JPH0792376A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH0792376A JPH0792376A JP5240219A JP24021993A JPH0792376A JP H0792376 A JPH0792376 A JP H0792376A JP 5240219 A JP5240219 A JP 5240219A JP 24021993 A JP24021993 A JP 24021993A JP H0792376 A JPH0792376 A JP H0792376A
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
能の測距装置に関し、特に、センサアレイの感度バラツ
キの補正回路に関する。 【構成】 オートフォーカスICの量子化部3の補正回
路においては、PROM3eに書き込まれたチップのセ
ンサ感度バラツキ補正データC1 〜Cn がデコーダ3d
から出力される選択信号によって順次出力線OL2にシリ
アル転送され、加算回路3gでは対応するセンサの計数
値L1 〜Ln に補正データC1 〜Cnを加算し、その加
算値たる補正計数値N1 〜Nn を論理部へ量子化信号と
して順次シリアル転送する。コントラストのないテスト
パターンを測距対象としたとき、一方のセンサアレイの
計数値の実測分布,他方のセンサアレイの計数値の実測
分布を最小2乗法で近似2次曲線に近似し、それぞれの
実測分布と平均近似2次曲線との差から差値分布をそれ
ぞれ得て、最大値を求め、その最大値と差値分布の差を
取り、新たな差値の四捨五入値を補正データとする。
Description
置に適用可能の測距装置に関し、特に、センサアレイの
感度バラツキの補正回路に関する。
光三角方式の測距装置は、例えば図3に示すように、被
写体Tに臨み視差を作る左右一対の結像レンズ1R,1
Lを含む結像光学系と、距離測定半導体集積回路(オー
トフォーカス用IC)5とからなり、IC5は、物体像
を電気信号に変換するフォトセンサアレイ2R,2L
と、フォトセンサアレイ2R,2Lのセンサ毎の信号を
量子化する量子化回路3R,3Lと、その量子化信号に
基づいて距離信号を算出する論理部4とを有している。
図4に示すように、被写体Tは基準長(光軸間隔)Bだ
け隔てた左右一対の結像レンズ1R,1Lにより結像さ
れ、焦平面に相当するフォトセンサアレイ2R,2L上
にはそれぞれ倒立の実像である被写体像R,Lが得られ
る。被写体Tまでの距離dは三角測量の原理(三角形の
相似)に基づいて次式で与えられる。
イ2R,2Lとの距離(結像レンズ1R,1Lの焦点距
離)、X1 ,X2 は被写体中の物点Pの像点P1,P2
と結像レンズ1L,1Rの光軸l1,l2 との距離、X1
とX2 の和のXは被写体像の相対的なずれ量(位相差)
である。この空間的な位相差Xを測定することにより距
離dを求めることができ訳であるが、距離測定半導体集
積回路5では、被写体像の相関性を評価する関数を用
い、左右のフォトセンサアレイ2R,2L上で同じ被写
体像になるゾーンを見つけ出すことにより、位相差Xを
フォトセンサアレイのセンサピッチ数の形で求まるもの
である。
アレイの各センサにおいては、図5(a)に示すよう
に、光−電気変換素子であるフォトダイオードDには受
光した光の強弱に応じた光電流iが流れ、その光電流i
はフォトダイオードDの接合容量Cに積分される。その
積分電位Qがしきい値素子COMのしきい値Vthを超え
ると、図5(b)に示すように、しきい値素子COMの
出力Sが反転する。すなわち、フォトダイオードDで受
光された光の強弱が出力Sの応答時間tS の長短に変換
される。受光強度が強いと応答時間tS は短くなる。な
お、Trはリセット信号により接合容量Cの電荷を放電
させてセンサをリセットする絶縁ゲート型電界効果トラ
ンジスタである。
回路3は、図6に示すように、クロック発振回路3a
と、そのクロックCKを計数するカウンタ(例えば8ビ
ットカウンタ)3bと、フォトセンサアレイ2のn個の
センサに対応したn個のラッチ回路を備えたラッチ部3
cを有している。各ラッチ回路はそれぞれ対応するセン
サの出力S1 〜Sn をストローブ信号としてカウンタ3
bの計数値をラッチし、各ラッチ回路で保持された計数
値(量子化値)L1 〜Ln はデコーダ3dから出力され
る選択信号によって順次出力線OL1にシリアル転送され
る。また、PROM3eに書き込まれた当該チップのセ
ンサ感度バラツキ補正データC1 〜Cn がデコーダ3d
から出力される選択信号によって順次出力線OL2にシリ
アル転送され、減算回路3fでは対応するセンサの計数
値L1 〜Ln から補正データC1 〜Cn を差引き、補正
計数値(補正量子化値)N1 〜Nn を論理部4へ量子化
信号として順次シリアル転送する。
C1 〜Cn の意義を説明する。上記の測距装置において
は、n個のセンサ相互間には感度バラツキがあり、その
バラツキの分布は距離測定半導体集積回路5のチップ毎
で個体差がある。原理的には、コントラストのない白色
(無地)のテストパターンを被写体としたとき、フォト
センサアレイ2上にはコントラストのない被写体像が結
像され、各センサの出力S1 〜Sn はすべて一定の応答
時間tS となり、ラッチ部3cの各ラッチ回路で保持さ
れる計数値L1 〜Ln は相等しい値になるべきものであ
るが、現実には結像レンズ1による結像の光量分布の不
均一さ(原理誤差)に、各センサを構成する素子特性の
製造バラツキ(正味の感度バラツキ)が重畳されている
ので、計数値L1 〜Ln はばらついている。即ち、前者
の場合においては、結像レンズ1の焦平面(フォトセン
サアレイ2)上において光軸から離れるにつてその点の
受光強度(照度)はcos4則により減衰する。従って、こ
のCOS4 則により、各ラッチ回路で得られる計数値L
1 〜Ln は一様分布でなく、図7のAに示す如く1/co
s4(i)の曲線に乗る。なお、iはセンサアドレスを意
味する。後者の場合は、製造バラツキが一般にランダム
に発生するので、それによる感度バラツキは図7のBに
示すランダム曲線で模式的に表すことができる。従っ
て、これらA,Bを合成した曲線C上に計数値L1 〜L
n が乗っている。
する方策として、図6に示す補正回路(PROM3e,
減算回路3f)が用いられている。即ち、測距装置の組
立後、その個体毎のテスト工程においては、上述の白色
テストパターンを被写体としてテスト計数値L1 〜Ln
をチップから出力し、そのテスト計数値L1 〜Ln を補
正データC1 〜Cn としてPROMライターによりPR
OM3eに書き込む。
トラストのある被写体の結像から得られる実測計数値L
1 〜Ln を減算回路3fにて補正データC1 〜Cn で差
し引き、その差値を補正計数値N1 〜Nn として量子化
回路3から論理部4へシリアル転送する。
補正回路にあっては次のような問題点がある。即ち、測
距分解能を高めようとすれば、フォトセンサアレイ2の
センサセル数を増やし、量子化回路3の刻み量を小さく
する必要があり、補正データC1 〜Cn の1データのビ
ット数及びデータ数が増大する。例えば、178個のセ
ンサを有するフォトセンサアレイ2では、現在1センサ
当たり4ビットの記憶空間を必要としており、1チップ
では左右のフォトセンサアレイ2R,2Lが必要である
ため、PROM3eの占有面積が大きい。これは半導体
製造プロセス上、歩留まり低下の一因を成していた。
は、左右のセンサアレイの感度バラツキをそれぞれ独立
に補正するのではなく、左右の量子化値列の相似性を高
めるように相互勘案した補正データを用いることによ
り、補正データのための記憶ビットの削減が可能でチッ
プサイズの縮小化が実現できる測距装置を提供すること
にある。
に、本発明は、左右一対の結像レンズによって測距対象
の像がぞれぞれ結像される左右一対の第1及び第2のセ
ンサアレイと、第1及び第2のセンサアレイにそれぞれ
対応し、センサ出力を量子化して量子化値に変換すると
共に、それをセンサ感度バラツキを補正した補正量子化
値に変換する第1及び第2の量子化部と、第1及び第2
の量子化部からの量子化値列を基づき相互にセンサアド
レスの所定のゾーンに亘る量子化値の相関性を評価して
距離信号を得る論理部とを備えた測距装置において、以
下のような手段を講じたものである。即ち、第1及び第
2の量子化部における各補正手段としては、センサアド
レス毎のセンサ感度バラツキ補正データを格納する補正
データ記憶手段と、前記各量子化値に対応するセンサア
ドレスの補正データを加算して補正計数値とする加算手
段とを設け、次のような補正データを設定した点に特徴
を有する。コントラストのないテストパターンを上記測
距対象としたとき、第1のセンサアレイの量子化値の実
測分布(x1i ,y1i),第2のセンサアレイの量子化値
の実測分布(x2i ,y2i)を近似2次曲線y=a1 x2
+b1,y=a2 x2 +b2 をそれぞれ用いて最小2乗法
で近似して係数a1,a2 を求め、実測分布(x
1i ,y1i), (x2i ,y2i)と平均近似2次曲線y=
(a1 +a2 )x2 /2との差から差値{y1i−(a1
+a2 )x1i 2 /2}, {y2i−(a1 +a2 )x2i 2
/2}を得て、それぞれ差値の最大値max1 ,max
2 を求め、その最大値max1 ,max2 と上記差値の
差をそれぞれ取り、新たな差値〔max1 −{y1i−
(a1+a2 )x1i 2 /2}〕の四捨五入値Δ1iと,新
たな差値〔max2 −{y2i−(a1 +a2 )x2i 2 /
2}〕四捨五入値Δ2iを補正データとするものである。
y1i,y2iは量子化値値、a1 ,a2 ,b1 ,b2 は係
数である。
近似曲線y=a1 x2 +b1,y=a2 x2 +b2 に代え
て、近似曲線y=a1 cos4x+b1,y=a2 cos4x+b
2 を用いて設定されてなる。
工程においては、コントラストのないテストパターン用
いてテスト量子化値を量子化部から出力する。このテス
ト量子化値の実測分布(x1i ,y1i),(x2i ,y2i)
は結像レンズのcos4則の分布にセンサの正味の感度バラ
ツキが重畳した状態となっている。ここで、その分布点
を(x1i, y1i)とする。次に、実測分布(x
1i ,y1i),(x2i ,y2i)に対し最小2乗法を施し、
近似2次曲線y=a1 x2 +b1 ,y=a2 x2 +b2
を求める。ここでxはセンサアドレス、yは量子化値、
a1 ,b1,a2 ,b2 は係数である。今、係数b1 ,b
2 はセンサではオフセット量に相当するので無視すると
(最も大きなセンサ出力を基準として各センサの出力を
量子化するため、オフセット量は無視することができ
る)、近似曲線y=a1 x2 , y=a2x2 を得る。近
似曲線y=a1 x2 , y=a2 x2 は結像レンズのcos4
則の分布にフォトセンサの正味の感度バラツキが重畳し
た状態を全体的に反映したものとなっている。次に、左
右の近似曲線の係数a1 とa2 とから相加平均値(a1
+a2 )/2を取り、平均近似の2次曲線y=(a1 +
a2 )x2 /2を作る。ここで、左右の感度バラツキの
近似曲線から中和的な平均近似曲線を得る理由は、元
来、後段の論理部では左右の結像の相関一致性のゾーン
を見出すことにより左右結像の位相差を求めて距離測定
を行うことを前提としているため、補正量子化値の分布
は完全一致までは要求されず、分布曲線の相似性が確保
されれば充分であるからである。そこで、局部的ないし
微視的な相似性までは担保されないものの、センサアド
レス全体での相似性が確保されるよう近似曲線の平均曲
線を求める。従来は、左右それぞれ独立のバラツキ補正
データにより量子化値を補正していたので、論理部の前
段において相関性の補正は行われていないが、本発明で
は左右相関補正が行われているので、論理部における相
関性の評価は、局部的相関性でなく広いゾーンに亘る相
関一致性が得られる。従って、高精度の測距性能が実現
される。
/2},{y2i−(a1 +a2 )x2i 2 /2}を取り、
その最大値max1 ,max2 を求める。そして、その
最大値max1 ,max2 とそれぞれの差値との差を取
り、その新たな差値〔max1 −{y1i−(a1 +
a2 )x1i 2 /2}〕,〔max2 −{y2i−(a1 +
a2 )x2i 2 /2}〕の四捨五入値を補正データΔ1i,
Δ2iとして設定する。この補正データのビット数は差値
分布をそのまま用いる場合に比し削減されている。
圧縮化でき、チップサイズの縮小できる。
ものであるから、近似2次曲線y=a1 x2 +b1 ,y
=a2 x2 +b2 を用いた最小2乗法を施すのではな
く、近似曲線y=a1 cos4x+b1 , y=a2 cos4x+
b2 を用いた最小2乗法を施す方が良い。左右の補正量
子化値の分布の一致性(オフセット量無視)が一層良好
になる。
説明する。
ける距離測定半導体集積回路の要部を示すブロック図で
ある。
方のフォトセンサアレイ2と、それに対応した量子化回
路3が示されているが、他方系統の構成も同様である。
この距離測定半導体集積回路における量子化回路3は、
従来と同様に、クロック発振回路3aと、そのクロック
CKを計数するカウンタ(例えば8ビットカウンタ)3
bと、フォトセンサアレイ2のn個のセンサに対応した
n個のラッチ回路を備えたラッチ部3cを有している。
各ラッチ回路はそれぞれ対応するセンサの出力S1 〜S
n をストローブ信号としてカウンタ3bの計数値をラッ
チし、各ラッチ回路で保持された計数値(量子化値)L
1 〜Ln はデコーダ3dから出力される選択信号によっ
て順次出力線OL1にシリアル転送される。また、PRO
M3eに書き込まれた当該チップのセンサ感度バラツキ
補正データC1 〜Cn がデコーダ3dから出力される選
択信号によって順次出力線OL2にシリアル転送され、加
算回路3gでは対応するセンサの計数値L1 〜Ln に補
正データC1 〜Cn を加算し、その加算値たる補正計数
値(補正量子化値)N1 〜Nn を論理部4へ量子化信号
として順次シリアル転送する。ここで、従来の補正回路
が図6に示すPROM3e及び減算回路3fで構成され
ているのに対し、本例ではPROM3e及び加算回路3
gで補正回路が構成されている。そして本例における補
正データC1〜Cn は従来と異なり、またPROM3e
の1データの記録ビットも削減されている。
法を説明する。まず、測距装置の組立後、その個体毎の
テスト工程においては、上述の白色テストパターンを被
写体としてテスト計数値L1 〜Ln をチップから出力す
る。このテスト計数値L1 〜Ln の分布は図2の実線A
で示すように結像レンズのcos4則の分布にフォトセンサ
の正味の感度バラツキが重畳した状態となっている。こ
こで、その分布点を(x1i, y1i)とする。次に、テス
ト計数値L1 〜Ln の分布Aに対し最小2乗法を施し、
近似曲線y=a1 x2 +b1 を求める。ここでxはセン
サアドレス、yは計数値、a1 ,b1 は係数である。
今、係数b1 はセンサではオフセット量に相当するので
無視すると(図示はしてないが、この量子化回路では最
初に出力したセンサの出力時を基点として応答時間ts
が量子化されるため、オフセット量は無視することがで
きる)、近似曲線y=a1 x2 を得る。近似曲線y=a
1 x2 は結像レンズのcos4則の分布にフォトセンサの正
味の感度バラツキが重畳した状態を全体的に反映したも
のとなっている。また左右フォトセンサの他方からも分
布点(x2i, y2i)と近似2次曲線y=a2 x2 が得ら
れる。次に、左右の近似曲線の係数a1 とa2 とから相
加平均値(a1 +a2 )/2を取り、平均近似の2次曲
線y=(a1 +a2 )x2 /2を作る。この平均近似の
2次曲線は図2の点線Bで表される。ここで、左右の感
度バラツキの近似曲線から中和的な平均近似曲線を得る
理由は、元来、後段の論理部では左右の結像の相関一致
性のゾーンを見出すことにより左右結像の位相差を求め
て距離測定を行うことを前提としているため、補正量子
化値の分布は完全一致までは要求されず、分布曲線の相
似性が確保されれば充分であるからである。そこで、局
部的ないし微視的な相似性までは担保されないものの、
センサアドレス全体での相似性が確保されるよう近似曲
線の平均曲線を求める。従来は、左右それぞれ独立のバ
ラツキ補正データにより量子化値を補正していたので、
論理部の前段において相関性の補正は行われていない
が、本例では左右相関補正が行われているので、論理部
における相関性の評価は、局部的相関性でなく広いゾー
ンに亘る相関一致性が得られる。従って、高精度の測距
性能が実現される。
1i, y1i)との差を取り、差値{y1i−(a1 +a2 )
x1i 2 /2}の四捨五入値(整数値)を補正データとす
れば良い訳であるが、これではデータビット数の削減に
はさほど効果がない。図2のAとBとの差を見ても明ら
かなように、差値8の場合もあり、1アドレスの補正デ
ータとして4ビットが必要である。勿論、データビット
数の削減の効果を期待せず、前述の左右相関性の改善を
図る意味においては有益である。かかる場合、補正回路
においては、本例の加算回路3gを用いず、従前通り、
減算回路を用いることになる。
2 )x1i 2 /2}の最大値max1を求め、その最大値
max1 とそれぞれの差値との差を取り、その新たな差
値〔max1 −{y1i−(a1 +a2 )x1i 2 /2}〕
の四捨五入値を補正データΔ1iとして設定する。この補
正データのビット数は図2からも判るように3ビット以
内に収まっており、ビット数削減によりPROM3eの
記憶空間を圧縮化でき、チップサイズの縮小できる。補
正データCi =Δ1iとすることにより、計数値Li に対
して減算するのではなく、加算回路3gによって加算が
行われる。減算回路に比して加算回路の構成は簡素であ
る。図2に示すようにテストパターンでの補正計数値N
i の分布は中央を底として左右に階段状に昇る様子を示
す。他方のフォトセンサアレイによる補正計数値もまた
略完全一致した様子を示す。ただ、局部的にセンサアド
レス1〜2ビット程度の不一致性は存在するが、全体と
しての良好な一致性が得られた。補正計数値Ni の分布
が中央を底として左右に階段状に昇る分布であること
は、cos4則の寄与があるからである。正味のセンサ感度
バラツキは統計的に処理するべきであるが、cos4則の影
響分は原理誤差によるものであるから、近似2次曲線y
=a1 x2 +b1 を用いた最小2乗法を施すのではな
く、近似曲線y=a1 cos4x+b1 を用いた最小2乗法
を施す方が良い。
ット量無視)がより完璧になるからである。
曲線などを用いることもできる。また係数値への丸め込
み処理は四捨五入法に限らず、他の丸め込み法を用いて
も良い。更に、量子化回路は、時分割により左右のセン
サアレイないし各センサで共用でき、センサ出力を応答
時間に変換してから量子化するものに限定されるもので
はなく、センサ出力を電圧に変換してからそれを周知の
A/Dコンバータにより量子化するものであっても良
い。
び第2の量子化部における補正データ記憶手段に独特の
補正データを格納すると共に、その補正データをセンサ
出力の量子化値に加算いて補正する点に特徴を有するも
のである。従って、次の効果を奏する。
をそのまま補正データとするのではなく、左右センサア
レイの量子化値列がより一層の相似的な相関性になるよ
うに、量子化値分布状態を変形(整形)する左右相対的
な補正データを用いているので、補正データの1データ
分のビット数が従前に比して削減でき、補正データ記憶
手段の記憶空間を縮小できる。従って、チップザイスの
縮小化により歩留まりの向上が図れる。
右のセンサアレイの量子化値列の相関性が増すように補
正されているので、論理部における相関性の評価は、局
部的相関性でなく広いゾーンに亘る相関一致性が得られ
る。従って、高精度の測距性能が実現される。
定半導体集積回路の要部を示すブロック図である。
法を説明するためのグラフである。
ック図である。
ための模式図である。
構成を示す回路図、(b)は同センサ部の動作を説明す
るための信号のタインミングチャートである。
すブロック図である。
キ補正方法を説明するためのグラフ図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 左右一対の結像レンズによって測距対象
の像がぞれぞれ結像される左右一対の第1及び第2のセ
ンサアレイと、第1及び第2のセンサアレイにそれぞれ
対応し、センサ出力を量子化して量子化値に変換すると
共に、それをセンサ感度バラツキを補正した補正量子化
値に変換する第1及び第2の量子化部と、第1及び第2
の量子化部からの量子化値列を基にセンサアドレスの所
定のゾーンに亘る補正量子化値の相関性を評価して距離
信号を得る論理部とを備えた測距装置において、 前記第1及び第2の量子化部は、センサアドレス毎のセ
ンサ感度バラツキ補正データを格納する補正データ記憶
手段と、前記各量子化値に対応するセンサアドレスの補
正データを加算して前記補正量子化値とする加算手段
と、をそれぞれ有しており、前記補正データとしては以
下のΔ1i, Δ2iが設定されてなることを特徴とする測距
装置。コントラストのないテストパターンを前記測距対
象としたとき、第1のセンサアレイの量子化値の実測分
布(x1i ,y1i),第2のセンサアレイの量子化値の実
測分布(x2i ,y2i)を最小2乗法で近似2次曲線y=
a1 x2 +b1,y=a2 x2 +b2 に近似して係数a1,
a2 を求め、実測分布(x1i ,y1i), (x2i ,y2i)
と平均近似2次曲線y=(a1 +a2 )x2 /2との差
から差値{y1i−(a1 +a2 )x1i 2 /2}, {y2i
−(a1 +a2 )x2i 2 /2}を得て、それぞれ差値の
最大値max1 ,max2 を求め、その最大値ma
x1 ,max2 と前記差値の差をそれぞれ取り、新たな
差値〔max1 −{y1i−(a1 +a2 )x1i 2 /
2}〕の四捨五入値であるΔ1i,新たな差値Δ2i=〔m
ax2 −{y2i−(a1 +a2 )x2i 2 /2}〕の四捨
五入値であるΔ2i 但し、x1i ,x2i:センサアドレス y1i,y2i:量子化値 a1 ,a2 ,b1 ,b2 :係数 - 【請求項2】 請求項1に記載の測距装置において、前
記補正データは、前記2次近似曲線y=a1 x2 +b1,
y=a2 x2 +b2 に代えて、近似曲線y=a1 cos4x
+b1,y=a2 cos4x+b2 を用いて設定されてなるこ
とを特徴とする測距装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05240219A JP3099603B2 (ja) | 1993-09-28 | 1993-09-28 | 測距装置 |
US08/313,733 US5608664A (en) | 1993-09-28 | 1994-09-27 | Method for correlating image data of a range-finder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05240219A JP3099603B2 (ja) | 1993-09-28 | 1993-09-28 | 測距装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0792376A true JPH0792376A (ja) | 1995-04-07 |
JP3099603B2 JP3099603B2 (ja) | 2000-10-16 |
Family
ID=17056227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP05240219A Expired - Fee Related JP3099603B2 (ja) | 1993-09-28 | 1993-09-28 | 測距装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5608664A (ja) |
JP (1) | JP3099603B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5943514A (en) * | 1996-07-19 | 1999-08-24 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Focusing system |
KR100244951B1 (ko) * | 1995-12-28 | 2000-03-02 | 유무성 | 측거 영역이 가변되는 패시브 자동 초점 조절 장치 및 그 방법 |
US6681078B2 (en) | 2001-12-10 | 2004-01-20 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Distance measuring apparatus |
JP2006308556A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-11-09 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ムラ検査装置およびムラ検査方法 |
JP2008197681A (ja) * | 2005-04-11 | 2008-08-28 | Canon Inc | 焦点検出装置 |
JP2009169124A (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-30 | Sanyo Electric Co Ltd | 電子カメラ |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960028223A (ko) * | 1994-12-15 | 1996-07-22 | 나카사토 요시히코 | 영상쌍간의 위상차 검출 방법 |
FR2782808B1 (fr) * | 1998-05-15 | 2003-11-28 | Asahi Optical Co Ltd | Agencement de dispositif de formation d'image |
US6476943B1 (en) * | 1999-02-23 | 2002-11-05 | Virtual Pro, Inc. | Distance measurement apparatus |
US6701074B2 (en) | 2001-12-07 | 2004-03-02 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Distance measuring apparatus |
US6829434B2 (en) | 2001-12-10 | 2004-12-07 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Distance measuring apparatus |
JP3946514B2 (ja) * | 2001-12-26 | 2007-07-18 | 富士通株式会社 | 光学装置 |
JP2005265606A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 距離測定装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01229211A (ja) * | 1988-03-10 | 1989-09-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 位相差検出装置 |
US5477382A (en) * | 1994-08-05 | 1995-12-19 | Northrop Grumman Corporation | Optical correlator system |
-
1993
- 1993-09-28 JP JP05240219A patent/JP3099603B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-09-27 US US08/313,733 patent/US5608664A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100244951B1 (ko) * | 1995-12-28 | 2000-03-02 | 유무성 | 측거 영역이 가변되는 패시브 자동 초점 조절 장치 및 그 방법 |
US5943514A (en) * | 1996-07-19 | 1999-08-24 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Focusing system |
US6681078B2 (en) | 2001-12-10 | 2004-01-20 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Distance measuring apparatus |
JP2006308556A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-11-09 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ムラ検査装置およびムラ検査方法 |
JP2008197681A (ja) * | 2005-04-11 | 2008-08-28 | Canon Inc | 焦点検出装置 |
JP2009169124A (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-30 | Sanyo Electric Co Ltd | 電子カメラ |
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