JPH08182668A - X線撮像装置 - Google Patents
X線撮像装置Info
- Publication number
- JPH08182668A JPH08182668A JP6338494A JP33849494A JPH08182668A JP H08182668 A JPH08182668 A JP H08182668A JP 6338494 A JP6338494 A JP 6338494A JP 33849494 A JP33849494 A JP 33849494A JP H08182668 A JPH08182668 A JP H08182668A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- rays
- absorption
- sensor
- specific wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 22
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract description 15
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- QDZOEBFLNHCSSF-PFFBOGFISA-N (2S)-2-[[(2R)-2-[[(2S)-1-[(2S)-6-amino-2-[[(2S)-1-[(2R)-2-amino-5-carbamimidamidopentanoyl]pyrrolidine-2-carbonyl]amino]hexanoyl]pyrrolidine-2-carbonyl]amino]-3-(1H-indol-3-yl)propanoyl]amino]-N-[(2R)-1-[[(2S)-1-[[(2R)-1-[[(2S)-1-[[(2S)-1-amino-4-methyl-1-oxopentan-2-yl]amino]-4-methyl-1-oxopentan-2-yl]amino]-3-(1H-indol-3-yl)-1-oxopropan-2-yl]amino]-1-oxo-3-phenylpropan-2-yl]amino]-3-(1H-indol-3-yl)-1-oxopropan-2-yl]pentanediamide Chemical compound C([C@@H](C(=O)N[C@H](CC=1C2=CC=CC=C2NC=1)C(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(N)=O)NC(=O)[C@@H](CC=1C2=CC=CC=C2NC=1)NC(=O)[C@H](CCC(N)=O)NC(=O)[C@@H](CC=1C2=CC=CC=C2NC=1)NC(=O)[C@H]1N(CCC1)C(=O)[C@H](CCCCN)NC(=O)[C@H]1N(CCC1)C(=O)[C@H](N)CCCNC(N)=N)C1=CC=CC=C1 QDZOEBFLNHCSSF-PFFBOGFISA-N 0.000 description 1
- 102100024304 Protachykinin-1 Human genes 0.000 description 1
- 101800003906 Substance P Proteins 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- CWWARWOPSKGELM-SARDKLJWSA-N methyl (2s)-2-[[(2s)-2-[[2-[[(2s)-2-[[(2s)-2-[[(2s)-5-amino-2-[[(2s)-5-amino-2-[[(2s)-1-[(2s)-6-amino-2-[[(2s)-1-[(2s)-2-amino-5-(diaminomethylideneamino)pentanoyl]pyrrolidine-2-carbonyl]amino]hexanoyl]pyrrolidine-2-carbonyl]amino]-5-oxopentanoyl]amino]-5 Chemical compound C([C@@H](C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](CCSC)C(=O)OC)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@H](CCC(N)=O)NC(=O)[C@H](CCC(N)=O)NC(=O)[C@H]1N(CCC1)C(=O)[C@H](CCCCN)NC(=O)[C@H]1N(CCC1)C(=O)[C@@H](N)CCCN=C(N)N)C1=CC=CC=C1 CWWARWOPSKGELM-SARDKLJWSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 特定波長のX線に対する吸収データを得て高
分解能の画像を得る。 【構成】 特定波長のX線2を発生して被写体3に照射
するX線レーザ1と、被写体3を透過した特定波長のX
線2が入射する強度積分型X線センサ4と、上記のX線
2を被写体3に対してスキャンさせるスキャン機構5が
備えられる。
分解能の画像を得る。 【構成】 特定波長のX線2を発生して被写体3に照射
するX線レーザ1と、被写体3を透過した特定波長のX
線2が入射する強度積分型X線センサ4と、上記のX線
2を被写体3に対してスキャンさせるスキャン機構5が
備えられる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、X線透視撮影装置や
X線CT装置などの、X線を用いて画像を撮影するX線
撮像装置に関する。
X線CT装置などの、X線を用いて画像を撮影するX線
撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のX線透視撮影装置やX線CT装置
では、X線源として、タングステン等の金属に電子ビー
ムを衝突させてX線を発生させるものを用いるのが普通
である。この場合に発生するX線は波長の異なるX線が
含まれていて、これが被写体中を通過し、X線センサで
検出される。X線センサとしては、X線フィルムなどの
他にXe電離箱型検出器やX線イメージインテンシファ
イアなど強度積分型X線センサが用いられる。
では、X線源として、タングステン等の金属に電子ビー
ムを衝突させてX線を発生させるものを用いるのが普通
である。この場合に発生するX線は波長の異なるX線が
含まれていて、これが被写体中を通過し、X線センサで
検出される。X線センサとしては、X線フィルムなどの
他にXe電離箱型検出器やX線イメージインテンシファ
イアなど強度積分型X線センサが用いられる。
【0003】このような強度積分型X線センサからは、
被写体を透過したX線の入射強度に対応した信号が得ら
れる。被写体中の特定物質でX線吸収が起こると、セン
サへの入射強度が低くなるため、センサで検出した入射
強度からX線吸収量の理論計算が可能になる。
被写体を透過したX線の入射強度に対応した信号が得ら
れる。被写体中の特定物質でX線吸収が起こると、セン
サへの入射強度が低くなるため、センサで検出した入射
強度からX線吸収量の理論計算が可能になる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ような異なる波長が多数含まれているX線を用いる場
合、被写体中の微細領域で、特定波長のX線について吸
収が生じても、それを検出できず、結果としてその微細
領域の画像を得ることができないという問題がある。す
なわち、微細領域で特定波長のX線について吸収が生じ
ている場合でも、発生X線の全波長域に対するX線吸収
量は他の部位の平均吸収量と比較して差が小さいもので
あるから、センサからの検出信号では、これらの間で有
意な差が出ない。そのため、その微細領域は画像化され
ず、被写体中の物質の分布状態の正確な情報を得ること
ができないことになる。
ような異なる波長が多数含まれているX線を用いる場
合、被写体中の微細領域で、特定波長のX線について吸
収が生じても、それを検出できず、結果としてその微細
領域の画像を得ることができないという問題がある。す
なわち、微細領域で特定波長のX線について吸収が生じ
ている場合でも、発生X線の全波長域に対するX線吸収
量は他の部位の平均吸収量と比較して差が小さいもので
あるから、センサからの検出信号では、これらの間で有
意な差が出ない。そのため、その微細領域は画像化され
ず、被写体中の物質の分布状態の正確な情報を得ること
ができないことになる。
【0005】この発明は、上記に鑑み、特定波長のX線
に対する吸収のデータを得ることによって分解能を向上
させた画像を得ることができる、X線撮像装置を提供す
ることを目的とする。
に対する吸収のデータを得ることによって分解能を向上
させた画像を得ることができる、X線撮像装置を提供す
ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるX線撮像装置においては、特定波長
のX線を発生して被写体に照射するX線発生手段と、被
写体を透過した特定波長のX線が入射する強度積分型X
線検出手段と、上記のX線を被写体に対してスキャンさ
せる手段とが備えられていることが特徴となっている。
め、この発明によるX線撮像装置においては、特定波長
のX線を発生して被写体に照射するX線発生手段と、被
写体を透過した特定波長のX線が入射する強度積分型X
線検出手段と、上記のX線を被写体に対してスキャンさ
せる手段とが備えられていることが特徴となっている。
【0007】
【作用】被写体に対して特定波長のX線を照射し、被写
体を透過したX線をX線検出手段に入射させて検出す
る。X線検出手段から得られる検出信号はその入射した
X線の強度に対応したものとなるが、被写体を透過し、
X線検出手段に入射するX線は特定波長のX線であるか
ら、その特定波長のX線に関する吸収データが得られる
ことになる。そのため、X線検出手段として、一般のX
e電離箱型検出器等の強度積分型X線センサを用いて、
特定波長のX線に関する吸収データが得られることにな
り、このX線を被写体に対してスキャンさせて吸収デー
タの分布を求めることにより、その特定波長のX線を吸
収する物質の分布状態を画像化することができる。
体を透過したX線をX線検出手段に入射させて検出す
る。X線検出手段から得られる検出信号はその入射した
X線の強度に対応したものとなるが、被写体を透過し、
X線検出手段に入射するX線は特定波長のX線であるか
ら、その特定波長のX線に関する吸収データが得られる
ことになる。そのため、X線検出手段として、一般のX
e電離箱型検出器等の強度積分型X線センサを用いて、
特定波長のX線に関する吸収データが得られることにな
り、このX線を被写体に対してスキャンさせて吸収デー
タの分布を求めることにより、その特定波長のX線を吸
収する物質の分布状態を画像化することができる。
【0008】
【実施例】以下、この発明の好ましい一実施例について
図面を参照しながら詳細に説明する。図1において、X
線レーザ1から特定波長のX線2が発生させられる。こ
のX線レーザ1では発生X線の波長が任意に選択可能と
なっている。このX線2は被写体3に照射され、被写体
3を透過したX線2が強度積分型X線センサ4に入射す
るようにされている。強度積分型X線センサ4はたとえ
ばXe電離箱型検出器などからなる。
図面を参照しながら詳細に説明する。図1において、X
線レーザ1から特定波長のX線2が発生させられる。こ
のX線レーザ1では発生X線の波長が任意に選択可能と
なっている。このX線2は被写体3に照射され、被写体
3を透過したX線2が強度積分型X線センサ4に入射す
るようにされている。強度積分型X線センサ4はたとえ
ばXe電離箱型検出器などからなる。
【0009】被写体3中に、上記の特定波長のX線にの
み吸収係数が大きい物質Pが存在すると、X線2がこの
物質Pを通るとき、透過したX線2の強度が微弱になっ
て強度積分型X線センサ4に入射することになる。この
X線センサ4からその入射強度に対応した検出信号が得
られ、これから吸収量が算出される。
み吸収係数が大きい物質Pが存在すると、X線2がこの
物質Pを通るとき、透過したX線2の強度が微弱になっ
て強度積分型X線センサ4に入射することになる。この
X線センサ4からその入射強度に対応した検出信号が得
られ、これから吸収量が算出される。
【0010】このX線レーザ1から得られるX線2は通
常細いビーム状であるため、上記のようにして得られる
吸収量は、この細いビーム状のX線2が通った1点につ
いてのものとなる。そこで、このX線2を矢印aのよう
に所定角度内で振らせたり、矢印bに示すように平行移
動させて、その各々の角度・位置について吸収データを
求めれば、その移動させた方向での吸収データの分布が
得られる。
常細いビーム状であるため、上記のようにして得られる
吸収量は、この細いビーム状のX線2が通った1点につ
いてのものとなる。そこで、このX線2を矢印aのよう
に所定角度内で振らせたり、矢印bに示すように平行移
動させて、その各々の角度・位置について吸収データを
求めれば、その移動させた方向での吸収データの分布が
得られる。
【0011】そのため、スキャン機構5により、たとえ
ばX線レーザ1と強度積分型X線センサ4とを一体に回
転させたり、移動させたりする。あるいは、このような
機械的な動きではなく、X線レーザ1と強度積分型X線
センサ4とを並べたりして、このようなX線2によるス
キャンを実現することもできる。
ばX線レーザ1と強度積分型X線センサ4とを一体に回
転させたり、移動させたりする。あるいは、このような
機械的な動きではなく、X線レーザ1と強度積分型X線
センサ4とを並べたりして、このようなX線2によるス
キャンを実現することもできる。
【0012】図2は、この発明の第2の実施例を示すも
のである。この実施例はX線CT装置として構成されて
いる。X線レーザアレイ6は、特定波長のX線を発生す
るX線レーザを多数並べて、X線が平行に発生するよう
にしたものである。このX線レーザアレイ6と対向する
ように強度積分型X線センサアレイ7が配置される。こ
の強度積分型X線センサアレイ7は、Xe電離箱型検出
器などの強度積分型X線センサを多数並べて、その各々
に上記のX線レーザアレイ6のそれぞれのX線が入射す
るようにしたものである。
のである。この実施例はX線CT装置として構成されて
いる。X線レーザアレイ6は、特定波長のX線を発生す
るX線レーザを多数並べて、X線が平行に発生するよう
にしたものである。このX線レーザアレイ6と対向する
ように強度積分型X線センサアレイ7が配置される。こ
の強度積分型X線センサアレイ7は、Xe電離箱型検出
器などの強度積分型X線センサを多数並べて、その各々
に上記のX線レーザアレイ6のそれぞれのX線が入射す
るようにしたものである。
【0013】この対向配置されたX線レーザアレイ6と
強度積分型X線センサアレイ7との間の空間に被写体3
が挿入される。そしてスキャン機構8により、このX線
レーザアレイ6及び強度積分型X線センサアレイ7が一
体となって矢印に示すように回転させられる。
強度積分型X線センサアレイ7との間の空間に被写体3
が挿入される。そしてスキャン機構8により、このX線
レーザアレイ6及び強度積分型X線センサアレイ7が一
体となって矢印に示すように回転させられる。
【0014】一つの回転角度で見ると、特定波長のX線
によって被写体3を平行にスキャンした1列の吸収デー
タが得られる。すなわち、その角度における投影データ
が得られたことになる。このような投影データが、回転
に伴ってすべての角度において得られるため、この各角
度からの投影データを逆投影することにより、被写体3
の断面における、上記特定波長のX線についての吸収デ
ータの分布像(断層像)が再構成される。
によって被写体3を平行にスキャンした1列の吸収デー
タが得られる。すなわち、その角度における投影データ
が得られたことになる。このような投影データが、回転
に伴ってすべての角度において得られるため、この各角
度からの投影データを逆投影することにより、被写体3
の断面における、上記特定波長のX線についての吸収デ
ータの分布像(断層像)が再構成される。
【0015】ここで、各角度での投影データを得るた
め、X線レーザと強度積分型X線センサとを多数並べた
が、各角度で、一つのX線レーザと一つの強度積分型X
線センサとを平行移動させて投影データを得るよう構成
することも可能である。
め、X線レーザと強度積分型X線センサとを多数並べた
が、各角度で、一つのX線レーザと一つの強度積分型X
線センサとを平行移動させて投影データを得るよう構成
することも可能である。
【0016】また上記第1、第2の実施例で、特定波長
のX線を発生させるためにX線レーザを用いたが、自由
電子レーザによってもそのような特定波長X線を発生さ
せることは可能である。
のX線を発生させるためにX線レーザを用いたが、自由
電子レーザによってもそのような特定波長X線を発生さ
せることは可能である。
【0017】
【発明の効果】以上実施例について説明したように、こ
の発明のX線撮像装置によれば、特定波長のX線を用い
て被写体をスキャンし、吸収データを収集するため、そ
の特定波長のX線にのみ吸収係数の大きい物質に関する
画像を分解能高く得ることができる。また、被写体中の
特定物質が特定波長のX線を吸収することがわかってい
るのであれば、その波長のX線を選択することにより、
その物質のみの分布を高分解能で画像化できる。
の発明のX線撮像装置によれば、特定波長のX線を用い
て被写体をスキャンし、吸収データを収集するため、そ
の特定波長のX線にのみ吸収係数の大きい物質に関する
画像を分解能高く得ることができる。また、被写体中の
特定物質が特定波長のX線を吸収することがわかってい
るのであれば、その波長のX線を選択することにより、
その物質のみの分布を高分解能で画像化できる。
【図1】この発明の第1の実施例にかかるX線撮像装置
のブロック図。
のブロック図。
【図2】同第2の実施例にかかるX線撮像装置のブロッ
ク図。
ク図。
1 X線レーザ 2 特定波長のX線 3 被写体 4 強度積分型X線センサ 5、8 スキャン機構 6 X線レーザアレイ 7 強度積分型X線センサアレイ
Claims (1)
- 【請求項1】 特定波長のX線を発生して被写体に照射
するX線発生手段と、被写体を透過した特定波長のX線
が入射する強度積分型X線検出手段と、上記のX線を被
写体に対してスキャンさせる手段とを備えることを特徴
とするX線撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6338494A JPH08182668A (ja) | 1994-12-30 | 1994-12-30 | X線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6338494A JPH08182668A (ja) | 1994-12-30 | 1994-12-30 | X線撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08182668A true JPH08182668A (ja) | 1996-07-16 |
Family
ID=18318691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6338494A Pending JPH08182668A (ja) | 1994-12-30 | 1994-12-30 | X線撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08182668A (ja) |
-
1994
- 1994-12-30 JP JP6338494A patent/JPH08182668A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7590215B2 (en) | Coherent-scatter computer tomograph | |
JP3408848B2 (ja) | 散乱x線補正法及びx線ct装置並びに多チャンネルx線検出器 | |
JP2005519668A (ja) | 電離放射線の走査式検出における曝露制御 | |
JP3270060B2 (ja) | 実質的に連続した放射線検出ゾーンを備えたエックス線断層撮影システム | |
EP1633251A1 (en) | Fan-beam coherent-scatter computer tomography | |
JP2009530018A (ja) | 電離放射線の二重線源走査式検出 | |
JPH0233975B2 (ja) | ||
JP2010500553A (ja) | 画像データを取得するシステム及び方法 | |
JP2007508561A (ja) | 非対称csct | |
JP4717393B2 (ja) | 対象物の構造データの取得装置 | |
JP2004347328A (ja) | X線撮影装置 | |
JP2017514632A (ja) | レーザー・コンプトンx線源を用いた二色放射線撮影の方法 | |
JP2007510456A (ja) | 干渉性散乱撮像 | |
JPH10234724A (ja) | X線ct装置 | |
US4896342A (en) | X-ray apparatus | |
JPH06237927A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
EP0764280B1 (en) | Device and method of imaging or measuring of a radiation source | |
JPH08182668A (ja) | X線撮像装置 | |
JP3532649B2 (ja) | X線ct装置 | |
EP0046609B1 (en) | Radiography apparatus with a fan-shaped beam | |
JPS60249040A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
EP0812152B1 (en) | Dental panoramic imaging system | |
JP2006522331A (ja) | イオン化放射線の走査方式の検知 | |
JP2022539611A (ja) | 試料の撮像方法 | |
JPH0692885B2 (ja) | X線ct装置 |