JPH0815092A - 光導波路ファイバのスペクトル減衰を測定する方法 - Google Patents
光導波路ファイバのスペクトル減衰を測定する方法Info
- Publication number
- JPH0815092A JPH0815092A JP7182212A JP18221295A JPH0815092A JP H0815092 A JPH0815092 A JP H0815092A JP 7182212 A JP7182212 A JP 7182212A JP 18221295 A JP18221295 A JP 18221295A JP H0815092 A JPH0815092 A JP H0815092A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- otdr
- attenuation
- wavelengths
- wavelength
- spectral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＯＴＤＲを用いて光導波路ファイバのスペク
トル減衰を測定する高速でかつ低コストの方法を提供す
ること。 【構成】 ３つまたは４つの波長において得られたＯＴ
ＤＲデ−タを分析することによってスペクトル減衰曲線
が発生される。波長1310nmおよび1550nmを中心とした動
作窓を含む波長範囲1200nm〜1600nmに特別の関心があ
り、1310nm。1410nmおよび1550nmにおけるＯＴＤＲ測定
を用いて正確なスペクトル減衰が得られる。本発明の方
法は正確かつ迅速で、さらに初期コストおよび保守コス
トが低廉である。
トル減衰を測定する高速でかつ低コストの方法を提供す
ること。 【構成】 ３つまたは４つの波長において得られたＯＴ
ＤＲデ−タを分析することによってスペクトル減衰曲線
が発生される。波長1310nmおよび1550nmを中心とした動
作窓を含む波長範囲1200nm〜1600nmに特別の関心があ
り、1310nm。1410nmおよび1550nmにおけるＯＴＤＲ測定
を用いて正確なスペクトル減衰が得られる。本発明の方
法は正確かつ迅速で、さらに初期コストおよび保守コス
トが低廉である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光時間領域反射率計（Ｏ
ＴＤＲ）を用いて光導波路ファイバのスペクトル減衰を
測定する方法にかんする。特に、選択された波長範囲に
わたる導波路のスペクトル減衰が、少なくとも３つの選
択された波長におけるＯＴＤＲ測定値から予測される。
ＴＤＲ）を用いて光導波路ファイバのスペクトル減衰を
測定する方法にかんする。特に、選択された波長範囲に
わたる導波路のスペクトル減衰が、少なくとも３つの選
択された波長におけるＯＴＤＲ測定値から予測される。
【０００２】
【従来の技術】光導波路が中継器なしで情報を搬送する
ことができる距離は導波路の減衰に直接依存する。さら
に、情報率が上昇しているので、波長分割多重化を用い
て導波路容量を増大させる方法が一般的になっている。
ことができる距離は導波路の減衰に直接依存する。さら
に、情報率が上昇しているので、波長分割多重化を用い
て導波路容量を増大させる方法が一般的になっている。
【０００３】したがって、動作窓（operating window）
を定義する波長の範囲にわたるおＹぼ多数の動作窓にわ
たる導波路減衰についての正確な知識を有する必要性が
生じている。すなわち、広い波長範囲にわたって導波路
減衰を正確に測定する必要がある。典型的な波長範囲は
1200nm〜1600nmであり、これは1300nmを中心とした動作
窓および1550nmを中心とした他の１つの動作窓をふく
む。
を定義する波長の範囲にわたるおＹぼ多数の動作窓にわ
たる導波路減衰についての正確な知識を有する必要性が
生じている。すなわち、広い波長範囲にわたって導波路
減衰を正確に測定する必要がある。典型的な波長範囲は
1200nm〜1600nmであり、これは1300nmを中心とした動作
窓および1550nmを中心とした他の１つの動作窓をふく
む。
【０００４】しかし、導波路の使用は約700nmから2000n
mまでの波長範囲にわたって拡張している。約850nmを中
心とした動作窓を含むこの広い範囲に対するスペクトル
範囲を得るためには、選択された波長範囲に広がる適当
な中心波長を有する１つの組のレ−ザを選択しなければ
ならない。
mまでの波長範囲にわたって拡張している。約850nmを中
心とした動作窓を含むこの広い範囲に対するスペクトル
範囲を得るためには、選択された波長範囲に広がる適当
な中心波長を有する１つの組のレ−ザを選択しなければ
ならない。
【０００５】ある波長範囲にわたる導波路減衰、すなわ
ちスペクトル減衰の測定は、関心のある各波長でレ−ザ
を使用しかつ光パワ−損失とファイバ長との関係を測定
することによって行うことができる。公知の減衰測定方
法は基準ファイバまたは短いカットバック・ファイバの
測定を含む。導波路の全長を伝送されたパワ−と基準フ
ァイバまたは短い長さのファイバ中のパワ−との比が減
衰を定義するパワ−比を与える。時間のかかる多数の測
定を行なわなければならない。さらに、必要とされるレ
−ザの数がスペクトル減衰測定を高価にするとともに、
維持するのを一層困難にしている。多数のレ−ザ光源に
代る好ましい手段はモノクロメ−タを使用することであ
る。典型的な格子モノクロメ−タはブレ−ズ波長の約80
％〜180％の範囲にわたって数ナノメ−トルのステップ
で単色光を与えることができる。例えば、1000nmのブレ
−ズ波長を有する格子モノクロメ−タは理論的には約50
0nmまら1800nmまでの範囲にわたるスペクトル測定値を
与えることができるが、パワ−出力が動作範囲の端部近
傍で減少するのが通常である。モノクロメ−タは高価で
ありかつ較正を維持されなければならない。
ちスペクトル減衰の測定は、関心のある各波長でレ−ザ
を使用しかつ光パワ−損失とファイバ長との関係を測定
することによって行うことができる。公知の減衰測定方
法は基準ファイバまたは短いカットバック・ファイバの
測定を含む。導波路の全長を伝送されたパワ−と基準フ
ァイバまたは短い長さのファイバ中のパワ−との比が減
衰を定義するパワ−比を与える。時間のかかる多数の測
定を行なわなければならない。さらに、必要とされるレ
−ザの数がスペクトル減衰測定を高価にするとともに、
維持するのを一層困難にしている。多数のレ−ザ光源に
代る好ましい手段はモノクロメ−タを使用することであ
る。典型的な格子モノクロメ−タはブレ−ズ波長の約80
％〜180％の範囲にわたって数ナノメ−トルのステップ
で単色光を与えることができる。例えば、1000nmのブレ
−ズ波長を有する格子モノクロメ−タは理論的には約50
0nmまら1800nmまでの範囲にわたるスペクトル測定値を
与えることができるが、パワ−出力が動作範囲の端部近
傍で減少するのが通常である。モノクロメ−タは高価で
ありかつ較正を維持されなければならない。
【０００６】製造速度に歩調を合せるためには多くのス
ペクトル測定方式を使用しなければならない。したがっ
て、初期費用および保守費用が高くなる。
ペクトル測定方式を使用しなければならない。したがっ
て、初期費用および保守費用が高くなる。
【０００７】このようなわけで、保守費用が安く、測定
時間を短縮し、必要な測定装置の数を少なくし、そして
モノクロメ−タや多数のレ−ザを必要としないスペクト
ル減衰測定が必要とされている。
時間を短縮し、必要な測定装置の数を少なくし、そして
モノクロメ−タや多数のレ−ザを必要としないスペクト
ル減衰測定が必要とされている。
【０００８】
【本発明が解決しようとする課題】本発明は迅速で、全
体のコストが低いスペクトル減衰測定の必要性を充足す
るものである。
体のコストが低いスペクトル減衰測定の必要性を充足す
るものである。
【０００９】本発明はＯＴＤＲを用いて、選択された波
長範囲にわたって、光導波路ファイバのスペクトル減衰
を測定する方法である。
長範囲にわたって、光導波路ファイバのスペクトル減衰
を測定する方法である。
【００１０】
【課題を解決するための手段】ＯＴＤＲ減衰測定は選択
された範囲内の少なくとも３つの波長において行なわれ
る。測定された減衰は、その選択された範囲の波長に対
して、減衰、すなわちスペクトル減衰を表わす曲線を得
るために分析される。
された範囲内の少なくとも３つの波長において行なわれ
る。測定された減衰は、その選択された範囲の波長に対
して、減衰、すなわちスペクトル減衰を表わす曲線を得
るために分析される。
【００１１】本発明の１つの実施例では、選択される波
長範囲は約700nmから約2000nmまでである。この範囲は
光導波路が現在使用されている波長範囲に実質的にわた
っている。さらに、この範囲は導波路減衰が最適の低い
値に達する波長を含んでいる。
長範囲は約700nmから約2000nmまでである。この範囲は
光導波路が現在使用されている波長範囲に実質的にわた
っている。さらに、この範囲は導波路減衰が最適の低い
値に達する波長を含んでいる。
【００１２】本発明の１つの好ましい実施例では、波長
範囲は約1200nmから約1600nmまでの範囲にわたるように
選択される。この範囲は導波路波長の２つの最適波長範
囲、すなわち約1280nmから約1580nmまでの第１の範囲
と、約1520nmから約1580までの第２の範囲を含む。
範囲は約1200nmから約1600nmまでの範囲にわたるように
選択される。この範囲は導波路波長の２つの最適波長範
囲、すなわち約1280nmから約1580nmまでの第１の範囲
と、約1520nmから約1580までの第２の範囲を含む。
【００１３】他の実施例では、ＯＴＤＲ減衰測定のため
に３つの波長が選択される。これら３つの波長は、1280
nm〜1330nm、1350nm〜1420nm、および1520nm〜1580nmの
３つの該当する範囲から選択される。
に３つの波長が選択される。これら３つの波長は、1280
nm〜1330nm、1350nm〜1420nm、および1520nm〜1580nmの
３つの該当する範囲から選択される。
【００１４】特定の実施例では、３つの各波長範囲から
選択される３つの波長は、1310nm、1380nmおよび1550nm
である。３つの各波長範囲から選択される好ましい３つ
の波長は1310nm、1410nmおよび1550nmである。
選択される３つの波長は、1310nm、1380nmおよび1550nm
である。３つの各波長範囲から選択される好ましい３つ
の波長は1310nm、1410nmおよび1550nmである。
【００１５】好ましい場合には、波長が1380nmにおける
ウォ−タ・ピ−ク（water peak）から離れるにつれて導
波路減衰が小さくなるので、1410nmが用いられる。した
がって、信号対ノイズ比は1410nmにおいてより良くな
り、より長い導波路ファイバ長についての測定を可能に
する。また、1380nmより大きい波長を用いて1380nm-OH
ピ−クを特徴づけるのが好ましいことが認められた。レ
−ザ波長の裕度およびレ−ザ波長変動の可能性を考慮し
て、1410nmが好ましい。
ウォ−タ・ピ−ク（water peak）から離れるにつれて導
波路減衰が小さくなるので、1410nmが用いられる。した
がって、信号対ノイズ比は1410nmにおいてより良くな
り、より長い導波路ファイバ長についての測定を可能に
する。また、1380nmより大きい波長を用いて1380nm-OH
ピ−クを特徴づけるのが好ましいことが認められた。レ
−ザ波長の裕度およびレ−ザ波長変動の可能性を考慮し
て、1410nmが好ましい。
【００１６】本発明の他の面および利益は詳細な説明お
よび下記の図面から明らかとなるであろう。
よび下記の図面から明らかとなるであろう。
【００１７】
【実施例】ＯＴＤＲは現在では指定された裕度、すなわ
ち+/- 0.01db/kmを満足するのに十分な精度をもて光導
波路減衰を測定することができる。1310nmおよび1550nm
を中心とする動作窓にわたって、ＯＴＤＲ精度は約+/-
0.003 dB/kmである。現在の技術によるＯＴＤＲ計測装
置は約50km以上のファイバ長についてこの精度を達成す
ることができる。ＯＴＤＲは、主としてより優れたＯＴ
ＤＲ信号解釈技術の開発と、ＯＴＤＲ計測装置の感度の
改善とによって、受入れ可能な精度と範囲を達成してい
る。
ち+/- 0.01db/kmを満足するのに十分な精度をもて光導
波路減衰を測定することができる。1310nmおよび1550nm
を中心とする動作窓にわたって、ＯＴＤＲ精度は約+/-
0.003 dB/kmである。現在の技術によるＯＴＤＲ計測装
置は約50km以上のファイバ長についてこの精度を達成す
ることができる。ＯＴＤＲは、主としてより優れたＯＴ
ＤＲ信号解釈技術の開発と、ＯＴＤＲ計測装置の感度の
改善とによって、受入れ可能な精度と範囲を達成してい
る。
【００１８】ＯＴＤＲ動作原理は公知である。図１は本
発明の方法を実施するのに必要な少なくとも３つのレ−
ザを有するプロダクションＯＴＤＲ計測装置の主な特徴
を示している。ブロック４で示されているＯＴＤＲは少
なくとも３つのレ−ザ光源２を含んでいる。これらのレ
−ザは、光導波路が使用される波長範囲の任意の領域に
対するスペクトル減衰を与えるように選定されうる。現
在では、その範囲は約700nmから約2000nmまでに広がっ
ている。
発明の方法を実施するのに必要な少なくとも３つのレ−
ザを有するプロダクションＯＴＤＲ計測装置の主な特徴
を示している。ブロック４で示されているＯＴＤＲは少
なくとも３つのレ−ザ光源２を含んでいる。これらのレ
−ザは、光導波路が使用される波長範囲の任意の領域に
対するスペクトル減衰を与えるように選定されうる。現
在では、その範囲は約700nmから約2000nmまでに広がっ
ている。
【００１９】本発明の方法の好ましい実施例では、レ−
ザ２は３箇であり、かつそれぞれ1310nm、1410nmおよび
1550nmの動作波長を有している。３つのレ−ザしか示さ
れていないが、レ−ザ２は複数のレ−ザであることが理
解される。レ−ザ光源は中心波長、波長幅および使用前
のパワ−出力で十分に特徴づけられる。通常、レ−ザ製
造方法は目標の約+/-10まで指定中心波長を満足するこ
とができる。この裕度は、1380nm-OHピ−クの近傍で使
用されるものを除き、本発明で使用されるレ−ザに対し
て許容しうるものである。上述しかつ後述するように、
本発明の好ましい実施例は、これらのレ−ザが1380nm以
上であること、すなわち傾斜値の小さいピ−クの側にあ
ることを必要とする。
ザ２は３箇であり、かつそれぞれ1310nm、1410nmおよび
1550nmの動作波長を有している。３つのレ−ザしか示さ
れていないが、レ−ザ２は複数のレ−ザであることが理
解される。レ−ザ光源は中心波長、波長幅および使用前
のパワ−出力で十分に特徴づけられる。通常、レ−ザ製
造方法は目標の約+/-10まで指定中心波長を満足するこ
とができる。この裕度は、1380nm-OHピ−クの近傍で使
用されるものを除き、本発明で使用されるレ−ザに対し
て許容しうるものである。上述しかつ後述するように、
本発明の好ましい実施例は、これらのレ−ザが1380nm以
上であること、すなわち傾斜値の小さいピ−クの側にあ
ることを必要とする。
【００２０】レ−ザ光はファイバオプティック・スイッ
チ６および８を通じて導波路ファイバ中に入射されう
る。スイッチ６は特定の測定のためのレ−ザを選択し、
そしてスイッチ８は測定されているファイバの入射端部
を選択する。図示された実施例は双方向測定を含んでい
る。自動化されうる１つの組の光スイッチも示されてい
る。この双方向方法はマニュアル・モ−ドで動作されう
る。さらに、自動切換えを有しない単方向測定を用いて
もよい。双方向、多波長測定は、コンピュ−タのような
機械制御装置を用いて、測定が進行するにつれてスイッ
チをそれらの適切な位置に移動させるように自動化され
うる。
チ６および８を通じて導波路ファイバ中に入射されう
る。スイッチ６は特定の測定のためのレ−ザを選択し、
そしてスイッチ８は測定されているファイバの入射端部
を選択する。図示された実施例は双方向測定を含んでい
る。自動化されうる１つの組の光スイッチも示されてい
る。この双方向方法はマニュアル・モ−ドで動作されう
る。さらに、自動切換えを有しない単方向測定を用いて
もよい。双方向、多波長測定は、コンピュ−タのような
機械制御装置を用いて、測定が進行するにつれてスイッ
チをそれらの適切な位置に移動させるように自動化され
うる。
【００２１】矢印１７は特定のレ−ザからスイッチ８を
通って導波路ファイバ端部１３または１５に向う光を示
している。このレ−ザ光は、それがファイバ長中を伝播
する際に、。矢印１１で示されているように、連続的に
ＯＴＤＲに反射される。ＯＴＤＲはカプラ（図示せず）
を含んでおり、そのカプラが反射光を検知器（図示せ
ず）に送る。導波路に沿った後方反射強度対距離のトレ
−スが１つのファイバ端部に入射された光についていっ
たん記録されると、スイッチ８の位置が変更され、そし
て他方のファイバ端部に入射された光について強度トレ
−スが得られる。双方向トレ−スがレ−ザ２の１つにつ
いて記録された後で、スイッチ６がレ−ザ２の他の１つ
から光を入射させる位置となされる。２つの単方向ＯＴ
ＤＲトレ−スが各波長において双方向トレ−スを形成す
るように結合された時点で測定が完了する。代替とし
て、ファイバへの１つの入射方向について得られた１つ
またはそれ以上のＯＴＤＲトレ−スは導波路の減衰を決
定するのに使用されうる。レ−ザおよび入射方向が選択
されるシ−ケンスは本発明にとって重要ではない。
通って導波路ファイバ端部１３または１５に向う光を示
している。このレ−ザ光は、それがファイバ長中を伝播
する際に、。矢印１１で示されているように、連続的に
ＯＴＤＲに反射される。ＯＴＤＲはカプラ（図示せず）
を含んでおり、そのカプラが反射光を検知器（図示せ
ず）に送る。導波路に沿った後方反射強度対距離のトレ
−スが１つのファイバ端部に入射された光についていっ
たん記録されると、スイッチ８の位置が変更され、そし
て他方のファイバ端部に入射された光について強度トレ
−スが得られる。双方向トレ−スがレ−ザ２の１つにつ
いて記録された後で、スイッチ６がレ−ザ２の他の１つ
から光を入射させる位置となされる。２つの単方向ＯＴ
ＤＲトレ−スが各波長において双方向トレ−スを形成す
るように結合された時点で測定が完了する。代替とし
て、ファイバへの１つの入射方向について得られた１つ
またはそれ以上のＯＴＤＲトレ−スは導波路の減衰を決
定するのに使用されうる。レ−ザおよび入射方向が選択
されるシ−ケンスは本発明にとって重要ではない。
【００２２】特定の波長で得られた１つまたはそれ以上
のＯＴＤＲトレ−スがその波長における導波路減衰を生
ずる。この減衰は通常dB/kmの単位で表わされる。
のＯＴＤＲトレ−スがその波長における導波路減衰を生
ずる。この減衰は通常dB/kmの単位で表わされる。
【００２３】図１において、ファイバ１０の巻付けられ
た長さがスイッチ８と測定されるべき導波路の一端部の
間に配置されていることに注目されたい。ファイバ１０
は高強度の最初に反射された光パルスを、測定されるべ
き導波路の端部から離れるように移動させる作用をす
る。この第１の高強度反射パルスが検知器を飽和させ、
それによって導波路ファイバの入射端部にデッドゾ−ン
（dead zone）を生ずる。最長のデッドゾ−ンがＯＴＤ
Ｒレ−ザに最も近い導波路ファイバ１０のうちの１つに
位置づけられている。したがって、より短いデッドゾ−
ンを有するトレ−スが測定されつつある導波路の長さに
つき得られる。双方向の平均ＯＴＤＲトレ−スからまた
は特定の波長における１つまたはそれ以上の単方向ＯＴ
ＤＲトレ−スから、２点または他のフィット技術（fit
technique）によって、その波長におけるファイバの減
衰が決定されうる。この適用可能な方法は公知である。
た長さがスイッチ８と測定されるべき導波路の一端部の
間に配置されていることに注目されたい。ファイバ１０
は高強度の最初に反射された光パルスを、測定されるべ
き導波路の端部から離れるように移動させる作用をす
る。この第１の高強度反射パルスが検知器を飽和させ、
それによって導波路ファイバの入射端部にデッドゾ−ン
（dead zone）を生ずる。最長のデッドゾ−ンがＯＴＤ
Ｒレ−ザに最も近い導波路ファイバ１０のうちの１つに
位置づけられている。したがって、より短いデッドゾ−
ンを有するトレ−スが測定されつつある導波路の長さに
つき得られる。双方向の平均ＯＴＤＲトレ−スからまた
は特定の波長における１つまたはそれ以上の単方向ＯＴ
ＤＲトレ−スから、２点または他のフィット技術（fit
technique）によって、その波長におけるファイバの減
衰が決定されうる。この適用可能な方法は公知である。
【００２４】測定されつつある導波路ファイバがリ−ル
１２に巻きつけて示されている。ある種のファイバに対
しては、リ−ル１２は運送用リ−ルであってもよく、特
別な測定リ−ルは余計な巻取り工程の必要性を排除す
る。
１２に巻きつけて示されている。ある種のファイバに対
しては、リ−ル１２は運送用リ−ルであってもよく、特
別な測定リ−ルは余計な巻取り工程の必要性を排除す
る。
【００２５】選択された波長範囲における導波路減衰の
曲線、すなわちスペクトル減衰曲線を得るために、各レ
−ザ波長において測定された個々の減衰が既知の係数と
結合される。その既知の係数は特定の導波路ファイバを
特徴づけるものでありかつ予測値を測定減衰に関係づけ
るものである。すなわち、特定の導波路ファイバのスペ
クトル減衰は、その特定の導波路ファイバについて前以
て決定された１つの組の係数によって、１つの組の少な
くとも３つの波長において測定された特定の導波路ファ
イバの減衰に関係づけられうる。換言すれば、測定減衰
とスペクトル減衰曲線上の点との関係は、特定の形式の
被試験導波路を特徴づける１つの組の係数として表現さ
れ得る。係数の組の数がスペクトル曲線上の点の間隔を
決定する。各ファイバ形式に対して１つの組の係数が必
要とされる。この係数の発生についてのさらに詳細な論
述は、Spectral Attenuation Modelling with Matrix M
ethods", T. A. Hanson, Conference Digest NPL Optic
al Fibre Measurements Conference, York, the United
Kingdon, pp. 8-11, 199-1を参照されたい。
曲線、すなわちスペクトル減衰曲線を得るために、各レ
−ザ波長において測定された個々の減衰が既知の係数と
結合される。その既知の係数は特定の導波路ファイバを
特徴づけるものでありかつ予測値を測定減衰に関係づけ
るものである。すなわち、特定の導波路ファイバのスペ
クトル減衰は、その特定の導波路ファイバについて前以
て決定された１つの組の係数によって、１つの組の少な
くとも３つの波長において測定された特定の導波路ファ
イバの減衰に関係づけられうる。換言すれば、測定減衰
とスペクトル減衰曲線上の点との関係は、特定の形式の
被試験導波路を特徴づける１つの組の係数として表現さ
れ得る。係数の組の数がスペクトル曲線上の点の間隔を
決定する。各ファイバ形式に対して１つの組の係数が必
要とされる。この係数の発生についてのさらに詳細な論
述は、Spectral Attenuation Modelling with Matrix M
ethods", T. A. Hanson, Conference Digest NPL Optic
al Fibre Measurements Conference, York, the United
Kingdon, pp. 8-11, 199-1を参照されたい。
【００２６】それらの係数は、個々のデ−タ点から曲線
を予測するための公知の多数の方法のうちの任意の方法
を用いて発生されうる。例えば、その曲線は加算二乗差
を最小にすることに基づいた回帰法を用いて発生されう
る。
を予測するための公知の多数の方法のうちの任意の方法
を用いて発生されうる。例えば、その曲線は加算二乗差
を最小にすることに基づいた回帰法を用いて発生されう
る。
【００２７】３または４波長測定から予測されたスペク
トル減衰が、標準のカットバック法および異なる波長の
光を与えるためのモノクロメ−タを含んだ標準の装置を
用いて測定されたスペクトル減衰と比較される概念をテ
ストするために実験が行なわれた。これらのテストは実
施例１〜４に示されている。
トル減衰が、標準のカットバック法および異なる波長の
光を与えるためのモノクロメ−タを含んだ標準の装置を
用いて測定されたスペクトル減衰と比較される概念をテ
ストするために実験が行なわれた。これらのテストは実
施例１〜４に示されている。
【００２８】この概念が立証されかつ適当な組の波長が
決定された後で、適切なレンズを組込んだＯＴＤＲを用
いて実験が続けられた。これらのテストの典型的な結果
が実施例５に示されている。
決定された後で、適切なレンズを組込んだＯＴＤＲを用
いて実験が続けられた。これらのテストの典型的な結果
が実施例５に示されている。
【００２９】この標準的な方法を用いて発生された典型
的なスペクトル減衰曲線は選択された波長範囲にわたっ
て約10nmごとにデ−タ点を与えた。
的なスペクトル減衰曲線は選択された波長範囲にわたっ
て約10nmごとにデ−タ点を与えた。
【００３０】実施例１−４波長ＯＴＤＲシミュレ−ショ
ン スペクトル減衰曲線が、標準カットバック法をモノクロ
メ−タと一緒に用いて、２４本のシングルモ−ド・ファ
イバについて測定された。1240nm〜1600nmの範囲の10nm
毎に測定が行なわれた。上述した係数の組は、上述のよ
うに、被測定スペクトル減衰曲線がベ−スとされる最小
二乗誤差回帰を用いて、これらのデ−タから発生され
た。
ン スペクトル減衰曲線が、標準カットバック法をモノクロ
メ−タと一緒に用いて、２４本のシングルモ−ド・ファ
イバについて測定された。1240nm〜1600nmの範囲の10nm
毎に測定が行なわれた。上述した係数の組は、上述のよ
うに、被測定スペクトル減衰曲線がベ−スとされる最小
二乗誤差回帰を用いて、これらのデ−タから発生され
た。
【００３１】同一の２４本のシングルモ−ド・ファイバ
のそれぞれの減衰が1310nm 1360nm、1410nmおよび1550nmの波長で測定された。1240
nmから1600nmまでの波長範囲にわたり、スペクトル減衰
曲線が、測定された導波路ファイバ形式を特徴づける係
数の組を用いて、これら４つのデ−タ点から発生され
た。
のそれぞれの減衰が1310nm 1360nm、1410nmおよび1550nmの波長で測定された。1240
nmから1600nmまでの波長範囲にわたり、スペクトル減衰
曲線が、測定された導波路ファイバ形式を特徴づける係
数の組を用いて、これら４つのデ−タ点から発生され
た。
【００３２】この範囲の下限、すなわち1240nmが選択さ
れた。なぜなら、1240nmの近傍における-OH吸収が設置
された装置の動作窓の低い波長端部を効果的に制限する
からである。
れた。なぜなら、1240nmの近傍における-OH吸収が設置
された装置の動作窓の低い波長端部を効果的に制限する
からである。
【００３３】図２は予測スペクトル減衰と標準的方法の
カットバック・スペクトル減衰との間の差または誤差の
チャ−トである。曲線２０は２４の差プロットの包絡線
である。実質的に、この包絡線全体はそれぞれ0.01およ
び-0.01dB/kmにおける境界１６および１８内にある。
カットバック・スペクトル減衰との間の差または誤差の
チャ−トである。曲線２０は２４の差プロットの包絡線
である。実質的に、この包絡線全体はそれぞれ0.01およ
び-0.01dB/kmにおける境界１６および１８内にある。
【００３４】動作窓1280nm〜1330nmおよび1520nm〜1580
nmにわたって、その包絡線は1580nmの近傍における変動
を除けば実質的に+/- 0.005の範囲内にある。
nmにわたって、その包絡線は1580nmの近傍における変動
を除けば実質的に+/- 0.005の範囲内にある。
【００３５】したがって、ＯＴＤＲの精度が与えられれ
ば、ＯＴＤＲ測定値によって予測されるスペクトル減衰
曲線は導波路ファイバの性能を特徴づけるのに十分なだ
け正確であるであろう。
ば、ＯＴＤＲ測定値によって予測されるスペクトル減衰
曲線は導波路ファイバの性能を特徴づけるのに十分なだ
け正確であるであろう。
【００３６】比較実施例２−３波長ＯＴＤＲシミュレ−
ション 実施例１の２４本のファイバが1310nm、1550nmおよび13
80nmで測定され、そしてスペクトル減衰曲線が予測され
た。
ション 実施例１の２４本のファイバが1310nm、1550nmおよび13
80nmで測定され、そしてスペクトル減衰曲線が予測され
た。
【００３７】図３は実施例１で説明されたものと類似し
た差プロットである。曲線２２は２４の差プロットの包
絡線である。ここでも、その包絡線は線１６および１８
で示された境界+/- 0.01dB/km内に実質的に含まれてい
る。
た差プロットである。曲線２２は２４の差プロットの包
絡線である。ここでも、その包絡線は線１６および１８
で示された境界+/- 0.01dB/km内に実質的に含まれてい
る。
【００３８】さらに、動作窓1280nm〜1330nmおよび1520
nm〜1580nmにわたって図２および３を比較すると、３波
長および４波長ＯＴＤＲ差チャ−ト間に優れた一致が存
在している。
nm〜1580nmにわたって図２および３を比較すると、３波
長および４波長ＯＴＤＲ差チャ−ト間に優れた一致が存
在している。
【００３９】実施例１および２の結果を組合せると、13
10nm窓からの波長、1550nm窓からの波長、および1380nm
-OHピ−クを記述した波長を用いて満足なスペクトル曲
線が発生され得るという結論が出される。したがって、
1280nm〜1330nm、1350nm〜1420nm、および1520nm〜1580
nmの各範囲から３つの波長が選択される３つの波長にお
ける測定から、満足なＯＴＤＲスペクトル減衰が発生さ
れうる。
10nm窓からの波長、1550nm窓からの波長、および1380nm
-OHピ−クを記述した波長を用いて満足なスペクトル曲
線が発生され得るという結論が出される。したがって、
1280nm〜1330nm、1350nm〜1420nm、および1520nm〜1580
nmの各範囲から３つの波長が選択される３つの波長にお
ける測定から、満足なＯＴＤＲスペクトル減衰が発生さ
れうる。
【００４０】比較実施例３−３波長ＯＴＤＲシミュレ−
ション ３つの波長における減衰測定を用いてスペクトル円錐曲
線が発生された。実施例２におけるように、選択された
波長のうちの２つは1310nmおよび1550nmであった。第３
の波長は本質的に1380nm、1390nm、1400nm、1410nm、14
20nm、1440nm、および1450nmよりなるグル−プから選択
された。
ション ３つの波長における減衰測定を用いてスペクトル円錐曲
線が発生された。実施例２におけるように、選択された
波長のうちの２つは1310nmおよび1550nmであった。第３
の波長は本質的に1380nm、1390nm、1400nm、1410nm、14
20nm、1440nm、および1450nmよりなるグル−プから選択
された。
【００４１】図４は３波長減衰測定から予測されるスペ
クトル減衰の二乗平均誤差平方根の比較を示している。
二乗平均誤差平方根は標準的な技術によって測定された
スペクトル曲線に関して計算される。曲線２４は1310n
m、1550nmおよび1450の波長グル−プに対する誤差を表
わしている。曲線２６は波長グル−プ1310nm、1550nmお
よび1440nmに対する誤差を表わしている。曲線２８は波
長グル−プ1310nm、1550nmおよび1430nmに対する誤差を
表わしている。曲線３０は波長グル−プ1310nm、1550nm
および1420nmに対する誤差を表わしている。曲線３０は
波長グル−プ1310nm、1550nmおよび1420nmに対する誤差
を表わしている。曲線３２は波長グル−プ1310nm、1550
nmおよび1410nmに対する誤差を表わしている。曲線３４
は波長グル−プ1310nm、1550nmおよび1380nmに対する誤
差を表わしている。そして曲線３６は波長グル−プ1310
nm、1550nmおよび1390nmに対する誤差を表わしている。
クトル減衰の二乗平均誤差平方根の比較を示している。
二乗平均誤差平方根は標準的な技術によって測定された
スペクトル曲線に関して計算される。曲線２４は1310n
m、1550nmおよび1450の波長グル−プに対する誤差を表
わしている。曲線２６は波長グル−プ1310nm、1550nmお
よび1440nmに対する誤差を表わしている。曲線２８は波
長グル−プ1310nm、1550nmおよび1430nmに対する誤差を
表わしている。曲線３０は波長グル−プ1310nm、1550nm
および1420nmに対する誤差を表わしている。曲線３０は
波長グル−プ1310nm、1550nmおよび1420nmに対する誤差
を表わしている。曲線３２は波長グル−プ1310nm、1550
nmおよび1410nmに対する誤差を表わしている。曲線３４
は波長グル−プ1310nm、1550nmおよび1380nmに対する誤
差を表わしている。そして曲線３６は波長グル−プ1310
nm、1550nmおよび1390nmに対する誤差を表わしている。
【００４２】動作窓1280nm〜1330nmおよび1520nm〜1580
nmでは、誤差曲線が実質的に一致している。さらに、全
体の波長範囲1280nm〜1600nmでは、曲線３０、３２、３
４および３６が実質的に一致している。
nmでは、誤差曲線が実質的に一致している。さらに、全
体の波長範囲1280nm〜1600nmでは、曲線３０、３２、３
４および３６が実質的に一致している。
【００４３】好ましい３つの波長グル−プは1310nm、15
50nmおよび1410nmとされた。波長1410nmは1380nm-OH吸
収ピ−クの近傍における減衰を正確に記述するのに十分
なだけそのピ−クに接近している。また、1410nmは-OH
ピ−クから若干離れているから、ＯＴＤＲ測定の信号対
ノイズ比が改善される。さらに、1410nmを選択したこと
により、レ−ザのメ−カによって供給された中心波長が
ある程度変化するとともに、レ−ザ波長がある程度温度
とともに変動することが許容される。
50nmおよび1410nmとされた。波長1410nmは1380nm-OH吸
収ピ−クの近傍における減衰を正確に記述するのに十分
なだけそのピ−クに接近している。また、1410nmは-OH
ピ−クから若干離れているから、ＯＴＤＲ測定の信号対
ノイズ比が改善される。さらに、1410nmを選択したこと
により、レ−ザのメ−カによって供給された中心波長が
ある程度変化するとともに、レ−ザ波長がある程度温度
とともに変動することが許容される。
【００４４】別の実験では、-OHピ−クの近傍であるが1
380nmより若干高い波長が1380nmより若干低い波長より
もそのピ−クをより正確に記述することが認められた。
このことは1410nmの選択をさらに正当化する。
380nmより若干高い波長が1380nmより若干低い波長より
もそのピ−クをより正確に記述することが認められた。
このことは1410nmの選択をさらに正当化する。
【００４５】実施例４−３波長ＯＴＤＲ対４３波長ＯＴ
ＤＲのシミュレ−トされた比較 1310nm、1360nm、1410nmおよび1550nmにおける減衰測定
を用いてスペクトル曲線が発生された。この曲線が、13
10nm、1380nmおよび1550nmにおける減衰測定と1310nm、
1410nmおよび1550nmにおける減衰測定を用いて発生され
たスペクトル減衰とそれぞれ比較された。
ＤＲのシミュレ−トされた比較 1310nm、1360nm、1410nmおよび1550nmにおける減衰測定
を用いてスペクトル曲線が発生された。この曲線が、13
10nm、1380nmおよび1550nmにおける減衰測定と1310nm、
1410nmおよび1550nmにおける減衰測定を用いて発生され
たスペクトル減衰とそれぞれ比較された。
【００４６】標準測定スペクトル曲線からの二乗平均誤
差平方根で表わされた差が図５に示されている。曲線４
０は３つの波長1310nm、1380nmおよび1550nmを用いたＯ
ＴＤＲ測定の場合の誤差である。曲線４２は４つの波長
1310nm、1360nm、1410nmおよび1550nmの場合の誤差であ
る。曲線３８は３つの波長1310nm、1410nmおよび1550nm
の場合の誤差である。
差平方根で表わされた差が図５に示されている。曲線４
０は３つの波長1310nm、1380nmおよび1550nmを用いたＯ
ＴＤＲ測定の場合の誤差である。曲線４２は４つの波長
1310nm、1360nm、1410nmおよび1550nmの場合の誤差であ
る。曲線３８は３つの波長1310nm、1410nmおよび1550nm
の場合の誤差である。
【００４７】２つの作動窓1280nm〜1330nmおよび1520nm
〜1580nmでは３つの曲線がすべて実質的に同一である。
また、４波長曲線４２は３波長曲線３８と実質的に等し
い。したがって、1380nm-OHピ−クよりも波長が低い136
0nmにおける余分な測定は、３波長測定方法に比べて、
スペクトル減衰についての付加的な情報は実質的に与え
ない。
〜1580nmでは３つの曲線がすべて実質的に同一である。
また、４波長曲線４２は３波長曲線３８と実質的に等し
い。したがって、1380nm-OHピ−クよりも波長が低い136
0nmにおける余分な測定は、３波長測定方法に比べて、
スペクトル減衰についての付加的な情報は実質的に与え
ない。
【００４８】実施例５−３波長ＯＴＤＲスペクトル減衰 実施例１〜５のシミュレ−ションはスペクトル減衰を予
測するための波長の最適数およびスペクトル位置を与え
た。
測するための波長の最適数およびスペクトル位置を与え
た。
【００４９】ＯＴＤＲは各波長1310nm、1410nmおよび15
50nmにおいて３つのレ−ザを具備した。これらの３つの
波長におけるＯＴＤＲ測定が７本のシングルモ−ド・フ
ァイバのそれぞれに対して行なわれた。ファイバの形式
の特徴であり、３つの測定された減衰を他の波長におけ
る減衰に関係づける係数を用いて、スペクトル減衰曲線
が発生された。
50nmにおいて３つのレ−ザを具備した。これらの３つの
波長におけるＯＴＤＲ測定が７本のシングルモ−ド・フ
ァイバのそれぞれに対して行なわれた。ファイバの形式
の特徴であり、３つの測定された減衰を他の波長におけ
る減衰に関係づける係数を用いて、スペクトル減衰曲線
が発生された。
【００５０】発生されたスペクトル曲線は10nmステップ
での1280nm〜1600nmの波長範囲をカバ−した。標準的な
カットバック法とモノクロメ−タを含んだ公知の装置を
用いて、10nmステップでの同じ波長範囲にわたって、こ
れら７本のファイバについて測定が行なわれた。測定さ
れた７本導波路ファイバのすべてについて、２つのスペ
クトル減衰間に優れた合致が存在している。約0.1dB/km
の最も大きい誤差が1380nm-OH吸収ピ−クの近傍で発生
した。動作窓1280nm〜1330nmおよび1520nm〜1580nmで
は、誤差が約0.002dB/km以下であった。
での1280nm〜1600nmの波長範囲をカバ−した。標準的な
カットバック法とモノクロメ−タを含んだ公知の装置を
用いて、10nmステップでの同じ波長範囲にわたって、こ
れら７本のファイバについて測定が行なわれた。測定さ
れた７本導波路ファイバのすべてについて、２つのスペ
クトル減衰間に優れた合致が存在している。約0.1dB/km
の最も大きい誤差が1380nm-OH吸収ピ−クの近傍で発生
した。動作窓1280nm〜1330nmおよび1520nm〜1580nmで
は、誤差が約0.002dB/km以下であった。
【００５１】
【発明の効果】以上の説明から理解されるように、本発
明は、標準的なカットバック測定と比較して、 − 精度が少なくともそれに等しいかあるいはおそらく
優れており、 − 生産環境により良く適合しており、 − より迅速であり、 − 装置のコストが低く、 − 保守コストが低く、そして − ポ−タブルである スペクトル減衰を測定する方法を提供する。
明は、標準的なカットバック測定と比較して、 − 精度が少なくともそれに等しいかあるいはおそらく
優れており、 − 生産環境により良く適合しており、 − より迅速であり、 − 装置のコストが低く、 − 保守コストが低く、そして − ポ−タブルである スペクトル減衰を測定する方法を提供する。
【図１】少なくとも３つのレ−ザを用いたＯＴＤＲ測定
装置の概略図である。
装置の概略図である。
【図２】シミュレ−トされた４レ−ザＯＴＤＲスペクト
ル減衰と標準カットバック法を用いて測定されたスペク
トル減衰と比較するチャ−トである。
ル減衰と標準カットバック法を用いて測定されたスペク
トル減衰と比較するチャ−トである。
【図３】シミュレ−トされた３レ−ザＯＴＤＲスペクト
ル減衰と標準カットバック法を用いて測定されたスペク
トル減衰と比較するチャ−トである。
ル減衰と標準カットバック法を用いて測定されたスペク
トル減衰と比較するチャ−トである。
【図４】シミュレ−トされた３レ−ザＯＴＤＲスペクト
ル減衰を、２つのＯＴＤＲレ−ザ波長が1310nm、1550nm
であり、そして第３のＯＴＤＲレ−ザが1380nm〜1450nm
の波長範囲内にある標準のカットバック法と比較するチ
ャ−トである。
ル減衰を、２つのＯＴＤＲレ−ザ波長が1310nm、1550nm
であり、そして第３のＯＴＤＲレ−ザが1380nm〜1450nm
の波長範囲内にある標準のカットバック法と比較するチ
ャ−トである。
【図５】３レ−ザＯＴＤＲを用いて測定されたシミュレ
−トされたスペクトル減衰を、４レ−ザＯＴＤＲを用い
て測定されたものと比較するチャ−トである。
−トされたスペクトル減衰を、４レ−ザＯＴＤＲを用い
て測定されたものと比較するチャ−トである。
【図６】実際の３レ−ザＯＴＤＲスペクトル減衰を、標
準のカットバック法を用いた直接測定によって得られた
スペクトル減衰と比較するチャ−トである。
準のカットバック法を用いた直接測定によって得られた
スペクトル減衰と比較するチャ−トである。
【符号の説明】 ２ レ−ザ光源 ４ ＯＴＤＲ ６ ファイバオプティック・スイッチ ８ ファイバオプティック・スイッチ １０ 導波路ファイバ １２ リ−ル １３ 導波路ファイバ端部 １５ 導波路ファイバ端部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウィリアム ジョン キッシュ アメリカ合衆国ノースカロライナ州、ウィ ルミントン、クリークリッジ ロード 6808 (72)発明者 ジェローム ジョゼフ ノバック アメリカ合衆国ノースカロライナ州、ウィ ルミントン、サットン ドライブ 3613 (72)発明者 アネット ルイーズ バンダボート アメリカ合衆国ニューヨーク州、ビッグ フラッツ、マーフィ ロード 2345
Claims (4)
- 【請求項１】 光時間領域反射率計を用いて、選択され
た波長範囲について、光導波路ファイバのスペクトル減
衰を測定する方法であって、 それぞれ前記選択された波長範囲内である少なくとも３
つの波長における減衰を測定し、 前記選択された波長範囲における減衰を表わす曲線を作
成するために、前記少なくとも３つの波長における各減
衰を分析することよりなる光導波路ファイバのスペクト
ル減衰を測定する方法。 - 【請求項２】 前記選択された波長範囲が約700nm〜約2
000nmまたは約1200nm〜約1600nmである請求項２の方
法。 - 【請求項３】 ３つの波長が選択され、その選択された
３つの波長が1280nm〜1330nm、1350nm〜1420nm、および
1520nm〜1580nmの各範囲から選ばれる請求項２の方法。 - 【請求項４】 前記選択された３つの波長が実質的に13
10nm、1380nmおよび1550nm、あるいは実質的に1310nm、
1410nmおよび1550nmである請求項３の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/269,042 US5534994A (en) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | Optical waveguide spectral attenuation using an OTDR |
| US269042 | 1994-06-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815092A true JPH0815092A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=23025562
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7182212A Pending JPH0815092A (ja) | 1994-06-29 | 1995-06-27 | 光導波路ファイバのスペクトル減衰を測定する方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5534994A (ja) |
| EP (1) | EP0690298B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0815092A (ja) |
| AU (1) | AU697017B2 (ja) |
| CA (1) | CA2148534A1 (ja) |
| DE (1) | DE69522276T2 (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19847617C2 (de) * | 1998-10-15 | 2002-11-07 | Sensor Instr Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Länge des Lichtleiters |
| WO2000062033A1 (en) * | 1999-04-09 | 2000-10-19 | Corning Incorporated | Apparatus for measuring the properties of an optical fiber |
| US6519026B1 (en) | 1999-08-06 | 2003-02-11 | Lucent Technologies Inc. | Optical time-domain reflectometer (OTDR) |
| US6396575B1 (en) | 2000-05-31 | 2002-05-28 | Lucent Technologies Inc. | Test and measurement system for detecting and monitoring faults and losses in passive optical networks (PONs) |
| FR2817960B1 (fr) * | 2000-12-13 | 2003-04-04 | Acome Soc Coop Travailleurs | Reflectometre a plusieurs longueurs d'ondes |
| AU2002240314A1 (en) | 2001-02-07 | 2002-08-19 | Omniguide Communications | Optical waveguide monitoring |
| JP2002236078A (ja) * | 2001-02-07 | 2002-08-23 | Ando Electric Co Ltd | 波長分散分布測定器、及びその測定方法 |
| US6816243B2 (en) * | 2001-03-05 | 2004-11-09 | Omniguide Communications | Optical waveguide monitoring |
| US6757456B2 (en) | 2001-06-19 | 2004-06-29 | Corning Incorporated | System for selecting an appropriate optical fiber type for a communication network |
| US7289729B1 (en) | 2002-06-12 | 2007-10-30 | At&T Corp. | Optoelectronic marker for determining ownership of fiber optic cable |
| DE10242205B4 (de) * | 2002-09-10 | 2018-02-08 | Lios Technology Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur räumlich ausgedehnten Erfassung von Betriebszuständen |
| US20050174563A1 (en) * | 2004-02-11 | 2005-08-11 | Evans Alan F. | Active fiber loss monitor and method |
| JP2008051698A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-06 | Yokogawa Electric Corp | 双方向光モジュールおよびこれを用いた光パルス試験器 |
| EP2274595B1 (en) * | 2008-05-09 | 2017-11-15 | AFL Telecommunications LLC | Optical time-domain reflectometer |
| LT2577890T (lt) | 2010-05-27 | 2019-05-27 | Exfo Inc. | Daugybinio rinkimo otdr būdas ir įtaisas |
| CN102539113B (zh) * | 2011-11-21 | 2015-11-04 | 河南省电力通信自动化公司 | 一种基于布里渊光时域分析仪botda的曲线分析方法 |
| US9228922B1 (en) * | 2013-10-31 | 2016-01-05 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Optical time domain reflectometer calibration standard |
| US10101240B1 (en) | 2017-04-27 | 2018-10-16 | Viavi Solutions France SAS | Optical time-domain reflectometer device including combined trace display |
| US10914655B2 (en) * | 2018-08-28 | 2021-02-09 | Viavi Solutions Inc. | Optical time-domain reflectometer device including multiple and bi-directional optical testing for fiber analysis |
| US11431408B2 (en) | 2020-11-04 | 2022-08-30 | Viavi Solutions Inc. | High speed bidirectional optical time-domain reflectometer (OTDR)-based testing of device under test |
| EP3996295A1 (en) | 2020-11-04 | 2022-05-11 | Viavi Solutions Inc. | High-speed bidirectional optical time-domain reflectometer (otdr)-based testing of device under test |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4183666A (en) * | 1977-03-10 | 1980-01-15 | Mitsubishi Rayon Company, Limited | Method of measuring light transmission losses of optical materials |
| DE3520421A1 (de) * | 1985-06-07 | 1986-12-11 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Rueckstreumessgeraet zur messung der daempfung von lichtwellenleitern mit einem bildschirmanzeigegeraet |
| GB2179733B (en) * | 1985-08-29 | 1989-08-09 | Stc Plc | Plural wavelength optical fibre reflectometer |
| JPS62251633A (ja) * | 1986-04-24 | 1987-11-02 | Ando Electric Co Ltd | 光フアイバ測定装置 |
| DE3616798A1 (de) * | 1986-05-17 | 1987-11-19 | Philips Patentverwaltung | Verfahren und anordnung zur messung der daempfung von lichtwellenleitern nach dem rueckstreuverfahren |
| US5032025A (en) * | 1990-05-07 | 1991-07-16 | Tektronix, Inc. | Wavelength normalization of fiber-optic loss measurements |
-
1994
- 1994-06-29 US US08/269,042 patent/US5534994A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-05-03 CA CA002148534A patent/CA2148534A1/en not_active Abandoned
- 1995-06-16 DE DE69522276T patent/DE69522276T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-06-16 EP EP95109348A patent/EP0690298B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-06-21 AU AU21797/95A patent/AU697017B2/en not_active Ceased
- 1995-06-27 JP JP7182212A patent/JPH0815092A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0690298A2 (en) | 1996-01-03 |
| EP0690298A3 (en) | 1997-07-16 |
| EP0690298B1 (en) | 2001-08-22 |
| DE69522276T2 (de) | 2002-01-03 |
| AU697017B2 (en) | 1998-09-24 |
| AU2179795A (en) | 1996-01-11 |
| CA2148534A1 (en) | 1995-12-30 |
| US5534994A (en) | 1996-07-09 |
| DE69522276D1 (de) | 2001-09-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0815092A (ja) | 光導波路ファイバのスペクトル減衰を測定する方法 | |
| US5771250A (en) | Laser light source apparatus, OTDR apparatus, and optical communication line inspection system | |
| Anderson et al. | Troubleshooting optical fiber networks: understanding and using optical time-domain reflectometers | |
| US7817257B2 (en) | Method for measuring a differential mode delay of a multimode optical fiber | |
| US9871584B2 (en) | Method of characterizing a multimode optical fiber link and corresponding methods of fabricating multimode optical fiber links and of selecting multimode optical fibers from a batch of multimode optical fibers | |
| US7221439B2 (en) | Method of estimating and measuring longitudinal dispersion in optical fibers | |
| JPS62110160A (ja) | 光学的時間領域反射測定 | |
| EP2237010B1 (en) | Cutoff wavelength measuring method and optical communication system | |
| Echevarria et al. | Uniform fiber Bragg grating first-and second-order diffraction wavelength experimental characterization for strain-temperature discrimination | |
| EP3391008B1 (en) | Method of qualifying wide-band multimode fiber from single wavelength characterization using emb extrapolation, corresponding system and computer program. | |
| GB2190264A (en) | Calibrating a reflectometer; characterizing an optical fibre device | |
| US6739154B2 (en) | Method for manufacturing optical gratings | |
| JP2004354104A (ja) | 光ファイバ伝送路の損失特性評価方法 | |
| Mueller et al. | Interferometric chromatic dispersion measurement of a photonic bandgap fiber | |
| Day et al. | Optical fiber metrology | |
| JP3137585B2 (ja) | マイクロベンディング量の測定方法 | |
| Auge et al. | Parametric study of depressed inner cladding single-mode fibers | |
| Tatekura et al. | High accurate automatic measurement equipment for chromatic dispersion making use of the phase-shift technique with LDs | |
| JPH0953999A (ja) | 光式外力検知装置 | |
| Borzycki et al. | Remedies to Thermal Radiation in Fused Silica Optical Fibers | |
| Gorlov et al. | Predicting the Reliability of Physical Channel in Optical Access Networks by Non-destructive Methods | |
| Hsu et al. | Trisection wide spectral band fiber dispersion compensation | |
| Nijnuis et al. | Length and curvature dependence of effective cutoff wavelength and LP 11 mode attenuation in single-mode fibers | |
| Kapron | Issues in single-mode fiber standardization | |
| Coppa et al. | Single-mode optical fiber characterization |