JPH08162940A - フェイルセーフ論理回路,フェイルセーフn入力アンドゲート回路およびフェイルセーフ自己保持回路 - Google Patents

フェイルセーフ論理回路,フェイルセーフn入力アンドゲート回路およびフェイルセーフ自己保持回路

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JPH08162940A
JPH08162940A JP29685994A JP29685994A JPH08162940A JP H08162940 A JPH08162940 A JP H08162940A JP 29685994 A JP29685994 A JP 29685994A JP 29685994 A JP29685994 A JP 29685994A JP H08162940 A JPH08162940 A JP H08162940A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 包絡線検波回路等の復調手段を通じて論理変
数等で変調した変調信号が侵入してきてもフェイルセー
フが実現できるフェイルセーフ論理回路,フェイルセー
フn入力アンドゲート回路およびフェイルセーフ自己保
持回路を提供する。 【構成】 9は、フォトカプラPC1,PC2の応答可
能な周波数の交流を論理変数X1で変調した変調信号で
ある。1は、フォトカプラPC2の応答不能の周波数の
交流を論理信号X2で変調した変調信号である。変調信
号1はトランジスタ2で増幅され、包絡線検波回路Aで
復調され、発光素子12と受光素子11との直列回路に
印加される。よって、変調信号1が入力している状態
で、変調信号9が入力すれば、変調信号9が負荷抵抗1
4に伝えられ、包絡線検波回路Bで復調され、出力端子
19に出力が得られる。故障で変調信号1が直接前記直
列回路に侵入すると、変調信号9が変調信号1でオン,
オフするので、フォトカプラPC2が応答不能となり、
出力端子19の出力はなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、いわゆるフェイルセー
フ信号処理による論理回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】フェイルセーフ信号処理は、“回路の動
作状態を検査するための信号で入力信号を変調して信号
処理を行い、この信号処理後の変調信号を復調して出力
信号とする”ものである。
【0003】このフェイルセーフ信号処理を図5に示す
フェイルセーフ2入力アンドゲート回路の例により説明
する。図5において、X1,X2は2値の入力信号で、
この入力信号は、第1のトランジスタ103,第2のト
ランジスタ106の電源入力となっている。101は信
号発生器で、前述の“回路の動作状態を検査するための
信号”(以下検査信号という)を発生する。108は倍
電圧整流回路等からなる包絡線検波(復調)回路であ
る。102,104,105,107は、トランジスタ
103,106と共にトランジスタ増幅回路を構成する
所要の抵抗である。
【0004】この構成で、入力信号X1,X2が入力さ
れているとき、すなわちX1=1,X2=1のとき、信
号発生器101の発生した検査信号は、トランジスタ1
03,106で増幅され、包絡線検波回路108で復調
され出力信号Yが得られる。すなわちY=1である。
【0005】入力信号X1,X2の少なくとも一方が入
力されないときは、回路の増幅機能は失われ、包絡線検
波回路108の出力信号が得られない。すなわちY=0
である。
【0006】もし回路に故障が生じた場合、例えば、抵
抗102,104,105,107のいずれかが断線す
る、トランジスタ103,106のいずれかが短絡す
る、あるいは回路の一部が断線するといった故障が生じ
た場合、回路の増幅機能が失われるので、入力信号X
1,X2が入力されていても包絡線検波回路108に出
力信号が得られない。すなわちY=0である。
【0007】ここで回路の動作状態を2値の論理変数f
* で表わし、1を正常な動作状態、0を故障状態とすれ
ば、出力信号Yは次式で表わされる。
【0008】Y=X1・X2・f* したがって、回路に故障が生じた場合は、入力信号X
1,X2の値に関係なく常にY=0となる。Y=1をシ
ステムの危険側、Y=0をシステムの安全側とすれば、
回路に故障が生じた場合、常にシステムの安全側とな
り、フェイルセーフが実現できる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】前述のフェイルセーフ
2入力アンドゲート回路の例では、包絡線検波回路の故
障については触れていないが、この回路も例外ではなく
故障が生じる場合がある。
【0010】図6はこの故障の1例を示す図である。図
示の回路は、入力信号Xnの信号処理においても検査信
号を用いており、111はその変調信号である。11
2,115はコンデンサで、113,114は整流ダイ
オードであって、これらの素子は倍電圧整流回路形の包
絡線検波回路を構成している。116は図5に示すよう
な増幅回路(論理演算回路)の最終段の増幅器であり、
信号Xnを入力信号(論理入力)としている。
【0011】この回路でコンデンサ115が断線する
と、変調信号が増幅器116の電源として印加され、前
段の論理状態に関係なく、増幅器116から変調信号が
出力されてしまいフェイルセーフが実現できないという
問題がある。
【0012】このような問題を解決する手法としてコン
デンサ115に4端子コンデンサ(安全コンデンサとも
いう)を用いることが知られている。4端子コンデンサ
は、図7の(b),(d)に示すように、各電極にリー
ド線を2本づつ取り付けたものである。なお、比較のた
めに、図7の(a),(c)で通常のコンデンサの構成
を示している。
【0013】この4端子コンデンサを包絡線検波回路の
出力側のコンデンサとして用い、たとえば図6の回路に
おいて、リード線121,123を包絡線検波回路の出
力側に、リード線122を増幅器116の電源入力側
に、リード線124を電源VCCに接続する。
【0014】この構成によれば、リード線121,12
2のいずれが断線しても変調信号が増幅器116に印加
されることがない。
【0015】しかし回路構成によってはリード線124
が断線すると変調信号が直接増幅器に印加され前述と同
様にフェイルセーフが実現できないという問題がある。
【0016】図6は包絡線検波回路に倍電圧整流回路を
用いた例であるが、他の復調回路を用いたときも回路構
成に応じて同様の問題が生じる。
【0017】この発明は、このような問題を解決するた
めになされたものであり、包絡線検波回路等の復調手段
を通して変調信号が侵入してきてもフェイルセーフが実
現できるフェイルセーフ論理回路,フェイルセーフn入
力アンドゲート回路およびフェイルセーフ自己保持回路
を提供することを目的とするものである。
【0018】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明ではフェイルセーフ論理回路を次の(1)の
とおりに、フェイルセーフn入力アンドゲート回路を次
の(2)のとおりに、フェイルセーフ自己保持回路を次
の(3)のとおりに構成する。
【0019】(1)所定周波数の高周波を論理変数信号
で変調した信号を入力する入力端と、この入力端からの
信号を復調する復調手段と、この復調手段の出力により
発光側が付勢されるフォトカプラとを備え、前記所定周
波数を前記フォトカプラの応答不能の周波数としたフェ
イルセーフ論理回路。
【0020】(2)第1〜第nの検査信号を第1〜第n
の論理変数信号で夫々変調した第1〜第nの変調信号を
入力する第1〜第nの入力端子と、この第1〜第nの入
力端子からの第1〜第nの変調信号を復調する第1〜第
nの復調手段と、主検査信号で付勢される主検査信号入
力用フォトカプラトの受光素子と、前記第1の復調回路
の出力端に接続した第1のフォトカプラの発光素子と主
検査信号入力用フォトカプラの受光素子との直列回路
と、前記第nの復調回路の出力端に接続した第nのフォ
トカプラの発光素子と第n−1のフォトカプラの受光素
子との直列回路と、前記第nのフォトカプラの受光素子
の出力側に接続した出力段復調手段と、この出力段復調
手段の出力端に接続した当該フェイルセーフn入力アン
ドゲート回路の出力端子とを備え、前記第1〜第nの検
査信号の周波数を夫々対応する第1〜第nのフォトカプ
ラの応答不能の周波数とし、前記主検査信号の周波数
を、主検査信号入力用フォトカプラおよび前記第1〜第
nのフォトカプラの応答可能な周波数としたフェイルセ
ーフn入力アントゲート回路。
【0021】(3)第1,第2の検査信号をトリガ信
号,リセット信号で夫々変調したトリガ変調信号,リセ
ット変調信号を入力する第1,第2の入力端子と、この
第1,第2の入力端子から入力したトリガ変調信号,リ
セット変調信号を復調する第1,第2の復調手段と、主
検査信号で付勢される第1のフォトカプラの発光素子
と、前記第1の復調手段の出力端に接続した第2のフォ
トカプラの発光素子と前記第1のフォトカプラの受光素
子の直列回路と、第2の復調手段の出力端に接続した第
3のフォトカプラの発光素子と第4のフォトカプラの発
光素子と第2のフォトカプラの受光素子との直列回路
と、前記第3のフォトカプラの受光素子の出力側に接続
した第3の復調手段と、この第3の復調手段の出力信号
を第1の復調手段の出力側に帰還する帰還手段と、前記
第4のフォトカプラの受光素子に接続された当該自己保
持回路の出力端子とを備え、前記第1の検査信号の周波
数を第2のフォトカプラの応答不能の周波数とし、前記
第2の検査信号の周波数を第3のフォトカプラの応答不
能の周波数とし、主検査信号の周波数を前記第1〜第4
のフォトカプラの応答可能な周波数としたフェイルセー
フ自己保持回路。
【0022】
【作用】前記(1),(2),(3)の構成によれば、
故障により論理回路のフォトカプラの発光側に変調信号
が直接入力しても、フォトカプラはこの変調信号に応答
せず、出力信号がなくなってフェイルセーフが実現でき
る。
【0023】
【実施例】以下本発明を実施例により詳しく説明する。
【0024】(実施例1)図1は実施例1である“フェ
イルセーフ2入力アンドゲート回路”の回路図である。
図において、12と13は第2のフォトカプラPC2を
構成する発光素子と受光素子である。発光素子12は発
光ダイオード、受光素子13はフォトトランジスタであ
る。ところでフォトトランジスタを用いるこの種のフォ
トカプラは応答性が悪く、発光素子への入力周波数があ
る程度以上になると、実質上スイッチングせず、応答不
能となる特性を有している。
【0025】1は、前記第2のフォトカプラPC2が応
答不能となる周波数の第2の検査信号を、第2の論理変
数X2で変調した第2の変調信号である。この第2の変
調信号1は、抵抗3,トランジスタ2からなるトランジ
スタ増幅回路で増幅され、コンデンサ4,7、整流ダイ
オード5,6からなる倍電圧整流回路形の包絡線検波回
路Aで復調され、第2の論理変数X2相当の信号とな
る。
【0026】10と11は、第1のフォトカプラPC1
を構成する発光素子と受光素子である。9は、前記第1
のフォトカプラPC1が応答可能な周波数の第1の検査
信号を、第1の論理変数X1で変調した第1の変調信号
である。
【0027】第2のフォトカプラPC2の発光素子12
と、第1のフォトカプラPC1の受光素子11の直列回
路は、電流制限抵抗8を介して、包絡線検波回路Aの出
力すなわち第2の論理変数X2相当の電圧で付勢され
る。
【0028】第2のフォトカプラPC2の受光素子13
は負荷抵抗14を介して電源VCCにより付勢される。負
荷抵抗14の信号はコンデンサ15,18、整流ダイオ
ード16,17からなる包絡線検波回路Bで復調され、
出力端子19から出力信号Yとして出力される。
【0029】ここで、第2の変調信号1があれば、第2
のフォトカプラPC2の発光素子12と、第1のフォト
カプラPC1の受光素子11との直列回路は、第2の論
理変数X2に相当する直流電圧で、電流制限抵抗8を介
して付勢される。そして、第1の変調信号9があれば、
この変調信号9で第1のフォトカプラPC1の発光素子
10が点滅し、これを受けて受光素子11がオン,オフ
し、第2のフォトカプラPC2の発光素子12が点滅
し、受光素子13がオン,オフして、負荷抵抗14に第
1の変調信号9に対応する変調信号が発生し、この信号
は包絡線検波回路Bで復調され、出力端子19に出力信
号が発生する。第1の変調信号9が無ければ、受光素子
11,13はオン,オフせず、負荷抵抗14に信号が発
生せず、包絡線検波回路Bの出力端子19には出力信号
が発生しない。
【0030】第2の変調信号1が無ければ、前記直列回
路は付勢されず、したがって、第1の変調信号9の有無
に関係なく、包絡線検波回路Bの出力端子19には出力
信号が発生しない。
【0031】このようにして、出力端子19は論理変数
X1とX2の論理積に相当する出力信号Yが得られる。
【0032】本実施例回路では、包絡線検波回路Aの出
力側に4端子コンデンサ7を用いており、また第2の変
調信号のトランジスタ増幅回路はこの4端子コンデンサ
7を介して付勢されているので、4端子コンデンサ7の
いずれかのリード線が断線しても、第2の変調信号1が
直接発光素子12,受光素子11の直列回路に印加され
ることはない。
【0033】しかし、何らかの原因で、たとえば4端子
コンデンサのいずれか一方の電極に接続されている2本
のリード線が断線すると共に互いに接触するといった多
重故障により、第2の変調信号1が直接、発光素子12
と受光素子11との直列回路に印加されても、前述のよ
うに、第2の検査信号の周波数を第2のフォトカプラP
C2の応答不能の周波数に設定しているので、直接印加
された第2の変調信号には第2のフォトカプラPC2が
応答せず、その負荷抵抗14に第2の変調信号相当の信
号が生じることがない。したがって、このとき出力端子
19に出力信号が生じない。すなわちY=0である。
【0034】このように、本実施例によれば、包絡線検
波回路Aの故障にもかかわらず、出力端子に出力信号が
生じるということはなく、フェイルセーフが実現でき
る。
【0035】(実施例2)図2は実施例2である“フェ
イルセーフn入力アンドゲート回路”の回路図である。
本実施例は、実施例1をn入力に一般化した例である。
【0036】図2において、21,22,23は、夫々
対応するフォトカプラPCn,PC2,PC1が応答不
能の、第n,第2,第1の周波数の検査信号を、それぞ
れ第nの論理変数,第2の論理変数,第1の論理変数で
変調した、第nの変調信号,第2の変調信号,第1の変
調信号である。なお、第n……第1の検査信号は同一周
波数でもよい。
【0037】第3の変調信号〜第n−1の変調信号の回
路は“……”で示し図示を省略している。
【0038】24は、本実施例回路のすべてのフォトカ
プラPC0〜PCnが応答可能な周波数の検査信号であ
り、説明の便宜上、以下“主検査信号”という。
【0039】27,28,29は、実施例1における包
絡線検波回路A,Bと同様の構成の、第nの包絡線検波
回路An,第2の包絡線検波回路A2,第1の包絡線検
波回路A1である。
【0040】主検査信号24はフォトカプラ(主検査信
号入力用フォトカプラ)PC0の発光素子25に印加さ
れている。第1の包絡線検波回路A1の出力信号すなわ
ち論理変数X1相当の電圧は、電流制限抵抗30を介し
て、第1のフォトカプラPC1の発光素子31と、フォ
トカプラPC0の受光素子26の直列回路に印加されて
いる。第2の包絡線検波回路A2の出力信号は、電流制
限抵抗33を介して、第2のフォトカプラPC2の発光
素子34と、第1のフォトカプラPC1の受光素子32
との直列回路に印加されている。第3の包絡線検波回路
ないし第n−1の包絡線検波回路にかかる回路も同様に
構成されている。最終段すなわち出力段の第nの包絡線
検波回路Anにかかる回路も同様に構成されるが、第n
のフォトカプラPCnの受光素子38は、電源VCCから
負荷抵抗39を介して付勢されている。負荷抵抗39に
は、包絡線検波回路A1〜Anと同様の構成の、コンデ
ンサ41,43、整流ダイオード40,42からなる倍
電圧整流回路形の包絡線検波回路Bが接続されており、
44はその出力端子である。
【0041】第1の包絡線検波回路A1にかかる直列回
路……第nの包絡線検波回路Anにかかる直列回路は、
電源を介して干渉しないように、互いに電気的に絶縁し
た直流電源VCC1,VCC2…VCCnに夫々接続されてい
る。この互いに電気的に絶縁した直流電源を構成するた
め、絶縁トランス48と、この2次側の互いに絶縁され
た2次巻線に接続した整流・平滑回路45,46,……
47を用いている。
【0042】このように構成されているので、第1〜第
nの全ての変調信号が入力されている場合は、各直列回
路は付勢されており、主検査信号24は、フォトカプラ
PC0,PC1,PC2……PCnを介して負荷抵抗3
9に伝達され、出力端子44に出力信号Yが得られる。
【0043】第1〜第nの変調信号のうち、1以上の変
調信号が入力されないと、その変調信号にかかる直列回
路が付勢されず、主検査信号24はフォトカプラPC
0,PC1,PC2……PCnを介して負荷抵抗39に
伝達されず、出力端子44に出力信号が得られない。
【0044】このようにして、論理変調X1〜Xnの論
理積に相当する出力信号Yが得られる。
【0045】本実施例において、何らかの故障で第1〜
第nの変調信号のいずれかが、その直列回路に直接侵入
すると、前述のように、第1〜第nの変調信号は、各フ
ォトカプラの応答不能の周波数の検査信号を変調したも
のなので、前述の直列回路のフォトカプラの発光素子が
点滅してもこれを受ける次段の前記フォトカプラの受光
素子はオン,オフせず、負荷抵抗39に主検査信号が伝
達されず、出力端子44に出力信号が得られない。
【0046】このように、本実施例によれば、第1〜第
nの包絡線検波回路A1〜Anの故障により、第1〜第
nの変調信号がフォトカプラの直列回路に直接印加され
たときは、必ず出力端子44に出力信号が得られなくな
り、すなわちY=0となり、フェイルセーフが実現でき
る。
【0047】(実施例3)図3は実施例3である“フェ
イルセーフ自己保持回路”の回路図である。本実施例は
本発明を自己保持回路に適用した例である。
【0048】図3において、51は後述のフォトカプラ
PC1〜PC3が全て応答可能な周波数の主検査信号で
ある。この主検査信号51は第1のフォトカプラPC1
の発光素子52に供給されている。54は、発光素子6
2と受光素子63からなる第3のフォトカラPC3が応
答不能な周波数の検査信号を、リセット信号で変調した
変調信号Rである。55は、発光素子59と受光素子6
0からなる第2のフォトカプラPC2が応答不能な周波
数の検査信号を、トリガ信号で変調した変調信号Tであ
る。なお変調信号R,Tの検査信号は同一周波数でもよ
い。
【0049】フォトカプラPC4は出力取出用で、その
受光素子65には出力端子66,67が接続されてい
る。
【0050】56,57は倍電圧整流回路形の包絡線検
波回路であり、回路56の出力側には、電流制限抵抗6
1と、第3のフォトカプラPC3の発光素子62と、第
4のフォトカプラPC4の発光素子64と、第2のフォ
トカプラPC2の受光素子60との直列回路が接続され
ており、回路57の出力側には、電流制限抵抗58と、
第2のフォトカプラPC2の発光素子59と、第1のフ
ォトカプラPC1の受光素子53との直列回路が接続さ
れている。
【0051】各直列回路および包絡線検波回路Bは互い
に電気的に絶縁するため、実施例2と同様に、不図示の
別個の整流・平滑回路の直流電源VCC1,VCC2,VCC
3に接続されている。
【0052】第3のフォトカプラPC3の受光素子63
には、負荷抵抗68を介して電源VCC3が供給されてい
る。負荷抵抗68には、コンデンサ70,72、整流ダ
イオード69,71からなる倍電圧整流回路形の包絡線
検波回路Bが接続されており、73はその出力端子であ
る。
【0053】出力端子73はリアクトル74を介して包
絡検波回路57の出力端に接続され、帰還回路が構成さ
れている。リアクトル74はトリガ用変調信号Tがバイ
パスされるのを阻止するために挿入されている。
【0054】以上の回路構成において、リセット用の変
調信号Rが入力されている状態で、トリガ用の変調信号
Tが入力すると、前述の各直列回路が付勢され、主検査
信号51がフォトカプラPC1,PC2,PC3を介し
て負荷抵抗68に伝達され、包絡線検波回路Bで整流さ
れ、出力端子73に出力信号Yが得られる。この出力信
号Yはリアクトル74を介して包絡線検波回路57の出
力端に帰還され、電流制限抵抗58,発光素子59,受
光素子53の直列回路に印加されるので、トリガ用の変
調信号Tがなくなっても、主検査信号51は負荷抵抗6
8に伝達され、またフォトカプラPC4より出力端子6
6,67に伝達され続ける。すなわち回路は自己保持状
態となる。
【0055】その後、リセット用の変調信号Rが入力さ
れなくなると、電流制限抵抗61,発光素子62,発光
素子64,受光素子60の直列回路は付勢されなくな
り、出力端子73の出力信号がなくなるので、自己保持
状態が解除され、出力端子66,67の出力信号はなく
なる。
【0056】本実施例においても、実施例2と同様に、
何らかの故障で変調信号Rあるいは変調信号Tが直接前
述の直列回路に侵入すると、次段へ主検査信号が伝達さ
れなくなり、出力端子73からの出力信号がなくなって
自己保持が解除され、出力端子66,67の出力信号は
なくなる。すなわち、故障によりY=0となり、フェイ
ルセーフが実現できる。
【0057】(変形)以上の各実施例は、いずれも負荷
抵抗に接続された包絡線検波回路の出力側に、4端子コ
ンデンサを用いるものであるが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、図4に示すように、通常の2端子の
コンデンサ81を用いる形で実施することができる。こ
の場合、コンデンサ81の少なくとも一方のリード線が
断線すると、フォトカプラPCの回路に変調信号80が
直接印加されるが、フォトカプラPCはこの変調信号8
0に応答しないので、主検査信号90が伝達されず、各
実施例と同様にフェイルセーフが実現できる。
【0058】また、以上の各実施例は、いずれも包絡線
検波回路の出力を電源電位(VCC)に重畳させて、いわ
ゆる“電源枠外”による信号伝達を行っている。この場
合、コンパレータを用いて包絡線検波回路の出力Vを電
源電位VCCと比較し、2値の出力信号Yを、 V>VCCのときY=1 V≦VCCのときY=0 とすることにより、より高度のフェイルセーフが実現で
きる。
【0059】しかし、包絡線検波回路その他の出力信号
を電源電位VCCに重畳させない、いわゆる“電源枠内”
による信号伝達の形で実施することもできる。
【0060】また、検査信号に、正弦波,矩形波のいず
れを用いる形ででも実施できる。
【0061】また、以上の各実施例では、フォトカプラ
にフォト・トランジスタ型の素子を用いているが、これ
に限らず、フォト・ダーリントン・トランジスタ型ある
いはフォト・IC型等の素子を用いることができる。
【0062】また、以上の各実施例は“復調手段”に倍
電圧整流回路形の包絡線検波回路を用いているが、復調
手段として適宜の復調回路を用いることができ、たとえ
ば本出願人の出願にかかる特願平5−21389号明細
書に記載のフェールセーフ検波回路を用いる形で実施す
ることができる。
【0063】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
包絡線検波回路等の復調手段を介して、論理変数で変調
した変調信号が侵入すると、論理入力に関係なく常に出
力がなくなり、フェイルセーフが実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1の回路図
【図2】 実施例2の回路図
【図3】 実施例3の回路図
【図4】 実施例の変形の説明図
【図5】 フェイルセーフ2入力アンドゲート回路の原
理説明図
【図6】 従来例における故障時の動作説明図
【図7】 4端子コンデンサの説明図
【符号の説明】
1,9 変調信号 A,B 包絡線検波回路 PC1,PC2 フォトカプラ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定周波数の高周波を論理変数信号で変
    調した信号を入力する入力端と、この入力端からの信号
    を復調する復調手段と、この復調手段の出力により発光
    側が付勢されるフォトカプラとを備え、前記所定周波数
    を前記フォトカプラの応答不能の周波数としたことを特
    徴とするフェイルセーフ論理回路。
  2. 【請求項2】 第1〜第nの検査信号を第1〜第nの論
    理変数信号で夫々変調した第1〜第nの変調信号を入力
    する第1〜第nの入力端子と、この第1〜第nの入力端
    子からの第1〜第nの変調信号を復調する第1〜第nの
    復調手段と、主検査信号で付勢される主検査信号入力用
    フォトカプラトの受光素子と、前記第1の復調回路の出
    力端に接続した第1のフォトカプラの発光素子と主検査
    信号入力用フォトカプラの受光素子との直列回路と、前
    記第nの復調回路の出力端に接続した第nのフォトカプ
    ラの発光素子と第n−1のフォトカプラの受光素子との
    直列回路と、前記第nのフォトカプラの受光素子の出力
    側に接続した出力段復調手段と、この出力段復調手段の
    出力端に接続した当該フェイルセーフn入力アンドゲー
    ト回路の出力端子とを備え、前記第1〜第nの検査信号
    の周波数を夫々対応する第1〜第nのフォトカプラの応
    答不能の周波数とし、前記主検査信号の周波数を、主検
    査信号入力用フォトカプラおよび前記第1〜第nのフォ
    トカプラの応答可能な周波数としたことを特徴とするフ
    ェイルセーフn入力アントゲート回路。
  3. 【請求項3】 第1,第2の検査信号をトリガ信号,リ
    セット信号で夫々変調したトリガ変調信号,リセット変
    調信号を入力する第1,第2の入力端子と、この第1,
    第2の入力端子から入力したトリガ変調信号,リセット
    変調信号を復調する第1,第2の復調手段と、主検査信
    号で付勢される第1のフォトカプラの発光素子と、前記
    第1の復調手段の出力端に接続した第2のフォトカプラ
    の発光素子と前記第1のフォトカプラの受光素子の直列
    回路と、第2の復調手段の出力端に接続した第3のフォ
    トカプラの発光素子と第4のフォトカプラの発光素子と
    第2のフォトカプラの受光素子との直列回路と、前記第
    3のフォトカプラの受光素子の出力側に接続した第3の
    復調手段と、この第3の復調手段の出力信号を第1の復
    調手段の出力側に帰還する帰還手段と、前記第4のフォ
    トカプラの受光素子に接続された当該自己保持回路の出
    力端子とを備え、前記第1の検査信号の周波数を第2の
    フォトカプラの応答不能の周波数とし、前記第2の検査
    信号の周波数を第3のフォトカプラの応答不能の周波数
    とし、主検査信号の周波数を前記第1〜第4のフォトカ
    プラの応答可能な周波数としたことを特徴とするフェイ
    ルセーフ自己保持回路。
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