルミニウム合金とし
て、強度向上に有効なMgを5.8〜7.5重量%添加
したアルミニウム合金を提案した(特願平4−2486
43号)。このアルミニウム合金の耐力は160〜17
0N/mm2 であり、従来のディスク用アルミニウム合
金に比して50%程度の強度向上を達成できた。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ディスク用アルミニウム合金には次のような問題点があ
る。つまり、耐力が50%程度増加したアルミニウム合
金を使用した場合に、実質的に減少させることができる
基盤の板厚は、例えば25%程度と比較的低い値にな
る。耐力は、変形抵抗の大きさを示す値であるが、板厚
を変化させた場合には、板厚の変化の影響の方が耐力の
変化の影響よりも大きい。つまり、板厚を減少すると、
剛性が著しく低下する。従って、例えば従来のアルミニ
ウム合金で可能な板厚が0.8mmであるとすると、M
gを5.8乃至7.5重量%含有するアルミニウム合金
の場合、基盤の板厚は0.6mmまでしか低減すること
ができない。現在、市場では更に強度が高い合金が求め
られ、ディスクの板厚は0.4mmが望まれている。
ディスク用アルミニウム合金には次のような問題点があ
る。つまり、耐力が50%程度増加したアルミニウム合
金を使用した場合に、実質的に減少させることができる
基盤の板厚は、例えば25%程度と比較的低い値にな
る。耐力は、変形抵抗の大きさを示す値であるが、板厚
を変化させた場合には、板厚の変化の影響の方が耐力の
変化の影響よりも大きい。つまり、板厚を減少すると、
剛性が著しく低下する。従って、例えば従来のアルミニ
ウム合金で可能な板厚が0.8mmであるとすると、M
gを5.8乃至7.5重量%含有するアルミニウム合金
の場合、基盤の板厚は0.6mmまでしか低減すること
ができない。現在、市場では更に強度が高い合金が求め
られ、ディスクの板厚は0.4mmが望まれている。
【0019】なお、本願発明者等は前述したアルミニウ
ム合金に、更にMgを添加して強度をより一層向上させ
ることを検討した。しかし、Mgを多量に添加したアル
ミニウム合金では、Mgが局部的に集中した偏析が生じ
る。このMg偏析部は、融点が低いために均熱処理及び
熱間圧延時にMgが溶解し、アルミニウム合金鋳塊又は
圧延材に割れが生じてしまう。このため、均熱温度を4
00℃に下げて熱間圧延及び冷間圧延を試みたが、熱間
圧延は可能であっても、冷間圧延は不可能であった。こ
のように、固溶限を超えてMgを添加したアルミニウム
合金では、Mgが析出し且つ粗大なMg−Si系晶出物
も極めて多い。従って、圧延時に導入される転位の移動
が著しく阻害され、その結果加工硬化が極めて促進され
る。また、このアルミニウム合金の板を熱処理し、メッ
キ試験を行った。その結果、Mg−Si系晶出物の偏析
及び粗大なMg−Si系晶出物が多発しており、メッキ
面精度が極めて悪いと共に、粗大なメッキ欠陥が多発し
た。従って、Al−Mg系合金では170N/mm2 程
度以上の強度を得ることは不可能である。
ム合金に、更にMgを添加して強度をより一層向上させ
ることを検討した。しかし、Mgを多量に添加したアル
ミニウム合金では、Mgが局部的に集中した偏析が生じ
る。このMg偏析部は、融点が低いために均熱処理及び
熱間圧延時にMgが溶解し、アルミニウム合金鋳塊又は
圧延材に割れが生じてしまう。このため、均熱温度を4
00℃に下げて熱間圧延及び冷間圧延を試みたが、熱間
圧延は可能であっても、冷間圧延は不可能であった。こ
のように、固溶限を超えてMgを添加したアルミニウム
合金では、Mgが析出し且つ粗大なMg−Si系晶出物
も極めて多い。従って、圧延時に導入される転位の移動
が著しく阻害され、その結果加工硬化が極めて促進され
る。また、このアルミニウム合金の板を熱処理し、メッ
キ試験を行った。その結果、Mg−Si系晶出物の偏析
及び粗大なMg−Si系晶出物が多発しており、メッキ
面精度が極めて悪いと共に、粗大なメッキ欠陥が多発し
た。従って、Al−Mg系合金では170N/mm2 程
度以上の強度を得ることは不可能である。
【0020】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、メッキ時のメッキ欠陥が少ないと共に強度
が高く、ディスク用基盤のより一層の薄肉化が可能なデ
ィスク用アルミニウム合金を提供することを目的とす
る。
のであって、メッキ時のメッキ欠陥が少ないと共に強度
が高く、ディスク用基盤のより一層の薄肉化が可能なデ
ィスク用アルミニウム合金を提供することを目的とす
る。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明に係るディスク用
アルミニウム合金は、10乃至30重量%のZnを含有
し、残部がアルミニウム及び不可避的不純物からなり、
この不可避的不純物のうちのFe含有量を0.2重量%
以下に規制したことを特徴とする。
アルミニウム合金は、10乃至30重量%のZnを含有
し、残部がアルミニウム及び不可避的不純物からなり、
この不可避的不純物のうちのFe含有量を0.2重量%
以下に規制したことを特徴とする。
【0022】また、前記Znに加えて、0.02乃至
0.2重量%のCuを含有していてもよく、更に0.0
5乃至0.5重量%のMnを含有していてもよい。
0.2重量%のCuを含有していてもよく、更に0.0
5乃至0.5重量%のMnを含有していてもよい。
【0023】
【作用】本願発明者等は、メッキ時のメッキ欠陥が少な
く、強度が高いディスク用アルミニウム合金を提供する
べく種々検討した。その結果、Al−Zn合金の場合
は、Al中へのZnの固溶量が極めて大きいため、均熱
処理及び圧延時の割れ並びにメッキ欠陥等の問題点も生
じず、より一層強度が高いアルミニウム合金が得られる
との知見を得た。即ち、例えば300℃の温度ではAl
中へのMgの固溶量は7重量%程度と少ないのに対し、
Znの固溶量は30%程度と極めて多い。このため、Z
nの固溶強化によるアルミニウム合金の大幅な強度向上
が可能である。
く、強度が高いディスク用アルミニウム合金を提供する
べく種々検討した。その結果、Al−Zn合金の場合
は、Al中へのZnの固溶量が極めて大きいため、均熱
処理及び圧延時の割れ並びにメッキ欠陥等の問題点も生
じず、より一層強度が高いアルミニウム合金が得られる
との知見を得た。即ち、例えば300℃の温度ではAl
中へのMgの固溶量は7重量%程度と少ないのに対し、
Znの固溶量は30%程度と極めて多い。このため、Z
nの固溶強化によるアルミニウム合金の大幅な強度向上
が可能である。
【0024】また、このアルミニウム合金においては、
Znの固溶強化により強度が増加するため、塑性変形時
に転位の移動を妨害する金属間化合物がAl−Fe系又
はAl(Mn,Fe)系のみであり、加工硬化特性が低
く、H材(加工硬化したもの)強度が比較的低い。従っ
て、圧延性も良好である。
Znの固溶強化により強度が増加するため、塑性変形時
に転位の移動を妨害する金属間化合物がAl−Fe系又
はAl(Mn,Fe)系のみであり、加工硬化特性が低
く、H材(加工硬化したもの)強度が比較的低い。従っ
て、圧延性も良好である。
【0025】更に、ZnはAl等と金属間化合物を形成
しないため、20〜30重量%という多量のZnを添加
しても、メッキの前処理時に金属間化合物が基盤から溶
解又は脱落し基盤のピットとなることはない。従って、
メッキピット及びノジュール等のメッキ欠陥を抑制でき
る。
しないため、20〜30重量%という多量のZnを添加
しても、メッキの前処理時に金属間化合物が基盤から溶
解又は脱落し基盤のピットとなることはない。従って、
メッキピット及びノジュール等のメッキ欠陥を抑制でき
る。
【0026】更にまた、不可避的不純物のうちのFeの
含有量を0.2重量%以下に規制したため、メッキピッ
トの原因となるAl−Fe系金属間化合物を抑制でき、
メッキピットが生じにくい。
含有量を0.2重量%以下に規制したため、メッキピッ
トの原因となるAl−Fe系金属間化合物を抑制でき、
メッキピットが生じにくい。
【0027】以下、本発明におけるディスク用アルミニ
ウム合金の成分添加理由及び組成限定理由について説明
する。
ウム合金の成分添加理由及び組成限定理由について説明
する。
【0028】Zn;10〜30重量% Znはアルミニウム合金基盤の強度向上のために添加す
る。しかし、Zn含有量が10重量%未満では強度向上
の効果が十分ではない。一方、Zn含有量が30重量%
を超えると、Al中へのZnの固溶量を超えてしまい、
Znリッチの相(Zn−Al合金)が析出し、強度が向
上しないと共に、過剰に存在するZnが析出し、メッキ
欠陥が生じる。また、ZnはAlと金属間化合物を形成
しない。このため、Znの含有量はAl中への固溶限以
下、強度向上に必要な含有量以上という点のみから決め
ることができる。即ち、Zn含有量は10乃至30重量
%とする。
る。しかし、Zn含有量が10重量%未満では強度向上
の効果が十分ではない。一方、Zn含有量が30重量%
を超えると、Al中へのZnの固溶量を超えてしまい、
Znリッチの相(Zn−Al合金)が析出し、強度が向
上しないと共に、過剰に存在するZnが析出し、メッキ
欠陥が生じる。また、ZnはAlと金属間化合物を形成
しない。このため、Znの含有量はAl中への固溶限以
下、強度向上に必要な含有量以上という点のみから決め
ることができる。即ち、Zn含有量は10乃至30重量
%とする。
【0029】Fe;0.2重量%以下 Feは地金不純物として混入し、鋳造工程等においてA
l−Fe系金属間化合物を生じ易い。このAl−Fe系
金属間化合物はディスク用アルミニウム合金基盤として
の加工工程、即ち、サブストレート加工時の切削又は研
磨等の研削加工工程において、突起及び脱落による窪み
の原因になると共に、メッキ前処理工程において脱落し
てメッキ面のピットの原因になる。Fe含有量を0.2
重量%以下に規制することにより、これらの欠陥を抑制
することができる。なお、Fe含有量の下限値は特に定
めるものではない。しかし、例えばFe含有量を0.0
05重量%未満にしようとすると、例えば純度が99.
99重量%以上の極めて高価なAl地金が必要になっ
て、製造コストが著しく上昇する。また、Fe含有量を
0.005重量%未満にすると、メッキを施す場合に、
晶出物を微細化する効果が飽和してメッキピットも小さ
くならないと共に、メッキの密着性も劣化する。このた
め、Fe含有量は0.005重量%以上とすることが好
ましい。
l−Fe系金属間化合物を生じ易い。このAl−Fe系
金属間化合物はディスク用アルミニウム合金基盤として
の加工工程、即ち、サブストレート加工時の切削又は研
磨等の研削加工工程において、突起及び脱落による窪み
の原因になると共に、メッキ前処理工程において脱落し
てメッキ面のピットの原因になる。Fe含有量を0.2
重量%以下に規制することにより、これらの欠陥を抑制
することができる。なお、Fe含有量の下限値は特に定
めるものではない。しかし、例えばFe含有量を0.0
05重量%未満にしようとすると、例えば純度が99.
99重量%以上の極めて高価なAl地金が必要になっ
て、製造コストが著しく上昇する。また、Fe含有量を
0.005重量%未満にすると、メッキを施す場合に、
晶出物を微細化する効果が飽和してメッキピットも小さ
くならないと共に、メッキの密着性も劣化する。このた
め、Fe含有量は0.005重量%以上とすることが好
ましい。
【0030】なお、メッキ欠陥を更に低減させるため、
上述の元素に加えて、更にCu及びMnを添加すること
が好ましい。これらの元素の作用を以下に示す。
上述の元素に加えて、更にCu及びMnを添加すること
が好ましい。これらの元素の作用を以下に示す。
【0031】Cu;0.02〜0.2重量% CuはAl合金中に均一に固溶し、ジンケート処理時の
Znの基盤表面への析出を均一微細にする効果を有す
る。これによってメッキ面のノジュールの発生を抑制す
る。しかし、Cu含有量が0.02重量%未満ではこの
効果を得ることができず、Cu含有量が0.2重量%を
超えるとノジュールが多数発生し、又は結晶粒界のエッ
チング性が過剰になって、メッキ面の平滑性を損ねる。
従って、Cuを含有する場合は、その含有量を0.02
乃至0.2重量%とする。
Znの基盤表面への析出を均一微細にする効果を有す
る。これによってメッキ面のノジュールの発生を抑制す
る。しかし、Cu含有量が0.02重量%未満ではこの
効果を得ることができず、Cu含有量が0.2重量%を
超えるとノジュールが多数発生し、又は結晶粒界のエッ
チング性が過剰になって、メッキ面の平滑性を損ねる。
従って、Cuを含有する場合は、その含有量を0.02
乃至0.2重量%とする。
【0032】Mn;0.05〜0.5重量% Mnはアルミニウム合金の加工硬化を促進し、且つ焼鈍
再結晶温度を上げるために必要な元素である。本発明に
係るアルミニウム合金の如く、加工硬化が少ないアルミ
ニウム合金の場合には、アルミニウム合金の圧延が可能
な範囲でMnを添加することにより、最終製品での強度
を著しく向上させることが可能となる。
再結晶温度を上げるために必要な元素である。本発明に
係るアルミニウム合金の如く、加工硬化が少ないアルミ
ニウム合金の場合には、アルミニウム合金の圧延が可能
な範囲でMnを添加することにより、最終製品での強度
を著しく向上させることが可能となる。
【0033】また、Mnには、メッキ欠陥の寸法を減少
させる効果がある。これは、Mnが粗大なAl−Fe系
晶出物の一部を置換してAl(Mn,Fe)を形成する
ためである。即ち、Al−Fe系晶出物は電位的にAl
よりも貴であるため、メッキ前処理時に晶出物周囲のA
lが溶解し、粗大なピットが形成される。一方、Al
(Mn,Fe)系晶出物が存在する場合には、晶出物は
Alに比して電位的に卑であるため、晶出物が溶解し、
その結果形成されるピットがAl−Fe系晶出物(金属
間化合物)が存在する場合に比して小さくなる。しか
し、Mn含有量が0.05重量%未満ではこの効果が期
待できず、0.5重量%を超えるとAl−Fe系晶出物
が粗大となりピット(メッキ面に生じる孔)が急速に増
加する。従って、Mnを含有する場合は、その含有量を
0.05乃至0.5重量%とする。
させる効果がある。これは、Mnが粗大なAl−Fe系
晶出物の一部を置換してAl(Mn,Fe)を形成する
ためである。即ち、Al−Fe系晶出物は電位的にAl
よりも貴であるため、メッキ前処理時に晶出物周囲のA
lが溶解し、粗大なピットが形成される。一方、Al
(Mn,Fe)系晶出物が存在する場合には、晶出物は
Alに比して電位的に卑であるため、晶出物が溶解し、
その結果形成されるピットがAl−Fe系晶出物(金属
間化合物)が存在する場合に比して小さくなる。しか
し、Mn含有量が0.05重量%未満ではこの効果が期
待できず、0.5重量%を超えるとAl−Fe系晶出物
が粗大となりピット(メッキ面に生じる孔)が急速に増
加する。従って、Mnを含有する場合は、その含有量を
0.05乃至0.5重量%とする。
【0034】更にまた、不可避的不純物として、例えば
Si,Cr,Ti及びB等が総量で0.1重量%以下含
有されていてもよい。これらの元素は、前記含有量以下
であれば、ディスク用アルミニウム合金基盤として要求
される強度及びメッキ品質等の特性に影響を及ぼさな
い。
Si,Cr,Ti及びB等が総量で0.1重量%以下含
有されていてもよい。これらの元素は、前記含有量以下
であれば、ディスク用アルミニウム合金基盤として要求
される強度及びメッキ品質等の特性に影響を及ぼさな
い。
【0035】
【実施例】次に、本発明の実施例について具体的に説明
する。最初に、本発明に係るディスク用アルミニウム合
金の製造方法及びそのアルミニウム合金を使用したディ
スク用基盤の製造方法について説明する。先ず、Fe含
有量が0.02重量%以下の地金純度を有するAl地金
を溶解し、この溶湯中にZnを10乃至30重量%添加
し、更に必要に応じてCu及びMnを添加する。そし
て、この溶湯を鋳造して、アルミニウム合金鋳塊を得
る。これにより、本発明に係るアルミニウム合金を得る
ことができる。
する。最初に、本発明に係るディスク用アルミニウム合
金の製造方法及びそのアルミニウム合金を使用したディ
スク用基盤の製造方法について説明する。先ず、Fe含
有量が0.02重量%以下の地金純度を有するAl地金
を溶解し、この溶湯中にZnを10乃至30重量%添加
し、更に必要に応じてCu及びMnを添加する。そし
て、この溶湯を鋳造して、アルミニウム合金鋳塊を得
る。これにより、本発明に係るアルミニウム合金を得る
ことができる。
【0036】次に、この鋳塊に300〜600℃の温度
で均熱処理を施す。この均熱処理により、鋳造時の歪み
を除去し、鋳塊を圧延が可能な状態にすることができ
る。なお、従来のAl−Mg合金の場合は、Mg−Si
系晶出物を固溶させるために450℃以上の高温で均熱
処理を実施する必要があるが、本発明に係るアルミニウ
ム合金ではMg−Si系晶出物が存在しないため、そこ
までの高温は必要がない。従って、本発明に係るアルミ
ニウム合金においては、均熱処理の温度は、鋳造歪みを
除去することができる温度以上であり、且つ合金の溶解
温度以下であればよい。
で均熱処理を施す。この均熱処理により、鋳造時の歪み
を除去し、鋳塊を圧延が可能な状態にすることができ
る。なお、従来のAl−Mg合金の場合は、Mg−Si
系晶出物を固溶させるために450℃以上の高温で均熱
処理を実施する必要があるが、本発明に係るアルミニウ
ム合金ではMg−Si系晶出物が存在しないため、そこ
までの高温は必要がない。従って、本発明に係るアルミ
ニウム合金においては、均熱処理の温度は、鋳造歪みを
除去することができる温度以上であり、且つ合金の溶解
温度以下であればよい。
【0037】その後、このAl合金鋳塊を熱間圧延す
る。従来のAl−Mg合金の場合は、Mg−Si系晶出
物が析出するのを防止するために、熱間圧延を高温で行
う必要があるが、本発明に係るアルミニウム合金におい
てはその必要がないため、圧延温度は特に規定する必要
はない。次に、熱間圧延材に対し冷間圧延を施して板厚
が最終製品の厚さのアルミニウム合金圧延板を得る。そ
の後、このAl合金圧延板を所定のディスク形状(円盤
状)に打ち抜いてディスクブランクを得る。
る。従来のAl−Mg合金の場合は、Mg−Si系晶出
物が析出するのを防止するために、熱間圧延を高温で行
う必要があるが、本発明に係るアルミニウム合金におい
てはその必要がないため、圧延温度は特に規定する必要
はない。次に、熱間圧延材に対し冷間圧延を施して板厚
が最終製品の厚さのアルミニウム合金圧延板を得る。そ
の後、このAl合金圧延板を所定のディスク形状(円盤
状)に打ち抜いてディスクブランクを得る。
【0038】次に、このディスクブランクに対し、サブ
ストレート加工を施す。即ち、通常、圧延板はその粗度
Raが、例えば0.1〜0.5μmであり、ディスク用
基盤としては粗度が大き過ぎる。また、ディスク基盤と
するためには歪みも更に低下させる必要がある。従っ
て、ディスクブランクの表面を切削又は研磨してディス
ク表面を平滑化する。この場合に、研削深さが5μm未
満の場合は歪み除去が十分ではなく、50μmを超える
場合は生産性及び処理コストに難点がある。従って、ア
ルミニウム合金板のディスク基盤としては、5〜50μ
mの研削量が適当である。この研削後、加工歪みを除去
するために必要に応じて焼鈍を実施する。これにより、
アルミニウムサブストレートを得ることができる。
ストレート加工を施す。即ち、通常、圧延板はその粗度
Raが、例えば0.1〜0.5μmであり、ディスク用
基盤としては粗度が大き過ぎる。また、ディスク基盤と
するためには歪みも更に低下させる必要がある。従っ
て、ディスクブランクの表面を切削又は研磨してディス
ク表面を平滑化する。この場合に、研削深さが5μm未
満の場合は歪み除去が十分ではなく、50μmを超える
場合は生産性及び処理コストに難点がある。従って、ア
ルミニウム合金板のディスク基盤としては、5〜50μ
mの研削量が適当である。この研削後、加工歪みを除去
するために必要に応じて焼鈍を実施する。これにより、
アルミニウムサブストレートを得ることができる。
【0039】次に、このサブストレートに下地メッキを
実施する。メッキ工程は、通常、脱脂、エッチング及び
Zn置換等の前処理と実際のメッキ膜形成工程とにより
構成される。下地メッキ膜としては、通常、Ni−P等
の非磁性の金属を電気メッキして形成するが、このNi
−P等の電気メッキを実施する前に、同種の金属をスト
ライクメッキしてもよい。下地メッキ工程は、サブスト
レートの表面に硬さを付与する目的等で行うので、メッ
キ厚は5μm以上とするのが好ましい。一方、メッキ厚
を過剰に厚くするとメッキ液が多量に必要であり、処理
コストが高くなるので20μm以上とするのは好ましく
ない。この下地メッキ工程により、所謂下地メッキ基盤
が形成される。この場合に、サブストレートのFe含有
量が0.2重量%以下であるため、メッキ欠陥の原因と
なるAl−Fe系金属間化合物が極めて少なく、メッキ
欠陥が生じにくい。
実施する。メッキ工程は、通常、脱脂、エッチング及び
Zn置換等の前処理と実際のメッキ膜形成工程とにより
構成される。下地メッキ膜としては、通常、Ni−P等
の非磁性の金属を電気メッキして形成するが、このNi
−P等の電気メッキを実施する前に、同種の金属をスト
ライクメッキしてもよい。下地メッキ工程は、サブスト
レートの表面に硬さを付与する目的等で行うので、メッ
キ厚は5μm以上とするのが好ましい。一方、メッキ厚
を過剰に厚くするとメッキ液が多量に必要であり、処理
コストが高くなるので20μm以上とするのは好ましく
ない。この下地メッキ工程により、所謂下地メッキ基盤
が形成される。この場合に、サブストレートのFe含有
量が0.2重量%以下であるため、メッキ欠陥の原因と
なるAl−Fe系金属間化合物が極めて少なく、メッキ
欠陥が生じにくい。
【0040】次いで、この下地メッキ基盤を研磨し、そ
の表面のメッキ欠陥を除去すると共に、表面を平滑化す
る。その後、この基盤にテクスチャ処理を施した後、ス
パッタ等により磁性体皮膜を形成する。これにより、磁
気ディスクが完成する。
の表面のメッキ欠陥を除去すると共に、表面を平滑化す
る。その後、この基盤にテクスチャ処理を施した後、ス
パッタ等により磁性体皮膜を形成する。これにより、磁
気ディスクが完成する。
【0041】本発明に係るディスク用アルミニウム合金
は、所定量のZnを含有すると共に、Fe含有量を0.
2重量%以下に規制したから、メッキ時にメッキ欠陥が
少ないと共に、変形を回避でき、更に強度が高い磁気デ
ィスク用基盤を得ることができる。
は、所定量のZnを含有すると共に、Fe含有量を0.
2重量%以下に規制したから、メッキ時にメッキ欠陥が
少ないと共に、変形を回避でき、更に強度が高い磁気デ
ィスク用基盤を得ることができる。
【0042】次に、本発明の実施例に係るディスク用ア
ルミニウム合金を使用してサブストレートを形成し、そ
の表面にメッキ膜を形成して、サブストレートの機械的
性質及びメッキ性を調べた結果について、比較例と比較
して説明する。
ルミニウム合金を使用してサブストレートを形成し、そ
の表面にメッキ膜を形成して、サブストレートの機械的
性質及びメッキ性を調べた結果について、比較例と比較
して説明する。
【0043】先ず、下記表1に示す組成の実施例1乃至
6及び比較例7乃至15のアルミニウム合金を造塊した
後、面削して高さが50mm、幅が220mm、長さが
250mmの鋳塊を得た。そして、この鋳塊を480℃
の温度で均熱処理し、その後、熱間圧延して板厚が6m
mの熱間圧延材を得た。その後、この熱間圧延材を冷間
圧延して厚さが0.9mmの板材を得た。
6及び比較例7乃至15のアルミニウム合金を造塊した
後、面削して高さが50mm、幅が220mm、長さが
250mmの鋳塊を得た。そして、この鋳塊を480℃
の温度で均熱処理し、その後、熱間圧延して板厚が6m
mの熱間圧延材を得た。その後、この熱間圧延材を冷間
圧延して厚さが0.9mmの板材を得た。
【0044】そして、実施例1〜6及び比較例7〜15
の合金について、冷間圧延を施したままのH材(加工硬
化したもの)の機械的性質(耐力)及び340℃の温度
で2時間の焼鈍後のO材(焼きなましたもの)の機械的
性質(耐力)を調べた。その結果を下記表2に示す。な
お、熱間圧延時に割れが発生した合金(比較例14)に
ついては、鋳塊を400℃の温度で均熱処理し、その後
熱間圧延及び340℃の温度で2時間の熱処理を順次施
し、メッキ性の調査のみを実施した。熱間圧延及び冷間
圧延時における割れの発生の有無を表1に併せて示す。
の合金について、冷間圧延を施したままのH材(加工硬
化したもの)の機械的性質(耐力)及び340℃の温度
で2時間の焼鈍後のO材(焼きなましたもの)の機械的
性質(耐力)を調べた。その結果を下記表2に示す。な
お、熱間圧延時に割れが発生した合金(比較例14)に
ついては、鋳塊を400℃の温度で均熱処理し、その後
熱間圧延及び340℃の温度で2時間の熱処理を順次施
し、メッキ性の調査のみを実施した。熱間圧延及び冷間
圧延時における割れの発生の有無を表1に併せて示す。
【0045】
【表1】
【0046】次に、実施例及び比較例合金の板材を打ち
抜き加工して、外径が130mm、内径が40mmの中
空円盤を得た。その後、これらの円盤に対し、340℃
の温度で2時間の歪みとり焼鈍を施した。そして、円盤
の表面を切削加工してサブストレートとし、これらのサ
ブストレートの表面にNi−Pメッキ膜を形成した。メ
ッキ工程中の各工程の浴成分及び処理条件を以下に示
す。
抜き加工して、外径が130mm、内径が40mmの中
空円盤を得た。その後、これらの円盤に対し、340℃
の温度で2時間の歪みとり焼鈍を施した。そして、円盤
の表面を切削加工してサブストレートとし、これらのサ
ブストレートの表面にNi−Pメッキ膜を形成した。メ
ッキ工程中の各工程の浴成分及び処理条件を以下に示
す。
【0047】メッキ工程 脱脂工程;炭酸塩、りん酸塩、硼酸塩及び活性剤からな
る洗浄剤を使用し、50℃の浴で5分間処理した。
る洗浄剤を使用し、50℃の浴で5分間処理した。
【0048】酸エッチング;硫酸及びりん酸塩からなる
エッチング液を使用し、70℃の浴で2分間処理した。
エッチング液を使用し、70℃の浴で2分間処理した。
【0049】硝酸洗浄;濃度が30体積%の硝酸からな
る処理液を使用して処理した。
る処理液を使用して処理した。
【0050】第1ジンケート;水酸化ナトリウム、金属
塩(Zn−Fe)及びオキシカルボン酸からなる処理液
を使用し、25℃の浴で30秒間処理した。
塩(Zn−Fe)及びオキシカルボン酸からなる処理液
を使用し、25℃の浴で30秒間処理した。
【0051】硝酸剥離;濃度が30体積%の硝酸からな
る処理液を使用して処理した。
る処理液を使用して処理した。
【0052】第2ジンケート;水酸化ナトリウム、金属
塩(Zn−Fe)及びオキシカルボン酸からなる処理液
を使用し、25℃の浴で15秒間処理した。
塩(Zn−Fe)及びオキシカルボン酸からなる処理液
を使用し、25℃の浴で15秒間処理した。
【0053】Ni−Pメッキ;Ni、次亜燐酸ナトリウ
ム、水酸化ナトリウム及び重金属からなるメッキ液を使
用し、90℃の浴で100分間処理した。
ム、水酸化ナトリウム及び重金属からなるメッキ液を使
用し、90℃の浴で100分間処理した。
【0054】このメッキ工程で得られたメッキ膜の厚さ
は15μmであった。そして、このメッキ後のメッキ欠
陥(ピット及びノジュール)の数を調べた。
は15μmであった。そして、このメッキ後のメッキ欠
陥(ピット及びノジュール)の数を調べた。
【0055】
【表2】
【0056】なお、メッキ試験の評価は、メッキ表面を
光学顕微鏡により640倍の倍率で66面観察し、直径
が10μmの以上のノジュール及び直径が1μm以上の
ピットの数をカウントすることにより行った。メッキ欠
陥の評価は、ピットが0個/mm2 且つノジュールが5
個/mm2 以下のものを◎、ピットが0個/mm2 且つ
ノジュールが6〜10個/mm2 のものを○、それ以外
のものを×とした。
光学顕微鏡により640倍の倍率で66面観察し、直径
が10μmの以上のノジュール及び直径が1μm以上の
ピットの数をカウントすることにより行った。メッキ欠
陥の評価は、ピットが0個/mm2 且つノジュールが5
個/mm2 以下のものを◎、ピットが0個/mm2 且つ
ノジュールが6〜10個/mm2 のものを○、それ以外
のものを×とした。
【0057】また、強度は、最終製品、即ちO材での耐
力が200N/mm2 以上あるものを○、それ以外のも
のを×とした。圧延性の評価は、H材での強度が500
N/mm2 を超え、圧延が困難であったもの及び熱間圧
延時に割れてしまったものを×とし、それ以外を○とし
た。
力が200N/mm2 以上あるものを○、それ以外のも
のを×とした。圧延性の評価は、H材での強度が500
N/mm2 を超え、圧延が困難であったもの及び熱間圧
延時に割れてしまったものを×とし、それ以外を○とし
た。
【0058】表1及び表2から明らかなように、実施例
1〜6はいずれも強度が優れていると共に、メッキ欠陥
も少なく、圧延性も優れている。一方、比較例7〜10
は強度及び圧延性が比較的良好であるものの、メッキ性
が劣る。また、比較例11,15は圧延性及びメッキ性
は比較的良好であるものの、強度が劣る。更に、比較例
12〜14は、強度及びメッキ性が劣る。
1〜6はいずれも強度が優れていると共に、メッキ欠陥
も少なく、圧延性も優れている。一方、比較例7〜10
は強度及び圧延性が比較的良好であるものの、メッキ性
が劣る。また、比較例11,15は圧延性及びメッキ性
は比較的良好であるものの、強度が劣る。更に、比較例
12〜14は、強度及びメッキ性が劣る。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るディ
スク用アルミニウム合金は、10乃至30重量%のZn
を含有し、残部がアルミニウム及び不可避的不純物から
なり、この不可避的不純物のうちのFeの含有量を0.
2重量%以下に規制したから、メッキ欠陥の原因となる
Al−Fe系金属間化合物が少なく、メッキ時のメッキ
欠陥が少ないと共に、ZnがAl中に固溶するので強度
が極めて高い。従って、本発明によれば、従来に比して
より一層薄肉化したディスク用基盤を得ることができる
という効果を奏する。
スク用アルミニウム合金は、10乃至30重量%のZn
を含有し、残部がアルミニウム及び不可避的不純物から
なり、この不可避的不純物のうちのFeの含有量を0.
2重量%以下に規制したから、メッキ欠陥の原因となる
Al−Fe系金属間化合物が少なく、メッキ時のメッキ
欠陥が少ないと共に、ZnがAl中に固溶するので強度
が極めて高い。従って、本発明によれば、従来に比して
より一層薄肉化したディスク用基盤を得ることができる
という効果を奏する。
Claims (3)
- 【請求項1】 10乃至30重量%のZnを含有し、残
部がアルミニウム及び不可避的不純物からなり、この不
可避的不純物のうちのFe含有量を0.2重量%以下に
規制したことを特徴とするディスク用アルミニウム合
金。 - 【請求項2】 10乃至30重量%のZn及び0.02
乃至0.2重量%のCuを含有し、残部がアルミニウム
及び不可避的不純物からなり、この不可避的不純物のう
ちのFe含有量を0.2重量%以下に規制したことを特
徴とするディスク用アルミニウム合金。 - 【請求項3】 10乃至30重量%のZn、0.02乃
至0.2重量%のCu及び0.05乃至0.5重量%の
Mnを含有し、残部がアルミニウム及び不可避的不純物
からなり、この不可避的不純物のうちのFe含有量を
0.2重量%以下に規制したことを特徴とするディスク
用アルミニウム合金。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15507794A JPH0820834A (ja) | 1994-07-06 | 1994-07-06 | ディスク用アルミニウム合金 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15507794A JPH0820834A (ja) | 1994-07-06 | 1994-07-06 | ディスク用アルミニウム合金 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0820834A true JPH0820834A (ja) | 1996-01-23 |
Family
ID=15598157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15507794A Pending JPH0820834A (ja) | 1994-07-06 | 1994-07-06 | ディスク用アルミニウム合金 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0820834A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN107130157A (zh) * | 2017-07-10 | 2017-09-05 | 绵阳市胜源合金制造有限公司 | 一种稀土耐磨合金 |
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1994
- 1994-07-06 JP JP15507794A patent/JPH0820834A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107130157A (zh) * | 2017-07-10 | 2017-09-05 | 绵阳市胜源合金制造有限公司 | 一种稀土耐磨合金 |
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