JPH08166892A - データ処理装置の試験方法 - Google Patents
データ処理装置の試験方法Info
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- JPH08166892A JPH08166892A JP6309240A JP30924094A JPH08166892A JP H08166892 A JPH08166892 A JP H08166892A JP 6309240 A JP6309240 A JP 6309240A JP 30924094 A JP30924094 A JP 30924094A JP H08166892 A JPH08166892 A JP H08166892A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試験命令群の命令数を数千〜数万命令に拡大
可能とし、被試験データ処理装置に高い負荷を与え、命
令に関する例外の発生確率を低下させて、被試験データ
処理装置の検証を容易にし、かつ、検証精度の向上を図
る。 【構成】 試験命令群及び実行初期値を乱数データより
作成する（２０）。命令をシミュレートし期待値を作成
する（２１）。試験命令群を被試験データ処理装置に実
行させ実行結果値を得る（２２）。期待値と実行結果値
を比較し（２３）、不一致の場合には試験命令群を不一
致の発生し得る最短の試験命令群に短縮し（２４）、エ
ラーメッセージを出力する（２５）。
可能とし、被試験データ処理装置に高い負荷を与え、命
令に関する例外の発生確率を低下させて、被試験データ
処理装置の検証を容易にし、かつ、検証精度の向上を図
る。 【構成】 試験命令群及び実行初期値を乱数データより
作成する（２０）。命令をシミュレートし期待値を作成
する（２１）。試験命令群を被試験データ処理装置に実
行させ実行結果値を得る（２２）。期待値と実行結果値
を比較し（２３）、不一致の場合には試験命令群を不一
致の発生し得る最短の試験命令群に短縮し（２４）、エ
ラーメッセージを出力する（２５）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、データ処理装置の試験
方法に係り、特に、ランダムに試験命令群を生成して被
試験データ処理装置の処理機能を試験するために使用し
て好適なデータ処理装置の試験方法に関する。
方法に係り、特に、ランダムに試験命令群を生成して被
試験データ処理装置の処理機能を試験するために使用し
て好適なデータ処理装置の試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】データ処理装置の高性能化を支える技術
として、命令を幾つかの処理ステップ（ステージ）に分
解し、複数の処理装置（ユニット）のそれぞれに特定の
ステージを１マシンサイクル毎に処理させるパイプライ
ン処理方式が広く採用されている。この先行制御機能と
も呼ばれるパイプライン処理は、複雑かつ大規模な論理
により実現されており、先行制御の度合いが非常に深く
なっている。
として、命令を幾つかの処理ステップ（ステージ）に分
解し、複数の処理装置（ユニット）のそれぞれに特定の
ステージを１マシンサイクル毎に処理させるパイプライ
ン処理方式が広く採用されている。この先行制御機能と
も呼ばれるパイプライン処理は、複雑かつ大規模な論理
により実現されており、先行制御の度合いが非常に深く
なっている。
【０００３】そのため、このようなパイプライン処理装
置の先行制御機能の検証は、試験命令群の命令数拡大に
よる複雑な機能の組み合わせの発生によって、データ処
理装置（命令プロセッサ）に高負荷を与えた条件下での
試験を行うことが重要となっている。
置の先行制御機能の検証は、試験命令群の命令数拡大に
よる複雑な機能の組み合わせの発生によって、データ処
理装置（命令プロセッサ）に高負荷を与えた条件下での
試験を行うことが重要となっている。
【０００４】前述したような論理検証を目的とした試験
プログラムの中の、乱数データを入力として試験命令群
を生成する乱数試験プログラムであって、試験命令群の
命令数を拡大してデータ処理装置の試験を行う方法に関
する従来技術として、例えば、特開平２−２４４３３７
号公報等に記載された技術が知られている。
プログラムの中の、乱数データを入力として試験命令群
を生成する乱数試験プログラムであって、試験命令群の
命令数を拡大してデータ処理装置の試験を行う方法に関
する従来技術として、例えば、特開平２−２４４３３７
号公報等に記載された技術が知られている。
【０００５】この従来技術は、乱数データを入力として
試験命令群を生成する乱数試験プログラムを用いて、パ
イプライン処理の試験を高負荷を与えた環境で実行する
ために必要な大規模な試験命令群を生成するというもの
である。この方法は、乱数データを用いるという性格
上、命令に関する例外の発生確率が高くなるのが必至で
あり、生成された命令及びデータを補正する必要があ
る。その場合の補正は、試験命令群実行時に補正しなが
ら被試験データ処理装置をリスタートさせる方法と、命
令生成時に補正する方法とが考えられる。
試験命令群を生成する乱数試験プログラムを用いて、パ
イプライン処理の試験を高負荷を与えた環境で実行する
ために必要な大規模な試験命令群を生成するというもの
である。この方法は、乱数データを用いるという性格
上、命令に関する例外の発生確率が高くなるのが必至で
あり、生成された命令及びデータを補正する必要があ
る。その場合の補正は、試験命令群実行時に補正しなが
ら被試験データ処理装置をリスタートさせる方法と、命
令生成時に補正する方法とが考えられる。
【０００６】前者の方法は、試験命令群実行中に例外の
発生により試験が中断されてパイプライン処理の試験を
実施する上であまり良い方法とは言えないものであが、
前記公報に記載された従来技術は、命令生成時に生成さ
れた命令及びデータを補正する方法を用いて、有効な試
験命令群を効率良く生成することができる。
発生により試験が中断されてパイプライン処理の試験を
実施する上であまり良い方法とは言えないものであが、
前記公報に記載された従来技術は、命令生成時に生成さ
れた命令及びデータを補正する方法を用いて、有効な試
験命令群を効率良く生成することができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来技術は、
試験実行時、乱数試験プログラムのデータ処理装置によ
る実行結果とシミュレーションにより作成された期待値
とに不一致が生じた場合に、出力されたエラーメッセー
ジ等の情報に基づいて、不一致の原因を探索していくこ
とになる。しかし、発生した不一致が、伝搬していく性
質を持っていること、また、最初に発生した不一致が後
続試験命令群の実行により消失する場合があること等の
理由により、前述した従来技術は、試験命令群の命令数
を著しく拡大することが、不一致原因の探索を著しく困
難あるいは不可能にするという問題点を有している。
試験実行時、乱数試験プログラムのデータ処理装置によ
る実行結果とシミュレーションにより作成された期待値
とに不一致が生じた場合に、出力されたエラーメッセー
ジ等の情報に基づいて、不一致の原因を探索していくこ
とになる。しかし、発生した不一致が、伝搬していく性
質を持っていること、また、最初に発生した不一致が後
続試験命令群の実行により消失する場合があること等の
理由により、前述した従来技術は、試験命令群の命令数
を著しく拡大することが、不一致原因の探索を著しく困
難あるいは不可能にするという問題点を有している。
【０００８】このため、前述の従来技術は、実際に試験
を実施する場合に、試験命令群の命令数として数百命令
が限界であり、それ以上の命令数を持った試験命令群を
生成することが困難であるという問題点を有している。
を実施する場合に、試験命令群の命令数として数百命令
が限界であり、それ以上の命令数を持った試験命令群を
生成することが困難であるという問題点を有している。
【０００９】本発明の目的は、前記従来技術の問題点を
解決し、試験命令群の命令数を従来の数百命令から数千
〜数万命令に拡大することが可能であり、データ処理装
置に従来よりも高い負荷を与えて、より高精度に機能の
検証を行うことができるデータ処理装置の試験方法を提
供することにある。
解決し、試験命令群の命令数を従来の数百命令から数千
〜数万命令に拡大することが可能であり、データ処理装
置に従来よりも高い負荷を与えて、より高精度に機能の
検証を行うことができるデータ処理装置の試験方法を提
供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明によれば前記目的
は、乱数データを入力として試験命令群を繰り返し生成
し、前記試験命令群を被試験データ処理装置としての実
データ処理装置または実データ処理装置の動作をシミュ
レートする論理シミュレーション装置に実行させるデー
タ処理装置の試験方法において、前記生成された試験命
令群の実行結果の期待値をシミュレーションにより作成
し、前記試験命令群を被試験データ処理装置に実行させ
た実行結果と前記シミュレーションにより作成した期待
値とを比較して不一致が生じた場合、前記不一致を発生
させた試験命令群を、不一致が発生し得る最短の試験命
令群に短縮するようにすることにより達成される。
は、乱数データを入力として試験命令群を繰り返し生成
し、前記試験命令群を被試験データ処理装置としての実
データ処理装置または実データ処理装置の動作をシミュ
レートする論理シミュレーション装置に実行させるデー
タ処理装置の試験方法において、前記生成された試験命
令群の実行結果の期待値をシミュレーションにより作成
し、前記試験命令群を被試験データ処理装置に実行させ
た実行結果と前記シミュレーションにより作成した期待
値とを比較して不一致が生じた場合、前記不一致を発生
させた試験命令群を、不一致が発生し得る最短の試験命
令群に短縮するようにすることにより達成される。
【００１１】また、前記目的は、前記不一致を発生させ
た試験命令群を、不一致が発生し得る最短の試験命令群
への短縮を、その試験命令群の先頭命令から順次命令を
削除し、試験命令群の最終命令から順次命令を削除する
ことにより行うようにすることにより達成される。
た試験命令群を、不一致が発生し得る最短の試験命令群
への短縮を、その試験命令群の先頭命令から順次命令を
削除し、試験命令群の最終命令から順次命令を削除する
ことにより行うようにすることにより達成される。
【００１２】
【作用】本発明にれば、従来、数百命令が限度であった
試験命令群の命令数を、数千〜数万命令に拡大すること
が可能となり、このことにより、従来よりも試験命令群
の実行によりデータ処理装置に高負荷を与えることが可
能となる。また、命令に関する例外の発生確率を従来技
術の場合より低下させることができるので、検証を容易
にし、しかも、検証精度の向上を図ることができる。
試験命令群の命令数を、数千〜数万命令に拡大すること
が可能となり、このことにより、従来よりも試験命令群
の実行によりデータ処理装置に高負荷を与えることが可
能となる。また、命令に関する例外の発生確率を従来技
術の場合より低下させることができるので、検証を容易
にし、しかも、検証精度の向上を図ることができる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明によるデータ処理装置の試験方
法の一実施例を図面により詳細に説明する。
法の一実施例を図面により詳細に説明する。
【００１４】図１は本発明の一実施例の試験方法により
データ処理装置の試験を実施する試験システムの構成を
示すブロック図、図２は図１の試験システムの処理を説
明するフローチャート、図３は図２の試験命令群編集の
処理を説明するフローチャートである。図１において、
１は試験システム、２は試験命令群生成部、３は命令シ
ミュレート部、４は試験命令群実行部、５は実行結果比
較部、６は試験命令群編集部、７はエラーメッセージ出
力部、８は試験命令群、９は実行初期値、１０は期待
値、１１は実行結果値、１２はエラーメッセージであ
る。
データ処理装置の試験を実施する試験システムの構成を
示すブロック図、図２は図１の試験システムの処理を説
明するフローチャート、図３は図２の試験命令群編集の
処理を説明するフローチャートである。図１において、
１は試験システム、２は試験命令群生成部、３は命令シ
ミュレート部、４は試験命令群実行部、５は実行結果比
較部、６は試験命令群編集部、７はエラーメッセージ出
力部、８は試験命令群、９は実行初期値、１０は期待
値、１１は実行結果値、１２はエラーメッセージであ
る。
【００１５】本発明の一実施例の試験方法によりデータ
処理装置の試験を実施する試験システム１は、図１に示
すように、試験命令群８及び実行初期値９を乱数データ
を用いて作成する試験命令群生成部２と、試験命令群８
及び実行初期値９の試験命令群をシミュレートして期待
値１０を生成する命令シミュレート部３と、実行初期値
９を初期値として、試験を行うデータ処理装置に試験命
令群８を実行させて実行結果値１１を得る試験命令群実
行部４と、期待値１０と実行結果値１１とを比較して不
一致を検出する実行結果比較部５と、実行結果比較部５
により不一致が検出された場合に試験命令群８、実行初
期値９及び期待値１０を不一致が発生し得る最短の試験
命令群に短縮する試験命令群編集部６と、試験命令群
８、実行初期値９、期待値１０及び実行結果値１１から
エラーメッセージ１２を作成するエラーメッセージ出力
部７とにより構成される。
処理装置の試験を実施する試験システム１は、図１に示
すように、試験命令群８及び実行初期値９を乱数データ
を用いて作成する試験命令群生成部２と、試験命令群８
及び実行初期値９の試験命令群をシミュレートして期待
値１０を生成する命令シミュレート部３と、実行初期値
９を初期値として、試験を行うデータ処理装置に試験命
令群８を実行させて実行結果値１１を得る試験命令群実
行部４と、期待値１０と実行結果値１１とを比較して不
一致を検出する実行結果比較部５と、実行結果比較部５
により不一致が検出された場合に試験命令群８、実行初
期値９及び期待値１０を不一致が発生し得る最短の試験
命令群に短縮する試験命令群編集部６と、試験命令群
８、実行初期値９、期待値１０及び実行結果値１１から
エラーメッセージ１２を作成するエラーメッセージ出力
部７とにより構成される。
【００１６】次に、前述のように構成される試験システ
ム１の全体の処理動作を図２に示すフローを参照して説
明する。
ム１の全体の処理動作を図２に示すフローを参照して説
明する。
【００１７】（１）試験命令群生成部２が、乱数データ
を入力として試験命令群８及び実行初期値９を生成する
（ステップ２０）。
を入力として試験命令群８及び実行初期値９を生成する
（ステップ２０）。
【００１８】（２）命令シミュレート部３が、ステップ
２０で生成された試験命令群の命令をシミュレートして
期待値１０を作成する（ステップ２１）。
２０で生成された試験命令群の命令をシミュレートして
期待値１０を作成する（ステップ２１）。
【００１９】（３）試験命令群実行部４が、試験命令群
８を被試験データ処理装置で実行し、実行結果値１１を
得る（ステップ２２）。
８を被試験データ処理装置で実行し、実行結果値１１を
得る（ステップ２２）。
【００２０】（４）実行結果比較部５が、ステップ２２
で得た実行結果値１１とステップ２１で作成された期待
値１０とを比較する（ステップ２３）。
で得た実行結果値１１とステップ２１で作成された期待
値１０とを比較する（ステップ２３）。
【００２１】（５）ステップ２３の比較で実行結果値１
１と期待値１０とに不一致が生じている場合、試験命令
群編集部６が、試験命令群を不一致が発生し得る最短の
試験命令群に短縮する（ステップ２４）。
１と期待値１０とに不一致が生じている場合、試験命令
群編集部６が、試験命令群を不一致が発生し得る最短の
試験命令群に短縮する（ステップ２４）。
【００２２】（６）エラーメッセージ出力部７が、試験
命令群８、実行初期値９、期待値１０及び実行結果値１
１からエラーメッセージを作成して出力する（ステップ
２５）。
命令群８、実行初期値９、期待値１０及び実行結果値１
１からエラーメッセージを作成して出力する（ステップ
２５）。
【００２３】（７）ステップ２５の処理終了後、及び、
ステップ２３の比較で実行結果値１１と期待値１０とが
一致している場合、試験終了条件を満たすか否かを判定
し、試験終了条件を満たしている場合には試験を終了
し、そうでない場合、ステップ２０に戻って試験を続け
る。試験終了条件としては、試験実行回数等がある（ス
テップ２６）。
ステップ２３の比較で実行結果値１１と期待値１０とが
一致している場合、試験終了条件を満たすか否かを判定
し、試験終了条件を満たしている場合には試験を終了
し、そうでない場合、ステップ２０に戻って試験を続け
る。試験終了条件としては、試験実行回数等がある（ス
テップ２６）。
【００２４】次に、前述で説明したステップ２４の試験
命令群編集の処理の詳細を図３に示すフローを参照して
説明する。
命令群編集の処理の詳細を図３に示すフローを参照して
説明する。
【００２５】（１）図２により説明したステップ２３の
比較で実行結果値１１と期待値１０とが不一致となり、
試験命令群の編集が開始されると、まず、試験命令群の
先頭命令を削除する（ステップ３０）。
比較で実行結果値１１と期待値１０とが不一致となり、
試験命令群の編集が開始されると、まず、試験命令群の
先頭命令を削除する（ステップ３０）。
【００２６】（２）ステップ３０で削除した命令を実行
したとして、その後の状態から命令群を実行するために
実行初期値を変更する（ステップ３１）。
したとして、その後の状態から命令群を実行するために
実行初期値を変更する（ステップ３１）。
【００２７】（３）先頭命令を削除した試験命令群を、
ステップ３１で変更した実行初期値を用いて実行する
（ステップ３２）。
ステップ３１で変更した実行初期値を用いて実行する
（ステップ３２）。
【００２８】（４）期待値とステップ３２の実行で得ら
れた実行結果値とを比較し、不一致が生じた場合、ステ
ップ３０の処理に戻って、次の命令を削除し、さらに、
ステップ３１、３２の処理を繰り返す（ステップ３
３）。
れた実行結果値とを比較し、不一致が生じた場合、ステ
ップ３０の処理に戻って、次の命令を削除し、さらに、
ステップ３１、３２の処理を繰り返す（ステップ３
３）。
【００２９】（５）ステップ３３の比較で期待値と実行
結果値との一致が得られた場合、最後に削除した命令を
試験命令群に戻す（ステップ３４）。
結果値との一致が得られた場合、最後に削除した命令を
試験命令群に戻す（ステップ３４）。
【００３０】（６）ステップ３４で戻した命令を実行す
る前の状態に実行初期値を変更する（ステップ３５）。
る前の状態に実行初期値を変更する（ステップ３５）。
【００３１】（７）次に、試験命令群の最終命令を削除
する（ステップ３６）。
する（ステップ３６）。
【００３２】（８）ステップ３６で削除された命令を実
行することなく試験命令群の実行を終了させたとした場
合の結果に期待値を変更する（ステップ３７）。
行することなく試験命令群の実行を終了させたとした場
合の結果に期待値を変更する（ステップ３７）。
【００３３】（９）最終命令を削除した試験命令群を実
行初期値を用いて実行する（ステップ３８）。
行初期値を用いて実行する（ステップ３８）。
【００３４】（10）期待値とステップ３８の実行で得ら
れた実行結果値とを比較し、不一致が生じた場合、ステ
ップ３６の処理に戻って、もう１つ前の命令を削除し、
さらに、ステップ３７、３８の処理を繰り返す（ステッ
プ３９）。
れた実行結果値とを比較し、不一致が生じた場合、ステ
ップ３６の処理に戻って、もう１つ前の命令を削除し、
さらに、ステップ３７、３８の処理を繰り返す（ステッ
プ３９）。
【００３５】（11）ステップ３９の比較で期待値と実行
結果値との一致が得られた場合、最後に削除した命令を
試験命令群に戻す（ステップ４０）。
結果値との一致が得られた場合、最後に削除した命令を
試験命令群に戻す（ステップ４０）。
【００３６】（12）ステップ４０で戻した命令を実行後
の状態に期待値を変更する（ステップ４１）。
の状態に期待値を変更する（ステップ４１）。
【００３７】前述したような処理を実行することによ
り、試験命令群は、実行結果と期待値との不一致が発生
し得る最短の試験命令群に短縮されることになり、ま
た、命令に関する例外の発生確率を従来技術の場合より
低下させることができる。
り、試験命令群は、実行結果と期待値との不一致が発生
し得る最短の試験命令群に短縮されることになり、ま
た、命令に関する例外の発生確率を従来技術の場合より
低下させることができる。
【００３８】前述した本発明の一実施例によれば、試験
命令群の命令数を数千〜数万命令に拡大することが可能
になり、従来よりも被試験データ処理装置に高い負荷を
与えることが可能になり、命令に関する例外の発生確率
を従来技術の場合より低下させることができるため、被
試験データ処理装置の検証を容易にし、かつ、検証精度
の向上を図ることができる。
命令群の命令数を数千〜数万命令に拡大することが可能
になり、従来よりも被試験データ処理装置に高い負荷を
与えることが可能になり、命令に関する例外の発生確率
を従来技術の場合より低下させることができるため、被
試験データ処理装置の検証を容易にし、かつ、検証精度
の向上を図ることができる。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、従
来、数百命令が限度であった試験命令群の命令数を、数
千〜数万命令に拡大することが可能となり、また、命令
に関する例外の発生確率を従来技術の場合より低下させ
ることができるので、従来よりも試験命令群の実行によ
るデータ処理装置の負荷を高負荷とすることができ、し
かも、検証を容易にして、検証精度の向上を図ることが
できる。
来、数百命令が限度であった試験命令群の命令数を、数
千〜数万命令に拡大することが可能となり、また、命令
に関する例外の発生確率を従来技術の場合より低下させ
ることができるので、従来よりも試験命令群の実行によ
るデータ処理装置の負荷を高負荷とすることができ、し
かも、検証を容易にして、検証精度の向上を図ることが
できる。
【図１】本発明の一実施例の試験方法によりデータ処理
装置の試験を実施する試験システムの構成を示すブロッ
ク図である。
装置の試験を実施する試験システムの構成を示すブロッ
ク図である。
【図２】図１に示す試験システムの処理を説明するフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図３】図２に示す試験命令群編集の処理を説明するフ
ローチャートである。
ローチャートである。
１ 試験システム ２ 試験命令群及び実行初期値生成部 ３ 命令シミュレート部 ４ 試験命令群実行部 ５ 実行結果比較部 ６ 試験命令群編集部 ７ エラーメッセージ出力部 ８ 試験命令群 ９ 実行初期値 １０ 期待値 １１ 実行結果値 １２ エラーメッセージ
Claims (2)
- 【請求項１】 乱数データを入力として試験命令群を繰
り返し生成し、前記試験命令群を被試験データ処理装置
としての実データ処理装置または実データ処理装置の動
作をシミュレートする論理シミュレーション装置に実行
させるデータ処理装置の試験方法において、前記生成さ
れた試験命令群の実行結果の期待値をシミュレーション
により作成する処理と、前記試験命令群を被試験データ
処理装置に実行させた実行結果と前記シミュレーション
により作成した期待値とを比較して不一致が生じた場
合、前記不一致を発生させた試験命令群を、不一致が発
生し得る最短の試験命令群に短縮する処理とを有するこ
とを特徴とするデータ処理装置の試験方法。 - 【請求項２】 前記不一致を発生させた試験命令群を、
不一致が発生し得る最短の試験命令群に短縮する処理
は、その試験命令群の先頭命令から順次命令を削除する
処理及び試験命令群の最終命令から順次命令を削除する
処理であることを特徴とする請求項１記載のデータ処理
装置の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6309240A JPH08166892A (ja) | 1994-12-13 | 1994-12-13 | データ処理装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6309240A JPH08166892A (ja) | 1994-12-13 | 1994-12-13 | データ処理装置の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08166892A true JPH08166892A (ja) | 1996-06-25 |
Family
ID=17990622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6309240A Pending JPH08166892A (ja) | 1994-12-13 | 1994-12-13 | データ処理装置の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08166892A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7398515B2 (en) | 2003-07-16 | 2008-07-08 | International Business Machines Corporation | Buckets of commands in a multiprocessor-based verification environment |
| JP2012099035A (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-24 | Fujitsu Ltd | プロセッサの動作検証方法、プロセッサの動作検証装置、及びプロセッサの動作検証プログラム |
| JP2017506774A (ja) * | 2013-12-24 | 2017-03-09 | ▲華▼▲為▼▲終▼端有限公司 | インテリジェント端末のハードウェアが異常動作しているかどうかをチェックするための方法およびインテリジェント端末 |
| JP2020153804A (ja) * | 2019-03-20 | 2020-09-24 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 試験装置、試験方法及びコンピュータプログラム |
-
1994
- 1994-12-13 JP JP6309240A patent/JPH08166892A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7398515B2 (en) | 2003-07-16 | 2008-07-08 | International Business Machines Corporation | Buckets of commands in a multiprocessor-based verification environment |
| US8196111B2 (en) | 2003-07-16 | 2012-06-05 | International Business Machines Corporation | Buckets of commands in a multiprocessor-based verification environment |
| JP2012099035A (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-24 | Fujitsu Ltd | プロセッサの動作検証方法、プロセッサの動作検証装置、及びプロセッサの動作検証プログラム |
| US8707102B2 (en) | 2010-11-05 | 2014-04-22 | Fujitsu Limited | Method and program for verifying operation of processor |
| JP2017506774A (ja) * | 2013-12-24 | 2017-03-09 | ▲華▼▲為▼▲終▼端有限公司 | インテリジェント端末のハードウェアが異常動作しているかどうかをチェックするための方法およびインテリジェント端末 |
| US10055273B2 (en) | 2013-12-24 | 2018-08-21 | Huawei Device (Dongguan) Co., Ltd. | Method for checking whether hardware of intelligent terminal runs abnormally and intelligent terminal |
| JP2020153804A (ja) * | 2019-03-20 | 2020-09-24 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 試験装置、試験方法及びコンピュータプログラム |
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