JPH08194647A - External solid-state memory - Google Patents

External solid-state memory

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JPH08194647A
JPH08194647A JP7003560A JP356095A JPH08194647A JP H08194647 A JPH08194647 A JP H08194647A JP 7003560 A JP7003560 A JP 7003560A JP 356095 A JP356095 A JP 356095A JP H08194647 A JPH08194647 A JP H08194647A
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Koji Moriya
孝司 守屋
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Abstract

PURPOSE: To surely protect a memory and to report the error of an access system to the side of the main body of equipment by detecting abnormality in the state of access from the main body of the object equipment to the memory and outputting its detecting signal to the main body of the object equipment. CONSTITUTION: A memory card 12 provided freely attachably and detachably to a main body 11 of the object equipment exchanges data with the main body 11 of the equipment through a data bus line, a designated address is sent from the main body 11 of the equipment through an address bus line to the memory card 12, a row address strobe(RAS) signal is sent through a RAS line and a column address strobe(CAS) signal is sent through a CAS line respectively. Besides, an interrupting signal is sent from the memory card 12 through an interruption control line to the main body 11 of equipment. Then, a detecting circuit 22 provided inside the memory card 12 detects wrong access from the main body 11 of the equipment to a dynamic RAM (D-RAM) 21 and outputs its detecting signal to the main body 11 of the object equipment.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、外部記憶媒体としてメ
モリカードを用いた外部固体記憶装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an external solid-state storage device using a memory card as an external storage medium.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、電子手帳やパーソナルコンピ
ュータ、ワードプロセッサ等、多くの携帯端末機におい
て、外部記憶媒体としてのメモリカードを装着すること
で、より記憶容量を増大させることを可能としたものが
あった。この種の機器で使用されるメモリカードは、内
蔵されているメモリの種類、記憶容量、アクセスの仕
方、マッピング等が様々であり、一般に互換性はない。
2. Description of the Related Art Conventionally, in many portable terminals such as electronic notebooks, personal computers, word processors, etc., a memory card as an external storage medium can be mounted to further increase the storage capacity. there were. The memory card used in this type of device has various types of built-in memory, storage capacity, access method, mapping, etc., and is generally not compatible.

【0003】しかして、このメモリカードに対してアク
セスを行なうべく、カード内にカードの構成等を示す情
報エリアを設けておき、このメモリカードを装着した機
器本体側からこの情報エリアの内容を解釈して制御する
ようにしたものが主流になりつつある。
Therefore, in order to access this memory card, an information area indicating the configuration of the card is provided in the card, and the contents of this information area are interpreted by the main body of the device in which the memory card is mounted. The ones that are controlled by the above are becoming mainstream.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、機器本
体にその機器本体用ではないメモリカードを装着してし
まった場合、そのメモリカードの側から見て間違ったア
クセスがなされた時でも、場合によっては該メモリカー
ドからデータの読出し、あるいはデータの書込みができ
ることがあり、信号線の短絡、誤動作やメモリのデータ
破壊等を生じてしまう虞があった。
However, when a memory card that is not intended for the device body is attached to the device body, even if an erroneous access is made from the side of the memory card side, in some cases Data may be read or written from the memory card in some cases, which may result in short circuit of signal lines, malfunction, memory data destruction, or the like.

【0005】本発明は上記のような実情に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、誤ったアクセス方
式を採った場合に確実にメモリを保護し、且つアクセス
方式の誤りを機器本体側に報知することが可能な外部固
体記憶装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to reliably protect a memory when an erroneous access method is adopted and to prevent an access method error from occurring in the main body of the device. It is to provide an external solid-state storage device that can notify the user.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、 (1) 対象機器本体に対して着脱自在に設けられたケ
ーシングの内部に設けられたメモリと、上記対象機器本
体から上記メモリへのアクセス状態の異常を検出し、そ
の検出信号を上記対象機器本体に出力する検出手段とを
備えるようにしたものである。 (2) 上記(1)項において、上記メモリはダイナミ
ックRAMでなり、上記検出手段は上記ダイナミックR
AMへのRAS信号を記憶してCAS信号でリセットさ
れるラッチ回路を有し、このラッチ回路が上記ダイナミ
ックRAMへのCAS信号がない場合にそのラッチ内容
を上記対象機器本体に出力するようにしたものである。
Means for Solving the Problems That is, the present invention is as follows: (1) A memory provided inside a casing detachably provided to a main body of a target device and an access state from the main body of the target device to the memory. And a detection means for detecting the abnormality and outputting the detection signal to the target device body. (2) In the above item (1), the memory is a dynamic RAM, and the detecting means is the dynamic R.
It has a latch circuit that stores the RAS signal to the AM and is reset by the CAS signal. When the latch circuit does not have the CAS signal to the dynamic RAM, the latch content is output to the main body of the target device. It is a thing.

【0007】[0007]

【作用】上記(1)項の構成によれば、誤ったアクセス
方式を採った場合にこれを検出して直ちに機器本体側へ
報知することで、該メモリへのアクセスを停止させ、メ
モリを保護することができる。
According to the configuration of the above item (1), when an erroneous access method is adopted, it is detected and immediately notified to the device main body side to stop the access to the memory and protect the memory. can do.

【0008】上記(2)項の構成によれば、特にメモリ
としてダイナミックRAMを用いた場合に、RAS信号
及びCAS信号の有無を利用して誤ったアクセス方式を
採った場合の検出を行なうことができるため、メモリカ
ードとこのメモリカードを装着する機器本体の接続端子
数を増やすことなく上記(1)項の作用を実現できる。
According to the configuration of the above item (2), especially when a dynamic RAM is used as a memory, it is possible to detect the case where an erroneous access method is adopted by utilizing the presence or absence of the RAS signal and the CAS signal. Therefore, the action of the above item (1) can be realized without increasing the number of connection terminals of the memory card and the device main body to which the memory card is attached.

【0009】[0009]

【実施例】以下図面を参照して本発明の一実施例を説明
する。図1はその回路構成を示すもので、11が機器本
体、12がメモリカードである。この機器本体11とメ
モリカード12とは、アドレスバスライン、データバス
ライン、RAS(ow ddress trob
e:行アドレスストローブ)ライン、CAS(olu
mn ddress trobe:列アドレススト
ローブ)ライン、書込みイネーブル(WE)ライン、読
出しイネーブル(OE)ライン、割込み制御(In
t.)ライン、電源(Vcc)ライン及びアース(GN
D)ラインの各信号線等で接続される。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows its circuit configuration, where 11 is a device body and 12 is a memory card. And the apparatus body 11 and the memory card 12, the address bus lines, data bus lines, RAS (R ow A ddress S trob
e: a row address strobe) line, CAS (C olu
mn A ddress S trobe: column address strobe) line, write enable (WE) line, read enable (OE) line, interrupt control (In
t. ) Line, power supply (Vcc) line and ground (GN)
The signal lines of the D) line are connected.

【0010】すなわち、機器本体11とメモリカード1
2との間でデータバスラインを介してデータの送受を行
なうと共に、機器本体11からメモリカード12にアド
レスバスラインを介して指定アドレス、RASラインを
介してRAS信号、CASラインを介してCAS信号、
書込みイネーブルラインを介して書込みイネーブル信
号、読出しイネーブルラインを介して読出しイネーブル
信号がそれぞれ送出され、反対にメモリカード12から
機器本体11に割込み制御ラインを介して割込み信号が
送出される。
That is, the device body 11 and the memory card 1
Data is sent to and received from the device 2 via a data bus line, and a specified address is sent from the device body 11 to the memory card 12 via the address bus line, a RAS signal via the RAS line, and a CAS signal via the CAS line. ,
A write enable signal is sent via the write enable line and a read enable signal is sent via the read enable line, and conversely, an interrupt signal is sent from the memory card 12 to the device body 11 via the interrupt control line.

【0011】メモリカード12内には、記憶素子として
のダイナミックRAM(D−RAM)21と、このD−
RAM21への誤ったアクセスを検出する検出回路22
とが少なくとも設けられる。
In the memory card 12, a dynamic RAM (D-RAM) 21 as a storage element and this D-RAM are provided.
Detection circuit 22 for detecting erroneous access to RAM 21
And at least are provided.

【0012】D−RAM21は、上記アドレスバスライ
ン、データバスライン、RASライン、CASライン、
書込みイネーブルライン及び読出しイネーブルラインと
接続されると共に、これらのうちのRASライン及びC
ASラインがさらに検出回路22とも接続される。
The D-RAM 21 includes the address bus line, data bus line, RAS line, CAS line,
It is connected to a write enable line and a read enable line, and has a RAS line and a C line among them.
The AS line is also connected to the detection circuit 22.

【0013】検出回路22では、上記RASラインから
のRAS信号を、バッファアンプ23を介してフリップ
フロップ(F/F)24のクロック端子CKに、またナ
ンド回路25にそれぞれ入力する。
In the detection circuit 22, the RAS signal from the RAS line is input to the clock terminal CK of the flip-flop (F / F) 24 via the buffer amplifier 23 and to the NAND circuit 25, respectively.

【0014】F/F24は、上記CASラインからのC
AS信号をインバータ26で反転した反転信号をリセッ
ト端子Rに入力し、また電源電圧Vccを遅延入力端子D
に入力するもので、その正転出力端子Qからの出力信号
が上記ナンド回路25に入力される。
The F / F 24 is C from the CAS line.
The inverted signal obtained by inverting the AS signal by the inverter 26 is input to the reset terminal R, and the power supply voltage Vcc is input to the delay input terminal D.
The output signal from the non-inverted output terminal Q is input to the NAND circuit 25.

【0015】そして、ナンド回路25の出力信号が割込
み信号として上記割込み制御ラインを介して機器本体1
1側へ送出される。上記のような構成にあって、図2は
メモリカード12をこのメモリカード12に合致した正
しい機器本体11に装着した場合の動作を例示するもの
である。
Then, the output signal of the NAND circuit 25 is used as an interrupt signal via the interrupt control line and the device body 1
It is sent to the 1 side. In the above-mentioned configuration, FIG. 2 illustrates an operation when the memory card 12 is attached to the correct device body 11 that matches the memory card 12.

【0016】すなわち図2は、機器本体11がメモリカ
ード12をアクセスしてメモリカード12内のD−RA
M21に記憶されているデータを読出す場合の各信号波
形を示すもので、まず機器本体11は図2(1)に示す
ような通常“H”レベルとなっているRAS信号を一定
期間“L”レベルとし、続いて図2(2)に示すような
同じく通常“H”レベルとなっているCAS信号を適宜
タイミングをあけて“L”レベルとする。
That is, in FIG. 2, the device body 11 accesses the memory card 12 to access the D-RA in the memory card 12.
The respective signal waveforms when the data stored in M21 are read are shown. First, the device main body 11 first changes the RAS signal normally at the “H” level as shown in FIG. 2 level, and then the CAS signal, which is also normally at "H" level as shown in FIG. 2B, is set to "L" level with appropriate timing.

【0017】また、このRAS信号及びCAS信号に同
期して図2(3)に示すように行アドレス(Row)及
び列アドレス(Col)を順次出力し、次いで図2
(4)に示すように通常“H”レベルとなっている読出
しイネーブル信号を上記RAS信号及びCAS信号が
“L”レベルとなっている間まで“L”レベルとさせ
る。
Further, in synchronization with the RAS signal and the CAS signal, the row address (Row) and the column address (Col) are sequentially output as shown in FIG.
As shown in (4), the read enable signal which is normally at "H" level is kept at "L" level until the RAS signal and the CAS signal are at "L" level.

【0018】メモリカード12内のD−RAM21で
は、RAS信号が“L”レベルとなるのにしたがってア
ドレスバスから行アドレスを、その後CAS信号が
“L”レベルとなるのにしたがって列アドレスを順次入
力し、さらに読出しイネーブル信号が“L”レベルとな
るのを待って図2(5)に示すように当該行アドレス及
び列アドレスに指定されるアドレス位置に書込まれてい
るデータを読出し、データバスより機器本体11側へ送
出するものである。
In the D-RAM 21 in the memory card 12, a row address is sequentially input from the address bus as the RAS signal becomes "L" level, and then a column address is sequentially inputted as the CAS signal becomes "L" level. Then, after waiting for the read enable signal to go to "L" level, the data written in the address position designated by the row address and column address is read out as shown in FIG. Is sent to the device body 11 side.

【0019】この間に検出回路22では、RAS信号の
立下がりをF/F24でラッチするが、続いて入力され
るCAS信号の立下がりがインバータ26で反転されて
反転信号とされ、リセット端子Rに入力されるためにラ
ッチ内容がリセットされる。
In the meantime, in the detection circuit 22, the falling edge of the RAS signal is latched by the F / F 24, but the falling edge of the CAS signal that is input subsequently is inverted by the inverter 26 to be an inverted signal, and the reset terminal R is supplied. The latch contents are reset because they are input.

【0020】したがって、F/F24の正転出力端子Q
からの出力は“L”レベルとなり、ナンド回路25では
少なくとも1つの入力が“L”レベルであるために上記
機器本体11側への割込み信号としての出力が“H”レ
ベルを維持し、特に割込み状態が発生せず、メモリカー
ド12が正常であることを機器本体11側に知らせるも
のである。
Therefore, the normal output terminal Q of the F / F 24
Output becomes "L" level, and since at least one input in the NAND circuit 25 is "L" level, the output as an interrupt signal to the device body 11 side maintains "H" level, especially The state is not generated, and the device body 11 side is informed that the memory card 12 is normal.

【0021】次いで図3により機器本体11がメモリカ
ード12を誤ったアクセス方式でアクセスした場合の動
作を説明する。すなわち図3は、機器本体11がメモリ
カード12をスタティックRAMを用いたメモリカード
としてアクセスしてメモリカード12内のD−RAM2
1に記憶されているデータを読出そうとする場合の各信
号波形を示すものである。
Next, the operation when the device body 11 accesses the memory card 12 by the wrong access method will be described with reference to FIG. That is, in FIG. 3, the device body 11 accesses the memory card 12 as a memory card using a static RAM to access the D-RAM 2 in the memory card 12.
1 shows waveforms of respective signals when the data stored in 1 is to be read.

【0022】まず機器本体11は、図3(1)に示すよ
うな通常“H”レベルとなっているRAS信号(機器本
体11側ではスタティックメモリに対する他の信号と認
識している)を一定期間“L”レベルとするが、図3
(3)に示す如く同CAS信号は通常の“H”レベルの
ままで変化させない。
First, the equipment main body 11 keeps the RAS signal (which is recognized as another signal for the static memory on the equipment main body 11 side) which is normally at the "H" level as shown in FIG. It is set to the “L” level, as shown in FIG.
As shown in (3), the CAS signal remains at the normal "H" level and is not changed.

【0023】また、機器本体11は、図3(4)に示す
ようなスタティックRAMへのアドレス指定をアドレス
バスを介して行なうと共に、図3(5)に示すように通
常“H”レベルとなっている読出しイネーブル信号を上
記RAS信号に合致させて“L”レベルとさせる。
Further, the device main body 11 performs address designation to the static RAM as shown in FIG. 3 (4) through the address bus, and normally becomes "H" level as shown in FIG. 3 (5). The read enable signal is set to the "L" level in accordance with the RAS signal.

【0024】メモリカード12の検出回路22内では、
CAS信号が“H”レベルのまま変化しないためにF/
F24がリセットされず、F/F24はRAS信号の立
下がりをラッチして若干遅延した図3(2)に示すよう
なRAS′信号を正転出力端子Qよりナンド回路25へ
送出する。
In the detection circuit 22 of the memory card 12,
Since the CAS signal does not change and stays at "H" level, F /
The F24 is not reset, and the F / F24 latches the falling edge of the RAS signal and sends out a slightly delayed RAS 'signal from the normal output terminal Q to the NAND circuit 25 as shown in FIG.

【0025】ナンド回路25では、F/F24からのR
AS′信号が立上がった時点で2入力が共に“H”レベ
ルとなるため、その時点より図3(7)に示すように機
器本体11側への割込み信号を通常の“H”レベルから
“L”レベルに変化させ、割込み状態が発生し、メモリ
カード12へのアクセス方式が異なることを機器本体1
1側に知らせるものである。
In the NAND circuit 25, R from the F / F 24
Since both inputs become "H" level when the AS 'signal rises, the interrupt signal to the device main body 11 side is changed from the normal "H" level to "H" level from that time as shown in FIG. 3 (7). The device main body 1 indicates that an interrupt condition occurs and the access method to the memory card 12 is changed to "L" level.
It informs the 1 side.

【0026】したがって、機器本体11側がこれを認識
し、D−RAM21で読出しイネーブル信号に対応して
図3(6)に示すように行なわれていたデータの読出し
を途中で直ちに停止させることが可能となり、信号線の
短絡、誤動作やD−RAM21のデータ破壊等を確実に
防止することができる。
Therefore, the device main body 11 side can recognize this and immediately stop the reading of data, which has been performed in the D-RAM 21 in response to the read enable signal as shown in FIG. 3 (6). Therefore, it is possible to surely prevent short circuit of the signal line, malfunction, data destruction of the D-RAM 21, and the like.

【0027】なお、上記実施例ではRAS信号及びCA
S信号の有無によりダイナミックRAMを用いたメモリ
カード12に対して、機器本体11側がアクセス方式の
異なるスタティックRAMを用いたメモリカード用のア
クセスを行なってしまった場合にこれを検出するような
例を示したが、その反対に、スタティックRAMを用い
たメモリカードに対して、機器本体側がアクセス方式の
異なるダイナミックRAMを用いたメモリカード用のア
クセスを行なってしまった場合にこれを検出するように
することも非常に容易に考え得るものであり、ここでは
その説明は省略する。
In the above embodiment, the RAS signal and CA
An example in which when the device main body 11 accesses the memory card 12 using the dynamic RAM depending on the presence or absence of the S signal for the memory card using the static RAM having a different access method, this is detected. However, on the contrary, when the device main body accesses the memory card using the static RAM to the memory card using the dynamic RAM having a different access method, this is detected. It is very easily conceivable that the explanation is omitted here.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上に述べた如く本発明によれば、誤っ
たアクセス方式を採った場合に確実にメモリを保護し、
且つアクセス方式の誤りを機器本体側に報知することが
可能な外部固体記憶装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, the memory is surely protected when the wrong access method is adopted,
In addition, it is possible to provide an external solid-state storage device capable of notifying the device body side of an error in the access method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る回路構成を示すブロッ
ク図。
FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の動作を説明するための図。FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the present invention.

【図3】本発明の動作を説明するための図。FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…機器本体 12…メモリカード 21…ダイナミックRAM(D−RAM) 22…検出回路 23…バッファアンプ 24…フリップフロップ(F/F) 25…ナンド回路 26…インバータ 11 ... Device main body 12 ... Memory card 21 ... Dynamic RAM (D-RAM) 22 ... Detection circuit 23 ... Buffer amplifier 24 ... Flip-flop (F / F) 25 ... NAND circuit 26 ... Inverter

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 対象機器本体に対して着脱自在に設けら
れたケーシングの内部に設けられたメモリと、 上記対象機器本体から上記メモリへのアクセス状態の異
常を検出し、その検出信号を上記対象機器本体に出力す
る検出手段とを備えたことを特徴とする外部固体記憶装
置。
1. A memory provided inside a casing that is detachably attached to a main body of a target device, and an abnormality in an access state from the main body of the target device to the memory is detected, and a detection signal thereof is used as the target. An external solid-state storage device, comprising: a detection unit for outputting to an apparatus body.
【請求項2】 上記メモリはダイナミックRAMでな
り、 上記検出手段は上記ダイナミックRAMへのRAS信号
を記憶してCAS信号でリセットされるラッチ回路を有
し、このラッチ回路が上記ダイナミックRAMへのCA
S信号がない場合にそのラッチ内容を上記対象機器本体
に出力することを特徴とする請求項1記載の外部固体記
憶装置。
2. The memory is a dynamic RAM, and the detection means has a latch circuit that stores a RAS signal to the dynamic RAM and is reset by a CAS signal, and the latch circuit is a CA to the dynamic RAM.
The external solid-state storage device according to claim 1, wherein the latch contents are output to the main body of the target device when there is no S signal.
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