JPH0786432B2 - 赤外放射分光測定装置 - Google Patents
赤外放射分光測定装置Info
- Publication number
- JPH0786432B2 JPH0786432B2 JP62251843A JP25184387A JPH0786432B2 JP H0786432 B2 JPH0786432 B2 JP H0786432B2 JP 62251843 A JP62251843 A JP 62251843A JP 25184387 A JP25184387 A JP 25184387A JP H0786432 B2 JPH0786432 B2 JP H0786432B2
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- Japan
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- luminescent sample
- detector
- sample
- light
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、バックグラウンドからの放射を無視できる
か、無視できなくとも測定中にわたって一定であるとみ
なせるようにした赤外放射分光測定装置に関するもので
ある。
か、無視できなくとも測定中にわたって一定であるとみ
なせるようにした赤外放射分光測定装置に関するもので
ある。
赤外放射分光測定装置の基本的な構成を第２図に示す。
第２図で１は発光試料、２は分光器、３は検知器を示
す。発光試料１は測定の対象となっているもので、通常
分光器２と検知器３を結ぶ光軸に対して垂直に配置され
る。分光器２は発光試料１からの放射のうち測定しよう
とする周波数帯を選択するもので、例えば干渉計などが
よく知られている。検知器３は発光試料１の放射のうち
分光器２を通ってきた光の輝度を検出するものであり、
通常黒く塗られ、黒体に近いものである。
第２図で１は発光試料、２は分光器、３は検知器を示
す。発光試料１は測定の対象となっているもので、通常
分光器２と検知器３を結ぶ光軸に対して垂直に配置され
る。分光器２は発光試料１からの放射のうち測定しよう
とする周波数帯を選択するもので、例えば干渉計などが
よく知られている。検知器３は発光試料１の放射のうち
分光器２を通ってきた光の輝度を検出するものであり、
通常黒く塗られ、黒体に近いものである。
しかしながら、第２図の構成において検知器３で検出さ
れる測定値は、発光試料１の放射した赤外線だけを検出
したものではない。物体はその温度に応じた発光を行う
ので、検知器３も輝度KDで発光しており、また発光試料
１、分光器２、検知器３の周囲を囲む物体（図示せず）
も輝度KBで発光している。これらの発光が測定に悪影響
を及ぼすことは当然であるが、従来はこれら発光試料１
以外の物体からの放射（以下これをバックグラウンドか
らの放射という）は考慮されておらず、測定値は必ずし
も精度の高いものとは言い難いものであった。
れる測定値は、発光試料１の放射した赤外線だけを検出
したものではない。物体はその温度に応じた発光を行う
ので、検知器３も輝度KDで発光しており、また発光試料
１、分光器２、検知器３の周囲を囲む物体（図示せず）
も輝度KBで発光している。これらの発光が測定に悪影響
を及ぼすことは当然であるが、従来はこれら発光試料１
以外の物体からの放射（以下これをバックグラウンドか
らの放射という）は考慮されておらず、測定値は必ずし
も精度の高いものとは言い難いものであった。
本発明は、上記の問題点を解決するものであって、バッ
クグラウンドからの放射を無視できるか、無視できなく
とも測定中は一定であるとみなせるようにした赤外放射
分光測定装置を提供することを目的とするものである。
クグラウンドからの放射を無視できるか、無視できなく
とも測定中は一定であるとみなせるようにした赤外放射
分光測定装置を提供することを目的とするものである。
上記の目的を達成するために、本発明の赤外放射分光測
定装置は、発光試料と、分光器と、検知器を備えた赤外
放射分光測定装置において、少なくとも発光試料と光軸
とのなす角度を直角から外し、発光試料に対向させてト
ラップ用黒体を配置すると共に、該トラップ用黒体を含
む発光試料の周囲を囲む物体を低温の黒体としたことを
特徴とする。
定装置は、発光試料と、分光器と、検知器を備えた赤外
放射分光測定装置において、少なくとも発光試料と光軸
とのなす角度を直角から外し、発光試料に対向させてト
ラップ用黒体を配置すると共に、該トラップ用黒体を含
む発光試料の周囲を囲む物体を低温の黒体としたことを
特徴とする。
本発明は赤外放射分光測定装置によれば、発光試料と光
軸とのなす角度を直角から外しているので、どのような
場合でもバックグラウンドからの放射を、少なくとも一
定とみなせるようになり、より精度の高い測定を行うこ
とができる。
軸とのなす角度を直角から外しているので、どのような
場合でもバックグラウンドからの放射を、少なくとも一
定とみなせるようになり、より精度の高い測定を行うこ
とができる。
第１図は本発明に係る赤外放射分光測定装置の１実例の
構成を示す図、第３図は発光試料の面が散乱面である場
合の説明図、第４図はアパーチャを用いた場合の構成を
示す図である。図中、１は発光試料、２は分光器、３は
検知器、４は全立体角Ω、５は立体角ω、６はアパーチ
ャ、７はトラップ用黒体を示す。
構成を示す図、第３図は発光試料の面が散乱面である場
合の説明図、第４図はアパーチャを用いた場合の構成を
示す図である。図中、１は発光試料、２は分光器、３は
検知器、４は全立体角Ω、５は立体角ω、６はアパーチ
ャ、７はトラップ用黒体を示す。
本発明の実施例を説明する前に、まずバックグラウンド
からの放射がどの程度の影響を与えるものなのか、その
量を（Ｉ）発光試料が十分大きく、かつ発光試料の面が
鏡面である場合、（II）発光試料が十分大きく、かつ発
光試料の面が散乱面である場合、（III）発光試料の一
部を見るために途中にアパーチャを入れ、不要な部分を
遮光している場合、の３つの場合について考えてみる。
からの放射がどの程度の影響を与えるものなのか、その
量を（Ｉ）発光試料が十分大きく、かつ発光試料の面が
鏡面である場合、（II）発光試料が十分大きく、かつ発
光試料の面が散乱面である場合、（III）発光試料の一
部を見るために途中にアパーチャを入れ、不要な部分を
遮光している場合、の３つの場合について考えてみる。
（Ｉ）発光試料が十分大きく、かつ発光試料の面が鏡面
である場合 なお、以下の議論で、結像に必要な光学系については無
関係であるので省略する。
である場合 なお、以下の議論で、結像に必要な光学系については無
関係であるので省略する。
第２図で発光試料１が十分大きく、かつ面が鏡面である
とすると、発光試料１と検知器３は互いに物体とその像
の関係にあるために、検知器３に入射する光は発光試料
１から放射された光か、又は発光試料１で反射した光で
あり、また逆に発光試料１で反射される光は検知器３か
らの発光又は検知器３で反射された光である。このこと
は、途中の光学系からの発光がわずかにあるにしても、
そのほとんどの検知器３に入射する光が発光試料１と検
知器３からの発光に起因するものであること、従って第
２図でKBで示す周囲の物体からの発光は無視できること
を意味する。
とすると、発光試料１と検知器３は互いに物体とその像
の関係にあるために、検知器３に入射する光は発光試料
１から放射された光か、又は発光試料１で反射した光で
あり、また逆に発光試料１で反射される光は検知器３か
らの発光又は検知器３で反射された光である。このこと
は、途中の光学系からの発光がわずかにあるにしても、
そのほとんどの検知器３に入射する光が発光試料１と検
知器３からの発光に起因するものであること、従って第
２図でKBで示す周囲の物体からの発光は無視できること
を意味する。
そこで、発光試料１の放射光強度、即ち輝度をK,放射率
をε，検知器３の輝度をKD,放射率をεD,測定装置の特
性を示す装置関数をＡとすると、測定信号Ｍは次のよう
に表わされる。
をε，検知器３の輝度をKD,放射率をεD,測定装置の特
性を示す装置関数をＡとすると、測定信号Ｍは次のよう
に表わされる。
Ｍ＝KA−KDA ＋Ｋ（１−ε）（１−εＤ）A3 KD（１−ε）A2 Ｋ（１−ε）２（１−εＤ）2A5 KD（１−ε）２（１−εＤ）A4 ＋……… ………（１） 右辺の第１項は発光試料１で発光された光で測定の対象
になっているものである。第２項は検知器３から発光さ
れた分で、これは減光作用を及ぼすので負になってい
る。第３項は、発光試料１からの光が検知器３で反射さ
れ、更に発光試料１で反射されたもので、第４項は検知
器３からの光が発光試料１で反射したもの、第５項以下
は同様に検知器３、発光試料でより多くの反射をくり返
した光である。
になっているものである。第２項は検知器３から発光さ
れた分で、これは減光作用を及ぼすので負になってい
る。第３項は、発光試料１からの光が検知器３で反射さ
れ、更に発光試料１で反射されたもので、第４項は検知
器３からの光が発光試料１で反射したもの、第５項以下
は同様に検知器３、発光試料でより多くの反射をくり返
した光である。
ここで、前述したように、検知器３は黒体に近いものと
されているからεＤ≒１であり、これを（１）式に代入
すると（１）式は、 Ｍ＝〔Ｋ−KD＋KD（１−ε）Ａ〕Ａ …（２） となる。（２）式の括弧の中の第２項、第３項がバック
グランドである。
されているからεＤ≒１であり、これを（１）式に代入
すると（１）式は、 Ｍ＝〔Ｋ−KD＋KD（１−ε）Ａ〕Ａ …（２） となる。（２）式の括弧の中の第２項、第３項がバック
グランドである。
（II）発光試料が十分大きく、かつ発光試料の面が散乱
面である場合、 発光試料１の面を完全散乱面にすると、上述した（Ｉ）
の場合と異なるのは、発光試料１に入射する光は全て検
知器３に入射することである。即ち、（Ｉ）の場合には
無視できた周囲の物体からの発光KB（放射率をεＢとす
る）をも考慮しなければならないこと、そしてその量
は、第３図に示すように全立体角Ωに対する発光試料１
から分光器２を臨む立体角ωの比に関係するということ
である。
面である場合、 発光試料１の面を完全散乱面にすると、上述した（Ｉ）
の場合と異なるのは、発光試料１に入射する光は全て検
知器３に入射することである。即ち、（Ｉ）の場合には
無視できた周囲の物体からの発光KB（放射率をεＢとす
る）をも考慮しなければならないこと、そしてその量
は、第３図に示すように全立体角Ωに対する発光試料１
から分光器２を臨む立体角ωの比に関係するということ
である。
なお、第３図において第２図と同じものには同じ番号を
付してある。
付してある。
これらの事項を考慮しつつ（Ｉ）の場合と同様な手法で
検知器３における測定信号Ｍを計算すると次のようにな
る。
検知器３における測定信号Ｍを計算すると次のようにな
る。
（Ｉ）の場合と同様にεＤ≒１であるから（３）式は と簡略化される。この（４）式は発光試料の向きにかか
わらず成り立つ。
わらず成り立つ。
（III）発光試料の一部を見るための途中にアパーチャ
を入れ、不要な部分を遮光している場合（第４図）。
を入れ、不要な部分を遮光している場合（第４図）。
この場合検知器３には発光試料１の像とアパーチャ６の
像が結像することになるが、発光試料については
（Ｉ），（II）の項で述べたと同様なので、ここではア
パーチャの像についてだけ考えてみる。なお、アパーチ
ャに関する量については各関数にプライムを付すること
にする。
像が結像することになるが、発光試料については
（Ｉ），（II）の項で述べたと同様なので、ここではア
パーチャの像についてだけ考えてみる。なお、アパーチ
ャに関する量については各関数にプライムを付すること
にする。
まず、アパーチャが鏡面である場合について考える。こ
の場合（２）式から、 Ｍ′＝〔Ｋ′−KD′＋KD′（１−ε′）Ａ〕×Ａ………
（５） が得られる。この式でＫ′はアパーチャからの放射を、
ε′はアパーチャの放射率を、Ｋ′Ｄは検知器のアパー
チャ像部からの放射を示す。
の場合（２）式から、 Ｍ′＝〔Ｋ′−KD′＋KD′（１−ε′）Ａ〕×Ａ………
（５） が得られる。この式でＫ′はアパーチャからの放射を、
ε′はアパーチャの放射率を、Ｋ′Ｄは検知器のアパー
チャ像部からの放射を示す。
Ｍ′は（２）式のＭと区別して測定できるものではない
から（５）式のＭ′はバックグラウンドからの放射と考
えるべきものである。
から（５）式のＭ′はバックグラウンドからの放射と考
えるべきものである。
また、アパーチャが散乱面の場合は（４）式と同様にな
り、この場合もＭ′は全てバックグラウンドからの放射
と考えるべきものである。
り、この場合もＭ′は全てバックグラウンドからの放射
と考えるべきものである。
以上、３つの場合についてバックグラウンドからの放射
を評価したが、次にこれらの結果から、どのようにすれ
ばバックグラウンドからの放射が無視できるようになる
のか、又無視できないにしても測定中一定なものとみな
せるようになるのかを考えてみる。
を評価したが、次にこれらの結果から、どのようにすれ
ばバックグラウンドからの放射が無視できるようになる
のか、又無視できないにしても測定中一定なものとみな
せるようになるのかを考えてみる。
まず（Ｉ）の場合であるが、（２）式からもわかるよう
にバックグラウンドは、発光試料１の放射率εの関数で
あるから、サンプル依存性があることになる。従って、
このままではKDがＫに比べて小さいか、発光試料が黒体
に近い（ε≒１）場合しか確度のよい測定ができないこ
とになる。
にバックグラウンドは、発光試料１の放射率εの関数で
あるから、サンプル依存性があることになる。従って、
このままではKDがＫに比べて小さいか、発光試料が黒体
に近い（ε≒１）場合しか確度のよい測定ができないこ
とになる。
これは発光試料１が鏡面なので検知器３が己を見てしま
うために生じているのであるから、このことから解決手
段として、検知器３が何か別のものを見るように発光試
料１を少し傾け、そして見ている対象物からの発光が換
算できるようにすればよいことがわかる。
うために生じているのであるから、このことから解決手
段として、検知器３が何か別のものを見るように発光試
料１を少し傾け、そして見ている対象物からの発光が換
算できるようにすればよいことがわかる。
上記考察に基づいて示した本発明の１実施例が第１図で
ある。第１図において、第２図と同じものには同じ番号
を付してあり、発光試料１は光軸に対して垂直でなく少
し傾けてある。即ちθ≠90゜である。７は検知器３が見
る対象物で、発光試料１に向いて配置されている。
ある。第１図において、第２図と同じものには同じ番号
を付してあり、発光試料１は光軸に対して垂直でなく少
し傾けてある。即ちθ≠90゜である。７は検知器３が見
る対象物で、発光試料１に向いて配置されている。
今、この対象物７の発光強度をＫ′、放射率をε′とす
ると、検知器３の測定信号は次のようになる。ただしε
Ｄ≒１とする。
ると、検知器３の測定信号は次のようになる。ただしε
Ｄ≒１とする。
Ｍ＝KA−KDA＋Ｋ′（１−ε）Ａ Ｋ（１−ε′）（１−ε）Ａ KD（１−ε）２（１−ε′）A2 ＋……… ………（６） （６）式よりε′≒１にすれば第４項以降を無視でき、
かつＫ′をK,KDに比べて十分小さくすれば第３項も無視
できることになる。これは対象物７を低温の黒体にすれ
ば達成することができる。即ち、対象物７は入ってくる
光を全て吸収することになるから、以下この対象物をト
ラップ用黒体と呼ぶことにする。このようにすると
（６）式は、 Ｍ＝KA−KDA ………（７） となる。これからバックグラウンドは検知器３の発光強
度KD及び装置関数Ａにだけ依存することになり、バック
グラウンドからの放射が一定であると見直すことができ
る。
かつＫ′をK,KDに比べて十分小さくすれば第３項も無視
できることになる。これは対象物７を低温の黒体にすれ
ば達成することができる。即ち、対象物７は入ってくる
光を全て吸収することになるから、以下この対象物をト
ラップ用黒体と呼ぶことにする。このようにすると
（６）式は、 Ｍ＝KA−KDA ………（７） となる。これからバックグラウンドは検知器３の発光強
度KD及び装置関数Ａにだけ依存することになり、バック
グラウンドからの放射が一定であると見直すことができ
る。
以上の説明では分光器２は単に透過物を考えてきたが、
実際は分光器２に入射した光は単に透過するだけでな
く、一部の光は反射する。このときの装置関数は−Ａで
ある。第１図の構成で、発光試料１やトラップ用黒体７
からの放射光の内分光器２から反射してくる光はトラッ
プ用黒体７でトラップされるので考慮する必要はない
し、検知器３からの放射光の内分光器２から反射してく
る光は既に−KDAで考慮されている。従って、この場合
も同じ（７）式が得られるので、バックグラウンドから
の放射が一定であることが理解できる。
実際は分光器２に入射した光は単に透過するだけでな
く、一部の光は反射する。このときの装置関数は−Ａで
ある。第１図の構成で、発光試料１やトラップ用黒体７
からの放射光の内分光器２から反射してくる光はトラッ
プ用黒体７でトラップされるので考慮する必要はない
し、検知器３からの放射光の内分光器２から反射してく
る光は既に−KDAで考慮されている。従って、この場合
も同じ（７）式が得られるので、バックグラウンドから
の放射が一定であることが理解できる。
次に（II）の場合の結果について考えてみる。バックグ
ラウンドからの放射を一定にするためには（４）式にお
いて第３項、第４項を零、もしくは他の項に対して無視
できる程度まで小さくする必要がある。そのためにはKB
が小さく、εＢが１に近く、かつω／Ωが小さければよ
いことは容易に理解できる。KB≒0,εＢ≒１の条件から
試料周囲の物体を低温の黒体にすればよいことがわか
る。また、ω／Ωを小さくするためにはｆ値の大きい、
暗い光学系を設計すればよいことは光学の理論から明ら
かである。このようにすると（４）式は、 Ｍ＝〔Ｋ−KD〕Ａ ………（８） となり、バックグラウンドからの放射を一定にすること
ができる。
ラウンドからの放射を一定にするためには（４）式にお
いて第３項、第４項を零、もしくは他の項に対して無視
できる程度まで小さくする必要がある。そのためにはKB
が小さく、εＢが１に近く、かつω／Ωが小さければよ
いことは容易に理解できる。KB≒0,εＢ≒１の条件から
試料周囲の物体を低温の黒体にすればよいことがわか
る。また、ω／Ωを小さくするためにはｆ値の大きい、
暗い光学系を設計すればよいことは光学の理論から明ら
かである。このようにすると（４）式は、 Ｍ＝〔Ｋ−KD〕Ａ ………（８） となり、バックグラウンドからの放射を一定にすること
ができる。
また、このとき、分光器２での反射の影響を考慮して
も、同じ式が得られ、やはりバックグラウンドからの放
射は一定となる。
も、同じ式が得られ、やはりバックグラウンドからの放
射は一定となる。
最後に（III）の場合の結果についてであるが、この場
合は（５）式のＭ′そのものがバックグラウンドからの
放射なのであるから、Ｍ′の絶対量を小さくして変動に
左右されないようにしておく必要がある。そのためには
アパーチャ６を低温の黒体とすればよいことは明らかで
ある。
合は（５）式のＭ′そのものがバックグラウンドからの
放射なのであるから、Ｍ′の絶対量を小さくして変動に
左右されないようにしておく必要がある。そのためには
アパーチャ６を低温の黒体とすればよいことは明らかで
ある。
以上の議論から、 （イ）第１図のように反射面を持った試料の場合、その
発光試料の面を光軸に対して垂直から少し傾け、発光試
料に対向してトラップ用黒体を配置する。
発光試料の面を光軸に対して垂直から少し傾け、発光試
料に対向してトラップ用黒体を配置する。
（ロ）散乱試料の場合、発光試料の周囲を低温黒体で囲
む。
む。
（ハ）ｆ値の大きい暗い光学系を用いる。
（ニ）アパーチャを低温の黒体とする、 という４つの条件を満足するように構成すれば、どのよ
うな場合にも少なくともバックグラウンドからの放射を
一定とみなせることになる。そして、検知器を低温にす
ればKDは十分小さくなるから、バックグラウンドからの
放射を無視することができる。検知器としてTGS検知器
のような冷却できないものを用いる場合には検知器の発
光強度KDが測定誤差として出てくることになるが、この
ような場合にも発光試料の測定の前にスペクトルのわか
っている黒体等を用いた標準試料を測定してKDを評価す
ることによって、バックグラウンドからの放射を取り除
き発光試料の発光強度Ｋを求めることができる。
うな場合にも少なくともバックグラウンドからの放射を
一定とみなせることになる。そして、検知器を低温にす
ればKDは十分小さくなるから、バックグラウンドからの
放射を無視することができる。検知器としてTGS検知器
のような冷却できないものを用いる場合には検知器の発
光強度KDが測定誤差として出てくることになるが、この
ような場合にも発光試料の測定の前にスペクトルのわか
っている黒体等を用いた標準試料を測定してKDを評価す
ることによって、バックグラウンドからの放射を取り除
き発光試料の発光強度Ｋを求めることができる。
なお、冷却には、望ましくは液体ヘリウム等を用い、周
知の手段で行うことができる。
知の手段で行うことができる。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、測定
中においてバックグラウンドからの放射を無視できる
か、無視できなくても一定とみなすことができる。しか
も、バックグラウンドからの放射を無視できない場合に
も一定とみなせるために標準試料を測定するなどしてバ
ックグラウンドからの放射を評価できるので、発光試料
の測定を従来よりも精度よく行うことができる。
中においてバックグラウンドからの放射を無視できる
か、無視できなくても一定とみなすことができる。しか
も、バックグラウンドからの放射を無視できない場合に
も一定とみなせるために標準試料を測定するなどしてバ
ックグラウンドからの放射を評価できるので、発光試料
の測定を従来よりも精度よく行うことができる。
第１図は本発明に係わる赤外放射分光測定装置の１実例
の構成を示す図、第２図は赤外放射分光測定装置の基本
的構成を示す図、第３図は発光試料の面が散乱面である
場合の説明図、第４図はアパーチャを用いた場合の構成
を示す図である。 １……発光試料、２……分光器、３……検知器、４……
全立体角Ω、５……立体角ω、６……アパーチャ、７…
…トラップ用黒体。
の構成を示す図、第２図は赤外放射分光測定装置の基本
的構成を示す図、第３図は発光試料の面が散乱面である
場合の説明図、第４図はアパーチャを用いた場合の構成
を示す図である。 １……発光試料、２……分光器、３……検知器、４……
全立体角Ω、５……立体角ω、６……アパーチャ、７…
…トラップ用黒体。
Claims (4)
- 【請求項１】発光試料と、分光器と、検知器を備えた赤
外放射分光測定装置において、少なくとも発光試料と光
軸とのなす角度を直角から外し、発光試料に対向させて
トラップ用黒体を配置すると共に、該トラップ用黒体を
含む発光試料の周囲を囲む物体を低温の黒体としたこと
を特徴とする赤外放射分光測定装置。 - 【請求項２】光学系のｆ値を大きくしたことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の赤外放射分光測定装置。 - 【請求項３】発光試料の一部からの光を分光器へ導きそ
の他の部分からの光が分光器へ導かれないように遮光す
る低温の黒体のアパーチャを設けたことを特徴とする特
許請求の範囲第１項又は第２項記載の赤外放射分光測定
装置。 - 【請求項４】検知器を低温の黒体とすることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項乃至第３項のいずれかに記載の
赤外放射分光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62251843A JPH0786432B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | 赤外放射分光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62251843A JPH0786432B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | 赤外放射分光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0194229A JPH0194229A (ja) | 1989-04-12 |
| JPH0786432B2 true JPH0786432B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=17228747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62251843A Expired - Fee Related JPH0786432B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | 赤外放射分光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0786432B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5782577B1 (ja) | 2014-03-14 | 2015-09-24 | レンゴー株式会社 | 包装箱および製函装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50145171A (ja) * | 1974-05-10 | 1975-11-21 | ||
| JPS61213650A (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-22 | Chino Works Ltd | 光学的測定装置 |
| JPS629256A (ja) * | 1985-07-06 | 1987-01-17 | Oki Electric Ind Co Ltd | 拡散反射輝度測定方法 |
-
1987
- 1987-10-06 JP JP62251843A patent/JPH0786432B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0194229A (ja) | 1989-04-12 |
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