JPS629256A - 拡散反射輝度測定方法 - Google Patents

拡散反射輝度測定方法

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JPS629256A
JPS629256A JP14766585A JP14766585A JPS629256A JP S629256 A JPS629256 A JP S629256A JP 14766585 A JP14766585 A JP 14766585A JP 14766585 A JP14766585 A JP 14766585A JP S629256 A JPS629256 A JP S629256A
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JP
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measured
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diffuse reflection
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regularly reflected
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JP14766585A
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JPH0476426B2 (ja
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Hirotaka Kubota
浩敬 久保田
Yoshihiko Nakano
義彦 中野
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は物体の光学的反射特性としての拡散反射輝度を
測定する方法に関する。
(従来の技術) 従来、反射光量の測定に関しては、JIS Z8722
、JIS  Z  8741に開示された方法があるが
、これらは物体色の測定方法及び鏡面光沢度測定方法に
係るもので、拡散反射輝度の測定に関するものは特にみ
あたらない。
拡散反射輝度の測定では、如何にして正反射成分を除去
し、拡散反射成分のみを抽出するかが問題となるが、従
来、これを行うためには、照明及び受光に関する細かい
幾何学的条件(例えば、JrS Z 872204 、
3 、1項等)f、満足させることで正反射成分が輝度
測定器の受光系に混入しないようにしていた。
なお、本明細書において、拡散反射とは、拡散性の反射
面において、巨視的にみて反射の法則と無関係に多くの
方向に光を拡散する反射を言い、また正反射とは、拡散
性の反射面において、巨視的にみて反射の法則に従う光
の反射を言う。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記従来の方法では、細かい幾何学的条
件が制約となシ被測定物体及び測定器。
照明器具等の設定に困難があった。
本発明は、このような従来技術の問題点を解決するため
になされたものであって、正反射成分を除去または極小
にし、容易にかつ正確に被測定物体の拡散反射輝度を測
定する方法を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は実質的にあらゆる方向から物体の被測定面を均
等に照射し、被測定面における拡゛散反射による輝度を
輝度測定手段により測定する拡散反射輝度測定方法に係
るもので、前記従来技術の問題点を解決するため、被測
定面を反射面としたときに輝度測定手段の受光系に正反
射成分を与える方向に正反射成分を除去する手段を設け
て測定を行なうようにしたものである。正反射成分を除
去する手段としては、入射してくる光を全て吸収する物
質、物体が理想であるが、実際には測定精度に影響を与
えない程度の反射率を有する物質、物体が使用される。
(作用) 正反射成分を除去する手段は輝度測定手段の受光系に入
る正反射成分を除去もしくは極小にするので、測定すべ
き拡散反射成分のみが効果的に抽出され、これを輝度測
定手段が被測定面の法線方向を除くあらゆる角度から測
定できるようになる。
したがって細かな幾何学的条件の制約にとられれずに容
易にかつ精度良く拡散反射輝度の測定を行なうことがで
きる。
(実施例) 以下1本発明の測定方法を第1図に基づき詳細に説明す
る。同図において1は被測定面、2は輝度測定器、3は
正反射成分を除去もしくは極小に押えるために配備する
黒い物体(以下ブラックボードと呼ぶ)でおる。一点鎖
線は被測定面゛1の法線を示し、αは輝度測定器2の光
軸と法線との成す角度、θはブラックボード3と法線と
の成すおおよその角度を示す。また、照明はあらゆる方
向から均等に被測定面lを照明するようにし、輝度測定
器2あるいはブランクボード3により被測定面1上に影
を作らないようにする。
各要素の設置条件としては、輝度測定器20光軸、被測
定面1の法線及びブラックボード3は同一平面内にある
こととする。更に、ブラックボード3の設置位置は、そ
の設置目的が巨視的に反射の法則に従う正反射成分を取
シ除くまたは極小にすることにあるため、θ=α(へ0
°)となるような位置に設置することが絶対条件となる
また、ブランクボード3の大きさは、被測定面l上への
ブランクボード3自身の投影像が輝度測定器2の測定視
野を充分に内包するような大きさであることが要求され
る。従って、ブラックボード3の大きさはブランクボー
ド3と被測定面1との設置距離にも依存して決定される
また、ブラックボード3は、入射する光を全て吸収する
ような物質または物体を理想とし、そのような物体とし
てはキルヒホッフの暗箱等が考えられるが、一般には測
定精度に影響を与えない程度の黒さく反射率)の物体に
するりブラックボード3として用いる物体の反射率は、
正反射を除去するという意味で直接測定精度に影響を与
えるため、測定の要求精度及び被測定面lの反射特性を
充分考慮し測定精度への影響を最小とするような配慮が
必要でおる。特に被測定面lの反射における正反射成分
の割合が大きいほど測定精度への影響が犬きくなるため
、そのような物体の測定においては反射率の低い物体を
ブラックボード3として用いることが測定精度を上げる
上で重要となる。
(発明の効果) 以上、詳細に説明したように本発明によれば、正反射成
分除去手段(ブラックボード)により正反射成分を除去
することとしたので、被測定面の法線上を除きあらゆる
角度から容易に拡散反射輝度の測定が可能となり、形状
、大きさ1重量等の関係で被測定物体の移動、設置に困
難を伴うような場合にも比較的柔軟に対処でき、測定が
容易となる。本発明は例えば、プラウ/管面やCRTデ
ィスプレイモニタに取り付ける画面フィルタ等の見易さ
の尺度としての拡散反射輝度、あるいは輝度率(同一条
件で照明及び観測した物体の輝度と完全拡散反射面の輝
度との比)等を測定する上で有効となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による拡散反射輝度測定方法を説明する
ための図である。 1・・・被測定面 2・・・輝度検出器

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 実質的にあらゆる方向から物体の被測定面を均等に照射
    し、被測定面における拡散反射による輝度を輝度測定手
    段により測定する拡散反射輝度測定方法において、 被測定面を反射面としたときに輝度測定手段の受光系に
    正反射成分を与える方向に正反射成分を除去する手段を
    設けて測定を行なうことを特徴とする拡散反射輝度測定
    方法。
JP14766585A 1985-07-06 1985-07-06 拡散反射輝度測定方法 Granted JPS629256A (ja)

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JPH0476426B2 JPH0476426B2 (ja) 1992-12-03

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