JPH08124278A - 光学ピックアップ - Google Patents

光学ピックアップ

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JPH08124278A
JPH08124278A JP6284085A JP28408594A JPH08124278A JP H08124278 A JPH08124278 A JP H08124278A JP 6284085 A JP6284085 A JP 6284085A JP 28408594 A JP28408594 A JP 28408594A JP H08124278 A JPH08124278 A JP H08124278A
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JP
Japan
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objective lens
photodetector
tracking error
optical
light
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JP6284085A
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English (en)
Inventor
Yoshiyuki Matsumoto
芳幸 松本
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクの偏心や他のトラックのアクセス
時に、トラックずれが生じても、トラッキングエラー信
号にDCバイアスが生ぜず、正確なトラッキングエラー
の検出が行われるようにすること。 【構成】 光源11からの光ビームを対物レンズ14を
介して光ディスク13の記録面に照射し、この光ディス
クからの戻り光ビームを再度対物レンズを介して光検出
器16により受光し、この光検出器の分割されたセンサ
部A,Bにて、プッシュプル法によりトラッキングエラ
ーの検出を行なうようにした光学ピックアップ10に
て、対物レンズが、トラッキングのために、光ディスク
の半径方向に関して斜め方向Pに移動されると共に、上
記光検出器が、この対物レンズの移動による光検出器上
のスポット移動方向と同じ方向に延びる分割線16aに
より、複数のセンサ部A,Bに分割されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク記録再生の
際に、所謂プッシュプル法により、トラッキングエラー
を検出するようにした、光学ピックアップにに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来、光ディスクを記録再生するための
光学ピックアップは、例えば図6に示すように構成され
ている。図6において、光学ピックアップ1は、光源
2,コリメータレンズ3,対物レンズ5と、このコリメ
ータレンズ3と対物レンズ5との間に配設されたビーム
スプリッタ6と、このビームスプリッタ6の側方にて光
軸上に配設された光検出器7から構成されている。
【0003】ここで、光源2は、半導体の再結合発光を
利用した半導体レーザ素子等から成る。
【0004】コリメータレンズ3は、凹レンズであっ
て、この光源2から出射されるレーザー光を平行光にす
る。
【0005】対物レンズ5は、凸レンズであって、この
コリメータレンズ3からの平行光を光ディスク4の記録
面に収束させると共に、この光ディスク4からの戻り光
を平行光にする。そして、対物レンズ5は、光ディスク
4の半径方向に沿って図面にて矢印Rで示す方向に移動
されることにより、図7に示すように、対物レンズ5を
介して光ディスク4に入射する光ビームのスポットL1
が、所望のトラック4aに対して、両側のトラック4
b,4cの方向に垂直に移動する。かくして、トラッキ
ングが行なわれるようになっている。
【0006】また、ビームスプリッタ6は、二つのプリ
ズムを貼り合わせることにより構成されており、その境
界面が対物レンズ5の光軸に対して45度傾斜したハー
フミラー面6aを形成している。これにより、光源2か
ら出射した光ビームと光ディスク4の記録面からの戻り
光を分離する。
【0007】さらに、この光検出器7は、図8に示すよ
うに構成されている。即ち、図8において、光検出器7
は、中央に配設され且つ分割線7aにより上下に二分割
されたセンサ部A,Bとから構成されている。
【0008】このような構成の光検出器7の各センサ部
A及びBにおいては、正しいトラッキング状態において
は、戻り光ビームのスポットL2が、中心の分割線7a
上に対して、入射されるようになっている。
【0009】このように構成された光学ピックアップ1
によれば、光源2から射出した光ビームは、コリメータ
レンズ3,ビームスプリッタ6及び対物レンズ5を介し
て、光ディスク4の記録面に収束される。この光ディス
ク4の記録面で反射された戻り光ビームは、再び上記対
物レンズ5を介して、光源2に向かって進み、ビームス
プリッタ6に入射する。このビームスプリッタ6内に
て、上記戻り光ビームは、このビームスプリッタ6のハ
ーフミラー面6aによって、図1にて右方に反射され、
光検出器7に入射する。
【0010】ここで、この光検出器7は、戻り光ビーム
を受光することによって、トラッキングエラー信号を検
出するようになっている。この場合、この光検出器7の
各センサ部A及びBの検出信号SA及びSBは、その和
が再生信号として、またその差がトラッキングエラー信
号TEとして処理されることになる。そして、このトラ
ッキングエラー信号TEに基づいて、図示しない駆動機
構により、対物レンズ5を光ディスク4の半径方向に移
動させて、上記トラッキングエラー信号TEをゼロにす
るように、トラッキングエラーの補正が行なわれるよう
になっている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成のピックアップ1においては、光ディスク4が
偏心している場合や、他のトラックへのアクセス時に、
対物レンズ4が移動される(対物レンズの視野振り)
と、トラッキングエラー信号TEにDCバイアスが生ず
ることになり、DCバイアスを含んだトラッキングエラ
ー信号TEに対して、トラッキングエラーの補正動作が
行われる。このため、トラッキングエラー信号が、トラ
ックずれに基づく誤差を含むことになり、トラッキング
エラーの補正が正確に行なわれずに、トラッキングのオ
フセットが生ずることになる。
【0012】本発明は、以上の点に鑑み、光ディスクの
偏心や他のトラックのアクセス時に、トラックずれが生
じても、トラッキングエラー信号にDCバイアスが生ぜ
ず、正確なトラッキングエラーの検出が行われるように
した、光学ピックアップを提供することを目的としてい
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ディスクの記録面に照射される光ビームを射出
する光源と、前記光源からの光ビームを光ディスクの記
録面に収束させる対物レンズと、前記光源から射出され
る光ビームと光ディスクからの戻り光とを分離する分離
光学系と、前記光ディスクからの戻り光を受光する光検
出器とを備え、前記光検出器の分割されたセンサ部に
て、プッシュプル法によりトラッキングエラーの検出を
行なうように構成され、前記対物レンズが、トラッキン
グのために、光ディスクの半径方向に関して斜めに移動
されるように構成され、且つ前記光検出器が、この対物
レンズの移動による光検出器上のスポット移動方向と同
じ方向に延びる分割線により、複数のセンサ部に分割さ
れている、光学ピックアップにより、達成される。
【0014】本発明による光学ピックアップは、好まし
くは、前記対物レンズの移動方向が、光ディスクの半径
方向に対して略45度の角度をなしている。
【0015】本発明による光学ピックアップは、好まし
くは、前記光源がレーザカプラであって、前記光検出器
が、前記対物レンズの移動による光検出器上のスポット
移動方向と同じ方向に延びる複数の分割線により、3個
以上のセンサ部に分割されている。
【0016】
【作用】上記構成によれば、光検出器の分割線が、対物
レンズの移動方向に沿って延びているので、光ディスク
が偏心している場合や、他のトラックへのアクセス時
に、対物レンズがトラックずれを生じたとしても、光検
出器上のスポットは、その分割線に沿って移動すること
になるので、この光検出器の各センサ部への入射光量の
比は、変化せず、従ってトラックずれの影響を受けるこ
とがない。
【0017】このとき、対物レンズの移動方向は、光デ
ィスクの半径方向に対して斜めに延びていることから、
デトラック情報は、光検出器の各センサ部への入射光量
によって十分に検出されることになる。
【0018】対物レンズの移動方向が、光ディスクの半
径方向に対して45度の角度をなしている場合には、各
センサ部への入射光量が最大になり、より正確なトラッ
キングエラー信号が検出されることになる。
【0019】上記光源がレーザカプラであって、上記光
検出器が、この対物レンズの移動による光検出器上のス
ポット移動方向と同じ方向に延びる複数の分割線によ
り、3個以上のセンサ部に分割されている場合には、各
センサ部の差動信号をとることにより、より正確なトラ
ッキングエラー信号が検出されることになる。
【0020】
【実施例】以下、この発明の好適な実施例を図1乃至図
5を参照しながら、詳細に説明する。尚、以下に述べる
実施例は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に
好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲
は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載
がない限り、これらの態様に限られるものではない。
【0021】図1は、本発明による光学ピックアップの
第一の実施例を示している。図1において、光学ピック
アップ10は、光源11,コリメータレンズ12,対物
レンズ14と、このコリメータレンズ12と対物レンズ
14との間に配設されたビームスプリッタ15と、この
ビームスプリッタ15の側方にて光軸上に配設された光
検出器16とを有している。
【0022】ここで、光源11は、半導体の再結合発光
を利用した半導体レーザ素子等から成る。
【0023】コリメータレンズ12は、凹レンズであっ
て、この光源11から出射されるレーザー光を平行光に
する。
【0024】対物レンズ14は、凸レンズであって、こ
のコリメータレンズ12からの平行光を光ディスク13
の記録面に収束させると共に、この光ディスク13から
の戻り光を平行光にする。
【0025】また、ビームスプリッタ15は、二つのプ
リズムを貼り合わせることにより構成されており、その
境界面が対物レンズ14の光軸に対して45度傾斜した
ハーフミラー面15aを形成している。これにより、光
源11から出射した光ビームと光ディスク13の記録面
からの戻り光を分離する。
【0026】さらに、この光検出器16は、中央にて分
割線16aにより二分割されたセンサ部A,Bとから構
成されている。
【0027】以上の構成は、図6乃至図8に示した従来
の光学ピックアップ1と同様の構成であるが、本実施例
においては、対物レンズ14は、図示しない対物レンズ
アクチュエータにより、図2に示すように、光ディスク
13の半径方向Rに対して、斜めに、好ましくは略45
度の角度をなすように、図面にて矢印Pで示す方向に移
動されるようになっている。これにより、対物レンズ1
4を介して光ディスク13に入射する光ビームのスポッ
トL1が、所望のトラック13aに対して、両側のトラ
ック13b,13cの方向に斜めに移動する。かくし
て、トラッキングが行われるようになっている。
【0028】さらに、この光検出器16は、図3に示す
ように構成されている。即ち、図3において、光検出器
16は、分割線16aによって、中央にて左右に二分割
されたセンサ部A,Bとから構成されている。
【0029】このような構成の光検出器16の各センサ
部A,Bにおいては、戻り光ビームのスポットL2が、
中心の分割線16a上に入射されるようになっている。
これにより、後述するように、光ディスク13からの戻
り光が光検出器16上で形成するスポットに現れる回折
を受けた領域(図3において斜線で示した領域)が、分
割線16aを挟んで左右に均等な面積となって、トラッ
キングの際に差動信号がとれなくなることを回避できよ
うになっている。
【0030】本実施例による光学ピックアップ10は、
以上のように構成されており、その動作は以下のように
なっている。光源11から射出した光ビームは、コリメ
ータレンズ12,ビームスプリッタ15及び対物レンズ
14を介して、光ディスク13の記録面に収束される。
この光ディスク13の記録面からの戻り光ビームは、再
び上記対物レンズ14を介して、光源11に向かって進
み、ビームスプリッタ15に入射する。このビームスプ
リッタ15内にて、上記戻り光ビームは、このビームス
プリッタ15のハーフミラー面15aによって、図1に
て右方に反射され、光検出器16に入射されることにな
る。
【0031】ここで、この光検出器16は、戻り光ビー
ムを受光することによって、トラッキングエラー信号を
検出するようになっている。この場合、この光検出器1
6の各センサ部A及びBの検出信号SA及びSBは、そ
の和が再生信号として、またその差がトラッキングエラ
ー信号TEとして処理されることになる。そして、この
トラッキングエラー信号TEに基づいて、図示しない駆
動機構により、対物レンズ14を光ディスク4の半径方
向Rに対して斜め方向Pに移動させて、上記トラッキン
グエラー信号TEをゼロにするように、トラッキングエ
ラーの補正が行われるようになっている。
【0032】この場合、図3に示すように、光検出器1
6上のスポットL2は、左右のセンサ部A,Bに対し
て、影の部分が、分割線16aを跨ぐようになっている
が、二つの影の部分が互いに他方のセンサ部BまたはA
に同じ面積だけ形成されているため、互いに相殺される
ことにより、補正をする必要はない。さらに、対物レン
ズ14が光ディスク13のトラック13aに対してトラ
ックずれを起こした場合には、対物レンズ14のトラッ
クずれによって、光検出器16上のスポットL2は、図
3にて点線で示すように、分割線16aに沿って移動す
ることになるので、スポットL2による各センサ部A,
Bに対する入射光量の比は変化しない。従って、各セン
サ部A,Bの検出信号SA,SBの差を算出して得られ
るトラッキングエラー信号TEには、DCバイアスは生
じない。
【0033】かくして、DCバイアスが生じないことに
より、トラックずれがあったとしても、DCバイアスを
補正するための機械的・電気的部品を追加する必要はな
く、従来のプッシュプル法によって、正確なトラッキン
グエラー信号が検出されることになる。
【0034】図4は、本発明によるトラッキングエラー
検出方法を適用した光学ピックアップの第二の実施例を
示している。図1において、光学ピックアップ20は、
半導体レーザ素子から成る光源部と受光部とから成るレ
ーザカプラ21,対物レンズ22とから構成されてい
る。
【0035】ここで、上記レーザカプラ21は、表面
に、光検出器として、二つの受光素子23,24が対物
レンズ22の移動方向に沿って並んで形成された例えば
シリコン基板等の基板25と、この基板25上に取り付
けられたレーザー光源26と、この基板25の受光素子
23,24の領域の上方に載置されたプリズム27とを
備えている。
【0036】ここで、この受光素子23は、図面にて左
右方向に延びる複数の分割線により、センサ部A1,B
1,C1,D1に分割されている。これにより、受光素
子23は、中心線から上方にセンサ部A1,B1を備
え、中心線から下方にセンサ部C1,D1を備えるよう
になっている。この受光素子23の上には図示しない光
分離膜が形成されており、例えば入射光の20パーセン
トを透過,残りを反射するようになっている。また、受
光素子24は、図面にて左右方向に延びる複数の分割線
により、センサ部A2,B2,C2,D2に分割されて
いる。これにより、受光素子23は、中心線から上方に
センサ部A2,B2を備え、中心線から下方にセンサ部
C2,D2を備えるようになっている。尚、この受光素
子24の表面には反射防止膜を形成することが好まし
い。
【0037】さらに、上記レーザー光源26は、上記基
板25上に載置されたシリコン基板等の基板25a上に
取り付けられた半導体レーザ素子から構成されている。
【0038】また、このプリズム27は、レーザー光源
26に対向する側が、斜め上方に45度傾斜するように
形成された反射面27aを有すると共に、上面27b
が、下面27cに対して平行になるように形成されてい
る。この上面27bの内側には全反射膜が形成されてい
る。
【0039】対物レンズ22は、凸レンズであって、こ
のレーザーカプラ21の光源部からの光ビームを光ディ
スク28の記録面に収束させると共に、この光ディスク
28からの戻り光をレーザーカプラ21内に導く。そし
て、第1の実施例の図2及び図3にて説明したのと同様
の原理に基づいて、対物レンズ22は、光ディスク28
の半径方向Rに対して、斜めに、好ましくは略45度の
角度をなすように、図面にて矢印Qで示す方向に移動さ
れる。これにより、対物レンズ22を介して光ディスク
28に入射する光ビームのスポットが、所望のトラック
に対して、両側のトラックの方向に斜めに移動する。か
くして、トラッキングが行われるようになっている。
【0040】このように構成された光学ピックアップ2
0によれば、レーザー光源26から横向きに射出した光
ビームは、プリズム27の反射面27aに入射し、この
反射面27aにより上方に向かって反射される。その
後、この光ビームは、対物レンズ22を通過し、その際
この対物レンズ22の屈折作用により、光ディスク28
の記録面に収束される。この光ディスク28の記録面か
らの戻り光ビームは、再び上記対物レンズ22を介し
て、プリズム27の反射面27aに入射する。
【0041】そして、この反射光ビームは、この反射面
27aを透過して、一方の受光素子23に入射する。さ
らに、この受光素子23の入射した戻り光ビームの一部
は、この受光素子23により反射され、このプリズム2
7の上面27bにより全反射された後、他方の受光素子
24に入射する。
【0042】これにより、受光素子23,24は、それ
ぞれ戻り光ビームを受光することによって、再生信号,
フォーカスエラー信号,トラッキングエラー信号を検出
するようになっている。この場合、各受光素子23,2
4の各センサ部A1,B1,C1,D1及びA2,B
2,C2,D2の検出信号SA1,SB1,SC1,S
D1及びSA2,SB2,SC2,SD2は、それぞれ
以下に示すように演算される。即ち、先づ再生信号RF
は、
【0043】
【数1】 により与えられる。また、フォーカスエラー信号FE
は、
【数2】 により与えられる。さらに、トラッキングエラー信号T
Eは、
【数3】 により与えられる。
【0044】そして、このフォーカスエラー信号TEに
基づいて、図示しない駆動機構により、対物レンズ24
を光ディスク23の半径方向Rに対して斜め方向Qに移
動させて、上記トラッキングエラー信号TEをゼロにす
るように、トラッキングエラーの補正が行われるように
なっている。
【0045】この場合、図5に示すように、対物レンズ
22が光ディスク28のトラックに対してトラックずれ
を起こした場合には、対物レンズ22のトラックずれに
よって、受光素子23,24上の戻り光ビームのスポッ
トL3,L4は、図4にて点線で示すように、その分割
線に沿って移動することになるので、スポットL3,L
4による各センサ部A1,B1,C1,D1及びA2,
B2,C2,D2に対する入射光量は変化しない。従っ
て、各センサ部A1,B1,C1,D1及びA2,B
2,C2,D2の検出信号SA1,SB1,SC1,S
D1及びSA2,SB2,SC2,SD2を演算するこ
とにより得られるトラッキングエラー信号TEには、D
Cバイアスは生じない。
【0046】かくして、DCバイアスが生じないことに
より、トラックずれがあったとしても、DCバイアスを
補正するための機械的・電気的部品を追加する必要はな
く、従来のプッシュプル法によって、正確なトラッキン
グエラー信号が検出されることになる。
【0047】このように、以上の実施例によれば、光検
出器の分割線が、対物レンズの移動方向に沿って延びて
いるので、光ディスクが偏心している場合や、他のトラ
ックへのアクセス時に、対物レンズがトラックずれを生
じたとしても、トラックずれの影響を受けることがな
い。従って、トラッキングエラー信号の算出は、各セン
サ部からの検出信号に基づいて、従来と同様に、通常の
プッシュプル法により、算出される。
【0048】また、対物レンズのトラックずれによっ
て、トラッキングエラー信号にDCバイアスが生じない
ので、このDCバイアスを補正するための機械的及び電
気的な部品の追加をする必要がなく、簡単な構成によっ
て、容易に且つ低コストで、正確なトラッキングエラー
信号が得られることになる。
【0049】このとき、対物レンズの移動方向は、光デ
ィスクの半径方向に対して斜めに延びていることから、
デトラック情報は、光検出器の各センサ部への入射光量
によって十分に検出されることになる。対物レンズの移
動方向が、光ディスクの半径方向に対して45度の角度
をなしている場合には、各センサ部への入射光量が最大
になり、より正確なトラッキングエラー信号が検出され
ることになる。
【0050】上記光源がレーザカプラであって、上記光
検出器が、この対物レンズの移動による光検出器上のス
ポット移動方向と同じ方向に延びる複数の分割線によ
り、3個以上のセンサ部に分割されている場合には、各
センサ部の差動信号をとることにより、より正確なトラ
ッキングエラー信号が検出されることになる。
【0051】尚、上記第二の実施例において、受光素子
23,24は、それぞれ互いに平行な分割線によって、
4分割されているが、これに限らず、例えば3分割され
ていてもよく、3分割された各センサ部の検出信号に基
づいて、トラッキングエラー信号TEが検出されること
になる。
【0052】また、上記何れの実施例においても、光デ
ィスク13,23は、CD,CD−R,CD−ROMや
LD、さらにMO,MD等に光磁気ディスクを含む任意
の光ディスクに対して本発明を適用し得ることは明らか
である。
【0053】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、光
ディスクの偏心や他のトラックのアクセス時に、トラッ
クずれが生じても、トラッキングエラー信号にDCバイ
アスが生ぜず、正確なトラッキングエラーの検出が行わ
れるようにした、光学ピックアップを提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した光学ピックアップの第一の実
施例の構成を示す概略断面図である。
【図2】図1の光学ピックアップによる光ディスク上の
スポットと対物レンズの移動方向の関係を示す部分拡大
図である。
【図3】図1の光学ピックアップにおける光検出器の拡
大平面図である。
【図4】本発明を適用した光学ピックアップの第二の実
施例の構成を示す概略断面図である。
【図5】図4の光学ピックアップにおける光検出器の拡
大平面図である。
【図6】従来の光学ピックアップの構成を示す概略断面
図である。
【図7】図6の光学ピックアップによる光ディスク上の
スポットと対物レンズの移動方向の関係を示す部分拡大
図である。
【図8】図6の光学ピックアップにおける光検出器の拡
大平面図である。
【符号の説明】
10 光学ピックアップ 11 光源 12 コリメータレンズ 13 光ディスク 14 対物レンズ 15 ビームスプリッタ 16 光検出器 16a 分割線 A,B センサ部 20 光学ピックアップ 21 レーザカプラ 22 対物レンズ 23 受光素子(光検出器) 24 受光素子(光検出器) 25 基板 26 レーザー光源 27 プリズム

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ディスクの記録面に照射される光ビー
    ムを射出する光源と、 前記光源からの光ビームを光ディスクの記録面に収束さ
    せる対物レンズと、 前記光源から射出される光ビームと光ディスクからの戻
    り光とを分離する分離光学系と、 前記光ディスクからの戻り光を受光する光検出器とを備
    え、 前記光検出器の分割されたセンサ部にて、プッシュプル
    法によりトラッキングエラーの検出を行なうように構成
    され、 前記対物レンズが、トラッキングのために、光ディスク
    の半径方向に関して斜めに移動されるように構成され、 且つ前記光検出器が、 前記対物レンズの移動による光検出器上のスポット移動
    方向と同じ方向に延びる分割線により、複数のセンサ部
    に分割されていることを特徴とする光学ピックアップ。
  2. 【請求項2】 前記対物レンズの移動方向が、光ディス
    クの半径方向に対して略45度の角度をなしていること
    を特徴とする請求項1に記載の光学ピックアップ。
  3. 【請求項3】 前記光源がレーザカプラであって、前記
    光検出器が、この対物レンズの移動による光検出器上の
    スポット移動方向と同じ方向に延びる複数の分割線によ
    り、3個以上のセンサ部に分割されていることを特徴と
    する請求項1または2に記載の光学ピックアップ。
JP6284085A 1994-10-24 1994-10-24 光学ピックアップ Pending JPH08124278A (ja)

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JP6284085A JPH08124278A (ja) 1994-10-24 1994-10-24 光学ピックアップ

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JP6284085A JPH08124278A (ja) 1994-10-24 1994-10-24 光学ピックアップ

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JP6284085A Pending JPH08124278A (ja) 1994-10-24 1994-10-24 光学ピックアップ

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