JPH08131431A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH08131431A JPH08131431A JP6298089A JP29808994A JPH08131431A JP H08131431 A JPH08131431 A JP H08131431A JP 6298089 A JP6298089 A JP 6298089A JP 29808994 A JP29808994 A JP 29808994A JP H08131431 A JPH08131431 A JP H08131431A
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- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 3
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
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- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】散乱Ｘ線専用計測を行わずに、被検体の透過Ｘ
線の検出データに相当するデータを得て、高画質の断層
画像を得る。 【構成】Ｘ線ＣＴ装置のデータ処理部４は、複数のＸ線
ＣＴ装置についての同一の計測条件のもとで、同一の材
質，形状のファントムを被検体とした検出データの平均
値データの記憶手段１１と散乱線のみの検出データの平
均値の記憶手段１２と、固有のＸ線ＣＴ装置についての
同一の計測条件のもとで同一の材質，形状のファントム
を被検体とした計測値の記憶手段１３と散乱Ｘ線のみの
検出データ値が記憶手段１１〜１３の記憶データから計
算される計算手段１４とその記憶手段１５と、記憶手段
１３の記憶データから記憶手段１５に記憶されたデータ
を引く計算手段１６と、この手段１６によって求まる固
有のＸ線ＣＴ装置の被検体の透過Ｘ線のみの検出データ
によって断層画像を構成する手段１７を備える。
線の検出データに相当するデータを得て、高画質の断層
画像を得る。 【構成】Ｘ線ＣＴ装置のデータ処理部４は、複数のＸ線
ＣＴ装置についての同一の計測条件のもとで、同一の材
質，形状のファントムを被検体とした検出データの平均
値データの記憶手段１１と散乱線のみの検出データの平
均値の記憶手段１２と、固有のＸ線ＣＴ装置についての
同一の計測条件のもとで同一の材質，形状のファントム
を被検体とした計測値の記憶手段１３と散乱Ｘ線のみの
検出データ値が記憶手段１１〜１３の記憶データから計
算される計算手段１４とその記憶手段１５と、記憶手段
１３の記憶データから記憶手段１５に記憶されたデータ
を引く計算手段１６と、この手段１６によって求まる固
有のＸ線ＣＴ装置の被検体の透過Ｘ線のみの検出データ
によって断層画像を構成する手段１７を備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、断層画像に悪影響を与
える散乱Ｘ線を除去する手段を備えるＸ線ＣＴ装置に係
り、散乱Ｘ線のみの検出データを計測によらないで計算
によって求める手段を備えるＸ線ＣＴ装置に関するもの
である。
える散乱Ｘ線を除去する手段を備えるＸ線ＣＴ装置に係
り、散乱Ｘ線のみの検出データを計測によらないで計算
によって求める手段を備えるＸ線ＣＴ装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来のＸ線ＣＴ装置では、断層画像の画
質に偽画像などの悪影響を与える要因の一つとして、被
検体やＸ線源のＸ線通路にあるＸ線ＣＴ装置の構成要素
にＸ線が衝突するために生じるレイリー散乱やコンプト
ン散乱等の散乱Ｘ線が、Ｘ線検出器に到達してしまい、
これらの散乱Ｘ線が本来得たい被検体の透過Ｘ線のみの
検出データに混入することがある。この散乱Ｘ線の影響
を取り除く一手法として、図４に示すように、Ｘ線検出
器３が、本来被検体２の透過Ｘ線４１を受ける位置３ａ
で、前記透過Ｘ線４１および散乱Ｘ線４２の検出データ
を得る（以下、通常計測モードという）。次にＸ線検出
器を位置３ａから、スライス厚さ方向に位置３ｂまで移
動して、散乱Ｘ線１２のみの検出データを得る（以下、
散乱線計測モードという）。これは、Ｘ線検出器３の位
置３ａ，３ｂと、Ｘ線源１を通る球の空間の散乱Ｘ線の
起こる確率分布は同じであると考えることができるから
である。そして、通常計測モードの検出データから、散
乱線計測モードの検出データの差をとった被検体の透過
Ｘ線の検出器データによって、断層画像を構成してい
た。
質に偽画像などの悪影響を与える要因の一つとして、被
検体やＸ線源のＸ線通路にあるＸ線ＣＴ装置の構成要素
にＸ線が衝突するために生じるレイリー散乱やコンプト
ン散乱等の散乱Ｘ線が、Ｘ線検出器に到達してしまい、
これらの散乱Ｘ線が本来得たい被検体の透過Ｘ線のみの
検出データに混入することがある。この散乱Ｘ線の影響
を取り除く一手法として、図４に示すように、Ｘ線検出
器３が、本来被検体２の透過Ｘ線４１を受ける位置３ａ
で、前記透過Ｘ線４１および散乱Ｘ線４２の検出データ
を得る（以下、通常計測モードという）。次にＸ線検出
器を位置３ａから、スライス厚さ方向に位置３ｂまで移
動して、散乱Ｘ線１２のみの検出データを得る（以下、
散乱線計測モードという）。これは、Ｘ線検出器３の位
置３ａ，３ｂと、Ｘ線源１を通る球の空間の散乱Ｘ線の
起こる確率分布は同じであると考えることができるから
である。そして、通常計測モードの検出データから、散
乱線計測モードの検出データの差をとった被検体の透過
Ｘ線の検出器データによって、断層画像を構成してい
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、散乱
線計測モードによる計測が、それぞれのＸ線ＣＴ装置の
据付け時やＸ線源の構成要素で消耗品であるＸ線管の交
換時に必要であるため、煩わしいという問題がある。
線計測モードによる計測が、それぞれのＸ線ＣＴ装置の
据付け時やＸ線源の構成要素で消耗品であるＸ線管の交
換時に必要であるため、煩わしいという問題がある。
【０００４】また、本願の発明者は、散乱線計測モード
による実際の計測で得た検出データと上記のように計算
で求めた散乱Ｘ線のみのデータを相当数調査した結果、
統計的計算が、複数のＸ線ＣＴ装置の通常計測モードお
よび散乱線計測モードの検出データのそれぞれの相加平
均値であり、これらの平均値の比が、固有のＸ線ＣＴ装
置の通常計測モードおよび散乱線計測モードの検出デー
タの比と等しいことを検証した。
による実際の計測で得た検出データと上記のように計算
で求めた散乱Ｘ線のみのデータを相当数調査した結果、
統計的計算が、複数のＸ線ＣＴ装置の通常計測モードお
よび散乱線計測モードの検出データのそれぞれの相加平
均値であり、これらの平均値の比が、固有のＸ線ＣＴ装
置の通常計測モードおよび散乱線計測モードの検出デー
タの比と等しいことを検証した。
【０００５】本発明の目的は、散乱線計測モードを行わ
ずに、通常計測モードで計測するだけで被検体の透過Ｘ
線の検出データに相当するデータを得て、高画質の断層
画像を得ることのできるＸ線ＣＴ装置を提供することで
ある。
ずに、通常計測モードで計測するだけで被検体の透過Ｘ
線の検出データに相当するデータを得て、高画質の断層
画像を得ることのできるＸ線ＣＴ装置を提供することで
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的は、Ｘ線源と、
前記Ｘ線源に被検体をはさんで対向して配置されたＸ線
検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器を前記被検体の
周りを相対して移動したときの前記Ｘ線検出器の検出デ
ータを計測して、これら計測された検出データをもとに
前記被検体の断層画像を構成するデータ処理部を備える
Ｘ線ＣＴ装置において、前記データ処理部は、複数のＸ
線ＣＴ装置について各々同一の計測条件のもとで同一の
材質，形状のファントムを被検体とした被検体の透過Ｘ
線と被検体や前記Ｘ線源のＸ線通路にあるＸ線ＣＴ装置
の構成要素による散乱Ｘ線とを含む検出データを統計的
に計算したデータを記憶する第一の記憶手段と、前記複
数のＸ線ＣＴ装置について前記同一の計測条件のもとで
前記同一の材質，形状のファントムを被検体とした前記
散乱Ｘ線のみの検出データを前記第一の記憶手段と同様
な計算で統計的に計算したデータを記憶する第二の記憶
手段と、固有のＸ線ＣＴ装置について前記被検体の透過
Ｘ線と前記散乱Ｘ線とを含む検出データを記憶する第三
の記憶手段と、前記固有のＸ線ＣＴ装置についての前記
散乱Ｘ線のみの検出データが、第一乃至第三の記憶手段
に記憶されるデータから計算される第一の計算手段と、
前記固有のＸ線ＣＴ装置について前記被検体のみの検出
データを、前記第三の記憶手段に記憶されるデータと前
記第一の計算手段で計算したデータとから計算する第二
の計算手段を備えることで達成される。
前記Ｘ線源に被検体をはさんで対向して配置されたＸ線
検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器を前記被検体の
周りを相対して移動したときの前記Ｘ線検出器の検出デ
ータを計測して、これら計測された検出データをもとに
前記被検体の断層画像を構成するデータ処理部を備える
Ｘ線ＣＴ装置において、前記データ処理部は、複数のＸ
線ＣＴ装置について各々同一の計測条件のもとで同一の
材質，形状のファントムを被検体とした被検体の透過Ｘ
線と被検体や前記Ｘ線源のＸ線通路にあるＸ線ＣＴ装置
の構成要素による散乱Ｘ線とを含む検出データを統計的
に計算したデータを記憶する第一の記憶手段と、前記複
数のＸ線ＣＴ装置について前記同一の計測条件のもとで
前記同一の材質，形状のファントムを被検体とした前記
散乱Ｘ線のみの検出データを前記第一の記憶手段と同様
な計算で統計的に計算したデータを記憶する第二の記憶
手段と、固有のＸ線ＣＴ装置について前記被検体の透過
Ｘ線と前記散乱Ｘ線とを含む検出データを記憶する第三
の記憶手段と、前記固有のＸ線ＣＴ装置についての前記
散乱Ｘ線のみの検出データが、第一乃至第三の記憶手段
に記憶されるデータから計算される第一の計算手段と、
前記固有のＸ線ＣＴ装置について前記被検体のみの検出
データを、前記第三の記憶手段に記憶されるデータと前
記第一の計算手段で計算したデータとから計算する第二
の計算手段を備えることで達成される。
【０００７】
【作用】上記手段は、第一の記憶手段に記憶された通常
計測モードの検出データおよび第二の記憶手段に記憶さ
れた散乱線計測モードの検出データの統計的データと、
第三の記憶手段に記憶された固有の通常計測モードの検
出データと、第一乃至第三の記憶手段に記憶された各デ
ータを用いて固有の散乱Ｘ線のみの検出データを計算す
る第一の計算手段により、固有の散乱Ｘ線のみの検出デ
ータを計算して、第三の記憶手段に記憶された固有の通
常計測モードの検出データから、前記第一の計算手段に
計算された固有の散乱Ｘ線のみの検出データと第二の計
算手段により差をとり、被検体の透過Ｘ線のみの検出デ
ータとして、透過Ｘ線のみの検出データから、高画質な
断層画像を得ることができる。
計測モードの検出データおよび第二の記憶手段に記憶さ
れた散乱線計測モードの検出データの統計的データと、
第三の記憶手段に記憶された固有の通常計測モードの検
出データと、第一乃至第三の記憶手段に記憶された各デ
ータを用いて固有の散乱Ｘ線のみの検出データを計算す
る第一の計算手段により、固有の散乱Ｘ線のみの検出デ
ータを計算して、第三の記憶手段に記憶された固有の通
常計測モードの検出データから、前記第一の計算手段に
計算された固有の散乱Ｘ線のみの検出データと第二の計
算手段により差をとり、被検体の透過Ｘ線のみの検出デ
ータとして、透過Ｘ線のみの検出データから、高画質な
断層画像を得ることができる。
【０００８】
【実施例】本発明のＸ線ＣＴ装置について、一実施例を
図面を用いて説明する。図１は本発明のＸ線ＣＴ装置の
概要を示すブロック図、図２は図１のデータ処理部の構
成を示すブロック図、図３は本発明のＸ線ＣＴ装置が断
層画像を得るまでの工程を示すフローチャートである。
図面を用いて説明する。図１は本発明のＸ線ＣＴ装置の
概要を示すブロック図、図２は図１のデータ処理部の構
成を示すブロック図、図３は本発明のＸ線ＣＴ装置が断
層画像を得るまでの工程を示すフローチャートである。
【０００９】まず、本発明のＸ線ＣＴ装置の構成につい
て、図１を用いて述べる。本発明のＸ線ＣＴ装置は、高
電圧電源を擁したＸ線発生部５によって発生されるＸ線
源１と、被検体２をはさんで対向して配置されるＸ線検
出器３と、被検体２の周りにＸ線源１とＸ線検出器３を
回転させる走査制御部６と、走査制御部６によって回転
されたときの一連の検出器３の検出データから断層画像
を構成するデータ処理部４と、データ処理部４，Ｘ線発
生部５，走査制御部６，オペレータ（図示せず）の入力
操作に対応する信号を入力する操作卓７およびデータ処
理部４で構成された断層画像を表示する表示部８を制御
するＣＰＵ９を備えている。
て、図１を用いて述べる。本発明のＸ線ＣＴ装置は、高
電圧電源を擁したＸ線発生部５によって発生されるＸ線
源１と、被検体２をはさんで対向して配置されるＸ線検
出器３と、被検体２の周りにＸ線源１とＸ線検出器３を
回転させる走査制御部６と、走査制御部６によって回転
されたときの一連の検出器３の検出データから断層画像
を構成するデータ処理部４と、データ処理部４，Ｘ線発
生部５，走査制御部６，オペレータ（図示せず）の入力
操作に対応する信号を入力する操作卓７およびデータ処
理部４で構成された断層画像を表示する表示部８を制御
するＣＰＵ９を備えている。
【００１０】また、上記Ｘ線ＣＴ装置のデータ処理部４
の構成について、図２を用いて述べる。データ処理部４
は、複数のＸ線ＣＴ装置についての同一の計測条件のも
とで、同一の材質，形状のファントムを被検体とした通
常計測モードの検出データの統計データ、ここでは相加
平均値Ｄｓｆ(ｘ)（ｘは、計測値の値域を示す）を記憶
する第一の記憶手段１１と、前記複数のＸ線ＣＴ装置に
ついての前記同一の計測条件のもとで、前記同一の材
質，形状のファントムを被検体とした散乱線計測モード
の検出データの統計データ、ここでは相加平均値Ｄｓｄ
(ｘ)（ｘは、Ｄｓｆ(ｘ)に対応する計測値の値域を示
す）を記憶する第二の記憶手段１２と、固有のＸ線ＣＴ
装置についての前記同一の計測条件のもとで、前記同一
の材質，形状のファントムを被検体とした通常計測モー
ドの検出データＤｉｆ(ｘ)（ｘは、Ｄｓｆ(ｘ)に対応す
る計測値の値域を示す）を記憶する第三の記憶手段１３
と、前記固有のＸ線ＣＴ装置についての前記同一の計測
条件のもとで、前記同一の材質，形状のファントムを被
検体とした散乱Ｘ線のみの検出データ値Ｄｉｄ(ｘ)(ｘ
は、Ｄｓｆ(ｘ)に対応する計測値の値域を示す)が、Ｄ
ｓｆ(ｘ)，Ｄｓｄ(ｘ)およびＤｉｆ(ｘ)から、 Ｄｉｄ(ｘ)＝Ｄｉｆ(ｘ)×Ｄｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ) …（１） で計算される第一の計算手段１４と、第一の計算手段１
４の計算されたデータＤｉｄ(ｘ)を記憶する第四の記憶
手段１５と、第三の記憶手段１３に記憶されたデータＤ
ｉｆ(ｘ)から第四の記憶手段１５に記憶されたデータＤ
ｉｄ(ｘ)を引く第二の計算手段１６と、第二の計算手段
１６が求めた固有のＸ線ＣＴ装置の被検体の透過Ｘ線の
みの検出データによって、断層画像を構成する手段１７
を備えている。
の構成について、図２を用いて述べる。データ処理部４
は、複数のＸ線ＣＴ装置についての同一の計測条件のも
とで、同一の材質，形状のファントムを被検体とした通
常計測モードの検出データの統計データ、ここでは相加
平均値Ｄｓｆ(ｘ)（ｘは、計測値の値域を示す）を記憶
する第一の記憶手段１１と、前記複数のＸ線ＣＴ装置に
ついての前記同一の計測条件のもとで、前記同一の材
質，形状のファントムを被検体とした散乱線計測モード
の検出データの統計データ、ここでは相加平均値Ｄｓｄ
(ｘ)（ｘは、Ｄｓｆ(ｘ)に対応する計測値の値域を示
す）を記憶する第二の記憶手段１２と、固有のＸ線ＣＴ
装置についての前記同一の計測条件のもとで、前記同一
の材質，形状のファントムを被検体とした通常計測モー
ドの検出データＤｉｆ(ｘ)（ｘは、Ｄｓｆ(ｘ)に対応す
る計測値の値域を示す）を記憶する第三の記憶手段１３
と、前記固有のＸ線ＣＴ装置についての前記同一の計測
条件のもとで、前記同一の材質，形状のファントムを被
検体とした散乱Ｘ線のみの検出データ値Ｄｉｄ(ｘ)(ｘ
は、Ｄｓｆ(ｘ)に対応する計測値の値域を示す)が、Ｄ
ｓｆ(ｘ)，Ｄｓｄ(ｘ)およびＤｉｆ(ｘ)から、 Ｄｉｄ(ｘ)＝Ｄｉｆ(ｘ)×Ｄｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ) …（１） で計算される第一の計算手段１４と、第一の計算手段１
４の計算されたデータＤｉｄ(ｘ)を記憶する第四の記憶
手段１５と、第三の記憶手段１３に記憶されたデータＤ
ｉｆ(ｘ)から第四の記憶手段１５に記憶されたデータＤ
ｉｄ(ｘ)を引く第二の計算手段１６と、第二の計算手段
１６が求めた固有のＸ線ＣＴ装置の被検体の透過Ｘ線の
みの検出データによって、断層画像を構成する手段１７
を備えている。
【００１１】さらに、上記データ処理部４の第一の計算
手段１４について、同図を用いて述べる。第一の計算手
段１４は、第一の記憶手段１１に記憶されたデータＤｓ
ｆ(ｘ)の逆数を計算する逆数演算器１４ａと、逆数演算
器１４ａの演算結果と第二の記憶手段１２に記憶された
データＤｓｄ(ｘ)を乗算する乗算器１４ｂと、乗算器14
ｂの演算結果と第三の記憶手段１３に記憶されたデータ
Ｄｉｆ(ｘ)を乗算する乗算器１４ｃを備えている。
手段１４について、同図を用いて述べる。第一の計算手
段１４は、第一の記憶手段１１に記憶されたデータＤｓ
ｆ(ｘ)の逆数を計算する逆数演算器１４ａと、逆数演算
器１４ａの演算結果と第二の記憶手段１２に記憶された
データＤｓｄ(ｘ)を乗算する乗算器１４ｂと、乗算器14
ｂの演算結果と第三の記憶手段１３に記憶されたデータ
Ｄｉｆ(ｘ)を乗算する乗算器１４ｃを備えている。
【００１２】次に、本発明のＸ線ＣＴ装置の断層画像を
得るまでの工程について、図１乃至図３を用いて述べ
る。ステップ．３１ 第三の記憶手段１３は、固有のＸ線ＣＴ装置について、
ファントムを被検体とした通常計測モードでの計測を行
ったデータＤｉｆ(ｘ)を、記憶する。ステップ．３２ 逆数演算器１４ａは、第一の記憶手段１１に記憶された
データＤｓｆ(ｘ)の逆数を計算し、１／Ｄｓｆ(ｘ)を出
力する。ステップ．３３ 乗算器１４ｂは、逆数演算器１４ａの出力１／Ｄｓｆ
(ｘ)と第二の記憶手段１２に記憶されたデータＤｓｄ
(ｘ)を乗算し、Ｄｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ)を出力する。ステップ．３４ 乗算器１４ｃは、乗算器１４ｂの出力Ｄｓｄ(ｘ)／Ｄｓ
ｆ(ｘ)と第三の記憶手段１３に記憶されたデータＤｉｆ
(ｘ)を乗算し、Ｄｉｆ(ｘ)×Ｄｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ)、
即ち、固有のＸ線ＣＴ装置についてファントムを被検体
とした散乱Ｘ線のみのデータＤｉｄ(ｘ)を出力する。ステップ．３５ 第四の記憶手段１５は、乗算器１４ｃの出力Ｄｉｄ(ｘ)
を記憶する。ステップ．３６ 第二の計算手段１６は、第三の記憶手段１３に記憶され
たデータＤｉｆ(ｘ)から、第四の記憶手段１５に記憶さ
れたデータＤｉｄ(ｘ)を引いて、被検体の透過Ｘ線のみ
の検出データを求める。断層画像構成手段１７は、求め
た検出データを用いて断層画像を構成する。
得るまでの工程について、図１乃至図３を用いて述べ
る。ステップ．３１ 第三の記憶手段１３は、固有のＸ線ＣＴ装置について、
ファントムを被検体とした通常計測モードでの計測を行
ったデータＤｉｆ(ｘ)を、記憶する。ステップ．３２ 逆数演算器１４ａは、第一の記憶手段１１に記憶された
データＤｓｆ(ｘ)の逆数を計算し、１／Ｄｓｆ(ｘ)を出
力する。ステップ．３３ 乗算器１４ｂは、逆数演算器１４ａの出力１／Ｄｓｆ
(ｘ)と第二の記憶手段１２に記憶されたデータＤｓｄ
(ｘ)を乗算し、Ｄｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ)を出力する。ステップ．３４ 乗算器１４ｃは、乗算器１４ｂの出力Ｄｓｄ(ｘ)／Ｄｓ
ｆ(ｘ)と第三の記憶手段１３に記憶されたデータＤｉｆ
(ｘ)を乗算し、Ｄｉｆ(ｘ)×Ｄｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ)、
即ち、固有のＸ線ＣＴ装置についてファントムを被検体
とした散乱Ｘ線のみのデータＤｉｄ(ｘ)を出力する。ステップ．３５ 第四の記憶手段１５は、乗算器１４ｃの出力Ｄｉｄ(ｘ)
を記憶する。ステップ．３６ 第二の計算手段１６は、第三の記憶手段１３に記憶され
たデータＤｉｆ(ｘ)から、第四の記憶手段１５に記憶さ
れたデータＤｉｄ(ｘ)を引いて、被検体の透過Ｘ線のみ
の検出データを求める。断層画像構成手段１７は、求め
た検出データを用いて断層画像を構成する。
【００１３】以上説明した実施例によれば、第一の記憶
手段１１に記憶されたデータDsf(x)、第二の記憶手段１
２に記憶されたデータＤｓｄ(ｘ)および、第三の記憶手
段１３に記憶されたデータＤｉｆ(ｘ)が与えられていれ
ば、固有のＸ線ＣＴ装置に各々散乱線計測モードを行う
ことを要さずに、固有のＸ線ＣＴ装置についてファント
ムを被検体とした散乱Ｘ線のみのデータＤｉｄ(ｘ)を求
めることができるので、第三の記憶手段１３に記憶され
たデータＤｉｆ(ｘ)と第四の記憶手段１５に記憶された
データＤｉｄ(ｘ)と第二の計算手段１６によって差をと
り、得られた透過Ｘ線のみの検出データから、高画質な
断層画像を得ることができる。
手段１１に記憶されたデータDsf(x)、第二の記憶手段１
２に記憶されたデータＤｓｄ(ｘ)および、第三の記憶手
段１３に記憶されたデータＤｉｆ(ｘ)が与えられていれ
ば、固有のＸ線ＣＴ装置に各々散乱線計測モードを行う
ことを要さずに、固有のＸ線ＣＴ装置についてファント
ムを被検体とした散乱Ｘ線のみのデータＤｉｄ(ｘ)を求
めることができるので、第三の記憶手段１３に記憶され
たデータＤｉｆ(ｘ)と第四の記憶手段１５に記憶された
データＤｉｄ(ｘ)と第二の計算手段１６によって差をと
り、得られた透過Ｘ線のみの検出データから、高画質な
断層画像を得ることができる。
【００１４】上記実施例では、第一の記憶手段１１にデ
ータＤｓｆ(ｘ)および第二の記憶手段１２にデータＤｓ
ｄ(ｘ)を個別に記憶し、データＤｓｆ(ｘ)を逆数演算器
14ａで１／Ｄｓｆ(ｘ)とし、さらに、１／Ｄｓｆ(ｘ)と
Ｄｓｄ(ｘ)を乗算器１４ｂでＤｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ)と
したが、一つにまとめてＤｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ)を記憶
手段に記憶してもよい。
ータＤｓｆ(ｘ)および第二の記憶手段１２にデータＤｓ
ｄ(ｘ)を個別に記憶し、データＤｓｆ(ｘ)を逆数演算器
14ａで１／Ｄｓｆ(ｘ)とし、さらに、１／Ｄｓｆ(ｘ)と
Ｄｓｄ(ｘ)を乗算器１４ｂでＤｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ)と
したが、一つにまとめてＤｓｄ(ｘ)／Ｄｓｆ(ｘ)を記憶
手段に記憶してもよい。
【００１５】また、統計的については、発明者によって
相加平均値であることが見出されたが、Ｘ線ＣＴ装置の
構成や被検体の組合せによって、相加平均値でなくなっ
た場合も、統計的データに基づくものであれば、本発明
の実施に含まれるものとする。
相加平均値であることが見出されたが、Ｘ線ＣＴ装置の
構成や被検体の組合せによって、相加平均値でなくなっ
た場合も、統計的データに基づくものであれば、本発明
の実施に含まれるものとする。
【００１６】
【発明の効果】本発明のＸ線ＣＴ装置は、第一の記憶手
段に記憶された通常計測モードの検出データおよび第二
の記憶手段に記憶された散乱線計測モードの検出データ
の統計的データと、第三の記憶手段に記憶された固有の
通常計測モードの検出データと、第一乃至第三の記憶手
段に記憶された各データを用いて固有の散乱Ｘ線のみの
検出データを計算する第一の計算手段と、固有の散乱Ｘ
線のみの検出データを前記第一の計算手段によって計算
して、第三の記憶手段に記憶された固有の通常計測モー
ドの検出データから、前記計算された固有の散乱Ｘ線の
みの検出データと差をとる第二の計算手段を有する構成
となっているので、得られた被検体の透過Ｘ線のみの検
出データから、高画質な断層画像を得ることができる効
果を奏する。
段に記憶された通常計測モードの検出データおよび第二
の記憶手段に記憶された散乱線計測モードの検出データ
の統計的データと、第三の記憶手段に記憶された固有の
通常計測モードの検出データと、第一乃至第三の記憶手
段に記憶された各データを用いて固有の散乱Ｘ線のみの
検出データを計算する第一の計算手段と、固有の散乱Ｘ
線のみの検出データを前記第一の計算手段によって計算
して、第三の記憶手段に記憶された固有の通常計測モー
ドの検出データから、前記計算された固有の散乱Ｘ線の
みの検出データと差をとる第二の計算手段を有する構成
となっているので、得られた被検体の透過Ｘ線のみの検
出データから、高画質な断層画像を得ることができる効
果を奏する。
【図１】本発明のＸ線ＣＴ装置の概要を示すブロック
図。
図。
【図２】図１のデータ処理部を示すブロック図。
【図３】本発明のＸ線ＣＴ装置の断層画像を得るまでの
フローチャート。
フローチャート。
【図４】散乱線計測モードの概念図。
１ Ｘ線源 ３ Ｘ線検出器 ４ データ処理部 １１，１２，１３，１５ 記憶手段 １４，１６ 計算手段 １７ 断層画像構成手段
Claims (1)
- 【請求項１】Ｘ線源と、前記Ｘ線源に被検体をはさんで
対向して配置されたＸ線検出器と、前記Ｘ線源と前記Ｘ
線検出器を前記被検体の周りを相対して移動したときの
前記Ｘ線検出器の検出データを計測して、これら計測さ
れた検出データをもとに前記被検体の断層画像を構成す
るデータ処理部を備えるＸ線ＣＴ装置において、前記デ
ータ処理部は、複数のＸ線ＣＴ装置について各々同一の
計測条件のもとで同一の材質，形状のファントムを被検
体とした被検体の透過Ｘ線と被検体や前記Ｘ線源のＸ線
通路にあるＸ線ＣＴ装置の構成要素による散乱Ｘ線とを
含む検出データを統計的に計算したデータを記憶する第
一の記憶手段と、前記複数のＸ線ＣＴ装置について前記
同一の計測条件のもとで前記同一の材質，形状のファン
トムを被検体とした前記散乱Ｘ線のみの検出データを前
記第一の記憶手段と同様な計算で統計的に計算したデー
タを記憶する第二の記憶手段と、固有のＸ線ＣＴ装置に
ついて前記被検体の透過Ｘ線と前記散乱Ｘ線とを含む検
出データを記憶する第三の記憶手段と、前記固有のＸ線
ＣＴ装置についての前記散乱Ｘ線のみの検出データが、
第一乃至第三の記憶手段に記憶されるデータから計算さ
れる第一の計算手段と、前記固有のＸ線ＣＴ装置につい
て前記被検体のみの検出データを、前記第三の記憶手段
に記憶されるデータと前記第一の計算手段で計算したデ
ータとから計算する第二の計算手段を備えることを特徴
とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6298089A JPH08131431A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6298089A JPH08131431A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08131431A true JPH08131431A (ja) | 1996-05-28 |
Family
ID=17855027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6298089A Pending JPH08131431A (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08131431A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7336759B2 (en) | 2005-03-01 | 2008-02-26 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Scattering compensating method and scattering measuring method |
| US7334940B2 (en) | 2004-01-07 | 2008-02-26 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Scatter measurement method, scatter correction method, and X-ray CT apparatus |
| JP2008119095A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置及び散乱補正方法 |
-
1994
- 1994-11-08 JP JP6298089A patent/JPH08131431A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7334940B2 (en) | 2004-01-07 | 2008-02-26 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Scatter measurement method, scatter correction method, and X-ray CT apparatus |
| US7336759B2 (en) | 2005-03-01 | 2008-02-26 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Scattering compensating method and scattering measuring method |
| JP2008119095A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置及び散乱補正方法 |
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