JPH0783775A - 半導体センサにおける温度補償回路 - Google Patents
半導体センサにおける温度補償回路Info
- Publication number
- JPH0783775A JPH0783775A JP22900693A JP22900693A JPH0783775A JP H0783775 A JPH0783775 A JP H0783775A JP 22900693 A JP22900693 A JP 22900693A JP 22900693 A JP22900693 A JP 22900693A JP H0783775 A JPH0783775 A JP H0783775A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistors
- compensation
- temperature
- resistance
- temperature compensation
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】半導体センサの温度特性を高精度に補償でき
る。 【構成】ブリッジ回路の4辺の抵抗の何れかに並列若し
くは直列に接続され、該4辺の抵抗と同一工程にて基板
上に形成された温度補償抵抗と、前記4辺の抵抗と前記
温度補償抵抗に対して並列的に接続され、該温度補償抵
抗と所定間隔毎に前記出力端子からの信号が温度変化し
ないように切断可能な補償配線とを備えた。
る。 【構成】ブリッジ回路の4辺の抵抗の何れかに並列若し
くは直列に接続され、該4辺の抵抗と同一工程にて基板
上に形成された温度補償抵抗と、前記4辺の抵抗と前記
温度補償抵抗に対して並列的に接続され、該温度補償抵
抗と所定間隔毎に前記出力端子からの信号が温度変化し
ないように切断可能な補償配線とを備えた。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、4辺の抵抗のうち少な
くとも1辺の抵抗を半導体歪計素子としたブリッジ回路
を備え、相対する1対の出力端子から前記半導体歪計素
子の歪に応じた抵抗変化に基づく電気信号を得るように
した半導体センサの出力信号が温度によって変化しない
ように補償する温度補償回路に関する。
くとも1辺の抵抗を半導体歪計素子としたブリッジ回路
を備え、相対する1対の出力端子から前記半導体歪計素
子の歪に応じた抵抗変化に基づく電気信号を得るように
した半導体センサの出力信号が温度によって変化しない
ように補償する温度補償回路に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に半導体歪計素子をブリッジ回路の
成す4辺の抵抗に挿入し、相対する1対の出力端子から
前記半導体歪計素子の歪に抵抗変化に基づく電気信号を
得るようにした半導体センサにおいては、この4辺の抵
抗は半導体歪計素子に歪が発生していない場合におい
て、ブリッジ回路の4辺の抵抗の抵抗値は全て同一とな
り、このブリッジ回路から出力される出力信号は0とな
るように形成される。
成す4辺の抵抗に挿入し、相対する1対の出力端子から
前記半導体歪計素子の歪に抵抗変化に基づく電気信号を
得るようにした半導体センサにおいては、この4辺の抵
抗は半導体歪計素子に歪が発生していない場合におい
て、ブリッジ回路の4辺の抵抗の抵抗値は全て同一とな
り、このブリッジ回路から出力される出力信号は0とな
るように形成される。
【0003】ところが、このブリッジの4辺の抵抗値は
例え、同一工程にて形成しても必ずしも同一とはならず
温度特性的にも微妙に差異を生じる。このため従来で
は、この抵抗値の微妙な差異による温度特性を補償する
ためにブリッジ回路を形成した基板とは、別体にて抵抗
を接続したり、また、基板上に温度補償用の抵抗を形成
していた。
例え、同一工程にて形成しても必ずしも同一とはならず
温度特性的にも微妙に差異を生じる。このため従来で
は、この抵抗値の微妙な差異による温度特性を補償する
ためにブリッジ回路を形成した基板とは、別体にて抵抗
を接続したり、また、基板上に温度補償用の抵抗を形成
していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、別体に
て抵抗を接続した場合には、温度特性が同一にすること
が難しく、また、別体のため温度環境が必ずしも同一と
はならず、補償のずれが発生する。一方、基板上に温度
補償抵抗を形成するものについては、複数の半導体セン
サを一枚のシリコンウエハで同時に形成するために、一
枚のウエハ上の温度補償抵抗は全て同一のものとなり、
個々の半導体センサのばらつきまでは、補償しきれない
問題があった。
て抵抗を接続した場合には、温度特性が同一にすること
が難しく、また、別体のため温度環境が必ずしも同一と
はならず、補償のずれが発生する。一方、基板上に温度
補償抵抗を形成するものについては、複数の半導体セン
サを一枚のシリコンウエハで同時に形成するために、一
枚のウエハ上の温度補償抵抗は全て同一のものとなり、
個々の半導体センサのばらつきまでは、補償しきれない
問題があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上述した問題を
解決するためになされたもので、4辺の抵抗の何れかに
並列若しくは直列に接続され、該4辺の抵抗と同一工程
にて基板上に形成された温度補償抵抗と、前記4辺の抵
抗と前記温度補償抵抗に対して並列的に接続され、該温
度補償抵抗と所定間隔毎に前記出力端子からの信号が温
度変化しないように切断可能な補償配線を形成したもの
である。
解決するためになされたもので、4辺の抵抗の何れかに
並列若しくは直列に接続され、該4辺の抵抗と同一工程
にて基板上に形成された温度補償抵抗と、前記4辺の抵
抗と前記温度補償抵抗に対して並列的に接続され、該温
度補償抵抗と所定間隔毎に前記出力端子からの信号が温
度変化しないように切断可能な補償配線を形成したもの
である。
【0006】
【作用】上述のような構成において、ブリッジ回路を形
成する4辺の抵抗を形成する工程で、温度補償抵抗も形
成する。これによって、4辺の抵抗と温度補償抵抗の温
度特性の傾向は同一に保たれる。そして、正確な温度補
償は補償配線を適宜切断して補償抵抗の抵抗値を調整す
ることにより行われる。
成する4辺の抵抗を形成する工程で、温度補償抵抗も形
成する。これによって、4辺の抵抗と温度補償抵抗の温
度特性の傾向は同一に保たれる。そして、正確な温度補
償は補償配線を適宜切断して補償抵抗の抵抗値を調整す
ることにより行われる。
【0007】
【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。図1において11は単結晶シリコンから成る半導体
基板であり、この半導体基板11は台座13を介して基
台14に接合されている。15はそのセンサチップ等を
保護するためのハウジングであり、基台14に溶接等に
て固定されている。
る。図1において11は単結晶シリコンから成る半導体
基板であり、この半導体基板11は台座13を介して基
台14に接合されている。15はそのセンサチップ等を
保護するためのハウジングであり、基台14に溶接等に
て固定されている。
【0008】そして、半導体基板11の出力端子は基台
14に絶縁状態にて植設された電極16とワイヤ17に
ボンディングされ接続されている。尚、被測定圧力Pは
基台14に蝋付けされた圧力導入パイプ18、その基台
14および台座13に設けられた貫通穴より、上記半導
体基板11のダイヤフラムDに導かれている。図2は半
導体基板11上に形成された圧力センサの回路図であ
り、20は半導体基板11に形成されたブリッジ回路で
あり、このブリッジ回路20は、抵抗R1,R2,R
3,R4により構成されている。
14に絶縁状態にて植設された電極16とワイヤ17に
ボンディングされ接続されている。尚、被測定圧力Pは
基台14に蝋付けされた圧力導入パイプ18、その基台
14および台座13に設けられた貫通穴より、上記半導
体基板11のダイヤフラムDに導かれている。図2は半
導体基板11上に形成された圧力センサの回路図であ
り、20は半導体基板11に形成されたブリッジ回路で
あり、このブリッジ回路20は、抵抗R1,R2,R
3,R4により構成されている。
【0009】このうち抵抗R4のみがダイヤフラム上に
形成され、これによって抵抗R4は被測定圧力Pの作用
により、撓んだダイヤフラムDの影響を受けて歪み、抵
抗値が変化する。前記ブリッジ回路の抵抗R1,R3の
間と抵抗R2,R4の間にはそれぞれ入力端子INが設
けられており、この入力端子INに図略の定電流源が接
続されている。
形成され、これによって抵抗R4は被測定圧力Pの作用
により、撓んだダイヤフラムDの影響を受けて歪み、抵
抗値が変化する。前記ブリッジ回路の抵抗R1,R3の
間と抵抗R2,R4の間にはそれぞれ入力端子INが設
けられており、この入力端子INに図略の定電流源が接
続されている。
【0010】さらに、抵抗R3 R4の間には出力端子
OUTが設けられており、抵抗R1,R2の間には温度
補償抵抗RH1,RH2を介して出力端子OUTが設け
られている。この温度補償抵抗RH1,RH2には並列
に補償配線21が形成されており、この補償配線21と
温度補償抵抗RH1,RH2は図3に示すようにコンタ
クトポイントP1,P2,P3をにて接続され、この温
度補償抵抗RH1,RH2と補償配線21で温度補償回
路を形成している。
OUTが設けられており、抵抗R1,R2の間には温度
補償抵抗RH1,RH2を介して出力端子OUTが設け
られている。この温度補償抵抗RH1,RH2には並列
に補償配線21が形成されており、この補償配線21と
温度補償抵抗RH1,RH2は図3に示すようにコンタ
クトポイントP1,P2,P3をにて接続され、この温
度補償抵抗RH1,RH2と補償配線21で温度補償回
路を形成している。
【0011】以上のような構成で、単結晶シリコンで形
成された半導体基板11上にホトレジストにて抵抗パタ
─ンを形成し、エッチングを施してブリッジ回路20の
抵抗R1,R2,R3,R4を形成しておく、そして抵
抗R1,R2,R3,R4および温度補償抵抗RH1,
RH2を半導体基板11に不純物を添加して拡散抵抗を
形成する。こののち、配線21をアルミニウムを蒸着す
ることで形成する。これによって、温度補償抵抗RH
1,RH2と抵抗R1,R2,R3,R4は同一工程に
て形成されることになり、素子の温度特性を同一とする
ことができる。
成された半導体基板11上にホトレジストにて抵抗パタ
─ンを形成し、エッチングを施してブリッジ回路20の
抵抗R1,R2,R3,R4を形成しておく、そして抵
抗R1,R2,R3,R4および温度補償抵抗RH1,
RH2を半導体基板11に不純物を添加して拡散抵抗を
形成する。こののち、配線21をアルミニウムを蒸着す
ることで形成する。これによって、温度補償抵抗RH
1,RH2と抵抗R1,R2,R3,R4は同一工程に
て形成されることになり、素子の温度特性を同一とする
ことができる。
【0012】そしてさらに、抵抗R1,R2,R3,R
4と温度補償抵抗RH1,RH2との関係が、
4と温度補償抵抗RH1,RH2との関係が、
【0013】
【数1】 R3/R4=(R1+RH1)/(R2+RH2) となるように補償配線21を適宜レーザ光等によって切
断することで調整する。これによって抵抗R1,R2,
R3,R4のみの温度特性の出力が図4の破線のように
なっていたものを温度補償抵抗RH1,RH2の調整に
より、実線のように調整することができる。
断することで調整する。これによって抵抗R1,R2,
R3,R4のみの温度特性の出力が図4の破線のように
なっていたものを温度補償抵抗RH1,RH2の調整に
より、実線のように調整することができる。
【0014】また上記実施例では、温度補償抵抗はブリ
ッジ回路の抵抗に対してそれぞれ直列に配置されていた
が、図5に示すように補償配線21を切断することによ
ってブリッジ回路の2辺の何れかに接続されるようにし
て抵抗値の平衡を調整してもよい。さらに補償配線21
の切断点を予めポリシリコンにしておけば、レーザ光に
よって他の配線および素子に影響を及ぼすことを防止で
きる。
ッジ回路の抵抗に対してそれぞれ直列に配置されていた
が、図5に示すように補償配線21を切断することによ
ってブリッジ回路の2辺の何れかに接続されるようにし
て抵抗値の平衡を調整してもよい。さらに補償配線21
の切断点を予めポリシリコンにしておけば、レーザ光に
よって他の配線および素子に影響を及ぼすことを防止で
きる。
【0015】
【発明の効果】以上のように本発明は、ブリッジ回路の
4辺の抵抗の何れかに並列若しくは直列に接続され、該
4辺の抵抗と同一工程にて基板上に形成された温度補償
抵抗と、前記4辺の抵抗と前記温度補償抵抗に対して並
列的に接続され、該温度補償抵抗と所定間隔毎に前記出
力端子からの信号が温度変化しないように切断可能な補
償配線とを備えたことにより、全ての抵抗の温度特性を
同一として大まかに温度特性を調整したのち、温度補償
抵抗の抵抗値を調整すればよいので、半導体センサの温
度特性を高精度に補償できる。
4辺の抵抗の何れかに並列若しくは直列に接続され、該
4辺の抵抗と同一工程にて基板上に形成された温度補償
抵抗と、前記4辺の抵抗と前記温度補償抵抗に対して並
列的に接続され、該温度補償抵抗と所定間隔毎に前記出
力端子からの信号が温度変化しないように切断可能な補
償配線とを備えたことにより、全ての抵抗の温度特性を
同一として大まかに温度特性を調整したのち、温度補償
抵抗の抵抗値を調整すればよいので、半導体センサの温
度特性を高精度に補償できる。
【図1】実施例における半導体センサの外観図である。
【図2】半導体センサの回路図である。
【図3】実施例における本発明の要旨拡大図である。
【図4】温度特性を示した図である。
【図5】他の実施例を示した図である。
11 半導体基板 13 台座 14 基台 15 ハウジング 16 電極 17 ワイヤ 18 圧力導入パイプ 21 補償配線 R1 抵抗 R2 抵抗 R3 抵抗 R4 抵抗 RH1 補償抵抗 RH2 補償抵抗
フロントページの続き (72)発明者 三上 俊春 愛知県刈谷市朝日町1丁目1番地 豊田工 機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 4辺の抵抗のうち少なくとも1辺の抵抗
を半導体歪計素子としたブリッジ回路を備え、相対する
1対の出力端子から前記半導体歪計素子の歪に応じた抵
抗変化に基づく電気信号を得るようにした半導体センサ
において、前記4辺の抵抗の何れかに並列若しくは直列
に接続され、該4辺の抵抗と同一工程にて基板上に形成
された温度補償抵抗と、前記4辺の抵抗と前記温度補償
抵抗に対して並列的に接続され、該温度補償抵抗と所定
間隔毎に前記出力端子からの信号が温度によって変化し
ないように切断可能な補償配線を形成したことを特徴と
する半導体センサにおける温度補償回路
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22900693A JPH0783775A (ja) | 1993-09-14 | 1993-09-14 | 半導体センサにおける温度補償回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22900693A JPH0783775A (ja) | 1993-09-14 | 1993-09-14 | 半導体センサにおける温度補償回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0783775A true JPH0783775A (ja) | 1995-03-31 |
Family
ID=16885287
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22900693A Pending JPH0783775A (ja) | 1993-09-14 | 1993-09-14 | 半導体センサにおける温度補償回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0783775A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000515623A (ja) * | 1995-12-04 | 2000-11-21 | ソシエテ・ナシオナル・デテユード・エ・ドウ・コンストリユクシオン・ドウ・モトール・ダヴイアシオン、“エス.エヌ.ウ.セ.エム.アー.” | ブリッジの主抵抗間の温度勾配を補正するホイーストンブリッジ及びひずみゲージを有する圧力センサにおけるその適用 |
CN102445301A (zh) * | 2011-11-23 | 2012-05-09 | 无锡芯感智半导体有限公司 | 温漂自补偿soi压力传感器 |
-
1993
- 1993-09-14 JP JP22900693A patent/JPH0783775A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000515623A (ja) * | 1995-12-04 | 2000-11-21 | ソシエテ・ナシオナル・デテユード・エ・ドウ・コンストリユクシオン・ドウ・モトール・ダヴイアシオン、“エス.エヌ.ウ.セ.エム.アー.” | ブリッジの主抵抗間の温度勾配を補正するホイーストンブリッジ及びひずみゲージを有する圧力センサにおけるその適用 |
CN102445301A (zh) * | 2011-11-23 | 2012-05-09 | 无锡芯感智半导体有限公司 | 温漂自补偿soi压力传感器 |
CN111076856A (zh) * | 2011-11-23 | 2020-04-28 | 无锡芯感智半导体有限公司 | 漂自补偿soi压力传感器 |
CN111076856B (zh) * | 2011-11-23 | 2021-09-21 | 无锡芯感智半导体有限公司 | 温漂自补偿soi压力传感器 |
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