JPH0793345B2 - Film carrier and molding method using the same - Google Patents

Film carrier and molding method using the same

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JPH0793345B2
JPH0793345B2 JP3166500A JP16650091A JPH0793345B2 JP H0793345 B2 JPH0793345 B2 JP H0793345B2 JP 3166500 A JP3166500 A JP 3166500A JP 16650091 A JP16650091 A JP 16650091A JP H0793345 B2 JPH0793345 B2 JP H0793345B2
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film carrier
mold
resin material
cavities
tie bar
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道男 長田
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トーワ株式会社
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、例えば、ICチップ
を装着した長尺状のフィルムキャリアと、該ICチップ
やその所要周辺部の被封止部分をモールド成形するため
のモールド方法の改良に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to, for example, a long film carrier on which an IC chip is mounted, and an improvement of a molding method for molding the IC chip and a portion to be sealed in a required peripheral portion thereof. It is a thing.

【0002】[0002]

【従来の技術】ICチップの集積度は近時の多機能化の
要請により増大される傾向にある。このため、リードは
超高密度化・超多ピン化されると共に、ICカード等に
用いるために製品自体の超小型化・超薄型化が行なわれ
ている。
2. Description of the Related Art The degree of integration of IC chips tends to be increased due to the recent demand for multi-functionality. For this reason, the leads have been made to have an extremely high density and a large number of pins, and the products themselves have been made extremely small and thin for use in IC cards and the like.

【0003】これらの要請に対応可能なICチップ実装
技術としては、TAB方式(テープ・オートメーテッド
・ボンディング方式)が知られている。このTAB方式
は、ポリイミド樹脂フィルム製のキャリアテープに多数
のリードを装着し、その各インナーリードとICチップ
の各表面電極とをバンプを介して夫々接続するものであ
り、以下、図6乃至図9に基づいて、この方式により得
られるフィルムキャリアの構成を説明する。
A TAB method (tape automated bonding method) is known as an IC chip mounting technology capable of meeting these requirements. In this TAB method, a large number of leads are mounted on a carrier tape made of a polyimide resin film, and each inner lead and each surface electrode of an IC chip are connected via bumps. Based on No. 9, the structure of the film carrier obtained by this method will be described.

【0004】図6乃至図9に示すように、ポリイミド樹
脂フィルム製キャリアテープ1の両縁部には該テープ送
り用のスプロケット孔2が穿設されている。また、上記
キャリアテープ1の中心部には、ICチップ3の四角形
状に対応した四角形状の実装用孔部が穿設されている。
また、上記実装用孔部内には、該孔部の四隅部に各設け
たタイバー4を介して、四角形状のサポートリング5が
架設されている。また、上記サポートリング5内にはI
Cチップ3を嵌装するためのデバイス孔6が設けられ、
且つ、該サポートリング5の外周にはアウターリードを
架設するためのアウターリード孔7が設けられている。
また、上記したICチップ3の実装用孔部には、導体で
ある多数のリード8が一体に装着されている。更に、該
各リード8におけるインナーリード81 は上記したデバ
イス孔6内に夫々突出されており、また、そのアウター
リード82 は上記したアウターリード孔7上に架設され
ており、また、該各アウターリードの延長端部にはテス
トパッド83 が夫々設けられている。また、上記ICチ
ップ3は、その表面電極と各インナーリード81 とをバ
ンプ9を介して接続するインナーリードボンディングに
よって、上記キャリアテープ1に確実に実装されてい
る。また、キャリアテープ1上のICチップ3やその周
辺部、即ち、モールド金型の両キャビティ部形状に対応
して設定されるフィルムキャリアの被封止部分10を、ト
ランスファモールド方法等の手段にてモールド成形し、
次に、アウターリード82 部分から切断分離することに
より、該製品単体における各アウターリードとプリント
配線基板の各電極とを、所謂、アウターリードボンディ
ングによって夫々接続することができるものである。
As shown in FIGS. 6 to 9, sprocket holes 2 for feeding the tape are formed at both edges of the polyimide resin film carrier tape 1. In addition, a rectangular mounting hole corresponding to the rectangular shape of the IC chip 3 is formed in the center of the carrier tape 1.
In addition, a rectangular support ring 5 is installed in the mounting hole via tie bars 4 provided at four corners of the hole. Also, in the support ring 5, I
A device hole 6 for fitting the C chip 3 is provided,
In addition, an outer lead hole 7 is provided on the outer periphery of the support ring 5 for mounting an outer lead.
A large number of leads 8 which are conductors are integrally mounted in the mounting holes of the IC chip 3 described above. Further, the inner leads 8 1 of the respective leads 8 project into the device holes 6 described above, and the outer leads 8 2 of the leads 8 are laid over the outer lead holes 7 described above. Test pads 8 3 are provided on the extended ends of the outer leads, respectively. The IC chip 3 is securely mounted on the carrier tape 1 by inner lead bonding for connecting the surface electrodes of the IC chip 3 to the inner leads 8 1 through the bumps 9. In addition, the IC chip 3 on the carrier tape 1 and its peripheral portion, that is, the sealed portion 10 of the film carrier set corresponding to the shape of both cavities of the molding die is transferred by means of a transfer molding method or the like. Molded,
Next, by cutting and separating from the outer lead 8 2 part, each outer lead of the product alone and each electrode of the printed wiring board can be connected by so-called outer lead bonding.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記したキ
ャリアテープの被封止部分をトランスファモールド方法
にてモールド成形する場合においては、樹脂成形上、次
のような問題がある。
By the way, in the case where the above-mentioned sealed portion of the carrier tape is molded by the transfer molding method, there are the following problems in resin molding.

【0006】このモールド方法は、まず、フィルムキャ
リアをモールド金型(上下両型)の所定位置に供給して
型締めを行ない、次に、該金型のポット内で加熱溶融化
した樹脂材料をランナーやゲート111 から成る移送用通
路11を通して両キャビティ内に加圧注入することによ
り、上記フィルムキャリアにおける被封止部分10を、該
両キャビティ部形状に対応して成形されるモールドパッ
ケージ内に封止することができるものである(図7の符
号10参照)。
In this molding method, first, a film carrier is supplied to a predetermined position of a mold (both upper and lower molds) to perform mold clamping, and then a resin material heated and melted in a pot of the mold is used. by pressure injecting into both the cavity through a transfer passage 11 consisting of the runner and the gate 11 1, to be sealed portion 10 in the film carrier, in the mold package to be molded in correspondence to both said cavity portion shape It can be sealed (see reference numeral 10 in FIG. 7).

【0007】しかしながら、例えば、上記アウターリー
ド82 のピッチpは約 450μmに、また、インナーリー
ド81 のピッチは約 150μmに設定されて超多ピン化状
態にある各リード8は、上記したモールド成形時におい
て、溶融樹脂材料をほとんど通過させることができな
い。従って、上記図例に示すように、溶融樹脂材料Rを
上型キャビティ側に注入すると、その注入樹脂材料はフ
ィルムキャリアの被封止部分10の上面側に充填されるの
で、該注入樹脂材料が上記被封止部分10を下型キャビテ
ィ内に(下方へ)押し曲げるように作用する。このた
め、例えば、電気的に接続したICチップ3の表面電極
とインナーリード81 とが外れたり、ICチップ3が外
部に露出してその封止が不完全となる等の重大な弊害が
生じることになる。
However, for example, the pitch p of the outer leads 8 2 is set to about 450 μm, and the pitch of the inner leads 8 1 is set to about 150 μm. Almost no molten resin material can pass through during molding. Therefore, as shown in the above-mentioned example, when the molten resin material R is injected into the upper mold cavity side, the injected resin material is filled into the upper surface side of the sealed portion 10 of the film carrier, so that the injected resin material is It acts so as to push (downward) the sealed portion 10 into the lower mold cavity. Thus, for example, electrically surface electrode and is come off the inner leads 81 of the IC chip 3 connected, the IC chip 3 is exposed to the outside serious adverse effects such as the sealing is incomplete resulting It will be.

【0008】また、上記図例において、上型キャビティ
側(被封止部分10の上面側)に注入した溶融樹脂材料
は、まず、その上型キャビティ内に充填され、その後
に、ICチップ3とその実装用孔部との間隙S等を通し
て下型キャビティ内に流入・充填されることになる。こ
のため、下型キャビティ内においては、樹脂の未充填状
態が特に多く発生してモールドパッケージ12の表面に欠
損部が形成されたり、また、上型キャビティ側に注入し
た溶融樹脂材料が上記した間隙Sを通して下型キャビテ
ィ内に流入する際に、サポートリング5やICチップ3
の裏面側等に残溜しているエアを巻き込んでその部分に
ボイド(気泡)が形成されることになる。このようなモ
ールドパッケージ12における欠損部や内部ボイドの形成
は、製品の耐湿性を損ない信頼性を欠くと云った重大な
弊害となる。
Further, in the above example, the molten resin material injected into the upper mold cavity side (the upper surface side of the sealed portion 10) is first filled in the upper mold cavity, and then the IC chip 3 and It will flow into and be filled in the lower mold cavity through a gap S or the like from the mounting hole. Therefore, in the lower mold cavity, a particularly large amount of unfilled resin occurs and a defect is formed on the surface of the mold package 12, and the molten resin material injected into the upper mold cavity has the above-mentioned gap. When flowing into the lower mold cavity through S, the support ring 5 and the IC chip 3
The remaining air is trapped on the back surface side of the and the voids (air bubbles) are formed in that portion. The formation of defects and internal voids in the mold package 12 as described above is a serious adverse effect of impairing the moisture resistance of the product and lacking reliability.

【0009】なお、キャリアテープにおける被封止部分
10をトランスファモールド方法にてモールドパッケージ
12内に封止するには、樹脂成形上、次のような問題もあ
る。例えば、上下両型の型締時において、該両型の P.L
(パーティングライン)面におけるキャビティ周縁部に
は、図9に示すように、リード8の厚みtに相当する間
隙(通常、約35μm)や、各アウターリード82 間に相
当する間隙から成る空間部、即ち、金型キャビティの内
外連通部13が生じるため、該金型キャビティ内に注入さ
れた溶融樹脂材料が該内外連通部13からアウターリード
孔7内に流出したり、該両型の P.L面間に浸入して樹脂
バリを形成することになる。このため、キャビティ内の
溶融樹脂材料に対して所定の樹脂圧を加えることができ
ないので、モールドパッケージ12の内外にボイドが形成
されてその機械的強度を弱めたり、樹脂量不足によるキ
ャビティ内の未充填状態が発生して被封止部分の確実な
モールド成形を行なうことができず、更に、流出樹脂材
料が各アウターリード82 に付着して該アウターリード
とプリント配線基板の電極との接続不良の要因となる
等、この種製品の品質・信頼性を低下させることになる
他、上記両型 P.L面の確実なクリーニング工程が必要と
なる等の問題がある。
The sealed portion of the carrier tape
Mold the 10 by transfer molding method
Encapsulation within 12 has the following problems in resin molding. For example, when clamping both upper and lower molds,
As shown in FIG. 9, a space (usually about 35 μm) corresponding to the thickness t of the lead 8 and a space corresponding to each outer lead 8 2 are formed at the peripheral edge of the cavity on the (parting line) surface. Part, that is, the inner / outer communication portion 13 of the mold cavity is generated, so that the molten resin material injected into the mold cavity flows out of the inner / outer communication portion 13 into the outer lead hole 7, Penetration between the surfaces will form a resin burr. For this reason, a predetermined resin pressure cannot be applied to the molten resin material in the cavity, so that voids are formed inside and outside the mold package 12 to weaken its mechanical strength, or the void in the cavity due to insufficient amount of resin remains. A filled state occurs and reliable molding cannot be performed on the sealed portion. Further, the outflowing resin material adheres to each outer lead 8 2 and the connection between the outer lead and the electrode of the printed wiring board is poor. In addition to degrading the quality and reliability of this type of product, there are problems such as the need for a reliable cleaning process for the PL surfaces of both types.

【0010】本発明は、モールド成形時における上述し
た被封止部品における電極外れや不完全封止等の弊害、
或は、モールドパッケージの欠損部若しくはその内部ボ
イドの形成を確実に防止することができるフィルムキャ
リアとこれを用いるモールド方法を提供することによ
り、この種製品の品質性及び信頼性を向上させることを
目的とするものである。なお、この発明は、特願平1−
102095号の出願明細書及び図面中において開示し
た上記フィルムキャリアとこれを用いるモールド方法の
部分について分割出願したものである。
According to the present invention, there are problems such as electrode detachment and incomplete sealing in the above-mentioned sealed parts during molding.
Alternatively, it is possible to improve the quality and reliability of this type of product by providing a film carrier capable of surely preventing the formation of a defective portion of the mold package or an internal void thereof and a molding method using the same. It is intended. The invention is disclosed in Japanese Patent Application No. 1-
The above-mentioned film carrier disclosed in the specification and drawings of No. 102095 and a molding method using the same are separately filed.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明に係るフィルムキ
ャリアは、ICチップ実装用孔部にタイバーを介して多
数のリードを支持させるサポートリングを備えたフィル
ムキャリアであって、上記タイバー部分にモールド金型
における両キャビティ部と連通する所要の貫通孔を穿設
して構成したことを特徴とするものである。
A film carrier according to the present invention is a film carrier provided with a support ring for supporting a large number of leads in a hole for mounting an IC chip via a tie bar, wherein the tie bar portion is molded. It is characterized in that a required through hole communicating with both cavity parts in the mold is formed.

【0012】また、本発明に係るフィルムキャリアは、
上記した少なくとも一つのタイバー部分に、モールド金
型における樹脂通路部と連通させる樹脂通路用の貫通孔
を穿設して構成したことを特徴とするものである。
Further, the film carrier according to the present invention is
It is characterized in that at least one tie bar portion is formed with a through hole for a resin passage which communicates with a resin passage portion in a molding die.

【0013】また、本発明に係るフィルムキャリアは、
上記した少なくとも一つのタイバー部分に、モールド金
型における両キャビティと連通させるエアベント用の貫
通孔を穿設して構成したことを特徴とするものである。
Further, the film carrier according to the present invention is
The above-mentioned at least one tie bar portion is characterized in that a through hole for air vent which communicates with both cavities of the molding die is formed.

【0014】また、本発明に係るフィルムキャリアを用
いるモールド方法は、ICチップ実装用孔部にタイバー
を介して多数のリードを支持させるサポートリングを備
えたフィルムキャリアをモールド金型における所定位置
にセットするフィルムキャリアのセット工程と、上記フ
ィルムキャリアにおけるサポートリングの両面とモール
ド金型における両キャビティ部とを接合させた状態で該
金型の型締めを行う型締工程と、封止用の溶融樹脂材料
をモールド金型の樹脂通路部からキャビティ内に注入す
る溶融樹脂材料の注入工程とから成るフィルムキャリア
を用いるモールド方法であって、上記した溶融樹脂材料
の注入工程が、モールド金型の樹脂通路部から注入され
る溶融樹脂材料の一部を少なくとも一つのタイバー部分
に穿設した貫通孔を通してキャビティ内に注入させるこ
とにより、注入される溶融樹脂材料をモールド金型にお
ける両キャビティ内に略同時的に充填させるものである
ことを特徴とするものである。
Also, in the molding method using the film carrier according to the present invention, the film carrier provided with the support ring for supporting a large number of leads in the IC chip mounting hole is set at a predetermined position in the molding die. A step of setting the film carrier, a step of clamping the die in a state where both sides of the support ring in the film carrier and both cavities of the die are joined, and a molten resin for sealing A molding method using a film carrier, comprising a step of injecting a molten resin material from a resin passage portion of a molding die into a cavity, wherein the step of injecting the molten resin material is the resin passage of the molding die. Through hole in which at least one tie bar portion is provided with a portion of the molten resin material injected from the section Through by injecting into the cavity, it is characterized in that a molten resin material injected is intended to substantially simultaneously charged into the two cavities in the mold.

【0015】また、本発明に係るフィルムキャリアを用
いるモールド方法は、上記した溶融樹脂材料の注入工程
において、両キャビティ内のエアを少なくとも一つのタ
イバー部分に穿設した貫通孔を通して外部へ排出するこ
とを特徴とするものである。
Further, in the molding method using the film carrier according to the present invention, in the above-mentioned step of injecting the molten resin material, the air in both cavities is discharged to the outside through the through hole formed in at least one tie bar portion. It is characterized by.

【0016】[0016]

【作用】本発明によれば、モールド成形時において、キ
ャビティ内に注入した溶融樹脂材料を、フィルムキャリ
アのタイバー部分に穿設した樹脂通路用の貫通孔を通し
て、その両キャビティ側に、即ち、フィルムキャリアに
おける被封止部分の表裏両面側に略同時的に且つスムー
ズに注入充填させることができる。また、本発明によれ
ば、上記モールド成形時において、キャビティ内の残溜
エアをフィルムキャリアのタイバー部分に穿設したエア
ベント用の貫通孔を通して、外部へ排出することができ
る。
According to the present invention, at the time of molding, the molten resin material injected into the cavities is passed through the resin passage through holes formed in the tie bar portion of the film carrier to both cavity sides thereof, that is, the film. The carrier can be injected and filled almost simultaneously and smoothly on both front and back surfaces of the sealed portion. Further, according to the present invention, at the time of molding, the residual air in the cavity can be discharged to the outside through the through hole for air vent formed in the tie bar portion of the film carrier.

【0017】[0017]

【実施例】次に、本発明を、図1乃至図5に示す実施例
図に基づいて説明する。図1及び図2には、本発明に係
るフィルムキャリアの要部が示されており、その基本的
な構造は図6乃至図9に示した従来のものと同じであ
る。また、図3乃至図5には、本発明に係るフィルムキ
ャリアをモールド金型の所定位置にセットした状態を示
している。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the embodiment diagrams shown in FIGS. 1 and 2 show the essential parts of the film carrier according to the present invention, the basic structure of which is the same as the conventional one shown in FIGS. 6 to 9. Further, FIGS. 3 to 5 show a state in which the film carrier according to the present invention is set at a predetermined position of a molding die.

【0018】即ち、キャリアテープ21の両縁部には該テ
ープ送り用のスプロケット孔が穿設されており、また、
該キャリアテープの中心部にはICチップ23(図4等参
照)の実装用孔部が穿設されている。更に、該実装用孔
部内にはタイバー24を介してサポートリング25が架設さ
れると共に、該サポートリング25内にはICチップ23を
嵌装するためのデバイス孔26が設けられ、且つ、該サポ
ートリング25の外周にはアウターリードを架設するため
のアウターリード孔27が設けられている。
That is, sprocket holes for feeding the tape are formed at both edges of the carrier tape 21, and
A mounting hole for the IC chip 23 (see FIG. 4 etc.) is formed in the center of the carrier tape. Further, a support ring 25 is installed in the mounting hole via a tie bar 24, and a device hole 26 for fitting the IC chip 23 therein is provided in the support ring 25, and the support is provided. An outer lead hole 27 is provided on the outer periphery of the ring 25 for installing an outer lead.

【0019】また、上記ICチップ23の実装用孔部に
は、図1に示すように、導体である多数のリード28が一
体に装着されると共に、該各リード28におけるインナー
リード281 は上記したデバイス孔26内に夫々突出されて
いる。
Further, the mounting hole portion of the IC chip 23, as shown in FIG. 1, along with a number of leads 28 which is a conductor is integrally mounted, the inner leads 28 1 in the respective lead 28 is the Each of the device holes 26 is projected.

【0020】また、該各リード28におけるアウターリー
ド282 は上記したアウターリード孔27上に架設されてお
り、更に、該各アウターリードの延長端部にはテストパ
ッド283 が夫々設けられている。
The outer lead 28 2 of each lead 28 is provided on the outer lead hole 27 described above, and a test pad 28 3 is provided at the extended end of each outer lead. .

【0021】また、上記ICチップ23は、その表面電極
と各インナーリード281 とをバンプ29(図4等参照)を
介して接続するインナーリードボンディングによって、
上記キャリアテープ21に確実に実装されている。
Further, the IC chip 23 is formed by inner lead bonding for connecting the surface electrode and each inner lead 28 1 through the bump 29 (see FIG. 4 etc.).
It is securely mounted on the carrier tape 21.

【0022】また、上記サポートリング25における各リ
ード28(図例においては、アウターリード282 )間の夫
々には所要の小片部251 が突設されており、且つ、これ
らの小片部は、モールド金型の型締時において、該金型
キャビティ30の周縁部と接合する位置にまで夫々延設さ
れている。
Further, required small piece portions 25 1 are projectingly provided between the leads 28 (outer leads 28 2 in the illustrated example) of the support ring 25, and these small piece portions are When the mold dies are clamped, they are respectively extended to the positions where they are joined to the peripheral edge of the mold cavity 30.

【0023】また、上記各タイバー24の内、金型のゲー
ト111 の位置に対応する少なくとも一つのタイバー241
部分には、上下に貫通するゲート孔243 (樹脂通路用の
貫通孔)が穿設されている。また、上記ゲート孔24
3 は、図1乃至図3に示すように、上記タイバー241
分に上下方向に貫通されると共に、モールド金型の両キ
ャビティ30内と連通するように設けられている(図3参
照)。従って、上記した金型ゲート111 を通して加圧移
送された溶融樹脂材料Rは、上記ゲート孔243 から上下
の両キャビティ30内に略同時的に夫々流入させることが
できると共に、該両キャビティ30内にスムーズに充填さ
せることができる。このため、上記溶融樹脂材料Rを上
型キャビティ側から注入しても、その注入樹脂材料がフ
ィルムキャリアの被封止部分20を下型キャビティ内へ押
し曲げることがない。なお、上記図例の場合とは逆に、
溶融樹脂材料Rを下型キャビティ側から注入するような
ときにおいても、その注入樹脂材料がフィルムキャリア
の被封止部分20を上型キャビティ内へ押し上げる作用を
確実に防止できるものである。
Further, among the tie bars 24, at least one tie bar 24 1 corresponding to the position of the gate 11 1 of the mold.
A gate hole 24 3 (a through hole for a resin passage) that vertically penetrates is formed in the portion. In addition, the gate hole 24
As shown in FIGS. 1 to 3 , 3 is provided so as to vertically penetrate the portion of the tie bar 24 1 and to communicate with both the cavities 30 of the molding die (see FIG. 3). Therefore, the molten resin material is pressurized transfer through a die gate 11 1 described above R, together can be substantially simultaneously respectively flow into both cavities 30 of the upper and lower from the gate hole 24 3, the both cavities 30 It can be filled smoothly inside. Therefore, even if the molten resin material R is injected from the upper mold cavity side, the injected resin material does not bend the sealed portion 20 of the film carrier into the lower mold cavity. Incidentally, contrary to the case of the above example,
Even when the molten resin material R is injected from the lower mold cavity side, it is possible to reliably prevent the injected resin material from pushing up the sealed portion 20 of the film carrier into the upper mold cavity.

【0024】また、上記したゲート孔243 が設けられた
タイバー241 部分を除くその他の少なくとも一つの或は
全部のタイバー24部分には、上下方向に貫通し、且つ、
上下両キャビティ30内と連通するエアベント孔244 (エ
アベント用の貫通孔)が穿設されている(図2参照)。
従って、両キャビティ30内に溶融樹脂材料Rを注入充填
させる作用と相俟て、該両キャビティ30内のエアを該エ
アベント孔を通して外部へ効率良く排出することができ
るので、両キャビティ30内のエア排出作用によりモール
ドパッケージ12にボイドが形成されるのを確実に防止す
ることができるものである。また、両キャビティ30内へ
の溶融樹脂材料Rの注入時に、フィルムキャリアにおけ
る被封止部分20を弯曲変形させることなく、その流入充
填作用及びエア排出作用を効率良く且つ確実に行なうこ
とができると共に、成形後に上記した各貫通孔内に充填
・固化形成される樹脂材料によって、モールドパッケー
ジと各タイバー及びサポートリング部分との密着性を高
めることができる。
Further, at least one or all of the tie bars 24 1 other than the tie bar 24 1 portion having the above-mentioned gate hole 24 3 are vertically penetrated, and
Air vent holes 24 4 (through holes for air vents) communicating with the upper and lower cavities 30 are provided (see FIG. 2).
Therefore, in combination with the action of injecting and filling the molten resin material R in both cavities 30, the air in both cavities 30 can be efficiently discharged to the outside through the air vent holes, so that the air in both cavities 30 can be efficiently discharged. It is possible to reliably prevent the formation of voids in the mold package 12 due to the discharging action. Further, at the time of injecting the molten resin material R into both the cavities 30, it is possible to efficiently and reliably perform the inflow filling action and the air exhaust action without bending the sealed portion 20 of the film carrier. The adhesiveness between the mold package and each tie bar and support ring portion can be increased by the resin material filled and solidified in each through hole described above after molding.

【0025】上記構成を有するフィルムキャリアは、そ
のキャリアテープ21のICチップ23とその所要周辺部
(被封止部分20)を、トランスファモールド方法等の手
段にて金型の両キャビティ30の形状に対応して成形され
るモールドパッケージ12内に封止し、次に、そのアウタ
ーリード282 部分から切断分離することにより、該製品
単体における各アウターリードとプリント配線基板の各
電極とをアウターリードボンディングによって夫々接続
することができるものである。
In the film carrier having the above structure, the IC chip 23 of the carrier tape 21 and its required peripheral portion (sealed portion 20) are formed into the shapes of both cavities 30 of the mold by means such as a transfer molding method. By encapsulating it in a correspondingly molded mold package 12 and then cutting and separating it from the outer lead 28 2 part, outer lead bonding of each product and each electrode of the printed wiring board is carried out. Can be connected to each other.

【0026】なお、上記フィルムキャリアは、上述した
ように、そのサポートリング25における各リード28間の
位置に、型締時における金型キャビティ周縁部との接合
位置にまで延設した小片部251 が夫々突設されている。
従って、このような実施例の構成によれば、次のような
顕著な作用効果が得られるものである。即ち、上記フィ
ルムキャリアは、まず、型開状態にある金型キャビティ
30部の所定位置に供給され、次に、該金型の中間型締め
(図4参照)及びその完全型締め(図3及び図5参照)
が行なわれる。しかしながら、この金型の中間型締めか
ら完全型締めに至る過程において、上記サポートリング
25における各小片部251 は、金型キャビティ30の周縁部
を介して型締圧力を受けるため、該各小片部は金型の
P.L面間において変形若しくは押し潰される(図5参
照)と共に、その変形若しくは押し潰された各小片部は
上記各リード28(アウターリード282 )間の位置、即
ち、金型キャビティの前記した内外連通部13(図9参
照)に夫々密に嵌合されることになる。このため、モー
ルド金型におけるキャビティ30の周縁部は、各リード28
間の位置に夫々密に嵌合された各小片部によって実質的
に密閉されるので、この状態で、トランスファモールド
方法等の手段によるモールド成形を行なうことにより、
該金型キャビティ30の周縁部からの樹脂漏れを効率良く
且つ確実に防止することができるものである。
As described above, the film carrier has a small piece portion 25 1 extending between the leads 28 of the support ring 25 and a joining position with the peripheral edge of the mold cavity during mold clamping. Are projected respectively.
Therefore, according to the configuration of such an embodiment, the following remarkable effects can be obtained. That is, first, the film carrier is a mold cavity in the mold open state.
It is supplied to a predetermined position of 30 parts, and then the intermediate mold clamping (see FIG. 4) and its complete clamping (see FIGS. 3 and 5).
Is performed. However, in the process from the middle mold clamping to the complete mold clamping of this mold, the support ring
Since each small piece portion 25 1 in 25 receives mold clamping pressure via the peripheral edge of the mold cavity 30, each small piece portion 25 1
While being deformed or crushed between the PL surfaces (see FIG. 5), the deformed or crushed small pieces are positioned between the leads 28 (outer leads 28 2 ) described above, that is, inside and outside the mold cavity. The communication parts 13 (see FIG. 9) are closely fitted to each other. For this reason, the peripheral edge of the cavity 30 in the molding die is
Since it is substantially sealed by the small pieces that are tightly fitted to the positions between them, in this state, by molding by means such as a transfer molding method,
The resin leakage from the peripheral portion of the mold cavity 30 can be efficiently and surely prevented.

【0027】本発明は、上述した実施例図のものに限定
されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内
で、必要に応じて、任意に且つ適宜に変更・選択した構
成及び方法を採用できるものである。
The present invention is not limited to the above-mentioned embodiment drawings, and the configuration and method arbitrarily and appropriately changed / selected as necessary without departing from the spirit of the present invention. Can be adopted.

【0028】例えば、実施例では、トランスファモール
ド方法によるモールド成形手段を採用した場合について
説明したが、本発明は、通常のインジェクションモール
ド方法によるモールド成形にも応用し得ることは明らか
である。
For example, in the embodiments, the case where the molding means by the transfer molding method is adopted has been described, but it is obvious that the present invention can be applied to the molding by the usual injection molding method.

【0029】また、上記フィルムキャリアは、ポリイミ
ド樹脂フィルム製のキャリアテープと導体リード(銅
箔)とを接着剤により貼合わせる3層テープの構造、或
は、該キャリアテープとリードとの貼合わせに接着剤を
使用しない2層テープの構造のいずれを採用してもよ
い。
The film carrier has a structure of a three-layer tape in which a carrier tape made of a polyimide resin film and a conductor lead (copper foil) are adhered with an adhesive, or the carrier tape and the lead are adhered to each other. Any two-layer tape structure that does not use an adhesive may be employed.

【0030】[0030]

【発明の効果】本発明によれば、モールド成形時におい
て、キャビティ内に注入した溶融樹脂材料をフィルムキ
ャリアにおける被封止部分の表裏両面側に略同時的に、
且つ、スムーズに注入充填させると共に、両キャビティ
内の残溜エアを外部へ効率良く排出することができるの
で、モールド成形時における被封止部品の電極外れや不
完全封止等の弊害、或は、モールドパッケージの欠損部
若しくはその内部ボイドの形成を効率良く且つ確実に防
止することができるフィルムキャリアと、これを用いる
モールド方法を提供することができると云った優れた効
果がある。
According to the present invention, at the time of molding, the molten resin material injected into the cavity is substantially simultaneously applied to the front and back sides of the sealed portion of the film carrier.
Moreover, since the smooth filling and filling can be performed and the residual air in both cavities can be efficiently discharged to the outside, there is a problem such as the electrode detachment or incomplete sealing of the sealed parts during molding, or There is an excellent effect that a film carrier capable of efficiently and reliably preventing the formation of a defective portion of the mold package or an internal void thereof and a molding method using the film carrier can be provided.

【0031】また、本発明を用いることにより、高品質
性及び高信頼性を備えたこの種製品を成形することがで
きると云った優れた実用的な効果を奏するものである。
Further, by using the present invention, an excellent practical effect that this kind of product having high quality and high reliability can be molded is exhibited.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るフィルムキャリアの要部を示す一
部切欠斜視図である。
FIG. 1 is a partially cutaway perspective view showing a main part of a film carrier according to the present invention.

【図2】図1のフィルムキャリアの要部とモールド金型
における樹脂通路との位置関係を示す一部切欠斜視図で
ある。
FIG. 2 is a partially cutaway perspective view showing a positional relationship between a main part of the film carrier of FIG. 1 and a resin passage in a molding die.

【図3】図2のA−A線における要部の一部切欠縦断面
図である。
FIG. 3 is a partially cutaway vertical sectional view of a main part taken along the line AA of FIG.

【図4】本発明に係るフィルムキャリアをモールド金型
にセットした状態を示す一部切欠縦断面図であり、該金
型の中間型締状態を示している。
FIG. 4 is a partially cutaway vertical sectional view showing a state in which the film carrier according to the present invention is set in a molding die, showing an intermediate clamping state of the die.

【図5】図4に対応する一部切欠縦断面図であり、金型
の完全型締状態を示している。
5 is a partially cutaway vertical sectional view corresponding to FIG. 4, showing a complete mold clamping state of the mold.

【図6】従来のフィルムキャリアの要部を示す平面図で
ある。
FIG. 6 is a plan view showing a main part of a conventional film carrier.

【図7】図6のB−B線における要部の縦断端面図であ
る。
7 is a vertical cross-sectional end view of the main part taken along the line BB of FIG.

【図8】図6に対応するフィルムキャリアの一部切欠斜
視図である。
8 is a partially cutaway perspective view of the film carrier corresponding to FIG.

【図9】モールド成形時における従来の問題点を説明す
るためのフィルムキャリア要部の一部切欠概略斜視図で
ある。
FIG. 9 is a partially cutaway schematic perspective view of a main part of a film carrier for explaining a conventional problem at the time of molding.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

111 金型ゲート 12 モールドパッケージ 20 被封止部分 21 キャリアテープ 23 ICチップ 24 タイバー 241 タイバー 243 ゲート孔 244 エアベント孔 25 サポートリング 251 小片部 26 デバイス孔 27 アウターリード孔 28 リード 281 インナーリード 282 アウターリード 283 テストパッド 29 バンプ 30 金型キャビティ R 溶融樹脂材料 S 間 隙11 1 Mold gate 12 Mold package 20 Encapsulation part 21 Carrier tape 23 IC chip 24 Tie bar 24 1 Tie bar 24 3 Gate hole 24 4 Air vent hole 25 Support ring 25 1 Small piece part 26 Device hole 27 Outer lead hole 28 Lead 28 1 Inner lead 28 2 Outer lead 28 3 Test pad 29 Bump 30 Mold cavity R Molten resin material S Gap

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ICチップ実装用孔部にタイバーを介し
て多数のリードを支持させるサポートリングを備えたフ
ィルムキャリアであって、上記タイバー部分にモールド
金型における両キャビティ部と連通する所要の貫通孔を
穿設して構成したことを特徴とするフィルムキャリア。
1. A film carrier provided with a support ring for supporting a large number of leads through IC tie mounting holes through a tie bar, wherein the tie bar portion has a required penetration for communicating with both cavities of a molding die. A film carrier characterized by being formed by forming holes.
【請求項2】 少なくとも一つのタイバー部分に、モー
ルド金型における樹脂通路部と連通させる樹脂通路用の
貫通孔を穿設して構成したことを特徴とする請求項1に
記載のフィルムキャリア。
2. The film carrier according to claim 1, wherein at least one tie bar portion is formed with a through hole for a resin passage which communicates with a resin passage portion in the molding die.
【請求項3】 少なくとも一つのタイバー部分に、モー
ルド金型における両キャビティと連通させるエアベント
用の貫通孔を穿設して構成したことを特徴とする請求項
1に記載のフィルムキャリア。
3. The film carrier according to claim 1, wherein at least one tie bar portion is provided with a through hole for air vent which communicates with both cavities of the molding die.
【請求項4】 ICチップ実装用孔部にタイバーを介し
て多数のリードを支持させるサポートリングを備えたフ
ィルムキャリアをモールド金型における所定位置にセッ
トするフィルムキャリアのセット工程と、上記フィルム
キャリアにおけるサポートリングの両面とモールド金型
における両キャビティ部とを接合させた状態で該金型の
型締めを行う型締工程と、封止用の溶融樹脂材料をモー
ルド金型の樹脂通路部からキャビティ内に注入する溶融
樹脂材料の注入工程とから成るフィルムキャリアを用い
るモールド方法であって、上記した溶融樹脂材料の注入
工程が、モールド金型の樹脂通路部から注入される溶融
樹脂材料の一部を少なくとも一つのタイバー部分に穿設
した貫通孔を通してキャビティ内に注入させることによ
り、注入される溶融樹脂材料をモールド金型における両
キャビティ内に略同時的に充填させるものであることを
特徴とするフィルムキャリアを用いるモールド方法。
4. A film carrier setting step of setting a film carrier having a support ring for supporting a large number of leads through IC chip mounting holes through tie bars at a predetermined position in a molding die, and in the film carrier. A mold clamping step of clamping the mold with both surfaces of the support ring bonded to both cavities of the mold, and a molten resin material for sealing from the resin passage of the mold into the cavity. A method of molding using a film carrier, which comprises a step of injecting a molten resin material into a mold, in which the step of injecting the molten resin material described above comprises Melt injected by injecting into the cavity through a through hole drilled in at least one tie bar A molding method using a film carrier, characterized in that a resin material is filled substantially simultaneously in both cavities of a molding die.
【請求項5】 溶融樹脂材料の注入工程において、両キ
ャビティ内のエアを少なくとも一つのタイバー部分に穿
設した貫通孔を通して外部へ排出することを特徴とする
請求項4に記載のフィルムキャリアを用いるモールド方
法。
5. The film carrier according to claim 4, wherein in the step of injecting the molten resin material, the air in both cavities is discharged to the outside through a through hole formed in at least one tie bar portion. Molding method.
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