JPH08145912A - エッジをもつ透明体の欠陥検査方法 - Google Patents
エッジをもつ透明体の欠陥検査方法Info
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- JPH08145912A JPH08145912A JP6281613A JP28161394A JPH08145912A JP H08145912 A JPH08145912 A JP H08145912A JP 6281613 A JP6281613 A JP 6281613A JP 28161394 A JP28161394 A JP 28161394A JP H08145912 A JPH08145912 A JP H08145912A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 比較的簡単な手段で不要部分の除去を可能と
したエッジをもつ透明体の欠陥検査方法を提供するこ
と。 【構成】 被検査物１の一方から光７を照射し、他方か
らＣＣＤカメラ８で撮影したビデオ信号を波形処理イン
ターフェースに送り、このビデオ信号の最初の立ち下が
り部を認識すると、エッジ厚さに応じて設定されたビデ
オクロックパルスの数だけサンプルホールド電圧を加え
てエッジ厚さ相当部を除去処理し、処理されたビデオ信
号を画像処理装置へ送り、画像処理装置でビデオ信号を
画像化し、二次元画像に変換し、この二次元画像から欠
陥部分を検出してディスプレイさせた。
したエッジをもつ透明体の欠陥検査方法を提供するこ
と。 【構成】 被検査物１の一方から光７を照射し、他方か
らＣＣＤカメラ８で撮影したビデオ信号を波形処理イン
ターフェースに送り、このビデオ信号の最初の立ち下が
り部を認識すると、エッジ厚さに応じて設定されたビデ
オクロックパルスの数だけサンプルホールド電圧を加え
てエッジ厚さ相当部を除去処理し、処理されたビデオ信
号を画像処理装置へ送り、画像処理装置でビデオ信号を
画像化し、二次元画像に変換し、この二次元画像から欠
陥部分を検出してディスプレイさせた。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ブラウン管パネルのよ
うなエッジをもつ透明体の欠陥検査方法に関するもので
ある。
うなエッジをもつ透明体の欠陥検査方法に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】ブラウン管パネルは、溶融ガラスゴブを
成型金型によって所定形状にプレス成型して製造されて
いる。製造されたブラウン管パネルは、泡などのガラス
欠陥の有無や内面曲率などの検査が行なわれる。従来、
ブラウン管パネルのガラス欠陥検査は、裏面（下面）よ
り光を照射し、その透過光を表面側から観察して行なわ
れていた。泡などのガラス欠陥が存在すると、その箇所
で光が乱反射し、他の正常な部分と透過光量差ができ、
区別できることを利用して行なっている。
成型金型によって所定形状にプレス成型して製造されて
いる。製造されたブラウン管パネルは、泡などのガラス
欠陥の有無や内面曲率などの検査が行なわれる。従来、
ブラウン管パネルのガラス欠陥検査は、裏面（下面）よ
り光を照射し、その透過光を表面側から観察して行なわ
れていた。泡などのガラス欠陥が存在すると、その箇所
で光が乱反射し、他の正常な部分と透過光量差ができ、
区別できることを利用して行なっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記検査方法におい
て、ブラウン管パネルは、周囲にファンネルと接合する
ためのシールエッジが裏面側に延長して形成されてい
る。そのため、ブラウン管パネルの周囲は、シールエッ
ジの肉厚相当分だけ他の部分に比較して前記透過光量が
少なくなり、暗部となっている。このシールエッジの肉
厚相当分は、ブラウン管パネルの有効面とならないた
め、ガラス欠陥検査の対象にはならないのであるが、上
記検査を画像処理で自動化する場合、上記シールエッジ
の肉厚相当分を除外する必要がある。
て、ブラウン管パネルは、周囲にファンネルと接合する
ためのシールエッジが裏面側に延長して形成されてい
る。そのため、ブラウン管パネルの周囲は、シールエッ
ジの肉厚相当分だけ他の部分に比較して前記透過光量が
少なくなり、暗部となっている。このシールエッジの肉
厚相当分は、ブラウン管パネルの有効面とならないた
め、ガラス欠陥検査の対象にはならないのであるが、上
記検査を画像処理で自動化する場合、上記シールエッジ
の肉厚相当分を除外する必要がある。
【０００４】従来の画像処理技術における不要部分の除
去は、ソフトウェアでウインドウ処理、マスク処理と呼
ばれる方法で行なうのが一般的である。しかし、これら
の方法は、いずれも撮像カメラで撮像した画像信号を二
次元画像に変換した状態で必要部分を枠で囲む（ウイン
ドウ処理）とか、不要部分にマスクを掛ける（マスク処
理）などの方法でソフトウェア上で処理するものである
ため、これらの範囲を自動的に判断し、実行させるプロ
グラムを組み込む必要があり、メモリー容量上の制約や
プログラム作成時の処理手順の複雑さは解消し難いもの
があった。しかも、これら従来の方法は、不要部分と必
要部分との境界線が直線などの単純なものに限られ、湾
曲している場合や波形その他の複雑な曲線の場合には適
用できなかった。
去は、ソフトウェアでウインドウ処理、マスク処理と呼
ばれる方法で行なうのが一般的である。しかし、これら
の方法は、いずれも撮像カメラで撮像した画像信号を二
次元画像に変換した状態で必要部分を枠で囲む（ウイン
ドウ処理）とか、不要部分にマスクを掛ける（マスク処
理）などの方法でソフトウェア上で処理するものである
ため、これらの範囲を自動的に判断し、実行させるプロ
グラムを組み込む必要があり、メモリー容量上の制約や
プログラム作成時の処理手順の複雑さは解消し難いもの
があった。しかも、これら従来の方法は、不要部分と必
要部分との境界線が直線などの単純なものに限られ、湾
曲している場合や波形その他の複雑な曲線の場合には適
用できなかった。
【０００５】本発明の目的は、従来技術の上記問題点を
解消し、比較的簡単な手段で不要部分の除去を可能とし
たエッジをもつ透明体の欠陥検査方法を提供することに
ある。
解消し、比較的簡単な手段で不要部分の除去を可能とし
たエッジをもつ透明体の欠陥検査方法を提供することに
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、周囲にエッジをもつ被検査物の一方から
光を照射し、他方からＣＣＤカメラで撮影したビデオ信
号を波形処理インターフェースに送り、このインターフ
ェースで被検査物の幅方向に等分割されたライン状の画
素信号を被検査物の幅方向の一端からビデオクロックで
順次走査させてピックアップしてビデオ信号を得て、こ
のビデオ信号の最初の立ち下がり部を認識すると、エッ
ジ厚さに応じて設定されたビデオクロックパルスの数だ
け立ち下がり前の電圧と同一電圧とするサンプルホール
ド電圧を加えてエッジ厚さ相当部を除去処理し、処理さ
れたビデオ信号を画像処理装置へ送り、画像処理装置で
ビデオ信号を画像化し、二次元画像に変換し、この二次
元画像から欠陥部分を検出し、以上の工程を被検査物と
光源及びＣＣＤカメラとを被検査物の幅方向と直交する
方向に相対的に移動させて被検査物の全体を検査するよ
うにしたものである。
め、本発明は、周囲にエッジをもつ被検査物の一方から
光を照射し、他方からＣＣＤカメラで撮影したビデオ信
号を波形処理インターフェースに送り、このインターフ
ェースで被検査物の幅方向に等分割されたライン状の画
素信号を被検査物の幅方向の一端からビデオクロックで
順次走査させてピックアップしてビデオ信号を得て、こ
のビデオ信号の最初の立ち下がり部を認識すると、エッ
ジ厚さに応じて設定されたビデオクロックパルスの数だ
け立ち下がり前の電圧と同一電圧とするサンプルホール
ド電圧を加えてエッジ厚さ相当部を除去処理し、処理さ
れたビデオ信号を画像処理装置へ送り、画像処理装置で
ビデオ信号を画像化し、二次元画像に変換し、この二次
元画像から欠陥部分を検出し、以上の工程を被検査物と
光源及びＣＣＤカメラとを被検査物の幅方向と直交する
方向に相対的に移動させて被検査物の全体を検査するよ
うにしたものである。
【０００７】
【作用】本発明によれば、予め、被検査物のエッジ厚さ
に相当するビデオクロックパルスの数を設定しておくだ
けでよく、あとは波形処理インターフェース内でビデオ
信号の最初の立ち下がり部を認識すると、エッジ厚さに
応じて設定されたビデオクロックパルスの数だけ立ち下
がり前の電圧と同一電圧とするサンプルホールド電圧を
加えてエッジ厚さ相当部を除去処理させることができ、
どのような形状の被検査物にも同様に適用することがで
きる。
に相当するビデオクロックパルスの数を設定しておくだ
けでよく、あとは波形処理インターフェース内でビデオ
信号の最初の立ち下がり部を認識すると、エッジ厚さに
応じて設定されたビデオクロックパルスの数だけ立ち下
がり前の電圧と同一電圧とするサンプルホールド電圧を
加えてエッジ厚さ相当部を除去処理させることができ、
どのような形状の被検査物にも同様に適用することがで
きる。
【０００８】
【実施例】図１は本発明のシステム概要図であって、被
検査物１は、前工程装置２からローラーコンベア３で本
発明の検査工程４へ搬送されてくる。被検査物１はロー
ラーコンベア３上で幅寄せ手段５により幅寄せされ、か
つ、センタリング手段６によってセンタリングされた上
で本発明の検査工程４へ送られてくる。本発明の検査工
程４には、被検査物１の一方から照明する光源７と、こ
の光源７に対して被検査物１を他方から撮影するＣＣＤ
カメラ８が設置されている。このＣＣＤカメラ８は、カ
メラコントローラー９に接続され、このカメラコントロ
ーラー９は、画像処理装置１０に接続されている。そし
て、画像処理装置１０は、パーソナルコンピューター１
１と、画像モニター１２とに接続されている。
検査物１は、前工程装置２からローラーコンベア３で本
発明の検査工程４へ搬送されてくる。被検査物１はロー
ラーコンベア３上で幅寄せ手段５により幅寄せされ、か
つ、センタリング手段６によってセンタリングされた上
で本発明の検査工程４へ送られてくる。本発明の検査工
程４には、被検査物１の一方から照明する光源７と、こ
の光源７に対して被検査物１を他方から撮影するＣＣＤ
カメラ８が設置されている。このＣＣＤカメラ８は、カ
メラコントローラー９に接続され、このカメラコントロ
ーラー９は、画像処理装置１０に接続されている。そし
て、画像処理装置１０は、パーソナルコンピューター１
１と、画像モニター１２とに接続されている。
【０００９】図２は本発明の検査工程図であって、ＣＣ
Ｄカメラ８で撮影したビデオ信号は、波形処理インター
フェースに送られ、ここで波形のエッジ処理が行なわれ
る。このエッジ処理は、図３の（Ａ）に示すように、周
囲にエッジ１ａをもつ被検査物１のＰ−Ｐの位置におけ
るＣＣＤカメラ８のビデオ信号は、図３の（Ｂ）に示す
ような波形である。同図は、縦軸に電圧を取り、横軸に
被検査物１の幅方向を取って表しており、ａの部分は、
被検査物１のエッジ部分を表し、ｂの部分は被検査物１
の欠陥部分を表している。このように、何もしなけれ
ば、エッジ部分ａと欠陥部分ｂとはビデオ信号波形上で
は、暗部として電圧が低下した状態にある。そこで、本
発明は、このエッジ部分ａを除去処理するものであっ
て、具体的には、図３の（Ｃ）に示すように、被検査物
１のエッジ１ａの外側の部分のＣＣＤカメラ８によるビ
デオ信号の波形電圧ｃを予めサンプリングしてホールド
させておき、このＣＣＤカメラ８のビデオ信号波形の電
圧の最初の立ち下がり部を認識すると、上記サンプリン
グした電圧を、エッジ１ａの厚さ相当分のビデオクロッ
クパルス数だけ加算させるものである。エッジ１ａの厚
さは、被検査物１のエッジの厚さを実測して、その値を
例えばｍｍ単位でパーソナルコンピューター１１のキー
操作により予め入力しておき、これをＣＣＤカメラ８の
ビデオクロックパルスに換算させて設定しておくように
するもので、これにより、ＣＣＤカメラ８に接続された
波形処理インターフェース内のハードウェアで、ＣＣＤ
カメラ８のビデオ信号波形の最初の立ち下がり部を認識
したとき、上記エッジ１ａの厚さ相当分だけ、上記サン
プルホールド電圧をビデオ信号波形電圧に加算させるも
のである。これにより、図３の（Ｃ）に示すように、エ
ッジが除去されたビデオ波形電圧が得られ、欠陥があれ
ば、これを検出させることが可能となる。即ち、図２に
示すように、波形処理インターフェースで上記エッジ処
理を行なわせた後のビデオ信号を画像処理装置１０に送
り、ここで画像化させて二次元画像に変換させ、この二
次元画像から欠陥部分を検出させる。また、必要に応じ
て、欠陥部分の面積、フィレ径を計算させ、その結果を
画像モニター１２にディスプレイさせる。そして、被検
査物１に欠陥がある場合には、図１に示すように、不良
マーキング手段１３で被検査物１に不良マーキングを自
動的に付すものである。
Ｄカメラ８で撮影したビデオ信号は、波形処理インター
フェースに送られ、ここで波形のエッジ処理が行なわれ
る。このエッジ処理は、図３の（Ａ）に示すように、周
囲にエッジ１ａをもつ被検査物１のＰ−Ｐの位置におけ
るＣＣＤカメラ８のビデオ信号は、図３の（Ｂ）に示す
ような波形である。同図は、縦軸に電圧を取り、横軸に
被検査物１の幅方向を取って表しており、ａの部分は、
被検査物１のエッジ部分を表し、ｂの部分は被検査物１
の欠陥部分を表している。このように、何もしなけれ
ば、エッジ部分ａと欠陥部分ｂとはビデオ信号波形上で
は、暗部として電圧が低下した状態にある。そこで、本
発明は、このエッジ部分ａを除去処理するものであっ
て、具体的には、図３の（Ｃ）に示すように、被検査物
１のエッジ１ａの外側の部分のＣＣＤカメラ８によるビ
デオ信号の波形電圧ｃを予めサンプリングしてホールド
させておき、このＣＣＤカメラ８のビデオ信号波形の電
圧の最初の立ち下がり部を認識すると、上記サンプリン
グした電圧を、エッジ１ａの厚さ相当分のビデオクロッ
クパルス数だけ加算させるものである。エッジ１ａの厚
さは、被検査物１のエッジの厚さを実測して、その値を
例えばｍｍ単位でパーソナルコンピューター１１のキー
操作により予め入力しておき、これをＣＣＤカメラ８の
ビデオクロックパルスに換算させて設定しておくように
するもので、これにより、ＣＣＤカメラ８に接続された
波形処理インターフェース内のハードウェアで、ＣＣＤ
カメラ８のビデオ信号波形の最初の立ち下がり部を認識
したとき、上記エッジ１ａの厚さ相当分だけ、上記サン
プルホールド電圧をビデオ信号波形電圧に加算させるも
のである。これにより、図３の（Ｃ）に示すように、エ
ッジが除去されたビデオ波形電圧が得られ、欠陥があれ
ば、これを検出させることが可能となる。即ち、図２に
示すように、波形処理インターフェースで上記エッジ処
理を行なわせた後のビデオ信号を画像処理装置１０に送
り、ここで画像化させて二次元画像に変換させ、この二
次元画像から欠陥部分を検出させる。また、必要に応じ
て、欠陥部分の面積、フィレ径を計算させ、その結果を
画像モニター１２にディスプレイさせる。そして、被検
査物１に欠陥がある場合には、図１に示すように、不良
マーキング手段１３で被検査物１に不良マーキングを自
動的に付すものである。
【００１０】上記ＣＣＤカメラ８は、２台使用し、被検
査物１を幅方向に半分ずつ分担して撮影させてそれぞれ
エッジ１ａのある側からビデオ信号を走査させ、前記の
ようなエッジ処理を行なわせるものである。図１は、光
源７とＣＣＤカメラ８とを定位置に固定し、被検査物１
をローラーコンベア３により移動させて、被検査物１の
全体を検査させているが、逆でもよい。なお、図１の場
合は、ローラーコンベア３のローラーとローラーとの間
からＣＣＤカメラ８で被検査物１を幅方向にライン状に
撮影させているものである。
査物１を幅方向に半分ずつ分担して撮影させてそれぞれ
エッジ１ａのある側からビデオ信号を走査させ、前記の
ようなエッジ処理を行なわせるものである。図１は、光
源７とＣＣＤカメラ８とを定位置に固定し、被検査物１
をローラーコンベア３により移動させて、被検査物１の
全体を検査させているが、逆でもよい。なお、図１の場
合は、ローラーコンベア３のローラーとローラーとの間
からＣＣＤカメラ８で被検査物１を幅方向にライン状に
撮影させているものである。
【００１１】上記した本発明によれば、図４に示すよう
なエッジ１ａの輪郭が曲線状になっている場合であって
も、上記した要領でエッジの除去処理を自動的に行なわ
せて欠陥検査をすることができる。以上の実施例は、ブ
ラウン管のパネルに適用した場合を例示しているが、同
様なエッジをもつ他の被検査物に適用することができる
ことは勿論である。
なエッジ１ａの輪郭が曲線状になっている場合であって
も、上記した要領でエッジの除去処理を自動的に行なわ
せて欠陥検査をすることができる。以上の実施例は、ブ
ラウン管のパネルに適用した場合を例示しているが、同
様なエッジをもつ他の被検査物に適用することができる
ことは勿論である。
【００１２】
【発明の効果】本発明によれば、面倒な操作や複雑なプ
ログラムを必要とせず、比較的簡単な手段でエッジ部の
形状に追従した形で検査範囲を設定することができ、有
効検査面を大幅に拡大でき、しかも、ＣＣＤカメラのビ
デオ信号を直接的にハードウェアで処理しリアルタイム
にエッジ部のみをビデオ信号から除去することで、コン
ピューターでの画像処理がスムーズに行なえることか
ら、大幅に処理スピードを向上することができる。
ログラムを必要とせず、比較的簡単な手段でエッジ部の
形状に追従した形で検査範囲を設定することができ、有
効検査面を大幅に拡大でき、しかも、ＣＣＤカメラのビ
デオ信号を直接的にハードウェアで処理しリアルタイム
にエッジ部のみをビデオ信号から除去することで、コン
ピューターでの画像処理がスムーズに行なえることか
ら、大幅に処理スピードを向上することができる。
【図１】本発明のシステム概要図。
【図２】本発明の検査工程図。
【図３】本発明に係るエッジ処理の原理説明図。
【図４】本発明により有利に検査できる被検査物の形状
の一例を示す平面図。
の一例を示す平面図。
１ 被検査物 ３ ローラーコンベア ７ 光源 ８ ＣＣＤカメラ ９ カメラコントローラー １０ 画像処理装置 １ａ エッジ ａ ビデオ信号波形中のエッジ部 ｂ ビデオ信号波形中の欠陥部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｎ 7/18 Ｂ
Claims (1)
- 【請求項１】 周囲にエッジをもつ被検査物の一方から
光を照射し、他方からＣＣＤカメラで撮影したビデオ信
号を波形処理インターフェースに送り、このインターフ
ェースで被検査物の幅方向に等分割されたライン状の画
素信号を被検査物の幅方向の一端からビデオクロックで
順次走査させてピックアップしてビデオ信号を得て、こ
のビデオ信号の最初の立ち下がり部を認識すると、エッ
ジ厚さに応じて設定されたビデオクロックパルスの数だ
け立ち下がり前の電圧と同一電圧とするサンプルホール
ド電圧を加えてエッジ厚さ相当部を除去処理し、処理さ
れたビデオ信号を画像処理装置へ送り、画像処理装置で
ビデオ信号を画像化し、二次元画像に変換し、この二次
元画像から欠陥部分を検出し、以上の工程を被検査物と
光源及びＣＣＤカメラとを被検査物の幅方向と直交する
方向に相対的に移動させて被検査物の全体を検査するこ
とを特徴とするエッジをもつ透明体の欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28161394A JP3362981B2 (ja) | 1994-11-16 | 1994-11-16 | エッジをもつ透明体の欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28161394A JP3362981B2 (ja) | 1994-11-16 | 1994-11-16 | エッジをもつ透明体の欠陥検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08145912A true JPH08145912A (ja) | 1996-06-07 |
| JP3362981B2 JP3362981B2 (ja) | 2003-01-07 |
Family
ID=17641581
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28161394A Expired - Fee Related JP3362981B2 (ja) | 1994-11-16 | 1994-11-16 | エッジをもつ透明体の欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3362981B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100596048B1 (ko) * | 2002-07-08 | 2006-07-03 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판의 에지 검사시스템 |
-
1994
- 1994-11-16 JP JP28161394A patent/JP3362981B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100596048B1 (ko) * | 2002-07-08 | 2006-07-03 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판의 에지 검사시스템 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3362981B2 (ja) | 2003-01-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020927 |
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