JPH08168924A - 電解研磨法及びこれを用いたリードフレームの製造方法 - Google Patents

電解研磨法及びこれを用いたリードフレームの製造方法

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JPH08168924A
JPH08168924A JP31457194A JP31457194A JPH08168924A JP H08168924 A JPH08168924 A JP H08168924A JP 31457194 A JP31457194 A JP 31457194A JP 31457194 A JP31457194 A JP 31457194A JP H08168924 A JPH08168924 A JP H08168924A
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良麿 手塚
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実行 柿本
Shigeki Ogawa
茂樹 小川
Miyutoshi Tani
美由利 谷
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里志 小林
Kiyotaka Sasaki
清孝 佐々木
Motoyuki Tomizawa
基行 富沢
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  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、無接点式電解研磨装置を用い
て長期間、連続でメッキ可能な電解研磨法とこれを用い
て基材の表面にニッケル層を介在させることなく直接パ
ラジウムメッキを施したリードフレームを製造する方法
の提供を目的とする。 【構成】 無接点式電解研磨装置と、周波数が40
〜120Hzのリップルを持つ直流電流を陽極側と陰極
側とに交互に印可し、リードフレーム用基材が陽極とし
て作用する時間を陰極として作用する時間の3.3倍以
上としつつリードフレーム用基材を電解研磨する方法に
おいて、電解液研磨液としてトリポリリン酸30〜40
g/リットル、リン酸8〜12g/リットル、ホウ酸8
〜12g/リットル、炭酸カリウム1〜3g/リット
ル、ノニオン系界面活性剤0.08〜0.2g/リット
ル、pH4.8〜5.8、液温度35〜45℃の中性電
解研磨液を用いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はリードフレームのメッキ
前処理法に用いる電解研磨法とこれを用いたリードフレ
ームの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電子部品材料であるリードフレームにパ
ラジウムメッキを施したものがある。このリードフレー
ムは、一般に、圧延材料を加工して製造されている。例
えば、圧延材料を型抜きして基材を得、次に電解研磨液
中でアノード溶解して基材表面の凹凸部を研磨し、凹部
に含まれていた油脂を除去する。次に、電解研磨後の基
材表面に存在する酸化膜を硫酸を用いて溶解除去し、中
和処理し、ニッケルストライクメッキをする。そして、
その上に1〜2μmのニッケル電気メッキをし、その上
にパラジウムメッキを施す。
【0003】従来の電解研磨工程ではリードフレーム用
基材表面の凹凸の除去は不完全であり、このような表面
に施されたメッキには種々の不良が発生し、コスト低減
の障害となっている。すなわち、メッキ面のフクレ、ム
ラによるメッキ不良である。
【0004】よって、リードフレーム用基材表面の凹凸
を減少できれば、これら問題点の解消ができるばかりで
なく、リードフレームの材質によっては、電解研磨後の
リードフレーム用基材に直接、あるいは安価な銅ストラ
イクメッキを施した後にパラジウムメッキが可能とな
り、大幅なコストダウンが達成できる。このため、種々
の電解研磨方法が検討されている。
【0005】従来より検討されている電解研磨方法の一
つに無接点式電解研磨装置を用い、酸性浴中で周波数が
40〜120Hzのリップルを持つ直流電流を陽極側と
陰極側とに交互に、リードフレーム用基材が陽極として
作用する時間を陰極として作用する時間の3.3倍以上
としたいわゆるリップルを有する直流電流により電解研
磨する方法がある。この方法では、電解液中を通過する
リードフレーム用基材自身が外部電極と無接触で電極と
なるものである。
【0006】この無接点式電解研磨装置を用いると、非
接触でリードフレーム用基材が電解研磨されるため、変
形することなく、かつ結果的に良好な研磨面が得られる
とされている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】確かに、無接点式電解
研磨装置と酸性電解研磨液とを用いると、研磨後のリー
ドフレーム用基材の表面は従来と比較にならないほど改
善される。しかし、このような非接触式電解研磨装置の
電極を従来のような耐酸性材料である硬鉛やステンレス
で作成すると、速やかに電極が溶解し、長期の連続操業
に耐えないという欠点がある。
【0008】この欠点を解消するものとして、電極をチ
タンで作成することが検討されている。チタン製の電極
を用いると、一定の効果があり、確かに電極の寿命は増
す。しかし、長期の連続操業という点では今一つ十分と
は言えない。そればかりか、酸性電解研磨液を用いた場
合、従来より優れて平滑な研磨面は得られるものの、ニ
ッケルストライクメッキやニッケルメッキを施すことな
く直接パラジウムメッキが可能なほど平滑にはならな
い。
【0009】本発明は上記状況に鑑みてなされたもので
あり、無接点式電解研磨装置を用いて長期間、連続でメ
ッキ可能な電解研磨法とこれを用いて基材の表面にニッ
ケル層を介在させることなく直接パラジウムメッキを施
したリードフレームを製造する方法の提供を課題とす
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、種々の検
討を試みた結果、特定組成の中性電解研磨液を用いれ
ば、上記課題を解決できることを見い出し、本発明に至
った。すなわち、上記課題を解決する本発明の電解研磨
法は、無接点式電解研磨装置と、周波数が40〜120
Hzのリップルを持つ直流電流を陽極側と陰極側とに交
互に印可し、リードフレーム用基材が陽極として作用す
る時間を陰極として作用する時間の3.3倍以上としつ
つリードフレーム用基材を電解研磨する方法において、
電解液研磨液として下記組成の中性電解研磨液を用いる
ものである。
【0011】 ・中性電解研磨液 トリポリリン酸 30〜40 g/リットル リン酸 8〜12 g/リットル ホウ酸 8〜12 g/リットル 炭酸カリウム 1〜 3 g/リットル ノニオン系界面活性剤 0.08〜0.2 g/リットル pH 4.8〜5.8 液温度 35〜45 ℃ なお、本発明の方法において、平均電流密度(リードフ
レームの単位面積当たりの平均通電量)を1.0〜4.
0A/dm2とすることが好ましい。
【0012】そして、本発明のリードフレームの製造方
法は、リードフレーム用基材を浸漬脱脂した後、前記本
発明の電解研磨法により電解研磨し、次いで要すれば化
学研磨あるいはシアン浴での電解研磨を施した後、要す
れば銅ストライクメッキをし、パラジウムメッキをする
ものである。
【0013】本方法において、基材材質が鉄系合金の場
合には銅ストライクメッキを施すことが好ましい。その
方がパラジウムメッキ層の密着強度が高くなるからであ
る。また、基材材質が銅の場合には、銅ストライクメッ
キは不要である。
【0014】
【作用】本発明の電解研磨法の特徴は、特徴ある波形を
持った電流を印加しつつ無接点式電解研磨装置を用いて
電解研磨を行うに際し、トリポリリン酸とリン酸とを含
むpH4.8〜5.8の電解研磨液を用いることであ
る。
【0015】もっとも肝要な点はトリポリリン酸とリン
酸との混合液を電解研磨液とすることである。トリポリ
リン酸とリン酸とは、それぞれ共に基材表面を研磨する
能力を持つ。しかし、それぞれを単独で使用した電解研
磨液では本発明の目的をかなえるほど平滑な研磨面は得
られない。本発明において、トリポリリン酸は研磨の主
剤であり、リン酸は研磨速度の促進剤として機能してい
る。
【0016】本発明において電解研磨液のpHを4.8
〜5.8とするのは、この領域であれば、電極材料とし
て安価なステンレスなどの使用が可能となるからであ
る。また、この領域の電解研磨液を用いれば、かりに銅
系合金製の基材を処理した直後に同じ電解研磨液を用い
て鉄系合金製の基材を処理しても、銅と鉄との置換反応
は無視できる。pHの調整は炭酸カリウムとホウ酸とで
行うが、ホウ酸はpH干渉剤として機能し、電解研磨の
進行にともなうpHの変動を最小限に止める働きをす
る。
【0017】ノニオン系界面活性剤の第1の役割は、基
材表面の残油を電解研磨液に溶解させることである。そ
して、第2の役割は、基材表面に発生した気泡を脱離し
易くさせることである。この結果、基材表面に絶えず電
解研磨液が接触することになる。
【0018】温度はえられる研磨面に影響を与える。温
度が低すぎると研磨速度が遅くなり十分な研磨面はえら
れず、温度が高すぎると研磨速度が早くなりすぎ、かえ
って平滑な研磨面がえられない。本発明の温度はこれを
考慮して選定したものであり、35〜45℃の範囲で最
も良好な研磨面がえられる。
【0019】平均電流密度は上記電解研磨液の組成との
関連で定められたものであり、本発明の1.0〜4.0
A/dm2で有れば、良好な研磨面がえられる。
【0020】次ぎに本発明のリードフレームの製造方法
について述べる。本発明のリードフレームの製造方法
は、いずれも基本として本発明の電解研磨方法を用い
る。本発明の電解研磨を施した後の基材表面に直接、あ
るいはその上に銅ストライクメッキを施した後、パラジ
ウムメッキを施せば良好なメッキ面が得られる。またパ
ラジウムメッキ層と基材との密着強度も従来の要求値と
遜色ない。しかし、用途によっては、さらに高い密着強
度が要求されることもある。このような場合、本発明の
電解研磨後に、従来より一般的に行われている化学研磨
やシアン系電解液を用いた電解研磨を短時間施す。これ
によりパラジウムメッキ層と基材との密着力は更に増
す。
【0021】用いる基材の材質が銅系合金の場合、研磨
後基材表面に直接パラジウムメッキを施すことが可能で
あるが、鉄系合金の場合には研磨後、銅ストライクメッ
キを施した後パラジウムメッキをしなければならない。
これは材質間の密着性の差という本質的な問題に由来す
るものであり、基材表面の平滑度とは無関係といえる。
【0022】ちなみに、本発明の電極を用いた無接点式
電解研磨装置を用いた電解研磨法に適用する電流パター
ンについて説明する。
【0023】図1は陽極側または陰極側に印加する、電
流発生装置(図示せず)によって発生される電流の基本
波形を示すグラフであり、図2は、電流発生装置によっ
て発生した電流を切り替えて陽極側および陰極側に交互
に印加する状態を示すグラフである。
【0024】図1から明らかなように、印加する電流
は、直流電流にリップル(脈動部)を重畳した電流であ
り(以下「リップルを有する直流電流」と呼ぶ)、この
ような波形の電流は交流を整流し、平滑装置により平滑
にすることにより得ることができる。なお、このような
電流波形を得る装置は本発明の部分を構成しないので、
詳細な説明は省略する。
【0025】図2は、図1で示す電流波形を発生する装
置(図示せず)を用いて本発明の方法で電解研磨を行う
際にリードフレームに流す電流の例であり、これが本発
明で用いる電流パターン1例である。図2に示した例で
は陽極側に5個のリップル(リップルの幅:10ms)
が有る直流電流を印加し、その後陰極側に1個のリップ
ルが有る直流電流を印加し、これを1サイクルとし、以
下同様に電流を印加することを示している。
【0026】図2で示すようなパターンの電流を用いる
ことにより、直接リードフレームの表面に銀メッキを施
すことができるほど平滑な電解研磨面が得られる。ま
た、電解研磨でこのようなリップルを有する直流電流を
用いる際、リップルの幅、言い替えるとリップルリップ
ルの周波数と、陽極側および陰極側への電流の印加時間
の割合とが平滑な電解研磨面を得るのに重要である。具
体的には、リップルの周波数を40〜120Hzの範囲
内に選び、リードフレームが陽極として機能する時間が
陰極として機能する時間の3.3倍以上となるようにす
ることが好ましいとされている。
【0027】
【実施例】次に本発明の実施例について述べる。
【0028】(実施例1)幅23cm、長さ45cm、
深さ15cmの2基の電極配置槽を陰極槽とし、幅23
cm、長さ15cm、深さ15cmmの2基の電極配置
槽を陽極槽とし、これらの電極配置槽と幅23cm、長
さ15cm、深さ15cmの4基の処理廃液槽と幅23
cm、長さ10cm、深さ15cmの1基の処理廃を組
み合わせて無接点式電解研磨装置を組立、以下の電解研
磨に使用した。なお、用いた陽極板は厚さ5mm、幅1
0cm、長さ10cmの表面に酸化イリジウムをコーテ
ィングした不溶性電極であり、陰極板は厚さ3mm、幅
10cm、長さ40cmのSUS板である。
【0029】銅材をプレス加工して得た、厚さ0.18
mm、幅10cmmの長尺のリードフレーム基材を上村
工業株式会社製SK−7を50g/リットルの50℃の
脱脂液に20秒間浸漬し、次いで、上記無接点式電解研
磨装置と下記組成の電解液を用いて電解研磨を行った。
【0030】 <電解液> トリポリリン酸 35 g/リットル リン酸 10 g/リットル ホウ酸 10 g/リットル 炭酸カリウム 2 g/リットル AU−150(上村工業株式会社社製界面活性剤) 0.17g/リットル pH 5.0 液温度 40 ℃ なお、リードフレームの研磨時間が20秒となるように
搬送速度を調整し、平均電流密度が2.0A/dm2
なるようにし、リップルを構成する1つの波のサイクル
が10mS(ミリ秒)のリップルを有する直流電流を、
1サイクル中の+側が23ヶの波とし、−側が1ヶの波
となるようなパターンでリードフレームに印加し電解研
磨を行った。なお、10mSのリップルの周波数は50
Hzである。また、電解研磨後、リードフレームを水洗
し、表面を目視観察した。その結果、素材表面全体の水
濡れ性は均一であり、水をはじいた部分は見あたらず、
かつリードフレームのパッド部分においても同様であっ
た。ちなみに、このリードフレームの表面の粗さを東京
精密株式会社社製の粗さ計サーフコム 554Aを用い
て測定したところ、処理前の凹部の平均値が0.55μ
m、凸部の平均値が0.35μmで有ったものが、処理
後には凹部の平均値は0.1μm、凸部の平均値が0.
04μmとなっており、極めて平滑になっていることが
わかった。
【0031】次にリードフレームの表面を25g/リッ
トルのエンゲル置換防止材溶液に10秒間浸漬し、中和
処理を行い、Degussa Japan 製のPd−
451を用いた40℃のPdメッキ液を30秒間吹き当
て、電流密度1.5A/dm2でPdメッキを行った。
得られたPdメッキ被膜の厚さを直径0.2mmコリメ
ータを用い、測定時間10秒で測定した。測定はリード
フレームのパターンを任意に6パターン選び、各パター
ンのパット部の中央と、パット部の4隅の5箇所で行
い、各5カ所の平均値と標準偏差とを求めた。得られた
結果を表1に示した。
【0032】 表1よりリードフレームの表面と裏面とのメッキ厚の差
はばらつきの範囲内にあることがわかる。
【0033】次に、リードフレームの折り曲げ試験とし
て90度折り曲げを6回おこない目視観察により異常の
有無を調べた。その結果、クラックの発生は認められな
かった。
【0034】次に、常法に従いピーリング試験行ったが
剥がれは認められず、良好な密着製が得られていること
がわかった。
【0035】最後に300℃、5分間加熱し、表面を観
察したが、膨れも加熱変色も見られなかった。
【0036】以上の結果より本実施例で得られたリード
フレームは十分実用に足ることがわかった。しかし、問
題はパラジウムメッキ層に金線をボンディングしたとき
に支障無いかどうかである。そこで、海上電気製のボン
ダーFB117を用い、30ミクロンの金線をボンディ
ングし、250℃に加熱後、冷却し、冷却直後、24時
間後、48時間後、72時間後、96時間後にワイヤー
切れ試験を行った。これを20回繰り返し、切断時の強
度の最低値と最高値と平均値とを求めた。得られた結果
を表2に示した。
【0037】 最低値が4g以上の強度で有れば実用に足るとされてい
る。よって、本実施例で得られたリードフレームが実用
に足るのは明かである。
【0038】(実施例2)電解液の組成をトリポリリン
酸 30g/リットル、リン酸 8g/リットル、ホウ
酸 8g/リットル、炭酸カリウム 1g/リットル、
AU−150(上村工業株式会社社製界面活性剤)
0.08g/リットル、pH5.0、液温度35℃とし
た以外は実施例1と同様にしてリードフレームを作成
し、ボンデイング試験を行った。
【0039】得られた結果は実施例1と同様であった。
【0040】(実施例3)電解液の組成をトリポリリン
酸 40g/リットル、リン酸 12g/リットル、ホ
ウ酸 12g/リットル、炭酸カリウム 3g/リット
ル、AU−150(上村工業株式会社社製界面活性剤)
0.2g/リットル、pH5.5、液温度 45℃と
した以外は実施例1と同様にしてリードフレームを作成
し、ボンデイング試験を行った。
【0041】得られた結果は実施例1と同様であった。
【0042】(実施例4)本発明の方法で電解研磨した
後、三菱ガス化学製化学研磨液CPBを用いて10秒間
処理し、次いで水洗し、パラジウムメッキを施した以外
は実施例1と同様にしてリードフレームを作成し、ワイ
ヤーボンディングし、強度試験を行った。得られた結果
を表3に示した。
【0043】 表3の結果より、化学研磨処理を追加することによりワ
イヤーボンディング強度が概ね1g上昇し、より信頼性
が出ることがわかる。
【0044】(実施例5)化学研磨の代わりにシアンを
含むアルカリ性電解研磨液を用い、電流密度1.5A/
dm2、電解時間10秒の電解研磨を行った以外は実施
例4と同様にリードフレームを作成し、ワイヤーボンデ
ィングし、強度試験を行った。
【0045】得られた結果は、実施例4と同様であっ
た。
【0046】(実施例6)鉄合金性のリードフレーム用
機材を用い、パラジウムメッキ前に銅ストライクメッキ
を施した以外は実施例1と同様にしてリードフレームを
作成し、ワイヤーボンディングし、強度試験を行った。
【0047】得られた結果を表4に示した。
【0048】 表4より最低値は時間とともに低下するものの実使用に
支障はないことがわかる。
【0049】(実施例7)本発明の方法で電解研磨した
後、三菱ガス化学製化学研磨液CPBを用いて10秒間
処理し、次いで水洗し、銅ストライクメッキを施した以
外は実施例6と同様にしてリードフレームを作成し、ワ
イヤーボンディングし、強度試験を行った。得られた結
果を表5に示した。
【0050】 表5の結果より、化学研磨処理を追加することによりワ
イヤーボンディング強度が概ね1g上昇し、より信頼性
が出ることがわかる。
【0051】(実施例8)化学研磨の代わりにシアンを
含むアルカリ性電解研磨液を用い、電流密度1.5A/
dm2、電解時間10秒の電解研磨を行った以外は実施
例7と同様にリードフレームを作成し、ワイヤーボンデ
ィングし、強度試験を行った。
【0052】得られた結果は、実施例7と同様であっ
た。
【0053】(実施例9)鉄合金性のリードフレーム用
機材を用い、パラジウムメッキ前に銅ストライクメッキ
を施した以外は実施例1と同様にしてリードフレームを
作成し、ワイヤーボンディングし、強度試験を行った。
【0054】得られた結果は実施例1と同様であった。
【0055】(比較例1)本発明の電解研磨法の代わり
に従来の電解研磨法を行った以外は実施例1と同様にパ
ラジウムメッキを行った。しかし、メッキ面は不良が多
く以降のボンディング試験はできなかった。
【0056】
【発明の効果】本発明の方法を用いれば、ニッケルメッ
キレスのパラジウムメッキ被膜付きリードフレームが簡
単にできる。ニッケルメッキが不要とされる為、本発明
の方法の経済的優位性は明かである。
【図面の簡単な説明】
【図1】陽極側または陰極側に印加する電流の基本波形
を示すグラフである。
【図2】電流発生装置によって発生した電流を切り替え
て陽極側および陰極側に交互に印加する態様を示すグラ
フである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐々木 清孝 東京都 青梅市 末広町 1−6−1 住 友金属鉱山株式会社電子事業本部内 (72)発明者 富沢 基行 東京都 青梅市 末広町 1−6−1 住 友金属鉱山株式会社電子事業本部内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 無接点式電解研磨装置と、周波数が4
    0〜120Hzのリップルを持つ直流電流を陽極側と陰
    極側とに交互に印可し、リードフレーム用基材が陽極と
    して作用する時間を陰極として作用する時間の3.3倍
    以上としつつリードフレーム用基材を電解研磨する方法
    において、電解液研磨液として下記組成の中性電解研磨
    液を用いることを特徴とする電解研磨法。 ・中性電解研磨液 トリポリリン酸 30〜40 g/リットル リン酸 8〜12 g/リットル ホウ酸 8〜12 g/リットル 炭酸カリウム 1〜 3 g/リットル ノニオン系界面活性剤 0.08〜0.2 g/リットル pH 4.8〜5.8 液温度 35〜45 ℃
  2. 【請求項2】 平均電流密度(リードフレームの単位
    面積当たりの平均通電量)を1.0〜4.0A/dm2
    とすることを特徴とする請求項1記載の電解研磨法。
  3. 【請求項3】 リードフレーム用基材を浸漬脱脂した
    後、請求項1または2記載の電解研磨法により電解研磨
    し、パラジウムメッキをすることを特徴とするリードフ
    レームの製造方法。
  4. 【請求項4】 リードフレーム用基材を浸漬脱脂した
    後、請求項1または2記載の電解研磨法により電解研磨
    し、次いで銅ストライクメッキをし、パラジウムメッキ
    をすることを特徴とするリードフレームの製造方法。
  5. 【請求項5】 リードフレーム用基材を浸漬脱脂した
    後、請求項1または2記載の電解研磨法により電解研磨
    し、化学研磨あるいはシアン浴での電解研磨を施した
    後、パラジウムメッキをすることを特徴とするリードフ
    レームの製造方法。
  6. 【請求項6】 リードフレーム用基材を浸漬脱脂した
    後、請求項1または2記載の電解研磨法により電解研磨
    し、化学研磨あるいはシアン浴での電解研磨を施した
    後、銅ストライクメッキをし、パラジウムメッキをする
    ことを特徴とするリードフレームの製造方法。
JP31457194A 1994-11-21 1994-12-19 電解研磨法及びこれを用いたリードフレームの製造方法 Expired - Fee Related JP3463772B2 (ja)

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JP31457194A Expired - Fee Related JP3463772B2 (ja) 1994-11-21 1994-12-19 電解研磨法及びこれを用いたリードフレームの製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6475646B2 (en) * 2000-08-17 2002-11-05 Samsung Techwin Co., Ltd. Lead frame and method of manufacturing the lead frame
MY120645A (en) * 2000-08-17 2005-11-30 Samsung Techwin Co Ltd Lead frame and method of manufacturing the lead frame

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