JPH08110329A - ピンホール検査装置及びピンホール検査方法 - Google Patents
ピンホール検査装置及びピンホール検査方法Info
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- JPH08110329A JPH08110329A JP6270414A JP27041494A JPH08110329A JP H08110329 A JPH08110329 A JP H08110329A JP 6270414 A JP6270414 A JP 6270414A JP 27041494 A JP27041494 A JP 27041494A JP H08110329 A JPH08110329 A JP H08110329A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、缶体の周囲壁にピンホールがあるか
否かを効率良く、かつ正確に検査し得るピンホール検査
装置及びピンホール検査方法の実現を目的とするもので
ある。 【構成】検査対象の缶体内部に、所定周波数の検査音を
放音することにより拡散音響効果によつて缶体内部に均
一な音圧レベルの音場を形成し、缶体内部からリークす
る検査音を検出し、検出結果に基づいて缶体の周囲壁に
ピンホールがあるか否かを検出するようにしたことによ
り、ピンホールの有無を効率良く、かつ正確に検査し得
るピンホール検査装置及びピンホール検査方法を実現で
きる。
否かを効率良く、かつ正確に検査し得るピンホール検査
装置及びピンホール検査方法の実現を目的とするもので
ある。 【構成】検査対象の缶体内部に、所定周波数の検査音を
放音することにより拡散音響効果によつて缶体内部に均
一な音圧レベルの音場を形成し、缶体内部からリークす
る検査音を検出し、検出結果に基づいて缶体の周囲壁に
ピンホールがあるか否かを検出するようにしたことによ
り、ピンホールの有無を効率良く、かつ正確に検査し得
るピンホール検査装置及びピンホール検査方法を実現で
きる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はピンホール検査装置及び
ピンホール検査方法に関し、例えばドラム缶の周囲壁に
ピンホールがあるか否かを検査（以下、この検査をピン
ホール検査と呼ぶ）するピンホール検査装置及びピンホ
ール検査方法に適用して好適なものである。
ピンホール検査方法に関し、例えばドラム缶の周囲壁に
ピンホールがあるか否かを検査（以下、この検査をピン
ホール検査と呼ぶ）するピンホール検査装置及びピンホ
ール検査方法に適用して好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】ドラム缶においては、使用済のものを回
収及び洗浄した後、ピンホール検査を施し、この後所定
の再生処理を施すことにより再生されて、再利用されて
いる。このようなドラム缶の再生工程において行われる
ピンホール検査の検査方法として、従来、ドラム缶内部
に空気を注入して密封し、プール等に水没させて泡の発
生の有無に基づいて検査する水没法や、光フアイバー等
の内視鏡を用いてドラム缶内部に入射する光の有無を目
視確認することにより検査する光学法等などがあり、ま
たこれらの検査法に加えて、ドラム缶内部に所定気圧の
圧縮空気を注入して当該ドラム缶内部の気圧変化を検査
する加圧法等も考えられている。
収及び洗浄した後、ピンホール検査を施し、この後所定
の再生処理を施すことにより再生されて、再利用されて
いる。このようなドラム缶の再生工程において行われる
ピンホール検査の検査方法として、従来、ドラム缶内部
に空気を注入して密封し、プール等に水没させて泡の発
生の有無に基づいて検査する水没法や、光フアイバー等
の内視鏡を用いてドラム缶内部に入射する光の有無を目
視確認することにより検査する光学法等などがあり、ま
たこれらの検査法に加えて、ドラム缶内部に所定気圧の
圧縮空気を注入して当該ドラム缶内部の気圧変化を検査
する加圧法等も考えられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述のよう
な水没法を用いたピンホール検査では、この検査の終了
後、続く再生処理に移る際にドラム缶を乾かす必要があ
るため、結果的に時間を多く必要とする問題があつた。
また上述のような光学法を用いたピンホール検査では、
熟練した検査者を必要とすると共に、１缶毎の検査時間
がかかり過ぎるために検査効率が悪い問題があつた。
な水没法を用いたピンホール検査では、この検査の終了
後、続く再生処理に移る際にドラム缶を乾かす必要があ
るため、結果的に時間を多く必要とする問題があつた。
また上述のような光学法を用いたピンホール検査では、
熟練した検査者を必要とすると共に、１缶毎の検査時間
がかかり過ぎるために検査効率が悪い問題があつた。
【０００４】さらに上述のような加圧法を用いたピンホ
ール検査では、正確な検査結果を得るためにはドラム缶
内部を５気圧以上にまで加圧する必要があるのに対し
て、ドラム缶の変形等を考慮すると0.5 気圧程度までし
か加圧できず、このため正確な検査結果を得難い問題が
あつた。さらに上述のような加圧法や水没法では、検査
対象のドラム缶に直接、所定気圧の内圧をかけたり、又
は水中に水没させるなどの作用が及ぶため、ドラム缶本
体が検査による悪影響を受け易い問題もあつた。
ール検査では、正確な検査結果を得るためにはドラム缶
内部を５気圧以上にまで加圧する必要があるのに対し
て、ドラム缶の変形等を考慮すると0.5 気圧程度までし
か加圧できず、このため正確な検査結果を得難い問題が
あつた。さらに上述のような加圧法や水没法では、検査
対象のドラム缶に直接、所定気圧の内圧をかけたり、又
は水中に水没させるなどの作用が及ぶため、ドラム缶本
体が検査による悪影響を受け易い問題もあつた。
【０００５】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、缶体の周囲壁にピンホールがあるか否かを効率良
く、かつ正確に検査し得るピンホール検査装置及びピン
ホール検査方法を提案しようとするものである。
で、缶体の周囲壁にピンホールがあるか否かを効率良
く、かつ正確に検査し得るピンホール検査装置及びピン
ホール検査方法を提案しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、缶体３の周囲壁にピンホールがあ
るか否かを検査するピンホール検査装置において、検査
時に缶体３内部に配置され、所定周波数の検査音を放音
することにより缶体３内部に均一な音圧レベルの音場を
形成する音源５、３０と、缶体３内部からリークする検
査音を検出するリーク音検出手段１０と、リーク音検出
手段１０の出力Ｓ１に基づいて缶体の周囲壁にピンホー
ルがあるか否かを検出するピンホール検出手段１３とを
設けた。
め本発明においては、缶体３の周囲壁にピンホールがあ
るか否かを検査するピンホール検査装置において、検査
時に缶体３内部に配置され、所定周波数の検査音を放音
することにより缶体３内部に均一な音圧レベルの音場を
形成する音源５、３０と、缶体３内部からリークする検
査音を検出するリーク音検出手段１０と、リーク音検出
手段１０の出力Ｓ１に基づいて缶体の周囲壁にピンホー
ルがあるか否かを検出するピンホール検出手段１３とを
設けた。
【０００７】また本発明においては、音源５、３０は、
缶体３内部の拡散音響効果により缶体３内部に均一な音
圧レベルの音場を形成するようにした。
缶体３内部の拡散音響効果により缶体３内部に均一な音
圧レベルの音場を形成するようにした。
【０００８】さらに本発明においては、検査音は、40
〔kHz 〕の超音波でなるようにした。
〔kHz 〕の超音波でなるようにした。
【０００９】さらに本発明においては、リーク音検出手
段１０は、缶体３の周囲壁を全面に亘つて取り囲むよう
に配置された、それぞれ検査音の周波数を中心周波数と
した所定帯域の音を検出する単数又は複数の超音波セン
サ１２でなるようにした。
段１０は、缶体３の周囲壁を全面に亘つて取り囲むよう
に配置された、それぞれ検査音の周波数を中心周波数と
した所定帯域の音を検出する単数又は複数の超音波セン
サ１２でなるようにした。
【００１０】さらに本発明においては、缶体３の周囲壁
にピンホールがあるか否かを検査するピンホール検査方
法において、缶体３内部に、所定周波数の検査音を放音
することにより拡散音響効果によつて缶体３内部に均一
な音圧レベルの音場を形成し、缶体３内部からリークす
る検査音を検出し、検出結果に基づいて缶体３の周囲壁
にピンホールがあるか否かを検出するようにした。
にピンホールがあるか否かを検査するピンホール検査方
法において、缶体３内部に、所定周波数の検査音を放音
することにより拡散音響効果によつて缶体３内部に均一
な音圧レベルの音場を形成し、缶体３内部からリークす
る検査音を検出し、検出結果に基づいて缶体３の周囲壁
にピンホールがあるか否かを検出するようにした。
【００１１】さらに本発明においては、検査音は、40
〔kHz 〕の超音波でなるようにした。
〔kHz 〕の超音波でなるようにした。
【００１２】
【作用】缶体３内部からリークする検査音をリーク音検
出手段１０により検出し、当該検出結果に基づいて缶体
３の周囲壁にピンホールがあるか否かを検出するように
したことにより、容易かつ正確にすばやくピンホール検
査を行うことができ、かくしてピンホールの有無を効率
良く、かつ正確に検査し得るピンホール検査装置及びピ
ンホール検査方法を実現できる。
出手段１０により検出し、当該検出結果に基づいて缶体
３の周囲壁にピンホールがあるか否かを検出するように
したことにより、容易かつ正確にすばやくピンホール検
査を行うことができ、かくしてピンホールの有無を効率
良く、かつ正確に検査し得るピンホール検査装置及びピ
ンホール検査方法を実現できる。
【００１３】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【００１４】図１において、１は全体としてピンホール
検査装置を示し、ベルトコンベア２上に、検査対象のド
ラム缶３を載置するためのドラム缶載置台４が固定され
ている。
検査装置を示し、ベルトコンベア２上に、検査対象のド
ラム缶３を載置するためのドラム缶載置台４が固定され
ている。
【００１５】ベルトコンベア２は、動作時、所定のタイ
ミングで駆動及び停止することによりドラム缶載置台４
上に載置されたドラム缶３を所定の検査位置にまで搬送
し、当該検査位置において所定時間だけ固定保持するよ
うになされている。この検査位置の上方には発音体５が
配置されている。発音体５は、棒状に形成された長手方
向の一端側及び他端側にそれぞれスピーカ（図示せず）
が収納されることにより構成され、所定の支持機構（図
示せず）によりコード（及びケーブル）６を介して上下
方向に平行かつ移動自在に支持されている。
ミングで駆動及び停止することによりドラム缶載置台４
上に載置されたドラム缶３を所定の検査位置にまで搬送
し、当該検査位置において所定時間だけ固定保持するよ
うになされている。この検査位置の上方には発音体５が
配置されている。発音体５は、棒状に形成された長手方
向の一端側及び他端側にそれぞれスピーカ（図示せず）
が収納されることにより構成され、所定の支持機構（図
示せず）によりコード（及びケーブル）６を介して上下
方向に平行かつ移動自在に支持されている。
【００１６】この発音体５は、検査対象のドラム缶３が
検査位置に固定保持されると、支持機構が駆動すること
により下降して、当該ドラム缶３上面の内容物出入口３
Ａを介して当該ドラム缶３内部に挿入され、当該ドラム
缶３内部の高さ方向のほぼ中央部に位置した状態で保持
される。また検査位置の上方には超音波センサ部１０も
配置されており、当該超音波センサ部１０は発音体５が
ドラム缶３内部の所定の高さ位置で保持されると下降し
てドラム缶３を覆うようになされている。
検査位置に固定保持されると、支持機構が駆動すること
により下降して、当該ドラム缶３上面の内容物出入口３
Ａを介して当該ドラム缶３内部に挿入され、当該ドラム
缶３内部の高さ方向のほぼ中央部に位置した状態で保持
される。また検査位置の上方には超音波センサ部１０も
配置されており、当該超音波センサ部１０は発音体５が
ドラム缶３内部の所定の高さ位置で保持されると下降し
てドラム缶３を覆うようになされている。
【００１７】実際上超音波センサ部１０は、均一の感度
を有する複数の超音波センサ１２が網目状のアレー１１
によりドラム缶３の下側壁を除く周囲壁を全体に亘つて
取り囲み得るように、かつ各受感軸がそれぞれアレー１
１の中心軸方向に向くように一体に保持されてなる。こ
れにより超音波センサ部１０は、下降してドラム缶３を
覆つた際に、当該ドラム缶３の下側壁を除く周囲壁から
リークした検査音を検出し得るようになされている。
を有する複数の超音波センサ１２が網目状のアレー１１
によりドラム缶３の下側壁を除く周囲壁を全体に亘つて
取り囲み得るように、かつ各受感軸がそれぞれアレー１
１の中心軸方向に向くように一体に保持されてなる。こ
れにより超音波センサ部１０は、下降してドラム缶３を
覆つた際に、当該ドラム缶３の下側壁を除く周囲壁から
リークした検査音を検出し得るようになされている。
【００１８】この場合各超音波センサ１２は、それぞれ
当該検査音の周波数を中心周波数とする所定範囲（例え
ば±２〜３〔kHz 〕程度）内の帯域音を検出し得るよう
になされており、検出した音の音圧レベルに応じた信号
レベルのリーク検出信号Ｓ１をピンホール検出部１３に
送出するようになされている。
当該検査音の周波数を中心周波数とする所定範囲（例え
ば±２〜３〔kHz 〕程度）内の帯域音を検出し得るよう
になされており、検出した音の音圧レベルに応じた信号
レベルのリーク検出信号Ｓ１をピンホール検出部１３に
送出するようになされている。
【００１９】さらに検査位置の上方には遮音材を用いて
カツプ状に形成された遮音部１４が配置されている。遮
音部１４は、超音波センサ部１０がドラム缶３を覆うと
下降することにより、ドラム缶３及び超音波センサ部１
０を一体に覆うようになされ、かくして超音波センサ部
１０の各超音波センサ１２が外部の雑音（暗騒音、特に
暗超音波音）をドラム缶３からのリーク音として誤検出
するのを防止するようになされている。
カツプ状に形成された遮音部１４が配置されている。遮
音部１４は、超音波センサ部１０がドラム缶３を覆うと
下降することにより、ドラム缶３及び超音波センサ部１
０を一体に覆うようになされ、かくして超音波センサ部
１０の各超音波センサ１２が外部の雑音（暗騒音、特に
暗超音波音）をドラム缶３からのリーク音として誤検出
するのを防止するようになされている。
【００２０】従つてこのピンホール検査装置１では、動
作時、まずベルトコンベア２が駆動してドラム缶載置台
４上に載置された検査対象のドラム缶３を検査位置にま
で搬送し、続いて発音体５が下降して当該ドラム缶３内
部の高さ方向の中央位置において保持され、この後超音
波センサ部１０及び遮音部１４が順次下降することによ
りそれぞれドラム缶３を順次覆う。
作時、まずベルトコンベア２が駆動してドラム缶載置台
４上に載置された検査対象のドラム缶３を検査位置にま
で搬送し、続いて発音体５が下降して当該ドラム缶３内
部の高さ方向の中央位置において保持され、この後超音
波センサ部１０及び遮音部１４が順次下降することによ
りそれぞれドラム缶３を順次覆う。
【００２１】この後発音体５が駆動して所定周波数の検
査音を放音すると共に、超音波センサ部１０の各超音波
センサ１２が駆動して検査音の周波数を中心周波数とす
る所定帯域の音を順次検出し、検出結果をリーク検出信
号Ｓ１としてそれぞれピンホール検出部１３に送出す
る。ピンホール検出部１３は、図２に示すように、リー
ク検出信号Ｓ１をチヤンネルセレクタ部２０において入
力する。このチヤンネルセレクタ部２０は、ＣＰＵ（中
央処理ユニツト）２１からインターフエース２２を介し
て供給される制御信号Ｓ２に基づいてリーク検出信号Ｓ
１を選択的に選択リーク検出信号Ｓ３として順次リーク
デイテクタ部２３に送出する。
査音を放音すると共に、超音波センサ部１０の各超音波
センサ１２が駆動して検査音の周波数を中心周波数とす
る所定帯域の音を順次検出し、検出結果をリーク検出信
号Ｓ１としてそれぞれピンホール検出部１３に送出す
る。ピンホール検出部１３は、図２に示すように、リー
ク検出信号Ｓ１をチヤンネルセレクタ部２０において入
力する。このチヤンネルセレクタ部２０は、ＣＰＵ（中
央処理ユニツト）２１からインターフエース２２を介し
て供給される制御信号Ｓ２に基づいてリーク検出信号Ｓ
１を選択的に選択リーク検出信号Ｓ３として順次リーク
デイテクタ部２３に送出する。
【００２２】リークデイテクタ部２３は、供給される選
択リーク検出信号Ｓ３を増幅、検波及びデイジタル変換
することにより選択リーク検出信号Ｓ３の信号レベルに
応じたdB値（デシベル）をリーク検出信号Ｓ４としてイ
ンターフエース２２を介してＣＰＵ２１に送出する。Ｃ
ＰＵ２１は、リーク検出信号Ｓ４に基づいて得られるdB
値を、予め設定された域値と比較することにより各超音
波センサ１２が所定の音圧レベル以上の音を検出したか
否か（すなわちドラム缶３の周囲壁にピンホールがある
か否か）を判断すると共に、当該判断結果に基づいて合
否判定を行い、これを表示部２４に表示させる。
択リーク検出信号Ｓ３を増幅、検波及びデイジタル変換
することにより選択リーク検出信号Ｓ３の信号レベルに
応じたdB値（デシベル）をリーク検出信号Ｓ４としてイ
ンターフエース２２を介してＣＰＵ２１に送出する。Ｃ
ＰＵ２１は、リーク検出信号Ｓ４に基づいて得られるdB
値を、予め設定された域値と比較することにより各超音
波センサ１２が所定の音圧レベル以上の音を検出したか
否か（すなわちドラム缶３の周囲壁にピンホールがある
か否か）を判断すると共に、当該判断結果に基づいて合
否判定を行い、これを表示部２４に表示させる。
【００２３】この後ピンホール検査装置１では、遮音部
１４、超音波センサ部１０及び発音体５がそれぞれ順次
上昇すると共に、ベルトコンベア２が再び駆動してドラ
ム缶３を続くラインに送り出す。さらにピンホール検査
装置１は、この後同様の動作を順次繰り返す。このよう
にしてピンホール検査装置１は、検査対象のドラム缶３
の周囲壁にピンホールがあるか否かを順次検査するよう
になされている。
１４、超音波センサ部１０及び発音体５がそれぞれ順次
上昇すると共に、ベルトコンベア２が再び駆動してドラ
ム缶３を続くラインに送り出す。さらにピンホール検査
装置１は、この後同様の動作を順次繰り返す。このよう
にしてピンホール検査装置１は、検査対象のドラム缶３
の周囲壁にピンホールがあるか否かを順次検査するよう
になされている。
【００２４】この実施例の場合、ドラム缶載置台４の上
面部にも超音波センサ部１０の各超音波センサ１２と同
様構成の超音波センサ１２が当該ドラム缶載置台４の上
面全面に亘つて所定間隔で配置されており、これらドラ
ム缶載置台４の各超音波センサ１２は超音波センサ部１
０の各超音波センサ１２と同様に駆動して、検出結果を
ピンホール検出部１３のチヤンネルセレクタ部２０に送
出するようになされている。これによりこのピンホール
検査装置１では、ドラム缶載置台４及び超音波センサ部
１０の各超音波センサ１２によつて、ドラム缶３の下側
壁を含む周囲壁全体に亘つて当該ドラム缶３からのリー
ク音を検出し得るようになされている。
面部にも超音波センサ部１０の各超音波センサ１２と同
様構成の超音波センサ１２が当該ドラム缶載置台４の上
面全面に亘つて所定間隔で配置されており、これらドラ
ム缶載置台４の各超音波センサ１２は超音波センサ部１
０の各超音波センサ１２と同様に駆動して、検出結果を
ピンホール検出部１３のチヤンネルセレクタ部２０に送
出するようになされている。これによりこのピンホール
検査装置１では、ドラム缶載置台４及び超音波センサ部
１０の各超音波センサ１２によつて、ドラム缶３の下側
壁を含む周囲壁全体に亘つて当該ドラム缶３からのリー
ク音を検出し得るようになされている。
【００２５】またこの実施例の場合、発音体５はドラム
缶３の内壁面に対して40〔KHz 〕の高音圧の超音波音響
シヤワーを照射するようになされており、このため超音
波センサ１２としては、40〔KHz 〕を中心周波数とする
所定帯域の音を検出し得るものが用いられている。これ
は、例えば筐体やパイプ等に形成されたピンホールなど
から空気漏れが生じた場合、リーク音のうち特に40〔KH
z 〕成分が高い音圧レベルで放音されることが実験によ
り確認されているためであり、従つてこのようなピンホ
ール検査において検査音の中心周波数を40〔KHz 〕に選
定することによつて雑音の多い測定現場でも精度良くピ
ンホール検査を行い得るものと考えられる。また検査音
の中心周波数を40〔KHz 〕に選定することによつて、装
置１全体を形成し易くなる利点もある。
缶３の内壁面に対して40〔KHz 〕の高音圧の超音波音響
シヤワーを照射するようになされており、このため超音
波センサ１２としては、40〔KHz 〕を中心周波数とする
所定帯域の音を検出し得るものが用いられている。これ
は、例えば筐体やパイプ等に形成されたピンホールなど
から空気漏れが生じた場合、リーク音のうち特に40〔KH
z 〕成分が高い音圧レベルで放音されることが実験によ
り確認されているためであり、従つてこのようなピンホ
ール検査において検査音の中心周波数を40〔KHz 〕に選
定することによつて雑音の多い測定現場でも精度良くピ
ンホール検査を行い得るものと考えられる。また検査音
の中心周波数を40〔KHz 〕に選定することによつて、装
置１全体を形成し易くなる利点もある。
【００２６】さらにこの実施例の場合、表示部２４は赤
色、黄色及び緑色の３色のランプで構成されている。こ
のためＣＰＵ２１は、検査対象のドラム缶３を３段階で
評価するようになされており、検査対象のドラム缶３を
出荷できないと判断したとき（すなわちピンホールがあ
ると判断したとき）には表示部２４の赤色のランプを点
灯させ、出荷はできるが危険であると判断したとき（す
なわちピンホールの有無が確定できないとき）には黄色
のランプを点灯させ、出荷できると判断したとき（すな
わちピンホールがないと判断したとき）には表示部２４
の緑色のランプを点灯させるようになされている。
色、黄色及び緑色の３色のランプで構成されている。こ
のためＣＰＵ２１は、検査対象のドラム缶３を３段階で
評価するようになされており、検査対象のドラム缶３を
出荷できないと判断したとき（すなわちピンホールがあ
ると判断したとき）には表示部２４の赤色のランプを点
灯させ、出荷はできるが危険であると判断したとき（す
なわちピンホールの有無が確定できないとき）には黄色
のランプを点灯させ、出荷できると判断したとき（すな
わちピンホールがないと判断したとき）には表示部２４
の緑色のランプを点灯させるようになされている。
【００２７】従つてこのピンホール検査装置１では、作
業者が表示部２４の各ランプの点滅状態に応じて検査対
象のドラム缶３の良不良が判断し得るようになされてお
り、かくして実際の作業では赤色のランプが点灯したド
ラム缶を作業者がライン上から取り除くことでピンホー
ルを有するドラム缶３が出荷されるのを防止することが
できる。
業者が表示部２４の各ランプの点滅状態に応じて検査対
象のドラム缶３の良不良が判断し得るようになされてお
り、かくして実際の作業では赤色のランプが点灯したド
ラム缶を作業者がライン上から取り除くことでピンホー
ルを有するドラム缶３が出荷されるのを防止することが
できる。
【００２８】さらに上述の実施例の場合、ピンホール検
出部１３は、図２に示すように、システム電源部６０か
ら与えられる所定電圧の駆動信号Ｓ１０に基づいて駆動
するようになされており、当該システム電源部は所定電
圧の駆動信号Ｓ１１を発音体電気部４１に送出すること
により当該発音体駆動部電気部４１を介して発音体５に
駆動電圧を供給するようになされている。
出部１３は、図２に示すように、システム電源部６０か
ら与えられる所定電圧の駆動信号Ｓ１０に基づいて駆動
するようになされており、当該システム電源部は所定電
圧の駆動信号Ｓ１１を発音体電気部４１に送出すること
により当該発音体駆動部電気部４１を介して発音体５に
駆動電圧を供給するようになされている。
【００２９】以上の構成において、このピンホール検査
装置１では、ベルトコンベア２により検査位置にまで搬
送されてきた検査対象のドラム缶３の内部に発音体５を
配置し、当該発音体５に所定周波数（40〔kHz 〕）の検
査音を放音させると共に、当該ドラム缶３からリークす
る検査音をドラム缶３外部に複数配置された各超音波セ
ンサ１２によつて検出し、これら各超音波センサ１２の
出力に基づいてピンホール検出部１３においてドラム缶
３の周囲壁にピンホールがあるか否かを検出する。この
場合、実験によれば、缶体内部に配置された所定の音源
から放音された音は、缶体特有の内部形状に起因して拡
散音場効果により音源の位置によらずに缶体内部に均一
に広がることが確認されている。
装置１では、ベルトコンベア２により検査位置にまで搬
送されてきた検査対象のドラム缶３の内部に発音体５を
配置し、当該発音体５に所定周波数（40〔kHz 〕）の検
査音を放音させると共に、当該ドラム缶３からリークす
る検査音をドラム缶３外部に複数配置された各超音波セ
ンサ１２によつて検出し、これら各超音波センサ１２の
出力に基づいてピンホール検出部１３においてドラム缶
３の周囲壁にピンホールがあるか否かを検出する。この
場合、実験によれば、缶体内部に配置された所定の音源
から放音された音は、缶体特有の内部形状に起因して拡
散音場効果により音源の位置によらずに缶体内部に均一
に広がることが確認されている。
【００３０】従つてこのようなドラム缶３からの音漏れ
を利用したピンホール検査によれば、ドラム缶３の周囲
壁にピンホールがある場合には発音体５からの距離によ
らずに当該ピンホールからほぼ均一の音圧レベルで検査
音が外部にリークするため、ドラム缶３の周囲に配置さ
れた各超音波センサ１２から出力されるリーク検出信号
Ｓ１の信号レベルが所定レベル以上か否か（各超音波セ
ンサが検出した音が所定の音圧レベルか否か）を検出す
るだけで、検査対象のドラム缶３の周囲壁にピンホール
が有るか否かを容易かつ正確にすばやく検査することが
できる。
を利用したピンホール検査によれば、ドラム缶３の周囲
壁にピンホールがある場合には発音体５からの距離によ
らずに当該ピンホールからほぼ均一の音圧レベルで検査
音が外部にリークするため、ドラム缶３の周囲に配置さ
れた各超音波センサ１２から出力されるリーク検出信号
Ｓ１の信号レベルが所定レベル以上か否か（各超音波セ
ンサが検出した音が所定の音圧レベルか否か）を検出す
るだけで、検査対象のドラム缶３の周囲壁にピンホール
が有るか否かを容易かつ正確にすばやく検査することが
できる。
【００３１】以上の構成によれば、検査対象のドラム缶
３の内部に発音体５を配置し、当該発音体５に所定周波
数（40〔kHz 〕）の検査音を放音させると共に、当該ド
ラム缶３からリークする検査音をドラム缶３外部に複数
配置された各超音波センサ１２によつて検出し、これら
各超音波センサ１２の出力に基づいてピンホール検出部
２４においてドラム缶３からの検査音のリークの有無を
検出するようにしてピンホールの有無を検出するように
したことにより、容易かつ正確にすばやくピンホール検
査を行うことができ、かくしてピンホールの有無を効率
良く、かつ正確に検査し得るピンホール検査装置を実現
できる。
３の内部に発音体５を配置し、当該発音体５に所定周波
数（40〔kHz 〕）の検査音を放音させると共に、当該ド
ラム缶３からリークする検査音をドラム缶３外部に複数
配置された各超音波センサ１２によつて検出し、これら
各超音波センサ１２の出力に基づいてピンホール検出部
２４においてドラム缶３からの検査音のリークの有無を
検出するようにしてピンホールの有無を検出するように
したことにより、容易かつ正確にすばやくピンホール検
査を行うことができ、かくしてピンホールの有無を効率
良く、かつ正確に検査し得るピンホール検査装置を実現
できる。
【００３２】またこのピンホール検査装置１では、ドラ
ム缶３のピンホール検査を超音波を用いて行うため、ド
ラム缶３自体に悪影響を与えず、また作業環境にも悪影
響を与えずに検査を行うことができる。
ム缶３のピンホール検査を超音波を用いて行うため、ド
ラム缶３自体に悪影響を与えず、また作業環境にも悪影
響を与えずに検査を行うことができる。
【００３３】さらにこのピンホール検査装置１を用いた
ピンホール検査方法によれば、加圧式及び水没式のピン
ホール検査と比較して検査時間を短縮させることができ
ると共に、ガス式、サーマル式及び光学式と比較してラ
ンニングコストを安価にすることができ、かつ装置１の
取扱いが簡易なため、特別の訓練を必要とせずに行うこ
とができる。
ピンホール検査方法によれば、加圧式及び水没式のピン
ホール検査と比較して検査時間を短縮させることができ
ると共に、ガス式、サーマル式及び光学式と比較してラ
ンニングコストを安価にすることができ、かつ装置１の
取扱いが簡易なため、特別の訓練を必要とせずに行うこ
とができる。
【００３４】さらにこのピンホール検査法によれば、ド
ラム缶３からのリーク音の音圧レベルが当該ドラム缶３
の周囲壁の厚みによつても変化するものと考えられるこ
とにより、当該リーク音の音圧レベルに基づいてドラム
缶３の周囲壁の疲労具合（例えばピンホールが開かない
までにしても腐食等により周囲壁が薄くなつているとき
のような腐食具合等）を検出することもできる。
ラム缶３からのリーク音の音圧レベルが当該ドラム缶３
の周囲壁の厚みによつても変化するものと考えられるこ
とにより、当該リーク音の音圧レベルに基づいてドラム
缶３の周囲壁の疲労具合（例えばピンホールが開かない
までにしても腐食等により周囲壁が薄くなつているとき
のような腐食具合等）を検出することもできる。
【００３５】なお上述の実施例においては、発音体５と
して、棒状に形成された長手方向の一端側及び他端側に
それぞれスピーカが収納されることにより形成されたも
のを適用するようにした場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、例えば図３のように形成されたものを
用いるようにしても良く、この他種々の構成の発音体を
適用するようにしても良い。因に図３の発音体３０は、
１２面体状に形成されたケース３１の各面３１Ａにそれ
ぞれ配設された各振動子３２が、ケース３１内部の独立
した発信器（図示せず）からそれぞれ与えられる発信信
号に基づいて、それぞれ独立に振動することにより所定
周波数の検査音を放音し得るようになされている。
して、棒状に形成された長手方向の一端側及び他端側に
それぞれスピーカが収納されることにより形成されたも
のを適用するようにした場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、例えば図３のように形成されたものを
用いるようにしても良く、この他種々の構成の発音体を
適用するようにしても良い。因に図３の発音体３０は、
１２面体状に形成されたケース３１の各面３１Ａにそれ
ぞれ配設された各振動子３２が、ケース３１内部の独立
した発信器（図示せず）からそれぞれ与えられる発信信
号に基づいて、それぞれ独立に振動することにより所定
周波数の検査音を放音し得るようになされている。
【００３６】また上述の実施例においては、発音体５が
放音する検査音の中心周波数を40〔KHz 〕に選定するよ
うにした場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、この他の周波数に選定するようにしても良い。
放音する検査音の中心周波数を40〔KHz 〕に選定するよ
うにした場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、この他の周波数に選定するようにしても良い。
【００３７】さらに上述の実施例においては、超音波セ
ンサ部１０の各超音波センサ１２を網状のアレー１１に
よつて、ドラム缶３の下面を除く表面全面を取り囲み得
るように、かつ各超音波センサ１２の受感軸がそれぞれ
アレー１１の中心軸方向を向くように一体に保持するよ
うにした場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、各超音波センサ１２の保持手段、保持方法及び配置
状態としてはこの他種々の保持手段、保持方法及び配置
状態を適用できる。
ンサ部１０の各超音波センサ１２を網状のアレー１１に
よつて、ドラム缶３の下面を除く表面全面を取り囲み得
るように、かつ各超音波センサ１２の受感軸がそれぞれ
アレー１１の中心軸方向を向くように一体に保持するよ
うにした場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、各超音波センサ１２の保持手段、保持方法及び配置
状態としてはこの他種々の保持手段、保持方法及び配置
状態を適用できる。
【００３８】さらに上述の実施例においては、本発明を
ドラム缶３のピンホールの有無を検査するピンホール検
査装置１に適用するようにした場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、要は、缶体の周囲壁にピンホー
ルがあるか否かを検査するピンホール検査装置であるの
ならば、この他種々のピンホール検査装置に適用するこ
とができる。
ドラム缶３のピンホールの有無を検査するピンホール検
査装置１に適用するようにした場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、要は、缶体の周囲壁にピンホー
ルがあるか否かを検査するピンホール検査装置であるの
ならば、この他種々のピンホール検査装置に適用するこ
とができる。
【００３９】さらに上述の実施例においては、ＣＰＵ２
１によるドラム缶の合否判定結果の表示を、表示部２４
の赤ランプ、青ランプ及び黄色ランプで表示するように
した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、表
示部２４の構成及びＣＰＵ２１による合否判定結果の当
該表示部２４における表示方法としては、この他種々の
ものを適用できる。
１によるドラム缶の合否判定結果の表示を、表示部２４
の赤ランプ、青ランプ及び黄色ランプで表示するように
した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、表
示部２４の構成及びＣＰＵ２１による合否判定結果の当
該表示部２４における表示方法としては、この他種々の
ものを適用できる。
【００４０】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、検査対象
の缶体内部に、所定周波数の検査音を放音することによ
り拡散音響効果によつて缶体内部に均一な音圧レベルの
音場を形成し、缶体内部からリークする検査音を検出
し、検出結果に基づいて缶体の周囲壁にピンホールがあ
るか否かを検出するようにしたことにより、容易かつ正
確にすばやくピンホール検査を行うことができ、かくし
てピンホールの有無を効率良く、かつ正確に検査し得る
ピンホール検査装置及びピンホール検査方法を実現でき
る。
の缶体内部に、所定周波数の検査音を放音することによ
り拡散音響効果によつて缶体内部に均一な音圧レベルの
音場を形成し、缶体内部からリークする検査音を検出
し、検出結果に基づいて缶体の周囲壁にピンホールがあ
るか否かを検出するようにしたことにより、容易かつ正
確にすばやくピンホール検査を行うことができ、かくし
てピンホールの有無を効率良く、かつ正確に検査し得る
ピンホール検査装置及びピンホール検査方法を実現でき
る。
【図１】実施例によるピンホール検出装置の構成を示す
略線的な斜視図である。
略線的な斜視図である。
【図２】ピンホール検出部の構成を示すブロツク図であ
る。
る。
【図３】他の実施例を示す斜視図である。
１……ピンホール検査装置、３……缶体（ドラム缶）、
５……発音体、１０……リーク音検出手段（超音波セン
サ部）、１２……超音波センサ、１３……ピンホール検
出手段（ピンホール検出部）、Ｓ１……出力（リーク検
出信号）。
５……発音体、１０……リーク音検出手段（超音波セン
サ部）、１２……超音波センサ、１３……ピンホール検
出手段（ピンホール検出部）、Ｓ１……出力（リーク検
出信号）。
Claims (6)
- 【請求項１】缶体の周囲壁にピンホールがあるか否かを
検査するピンホール検査装置において、 上記検査時に上記缶体内部に配置され、所定周波数の検
査音を放音することにより上記缶体内部に均一な音圧レ
ベルの音場を形成する音源と、 上記缶体内部からリークする上記検査音を検出するリー
ク音検出手段と、 上記リーク音検出手段の出力に基づいて上記缶体の上記
周囲壁にピンホールがあるか否かを検出するピンホール
検出手段とを具えることを特徴とするピンホール検査装
置。 - 【請求項２】上記音源は、上記缶体内部の拡散音響効果
により上記缶体内部に均一な音圧レベルの上記音場を形
成することを特徴とする請求項１に記載のピンホール検
査装置。 - 【請求項３】上記検査音は、40〔kHz 〕の超音波でなる
ことを特徴とする請求項１に記載のピンホール検査装
置。 - 【請求項４】上記リーク音検出手段は、 上記缶体の周囲壁を全面に亘つて取り囲むように配置さ
れた、それぞれ上記検査音の周波数を中心周波数とした
所定帯域の音を検出する単数又は複数の超音波センサで
なることを特徴とする請求項１に記載のピンホール検査
装置。 - 【請求項５】缶体の周囲壁にピンホールがあるか否かを
検査するピンホール検査方法において、 上記缶体内部に、所定周波数の検査音を放音することに
より拡散音響効果によつて上記缶体内部に均一な音圧レ
ベルの音場を形成し、 上記缶体内部からリークする上記検査音を検出し、 上記検出結果に基づいて上記缶体の上記周囲壁にピンホ
ールがあるか否かを検出することを特徴とするピンホー
ル検査方法。 - 【請求項６】上記検査音は、40〔kHz 〕の超音波でなる
ことを特徴とする請求項５に記載のピンホール検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6270414A JPH08110329A (ja) | 1994-10-07 | 1994-10-07 | ピンホール検査装置及びピンホール検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6270414A JPH08110329A (ja) | 1994-10-07 | 1994-10-07 | ピンホール検査装置及びピンホール検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08110329A true JPH08110329A (ja) | 1996-04-30 |
Family
ID=17485939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6270414A Pending JPH08110329A (ja) | 1994-10-07 | 1994-10-07 | ピンホール検査装置及びピンホール検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08110329A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002350409A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-04 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 打撃点検装置 |
| WO2006035786A1 (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | The University Of Tokyo | 面状素子モジュールおよびその製造方法並びに面状素子装置 |
| US7287637B2 (en) | 2004-12-27 | 2007-10-30 | Kyle Campbell | Conveyor system for minimizing product damage during collection |
| JP2012112713A (ja) * | 2010-11-22 | 2012-06-14 | Yamaha Corp | 検査装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04125440A (ja) * | 1990-09-17 | 1992-04-24 | Nippon Intaatec Kk | 漏れ孔検出装置 |
-
1994
- 1994-10-07 JP JP6270414A patent/JPH08110329A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04125440A (ja) * | 1990-09-17 | 1992-04-24 | Nippon Intaatec Kk | 漏れ孔検出装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002350409A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-04 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 打撃点検装置 |
| WO2006035786A1 (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | The University Of Tokyo | 面状素子モジュールおよびその製造方法並びに面状素子装置 |
| JP2006090983A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Univ Of Tokyo | 面状素子モジュールおよびその製造方法並びに面状素子装置 |
| US7287637B2 (en) | 2004-12-27 | 2007-10-30 | Kyle Campbell | Conveyor system for minimizing product damage during collection |
| JP2012112713A (ja) * | 2010-11-22 | 2012-06-14 | Yamaha Corp | 検査装置 |
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