JPH08182668A - Ｘ線撮像装置 - Google Patents
Ｘ線撮像装置Info
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- JPH08182668A JPH08182668A JP6338494A JP33849494A JPH08182668A JP H08182668 A JPH08182668 A JP H08182668A JP 6338494 A JP6338494 A JP 6338494A JP 33849494 A JP33849494 A JP 33849494A JP H08182668 A JPH08182668 A JP H08182668A
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- rays
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 22
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- QDZOEBFLNHCSSF-PFFBOGFISA-N (2S)-2-[[(2R)-2-[[(2S)-1-[(2S)-6-amino-2-[[(2S)-1-[(2R)-2-amino-5-carbamimidamidopentanoyl]pyrrolidine-2-carbonyl]amino]hexanoyl]pyrrolidine-2-carbonyl]amino]-3-(1H-indol-3-yl)propanoyl]amino]-N-[(2R)-1-[[(2S)-1-[[(2R)-1-[[(2S)-1-[[(2S)-1-amino-4-methyl-1-oxopentan-2-yl]amino]-4-methyl-1-oxopentan-2-yl]amino]-3-(1H-indol-3-yl)-1-oxopropan-2-yl]amino]-1-oxo-3-phenylpropan-2-yl]amino]-3-(1H-indol-3-yl)-1-oxopropan-2-yl]pentanediamide Chemical compound C([C@@H](C(=O)N[C@H](CC=1C2=CC=CC=C2NC=1)C(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(N)=O)NC(=O)[C@@H](CC=1C2=CC=CC=C2NC=1)NC(=O)[C@H](CCC(N)=O)NC(=O)[C@@H](CC=1C2=CC=CC=C2NC=1)NC(=O)[C@H]1N(CCC1)C(=O)[C@H](CCCCN)NC(=O)[C@H]1N(CCC1)C(=O)[C@H](N)CCCNC(N)=N)C1=CC=CC=C1 QDZOEBFLNHCSSF-PFFBOGFISA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 特定波長のＸ線に対する吸収データを得て高
分解能の画像を得る。 【構成】 特定波長のＸ線２を発生して被写体３に照射
するＸ線レーザ１と、被写体３を透過した特定波長のＸ
線２が入射する強度積分型Ｘ線センサ４と、上記のＸ線
２を被写体３に対してスキャンさせるスキャン機構５が
備えられる。
分解能の画像を得る。 【構成】 特定波長のＸ線２を発生して被写体３に照射
するＸ線レーザ１と、被写体３を透過した特定波長のＸ
線２が入射する強度積分型Ｘ線センサ４と、上記のＸ線
２を被写体３に対してスキャンさせるスキャン機構５が
備えられる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、Ｘ線透視撮影装置や
Ｘ線ＣＴ装置などの、Ｘ線を用いて画像を撮影するＸ線
撮像装置に関する。
Ｘ線ＣＴ装置などの、Ｘ線を用いて画像を撮影するＸ線
撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＸ線透視撮影装置やＸ線ＣＴ装置
では、Ｘ線源として、タングステン等の金属に電子ビー
ムを衝突させてＸ線を発生させるものを用いるのが普通
である。この場合に発生するＸ線は波長の異なるＸ線が
含まれていて、これが被写体中を通過し、Ｘ線センサで
検出される。Ｘ線センサとしては、Ｘ線フィルムなどの
他にＸｅ電離箱型検出器やＸ線イメージインテンシファ
イアなど強度積分型Ｘ線センサが用いられる。
では、Ｘ線源として、タングステン等の金属に電子ビー
ムを衝突させてＸ線を発生させるものを用いるのが普通
である。この場合に発生するＸ線は波長の異なるＸ線が
含まれていて、これが被写体中を通過し、Ｘ線センサで
検出される。Ｘ線センサとしては、Ｘ線フィルムなどの
他にＸｅ電離箱型検出器やＸ線イメージインテンシファ
イアなど強度積分型Ｘ線センサが用いられる。
【０００３】このような強度積分型Ｘ線センサからは、
被写体を透過したＸ線の入射強度に対応した信号が得ら
れる。被写体中の特定物質でＸ線吸収が起こると、セン
サへの入射強度が低くなるため、センサで検出した入射
強度からＸ線吸収量の理論計算が可能になる。
被写体を透過したＸ線の入射強度に対応した信号が得ら
れる。被写体中の特定物質でＸ線吸収が起こると、セン
サへの入射強度が低くなるため、センサで検出した入射
強度からＸ線吸収量の理論計算が可能になる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ような異なる波長が多数含まれているＸ線を用いる場
合、被写体中の微細領域で、特定波長のＸ線について吸
収が生じても、それを検出できず、結果としてその微細
領域の画像を得ることができないという問題がある。す
なわち、微細領域で特定波長のＸ線について吸収が生じ
ている場合でも、発生Ｘ線の全波長域に対するＸ線吸収
量は他の部位の平均吸収量と比較して差が小さいもので
あるから、センサからの検出信号では、これらの間で有
意な差が出ない。そのため、その微細領域は画像化され
ず、被写体中の物質の分布状態の正確な情報を得ること
ができないことになる。
ような異なる波長が多数含まれているＸ線を用いる場
合、被写体中の微細領域で、特定波長のＸ線について吸
収が生じても、それを検出できず、結果としてその微細
領域の画像を得ることができないという問題がある。す
なわち、微細領域で特定波長のＸ線について吸収が生じ
ている場合でも、発生Ｘ線の全波長域に対するＸ線吸収
量は他の部位の平均吸収量と比較して差が小さいもので
あるから、センサからの検出信号では、これらの間で有
意な差が出ない。そのため、その微細領域は画像化され
ず、被写体中の物質の分布状態の正確な情報を得ること
ができないことになる。
【０００５】この発明は、上記に鑑み、特定波長のＸ線
に対する吸収のデータを得ることによって分解能を向上
させた画像を得ることができる、Ｘ線撮像装置を提供す
ることを目的とする。
に対する吸収のデータを得ることによって分解能を向上
させた画像を得ることができる、Ｘ線撮像装置を提供す
ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるＸ線撮像装置においては、特定波長
のＸ線を発生して被写体に照射するＸ線発生手段と、被
写体を透過した特定波長のＸ線が入射する強度積分型Ｘ
線検出手段と、上記のＸ線を被写体に対してスキャンさ
せる手段とが備えられていることが特徴となっている。
め、この発明によるＸ線撮像装置においては、特定波長
のＸ線を発生して被写体に照射するＸ線発生手段と、被
写体を透過した特定波長のＸ線が入射する強度積分型Ｘ
線検出手段と、上記のＸ線を被写体に対してスキャンさ
せる手段とが備えられていることが特徴となっている。
【０００７】
【作用】被写体に対して特定波長のＸ線を照射し、被写
体を透過したＸ線をＸ線検出手段に入射させて検出す
る。Ｘ線検出手段から得られる検出信号はその入射した
Ｘ線の強度に対応したものとなるが、被写体を透過し、
Ｘ線検出手段に入射するＸ線は特定波長のＸ線であるか
ら、その特定波長のＸ線に関する吸収データが得られる
ことになる。そのため、Ｘ線検出手段として、一般のＸ
ｅ電離箱型検出器等の強度積分型Ｘ線センサを用いて、
特定波長のＸ線に関する吸収データが得られることにな
り、このＸ線を被写体に対してスキャンさせて吸収デー
タの分布を求めることにより、その特定波長のＸ線を吸
収する物質の分布状態を画像化することができる。
体を透過したＸ線をＸ線検出手段に入射させて検出す
る。Ｘ線検出手段から得られる検出信号はその入射した
Ｘ線の強度に対応したものとなるが、被写体を透過し、
Ｘ線検出手段に入射するＸ線は特定波長のＸ線であるか
ら、その特定波長のＸ線に関する吸収データが得られる
ことになる。そのため、Ｘ線検出手段として、一般のＸ
ｅ電離箱型検出器等の強度積分型Ｘ線センサを用いて、
特定波長のＸ線に関する吸収データが得られることにな
り、このＸ線を被写体に対してスキャンさせて吸収デー
タの分布を求めることにより、その特定波長のＸ線を吸
収する物質の分布状態を画像化することができる。
【０００８】
【実施例】以下、この発明の好ましい一実施例について
図面を参照しながら詳細に説明する。図１において、Ｘ
線レーザ１から特定波長のＸ線２が発生させられる。こ
のＸ線レーザ１では発生Ｘ線の波長が任意に選択可能と
なっている。このＸ線２は被写体３に照射され、被写体
３を透過したＸ線２が強度積分型Ｘ線センサ４に入射す
るようにされている。強度積分型Ｘ線センサ４はたとえ
ばＸｅ電離箱型検出器などからなる。
図面を参照しながら詳細に説明する。図１において、Ｘ
線レーザ１から特定波長のＸ線２が発生させられる。こ
のＸ線レーザ１では発生Ｘ線の波長が任意に選択可能と
なっている。このＸ線２は被写体３に照射され、被写体
３を透過したＸ線２が強度積分型Ｘ線センサ４に入射す
るようにされている。強度積分型Ｘ線センサ４はたとえ
ばＸｅ電離箱型検出器などからなる。
【０００９】被写体３中に、上記の特定波長のＸ線にの
み吸収係数が大きい物質Ｐが存在すると、Ｘ線２がこの
物質Ｐを通るとき、透過したＸ線２の強度が微弱になっ
て強度積分型Ｘ線センサ４に入射することになる。この
Ｘ線センサ４からその入射強度に対応した検出信号が得
られ、これから吸収量が算出される。
み吸収係数が大きい物質Ｐが存在すると、Ｘ線２がこの
物質Ｐを通るとき、透過したＸ線２の強度が微弱になっ
て強度積分型Ｘ線センサ４に入射することになる。この
Ｘ線センサ４からその入射強度に対応した検出信号が得
られ、これから吸収量が算出される。
【００１０】このＸ線レーザ１から得られるＸ線２は通
常細いビーム状であるため、上記のようにして得られる
吸収量は、この細いビーム状のＸ線２が通った１点につ
いてのものとなる。そこで、このＸ線２を矢印ａのよう
に所定角度内で振らせたり、矢印ｂに示すように平行移
動させて、その各々の角度・位置について吸収データを
求めれば、その移動させた方向での吸収データの分布が
得られる。
常細いビーム状であるため、上記のようにして得られる
吸収量は、この細いビーム状のＸ線２が通った１点につ
いてのものとなる。そこで、このＸ線２を矢印ａのよう
に所定角度内で振らせたり、矢印ｂに示すように平行移
動させて、その各々の角度・位置について吸収データを
求めれば、その移動させた方向での吸収データの分布が
得られる。
【００１１】そのため、スキャン機構５により、たとえ
ばＸ線レーザ１と強度積分型Ｘ線センサ４とを一体に回
転させたり、移動させたりする。あるいは、このような
機械的な動きではなく、Ｘ線レーザ１と強度積分型Ｘ線
センサ４とを並べたりして、このようなＸ線２によるス
キャンを実現することもできる。
ばＸ線レーザ１と強度積分型Ｘ線センサ４とを一体に回
転させたり、移動させたりする。あるいは、このような
機械的な動きではなく、Ｘ線レーザ１と強度積分型Ｘ線
センサ４とを並べたりして、このようなＸ線２によるス
キャンを実現することもできる。
【００１２】図２は、この発明の第２の実施例を示すも
のである。この実施例はＸ線ＣＴ装置として構成されて
いる。Ｘ線レーザアレイ６は、特定波長のＸ線を発生す
るＸ線レーザを多数並べて、Ｘ線が平行に発生するよう
にしたものである。このＸ線レーザアレイ６と対向する
ように強度積分型Ｘ線センサアレイ７が配置される。こ
の強度積分型Ｘ線センサアレイ７は、Ｘｅ電離箱型検出
器などの強度積分型Ｘ線センサを多数並べて、その各々
に上記のＸ線レーザアレイ６のそれぞれのＸ線が入射す
るようにしたものである。
のである。この実施例はＸ線ＣＴ装置として構成されて
いる。Ｘ線レーザアレイ６は、特定波長のＸ線を発生す
るＸ線レーザを多数並べて、Ｘ線が平行に発生するよう
にしたものである。このＸ線レーザアレイ６と対向する
ように強度積分型Ｘ線センサアレイ７が配置される。こ
の強度積分型Ｘ線センサアレイ７は、Ｘｅ電離箱型検出
器などの強度積分型Ｘ線センサを多数並べて、その各々
に上記のＸ線レーザアレイ６のそれぞれのＸ線が入射す
るようにしたものである。
【００１３】この対向配置されたＸ線レーザアレイ６と
強度積分型Ｘ線センサアレイ７との間の空間に被写体３
が挿入される。そしてスキャン機構８により、このＸ線
レーザアレイ６及び強度積分型Ｘ線センサアレイ７が一
体となって矢印に示すように回転させられる。
強度積分型Ｘ線センサアレイ７との間の空間に被写体３
が挿入される。そしてスキャン機構８により、このＸ線
レーザアレイ６及び強度積分型Ｘ線センサアレイ７が一
体となって矢印に示すように回転させられる。
【００１４】一つの回転角度で見ると、特定波長のＸ線
によって被写体３を平行にスキャンした１列の吸収デー
タが得られる。すなわち、その角度における投影データ
が得られたことになる。このような投影データが、回転
に伴ってすべての角度において得られるため、この各角
度からの投影データを逆投影することにより、被写体３
の断面における、上記特定波長のＸ線についての吸収デ
ータの分布像（断層像）が再構成される。
によって被写体３を平行にスキャンした１列の吸収デー
タが得られる。すなわち、その角度における投影データ
が得られたことになる。このような投影データが、回転
に伴ってすべての角度において得られるため、この各角
度からの投影データを逆投影することにより、被写体３
の断面における、上記特定波長のＸ線についての吸収デ
ータの分布像（断層像）が再構成される。
【００１５】ここで、各角度での投影データを得るた
め、Ｘ線レーザと強度積分型Ｘ線センサとを多数並べた
が、各角度で、一つのＸ線レーザと一つの強度積分型Ｘ
線センサとを平行移動させて投影データを得るよう構成
することも可能である。
め、Ｘ線レーザと強度積分型Ｘ線センサとを多数並べた
が、各角度で、一つのＸ線レーザと一つの強度積分型Ｘ
線センサとを平行移動させて投影データを得るよう構成
することも可能である。
【００１６】また上記第１、第２の実施例で、特定波長
のＸ線を発生させるためにＸ線レーザを用いたが、自由
電子レーザによってもそのような特定波長Ｘ線を発生さ
せることは可能である。
のＸ線を発生させるためにＸ線レーザを用いたが、自由
電子レーザによってもそのような特定波長Ｘ線を発生さ
せることは可能である。
【００１７】
【発明の効果】以上実施例について説明したように、こ
の発明のＸ線撮像装置によれば、特定波長のＸ線を用い
て被写体をスキャンし、吸収データを収集するため、そ
の特定波長のＸ線にのみ吸収係数の大きい物質に関する
画像を分解能高く得ることができる。また、被写体中の
特定物質が特定波長のＸ線を吸収することがわかってい
るのであれば、その波長のＸ線を選択することにより、
その物質のみの分布を高分解能で画像化できる。
の発明のＸ線撮像装置によれば、特定波長のＸ線を用い
て被写体をスキャンし、吸収データを収集するため、そ
の特定波長のＸ線にのみ吸収係数の大きい物質に関する
画像を分解能高く得ることができる。また、被写体中の
特定物質が特定波長のＸ線を吸収することがわかってい
るのであれば、その波長のＸ線を選択することにより、
その物質のみの分布を高分解能で画像化できる。
【図１】この発明の第１の実施例にかかるＸ線撮像装置
のブロック図。
のブロック図。
【図２】同第２の実施例にかかるＸ線撮像装置のブロッ
ク図。
ク図。
１ Ｘ線レーザ ２ 特定波長のＸ線 ３ 被写体 ４ 強度積分型Ｘ線センサ ５、８ スキャン機構 ６ Ｘ線レーザアレイ ７ 強度積分型Ｘ線センサアレイ
Claims (1)
- 【請求項１】 特定波長のＸ線を発生して被写体に照射
するＸ線発生手段と、被写体を透過した特定波長のＸ線
が入射する強度積分型Ｘ線検出手段と、上記のＸ線を被
写体に対してスキャンさせる手段とを備えることを特徴
とするＸ線撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6338494A JPH08182668A (ja) | 1994-12-30 | 1994-12-30 | Ｘ線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6338494A JPH08182668A (ja) | 1994-12-30 | 1994-12-30 | Ｘ線撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08182668A true JPH08182668A (ja) | 1996-07-16 |
Family
ID=18318691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6338494A Pending JPH08182668A (ja) | 1994-12-30 | 1994-12-30 | Ｘ線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08182668A (ja) |
-
1994
- 1994-12-30 JP JP6338494A patent/JPH08182668A/ja active Pending
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