JPH08146097A - 半導体ic試験装置用一体型密閉筐体冷却装置 - Google Patents

半導体ic試験装置用一体型密閉筐体冷却装置

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JPH08146097A
JPH08146097A JP6314191A JP31419194A JPH08146097A JP H08146097 A JPH08146097 A JP H08146097A JP 6314191 A JP6314191 A JP 6314191A JP 31419194 A JP31419194 A JP 31419194A JP H08146097 A JPH08146097 A JP H08146097A
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JP
Japan
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housing
boards
cooling device
board
semiconductor
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Application number
JP6314191A
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English (en)
Inventor
Akihiro Fujimoto
明博 藤本
Jun Midorikawa
潤 緑川
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 最適条件で温度制御が行える半導体IC試験
装置用一体型密閉筐体冷却装置を提供する。 【構成】 半導体IC試験装置と一体の密閉筐体冷却装
置の密閉筐体61は複数枚のボード10をボードラック
16に水平に装着して、ユニット電源20はボードラッ
ク16の上段、下段に装着する、ボード10を制御する
バックボード13を設け、熱交換器32を密閉用扉9
1、92に密着接続して設け、ボード10とユニット電
源20とバックボード13に水平な風が当たるように小
型フアン41、42を設ける、筐体内にエアダクト70
を設け筐体内を最適温度に制御した風が最短流路に沿っ
て循環するような構造を設けた、筐体内の温風を筐体外
に出さないテスタ用一体型密閉筐体冷却装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体IC試験装置と
一体の密閉筐体冷却装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術による半導体IC試験装置(以
下テスタと呼ぶ)と一体の筐体冷却装置は電気装置より
発生する熱量を放熱させるために筐体内にフアンを設
け、空気の流れを作り放熱を図る装置が主流を占めてい
た。それはテスタを設置した室内の空気をテスタの筐体
内に装着のファンを回して空気を取り込み、ファンを回
転させてテスタ内の電気装置に風を送り発熱空気を筐体
外のテスタ設置の室へ放出を図った、これではテスタ設
置台数が増加するにつれテスタを設置した室温に多大な
影響を与えるという欠点が目立ってきた。そこでテスタ
の筐体を密閉するテスタ用一体型密閉筐体冷却装置を用
いたテスタが設置されるようになった、筐体内を密閉し
て熱交換器と冷却媒体とフアンを使用してテスタ内の温
度を制御した、それは筐体内の電気装置にファンによっ
て風を送り熱交換器を通過した冷却空気が密閉筐体内を
循環して筐体内の温度を制御する、このためテスタの温
風をテスタ設置の室に放出する装置より格段に優れ、テ
スタの温度制御も容易に出来るようになった。
【0003】従来技術によるテスタ用一体型密閉筐体冷
却装置を図3(F)に平面図、(G)に正面図、(H)
に左側面図を示す。図3について説明する。密閉筐体6
0の中に電気部品を実装した基板(以下ボードと呼ぶ)
10をボードラック15に2段重ねに配列して、ユニッ
ト電源20をボードラック15の側面に重ねる、ボード
ラック15とユニット電源20の下段に冷却管50と連
結した熱交換器30、31を設け、冷却管50には温度
制御された冷媒が循環している、空気の流れをつくる複
数の大型フアン40を設けた。ボード10が2段重ねで
あるため、空気の流れを作るには複数の大型のフアンが
必要であった、大型フアン40の影響によって密閉筐体
60の大きさが左右された。密閉筐体(60)の位置の
微調整のため最下段にキャスター(62)を必要数設け
た。筐体は密閉されているため大型フアン40の騒音は
外に漏れない、保守でテスタを開く以外は外気を取り込
まないため塵は進入しない、電気装置の発熱を冷媒の温
度上昇へ変換するため筐体外に温風をださない構成であ
った、ボード10が2段重ねであるため、下段と上段で
は温度差が発生して高密度ボード10には問題があっ
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ボード10を入れるボ
ード・ラック15は構造的に2段重ねとなっているた
め、上段と下段で冷却条件が異るという問題があった。
構造的に下段より上段に向けて冷風を送るので下段のボ
ード10を通過する際空気が温まった、例えば上段と下
段で5℃も温度差が発生した、これではボード10に搭
載の超LSIを始め電気部品の動作特性に悪い影響を及
ぼすので避けねばならなかった。筐体の空気の流路が一
周5メートルもあるため温度差が発生した、温度差をな
くするため大きい大型フアン40が必要となったが、フ
アンの大型化が筐体の大きさに影響を与えるという問題
があった。筐体全体がエアダクトになっているため、密
閉しているにも係わらず空気が漏れやすいという問題が
あった。筐体の構造上ボード10の三方向が冷却された
空気の流路になっているため、電気信号の入出力を接続
する面が一方向に制限されるという問題があった。技術
の進歩によって、高密度化したボード10を多数個内蔵
する密閉筐体でボード10の管理温度を±1℃に制御を
必要とするという問題があった、筐体全体を高密度化し
て小型にしたいという問題があった。
【0005】本発明は、高密度化したボード10を多数
個内蔵しても、ボード10の管理温度を±1℃と容易に
制御するために筐体の空気の流路を短くした、筐体の大
きさがフアンの寸法に左右されることがないようにし
た、従来タイプの一方向のみメンテナンスができなかっ
たが二方向より容易に行えるようにしたテスタ用一体型
筐体密閉冷却装置を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のテスタ用一体型密閉筐体冷却装置において
ボード10の温度制御を容易にするため、従来ボード1
0は上下2段に縦に積んだが、各ボードの冷却条件を同
一にするため水平方向より冷風を送る構成とした、水平
にボード10を積むためボードラック16を用いて、ボ
ード10を水平方向に積んだ、水平方向に冷風を送風で
きるように小型フアン41、42を複数個設け、小型フ
アン41、42によって熱交換器32を通過した冷却空
気は短い流路を通って水平方向に流れる。従来の筐体は
フアンの羽の大きさによって筐体の大きさを左右された
が、小型フアン41、42を設けるためフアンの大きさ
に左右されなくなった、筐体内にエアダクト70を設け
空気が漏れることを防止した。熱交換器32を開閉型と
しバックボード13や電源20をメンテナンスする場
合、扉を開けるように密閉用扉91、92と密着接続し
た熱交換器32を動かしてメンテナンスができるような
構造としたので今まで一方向であった場所が二方向より
メンテナンスができるようになった。
【0007】
【実施例】実施例について図1(A)に平面図、(B)
に正面図、図1(C)に背面図を示す。図1(B)正面
図について説明する。テスター体型密閉筐体冷却装置の
密閉筐体61はボード10を効率良く温度制御し易くす
るため、ボードラック16を設け、ボードラック16に
ボード10を挿入するとボード10は水平に置かれる、
ユニット電源20はボードラック16を挟んで上段と下
段に設ける、ボード10とユニット電源20に水平な風
が当たるように小型フアン41、42を設ける。図1
(A)平面図について説明する。筐体密閉冷却装置の冷
却は熱交換器32と接続した冷却管50を通じて冷却さ
れた冷却媒体が熱交換器32を循環する構成である、小
型フアン41、42が送風を開始すると筐体内に設けた
エアダクト70に沿って送風された風がボード10とユ
ニット電源20を冷却しながら通過して温まった空気は
再び熱交換器32を通過して冷却した風となって筐体内
を循環する、筐体内の温度制御を容易とするため密閉で
きる筐体の構造を取る、冷却した風の循環の流路と熱交
換器32の設置とボード10を制御するバックボード1
3を設置した。図1(C)背面図について説明する。熱
交換器32は密閉用扉91、92に密着接続して密閉筐
体61に丁番80を設けて密閉用扉91、92が簡単に
開閉できる構造にした、密閉用扉91、92に取手9
3、94を設けた、テスタの位置微調整のため装置の最
下段にキャスター62を必要数設けた。
【0008】変形一実施例として、図2(D)に平面図
を示す。上記密閉筐体冷却装置において、左右対象の吸
引型フアン43、44を風が一方向に吸引されるように
設け、ボードラック16とユニット電源20を包み込む
ような吸引カバー71、72を設けた。
【0009】変形一実施例として、図2(E)に平面図
を示す。テスタと一体の密閉筐体冷却装置に、ユニット
電源20をボードラック(16)と平行に設置した。
【0010】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。従
来技術においては、複数のボード10を入れるボード・
ラック15は構造的に2段重ねであるため、上段と下段
で冷却条件が異るという問題があった。構造的に下段よ
り上段に向けて冷風を送るので下段のボード10を通過
する際空気が温まった、例えば上段と下段で5℃も温度
差が発生した、これではボード10に搭載の超LSIを
始め電気部品の動作特性に悪い影響を及ぼすので避けね
ばならなかった、近い将来複数ボード10の電気部品の
搭載密度は益々濃くなってくる、搭載密度に比例して放
熱量が多くなる、この複数ボード10のそれぞれの温度
に対する温度勾配が問題となった。高密度化したボード
10を多数個内蔵する密閉型でボード10の温度勾配の
管理温度を±1℃に制御を必要とするという問題があっ
た。本発明においては、複数のボード10の温度勾配を
極力無くするために、複数のボード10を水平に置く、
複数のボード10の風通しが最も最適な位置にくるよう
構成されたボード・ラック16を設けたので、高密度化
したボード10を多数個内蔵しても、ボード10の管理
温度を±1℃と容易に制御できるようになった。
【0011】従来技術では筐体内の空気の流路が一周5
メートルもあるため温度差が発生しした、温度差をなく
するため大きい大型フアン40が必要となったが、この
フアンの大型化が筐体の大きさに影響を与えるという問
題があった。筐体内を大型フアン40でかき回すため密
閉筐体であるにも係わらず空気が漏れやすいという問題
があった。筐密閉体の構造上ボード10の三方向が冷却
された空気の流路になっているため、電気信号の入出力
を接続する面が一方向に制限されるためメンテナンスが
難しいという問題があった。本発明は、筐体の空気の流
路を短くするため、ボード・ラック16の上段、下段に
ユニット電源20を装着して、これを挟むように複数の
小型フアン41、42を設け、冷却された風が水平に複
数のボード10とユニット電源20に当たるような構造
にした。密閉筐体61にエアダクトを設け冷却された風
が水平に循環し易い構造として、さらに気密性を高め
た。筐体内の空気の流路を短くしたので小型フアン4
1、42で充分機能するため、大型フアン40を必要と
しない構成となったので筐体が羽の大きさに左右される
ことが無くなった、小型フアン41、42は筐体の小型
化に寄与した。従来技術では熱交換器30、31を2個
必要としたが本発明では熱交換器32が1個でよいので
筐体の小型化に寄与した。密閉筐体61のメンテナンス
を容易にするため、従来行っていた方向とは別な方向で
もメンテナンスが出来るように熱交換器32と密着接続
を行った密閉用扉91、92を設け、メンテナンスのと
き熱交換器32と共に密閉用扉91、92が開閉できる
ようになった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の平面図、正面図、背面図であ
る。
【図2】本発明の変形実施例の平面図である。
【図3】従来技術の実施例の平面図、正面図、側面図で
ある。
【符号の説明】
10 ボード(電気部品搭載基板) 15、16 ボードラック 20 ユニット電源 30、31、32 熱交換器 40 大型フアン 41、42 小型フアン 43、44 吸引型フアン 50 冷却管 60、61 密閉筐体 62 キャスター 70 エアダクト 73、74 吸引カバー 80 丁番 91、92 密閉用扉 93、94 取手

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 密閉筐体(61)を設け、複数のボード
    (10)を水平に装着できるボードラック(16)を設
    け、 ボードラック(16)の上段と下段にユニット電源(2
    0)を設け、 複数のボード(10)を制御するバックボード(13)
    を垂直に設け、 ボードラック(16)と上下に設けたユニット電源(2
    0)を挟むように複数の小型フアン(41、42)を設
    け、 冷却管(50)と熱交換器(32)は接続し冷媒が循環
    するように設け、 密閉筐体(61)の扉の役目をする密閉用扉(91、9
    2)を熱交換機(32)と密着接続して設け、 以上の構成を具備することを特徴とする半導体IC試験
    装置用一体型密閉筐体冷却装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の構成手段に加えて、 吸引カバー(73、74)と一体となった吸引型フアン
    (43、44)を設け、 以上を具備することを特徴とした半導体IC試験装置用
    一体型密閉筐体冷却装置。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の構成手段に加えて、 ユニット電源(20)をボードラック(16)と水平に
    2列に設け、 以上を具備することを特徴とした半導体IC試験装置用
    一体型密閉筐体冷却装置。
JP6314191A 1994-11-24 1994-11-24 半導体ic試験装置用一体型密閉筐体冷却装置 Pending JPH08146097A (ja)

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JP6314191A JPH08146097A (ja) 1994-11-24 1994-11-24 半導体ic試験装置用一体型密閉筐体冷却装置
KR1019950043508A KR100212600B1 (ko) 1994-11-24 1995-11-24 반도체 ic 시험 장치용 일체형 밀폐 케이스 냉각 장치
US08/929,851 US5978218A (en) 1994-11-24 1997-09-15 Cooling system for IC tester

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JP6314191A JPH08146097A (ja) 1994-11-24 1994-11-24 半導体ic試験装置用一体型密閉筐体冷却装置

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JPH08146097A true JPH08146097A (ja) 1996-06-07

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ID=18050365

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990042528A (ko) * 1997-11-27 1999-06-15 윤종용 반도체 패키지 테스트장치
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JP2009266914A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Nitto Electric Works Ltd 電気電子機器収納用キャビネットの冷却構造
JP2011059948A (ja) * 2009-09-09 2011-03-24 Chuo Electronics Co Ltd 電子機器および熱交換機が収納された収納ラック

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Effective date: 20040406