JPH0814873A - 超音波距離形式のｈ型材フランジ幅測定方法 - Google Patents
超音波距離形式のｈ型材フランジ幅測定方法Info
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- JPH0814873A JPH0814873A JP6146596A JP14659694A JPH0814873A JP H0814873 A JPH0814873 A JP H0814873A JP 6146596 A JP6146596 A JP 6146596A JP 14659694 A JP14659694 A JP 14659694A JP H0814873 A JPH0814873 A JP H0814873A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】Ｈ型材のフランジ厚が変化しても常にＨ型材の
フランジ幅を高精度に測定することが可能なＨ型材のフ
ランジ幅測定方法を提供する。 【構成】所定のフランジ厚ｋt に設定された校正片を使
用して、対向配置された少なくとも一対の超音波距離計
２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ03を測定するとともに、これら超
音波距離計の間にＨ型材１を配設して、当該Ｈ型材のフ
ランジ両端面までの距離Ｌ01、Ｌ02を検出し、前記超音
波距離計間の距離Ｌ03からＨ型材のフランジ両端面まで
の距離Ｌ01、Ｌ02を差し引いてフランジ幅Ｂを算出する
Ｈ型材フランジ幅測定方法である。この方法において
は、予め求められた校正片及びＨ型材のフランジ厚の差
と、フランジ幅の測定誤差との関係に基づいてフランジ
幅の補正量ＤＥt を求め、該補正量により前記算出され
たフランジ幅Ｂを補正することを特徴とする。
フランジ幅を高精度に測定することが可能なＨ型材のフ
ランジ幅測定方法を提供する。 【構成】所定のフランジ厚ｋt に設定された校正片を使
用して、対向配置された少なくとも一対の超音波距離計
２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ03を測定するとともに、これら超
音波距離計の間にＨ型材１を配設して、当該Ｈ型材のフ
ランジ両端面までの距離Ｌ01、Ｌ02を検出し、前記超音
波距離計間の距離Ｌ03からＨ型材のフランジ両端面まで
の距離Ｌ01、Ｌ02を差し引いてフランジ幅Ｂを算出する
Ｈ型材フランジ幅測定方法である。この方法において
は、予め求められた校正片及びＨ型材のフランジ厚の差
と、フランジ幅の測定誤差との関係に基づいてフランジ
幅の補正量ＤＥt を求め、該補正量により前記算出され
たフランジ幅Ｂを補正することを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、フランジ厚寸法が種々
異なる複数種類のＨ型鋼を測定する場合に好適な超音波
距離形式のＨ型材フランジ幅測定方法に関する。
異なる複数種類のＨ型鋼を測定する場合に好適な超音波
距離形式のＨ型材フランジ幅測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、Ｈ型材、例えばＨ型鋼のフランジ
幅を非接触で測定する技術として、本出願人により先に
出願した特開平３ー１１０４０９号公報に示すものが知
られている。この技術は、図６に示すようにＨ型鋼１の
フランジ幅Ｂを測定する際に、先ず、超音波距離計２
Ａ、２Ｂによりフランジ端面までの距離ｍ1 、ｍ2 を検
出する。また、フランジ位置測定用の距離計４Ａ、４Ｂ
でフランジ側面までの距離ｍ3、ｍ4 を検出してフラン
ジ側面の位置を知る。次に、偏り量演算器５Ａ、５Ｂに
より、前記検出距離ｍ3 、ｍ4 に基づいて以下のように
フランジ６の偏り量を算出する。すなわち、予めフラン
ジ厚設定器７に設定されたフランジ厚ｔf を偏り量演算
器５Ａ、５Ｂに入力する。そして、偏り量演算器５Ａ、
５Ｂは、入力された検出距離ｍ3 、ｍ4 と設定されたフ
ランジ厚ｔf とから、フランジ６の偏り量Ｃ1 、Ｃ2 を
次式（１）、（２）を使用して求める。
幅を非接触で測定する技術として、本出願人により先に
出願した特開平３ー１１０４０９号公報に示すものが知
られている。この技術は、図６に示すようにＨ型鋼１の
フランジ幅Ｂを測定する際に、先ず、超音波距離計２
Ａ、２Ｂによりフランジ端面までの距離ｍ1 、ｍ2 を検
出する。また、フランジ位置測定用の距離計４Ａ、４Ｂ
でフランジ側面までの距離ｍ3、ｍ4 を検出してフラン
ジ側面の位置を知る。次に、偏り量演算器５Ａ、５Ｂに
より、前記検出距離ｍ3 、ｍ4 に基づいて以下のように
フランジ６の偏り量を算出する。すなわち、予めフラン
ジ厚設定器７に設定されたフランジ厚ｔf を偏り量演算
器５Ａ、５Ｂに入力する。そして、偏り量演算器５Ａ、
５Ｂは、入力された検出距離ｍ3 、ｍ4 と設定されたフ
ランジ厚ｔf とから、フランジ６の偏り量Ｃ1 、Ｃ2 を
次式（１）、（２）を使用して求める。
【０００３】 Ｃ1 ＝Ｌ01−ｍ3 −（ｔf ／２） ……（１） Ｃ2 ＝Ｌ02−ｍ4 −（ｔf ／２） ……（２） 但し、Ｌ01は、距離計４Ａと、超音波距離計２Ａの中心
線（Ｃ1 ＝０の線）との間隔、Ｌ02は、距離計４Ｂと、
超音波距離計２Ｂの中心線（Ｃ2 ＝０の線）との間隔で
ある。
線（Ｃ1 ＝０の線）との間隔、Ｌ02は、距離計４Ｂと、
超音波距離計２Ｂの中心線（Ｃ2 ＝０の線）との間隔で
ある。
【０００４】次に、補正値演算器８Ａ、８Ｂにより、前
記（１）式、（２）式で算出された偏り量Ｃ1 、Ｃ2 か
ら、テーブル（偏り量に対する測定誤差がフランジ厚毎
に記憶されているテーブル）を用いて補正値Ｅ1 、Ｅ2
を求める。次に、フランジ幅演算器９により、補正値Ｅ
1 、Ｅ2 と超音波距離計２Ａ、２Ｂで検出されたフラン
ジ端面までの距離ｍ1 、ｍ2 を使用して、次式に基づい
てフランジ幅Ｂが算出される。
記（１）式、（２）式で算出された偏り量Ｃ1 、Ｃ2 か
ら、テーブル（偏り量に対する測定誤差がフランジ厚毎
に記憶されているテーブル）を用いて補正値Ｅ1 、Ｅ2
を求める。次に、フランジ幅演算器９により、補正値Ｅ
1 、Ｅ2 と超音波距離計２Ａ、２Ｂで検出されたフラン
ジ端面までの距離ｍ1 、ｍ2 を使用して、次式に基づい
てフランジ幅Ｂが算出される。
【０００５】 Ｂ＝Ｌ03−（ｍ1 ＋Ｅ1 ）−（ｍ2 ＋Ｅ2 ） ……（３）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ここで、上記（３）式
のＬ03は、予め求められた超音波距離計２Ａ、２Ｂ間の
距離である。この距離Ｌ03は、超音波距離計２Ａ、２Ｂ
によってフランジ厚を所定値に設定した一種類の校正片
を測定することにより求めている。しかしながら、上述
したフランジ幅測定方法にあっては、フランジ厚ｔf が
種々異なる複数種類のＨ型鋼を測定する場合には、フラ
ンジ幅の測定精度が低下してしまうことが判明した。
のＬ03は、予め求められた超音波距離計２Ａ、２Ｂ間の
距離である。この距離Ｌ03は、超音波距離計２Ａ、２Ｂ
によってフランジ厚を所定値に設定した一種類の校正片
を測定することにより求めている。しかしながら、上述
したフランジ幅測定方法にあっては、フランジ厚ｔf が
種々異なる複数種類のＨ型鋼を測定する場合には、フラ
ンジ幅の測定精度が低下してしまうことが判明した。
【０００７】すなわち、校正片のフランジ厚とＨ型鋼１
のフランジ厚ｔf が同一値である場合にはフランジ幅の
測定に問題がない。ところが、校正片のフランジ厚と異
なるフランジ厚ｔf を持つＨ型鋼１を測定する際には、
校正片及びＨ型鋼１のフランジ端面に反射する超音波距
離計２Ａ、２Ｂの超音波の反射率が異なるので、超音波
距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ03に測定誤差が生じてしま
う。ここで、測定されるＨ型鋼のフランジ厚ｔf と同一
値のフランジ厚を有する校正片を用いて、逐次距離Ｌ03
を測定していく方法が考えられるが、測定作業の簡略化
及び測定の迅速化の面で問題がある。
のフランジ厚ｔf が同一値である場合にはフランジ幅の
測定に問題がない。ところが、校正片のフランジ厚と異
なるフランジ厚ｔf を持つＨ型鋼１を測定する際には、
校正片及びＨ型鋼１のフランジ端面に反射する超音波距
離計２Ａ、２Ｂの超音波の反射率が異なるので、超音波
距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ03に測定誤差が生じてしま
う。ここで、測定されるＨ型鋼のフランジ厚ｔf と同一
値のフランジ厚を有する校正片を用いて、逐次距離Ｌ03
を測定していく方法が考えられるが、測定作業の簡略化
及び測定の迅速化の面で問題がある。
【０００８】したがって、フランジ厚ｔf が種々異なる
複数種類のＨ型鋼を測定する場合には、従来方法の
（３）式においては、距離Ｌ03に測定誤差が含まれてフ
ランジ幅Ｂが算出されるので、Ｈ型鋼１の幅Ｂを高精度
に測定することができない。本発明は、上記事情に鑑み
てなされたものであり、Ｈ型材のフランジ厚が変化して
も常にＨ型材のフランジ幅を高精度に測定することが可
能なＨ型材のフランジ幅測定方法を提供することを目的
とする。
複数種類のＨ型鋼を測定する場合には、従来方法の
（３）式においては、距離Ｌ03に測定誤差が含まれてフ
ランジ幅Ｂが算出されるので、Ｈ型鋼１の幅Ｂを高精度
に測定することができない。本発明は、上記事情に鑑み
てなされたものであり、Ｈ型材のフランジ厚が変化して
も常にＨ型材のフランジ幅を高精度に測定することが可
能なＨ型材のフランジ幅測定方法を提供することを目的
とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、超音波距離形式のＨ型材フランジ幅測定方法は、所
定のフランジ厚に設定された校正片を使用して、対向配
置された少なくとも一対の超音波距離計間の距離を測定
するとともに、これら超音波距離計の間にＨ型材を配設
して、当該Ｈ型材のフランジ両端面までの距離を検出
し、前記超音波距離計間の距離からＨ型材のフランジ両
端面までの距離を差し引いてフランジ幅を算出する超音
波距離形式のＨ型材フランジ幅測定方法において、予め
求められた校正片及びＨ型材のフランジ厚の差と、フラ
ンジ幅の測定誤差との関係に基づいてフランジ幅の補正
量を求め、該補正量により前記算出されたフランジ幅を
補正することを特徴とする方法である。
め、超音波距離形式のＨ型材フランジ幅測定方法は、所
定のフランジ厚に設定された校正片を使用して、対向配
置された少なくとも一対の超音波距離計間の距離を測定
するとともに、これら超音波距離計の間にＨ型材を配設
して、当該Ｈ型材のフランジ両端面までの距離を検出
し、前記超音波距離計間の距離からＨ型材のフランジ両
端面までの距離を差し引いてフランジ幅を算出する超音
波距離形式のＨ型材フランジ幅測定方法において、予め
求められた校正片及びＨ型材のフランジ厚の差と、フラ
ンジ幅の測定誤差との関係に基づいてフランジ幅の補正
量を求め、該補正量により前記算出されたフランジ幅を
補正することを特徴とする方法である。
【００１０】
【作用】本出願人は、図１に示すように、超音波距離計
２Ａ、２Ｂの測定値に対するフランジ厚の変化を調査し
たところ、フランジ厚の変化と測定誤差との間には一定
の関係があることが分かった。この図１の結果から明ら
かなように、一種類である校正片のフランジ厚と、測定
対象であるＨ型材のフランジ厚の差がわかれば、Ｈ型材
のフランジ厚の変化による測定誤差が求められることが
わかった。例えば、図１において校正片のフランジ厚が
１０mmであり、Ｈ型材のフランジ厚が３５mmであれば、
測定誤差はｅt となる。
２Ａ、２Ｂの測定値に対するフランジ厚の変化を調査し
たところ、フランジ厚の変化と測定誤差との間には一定
の関係があることが分かった。この図１の結果から明ら
かなように、一種類である校正片のフランジ厚と、測定
対象であるＨ型材のフランジ厚の差がわかれば、Ｈ型材
のフランジ厚の変化による測定誤差が求められることが
わかった。例えば、図１において校正片のフランジ厚が
１０mmであり、Ｈ型材のフランジ厚が３５mmであれば、
測定誤差はｅt となる。
【００１１】そこで、本発明の超音波距離形式のＨ型材
フランジ幅測定方法によれば、予め、校正片とＨ型材と
のフランジ厚の変化に対する測定誤差を調査して、例え
ばテーブル化しておく。そして、フランジ幅を測定する
際には、予めＨ型材のフランジ厚の情報を得るととも
に、前記テーブルを用いてＨ型材のフランジ厚変化によ
る測定誤差を求め、当該測定誤差による補正量で超音波
距離計で測定したフランジ幅を補正すれば、高精度にフ
ランジ幅を求めることができる。
フランジ幅測定方法によれば、予め、校正片とＨ型材と
のフランジ厚の変化に対する測定誤差を調査して、例え
ばテーブル化しておく。そして、フランジ幅を測定する
際には、予めＨ型材のフランジ厚の情報を得るととも
に、前記テーブルを用いてＨ型材のフランジ厚変化によ
る測定誤差を求め、当該測定誤差による補正量で超音波
距離計で測定したフランジ幅を補正すれば、高精度にフ
ランジ幅を求めることができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の超音波距離形式のＨ型材フラ
ンジ幅測定方法に係る一実施例を図を参照して説明す
る。図２は本実施例の装置構成を示すものである。本実
施例では、Ｈ型鋼１の右側のフランジ幅Ｂを測定する装
置のみを示しているが、左側のフランジ幅Ｂを測定する
ための装置構成も同様であるため、その構成の図示及び
説明は省略する。
ンジ幅測定方法に係る一実施例を図を参照して説明す
る。図２は本実施例の装置構成を示すものである。本実
施例では、Ｈ型鋼１の右側のフランジ幅Ｂを測定する装
置のみを示しているが、左側のフランジ幅Ｂを測定する
ための装置構成も同様であるため、その構成の図示及び
説明は省略する。
【００１３】そして、フランジ位置測定用の距離計４
Ａ、４Ｂは、フランジ側面までの距離ｍ3 、ｍ4 を検出
する。また、偏り量演算器５Ａ、５Ｂは、距離計４Ａ、
４Ｂにより検出された距離ｍ3 、ｍ4 と、上位計算器１
０から得られたフランジ厚ｔfに基づき、前述した
（１）式、（２）式を使用してフランジ６の偏り量
Ｃ1 、Ｃ 2 を求める。さらに、補正値演算器８Ａ、８Ｂ
は、補正値Ｅ1 、Ｅ2 を求めてフランジ幅演算器１２に
出力する。そして、超音波距離計２Ａ、２Ｂのそれぞれ
のセンサ２Ａ1 、２Ｂ1 により検出されたフランジ端面
までの距離ｍ1 、ｍ2 は、フランジ幅演算器１２に出力
される。
Ａ、４Ｂは、フランジ側面までの距離ｍ3 、ｍ4 を検出
する。また、偏り量演算器５Ａ、５Ｂは、距離計４Ａ、
４Ｂにより検出された距離ｍ3 、ｍ4 と、上位計算器１
０から得られたフランジ厚ｔfに基づき、前述した
（１）式、（２）式を使用してフランジ６の偏り量
Ｃ1 、Ｃ 2 を求める。さらに、補正値演算器８Ａ、８Ｂ
は、補正値Ｅ1 、Ｅ2 を求めてフランジ幅演算器１２に
出力する。そして、超音波距離計２Ａ、２Ｂのそれぞれ
のセンサ２Ａ1 、２Ｂ1 により検出されたフランジ端面
までの距離ｍ1 、ｍ2 は、フランジ幅演算器１２に出力
される。
【００１４】また、フランジ幅Ｂの算出式に使用される
超音波距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ 03は、従来方法と同
様に、フランジ厚を所定値に設定した校正片を使用して
超音波距離計２Ａ、２Ｂにより測定されている。そし
て、本実施例のフランジ幅演算器１２は、補正値Ｅ1 、
Ｅ2 と、フランジ端面までの距離ｍ1 、ｍ2 と、超音波
距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ03に基づき、図３に示す演
算処理を実行してフランジ幅Ｂを算出する。この算出値
は、フランジ幅演算器１３と接続する表示部１４に出力
され、Ｈ型鋼１の品質管理のデータ等に使用されるよう
になっている。
超音波距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ 03は、従来方法と同
様に、フランジ厚を所定値に設定した校正片を使用して
超音波距離計２Ａ、２Ｂにより測定されている。そし
て、本実施例のフランジ幅演算器１２は、補正値Ｅ1 、
Ｅ2 と、フランジ端面までの距離ｍ1 、ｍ2 と、超音波
距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ03に基づき、図３に示す演
算処理を実行してフランジ幅Ｂを算出する。この算出値
は、フランジ幅演算器１３と接続する表示部１４に出力
され、Ｈ型鋼１の品質管理のデータ等に使用されるよう
になっている。
【００１５】ここで、フランジ幅演算器１２は、上位計
算機１０から測定対象のＨ型鋼１のフランジ厚ｔf 情報
が得られるようになっている。また、上位計算機１０に
は、校正片のフランジ厚ｋt と、図４に対応する補正テ
ーブルθが記憶されており、フランジ幅演算器１２は、
それらフランジ厚ｋt 及び補正テーブルθを参照して超
音波距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ03を補正した後に、フ
ランジ幅Ｂを算出するようになっている。また、補正テ
ーブルθは、フランジ厚の変化に対する測定誤差を示し
た図１に基づいて得られるデータであり、図４に示すよ
うに校正片と測定対象のＨ型鋼１とのフランジ厚の差Ｄ
の変化に対応する補正値ＤＥt が、一定の関係で表され
ている。
算機１０から測定対象のＨ型鋼１のフランジ厚ｔf 情報
が得られるようになっている。また、上位計算機１０に
は、校正片のフランジ厚ｋt と、図４に対応する補正テ
ーブルθが記憶されており、フランジ幅演算器１２は、
それらフランジ厚ｋt 及び補正テーブルθを参照して超
音波距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ03を補正した後に、フ
ランジ幅Ｂを算出するようになっている。また、補正テ
ーブルθは、フランジ厚の変化に対する測定誤差を示し
た図１に基づいて得られるデータであり、図４に示すよ
うに校正片と測定対象のＨ型鋼１とのフランジ厚の差Ｄ
の変化に対応する補正値ＤＥt が、一定の関係で表され
ている。
【００１６】図３の演算処理は、先ず、ステップＳ１
で、測定対象のフランジ厚ｔf を読み込む。次いで、ス
テップＳ２で、校正片のフランジ厚ｋt と測定対象のフ
ランジ厚ｔ f とが同一値か否かを判定する。そして、校
正片のフランジ厚ｋt と測定対象のフランジ厚ｔf とが
同一値である場合にはステップＳ３に移行し、同一値で
無い場合にはステップＳ４に移行する。
で、測定対象のフランジ厚ｔf を読み込む。次いで、ス
テップＳ２で、校正片のフランジ厚ｋt と測定対象のフ
ランジ厚ｔ f とが同一値か否かを判定する。そして、校
正片のフランジ厚ｋt と測定対象のフランジ厚ｔf とが
同一値である場合にはステップＳ３に移行し、同一値で
無い場合にはステップＳ４に移行する。
【００１７】ステップＳ３では、補正値Ｅt を０とす
る。そして、ステップＳ５では、以下の式によりフラン
ジ幅Ｂを算出する。 Ｂ＝（Ｌ03−Ｅt ）−（ｍ1 ＋Ｅ1 ）−（ｍ2 ＋Ｅ2 ） ……（４） 一方、ステップＳ２において、校正片のフランジ厚ｋt
と測定対象のフランジ厚ｔf とが同一値で無い場合に
は、ステップＳ４に移行し、補正テーブルθを参照し
て、校正片とＨ型鋼１とのフランジ厚の差Ｄの値に対応
する補正値ＤＥt を算出する。
る。そして、ステップＳ５では、以下の式によりフラン
ジ幅Ｂを算出する。 Ｂ＝（Ｌ03−Ｅt ）−（ｍ1 ＋Ｅ1 ）−（ｍ2 ＋Ｅ2 ） ……（４） 一方、ステップＳ２において、校正片のフランジ厚ｋt
と測定対象のフランジ厚ｔf とが同一値で無い場合に
は、ステップＳ４に移行し、補正テーブルθを参照し
て、校正片とＨ型鋼１とのフランジ厚の差Ｄの値に対応
する補正値ＤＥt を算出する。
【００１８】そして、ステップＳ６に移行して、ステッ
プＳ４で算出された補正値ＤＥを補正値Ｅt に入力す
る。次いで、ステップＳ５に移行し、前述した（４）式
によりフランジ幅Ｂを算出する。このように、本実施例
のフランジ幅測定方法によれば、上位計算機１０には、
校正片とＨ型鋼１とのフランジ厚の変化による測定誤差
をフランジ厚の補正値ＤＥt としてテーブル化してなる
補正テーブルθが記憶されており、フランジ幅演算器１
２は、上位計算機１０から測定対象のＨ型鋼１のフラン
ジ厚ｔf 情報を得るとともに、前記補正テーブルθを参
照して超音波距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ 03を補正して
フランジ幅Ｂを算出するので、高精度にフランジ幅Ｂを
求めることができる。
プＳ４で算出された補正値ＤＥを補正値Ｅt に入力す
る。次いで、ステップＳ５に移行し、前述した（４）式
によりフランジ幅Ｂを算出する。このように、本実施例
のフランジ幅測定方法によれば、上位計算機１０には、
校正片とＨ型鋼１とのフランジ厚の変化による測定誤差
をフランジ厚の補正値ＤＥt としてテーブル化してなる
補正テーブルθが記憶されており、フランジ幅演算器１
２は、上位計算機１０から測定対象のＨ型鋼１のフラン
ジ厚ｔf 情報を得るとともに、前記補正テーブルθを参
照して超音波距離計２Ａ、２Ｂ間の距離Ｌ 03を補正して
フランジ幅Ｂを算出するので、高精度にフランジ幅Ｂを
求めることができる。
【００１９】したがって、本実施例は、図６に示すよう
に、Ｈ型鋼１のフランジ厚ｔf が種々変化しても、常に
測定誤差を抑制してフランジ幅を測定することができる
ので、従来方法と比較して高精度のフランジ幅測定を行
うことができる。なお、上記実施例では、Ｈ型材として
Ｈ型鋼を例にとって説明したが、フランジ幅が検出可能
なＨ型材であれば、Ｈ型鋼に限定されるものではない。
に、Ｈ型鋼１のフランジ厚ｔf が種々変化しても、常に
測定誤差を抑制してフランジ幅を測定することができる
ので、従来方法と比較して高精度のフランジ幅測定を行
うことができる。なお、上記実施例では、Ｈ型材として
Ｈ型鋼を例にとって説明したが、フランジ幅が検出可能
なＨ型材であれば、Ｈ型鋼に限定されるものではない。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、超音波距離形式の
Ｈ型材フランジ幅測定方法は、予め求められた校正片及
びＨ型材のフランジ厚の差と、フランジ幅の測定誤差と
の関係に基づいてフランジ幅の補正量を求め、該補正量
により前記算出されたフランジ幅を補正することを特徴
としているので、Ｈ型材のフランジ厚が種々変化して
も、高精度にフランジ幅を求めることができる。
Ｈ型材フランジ幅測定方法は、予め求められた校正片及
びＨ型材のフランジ厚の差と、フランジ幅の測定誤差と
の関係に基づいてフランジ幅の補正量を求め、該補正量
により前記算出されたフランジ幅を補正することを特徴
としているので、Ｈ型材のフランジ厚が種々変化して
も、高精度にフランジ幅を求めることができる。
【図１】超音波距離計の測定値に対するフランジ厚の変
化を示した図である。
化を示した図である。
【図２】本発明に係る装置構成を示した図である。
【図３】本発明のフランジ幅の測定手順を示したフロー
チャートである。
チャートである。
【図４】本発明に係る校正片とＨ型材のフランジ厚の差
の変化に対応する補正量を示す図である。
の変化に対応する補正量を示す図である。
【図５】測定対象であるＨ型材のフランジ厚の変化に対
する、従来方法及び本発明によるフランジ幅測定方法の
フランジ幅の測定誤差量を示す図である。
する、従来方法及び本発明によるフランジ幅測定方法の
フランジ幅の測定誤差量を示す図である。
【図６】従来のフランジ幅測定方法に使用される装置構
成を示す図である。
成を示す図である。
１ Ｈ型材（Ｈ型鋼） ２Ａ、２Ｂ 超音波距離計 ４Ａ、４Ｂ フランジ位置測定用の距離計 ５Ａ、５Ｂ 偏り量演算器 ６ フランジ ８Ａ、８Ｂ 補正値演算器 １０ 上位計算機 １２ フランジ幅演算器 Ｂ Ｈ型材のフランジ幅 Ｌ03 超音波距離計間の距離 ｍ1 、ｍ2 フランジ端面までの距離 ｍ3 、ｍ4 フランジ側面までの距離 ｔf Ｈ型材のフランジ厚 ｋt 校正片のフランジ厚 Ｃ1 、Ｃ2 偏り量 Ｅ1 、Ｅ2 補正値 θ 補正テーブル ＤＥt 校正片とＨ型材とのフランジ厚の差の変化に対
応する補正量
応する補正量
Claims (1)
- 【請求項１】 所定のフランジ厚に設定された校正片を
使用して、対向配置された少なくとも一対の超音波距離
計間の距離を測定するとともに、これら超音波距離計の
間にＨ型材を配設して、当該Ｈ型材のフランジ両端面ま
での距離を検出し、前記超音波距離計間の距離からＨ型
材のフランジ両端面までの距離を差し引いてフランジ幅
を算出する超音波距離形式のＨ型材フランジ幅測定方法
において、 予め求められた校正片及びＨ型材のフランジ厚の差と、
フランジ幅の測定誤差との関係に基づいてフランジ幅の
補正量を求め、 該補正量により前記算出されたフランジ幅を補正するこ
とを特徴とする超音波距離形式のＨ型材フランジ幅測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6146596A JPH0814873A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 超音波距離形式のｈ型材フランジ幅測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6146596A JPH0814873A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 超音波距離形式のｈ型材フランジ幅測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0814873A true JPH0814873A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=15411303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6146596A Pending JPH0814873A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 超音波距離形式のｈ型材フランジ幅測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0814873A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240333A (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-20 | Shinshu Univ | 変位検出方法及び装置 |
-
1994
- 1994-06-28 JP JP6146596A patent/JPH0814873A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240333A (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-20 | Shinshu Univ | 変位検出方法及び装置 |
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