JPH08166304A - 半導体圧力センサ - Google Patents

半導体圧力センサ

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JPH08166304A
JPH08166304A JP6307918A JP30791894A JPH08166304A JP H08166304 A JPH08166304 A JP H08166304A JP 6307918 A JP6307918 A JP 6307918A JP 30791894 A JP30791894 A JP 30791894A JP H08166304 A JPH08166304 A JP H08166304A
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JP
Japan
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correction
pressure sensor
semiconductor pressure
terminals
voltage
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Pending
Application number
JP6307918A
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English (en)
Inventor
Hirokazu Hashimoto
廣和 橋本
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Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 抵抗素子に対するトリミングを施す必要がな
く、また半導体チップ毎にワイヤボンディングを行う端
子を変更しなくても、容易にオフセット電圧を最小とす
る補正ができる半導体圧力センサを提供する。 【構成】 4個の感歪素子が配置されたブリッジ回路
(ピエゾ抵抗素子3a〜3d)に対し、このブリッジ回
路の1端と出力端子又は電源端子10a及び10bとの
間に、夫々補正用抵抗8a〜8dと補正用抵抗9a〜9
dを直列に接続する。また、各補正用抵抗に並列にツェ
ナーダイオード6a〜6d、7a〜7dを接続する。そ
して、特定のツェナーダイオードを選択して、それに過
電流を流し、ショートさせる。これにより、補正回路の
抵抗値を調整してオフセット電圧を0とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は自動車、家電機器、工業
計測等に使用される半導体圧力センサに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、拡散型の半導体圧力センサにおい
ては、シリコンウェハに、熱拡散、イオンインプランテ
ーション等により、抵抗体からなる4つの感歪素子が形
成され、これらがブリッジ構造となるように配線されて
いる。このようなブリッジ回路がダイヤフラム上に形成
され、圧力が印加されると前記感歪素子が歪むことによ
り、その抵抗値が変化し、圧力に対応する電気信号を取
り出すことができる。
【0003】図4は従来の半導体圧力センサを示す回路
図である。半導体圧力センサの回路においては、4個の
ピエゾ抵抗素子(感歪素子)13a〜13dによりホイ
ートストンブリッジ回路が構成されている。抵抗素子1
3dと抵抗素子13cとの間及び抵抗素子13aと抵抗
素子13bとの間には、夫々電源端子12c及び12b
が接続されており、抵抗素子13aと抵抗素子13dと
の間には出力端子12aが接続されている。そして、他
方の出力端子18a及び18bと夫々抵抗素子13c及
び13bとの間には、オフセット補正回路として、夫々
抵抗16a〜16dと抵抗17a〜17dの直列接続体
が接続されている。また、補正抵抗16a、16b、1
6c及び16dの各両側には端子14a、14b、14
c、14d及び14eが接続されており、補正抵抗17
a、17b、17c及び17dの各両側には端子15
a、15b、15c、15d及び15eが接続されてい
る。
【0004】抵抗素子13a〜13dの抵抗値が全て等
しければオフセット電圧は0となるが、一般に抵抗素子
の特性はその形成時の不純物濃度等の微少なばらつき又
はパターン幅のばらつきがあるため、抵抗素子に対し何
等圧力を印加しない状態であっても、出力は0となら
ず、オフセット電圧が生じてしまう。このオフセット電
圧は圧力を印加しない状態における温度特性(センサの
零点温度特性)と相関関係がある。即ち、オフセット電
圧が小さいほど温度特性も小さくなり、安定した半導体
圧力センサとなる。
【0005】一般に、上述のようなオフセット電圧を0
又は極めて小さくするため半導体圧力センサに対し種々
の処理又は回路設計が行われている。図5は金属薄膜の
抵抗に対しレーザーによるトリミング工程を示す上面図
である。図5に示すように、配線ライン42の内側に形
成された金属薄膜抵抗43に対してレーザーにより、金
属薄膜抵抗43の中心部を矢印で示すトリミング方向4
5a及び45bの方向に従ってトリミング処理を施す。
この調整は粗調整であるが、微調整を行う場合は金属薄
膜抵抗43が接続している配線ライン41の近傍を矢印
で示すトリミング方向44の方向に従ってトリミング処
理を施す。このようなトリミング処理により、金属薄膜
抵抗の抵抗値を調整し、オフセット電圧の発生を防止す
ることができる。
【0006】しかし、レーザートリミング装置は高価で
あるため、このようなレーザートリミング装置を使用せ
ずに、完成したブリッジ構造の回路に対して後から補正
することが行われる。この補正は以下のようにして行わ
れる。
【0007】先ず、図4に示すように構成された半導体
圧力センサの回路において、端子14a〜14eのうち
から1端子を選び、また端子15a〜15eのうちから
1端子を選んで、夫々の端子を接続する。この場合、選
択する端子はオフセット電圧が最小となる端子を選択す
る。そして、電源端子12bと12cとの間に定電流を
供給し、端子12aと端子18a又は18bとの間に現
れる電圧を測定する。
【0008】このようにして、端子14a〜14eと端
子15a〜15eとの間の接続の組み合わせを種々変え
ることにより、抵抗素子13a〜13dに圧力を印加し
ない状態のオフセット電圧が0又は極めて小さいものに
なる組み合わせを探す。
【0009】このように、オフセット電圧が0又は極め
て小さいものに調整された半導体圧力センサに対して圧
力が印加されると、抵抗素子13a〜13dが歪むこと
によりその抵抗値が変化する。これにより出力端子12
aと端子18a又は18bとの間の出力電圧が変化し、
この出力電圧により、印加された圧力の値を検出するこ
とができる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、オフ
セット電圧を最小にするために補正抵抗16a〜16d
及び17a〜17dの抵抗値を考慮して、端子14a〜
14e及び端子15a〜15eを選択して接続させる
が、この接続はワイヤボンディング時において行われる
ため、予め個々の補正抵抗の特性について情報を得てお
く必要があり、また一旦ワイヤボンディングした後は、
他の補正抵抗を選択できない等、管理上及び製造工程上
種々の問題があった。
【0011】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、抵抗素子に対しレーザー等によるトリミン
グを施す必要がなく、また半導体チップ毎にワイヤボン
ディングを行う端子を変更しなくても、容易にオフセッ
ト電圧を最小とする補正ができる半導体圧力センサを提
供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体圧力
センサは、4個の感歪素子が配置されたブリッジ回路
と、このブリッジ回路の隣接する1対の感歪素子間が開
放されてその各感歪素子に接続されたオフセット補正回
路とを有し、前記オフセット補正回路は夫々補正用抵抗
とツェナーダイオードとの並列接続体が複数個直列に接
続されて構成されていることを特徴とする。
【0013】
【作用】ツェナーダイオードの逆方向及び補正用抵抗の
電流−電圧特性は、夫々図2(a)及び(b)に示すよ
うな特性となる。即ち、ツェナーダイオードは所定の電
圧となるまで、流れる電流は小さいが、特定の電圧を超
えると、電流が流れて抵抗が0の状態になる。一方、補
正用抵抗については、電圧と電流は比例関係にあり、電
圧が増加すればそれに伴い電流も増加する。
【0014】このような電流−電圧特性を有するツェナ
ーダイオード及び補正用抵抗を並列に接続して過電圧を
印加すると、ツェナーダイオードが導通し、このツェナ
ーダイオードに並列接続された補正用抵抗がショートす
ることができ、この並列接続体の抵抗値が0となる。こ
のため、過電流を流した後のツェナーダイオードと補正
用抵抗との並列接続体の電流−電圧特性は図2(c)の
ようになる。従って、一旦過電流を流した後は、この並
列接続体においては、抵抗値は0になる。
【0015】このように、特定のツェナーダイオードに
過電流を流すことにより、オフセット補正回路の抵抗値
を任意に変えることができ、オフセット電圧を容易に0
又は極めて小さいものにすることができる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例について添付の図面を
参照して説明する。図1(a)は、本発明の実施例に係
る半導体圧力センサを示す回路図である。半導体圧力セ
ンサ回路1は4個のピエゾ抵抗素子3a〜3dによりホ
イートストンブリッジ回路が構成されている。抵抗素子
3dと抵抗素子3cとの間及び抵抗素子3aと抵抗素子
3bとの間には夫々電源端子2c及び2bが接続されて
おり、抵抗素子3aと抵抗素子3dとの間には出力端子
2aが接続されている。また、抵抗素子3bにおける電
源端子2bの反対側の端は出力端子10bに接続されて
おり、同様に抵抗素子3cにおける電源端子2cの反対
側の端は出力端子10aに接続されている。
【0017】この抵抗素子3bと出力端子10bとの間
には補正用抵抗9a〜9dの直列接続体が接続されてお
り、各補正用抵抗9a〜9dには、夫々ツェナーダイオ
ード7a〜7dが並列接続されている。同様に抵抗素子
3cと出力端子10aとの間には、補正用抵抗8a〜8
dの直列接続体が接続されており、各補正用抵抗8a〜
8dには、夫々ツェナーダイオード6a〜6dが並列接
続されている。また、各並列接続体の両端には、端子5
a〜5e及び4a〜4eが設けられている。
【0018】次に、本実施例の動作について説明する。
先ず、端子10a及び10bを相互に接続して端子2a
と、端子10a又は10bとを電圧検出器に接続し、端
子2c及び2bに電源電圧を印加して定電流を供給す
る。このとき抵抗素子3a〜3dに圧力を印加しない状
態で、出力端子2aと出力端子10a又は10bとの間
のオフセット電圧を測定する。このオフセット電圧が大
きい場合は、特定のツェナーダイオード及び補正用抵
抗、例えばツェナーダイオード7dと補正用抵抗9dと
の並列接続体を選択した場合、その両端の端子5dと5
eとの間に、ツェナーダイオードに対して過電流となる
電圧を印加し、図2(c)に示す電流−電圧特性となる
ように、この並列接続体における抵抗値を0にする。
【0019】なお、このような過電流を印加しない並列
接続体においてはツェナーダイオードに対し、補正用抵
抗の両端に現れる電圧降下分の電圧が印加されるが、こ
のような電圧をツェナーダイオードがブレークダウンし
ないように十分小さなものにしておけば、前記特定のツ
ェナーダイオード以外のツェナーダイオードにおいては
導通せず、抵抗が無限大であるとみることができ、結局
そのツェナーダイオードに並列接続された補正用抵抗の
みがオフセット電圧に寄与することになる。
【0020】ツェナーダイオード7dを導通させただけ
では、オフセット電圧が0とならない場合には、更に他
のツェナーダイオードを選択してこれに過電流を印加
し、これを繰り返してオフセット電圧を0にもってい
く。
【0021】このように、本実施例によれば、半導体チ
ップ毎にワイヤボンディングを行う端子を変更すること
なく、容易にオフセット電圧を補正することができる。
【0022】なお、図1に示すように、端子10a及び
10bはチップ上では接続されていないので、ブリッジ
を構成する抵抗素子3a〜3dの個々の抵抗値を測定す
ることができるため、このような構成の回路は各抵抗素
子3a〜3dの特性を補償する場合に好適である。
【0023】図3は、ブリッジ回路が閉じた構造である
半導体圧力センサを示す回路図である。この図3におい
て、図1と同一部には同一符号を付してその詳細な説明
は省略する。図3に示すように、端子4e及び端子5e
は端子30に共通接続されている。このような閉じた回
路であっても、図1に示す実施例と同様にオフセット補
正回路の抵抗値を調整することができる。また、図1に
示す半導体圧力センサに比べ、図3に示す回路ではワイ
ヤボンディングを行う端子の数が少ないため、このよう
な構成の回路は半導体圧力センサを小型にする必要があ
る場合又はワイヤボンドのスペースの確保が困難な場合
に好適である。
【0024】なお、補正用抵抗の数については2以上接
続されていればよく、また補正用抵抗の抵抗値について
は用途に応じて自由に変更することができる。
【0025】また、以上の本実施例において、図1の端
子2b及び2cを電源端子とし、端子2aと端子10a
又は10bを出力端子として説明したが、回路構成は何
等変更せずにこの電源端子と出力端子のみを入れ替えて
構成される半導体圧力センサ、即ち端子2aと端子10
a又は10bとの端子間に電源電圧を印加し、端子2b
と端子2cとの間における出力電圧を検出する半導体圧
力センサであっても、上述した回路構成をなす半導体圧
力センサと同様にオフセット電圧の補正を行うことがで
きる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
補正用抵抗と並列にツェナーダイオードを接続し、過電
流を流して補正用抵抗の抵抗値を0とすることにより、
抵抗素子に対するトリミングを施す必要がなく、また半
導体チップ毎にワイヤボンディングを行う端子を変更し
なくても、容易にオフセット電圧を最小とする補正がで
きる半導体圧力センサを製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る半導体圧力センサを示す
回路図である。
【図2】(a)はツェナーダイオードの電圧及び電流と
の関係の特性を示し、(b)は補正パッドの電圧及び電
流との関係の特性を示し、(c)は過電流を流した後の
ツェナーダイオードの特性を示すグラフ図である。
【図3】ブリッジ回路が閉じた本発明の実施例に係る半
導体圧力センサを示す回路図である。
【図4】従来の半導体圧力センサを示す回路図である。
【図5】レーザートリミング工程を示す上面図である。
【符号の説明】
1,11;半導体圧力センサ回路 2a〜2c,4a〜4e,5a〜5e,10a,10
b,12a〜12c,14a〜14e,15a〜15
e,18a,18b,30;端子 3a〜3d,13a〜13d;ピエゾ抵抗素子 6a〜6d,7a〜7d,16a〜16d,17a〜1
7d;ツェナーダイオード 8a〜8d,9a〜9d,16a〜16d,17a〜1
7d;補正用抵抗

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 4個の感歪素子が配置されたブリッジ回
    路と、このブリッジ回路の隣接する1対の感歪素子間が
    開放されてその各感歪素子に接続されたオフセット補正
    回路とを有し、前記オフセット補正回路は夫々補正用抵
    抗とツェナーダイオードとの並列接続体が複数個直列に
    接続されて構成されていることを特徴とする半導体圧力
    センサ。
JP6307918A 1994-12-12 1994-12-12 半導体圧力センサ Pending JPH08166304A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6307918A JPH08166304A (ja) 1994-12-12 1994-12-12 半導体圧力センサ

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JP6307918A JPH08166304A (ja) 1994-12-12 1994-12-12 半導体圧力センサ

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JPH08166304A true JPH08166304A (ja) 1996-06-25

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ID=17974739

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JP6307918A Pending JPH08166304A (ja) 1994-12-12 1994-12-12 半導体圧力センサ

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JP (1) JPH08166304A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6598484B2 (en) 2000-10-06 2003-07-29 Denso Corporation Physical quantity detection device
KR100427592B1 (ko) * 2002-01-08 2004-04-28 주식회사 케이이씨 압력센서

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US6598484B2 (en) 2000-10-06 2003-07-29 Denso Corporation Physical quantity detection device
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