JPH08152402A - 赤外線式ガス分析計 - Google Patents

赤外線式ガス分析計

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JPH08152402A
JPH08152402A JP29525494A JP29525494A JPH08152402A JP H08152402 A JPH08152402 A JP H08152402A JP 29525494 A JP29525494 A JP 29525494A JP 29525494 A JP29525494 A JP 29525494A JP H08152402 A JPH08152402 A JP H08152402A
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JP
Japan
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gas
zero
flow path
sample gas
zero gas
Prior art date
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Pending
Application number
JP29525494A
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English (en)
Inventor
Akioki Nakamori
明興 中森
Akinori Kiyofuji
章典 清藤
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G01N21/276Calibration, base line adjustment, drift correction with alternation of sample and standard in optical path

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、ゼロ点校正後速やかに測定を開始
することができる赤外線式ガス分析計を提供することを
目的としている。 【構成】 試料ガス中のCOをCO2 に変換してゼロ点
校正用のゼロガスを精製するゼロガス精製器13の後段
であって測定セル8に至る流路の途中に挿置したCO2
吸収剤12を通してゼロガスを測定セル8に供給する
と、たとえゼロガス精製器13において高濃度のCO2
が精製されたとしても、CO2 吸収剤12がCO2 を吸
収し、高濃度のCO2 がそのまま測定セル8を含む流路
系に流れることがない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、各種燃料機関からの排
ガスの拡散、工場や加熱炉から漏洩する雰囲気の監視
用、駐車場やトンネル内の監視と換気制御用などに用い
られる赤外線式ガス分析計、特に一酸化炭素計に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の赤外線式ガス分析計においては、
ゼロ点校正用のゼロガスを精製するゼロガス精製器を内
蔵し、試料ガスとゼロガスとを比較的短い時間周期で切
り換えて交互に測定するクロスモジュレーション方式が
知られている。しかし、数ppmという低濃度の試料ガ
スを分析する場合には、クロスモジュレーション方式で
は感度不足となり、この方式を採用することができず、
ゼロ点校正にも時間をかけ、換言すれば、ゼロガスを一
定時間流してゼロ点校正を正確に行う必要があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の赤外線式ガス分
析計にあっては、比較的低濃度の試料ガスを高感度で分
析する場合にはゼロガスを一定時間流してゼロ点を正確
に校正するが、内蔵したゼロガス精製器において測定ガ
ス中(大気中)の一酸化炭素(CO)を二酸化炭素(C
2 )に変換してゼロガスを精製するとき、たまたま試
料ガス中のCOやCO2 の濃度が高ければ、ゼロガスと
して精製されるCO2 の濃度も高くなり、校正のために
高濃度のCO2 が測定セルに流れることになる。従っ
て、このような高濃度のCO2 が測定セルを含む流路系
に流された場合、CO2 が測定セル内壁や流路内壁に吸
着され、流路をゼロガス精製器側から測定側に切り換え
ても、測定セルを含む流路系のガスが試料ガスに完全に
置換されるのに時間がかかり、ゼロ点校正後直ちに試料
ガスの測定、特に低濃度の試料ガスを高感度で分析する
ことができないという問題点があった。本発明は、流路
をゼロガス精製器側から測定側に切り換えた後のガス置
換に要する時間を短縮し、ゼロ点校正後速やかに測定を
開始することができる赤外線式ガス分析計を提供するこ
とを目的としている。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の赤外線式ガス分析計においては、試料ガス
中のCOをCO2 に変換してゼロ点校正用のゼロガスを
精製するゼロガス精製器を備え、同ゼロガス精製器の後
段(測定セルの前)の流路中にCO2 吸収剤を挿置した
ものである。上記CO2 吸収剤としては、例えばソーダ
ライムやモレキュラシーブなどを用いることができる。
また、上記ゼロガス精製器には、触媒(酸化剤)が高温
(例えば120℃)に維持して充填されている。COを
含む試料ガスをこの酸化触媒に接触させながら通過させ
ることによりCOをCO2 に酸化させてゼロガスを精製
する。CO2 の吸収波長領域の中心波長は4.3μmで
あり、一方、COのもつ吸収波長領域は4.7μmを中
心波長とするものであるから、測定するCOに対しCO
2 はゼロガスとして用いることができる。
【0005】
【作用】上記のように構成された赤外線式ガス分析計の
ゼロガス精製器の後段であって測定セルに至る流路中に
挿置したCO2 吸収剤を経由してゼロガスを測定セルに
供給すると、たとえゼロガス精製器において高濃度のC
2 が精製されたとしても、高濃度のCO2 がそのまま
測定セルを含む流路系に流れることがないようにCO2
吸収剤がCO2 を吸収する。
【0006】
【実施例】以下、本発明の赤外線式ガス分析計について
図面を参照して説明するに、図1において、試料ガスは
試料ガス入口1よりサンプリングされ、ドレンセパレー
タ2にて試料ガス中に含まれる水分が分離除去されて、
試料ガス中のダストなどを除去するフィルタ3、試料ガ
ス流量を調整するニードルバルブ4を経由し、通常の測
定では、ポンプ5により、測定側流路6aを通って除湿
器7で除湿され測定セル8に導びかれて、試料ガス中の
CO成分の濃度が測定される。9は試料ガス吸引監視用
の流量計である。
【0007】測定セル8に導入された試料ガスは周知の
非分散赤外線吸収法によって測定される。即ち、赤外線
領域の4.7μmにおけるCOの吸収を利用したもの
で、光源と検出器(図示せず)の光路中に試料ガスを通
過させるように測定セル8を設けておき、測定セル8に
導かれた試料ガス中のCO成分の濃度に対応して検出器
に入射する赤外線のうちCOの吸収帯の光量が減少し、
検出器の吸収応答が変化するのを信号として取り出す。
この信号は増幅して、CO成分の濃度として指示計(図
示せず)に指示され、また、記録計10に記録される。
検出器としては、COが一定分圧で封入されていて光源
からの赤外線のうち、COの吸収帯のみを吸収して応答
するガス封入型検出器が、半導体検出器よりも高感度で
あり、好適である。
【0008】ゼロ点校正を行う場合は、弁11a、11
bを適宜の手段により同期して動作させ、測定側流路6
aをゼロガス精製器13側流路6bに切り換える。ゼロ
ガス精製器13には、触媒(酸化剤)が高温(例えば1
20℃)に維持されて充填されており、試料ガスをこの
酸化触媒に接触させながら通過させることにより、試料
ガス中に含まれているCOをCO2 に酸化させてゼロガ
スを精製する。CO2 の吸収波長領域の中心波長は4.
3μmであり、一方、COのもつ吸収波長領域は4.7
μmを中心波長とするものであるから、測定するCOの
ガス成分に対しCO2 はゼロガスとして用いることがで
きる。
【0009】ゼロガス精製器13で精製されたゼロガス
(CO2 ガス)はソーダライムやモレキュラシーブなど
のCO2 吸収剤12により過剰のCO2 が吸収され、測
定側流路6aに合流されて、測定セル8に供給される。
従って、かりに試料ガス中のCOやCO2 の濃度が高
く、ゼロガス精製器13で高濃度のCO2 がゼロガスと
して精製される場合であっても、これがそのまま測定セ
ル8に導入されることは回避される。
【0010】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、ゼロガスとして高濃度のCO2 が測定セル
を含む流路系に流れ、CO2 が測定セル内壁や流路内壁
に吸着し、流路をゼロガス精製器側から測定側に切り換
えても、測定セルを含む流路系のガスが試料ガスに完全
に置換されるのに時間がかかり、ゼロ点校正後直ちに試
料ガスの測定、特に低濃度の試料ガスを高感度で分析す
ることができないという不都合はなくなる。即ち、流路
をゼロガス精製器側から測定側に切り換えた後のガス置
換に要する時間を短縮することができ、ゼロ点校正後速
やかに測定を開始することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明実施例装置の概略構成を示す図である。
【符号の説明】
1…試料ガス入口 2…ドレンセパレ
ータ 3…フィルタ 4…ニードルバル
ブ 5…ポンプ 6a…測定側流路 6b…ゼロガス精製器側流路 7…除湿器 8…測定セル 9…流量計 10…記録計 11a,11b …弁 12…CO2 吸収剤 13…ゼロガス精製

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料ガス中の一酸化炭素を二酸化炭素に
    変換してゼロ点校正用のゼロガスを精製するゼロガス精
    製器を備えた赤外線式ガス分析計において、 前記ゼロガス精製器と測定セルとの間の流路中に二酸化
    炭素吸収剤を挿置したことを特徴とする赤外線式ガス分
    析計。
JP29525494A 1994-11-29 1994-11-29 赤外線式ガス分析計 Pending JPH08152402A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105203502A (zh) * 2015-08-14 2015-12-30 北京大学 一种气溶胶碳质组分原位在线采集分析仪及其方法
CN117310144A (zh) * 2023-11-28 2023-12-29 深圳市瑞利医疗科技有限责任公司 零点漂移补偿方法、装置、呼气测量设备及存储介质

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105203502A (zh) * 2015-08-14 2015-12-30 北京大学 一种气溶胶碳质组分原位在线采集分析仪及其方法
CN105203502B (zh) * 2015-08-14 2017-11-07 北京大学 一种气溶胶碳质组分原位在线采集分析仪及其方法
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