JPH0792220A - Continuity tester for transistor - Google Patents
Continuity tester for transistorInfo
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- JPH0792220A JPH0792220A JP5239787A JP23978793A JPH0792220A JP H0792220 A JPH0792220 A JP H0792220A JP 5239787 A JP5239787 A JP 5239787A JP 23978793 A JP23978793 A JP 23978793A JP H0792220 A JPH0792220 A JP H0792220A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はトランジスタの導通試験
装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transistor continuity test device.
【０００２】[0002]
【従来の技術】トランジスタの劣化診断の１つとして、
トランジスタのコレクタ、エミツタおよびベースの３つ
の端子間のそれぞれの抵抗値をテスタ等の回路計で測定
し、その抵抗値がトランジスタの基準抵抗値と異なつて
いるとき、被測定のトランジスタは劣化していると判定
する方法が広く用いられている。従つて、トランジスタ
１個に対して、コレクタ・エミツタ、エミツタ・コレク
タ、コレクタ・ベース、ベース・コレクタ、エミツタ・
ベース、ベース・エミツタの６通りを測定しなければな
らなかつた。2. Description of the Related Art As one of transistor deterioration diagnosis,
The resistance of each of the three terminals of the collector, emitter and base of the transistor is measured with a circuit meter such as a tester, and when the resistance is different from the reference resistance of the transistor, the transistor under measurement has deteriorated. The method of determining that there is is widely used. Therefore, for one transistor, collector-emitter, emitter-collector, collector-base, base-collector, emitter
I had to measure 6 types of bass and bass / emitter.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、最近の
誘導電動機を制御する大容量のトランジスタを使用した
インバータでは、１２組のトランジスタを使用したもの
があり、上述した従来のトランジスタの導通試験方法を
採用すると、全部のトランジスタの導通試験のために各
組６回行なうので７２回も測定が必要となり、しかもト
ランジスタにダーリントン回路を使用したものでは、ト
ランジスタ１組当たり１０回測定する必要があるため、
合計１２０回の測定を行なわなければならず、測定に長
時間を要するのみならず測定ミスが発生する危険があつ
た。However, there is a recent inverter using a large-capacity transistor for controlling an induction motor, which uses 12 sets of transistors, and the above-described conventional transistor continuity test method is adopted. Then, since each group is conducted 6 times for the continuity test of all transistors, it is necessary to measure 72 times, and in the case where the Darlington circuit is used for the transistors, it is necessary to measure 10 times for each group of transistors.
Since a total of 120 measurements must be carried out, it not only takes a long time for the measurement, but also there is a risk that a measurement error may occur.
【０００４】本発明の目的とするところは、短時間で測
定ミスなくトランジスタの測定を行なうことができるト
ランジスタの導通試験装置を提供するにある。It is an object of the present invention to provide a transistor continuity test apparatus which can measure a transistor in a short time without making a measurement error.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、トランジスタのコレクタ、エミツタおよび
ベースの各端子間の導通を回路計によつて測定するトラ
ンジスタの導通試験装置において、上記トランジスタの
任意の２つの端子を選択的に接続する第１の切替スイツ
チと、この第１の切替スイツチで選択した接続における
電流の方向を反転する第２の切替スイツチを設けたこと
を特徴とする。In order to achieve the above object, the present invention provides a transistor continuity test apparatus for measuring the continuity between the collector, emitter and base terminals of a transistor with a circuit meter. Is provided with a first switching switch for selectively connecting any two terminals of the above, and a second switching switch for reversing the direction of the current in the connection selected by the first switching switch.
【０００６】[0006]
【作用】本発明によるトランジスタの導通試験装置は、
上述の如く第１の切替スイツチでトランジスタのコレク
タ、エミツタおよびベースの任意の２つの端子を選択し
て接続した状態で、第２の切替スイツチにより電流の方
向を反転することができるようにしたため、第１の切替
スイツチによる接続状態で第２の切替スイツチを操作す
るだけで２通りの測定を行なうことができ、結局、短時
間に、かつ測定ミスをすることなく測定を行なうことが
できる。The transistor continuity test apparatus according to the present invention is
As described above, the current direction can be reversed by the second switching switch in the state where any two terminals of the collector, the emitter and the base of the transistor are selected and connected by the first switching switch. By operating the second switching switch in the connected state by the first switching switch, two kinds of measurement can be performed, and in the end, the measurement can be performed in a short time and without making a measurement error.
【０００７】[0007]
【実施例】以下、本発明の実施例を図面によつて説明す
る。図１は本発明の一実施例によるトランジスタの導通
試験装置の全体構成を示す回路図である。導通試験装置
は、入力端子Ｎ１１，Ｎ１２，Ｎ１３および出力端子Ｏ
１１，Ｏ１２を有する第１の切替スイツチＳＷ１と、入
力端子Ｎ２１，Ｎ２２および出力端子Ｏ２１，Ｏ２２を
有する第２切替スイツチＳＷ２と、テスタ等の回路計Ｔ
Ｓとから構成されている。第１の切替スイツチＳＷ１の
入力端子Ｎ１１，Ｎ１２，Ｎ１３には測定用のトランジ
スタＴＲＳのコレクタＣ、ベースＢ、エミツタＥがそれ
ぞれ接続され、出力端子Ｏ１１に接続した共通端子Ｃ１
１と端子Ｒ１０〜Ｒ１３とによつてロータリースイツチ
Ｒ１を構成している。このロータリースイツチＲ１にお
いて、端子Ｒ１１はトランジスタＴＲＳのベースＢに接
続した入力端子Ｎ１２に接続され、端子Ｒ１２，Ｒ１３
はトランジスタＴＲＳのコレクタＣに接続した入力端子
Ｎ１１に接続されている。また出力端子Ｏ１２に接続し
た共通端子Ｃ１２と端子Ｒ２０〜Ｒ２３とによつてロー
タリースイツチＲ２を構成しており、その端子Ｒ２３を
トランジスタＴＲＳのベースＢに接続した入力端子Ｎ１
２に接続し、端子Ｒ２１，Ｒ２２をトランジスタＴＲＳ
のエミツタＥに接続した入力端子Ｎ１３に接続してい
る。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram showing the overall configuration of a transistor continuity test apparatus according to an embodiment of the present invention. The continuity test apparatus includes input terminals N11, N12, N13 and an output terminal O.
A first switching switch SW1 having 11, 11 and a second switching switch SW2 having input terminals N21, N22 and output terminals O21, O22, and a circuit meter T such as a tester.
It is composed of S and S. The collector C, base B, and emitter E of the measuring transistor TRS are connected to the input terminals N11, N12, and N13 of the first switching switch SW1, respectively, and the common terminal C1 is connected to the output terminal O11.
1 and terminals R10 to R13 form a rotary switch R1. In this rotary switch R1, the terminal R11 is connected to the input terminal N12 connected to the base B of the transistor TRS, and the terminals R12 and R13 are connected.
Is connected to an input terminal N11 connected to the collector C of the transistor TRS. Further, the common terminal C12 connected to the output terminal O12 and the terminals R20 to R23 constitute a rotary switch R2, and the input terminal N1 in which the terminal R23 is connected to the base B of the transistor TRS.
2 and connect the terminals R21 and R22 to the transistor TRS.
Is connected to the input terminal N13 connected to the emitter E.
【０００８】一方、第２切替スイツチＳＷ２は、その入
力端子Ｎ２１に第１の切替スイツチＳＷ１の出力端子Ｏ
１１を接続し、その入力端子Ｎ２２に第１の切替スイツ
チＳＷ１の出力端子Ｏ１２を接続しており、出力端子Ｏ
２１に接続した共通端子Ｃ２１と端子Ｓ１１，Ｓ１２と
によつてロータリースイツチＳ１を構成している。この
ロータリースイツチＳ１において、端子Ｓ１１は入力端
子Ｎ２２に接続され、端子Ｓ１２は入力端子Ｎ２１に接
続されている。また出力端子Ｏ２２に接続した共通端子
Ｃ２２と端子Ｓ２１，Ｓ２２とによつてロータリースイ
ツチＳ２を構成しており、端子Ｓ２１を入力端子Ｎ２１
に接続し、また端子Ｓ２２を入力端子Ｎ２２に接続して
いる。第２切替スイツチＳＷ２の出力端子Ｏ２１は回路
計ＴＳの正端子ＴＰに接続され、また出力端子Ｏ２２は
回路計ＴＳの負端子ＴＮに接続されている。On the other hand, the second switching switch SW2 has its input terminal N21 at the output terminal O of the first switching switch SW1.
11 is connected to the input terminal N22 of which the output terminal O12 of the first switching switch SW1 is connected.
The common switch C21 and the terminals S11 and S12 connected to the switch 21 constitute a rotary switch S1. In this rotary switch S1, the terminal S11 is connected to the input terminal N22, and the terminal S12 is connected to the input terminal N21. The common switch C22 connected to the output terminal O22 and the terminals S21 and S22 constitute a rotary switch S2, and the terminal S21 is connected to the input terminal N21.
, And the terminal S22 is connected to the input terminal N22. The output terminal O21 of the second switching switch SW2 is connected to the positive terminal TP of the circuit meter TS, and the output terminal O22 is connected to the negative terminal TN of the circuit meter TS.
【０００９】次に、本導通試験装置の動作を説明する。
先ず、図１に示すように被測定用のトランジスタＴＲＳ
のコレクタＣ、ベースＢ、エミツタＥを第１の切替スイ
ツチＳＷ１の入力端子Ｎ１１，Ｎ１２，Ｎ１３に接続
し、回路計ＴＳの端子ＴＰ，ＴＮを第２の切替スイツチ
ＳＷ２の出力端子Ｏ２１，Ｏ２２に接続する。Next, the operation of the continuity test apparatus will be described.
First, as shown in FIG. 1, a transistor TRS to be measured.
Is connected to the input terminals N11, N12, N13 of the first switching switch SW1 and the terminals TP, TN of the circuit meter TS are connected to the output terminals O21, O22 of the second switching switch SW2. Connecting.
【００１０】次に、ロータリースイツチＲ１，Ｒ２を図
示の如く接点Ｒ１１，Ｒ２１に設定し、ロータリースイ
ツチＳ１，Ｓ２も端子Ｓ１１，Ｓ２１に設定する。こう
して正端子ＴＰ……出力端子Ｏ２１……端子Ｃ２１……
ロータリースイツチＳ１……端子Ｓ１１……入力端子Ｎ
２２……出力端子Ｏ１２……端子Ｃ１２……ロータリー
スイツチＲ２……端子Ｒ２１……入力端子Ｎ１３……エ
ミツタＥ……ベースＢ……入力端子Ｎ１２……端子Ｒ１
１……ロータリースイツチＲ１……端子Ｃ１１……出力
端子Ｏ１１……入力端子Ｎ２１……端子Ｓ２１……ロー
タリースイツチＳ２……端子Ｃ２２……出力端子Ｏ２２
……負端子ＴＮの回路が形成され、エミツタＥ−ベース
Ｂの抵抗値を回路計ＴＳで測定することができる。Next, the rotary switches R1 and R2 are set to the contacts R11 and R21 as shown, and the rotary switches S1 and S2 are also set to the terminals S11 and S21. Thus, the positive terminal TP ... the output terminal O21 ... the terminal C21.
Rotary switch S1 …… Terminal S11 …… Input terminal N
22 ... Output terminal O12 ... Terminal C12 ... Rotary switch R2 ... Terminal R21 ... Input terminal N13 ... Emitter E ... Base B ... Input terminal N12 ... Terminal R1
1 ... Rotary switch R1 ... Terminal C11 ... Output terminal O11 ... Input terminal N21 ... Terminal S21 ... Rotary switch S2 ... Terminal C22 ... Output terminal O22
The circuit of the negative terminal TN is formed, and the resistance value of the emitter E-base B can be measured by the circuit meter TS.
【００１１】その後、同状態から第２の切替スイツチＳ
Ｗ２のロータリースイツチＳ１，Ｓ２を端子Ｓ１２，Ｓ
２２に切り替える。すると、正端子ＴＰ……出力端子Ｏ
２１……端子Ｃ２１……ロータリースイツチＳ１……端
子Ｓ１２……入力端子Ｎ２１……出力端子Ｏ１１……端
子Ｃ１１……ロータリースイツチＲ１……端子Ｒ１１…
…入力端子Ｎ１２……ベースＢ……エミツタＥ……入力
端子Ｎ３……端子Ｒ２１……ロータリースイツチＲ２…
…端子Ｃ１２……出力端子Ｏ１２……入力端子Ｎ２２…
…端子Ｓ２２……ロータリースイツチＳ２……端子Ｃ２
２……出力端子Ｏ２２……負端子ＴＮの回路が形成さ
れ、電流は先程とは逆にベースＢ−エミツタＥの方向に
流れ、ベースＢ−エミツタＥの抵抗値を測定することが
できる。この説明から分かるように、第１の切替スイツ
チＳＷ１はトランジスタＴＲＳのコレクタＣ、ベースＢ
およびエミツタＥでの組合せを変更するもので、第２の
切替スイツチＳＷ２は、第１の切替スイツチＳＷ１によ
る接続の組合せで電流の方向を反転させるものである。
従つて、第１の切替スイツチＳＷ１を同じ接続状態にし
たままで、第２の切替スイツチＳＷ２のロータリースイ
ツチＳ１，Ｓ２を切り替えるだけでエミツタＥ−ベース
Ｂ間およびベースＢ−エミツタＥ間の測定を行なうこと
ができ、トランジスタＴＲＳの各端子間の抵抗を短時間
に、しかも測定ミスなく測定することができる。Thereafter, from the same state, the second switching switch S
Connect the rotary switches S1 and S2 of W2 to terminals S12 and S
Switch to 22. Then, the positive terminal TP ... Output terminal O
21 ...... Terminal C21 ...... Rotary switch S1 ...... Terminal S12 ...... Input terminal N21 ...... Output terminal O11 ...... Terminal C11 ...... Rotary switch R1 ...... Terminal R11 ...
... Input terminal N12 ... Base B ... Emitter E ... Input terminal N3 ... Terminal R21 ... Rotary switch R2 ...
... Terminal C12 ... Output terminal O12 ... Input terminal N22 ...
… Terminal S22 …… Rotary switch S2 …… Terminal C2
2 ... Output terminal O22 ... A circuit of the negative terminal TN is formed, and the current flows in the direction of the base B-emitter E in the opposite direction to the above, and the resistance value of the base B-emitter E can be measured. As can be seen from this description, the first switching switch SW1 has a collector C and a base B of the transistor TRS.
In addition, the combination in the emitter E is changed, and the second switching switch SW2 reverses the direction of the current by the combination of the connections made by the first switching switch SW1.
Therefore, with the first switch SW1 kept in the same connection state, the rotary switches S1 and S2 of the second switch SW2 are simply switched to measure between the emitter E and the base B and between the base B and the emitter E. Therefore, the resistance between the terminals of the transistor TRS can be measured in a short time and without a measurement error.
【００１２】次に、ロータリースイツチＳ１，Ｓ２を端
子Ｓ１１，Ｓ２１に戻し、ロータリースイツチＲ１，Ｒ
２を端子Ｒ１２，Ｒ２２に切り替えると、エミツタＥ−
コレクタＣの抵抗値を回路計ＴＳで測定することがで
き、この状態から第１の切替スイツチＳＷ１を同じ接続
状態にしたままで、第２の切替スイツチＳＷ２のロータ
リースイツチＳ１，Ｓ２を端子Ｓ１２，Ｓ２２に切り替
えると、今度は電流の方向が反転してコレクタＣ−エミ
ツタＥの抵抗値を測定することができる。Then, the rotary switches S1 and S2 are returned to the terminals S11 and S21, and the rotary switches R1 and R2.
2 is switched to terminals R12 and R22, the emitter E-
The resistance value of the collector C can be measured by the circuit meter TS. From this state, the rotary switches S1 and S2 of the second switching switch SW2 are connected to the terminals S12, while keeping the same connection state of the first switching switch SW1. When switching to S22, the direction of the current is reversed this time, and the resistance value of the collector C-emitter E can be measured.
【００１３】更に、ロータリースイツチＳ１，Ｓ２を端
子Ｓ１１，Ｓ２１に戻し、ロータリースイツチＲ１，Ｒ
２を端子Ｒ１３，Ｒ２３に切り替えてベースＢ−コレク
タＣの抵抗値を回路計ＴＳで測定し、この状態から第１
の切替スイツチＳＷ１を同じ接続状態にしたままで、第
２の切替スイツチＳＷ２のロータリースイツチＳ１，Ｓ
２を端子Ｓ１２，Ｓ２２に切り替えて電流の方向を反転
し、コレクタＣ−ベースＢの抵抗値を回路計ＴＳで測定
することができる。Further, the rotary switches S1 and S2 are returned to the terminals S11 and S21, and the rotary switches R1 and R2 are connected.
2 is switched to terminals R13 and R23, the resistance value of the base B-collector C is measured by the circuit meter TS, and from this state, the first
With the switching switch SW1 of No. 2 kept in the same connection state, the rotary switches S1, S of the second switching switch SW2 of
2 can be switched to terminals S12 and S22 to reverse the direction of current, and the resistance value of the collector C-base B can be measured by the circuit meter TS.
【００１４】このようにして、被測定用のトランジスタ
ＴＲＳにおける６通りの全ての抵抗値を測定することが
でき、各測定結果を、例えば図２に示すような基準抵抗
値と比較する。同図においてＣ→Ｅは、トランジスタの
コレクタＣ−エミツタＥ間を示し、その測定抵抗値が１
００Ωであるとすると、基準抵抗値∞Ωと異なるので被
測定用のトランジスタＴＲＳが劣化していると判定す
る。In this way, all six resistance values of the transistor TRS to be measured can be measured, and each measurement result is compared with the reference resistance value as shown in FIG. 2, for example. In the figure, C → E indicates a portion between the collector C of the transistor and the emitter E, and the measured resistance value is 1
If it is 00Ω, it is different from the reference resistance value ∞Ω, and it is determined that the transistor TRS to be measured is deteriorated.
【００１５】尚、上述した実施例はトランジスタ１個の
場合について説明したが、トランジスタ２個使用したダ
ーリントン回路においても同様に構成することができ
る。Although the above embodiment has been described for the case of one transistor, a Darlington circuit using two transistors can be similarly constructed.
【００１６】[0016]
【発明の効果】以上説明したように本発明によるトラン
ジスタの導通試験装置は、コレクタ、ベースおよびエミ
ツタ間の接続を選定する第１の切替スイツチと、第１の
切替スイツチにより選定された接続の電流の方向を反転
する第２の切替スイツチとを設けたため、短時間にかつ
測定ミスなく測定を行なうことができる。As described above, in the transistor continuity test apparatus according to the present invention, the first switching switch for selecting the connection between the collector, the base and the emitter, and the current for the connection selected by the first switching switch. Since the second switching switch for reversing the direction of is provided, the measurement can be performed in a short time and without a measurement error.
【図１】本発明の一実施例によるトランジスタの導通試
験装置の全体構成を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an overall configuration of a transistor continuity test device according to an embodiment of the present invention.
【図２】図１に示したトランジスタの導通試験装置によ
る抵抗値の測定結果と比較する基準抵抗値を示す図であ
る。FIG. 2 is a diagram showing a reference resistance value to be compared with the resistance value measurement result by the transistor continuity test device shown in FIG.
Ｂ ベース Ｃ コレクタ Ｅ エミツタ Ｒ１，Ｒ２ ロータリースイツチ ＳＷ１ 第１の切替スイツチ ＳＷ２ 第２の切替スイツチ Ｓ１，Ｓ２ ロータリースイツチ ＴＲＳ トランジスタ ＴＳ 回路計 B Base C Collector E Emitter R1, R2 Rotary switch SW1 First switching switch SW2 Second switching switch S1, S2 Rotary switch TRS Transistor TS Circuit meter
Claims (1)
びベースの各端子間の導通を回路計によつて測定するト
ランジスタの導通試験装置において、上記トランジスタ
の任意の２つの端子を選択的に接続する第１の切替スイ
ツチと、この第１の切替スイツチで選択した接続におけ
る電流の方向を反転する第２の切替スイツチを設けたこ
とを特徴とするトランジスタの導通試験装置。1. A transistor continuity testing apparatus for measuring the continuity between the collector, emitter and base terminals of a transistor by means of a circuit meter, wherein a first transistor for selectively connecting any two terminals of the transistor is provided. A transistor continuity test device comprising a switching switch and a second switching switch for reversing the direction of current in the connection selected by the first switching switch.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5239787A JPH0792220A (en) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | Continuity tester for transistor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5239787A JPH0792220A (en) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | Continuity tester for transistor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0792220A true JPH0792220A (en) | 1995-04-07 |
Family
ID=17049881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5239787A Pending JPH0792220A (en) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | Continuity tester for transistor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0792220A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015092140A (en) * | 2013-11-08 | 2015-05-14 | 株式会社明電舎 | Semiconductor module inspection method and semiconductor system |
| JP2017138159A (en) * | 2016-02-02 | 2017-08-10 | 三菱電機株式会社 | Current-carrying test device for power module |
-
1993
- 1993-09-27 JP JP5239787A patent/JPH0792220A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015092140A (en) * | 2013-11-08 | 2015-05-14 | 株式会社明電舎 | Semiconductor module inspection method and semiconductor system |
| JP2017138159A (en) * | 2016-02-02 | 2017-08-10 | 三菱電機株式会社 | Current-carrying test device for power module |
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