JP2609894B2 - Transfer resin encapsulation molding method for parts to be encapsulated, resin encapsulation molding die apparatus and film carrier used therefor - Google Patents
Transfer resin encapsulation molding method for parts to be encapsulated, resin encapsulation molding die apparatus and film carrier used thereforInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、被封止部品を樹脂材料により封止成形す
る樹脂封止成形技術に係り、特に、フィルムキャリア
(若しくは、テープキャリア)上に装着した半導体装置
等の被封止部品をトランスファ樹脂封止成形するものに
関する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a resin sealing molding technique for sealing and molding a part to be sealed with a resin material, and in particular, to a film carrier (or tape carrier). The present invention relates to a device for molding a mounted component such as a semiconductor device by transfer resin sealing.
金属製のリードフレーム上に装着した半導体装置等の
被封止部品を樹脂材料によって封止成形する技術として
は、従来より、トランスファ樹脂封止成形方法が採用さ
れている。A transfer resin encapsulation molding method has been conventionally used as a technique for encapsulating a sealed component such as a semiconductor device mounted on a metal lead frame with a resin material.
この方法を採用した樹脂封止成形用金型装置には、例
えば、第8図及び第9図に示すように、固定上型Aと、
該上型Aに対向して配置した可動下型Bと、該両型のP.
L(パーティングライン)面に対設した所要数の同形状
キャビティCが設けられている。また、上記両型のいず
れか一方側は所要数の樹脂材料供給用ポット及びプラン
ジャが配設されており、このポットと上記キャビティC
との間には該ポット内にて加熱溶融化された樹脂材料の
加圧移送用通路Dが備えられている。For example, as shown in FIG. 8 and FIG. 9, a fixed upper die A
A movable lower mold B arranged opposite to the upper mold A, and P.M.
A required number of cavities C of the same shape are provided opposite to the L (parting line) surface. A required number of resin material supply pots and plungers are provided on one side of the two dies.
A pressure transfer passage D for the resin material heated and melted in the pot is provided between the two.
この金型装置により樹脂封止成形は、まず、両型A・
Bを第8図に示すように型開きし、次に、その下型Bの
型面に設けた嵌合溝部EにリードフレームFを嵌装し且
つ該リードフレーム上に装着した被封止部品Gをキャビ
ティC部の位置にセットする。次に、上記した状態で両
型A・Bを第9図に示すように型締めし、次に、ポット
内に供給した樹脂材料を加熱溶融化すると共にこれをプ
ランジャにて加圧することにより、その溶融樹脂材料を
通路Dを通して両型の上下両キャビティC内に注入充填
して、該キャビティC内に嵌合セットした被封止部品G
を樹脂封止するものである。The resin encapsulation molding is first performed by the die unit A.
The mold B is opened as shown in FIG. 8, and then the lead frame F is fitted into the fitting groove E provided on the mold surface of the lower mold B and the sealed component mounted on the lead frame. G is set at the position of the cavity C portion. Next, in the state described above, the molds A and B are clamped as shown in FIG. 9, and then the resin material supplied into the pot is heated and melted and pressed by a plunger, The molten resin material is injected and filled into the upper and lower cavities C of both molds through the passage D, and the sealed component G fitted and set in the cavities C is set.
Is resin-sealed.
また、フィルムキャリア(第1〜2図参照)に装着し
た半導体装置等の被封止部品を樹脂材料によって封止成
形する技術としては、従来より、ポッティング樹脂封止
成形方法が採用されている。As a technique for sealing and molding a sealed component such as a semiconductor device mounted on a film carrier (see FIGS. 1 and 2) with a resin material, a potting resin sealing molding method has conventionally been adopted.
この方法は、フィルムキャリアにおける所要の樹脂封
止範囲に液状樹脂材料を滴下して該樹脂材料を加熱硬化
させるものである。In this method, a liquid resin material is dropped into a required resin sealing area of a film carrier, and the resin material is heated and cured.
ところで、上記ポッティング樹脂封止成形方法を採用
する場合は、一般的に、液状樹脂材料を使用する取扱上
の煩わしさや、長時間の成形時間が必要となることと、
更に、工程が複雑で生産能率が際めて低い等の問題が指
摘されている。By the way, when the above potting resin sealing molding method is adopted, in general, troublesome handling using a liquid resin material and a long molding time are required,
Further, problems have been pointed out, such as complicated processes and extremely low production efficiency.
また、トランスファ樹脂封止成形方法を採用する場合
は、一般的に、上記したような弊害がないことも知られ
ている。It is also known that when the transfer resin encapsulation molding method is employed, there is generally no such adverse effect as described above.
しかしながら、フィルムキャリアを用いる場合におい
てはトランスファ樹脂封止成形方法を採用することがで
きないのは、主として、次のような原因に基づく弊害が
あるからである。However, when a film carrier is used, the transfer resin encapsulation molding method cannot be adopted mainly because there are adverse effects due to the following causes.
即ち、フィルムキャリア自体の肉厚は、金属製のリー
ドフレームと較べて極めて薄く、また、そのアウターリ
ード及びインナーリードの肉厚はこれよりも更に薄いた
め、例えば、第8図及び第9図に示す従来のトランスフ
ァ樹脂封止成形用金型装置を利用してその被封止部品の
樹脂封止成形を行うと、樹脂成形キャビティC内へ加圧
注入された溶融樹脂材料が、その樹脂注入圧力及びスピ
ードにより該キャビティC内で流動することに起因して
該フィルムキャリア自体を揺動させ、このため、均一な
樹脂封止成形を行うことができないといった重大な弊害
がある。また、上記した溶融樹脂材料のキャビティ内流
動作用は、フィルムキャリアのインナーリードと半導体
チップ及びこの両者間に介在されるバンプ(接続電極)
との各相互間の電極接続状態を阻害して電気的な接続不
良が発生する等、この種製品について致命的な弊害を生
じることになる。That is, the thickness of the film carrier itself is extremely thin as compared with the metal lead frame, and the thickness of the outer lead and the inner lead is even thinner. For example, FIG. 8 and FIG. When resin sealing molding of the part to be sealed is performed using the conventional transfer resin sealing molding die apparatus shown in FIG. Also, the film carrier itself is swung due to the fact that it flows in the cavity C due to the speed, so that there is a serious problem that uniform resin sealing molding cannot be performed. Further, the above-mentioned flow action of the molten resin material in the cavity is caused by the inner leads of the film carrier, the semiconductor chip, and the bumps (connection electrodes) interposed between them.
Such a product has a serious adverse effect, for example, such that electrical connection failure occurs due to obstruction of the electrode connection state between each of these products.
従って、フィルムキャリアにおける被封止部品を樹脂
封止成形する場合は、従来のトランスファ樹脂封止成形
方法及び装置を直ちに応用することができないのが実情
であった。Therefore, in the case where the parts to be sealed in the film carrier are molded with resin, the conventional transfer resin molding method and apparatus cannot be immediately applied.
本発明は、上述したような従来のトランスファ樹脂封
止成形方法を改善することによって、フィルムキャリア
における被封止部品をトランスファ樹脂封止成形方法を
用いて樹脂封止成形することができる樹脂封止成形方法
を提供することを目的とするものである。The present invention is an improvement of the conventional transfer resin encapsulation molding method as described above, whereby the parts to be encapsulated in the film carrier can be resin encapsulation molded using the transfer resin encapsulation molding method. It is intended to provide a molding method.
また、本発明は、従来のトランスファ樹脂封止成形用
金型装置を改善することによって、フィルムキャリアに
おける被封止部品をトランスファ樹脂封止成形方法を用
いて樹脂封止成形することできる樹脂封止成形用金型装
置を提供することを目的とするものである。In addition, the present invention is an improvement of the conventional transfer resin encapsulation mold apparatus, which allows resin encapsulation of a part to be encapsulated in a film carrier using a transfer resin encapsulation molding method. It is an object of the present invention to provide a molding die apparatus.
また、本発明は、上記したトランスファ樹脂封止成形
方法を用いて樹脂封止成形することができるトランスフ
ァ樹脂封止成形用フィルムキャリアを提供することを目
的とするものである。Another object of the present invention is to provide a film carrier for transfer resin encapsulation molding which can be resin-encapsulated by using the transfer resin encapsulation molding method described above.
本発明に係る被封止部品のトランスファ樹脂封止成形
方法は、フィルムキャリア(1)における所要樹脂封止
範囲(6)の略全表面を略均等な肉厚の樹脂材料によっ
て封止成形する断面形状の樹脂成形用キャビティ部を備
えた樹脂封止成形用金型を用いて、該金型のキャビティ
部内に加熱溶融化した樹脂材料をその加圧移送用通路を
通して加圧注入させることにより、該キャビティ部内に
嵌合セットしたフィルムキャリア上の被封止部品を樹脂
封止成形することを特徴とするものである。The transfer resin encapsulation method of a part to be encapsulated according to the present invention is a cross-section in which substantially the entire surface of a required resin encapsulation range (6) in a film carrier (1) is encapsulation molded with a resin material having a substantially uniform thickness. By using a resin-sealing mold having a cavity-shaped resin-molding cavity, the resin material heated and melted into the cavity of the mold is pressure-injected through the pressure-transfer passage, whereby It is characterized in that a part to be sealed on a film carrier fitted and set in a cavity portion is molded by resin sealing.
また、本発明に係る被封止部品のトランスファ樹脂封
止成形用金型装置は、固定型(11)と、該固定型に対向
して配置した可動型(12)と、該両型(11・12)のいず
れか一方側に配設した所要数の樹脂材料供給用ポット及
びプランジャと、該両型(11・12)のP.L面に対設した
所要数の樹脂成形用キャビティ部と、上記ポットとキャ
ビティ部との間を連通させる溶融樹脂材料の移送用通路
(14)とを備えた被封止部品のトランスファ樹脂封止成
形用金型装置において、フィルムキャリア(1)上の被
封止部品を樹脂封止成形するキャビティ部の断面形状
を、該フィルムキャリア(1)における樹脂封止範囲
(6)の略全表面を略均等な肉厚の樹脂材料によって封
止成形する形状に形成して構成したことを特徴とするも
のである。Further, a mold device for transfer resin encapsulation molding of a component to be encapsulated according to the present invention comprises a fixed mold (11), a movable mold (12) arranged to face the fixed mold, and both molds (11). A required number of resin material supply pots and plungers disposed on one side of the above (12), and a required number of resin molding cavities provided on the PL surfaces of both molds (11 and 12); In a mold apparatus for transfer resin sealing molding of a part to be sealed provided with a passage (14) for transferring a molten resin material that communicates between a pot and a cavity part, a part to be sealed on a film carrier (1). The cross-sectional shape of the cavity for resin-molding a part is formed in such a shape that substantially the entire surface of the resin-sealed area (6) in the film carrier (1) is molded with a resin material having a substantially uniform thickness. It is characterized by being configured.
また、本発明に係る被封止部品のトランスファ樹脂封
止成形用フィルムキャリア(1)は、アウターリード
(2)とインナーリード(3)及び該インナーリード
(3)側に接続した半導体チップ(4)とを備えたフィ
ルムキャリアであって、該フィルムキャリアの樹脂封止
範囲(6)を包囲する形状の保形用サポート部(7)を
形成し、且つ、該保形用サポート部に、トランスファ樹
脂封止成形用金型装置における溶融樹脂材料の移送用通
路(14)位置と対応する溶融樹脂材料移送用通路面
(8)を配設して構成したことを特徴とするものであ
る。The film carrier (1) for transfer resin encapsulation molding of a part to be encapsulated according to the present invention comprises an outer lead (2), an inner lead (3), and a semiconductor chip (4) connected to the inner lead (3) side. ), Wherein a shape-retaining support portion (7) having a shape surrounding the resin sealing area (6) of the film carrier is formed, and the shape-retaining support portion is provided with a transfer member. A molten resin material transfer passage surface (8) corresponding to the position of the molten resin material transfer passage (14) in the resin sealing molding die apparatus is provided.
本発明の方法及び装置によれば、フィルムキャリア上
の被封止部品をキャビティ部内に嵌合セットした場合、
該フィルムキャリアにおける樹脂封止範囲(6)の略全
表面が略均等な肉厚の樹脂材料によって封止成形される
構成スペース(第4図に示される上下両型11・12のキャ
ビティ13から構成されるスペース)内に嵌装されること
になる。According to the method and apparatus of the present invention, when the sealed component on the film carrier is set in the cavity by fitting,
A configuration space in which substantially the entire surface of the resin sealing range (6) in the film carrier is sealed and molded with a resin material having a substantially uniform thickness (consisting of the cavities 13 of the upper and lower molds 11 and 12 shown in FIG. 4). Space).
従って、この状態で、上記キャビティ部内に溶融樹脂
材料を加圧注入すれば、該注入樹脂材料は、上記した特
定の構成スペース内を安定した状態で流動し且つ充填さ
れるから、該キャビティ部内における溶融樹脂材料の渦
流を効率良く且つ確実に防止できる。このため、上記溶
融樹脂材料のキャビティ部内流動作用に起因したフィル
ムキャリア自体の揺動を確実に防止することができる。Therefore, in this state, if the molten resin material is pressure-injected into the cavity portion, the injected resin material flows and is filled in the above-mentioned specific constituent space in a stable state. The swirl of the molten resin material can be efficiently and surely prevented. Therefore, it is possible to reliably prevent the film carrier itself from swinging due to the flow action of the molten resin material in the cavity.
また、本発明のフィルムキャリアによれば、溶融樹脂
材料移送用通路面を、トランスファ樹脂封止成形用金型
装置における溶融樹脂材料の移送用通路位置と対応する
フィルムキャリアの保形用サポート部に配設して構成し
たものであるから、該フィルムキャリアの樹脂封止範囲
への溶融樹脂材料の移送作用が効率良く且つスムーズに
行われると共に、樹脂成形後において、フィルムキャリ
アの該通路面に付着した固化樹脂を容易に除去すること
ができるものである。Further, according to the film carrier of the present invention, the molten resin material transfer passage surface is used as the shape-retaining support portion of the film carrier corresponding to the position of the molten resin material transfer passage in the transfer resin sealing molding die device. Since it is arranged and configured, the molten resin material is efficiently and smoothly transferred to the resin sealing area of the film carrier, and adheres to the passage surface of the film carrier after resin molding. The solidified resin can be easily removed.
次に、本発明を、第1図〜第6図に示す実施例図に基
づいて説明する。Next, the present invention will be described based on the embodiment diagrams shown in FIGS. 1 to 6.
第1図及び第2図には、本発明方法の実施に用いられ
るフィルムキャリア1の要部が夫々示されている。1 and 2 show the essential parts of the film carrier 1 used for carrying out the method of the present invention.
上記フィルムキャリアは、通常、ポリイミドフィルム
等から成る薄い肉厚(約120μm)として形成されてお
り、また、該フィルムキャリアに設けられたアウターリ
ード2及びインナーリード3の肉厚は、これよりも更に
薄い肉厚(約30μm)として形成されている。The film carrier is usually formed as a thin wall (approximately 120 μm) made of a polyimide film or the like, and the outer leads 2 and the inner leads 3 provided on the film carrier are further thicker than this. It is formed with a thin wall thickness (about 30 μm).
また、上記フィルムキャリア1のインナーリード3と
半導体チップ4とは、バンプ5を介して電気的に夫々接
続されている。The inner leads 3 of the film carrier 1 and the semiconductor chips 4 are electrically connected via bumps 5 respectively.
また、上記フィルムキャリア1における所要の樹脂封
止範囲6、即ち、上記インナーリード3及び半導体チッ
プ4等の被封止部品を樹脂材料により封止成形する範囲
は、該フィルムキャリアのアウターリード2及びインナ
ーリード3の形状・姿勢を保持させるためにフィルムキ
ャリア自体に形成した保形用サポート部7によって包囲
された部分と略等しい範囲として配置構成されている。Further, the required resin sealing range 6 in the film carrier 1, that is, the range in which the inner lead 3 and the parts to be sealed such as the semiconductor chip 4 are sealed and molded with a resin material is the outer lead 2 of the film carrier. In order to maintain the shape and posture of the inner lead 3, the inner lead 3 is arranged and configured as a range substantially equal to the portion surrounded by the shape retaining support portion 7 formed on the film carrier itself.
また、上記保形用サポート部7には、後述するトラン
スファ樹脂封止成形金型装置における溶融樹脂材料の移
送用通路位置(14)と対応する溶融樹脂材料移送用通路
面8が配設されている。Further, a passage surface 8 for transferring a molten resin material corresponding to a passage position (14) for transferring a molten resin material in a transfer resin encapsulation molding die device to be described later is provided in the shape retaining support portion 7. There is.
なお、上記フィルムキャリア1における両サイド部分
には、該フィルムキャリアの自動給送用の係合孔9が穿
設されている。また、上記した保形用サポート部7によ
り包囲された部分は、ウインドと称される透孔10が形成
されている。In addition, engaging holes 9 for automatic feeding of the film carrier are formed in both side portions of the film carrier 1. The portion surrounded by the shape-retaining support portion 7 has a through-hole 10 called a window.
第3図及び第4図には、本発明方法の実施に用いられ
るトランスファ樹脂封止成形用金型装置の要部が夫々示
されてる。FIGS. 3 and 4 show the main parts of a transfer resin encapsulation mold apparatus used for carrying out the method of the present invention.
該金型装置には、固定上型11と、該上型に対向して配
置した可動下型12と、該両型のP.L面に対設した所要数
のキャビティ13が設けられている。The mold apparatus is provided with a fixed upper mold 11, a movable lower mold 12 arranged to face the upper mold, and a required number of cavities 13 opposed to the PL surfaces of both molds.
また、上記両型(11・12)のいずれか一方側には所要
数の樹脂材料供給用ポット及びプランジャ(図示なし)
が配設されており、このポットと上記キャビティ13との
間には、ランナ及びゲート若しくはゲートのみから成る
溶融樹脂材料の加圧用移送用通路14(第1図参照)が設
けられている。In addition, a required number of resin material supply pots and plungers (not shown) are provided on one side of the two dies (11 and 12).
A passage 14 (see FIG. 1) for pressurizing a molten resin material composed of only a runner and a gate or a gate is provided between the pot and the cavity 13.
また、フィルムキャリア1上の被封止部品を樹脂封止
成形する上下の両キャビティ13と後述する上型コア部か
ら構成される樹脂成形用キャビティ部の断面形状は、該
フィルムキャリア1における樹脂封止範囲6の略全表面
を略均等な肉厚の樹脂材料によって封止成形することが
できるように形成されている。The cross-sectional shape of the resin molding cavity formed by the upper and lower cavities 13 for resin-sealing the parts to be sealed on the film carrier 1 and the upper mold core described later is determined by the resin sealing in the film carrier 1. The substantially entire surface of the stop area 6 is formed so that it can be molded by sealing with a resin material having a substantially uniform thickness.
即ち、第3図及び第4図に示すように、下型12の型面
には上記フィルムキャリア1を嵌装するための嵌合溝部
15が形成されており、該嵌合溝部15の所定位置にフィル
ムキャリア1を嵌装すると、該フィルムキャリアにおけ
る所要の樹脂封止範囲6は該下型12のキャビティ内に嵌
装されるように設けられている。That is, as shown in FIGS. 3 and 4, a fitting groove portion for fitting the film carrier 1 on the mold surface of the lower mold 12.
When the film carrier 1 is fitted in a predetermined position of the fitting groove 15, the required resin sealing area 6 in the film carrier is fitted in the cavity of the lower mold 12. Is provided.
また、上型11のキャビティ13には、上下両型(11・1
2)の型締時において、下型12のキャビティ13に嵌合す
るような突出形状のコア部16が設けられている。Also, the upper and lower molds (11.
At the time of mold clamping of 2), the projecting core portion 16 is provided so as to fit into the cavity 13 of the lower mold 12.
従って、上下両型(11・12)の型締時において、上下
両キャビティ13の形状と上記したコア部16の突出形状と
から構成されるスペースは、溶融樹脂材料を注入充填さ
せるためのキャビティ部を構成することになる。Therefore, when the upper and lower molds (11 and 12) are clamped, the space formed by the shape of the upper and lower cavities 13 and the above-described protruding shape of the core 16 is a cavity portion for injecting and filling the molten resin material. Will be configured.
このため、上記嵌合溝部15の所定位置にフィルムキャ
リア1を嵌装した状態で上下両型(11・12)を型締めし
たとき、上記キャビティ部の断面形状は、第4図に示す
ように、該フィルムキャリヤにおける樹脂封止範囲6の
略全表面を略均等な肉厚の樹脂材料によって封止成形す
ることができるスペースを構成するように形成されてい
る。Therefore, when the upper and lower molds (11, 12) are clamped with the film carrier 1 fitted in the predetermined position of the fitting groove 15, the cross-sectional shape of the cavity is as shown in FIG. The film carrier is formed so as to form a space in which substantially the entire surface of the resin sealing region 6 can be molded by sealing with a resin material having a substantially uniform thickness.
以下、上記フィルムキャリア1及び金型装置を用いて
該フィルムキャリアの樹脂封止範囲6内における前記被
封止部品の樹脂封止成形を行う場合について説明する。Hereinafter, a case will be described in which the above-described component is subjected to resin sealing molding within the resin sealing range 6 of the film carrier using the film carrier 1 and the mold apparatus.
まず、両型(11・12)を第3図に示すように型開きし
て、上記フィルムキャリア1を下型11の型面に設けた嵌
合溝部15の所定位置に嵌装すると、該フィルムキャリア
における被封止部品は該下型キャビティ13内に嵌合セッ
トされる。なお、このとき、フィルムキャリア1の樹脂
封止範囲6内にある半導体チップ4の底面は下型12のキ
ャビティ底面に直に接合されるように構成されており、
従って、該半導体チップ4を介して、該下型キャビティ
(13)部内に嵌装される被封止部品の全体を確実に支受
させることができるものである。First, the molds (11 and 12) are opened as shown in FIG. 3, and the film carrier 1 is fitted in a predetermined position of the fitting groove 15 provided on the mold surface of the lower mold 11, whereby the film The parts to be sealed in the carrier are fitted and set in the lower mold cavity 13. At this time, the bottom surface of the semiconductor chip 4 in the resin sealing area 6 of the film carrier 1 is configured to be directly bonded to the bottom surface of the cavity of the lower mold 12,
Therefore, it is possible to reliably support the entire sealed component fitted in the lower mold cavity (13) through the semiconductor chip 4.
次に、この状態で両型(11・12)を第4図に示すよう
に型締めして、ポット内に供給した樹脂材料を加熱溶融
化すると共にプランジャにて加圧することにより、これ
をその移送用通路14を通して上下両キャビティ(13)部
内に注入充填させればよい。Next, in this state, both molds (11, 12) are clamped as shown in FIG. 4, and the resin material supplied into the pot is heated and melted and pressed by the plunger to fix it. What is necessary is just to inject and fill the upper and lower cavities (13) through the transfer passage.
ところで、上下両キャビティ(13)部内に嵌合セット
されたフィルムキャリア上の被封止部品は、前述したよ
うに、上記両型の型締時において、該フィルムキャリア
における樹脂封止範囲6の略全表面が略均等な肉厚の樹
脂材料によって封止成形される構成スペース内に嵌装さ
れていることになる。By the way, the parts to be sealed on the film carrier fitted and set in the upper and lower cavities (13) are substantially the same as the resin sealing area 6 in the film carrier at the time of the mold clamping of the two dies as described above. The entire surface is fitted in a component space sealed and molded with a resin material having a substantially uniform thickness.
従って、この状態で、上記キャビティ部内に溶融樹脂
材料を加圧注入すると、該注入樹脂材料は、上記した特
定の構成スペース(即ち、上下両キャビティ13部内)内
を安定した状態で流動し且つ充填されるから、該上下両
キャビティ(13)部内における溶融樹脂材料の渦流を効
率良く且つ確実に防止することができる。このため、上
記溶融樹脂材料のキャビティ部内流動作用に起因したフ
ィルムキャリア自体の揺動を確実に防止することができ
る。Therefore, in this state, when the molten resin material is pressure-injected into the cavity portion, the injected resin material flows and fills in the above-mentioned specific configuration space (that is, inside the upper and lower cavity portions 13) in a stable state. Therefore, the swirling flow of the molten resin material in the upper and lower cavities (13) can be efficiently and reliably prevented. Therefore, the swing of the film carrier itself due to the flow action of the molten resin material in the cavity can be reliably prevented.
また、上下両キャビティ(13)部内に充填された溶融
樹脂材料は所要時間の経過後に固化形成されるため、該
上下両キャビティ(13)部内に嵌合セットされた被封止
部品は第5図に示すような樹脂成形体17内に封止成形さ
れることになる。Further, since the molten resin material filled in the upper and lower cavities (13) is solidified and formed after the required time has elapsed, the sealed parts fitted and set in the upper and lower cavities (13) are shown in FIG. It will be sealed and molded in the resin molded body 17 as shown in FIG.
なお、上記樹脂成形体17の上面には、上型キャビティ
におけるコア部16の形状に対応した凹所18が形成される
ことになるが、これは、上記フィルムキャリアにおける
被封止部品の樹脂封止機能を何等損なうものではない。
また、通常の第二次成形により、上記凹所18内に同じ或
は異なる樹脂材料を充填させて、上記樹脂成形体17の上
面を、第6図に示すような平滑面として形成してもよ
く、更に、該凹所18内に充填して形成した樹脂成形体19
の上面等に所要のマーキングを施すようにしてもよい。It should be noted that a recess 18 corresponding to the shape of the core portion 16 in the upper mold cavity is formed on the upper surface of the resin molded body 17, which is a resin sealing of the component to be sealed in the film carrier. It does not impair the stop function.
Further, the same or different resin material may be filled in the recess 18 by the ordinary secondary molding to form the upper surface of the resin molded body 17 as a smooth surface as shown in FIG. Well, further, the resin molded body 19 formed by filling the recess 18
Required markings may be provided on the upper surface of the.
また、上記樹脂成形体17の上下方向の厚みは、フィル
ムキャリア1の上面に上記凹所18が形成されている関係
で、稍肉厚に成形されているが、該凹所18部分は必ずし
も必要ではないから、少なくとも、該フィルムキャリア
の上面よりも上部に成形されている凹所(18)部分を省
略することによって該樹脂成形体17の上下厚みを薄型に
成形することができる。即ち、この場合は、第7図に示
すように、金型装置における上型11の型面(P.L面)よ
りも窪んでいるキャビティ(樹脂成形用の凹み)部分を
省いてこの省略部分をうP.L面と面一に構成することに
より、樹脂成形体(17)がフィルムキャリア1の上面よ
りも上部に成形されないように設定すればよい。The thickness of the resin molded body 17 in the vertical direction is slightly increased due to the formation of the concave portion 18 on the upper surface of the film carrier 1, but the concave portion 18 is not necessarily required. However, by omitting at least the concave portion (18) formed above the upper surface of the film carrier, the upper and lower thickness of the resin molded body 17 can be reduced. That is, in this case, as shown in FIG. 7, the cavity (recess for resin molding) which is recessed from the mold surface (PL surface) of the upper mold 11 in the mold apparatus is omitted, and the omitted portion is omitted. The resin molding (17) may be formed so as not to be molded above the upper surface of the film carrier 1 by forming it so as to be flush with the PL surface.
また、上記実施例図においては、前述したように、樹
脂封止範囲6内にある半導体チップ4の底面が下型12の
キャビティ底面に直に接合されているため、半導体チッ
プ4の底面は樹脂により封止されない状態として成形さ
れることになる。従って、該実施例の態様は、例えば、
半導体チップ4の底面部に放熱機能を構成する場合等に
適している。なお、成形品(製品)に、このような放熱
機能を備える必要がない場合は、例えば、半導体チップ
4を下型キャビティ内で所定の高さ位置に嵌装支受させ
た状態で樹脂封止成形することにより、該半導体チップ
4の底面部をも同時に樹脂封止成形することができる。In the above embodiment, as described above, since the bottom surface of the semiconductor chip 4 in the resin sealing area 6 is directly joined to the bottom surface of the cavity of the lower mold 12, the bottom surface of the semiconductor chip 4 is made of resin. Thus, it is molded as a state not sealed. Thus, aspects of this embodiment include, for example,
This is suitable for a case where a heat dissipation function is configured on the bottom surface of the semiconductor chip 4. When the molded product (product) does not need to have such a heat dissipation function, for example, the semiconductor chip 4 is resin-sealed in a state where the semiconductor chip 4 is fitted and supported at a predetermined height position in the lower mold cavity. By molding, the bottom surface portion of the semiconductor chip 4 can be simultaneously resin-molded.
また、前記したフィルムキャリア1における樹脂封止
範囲6は、各種のフィルムキャリアにおいて夫々任意に
設定されるものであるから、実施例図に示したフィルム
キャリヤ1における溶融樹脂材料移送用通路面8の設定
位置、及び、金型装置における溶融樹脂材料移送用通路
14の設定位置はこれに対応して相対的に選定すればよ
い。Further, since the resin sealing range 6 in the film carrier 1 is arbitrarily set in each of various film carriers, the molten resin material transfer passage surface 8 in the film carrier 1 shown in the embodiment drawings is formed. Setting position and passage for molten resin material transfer in mold equipment
The 14 setting positions may be selected relatively correspondingly.
また、上型11のキャビティ13に設けられるコア部16の
形状は、図例においては、両型(11・12)の型締時にお
いて、被封止部品の上面(平面)側を樹脂封止成形する
上型キャビティ内から下方に突設され、且つ、前記フィ
ルムキャリア1における透孔10に嵌入された突出形状に
形成されている場合を示したが、この形状は、被封止部
品側の形状に対応して適宜に設定できるものである。Further, the shape of the core portion 16 provided in the cavity 13 of the upper mold 11 is such that the upper surface (flat surface) side of the parts to be sealed is resin-sealed when the molds (11, 12) are clamped in the illustrated example. Although the case is shown in which the projecting shape is formed so as to protrude downward from the inside of the upper mold cavity to be molded and fitted into the through hole 10 in the film carrier 1, this shape is It can be set appropriately according to the shape.
本発明によれば、樹脂成形用キャビティ部内に加圧注
入した溶融樹脂材料の流動作用に起因するフィルムキャ
リア自体の揺動を確実に防止して、常に安定した樹脂成
形を行うことができる。ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, rocking | fluctuation of the film carrier itself resulting from the flow action of the molten resin material pressurized and injected into the resin molding cavity part can be reliably prevented, and stable resin molding can always be performed.
従って、フィルムキャリアにおける被封止部品をトラ
ンスファ樹脂封止成形方法及び装置を用いて樹脂封止成
形しても、均一な樹脂封止成形作用が得られるため、前
述したような従来の問題点を確実に解消し得て、高品質
性及び高信頼性を備えた樹脂封止成形品を得ることがで
きるといった優れた実用的な効果を奏するものである。Therefore, even if the parts to be sealed in the film carrier are resin-molded using the transfer resin-sealing molding method and apparatus, a uniform resin-sealing molding action can be obtained. This is an excellent practical effect that can be reliably solved and a resin-sealed molded product having high quality and high reliability can be obtained.
また、フィルムキャリアにおける被封止部品の樹脂封
止成形にトランスファ樹脂封止成形方法及び装置を採用
することが可能になると共に、エポキシレジン等の低圧
用成形樹脂材料を使用することができるので、例えば、 成形品の品質向上が図れること。In addition, it becomes possible to employ the transfer resin sealing molding method and apparatus for resin sealing molding of the parts to be sealed in the film carrier, and it is possible to use a low-pressure molding resin material such as an epoxy resin. For example, the quality of molded products must be improved.
樹脂タブレットの使用によって、樹脂材料の取扱が容
易となり、また、可使時間の制限を受けず更に硬化時間
が短縮化されるので、生産能率の向上が図れること。The use of a resin tablet facilitates handling of the resin material, and further shortens the curing time without limiting the pot life, thereby improving production efficiency.
生産コストの低減化が図れること。The production cost can be reduced.
等の優れた実用的な利点がある。There are excellent practical advantages such as
また、本発明は、上記したトランスファ樹脂封止成形
方法及び装置に用いることができるフィルムキャリアを
提供することができるため、これを併用することによっ
て、この種の樹脂封止成形技術の向上に貢献できる効果
がある。In addition, the present invention can provide a film carrier that can be used in the above-described transfer resin encapsulation method and apparatus, and by using this in combination, contributes to the improvement of this type of resin encapsulation molding technology. There is an effect that can be done.
第1図は、本発明に係るトランスファ樹脂封止成形用フ
ィルムキャリアの要部を示す一部切欠平面図である。 第2図は、第1図のII−II線における拡大縦断正面図で
ある。 第3図は、本発明に係るトランスファ樹脂封止成形用金
型装置の要部を示す縦断正面図で、両型の型開状態を示
している。 第4図は、第3図に対応した縦断正面図で、両型の型締
状態を示している。 第5図は、樹脂封止成形品の要部を示す一部切欠縦断正
面図である。 第6図は、他の樹脂封止成形品例の要部を示す一部切欠
縦断正面図である。 第7図は、他の金型装置例の要部を示す縦断正面図で、
その上型部分のみを示している。 第8図は、リードフレームを用いた従来のトランスファ
樹脂封止成形用金型装置の要部を示す縦断正面図で、両
型の型開状態を示している。 第9図は、第8図に対応した縦断正面図で、両型の型締
状態を示している。 〔符号の説明〕 1……フィルムキャリア 2……アウターリード 3……インナーリード 4……半導体チップ 5……バンプ 6……樹脂封止範囲 7……保形用サポート部 8……移送用通路面 11……固定上型 12……可動下型 13……キャビティ 14……移送用通路 15……嵌合溝部 16……コア部 17……樹脂成形体FIG. 1 is a partially cutaway plan view showing a main portion of a film carrier for transfer resin sealing molding according to the present invention. FIG. 2 is an enlarged vertical sectional front view taken along line II-II of FIG. FIG. 3 is a longitudinal sectional front view showing a main part of a transfer resin encapsulation mold apparatus according to the present invention, and shows a mold open state of both molds. FIG. 4 is a longitudinal sectional front view corresponding to FIG. 3, showing a mold clamping state of both dies. FIG. 5 is a partially cutaway vertical front view showing a main part of a resin-sealed molded product. FIG. 6 is a partially cutaway vertical front view showing a main part of another resin-sealed molded product example. FIG. 7 is a longitudinal sectional front view showing a main part of another example of the mold apparatus.
Only the upper mold portion is shown. FIG. 8 is a longitudinal sectional front view showing a main part of a conventional transfer resin encapsulation mold device using a lead frame, and shows a mold open state of both molds. FIG. 9 is a vertical sectional front view corresponding to FIG. 8 and shows the mold clamping state of both molds. [Description of symbols] 1 ... Film carrier 2 ... Outer lead 3 ... Inner lead 4 ... Semiconductor chip 5 ... Bump 6 ... Resin sealing area 7 ... Shape retention support 8 ... Transport passage Road surface 11 …… Fixed upper mold 12 …… Movable lower mold 13 …… Cavity 14 …… Transfer passage 15 …… Mating groove 16 …… Core part 17 …… Resin molding
Claims (3)
囲の略全表面を略均等な肉厚の樹脂材料によって封止成
形する断面形状の樹脂成形用キャビティ部を備えた樹脂
封止成形用金型を用いて、該金型のキャビティ部内に加
熱溶融化した樹脂材料をその加圧移送用通路を通して加
圧注入させることにより、該キャビティ部内に嵌合セッ
トしたフィルムキャリア上の被封止部品を樹脂封止成形
することを特徴とする被封止部品のトランスファ樹脂封
止成形方法。1. A resin sealing mold having a resin molding cavity having a cross-sectional shape for sealing and molding substantially the entire surface of a required resin sealing area of a film carrier with a resin material having a substantially uniform thickness. By using the resin material that has been heated and melted into the cavity portion of the mold under pressure injection through the pressure transfer passage, the sealed parts on the film carrier fitted and set in the cavity portion are sealed with resin. A transfer resin encapsulation molding method for a part to be encapsulated, which comprises a stop molding.
動型と、該両型のいずれか一方側に配設した所要数の樹
脂材料供給用ポット及びプランジャと、該両型のP.L面
に対設した所要数の樹脂成形用キャビティ部と、上記ポ
ットとキャビティ部との間を連通させる溶融樹脂材料の
移送用通路とを備えた被封止部品のトランスファ樹脂封
止成形用金型装置において、フィルムキャリア上の被封
止部品を樹脂封止成形するキャビティ部の断面形状を、
該フィルムキャリアにおける樹脂封止範囲の略全表面を
略均等な肉厚の樹脂材料によって封止成形する形状に形
成して構成したことを特徴とする被封止部品のトランス
ファ樹脂封止成形用金型装置。2. A fixed mold, a movable mold arranged opposite to the fixed mold, a required number of resin material supply pots and plungers arranged on one of the two molds, and Transfer resin sealing molding metal for a part to be sealed, comprising a required number of resin molding cavities opposed to the PL surface, and a molten resin material transfer passage for communicating between the pot and the cavity. In the mold device, the cross-sectional shape of the cavity for resin-sealing the part to be sealed on the film carrier,
A transfer resin encapsulation molding gold for a part to be encapsulated, characterized in that substantially the entire surface of the resin encapsulation range of the film carrier is formed into an encapsulating shape with a resin material having a substantially uniform thickness. Mold device.
ンナーリード側に接続した半導体チップとを備えたフィ
ルムキャリアであって、該フィルムキャリアの樹脂封止
範囲を包囲する形状の保形用サポート部を形成し、且
つ、該保形用サポート部に、トランスファ樹脂封止成形
用金型装置における溶融樹脂材料の移送用通路位置と対
応する溶融樹脂材料移送用通路面を配設して構成したこ
とを特徴とする被封止部品のトランスファ樹脂封止成形
用フィルムキャリア。3. A film carrier comprising an outer lead, an inner lead and a semiconductor chip connected to the inner lead, wherein a shape-retaining support portion having a shape surrounding a resin sealing area of the film carrier is formed. Further, the shape-retaining support portion is provided with a molten resin material transfer passage surface corresponding to the position of the molten resin material transfer passage in the transfer resin sealing molding die device. A film carrier for transfer resin sealing molding of a part to be sealed.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63043926A JP2609894B2 (en) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | Transfer resin encapsulation molding method for parts to be encapsulated, resin encapsulation molding die apparatus and film carrier used therefor |
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JPH01216815A JPH01216815A (en) | 1989-08-30 |
JP2609894B2 true JP2609894B2 (en) | 1997-05-14 |
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JP3226628B2 (en) * | 1992-10-15 | 2001-11-05 | 三菱電機株式会社 | Tape carrier, semiconductor device using the same, and method of manufacturing the same |
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JPS6364346A (en) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Toshiba Corp | Tape carrier type semiconductor device |
-
1988
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