JPH08193988A - 超音波検査装置 - Google Patents

超音波検査装置

Info

Publication number
JPH08193988A
JPH08193988A JP7005846A JP584695A JPH08193988A JP H08193988 A JPH08193988 A JP H08193988A JP 7005846 A JP7005846 A JP 7005846A JP 584695 A JP584695 A JP 584695A JP H08193988 A JPH08193988 A JP H08193988A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
ultrasonic
probes
ultrasonic wave
replacement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7005846A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Takeuchi
健 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP7005846A priority Critical patent/JPH08193988A/ja
Publication of JPH08193988A publication Critical patent/JPH08193988A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 複数のプローブを切り替えて同一の試料を検
査するとき、新しいプローブの焦点位置を切り替え前の
プローブの焦点位置に自動的に合わせることができる超
音波検査装置を提供する。 【構成】 プローブ7a,7b,7cのいずれかひとつ
を保持し、その超音波探触子を試料上の任意の位置に移
動させるスキャナ4と、超音波探触子に検査信号を送信
するとともに、超音波探触子を介して受信される試料か
らの反射波を受信する送受信器2と、この送受信器2で
受信した反射信号に基づいて検査結果を表示する表示装
置6と、複数の超音波探触子7a,7b,7cの焦点距
離をそれぞれ記憶する記憶回路20aと、交換前後の超
音波探触子のそれぞれの焦点距離を記憶回路20aから
読み出して両者の差を算出し、交換前の超音波探触子の
位置とその差に基づいて、交換後の超音波探触子の位置
を移動機構4で設定する制御回路20とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、異なる超音波探触子で
同一の試料上をそれぞれ検査し、それぞれ超音波画像を
得る超音波検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は従来の超音波検査装置の一例を示
すものである。図3において、コンピュータ1には送受
信器2,コントローラ3,スキャナ4および画像処理装
置5が接続されている。画像処理装置5には表示装置6
が接続されている。
【0003】コンピュータ1の指示により送受信器2が
所定の周波数を有するバースト信号を超音波探触子7
(以下、プローブと呼ぶ)に印加すると、プローブ7は
その周波数成分を含む超音波信号を試料8に向けて発射
する。この超音波信号は試料8で反射し、プローブ7を
介して送受信器2で受信され、コンピュータ1に送られ
る。コンピュータ1は入力された反射信号を処理して画
像処理装置5に送る。画像処理装置5はこの信号を映像
化処理して表示装置6で表示する。スキャナ4はコンピ
ュータ1の指令の下でコントローラ3によりその動作が
制御され、したがって、スキャナ4に保持具9で着脱可
能に保持されているプローブ7がX,Y,Z軸方向に沿
って移動される。なお、10は水槽、11は水であり、
試料8は水中に置かれる。
【0004】超音波検査装置による試料8内の欠陥の検
査手順は、以下の通りである。予め欠陥が予想される深
度にプローブ7の焦点が合うようにスキャナ4を制御す
る。送受信器2からプローブ7にその共振周波数を有す
る電圧パルスを送出する。これに応じて、プローブ7は
超音波を試料8へ放射する。この動作に同期して、スキ
ャナ4により試料8上を2次元走査し、2次元走査した
検査結果を画像処理装置5を介して表示装置6にCスコ
ープ表示する。これにより、試料7の内部の状態が観察
される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような超音波検査
装置では開口径および焦点距離等の仕様の異なる複数の
プローブを用いて同一の試料を検査することがある。例
えば、焦点距離の長いプローブにあっては、距離分解能
は低いが焦点が合う領域はZ軸方向に広いのに対して、
焦点距離の短いプローブにあっては、距離分解能は高い
が焦点が合う領域はZ軸方向に狭いことが知られてい
る。また、開口径の大きいプローブは方位分解能は低い
が、開口径の小さなプローブは方位分解能が高いことが
知られている。
【0006】そこで、まず焦点距離が長く、開口径が大
きなプローブで欠陥のおよその位置を検出し、その後、
焦点距離が短く開口径が小さなプローブに交換して欠陥
の位置をさらに特定していく。
【0007】プローブを交換した時、今まで観察してい
たのと同一の箇所を観察する要求がある。すなわち、交
換後のプローブの試料に対するYZ各軸の位置(水平面
内の位置)を交換前のプローブ位置に合わせるととも
に、新しいプローブを交換前のプローブの焦点位置(Z
軸軸位置)に焦点合わせることが望ましい。ところが、
焦点距離の異なる二つのプローブを交換するとき、新し
く取り付けたプローブをZ軸方向の位置において調整し
なければならない。より詳細には、交換前のプローブと
交換後のプローブの焦点距離との差を計算しておくとと
もに、プローブ取り外し時のZ軸方向位置を覚えてお
き、新しいプローブを交換前のプローブのZ軸方向位置
にセットし、さらに、焦点距離の差分だけZ軸方向の位
置を手動で調整する必要があり非常に煩雑である。ま
た、プローブの交換に伴って、送受信器2は新しいプロ
ーブの共振周波数を有する電圧パルスをプローブに向け
て送出する必要があり、その再設定作業も不可欠であ
る。
【0008】本発明の目的は、超音波探触子を交換して
同一の試料を検査するとき、新しい超音波探触子の焦点
位置を交換前の超音波探触子の焦点位置に自動的に合わ
せることができる超音波検査装置を提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】一実施例を示す図1に対
応付けて説明すると、請求項1の発明は、超音波探触子
7a,7b,7cのいずれかひとつを保持し、その超音
波探触子を試料上の任意の位置に移動させる移動機構4
と、超音波探触子に検査信号を送信するとともに、超音
波探触子を介して受信される試料からの反射波を受信す
る送受信器2と、この送受信器2で受信した反射信号に
基づいて検査結果を表示する表示装置6とを備えた超音
波検査装置に適用される。上述の目的は、複数の超音波
探触子(7a,7b,7c)の焦点距離をそれぞれ記憶
する記憶回路20aと、交換前後の超音波探触子のそれ
ぞれの焦点距離を記憶回路20aから読み出して両者の
差を算出し、交換前の超音波探触子の位置とその差に基
づいて、交換後の超音波探触子の位置を移動機構4で設
定する制御回路20とを備えることにより、達成され
る。請求項2の超音波検査装置は、複数の超音波探触子
(7a,7b,7c)の共振周波数をそれぞれ記憶回路
20aに記憶しておき、制御回路20により、交換後の
超音波探触子に適した共振周波数を記憶回路20aから
読み出し、その周波数の超音波が超音波探触子から出力
されるように送受信器2を制御するものである。
【0010】
【作用】交換前後の超音波探触子、たとえば超音波探触
子7aと7bのそれぞれの焦点距離を記憶回路20aか
ら読み出して両者の差を算出する。制御回路20は、交
換前の超音波探触子の位置とその焦点距離の差に基づい
て、交換後の超音波探触子の位置を移動機構4で設定す
る。請求項2の発明では、交換後の超音波探触子に適し
た共振周波数を記憶回路20aから読み出し、制御回路
20は、その周波数の超音波が交換後の超音波探触子か
ら出力されるように送受信器2を制御する。
【0011】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段と作用の項では、本発明を分かり易
くするために実施例の図を用いたが、これにより本発明
が実施例に限定されるものではない。
【0012】
【実施例】以下、図1および図2を参照して本発明の一
実施例を説明する。本発明の超音波検査装置のハードウ
ェア構成は図1に示す通りである。図3に示す装置と相
違する点を主に説明する。20はCPU、ROM、RA
M、および周辺回路から構成される制御回路であり、こ
の超音波検査装置を制御する。21は、複数のプローブ
受け部21a〜21cを備えたホルダであり、プローブ
7a,7b,7cはプローブ受け部21a〜21cにそ
れぞれ保持される。各プローブ7a〜7cはケーブルC
Bを介して切換器22にそれぞれ接続され、コンピュー
タ1の信号に応じて切換器22を切り換えることによ
り、プローブ7a,7b,7cのいずれかひとつが送受
信器2に接続される。プローブ7a〜7cはそれぞれ焦
点距離と共振周波数が異なり、所望に応じて選択され
る。各プローブの焦点距離と共振周波数は制御回路20
の記憶回路20aにそれぞれ記憶される。
【0013】23はロボットであり、保持具9からプロ
ーブを取り外してホルダ21まで搬送し、対応するプロ
ーブ受け部にプローブを収納するとともに、ホルダ21
に保持されているプローブを保持し、スキャナ4まで搬
送して保持具9に取り付ける。プローブ7a〜7cの保
持具9との着脱部には識別スイッチ24a〜24cが設
けられており、識別スイッチ24a〜24cはケーブル
CBを介して切換器22に接続されている。保持具9に
装着されたプローブの識別スイッチは閉じ、切換器22
を介して制御回路20にその識別信号が送られ、制御回
路20はどのプローブが装着されているかを識別するこ
とができる。
【0014】25X,25Y,25Zはそれぞれ、スキ
ャナ4のX軸駆動機構、Y軸駆動機構、Z軸駆動機構の
位置を検出する位置センサであり、たとえば、各軸駆動
モータの回転位置を検出するロータリエンコーダを使用
できる。これらの位置センサ25X〜25Zの検出信号
は制御回路20に供給される。
【0015】図2は本実施例の超音波検査装置における
プローブ交換操作手順の一例を示すフローチャートであ
る。いま、プローブ7aが保持具9によりスキャナ4に
取り付けられ、そのプローブ7aの焦点は試料8の位置
Fに合っているものとし、また、プローブ7bを新たに
装着するものとする。図2に示すプログラムは操作者が
不図示のキーボードからプローブ交換を指令すると起動
される。
【0016】ステップS1において、スキャナ4で保持
されているプローブ7aの識別スイッチ24aから送ら
れてくる識別信号に基づいて、装着されているプローブ
7aを識別する。ステップS2では、その識別信号に基
づいて記憶回路20aからそのプローブ7aの焦点距離
を読み込み、制御回路20のRAMに記憶する。ステッ
プS3では、プローブ7aのXYZの各軸の位置を位置
センサ25X〜25Zにより検出して、制御回路20の
RAMに記憶する。
【0017】ステップS4では、不図示の操作盤から新
たに装着するプローブ7bの種類(番号)が入力される
まで待つ。ステップS4でプローブの種類の入力が確認
されるとステップS5に進み、記憶回路20aからその
新プローブ7bの焦点距離と共振周波数を読み出して制
御回路20のRAMに記憶する。このステップS5にお
いて、プローブ10bが送受信器2と接続されるように
切換器22を切り換える。
【0018】ステップS6において、スキャナ4をホー
ムポジション(図1の2点鎖線HPであり、プローブ交
換位置である)に移動する。ステップS7では、スキャ
ナ4に保持されているプローブ7aをロボット23によ
り把持して保持具9から取り外し、ホルダ21のプロー
ブ受け部7aまで搬送して収納する。ステップS8に進
むと、ロボット23は、ホルダ21に保持されているプ
ローブ7bを把持し、スキャナ4までプローブ7bを搬
送して保持具9にプローブ7bを装着する。
【0019】ステップS9では、プローブ7aが位置し
ていたXYZの各軸位置をRAMから読み出し、プロー
ブ7bをそのXYZ位置に移動させる。ステップS10
では、交換前後のプローブ7aと7bの焦点距離をRA
Mから読み出してその差を算出し、スキャナ4のZ軸駆
動機構を駆動してその差分だけプローブ7bをZ軸方向
に位置補正する。ステップS11では、新たに装着した
プローブ7bに適した周波数の電圧パルスが送受信器2
からプローブ7bに印加されるように、送受信器2の共
振周波数を設定する。以上の処理によって、プローブ7
aが観察していた試料8の箇所Fについての検査をプロ
ーブ7bを用いて引き続き行なうことができる。
【0020】なお、本発明は以上の実施例に限定され
ず、以下のような各種の変形が可能である。 4以上のプローブを使用する検査装置にも対応でき
る。 プローブを識別するために各プローブの装着部に識別
スイッチを設けたが、ホルダ21のプローブ受け部21
a〜21cにスイッチを設け、プローブが収納されてい
るときにスイッチを閉じるようにしても、同様にプロー
ブの識別が可能である。 操作者の指示によりプローブの交換処理を始めるよう
にしたが、予め定められた一連の自動検査処理の中でプ
ローブが交換された時に、交換前後のプローブの焦点距
離の差と、交換前のプローブの3軸位置とに基づいて、
交換後のプローブの位置制御を行うようにしてもよい。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の超音波検
査装置によれば、超音波探触子を交換したとき、交換前
に観察していた箇所が交換後の超音波探触子でも観察で
きるようにその位置合わせと焦点合せが行われるから、
操作者は面倒な位置調整作業を行なうことなく、引き続
き同一位置を観察でき、検査効率が向上する。また、新
しい超音波探触子に適した共振周波数が自動的に設定さ
れるから、これによっても、検査効率が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る超音波検査装置の概略構成を示す
図。
【図2】図1の超音波検査装置を用いて二つの超音波探
触子を交換する手順を示すフローチャート。
【図3】従来の超音波検査装置の一例を示す図で、
(a)はその超音波検査装置の正面図、(b)は(a)
の側面図。
【符号の説明】
2 送受信器 3 コントローラ 4 スキャナ 5 画像処理装置 6 表示装置 7a,7b,7c プローブ 8 試料 9 保持具 20 制御回路 20a 記憶回路 21 ホルダ 21a〜21c プローブ受け部 22 切換器 23 ロボット 24a〜24c 識別スイッチ 25X〜25Z 位置センサ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 超音波探触子を保持し、その超音波探触
    子を試料上の任意の位置に移動させる移動機構と、前記
    超音波探触子に検査信号を送信するとともに、前記超音
    波探触子を介して受信される試料からの反射波を受信す
    る送受信器と、この送受信器で受信した反射信号に基づ
    いて検査結果を表示する表示装置とを備えた超音波検査
    装置において、 複数の超音波探触子の焦点距離をそれぞれ記憶する記憶
    回路と、 交換前後の超音波探触子のそれぞれの焦点距離を前記記
    憶回路から読み出して両者の差を算出し、交換前の超音
    波探触子の位置と前記差に基づいて、交換後の超音波探
    触子の位置を移動機構で設定する制御回路とを備えるこ
    とを特徴とする超音波検査装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の超音波検査装置におい
    て、 複数の超音波探触子の共振周波数をそれぞれ前記記憶回
    路に記憶するとともに、 前記制御回路は、交換後の超音波探触子に適した共振周
    波数を前記記憶回路から読み出し、その周波数の超音波
    が前記超音波探触子から出力されるように前記送受信器
    を制御することを特徴とする超音波検査装置。
JP7005846A 1995-01-18 1995-01-18 超音波検査装置 Pending JPH08193988A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7005846A JPH08193988A (ja) 1995-01-18 1995-01-18 超音波検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7005846A JPH08193988A (ja) 1995-01-18 1995-01-18 超音波検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08193988A true JPH08193988A (ja) 1996-07-30

Family

ID=11622381

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7005846A Pending JPH08193988A (ja) 1995-01-18 1995-01-18 超音波検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08193988A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013040920A (ja) * 2011-07-11 2013-02-28 Boeing Co:The 交換可能なプローブを組み込んだ非破壊検査のシステムおよび方法
JP2018063179A (ja) * 2016-10-13 2018-04-19 三菱重工業株式会社 探触子板交換システムおよび探触子板交換方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013040920A (ja) * 2011-07-11 2013-02-28 Boeing Co:The 交換可能なプローブを組み込んだ非破壊検査のシステムおよび方法
JP2018063179A (ja) * 2016-10-13 2018-04-19 三菱重工業株式会社 探触子板交換システムおよび探触子板交換方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2009107746A1 (ja) 超音波検査装置
JP2002102221A (ja) 超音波探触子及び超音波診断装置
JPH08193988A (ja) 超音波検査装置
US4683751A (en) Sample stand adjusting device in an ultrasonic microscope
JPH11337534A (ja) 携帯用超音波探傷器
JPH07294500A (ja) 超音波映像検査装置
JP3609975B2 (ja) サイジング用超音波探傷装置およびサイジング探傷方法
JPH07236642A (ja) 超音波診断装置
JP5276465B2 (ja) 超音波診断装置及び医療システム
JP3212541B2 (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JP3006945B2 (ja) 超音波探査装置
JP4185209B2 (ja) モード制御方法および超音波診断装置
JP2000333947A (ja) 超音波診断装置
KR100530672B1 (ko) 집속변수 조절수단을 갖는 위상배열 초음파 검사 장치
JP2008046096A (ja) 超音波顕微鏡システムの調整方法、及び超音波顕微鏡システム
JP3189463B2 (ja) 超音波探傷器及びその探触子
JPH08122309A (ja) 超音波検査装置
JP2633565B2 (ja) 超音波診断装置
JPH07174737A (ja) 超音波画像形成方法および超音波画像形成装置
JP2631780B2 (ja) 超音波映像検査装置
JP2004195024A (ja) 超音波診断装置
JPS61200466A (ja) 超音波探傷装置
JPS61165660A (ja) 超音波探傷装置
JPH0330759A (ja) 超音波診断装置の開口幅制御方法
JPH04116457A (ja) 超音波映像化装置とその制御方法並びにエコー測定器