JPH0810304B2 - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
- Publication number
- JPH0810304B2 JPH0810304B2 JP30938890A JP30938890A JPH0810304B2 JP H0810304 B2 JPH0810304 B2 JP H0810304B2 JP 30938890 A JP30938890 A JP 30938890A JP 30938890 A JP30938890 A JP 30938890A JP H0810304 B2 JPH0810304 B2 JP H0810304B2
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- JP
- Japan
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- input signal
- signal supply
- liquid crystal
- wiring
- supply wiring
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- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、薄膜トランジスタをスイッチング素子とし
てもちいたアクティブマトリクス型液晶表示装置に関す
るものである。
てもちいたアクティブマトリクス型液晶表示装置に関す
るものである。
従来の技術 近年、微細加工技術、液晶材料および実装技術の進歩
により、１〜５インチ程度の小型サイズではあるが良好
なテレビ画像を得られる液晶表示装置が商業ベースで生
産されるようになってきている。
により、１〜５インチ程度の小型サイズではあるが良好
なテレビ画像を得られる液晶表示装置が商業ベースで生
産されるようになってきている。
このような液晶表示装置は、スイッチング素子を備え
た画像表示部に走査信号とデータ信号を供給するため、
外部から駆動用ICを接続する必要があるが、その接続方
法は次の２つが主流である。その１つは、液晶表示装置
を構成する一方の基板上に形成された走査信号線の端子
群およびデータ信号線の端子群に、たとえばポリイミド
樹脂薄膜ベースに銅薄膜線を多数形成した接続フィルム
を導電性接着剤などで圧接して外部の駆動用ICからの信
号を供給するいわゆるフィルムキャリア方式であり、も
う１つは、液晶表示装置を構成する一方の基板上の画像
表示部周辺に形成した実装端子に何らかの方法で直接駆
動用ICを実装するCOG（チップ・オン・グラス）方式で
ある。
た画像表示部に走査信号とデータ信号を供給するため、
外部から駆動用ICを接続する必要があるが、その接続方
法は次の２つが主流である。その１つは、液晶表示装置
を構成する一方の基板上に形成された走査信号線の端子
群およびデータ信号線の端子群に、たとえばポリイミド
樹脂薄膜ベースに銅薄膜線を多数形成した接続フィルム
を導電性接着剤などで圧接して外部の駆動用ICからの信
号を供給するいわゆるフィルムキャリア方式であり、も
う１つは、液晶表示装置を構成する一方の基板上の画像
表示部周辺に形成した実装端子に何らかの方法で直接駆
動用ICを実装するCOG（チップ・オン・グラス）方式で
ある。
現在販売されている液晶テレビジョンのほとんどは前
者のフィルムキャリア方式を採用したものであるが、ビ
デオカメラのビューファインダーなどに使われる１イン
チ程度の超小型液晶パネルなどでは、省スペースのため
に後者のCOG方式が採用されることが増えてきている。
者のフィルムキャリア方式を採用したものであるが、ビ
デオカメラのビューファインダーなどに使われる１イン
チ程度の超小型液晶パネルなどでは、省スペースのため
に後者のCOG方式が採用されることが増えてきている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記のCOG実装方式を採用した場合、
第２図に示すように、液晶表示装置を構成する一方の基
板12の画像表示部13周辺部には外部信号供給端子群14、
駆動用IC15をCOG実装するたの入力信号供給用実装端子
群16と出力信号供給用実装端子群17、画像表示部13に駆
動用IC15からの走査信号を供給する走査配線群18とデー
タ信号を供給するデータ配線群19、ICに各種入力信号を
伝達するための第１のIC入力信号供給配線20、第１のIC
入力信号供給配線20と入力信号供給用実装端子群16を接
続する第２のIC入力信号供給配線21を配置する必要があ
る。この場合配線20と配線21は、多数の交差点22を生ず
ることになり、これら交差配線間にある層間絶縁層が静
電破壊などによって何らかの欠陥が発生すると、交差配
線間の短絡不良や断線不良を引き起こし、たとえ画像表
示部13が完全無欠陥の基板であっても不良品として廃棄
せざるをえないという問題を有していた。
第２図に示すように、液晶表示装置を構成する一方の基
板12の画像表示部13周辺部には外部信号供給端子群14、
駆動用IC15をCOG実装するたの入力信号供給用実装端子
群16と出力信号供給用実装端子群17、画像表示部13に駆
動用IC15からの走査信号を供給する走査配線群18とデー
タ信号を供給するデータ配線群19、ICに各種入力信号を
伝達するための第１のIC入力信号供給配線20、第１のIC
入力信号供給配線20と入力信号供給用実装端子群16を接
続する第２のIC入力信号供給配線21を配置する必要があ
る。この場合配線20と配線21は、多数の交差点22を生ず
ることになり、これら交差配線間にある層間絶縁層が静
電破壊などによって何らかの欠陥が発生すると、交差配
線間の短絡不良や断線不良を引き起こし、たとえ画像表
示部13が完全無欠陥の基板であっても不良品として廃棄
せざるをえないという問題を有していた。
課題を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明の液晶表示装置
は、第２のIC入力信号供給配線と実装端子を第１のIC入
力信号供給配線１本に対して複数本形成することによ
り、交差配線部における諸不良に対する冗長性を持たせ
たものである。
は、第２のIC入力信号供給配線と実装端子を第１のIC入
力信号供給配線１本に対して複数本形成することによ
り、交差配線部における諸不良に対する冗長性を持たせ
たものである。
作用 本発明は上記した構成によって、第２のIC入力信号供
給配線と第１のIC入力信号配線の間に欠陥が発生して
も、短絡不良の場合は第２のIC入力信号供給配線のうち
の１本をレーザー光線により切断することでリペアが可
能となり、また断線不良の場合、切断によるリペアの必
要なしに配線の信頼性を確保することが可能になる。
給配線と第１のIC入力信号配線の間に欠陥が発生して
も、短絡不良の場合は第２のIC入力信号供給配線のうち
の１本をレーザー光線により切断することでリペアが可
能となり、また断線不良の場合、切断によるリペアの必
要なしに配線の信頼性を確保することが可能になる。
実施例 以下本発明の一実施例の液晶表示装置について、図面
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
第１図（ａ）は本発明の一実施例における液晶表示装
置の周辺駆動用IC実装部の概略平面図、第１図（ｂ）は
第１図（ａ）のＡ−Ａ′での断面図である。
置の周辺駆動用IC実装部の概略平面図、第１図（ｂ）は
第１図（ａ）のＡ−Ａ′での断面図である。
第１図（ａ）（ｂ）において、1a,1b,1cは第１の導電
性薄膜による第１のIC入力信号供給配線、2a,2b,2c,2d
は第２の導電性薄膜による第２のIC入力信号供給配線、
３はIC出力信号用実装端子群、4a,4b,4c,4dはIC入力信
号用実装端子、5a,5b,5cは第１のIC入力信号供給配線1
a,1b,1cに対する検査端子、６は第１のIC入力信号供給
配線1a,1b,1cと第２のIC入力信号供給配線2a,2b,2c,2d
を接続するコンタクトホール、７は第２のIC入力信号供
給配線2a,2b,2c,2dとIC入力信号用実装端子4a,4b,4c,4d
を接続するコンタクトホール、８はガラス基板、９は層
間絶縁膜である。ここで、配線1a,1b,1cと実装端子4a,4
b,4c,4dは基板上最上層の導電性薄膜で形成されてガラ
ス基板８の表面に露出しており、配線2a,2b,2c,2dは層
間絶縁膜９によって配線1a,1b,1cの導電性薄膜層との絶
縁を保ちつつ配線1a,1b,1cより下層にある導電性薄膜で
形成され、電気的な接続が必要な部分では層間絶縁層９
にあけたコンタクトホール6,7によって接続している。
性薄膜による第１のIC入力信号供給配線、2a,2b,2c,2d
は第２の導電性薄膜による第２のIC入力信号供給配線、
３はIC出力信号用実装端子群、4a,4b,4c,4dはIC入力信
号用実装端子、5a,5b,5cは第１のIC入力信号供給配線1
a,1b,1cに対する検査端子、６は第１のIC入力信号供給
配線1a,1b,1cと第２のIC入力信号供給配線2a,2b,2c,2d
を接続するコンタクトホール、７は第２のIC入力信号供
給配線2a,2b,2c,2dとIC入力信号用実装端子4a,4b,4c,4d
を接続するコンタクトホール、８はガラス基板、９は層
間絶縁膜である。ここで、配線1a,1b,1cと実装端子4a,4
b,4c,4dは基板上最上層の導電性薄膜で形成されてガラ
ス基板８の表面に露出しており、配線2a,2b,2c,2dは層
間絶縁膜９によって配線1a,1b,1cの導電性薄膜層との絶
縁を保ちつつ配線1a,1b,1cより下層にある導電性薄膜で
形成され、電気的な接続が必要な部分では層間絶縁層９
にあけたコンタクトホール6,7によって接続している。
また、第２のIC入力信号供給配線2a,2b,2c,2dと実装
端子4a,4b,4c,4dはそれぞれの第１のIC入力信号配線1a,
1b,1cに対して、対で並設されている。
端子4a,4b,4c,4dはそれぞれの第１のIC入力信号配線1a,
1b,1cに対して、対で並設されている。
ここでまず、ICをCOG実装する前段階の工程におい
て、実装端子4a,4b,4c,4dと検査端子5a,5b,5cにそれぞ
れ独立した検査針を直接あてリーク電流を測定するなど
の方法でショート・オープン検査を行う。たとえば一定
の直流電圧を印加し端子間に流れる電流値を測定すれば
よい。たとえば端子4cと端子5b間にリーク電流が検出さ
れたならば、配線1bと配線2cの交差部10の層間絶縁膜欠
陥や破壊による短絡不良を生じているので、配線2cの配
線1bの両側の11の部分をレーザー光線などで切断し分離
してしまえばよい。したがって、同時に配線2dが断線ま
たは他の配線との短絡不良を起こしていない限り良品と
なる。また逆に配線2cが断線しているとき、すなわち、
端子5aと端子4c間に電流が流れない場合にも同時に配線
2dが断線または他の配線との短絡不良を起こしていない
限り良品となる。その他ICと実装端子間に接触不良が生
じても対になった一方の実装端子で十分な接触が保たれ
ていれば性能上の問題は起こらない。
て、実装端子4a,4b,4c,4dと検査端子5a,5b,5cにそれぞ
れ独立した検査針を直接あてリーク電流を測定するなど
の方法でショート・オープン検査を行う。たとえば一定
の直流電圧を印加し端子間に流れる電流値を測定すれば
よい。たとえば端子4cと端子5b間にリーク電流が検出さ
れたならば、配線1bと配線2cの交差部10の層間絶縁膜欠
陥や破壊による短絡不良を生じているので、配線2cの配
線1bの両側の11の部分をレーザー光線などで切断し分離
してしまえばよい。したがって、同時に配線2dが断線ま
たは他の配線との短絡不良を起こしていない限り良品と
なる。また逆に配線2cが断線しているとき、すなわち、
端子5aと端子4c間に電流が流れない場合にも同時に配線
2dが断線または他の配線との短絡不良を起こしていない
限り良品となる。その他ICと実装端子間に接触不良が生
じても対になった一方の実装端子で十分な接触が保たれ
ていれば性能上の問題は起こらない。
発明の効果 以上のように、本発明によれば、一対の透明基板内に
液晶物質が封入され、前記基板の一方の基板上には、複
数本の走査配線および信号配線と、マトリクス状に配列
されて前記配線にそれぞれ接続された液晶駆動用スイッ
チング素子からなる画像表示部と、前記スイッチング素
子を駆動する駆動用ICを前記基板上に実装せしめる実装
端子と、第１の導電性薄膜による第１のIC入力信号供給
配線および前記実装端子を前記第１のIC入力信号供給配
線に接続する第２の導電性薄膜による第２のIC入力信号
供給配線とが配設されてなる液晶表示装置において、前
記実装端子および前記第２のIC入力信号供給配線をこの
第１のIC入力信号供給配線１本に対し複数並設したこと
により、第２のIC入力信号供給配線の断線不良に対する
信頼性の向上と短絡不良時のリペア対応が可能となる。
液晶物質が封入され、前記基板の一方の基板上には、複
数本の走査配線および信号配線と、マトリクス状に配列
されて前記配線にそれぞれ接続された液晶駆動用スイッ
チング素子からなる画像表示部と、前記スイッチング素
子を駆動する駆動用ICを前記基板上に実装せしめる実装
端子と、第１の導電性薄膜による第１のIC入力信号供給
配線および前記実装端子を前記第１のIC入力信号供給配
線に接続する第２の導電性薄膜による第２のIC入力信号
供給配線とが配設されてなる液晶表示装置において、前
記実装端子および前記第２のIC入力信号供給配線をこの
第１のIC入力信号供給配線１本に対し複数並設したこと
により、第２のIC入力信号供給配線の断線不良に対する
信頼性の向上と短絡不良時のリペア対応が可能となる。
第１図（ａ）は本発明の一実施例の液晶表示装置におけ
る周辺駆動用IC実装部の概略平面図、第１図（ｂ）は第
１図（ａ）におけるＡ−Ａ′断面図、第２図はCOG実装
方式を採用した液晶表示装置の構成を説明する概略平面
図である。 1a〜1c……第１のIC入力信号供給配線、2a〜2d……第２
のIC入力信号供給配線、３……IC出力信号用実装端子
群、4a〜4d……IC入力信号用実装端子、5a〜5c……第１
のIC入力信号供給配線に対する検査端子、6,7……コン
タクトホール、８……ガラス基板、９……層間絶縁膜、
10……交差部、11……切断部、12……液晶表示装置を構
成する一方の基板、13……画像表示部、14……外部信号
供給端子群、15……駆動用IC、16……入力信号供給用実
装端子群、17……出力信号供給用実装端子群、18……走
査配線群、19……データ配線群、20……第１のIC入力信
号供給配線、21……第２のIC入力信号供給配線。
る周辺駆動用IC実装部の概略平面図、第１図（ｂ）は第
１図（ａ）におけるＡ−Ａ′断面図、第２図はCOG実装
方式を採用した液晶表示装置の構成を説明する概略平面
図である。 1a〜1c……第１のIC入力信号供給配線、2a〜2d……第２
のIC入力信号供給配線、３……IC出力信号用実装端子
群、4a〜4d……IC入力信号用実装端子、5a〜5c……第１
のIC入力信号供給配線に対する検査端子、6,7……コン
タクトホール、８……ガラス基板、９……層間絶縁膜、
10……交差部、11……切断部、12……液晶表示装置を構
成する一方の基板、13……画像表示部、14……外部信号
供給端子群、15……駆動用IC、16……入力信号供給用実
装端子群、17……出力信号供給用実装端子群、18……走
査配線群、19……データ配線群、20……第１のIC入力信
号供給配線、21……第２のIC入力信号供給配線。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｌ 29/786
Claims (1)
- 【請求項１】一対の透明基板内に液晶物質が封入され、
前記基板の一方の基板上には、複数本の走査配線および
データ配線と、マトリクス状に配列されて前記配線にそ
れぞれ接続された液晶駆動用スイッチング素子からなる
画像表示部と、前記スイッチング素子を駆動する駆動用
ICを前記基板上に実装せしめる実装端子と、第１の導電
性薄膜による第１のIC入力信号供給配線および前記実装
端子を前記第１のIC入力信号供給配線に接続する第２の
導電性薄膜による第２のIC入力信号供給配線とが配設さ
れてなる液晶表示装置であって、 前記実装端子および前記第２のIC入力信号供給配線をこ
の第１のIC入力信号供給配線１本に対して複数並設した
ことを特徴とする液晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30938890A JPH0810304B2 (ja) | 1990-11-14 | 1990-11-14 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30938890A JPH0810304B2 (ja) | 1990-11-14 | 1990-11-14 | 液晶表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04179926A JPH04179926A (ja) | 1992-06-26 |
| JPH0810304B2 true JPH0810304B2 (ja) | 1996-01-31 |
Family
ID=17992412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30938890A Expired - Fee Related JPH0810304B2 (ja) | 1990-11-14 | 1990-11-14 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0810304B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3083642B2 (ja) * | 1992-06-05 | 2000-09-04 | シャープ株式会社 | 被検査表示パネルの端子と検査装置の導電体との接続構造 |
| USRE41873E1 (en) | 1997-05-12 | 2010-10-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| US6734925B1 (en) | 1998-12-07 | 2004-05-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| US8310262B2 (en) | 1997-12-05 | 2012-11-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
-
1990
- 1990-11-14 JP JP30938890A patent/JPH0810304B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04179926A (ja) | 1992-06-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |