JPH0794871A - 多層配線板の製造法 - Google Patents

多層配線板の製造法

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JPH0794871A
JPH0794871A JP5239793A JP23979393A JPH0794871A JP H0794871 A JPH0794871 A JP H0794871A JP 5239793 A JP5239793 A JP 5239793A JP 23979393 A JP23979393 A JP 23979393A JP H0794871 A JPH0794871 A JP H0794871A
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JP
Japan
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copper
wiring
copper foil
inner layer
wiring board
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Pending
Application number
JP5239793A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Tsuyama
宏一 津山
Shuichi Hatakeyama
修一 畠山
Masao Sugano
雅雄 菅野
Akishi Nakaso
昭士 中祖
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Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】効率的にIVH接続を行うことと、高密度な多
層配線板を製造すること。 【構成】内層配線31を形成し、樹脂層2を介して銅箔
4を内層配線形成物に接着し、内層との配線の接続部に
対応する部分の銅箔4を除去し、銅箔4が除去されて露
出した樹脂層2をスルホン酸類で化学的に除去し、内層
配線31を露出させ、露出した内層配線31及び銅箔4
の表面に銅のエッチング液に抵抗し得る金属72を析出
させ、露出した内層配線31の表面以外の箇所であっ
て、銅箔4の表面に析出させた銅のエッチング液に抵抗
し得る金属72を除去し、銅箔4を除去し、めっきレジ
スト10を形成し、無電解銅めっきによって配線11を
形成し、必要な場合これを繰り返すことにより、より多
層化すること。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高密度な多層配線板の
製造法に関する。
【0002】
【従来の技術】微細な配線が形成できることや、めっき
を形成するために用いたレジストをソルダーレジストと
兼用できることから狭ピッチの端子間のはんだブリッジ
が防げることなどから、無電解銅めっきによって配線を
形成するアディティブ法による配線板の製造法が注目さ
れている。高密度な配線を行うためには、アディティブ
法の場合、絶縁兼接着剤層をスクリーン印刷で形成する
方法や、感光性樹脂を用いる方法によって、配線層を積
み上げ、インタスティッシャルバイアホール(以下、I
VHという。)による層間接続を行う方法がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法では、いず
れの場合も、その後に形成する銅配線との接着力を得る
ために、絶縁兼接着剤層を粗化する必要がある。また、
逆に、絶縁兼接着剤層は、銅配線との適度な接着力が得
られる形状に粗化されることが必要であり、そのような
樹脂が用いられている。このため、絶縁兼接着剤層に用
いることのできる樹脂は、自ずと制限され、樹脂の耐熱
性や電気特性などの改善を妨げていた。
【0004】本発明は、効率的にIVH接続を行う技術
を提供し、高密度な多層配線板を製造することを目的と
するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の多層配線板の製
造法は、図1に示すように、 (A) 内層配線31を形成する工程(図1(a)及び
(b)に示す。) (B) 樹脂層2を介して銅箔4を内層配線形成物に接着す
る工程(図1(c)に示す。 (C) 内層との配線の接続部に対応する部分の銅箔4を除
去する工程(図1(d)に示す。) (D) 銅箔4が除去されて露出した樹脂層2をスルホン酸
類で化学的に除去し、内層配線31を露出させる工程
(図1(e)に示す。) (E) 露出した内層配線31及び銅箔4の表面に銅のエッ
チング液に抵抗し得る金属72を析出させる工程(図1
(g)に示す。) (F) 露出した内層配線31の表面以外の箇所であって、
銅箔4の表面に析出させた銅のエッチング液に抵抗し得
る金属72を除去する工程(図1(h)に示す。) (G) 銅箔4を除去する工程(図1(i)に示す。) (H) めっきレジスト10を形成する工程(図1(k)に
示す。) (I) 無電解銅めっきによって配線11を形成する工程
(図1(l)に示す。) を含むことを特徴とする。
【0006】この方法を用いて、前記工程(B)〜(I)を繰
り返すことにより、より多層化することが可能である。
【0007】工程(B)における樹脂層は、エポキシ樹脂
を主体とする樹脂層であることが好ましく、無電解銅め
っき液に対して、充分な耐薬品性があり、配線板に要求
される電気特性を満たすものであればよい。この様な樹
脂として、例えば、一般の配線板に用いられる積層板用
のエポキシ樹脂やAS3000(日立化成工業株式会社
製、商品名)のようにフィルム状にできるエポキシ樹脂
などがある。樹脂層には、紙や、樹脂の織布や不織布を
含有していてもよい。また、有機フィラを含んでいても
よく、無機フィラを含んでいてもよい。無機フィラを含
む場合は、スルホン酸類で溶解するものや、粒子が細か
く、処理時に脱落するものは特に問題はない。粒子が大
きかったり、量が多く、脱落しにくい場合は、処理時に
超音波処理を行い粒子の脱落を促進するか、一旦水洗
し、超音波洗浄や高圧水洗などを行い、粒子を脱落させ
て、再度、スルホン酸類で処理するなどの工夫が必要で
ある。内層配線形成物への、この様な樹脂を介しての銅
箔の積層接着は、樹脂層を予め銅箔もしくは内層形成物
に塗付後、加熱積層する方法や、接着フィルムを介挿し
て、銅箔を積層接着する方法など公知の方法を用いるこ
とができる。
【0008】工程(D)におけるスルホン酸類としては、
硫酸またはアルキルスルホン酸であることが好ましく、
樹脂の化学的除去に用いるスルホン酸類の温度は、室温
でよいが、加温や冷却によって、樹脂の除去速度をかえ
ることもできる。液の濃度は、溶解に適した濃度を用い
ればよく、樹脂の種類や温度などによってかわる。配線
板用途に用いられる一般的なエポキシ樹脂の場合、90
%以上の濃硫酸が、樹脂の除去速度、コストの点から特
に適している。樹脂の種類によって、膨潤や溶解した樹
脂の残渣が内層銅表面などに付着する場合がある。この
場合には、高圧水洗や超音波洗浄、ホーニング等の機械
的な除去、もしくは、アルカリ過マンガン酸、クロム酸
等による化学的な除去を行うことが好ましい。従来のス
ルーホール接続と併用する場合、スルーホール銅と内層
との接続部のスミアを除去するためのデスミア処理によ
って、同時にIVH部分の樹脂残差を除去してもよい。
このあと、銅表面に銅のエッチング液に抵抗性のある金
属を析出させる。例えば、ニッケルの無電解めっきを行
う方法がある。この金属を、穴内を除いて、除去する。
除去する方法としては、表面研磨、電解エッチングや、
予め、外層銅箔を、ピーラブルな銅支持層付き銅箔を用
いておき、不用な金属とともに、支持銅箔を除去するな
ど、公知の方法を用いることができる。電解エッチング
する方法は、必要な部分の金属を残し、表面の不用な金
属のみを選択的にエッチングできるので、特に望まし
い。このあと、エッチングによって表面部の銅箔のみを
除去する。穴内の銅の保護に用いた金属は、目的に応じ
て除去してもよいし、残してもよい。次に、無電解銅め
っきに対するレジストを形成し、厚付けの無電解銅めっ
きによって配線を形成し、目的とする多層配線板が得ら
れる。なお、無電解銅めっきを析出させるための触媒付
与は、レジスト形成前に、公知のパラジウム系の触媒付
与処理液に浸漬する方法や、予め、基材樹脂などに触媒
を含有させておく方法などがある。
【0009】工程(B)において、内層配線形成物に樹脂
層を介して接着する銅箔は、すでに示したように、接着
後除去するものである。この目的は、樹脂層に、銅箔の
形状を転写し、その後の無電解銅めっきとの接着力向上
を目指すものであり、銅箔との接着面は、接着強度向上
のための処理、例えば、銅張り積層板用の銅箔の粗面化
処理、などがなされている必要がある。さらに、酸化銅
処理や、もしくは、酸化銅処理と還元処理がなされてい
ると、接着強度をより改善できる。
【0010】
【作用】本発明は、銅箔を、形状の転写と、IVH接続
用の穴を設けるためのレジストとに用い、スルホン酸類
が、樹脂の除去速度の速いことを見いだして、これらを
組合わせて行ったものである。なお、スルホン酸類の場
合、樹脂を溶解(分解)もしくは膨潤によって、除去す
ることができるものである。また、樹脂の残渣を除去す
るために、後工程で高圧水洗やホーニングなどの機械的
な除去工程、もしくは、過マンガン酸やクロム酸等によ
る化学的な除去を行うことが好ましい。
【0011】
【実施例】図1に、本発明の一実施例の工程図を示す。
この実施例は、スルーホールとIVHとを有する場合の
実施例であるが、これらの図によって本発明を制限する
ものではない。 ・工程(A);図1(a)に示すように、銅箔1と基材2
1からなる銅張り積層板MCL−E−67(日立化成工
業株式会社製、商品名)の不要な銅箔1をエッチング除
去し、図1(b)に示すように、内層配線31を形成す
る。 ・工程(B);図1(c)に示すように、樹脂層2とし
て、フィルム状エポキシ樹脂であるAS3000(日立
化成工業株式会社製、商品名)と、銅箔4とを内層配線
31に重ね、加熱・加圧して接着する。 ・工程(C);図1(d)に示すように、銅箔4の表面
に、エッチングレジストを内層との配線の接続部に対応
する部分に形成し、その箇所の銅箔4をエッチング除去
して、IVH接続対応部の銅箔を除去(除去部51)す
る。 ・工程(D);図1(e)に示すように、銅箔4が除去さ
れて露出した樹脂層2を濃硫酸(濃度:96%、温度:
20℃)に20分間浸漬し、この後、超音波洗浄を行
い、膨潤した樹脂を除去し、内層配線31に達する穴5
2を形成した。 ・工程(E);図1(f)に示すように、スルーホール接
続用の貫通穴61をあけ、図1(g)に示すように、露
出した内層配線31及び銅箔4の表面に銅のエッチング
液に抵抗し得る金属として、ニッケルの無電解めっきを
行った。この結果、銅箔1の表面、銅箔4の表面、及び
スルーホール内に露出した銅箔1の表面にニッケルめっ
き層(それぞれ、記号72、71、73で示す。)を形
成することができた。 ・工程(F);図1(h)に示すように、銅箔4のみに電
極を接続し、電解エッチングを行って、銅箔4の表面に
析出させた無電解ニッケルめっき層のみを除去した。 ・工程(G);図1(i)に示すように、銅箔4をエッチ
ング除去し、図1(j)に示すように、めっき触媒9を
付与した。このめっき触媒は、予め、基材に触媒を付与
しておくなどの公知の方法を用いることも、当然のこと
ながら可能である。 ・工程(H);図1(k)に示すように、めっきレジスト
10を形成した。 ・工程(I);図1(l)に示すように、無電解銅めっき
によって配線11を形成した。
【0012】
【発明の効果】本発明により、樹脂層を制限することな
く、アディティブ法で、IVH接続のある多層配線板の
製造が可能になった。また、使用する薬品も、発火性や
臭気がなく、防爆や臭気対策の設備が不用である。薬品
のコストも比較的安価であり、廃液も処理が容易であ
る。以上の様に、本発明は作業環境を汚染することな
く、高性能、高密度な多層配線板の製造に寄与するもの
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(l)は、それぞれ本発明の一実施例
を説明するための各工程における断面図である。
【符号の説明】
2.樹脂層 31.内層配線 4.銅箔 72.銅のエッチング液に抵抗し得る金属 10.めっきレジスト 11.配線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中祖 昭士 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社下館研究所内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(A) 内層配線31を形成する工程 (B) 樹脂層2を介して銅箔4を内層配線形成物に接着す
    る工程 (C) 内層との配線の接続部に対応する部分の銅箔4を除
    去する工程 (D) 銅箔4が除去されて露出した樹脂層2をスルホン酸
    類で化学的に除去し、内層配線31を露出させる工程 (E) 露出した内層配線31及び銅箔4の表面に銅のエッ
    チング液に抵抗し得る金属72を析出させる工程 (F) 露出した内層配線31の表面以外の箇所であって、
    銅箔4の表面に析出させた銅のエッチング液に抵抗し得
    る金属72を除去する工程 (G) 銅箔4を除去する工程 (H) めっきレジスト10を形成する工程 (I) 無電解銅めっきによって配線11を形成する工程 を含むことを特徴とする多層配線板の製造法。
  2. 【請求項2】工程(B)〜(I)を繰り返すことを特徴とする
    請求項1に記載の多層配線板の製造法。
  3. 【請求項3】工程(B)における樹脂層が、エポキシ樹脂
    を主体とする樹脂層であることを特徴とする請求項1ま
    たは2に記載の多層配線板の製造法。
  4. 【請求項4】工程(D)におけるスルホン酸類が、硫酸ま
    たはアルキルスルホン酸であることを特徴とする請求項
    1〜3のうちいずれかに記載の多層配線板の製造法。
  5. 【請求項5】工程(D)と工程(E)の間に、金属板の表面に
    付着した樹脂残渣を機械的あるいは化学的に除去する工
    程を有することを特徴とする請求項1〜4のうちいずれ
    かに記載の多層配線板の製造法。
  6. 【請求項6】工程(B)において、内層配線形成物に樹脂
    層を介して接着する銅箔に、予め、酸化銅処理、もしく
    は、酸化銅処理と還元処理がなされた銅箔を用いること
    を特徴とする請求項1〜5のうちいずれかに記載の多層
    配線板の製造法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008166655A (ja) * 2007-01-05 2008-07-17 Nippon Denkai Kk 電磁波シールド材用銅箔
JP2012044158A (ja) * 2010-07-22 2012-03-01 Ngk Spark Plug Co Ltd 多層配線基板及びその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008166655A (ja) * 2007-01-05 2008-07-17 Nippon Denkai Kk 電磁波シールド材用銅箔
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