JPS6355020B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6355020B2 JPS6355020B2 JP57191306A JP19130682A JPS6355020B2 JP S6355020 B2 JPS6355020 B2 JP S6355020B2 JP 57191306 A JP57191306 A JP 57191306A JP 19130682 A JP19130682 A JP 19130682A JP S6355020 B2 JPS6355020 B2 JP S6355020B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- window
- light
- integrating sphere
- reflectance
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/065—Integrating spheres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は積分球を用いた絶対反射率測定装置に
関する。反射率の測定には標準試料の反射率を
100％としたときの任意試料の反射率を測定する
相対反射率測定と、試料の真の反射率を測定する
絶対反射率測定とがあり、通常は相対反射率を測
定し、それに標準試料の絶対反射率を掛算して任
意試料の絶対反射率を求めている。しかし標準試
料の絶対反射率自体は一つの資料として提供され
ているだけで反射率が経時的に変化していても測
定者には判らないから、このような方法では真の
絶対反射率は求められず、絶対反射率測定が必要
となる。
関する。反射率の測定には標準試料の反射率を
100％としたときの任意試料の反射率を測定する
相対反射率測定と、試料の真の反射率を測定する
絶対反射率測定とがあり、通常は相対反射率を測
定し、それに標準試料の絶対反射率を掛算して任
意試料の絶対反射率を求めている。しかし標準試
料の絶対反射率自体は一つの資料として提供され
ているだけで反射率が経時的に変化していても測
定者には判らないから、このような方法では真の
絶対反射率は求められず、絶対反射率測定が必要
となる。
絶対反射率の測定は原理的には単純であつても
実際にそれを実施するのは大へん困難である。そ
の中で積分球を用いる方法は原理は稍複雑である
が比較的実施容易な方法である。しかしそれでも
積分球に対して光検出器或は入射光路を移動させ
る必要があるので、装置構成は大型化し研究室的
には実行可能でも、日常業務としての測定には不
向きであり、分光光度計の一アダプターとして用
いられるような構成にすることはなお更困難なこ
とである。
実際にそれを実施するのは大へん困難である。そ
の中で積分球を用いる方法は原理は稍複雑である
が比較的実施容易な方法である。しかしそれでも
積分球に対して光検出器或は入射光路を移動させ
る必要があるので、装置構成は大型化し研究室的
には実行可能でも、日常業務としての測定には不
向きであり、分光光度計の一アダプターとして用
いられるような構成にすることはなお更困難なこ
とである。
本発明は上述したような状況に鑑み、小型に構
成できて測定操作も簡単であり、分光光度計の一
アダプターとしても構成可能なような積分球式絶
対反射率測定装置を提供するものである。
成できて測定操作も簡単であり、分光光度計の一
アダプターとしても構成可能なような積分球式絶
対反射率測定装置を提供するものである。
まず積分球を用いた絶対反射率測定の原理につ
いて略述する。第１図でＩが積分球で左の窓Wi
から光が入射する。この入射光束が直接積分球内
面を照射している部分をWaとする。Wsは試料
窓、Wosは試料光出口窓、Worは対照光出口窓で
ある。また球内には入射光束の球内面Waで直接
反射した（一回目の反射）光が試料窓Wsに入射
しないように衝立Bfが設けてなる。この衝立は
２つの光の出口窓Wos，Wor何れにおいても測光
系を通しては見えないような位置にある。例えば
図は対照光を測光している状態であるが、レンズ
Ｌが積分球Ｉの内面の窓Worと反対側の面の像を
受光素子Ｄの前面の絞りＦ上に形成しており、こ
の絞りＦの開口と共役な積分球Ｉの内面領域を
Wrとすると、衝立BrはWrの像を絞りＦの開口
上に形成する光路の完全に外側にある。積分球Ｉ
の内面は一様で高い反射率ｒにしてある。衝立
Bfも反射率ｒになるように塗装してある。
いて略述する。第１図でＩが積分球で左の窓Wi
から光が入射する。この入射光束が直接積分球内
面を照射している部分をWaとする。Wsは試料
窓、Wosは試料光出口窓、Worは対照光出口窓で
ある。また球内には入射光束の球内面Waで直接
反射した（一回目の反射）光が試料窓Wsに入射
しないように衝立Bfが設けてなる。この衝立は
２つの光の出口窓Wos，Wor何れにおいても測光
系を通しては見えないような位置にある。例えば
図は対照光を測光している状態であるが、レンズ
Ｌが積分球Ｉの内面の窓Worと反対側の面の像を
受光素子Ｄの前面の絞りＦ上に形成しており、こ
の絞りＦの開口と共役な積分球Ｉの内面領域を
Wrとすると、衝立BrはWrの像を絞りＦの開口
上に形成する光路の完全に外側にある。積分球Ｉ
の内面は一様で高い反射率ｒにしてある。衝立
Bfも反射率ｒになるように塗装してある。
入射光の光量：Ｐ
積分球内面積：Ｓ
窓Wor、Worの面積：ｂ
試料窓面積、領域Wrの面積：ａ
ａ／Ｓ＝kl、ｂ／Ｓ＝k2
試料反射率：r′
とする。こゝで反射率と云つているので全部絶対
反射率のことである。測定試料を設置した状態で
対照光出口窓Worから出射光をレンズＬを通して
測光する（第１図の状態）。
反射率のことである。測定試料を設置した状態で
対照光出口窓Worから出射光をレンズＬを通して
測光する（第１図の状態）。
積分球に入射した光がWaで各方向一様に反射
され、その全反射光量はＰ・ｒである。このＰ・
ｒのうち領域Wrに入射するものはＰ・ｒ・ａ／
Ｓ＝Ｐ・ｒ・kl。このうちWrで反射されて窓
Worから出射する光量は ｒ・Ｐ・ｒ・kl×k2 ……(1) 他方のWaからWr以外の方向に反射される光量は
Ｐ・ｒ・（１−kl）でこれが積分球内面で反射さ
れる全光量はＰ・ｒ・（１−kl）ｒであり、この
うち領域Wrに入射する光量はＰ・ｒ（ｌ−kl）
ｒ・klで、このうち窓Worに向けて反射される光
量は Ｐ・ｒ（ｌ−kl）ｒ・kl・ｒ・k2 ……(2) 積分球内面は一様な反射率で一回反射された後再
び積分球内で反射される光のうち領域Wrに入射
し、窓Worに向け反射される光量は Ｐ・ｒ（ｌ−kl）ｒ（ｌ−kl）ｒ・kl・ｒ・
k2 ……(3) 以下多重反射に対して上と同じ考え方を操返し、
窓Worから取出される全光量Irは上記(1)、(2)、(3)
等の総和であり、級数の成で Ir＝Ｐ・r2・kl・k2｛ｌ＋ｒ（ｌ−kl）＋r2（ｌ−kl）
2＋……｝ ＝Ｐ・r2・kl・k2ｌ／ｌ−ｒ（ｌ−kl） ……(4) となる。次にＬ、Ｆ、Ｄ等の測光装置を光出口窓
Worの側に移し、窓Wosを通して測光装置によつ
て窓Wsにセツトされた試料を望む。このとき試
料光出口窓Wosから出射する光量Isは上と同じ考
え方で Is＝Ｐ・r2・kl・r1・k2ｌ／ｌ−ｒ（ｌ−kl） ……(5) で与られる。こゝで注意すべきは、この場合試料
には積分球への入射光のWaでの一回目の反射光
は衝立Bfによつて遮蔽されて入射していないと
云うことで、このため(5)式の誘導においては、積
分球への入射光がWaで反射された後球内面で再
び反射された光が試料への第一回目の入射光とな
り、それはＰ・r2・klであり、そのうち窓Wosへ
向けて反射される光量は Ｐ・r2・kl・r1・k2 ……(6) でこれが対照光の場合の(1)式に対応する。こゝで
IrとIsとの比Is／Irをとると、 〔(5)式〕÷〔(4)式〕＝r1 となる。従つて測光装置を窓Worの位置において
Irを測定し、次に測光装置を窓Wosに置いてIsを
測定し両測定値の比をとれば試料の絶対反射率r1
が求まる。
され、その全反射光量はＰ・ｒである。このＰ・
ｒのうち領域Wrに入射するものはＰ・ｒ・ａ／
Ｓ＝Ｐ・ｒ・kl。このうちWrで反射されて窓
Worから出射する光量は ｒ・Ｐ・ｒ・kl×k2 ……(1) 他方のWaからWr以外の方向に反射される光量は
Ｐ・ｒ・（１−kl）でこれが積分球内面で反射さ
れる全光量はＰ・ｒ・（１−kl）ｒであり、この
うち領域Wrに入射する光量はＰ・ｒ（ｌ−kl）
ｒ・klで、このうち窓Worに向けて反射される光
量は Ｐ・ｒ（ｌ−kl）ｒ・kl・ｒ・k2 ……(2) 積分球内面は一様な反射率で一回反射された後再
び積分球内で反射される光のうち領域Wrに入射
し、窓Worに向け反射される光量は Ｐ・ｒ（ｌ−kl）ｒ（ｌ−kl）ｒ・kl・ｒ・
k2 ……(3) 以下多重反射に対して上と同じ考え方を操返し、
窓Worから取出される全光量Irは上記(1)、(2)、(3)
等の総和であり、級数の成で Ir＝Ｐ・r2・kl・k2｛ｌ＋ｒ（ｌ−kl）＋r2（ｌ−kl）
2＋……｝ ＝Ｐ・r2・kl・k2ｌ／ｌ−ｒ（ｌ−kl） ……(4) となる。次にＬ、Ｆ、Ｄ等の測光装置を光出口窓
Worの側に移し、窓Wosを通して測光装置によつ
て窓Wsにセツトされた試料を望む。このとき試
料光出口窓Wosから出射する光量Isは上と同じ考
え方で Is＝Ｐ・r2・kl・r1・k2ｌ／ｌ−ｒ（ｌ−kl） ……(5) で与られる。こゝで注意すべきは、この場合試料
には積分球への入射光のWaでの一回目の反射光
は衝立Bfによつて遮蔽されて入射していないと
云うことで、このため(5)式の誘導においては、積
分球への入射光がWaで反射された後球内面で再
び反射された光が試料への第一回目の入射光とな
り、それはＰ・r2・klであり、そのうち窓Wosへ
向けて反射される光量は Ｐ・r2・kl・r1・k2 ……(6) でこれが対照光の場合の(1)式に対応する。こゝで
IrとIsとの比Is／Irをとると、 〔(5)式〕÷〔(4)式〕＝r1 となる。従つて測光装置を窓Worの位置において
Irを測定し、次に測光装置を窓Wosに置いてIsを
測定し両測定値の比をとれば試料の絶対反射率r1
が求まる。
積分球を用いる絶対反射率測定の原理は上述し
たようなもので、上の説明からも明かなように、
測光系を２つの光出口窓WorからWosへ移し変え
ねばならないと云う難点がある。これは操作とし
ても大へんおおげさである上、装置が広い場所を
とり、分光光度計の一つのアダプタとして装置を
構成することを困難にする。測光系を光出口窓
Wor，Wos夫々に設ければ、少くとも測光系を動
かす手間は省けそうであるが、この場合２つの測
光系の感度の違いを補正する手段がなく、この補
正をするために結局２つの測光系の位置を入れ替
える必要があるから、２つの測光系を用いること
は何等の意味もないのである。
たようなもので、上の説明からも明かなように、
測光系を２つの光出口窓WorからWosへ移し変え
ねばならないと云う難点がある。これは操作とし
ても大へんおおげさである上、装置が広い場所を
とり、分光光度計の一つのアダプタとして装置を
構成することを困難にする。測光系を光出口窓
Wor，Wos夫々に設ければ、少くとも測光系を動
かす手間は省けそうであるが、この場合２つの測
光系の感度の違いを補正する手段がなく、この補
正をするために結局２つの測光系の位置を入れ替
える必要があるから、２つの測光系を用いること
は何等の意味もないのである。
本発明はきわめて簡単な方法で上述した難点を
解消したものである。即ち本発明は第１図の装置
で測光系を窓WorからWosへ移す代りに積分球Ｉ
と軸Axを軸として回転させることにより窓Wos
の方を測光系の所へ持つて来るようにしたもので
ある。第２図はこのように積分球Ｉを回転させた
状態を示し、第１図の状態における測光出力Irと
第２図の状態における測光出力Isとの比Is／Irを
求めれば上述した原理によつて試料の絶対反射率
r1が測定できる。
解消したものである。即ち本発明は第１図の装置
で測光系を窓WorからWosへ移す代りに積分球Ｉ
と軸Axを軸として回転させることにより窓Wos
の方を測光系の所へ持つて来るようにしたもので
ある。第２図はこのように積分球Ｉを回転させた
状態を示し、第１図の状態における測光出力Irと
第２図の状態における測光出力Isとの比Is／Irを
求めれば上述した原理によつて試料の絶対反射率
r1が測定できる。
上述した所は試料を拡散光で照明した場合の試
料面に垂直な方向の反射率Rd／ｏを測定するも
のである。本発明は直接光による垂直照明の場合
の拡散反射率Ro／ｄの測定にも適用できる。こ
れは構造としては第１図において測光系の光軸に
浴つて積分球Ｉに光を入射させ、窓Wiの所に測
光系を位置させる。即ち第１図の構成における光
源と測光系の位置を入れ替える。この場合に積分
球ＩをAx軸の周りに回転させて２つの測光値を
得て割算する所は上述した所と全く同じである。
また第３図に示すように、窓Wor及びWosが領域
Wr及び試料窓Wsを望む方向が積分球の中心を通
らないようにしておくと、拡散照射、斜反射の反
射率Rd／θの測定ができ、更にこの構成で光源
と測光系の場所を入れ替えた形にすると斜直接照
明での拡散反射率R／ｄを測定することができ
る。第４図は第１図の構成で、鏡MR，MR1を用
いて絞りＦ及び光検出器Ｄを積分球Ｉへの入射光
束の光軸の延長上に位置させたもので、分光光度
計のアダプタとして積分球Ｉと鏡MR，MR1、レ
ンズＬ等をワンセツトに構成して分光光度計の試
料室に置けるようにし、光検出器は分光光度計に
既設のものをそのまゝ用いるようにしたものであ
る。
料面に垂直な方向の反射率Rd／ｏを測定するも
のである。本発明は直接光による垂直照明の場合
の拡散反射率Ro／ｄの測定にも適用できる。こ
れは構造としては第１図において測光系の光軸に
浴つて積分球Ｉに光を入射させ、窓Wiの所に測
光系を位置させる。即ち第１図の構成における光
源と測光系の位置を入れ替える。この場合に積分
球ＩをAx軸の周りに回転させて２つの測光値を
得て割算する所は上述した所と全く同じである。
また第３図に示すように、窓Wor及びWosが領域
Wr及び試料窓Wsを望む方向が積分球の中心を通
らないようにしておくと、拡散照射、斜反射の反
射率Rd／θの測定ができ、更にこの構成で光源
と測光系の場所を入れ替えた形にすると斜直接照
明での拡散反射率R／ｄを測定することができ
る。第４図は第１図の構成で、鏡MR，MR1を用
いて絞りＦ及び光検出器Ｄを積分球Ｉへの入射光
束の光軸の延長上に位置させたもので、分光光度
計のアダプタとして積分球Ｉと鏡MR，MR1、レ
ンズＬ等をワンセツトに構成して分光光度計の試
料室に置けるようにし、光検出器は分光光度計に
既設のものをそのまゝ用いるようにしたものであ
る。
本発明反射率測定装置は上述したような構成
で、測光系を動かす必要がないから測定操作が簡
単であり、測光系が２重に場所をとることがない
から従来装置より装置の設置面積が小さくてす
み、積分球を回転可能に支承しているだけである
から構造的には簡単であり、通常の分光光度計に
付設することにより、安価かつ簡単に絶対反射率
を測定することを可能にするものである。
で、測光系を動かす必要がないから測定操作が簡
単であり、測光系が２重に場所をとることがない
から従来装置より装置の設置面積が小さくてす
み、積分球を回転可能に支承しているだけである
から構造的には簡単であり、通常の分光光度計に
付設することにより、安価かつ簡単に絶対反射率
を測定することを可能にするものである。
第１図は積分球による絶対反射率測定の原理を
説明すると共に本発明の一実施例の対照光測光時
の状態を示す平面図、第２図は上記実施例の試料
光測光時の状態を示す平面図、第３図は本発明の
他の一実施例の平面図、第４図は更に他の実施例
の平面図である。 Ｉ……積分球、Wi……光入射窓、Ws……試料
窓、Wor……対照光出口窓、Wos……試料光出口
窓、Bf……衝立、Ｌ……レンズ、Ｆ……絞り、
Ｄ……光検出器。
説明すると共に本発明の一実施例の対照光測光時
の状態を示す平面図、第２図は上記実施例の試料
光測光時の状態を示す平面図、第３図は本発明の
他の一実施例の平面図、第４図は更に他の実施例
の平面図である。 Ｉ……積分球、Wi……光入射窓、Ws……試料
窓、Wor……対照光出口窓、Wos……試料光出口
窓、Bf……衝立、Ｌ……レンズ、Ｆ……絞り、
Ｄ……光検出器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 積分球の中心を通る一つの平面内において、
光の入射窓、試料窓、光の出口窓を設け、同積分
球を上記平面内にある一つの中心線を軸として回
転可能にし、光源及び測光系の位置を固定してお
き、積分球を上記軸を中心として180゜回転させる
ことにより、積分球の上記各窓と光源、測光系等
との相対位置関係を変えるようにしたことを特徴
とする絶対反射率測定装置。 ２ 光の入射窓が一つで、この窓の中心を通る一
つの直径が積分球の回転軸であり、光の出口窓が
２つあつて上記軸に対して対称的である特許請求
の範囲第１項記載の絶対反射率測定装置。 ３ 光の出口窓が一つで、この窓の中心を通る一
つの直径が積分球の回転軸であり、光の入射窓が
２つあつて上記軸に対して対称的である特許請求
の範囲第１項記載の絶対反射率測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57191306A JPS5979841A (ja) | 1982-10-29 | 1982-10-29 | 絶対反射率測定装置 |
| US06/542,150 US4575252A (en) | 1982-10-29 | 1983-10-14 | Apparatus for measuring absolute reflectance |
| DE19833338203 DE3338203A1 (de) | 1982-10-29 | 1983-10-20 | Geraet zur messung des absoluten reflexionsgrades |
| CA000439966A CA1203399A (en) | 1982-10-29 | 1983-10-28 | Apparatus for measuring absolute reflectance |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57191306A JPS5979841A (ja) | 1982-10-29 | 1982-10-29 | 絶対反射率測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5979841A JPS5979841A (ja) | 1984-05-09 |
| JPS6355020B2 true JPS6355020B2 (ja) | 1988-11-01 |
Family
ID=16272362
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57191306A Granted JPS5979841A (ja) | 1982-10-29 | 1982-10-29 | 絶対反射率測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4575252A (ja) |
| JP (1) | JPS5979841A (ja) |
| CA (1) | CA1203399A (ja) |
| DE (1) | DE3338203A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6276433A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-08 | Shimadzu Corp | 分光光度計における積分球測定装置 |
| JPS62132152A (ja) * | 1985-12-04 | 1987-06-15 | Hitachi Ltd | 反射率測定方法 |
| US6927850B1 (en) * | 1987-10-09 | 2005-08-09 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Infrared integrating sphere |
| US5044754A (en) * | 1989-12-20 | 1991-09-03 | Eastman Kodak Company | Apparatus and method for use in determining the optical transmission factor or density of a translucent element |
| US5045704A (en) * | 1990-02-01 | 1991-09-03 | Nanometrics Incorporated | Method for determining absolute reflectance of a material in the ultraviolet range |
| DE4030836A1 (de) * | 1990-09-28 | 1992-04-02 | Kim Yoon Ok | Vorrichtung zur qualitativen und/oder quantitativen bestimmung der zusammensetzung einer zu analysierenden probe |
| US5386267A (en) * | 1994-02-16 | 1995-01-31 | Eastman Kodak Company | Light integrating cavity for a film scanner |
| GB2300257B (en) * | 1995-04-28 | 1999-08-25 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Method and device for determination of the albedo of particles |
| US5597237A (en) * | 1995-05-30 | 1997-01-28 | Quantum Logic Corp | Apparatus for measuring the emissivity of a semiconductor wafer |
| US5745234A (en) * | 1995-07-31 | 1998-04-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Variable angle reflectometer employing an integrating sphere and a light concentrator |
| US7048424B2 (en) * | 2002-08-14 | 2006-05-23 | Cross Match Technologies, Inc. | Light integrating column |
| JP4639179B2 (ja) * | 2003-02-28 | 2011-02-23 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 面を観察するスキャタロメータ及び方法 |
| KR101256390B1 (ko) * | 2004-10-08 | 2013-04-25 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 테스트 표면의 광학 검사 |
| KR101311184B1 (ko) * | 2005-08-15 | 2013-09-26 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 산란 측정기를 위한 듀얼 빔 장치 |
| ATE531312T1 (de) * | 2006-04-18 | 2011-11-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Optische messvorrichtung |
| US8294898B2 (en) * | 2007-08-28 | 2012-10-23 | Trustees Of Princeton University | Rotationally asymmetric chaotic optical multi-pass cavity |
| DE102011050969A1 (de) * | 2011-06-09 | 2013-05-16 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zur referenzierten Messung von reflektiertem Licht und Verfahren zum Kalibrieren einer solchen Vorrichtung |
| JP6859858B2 (ja) * | 2017-06-08 | 2021-04-14 | 一般財団法人雑賀技術研究所 | 積分球を用いた相対反射率測定装置及びその較正方法 |
| JP7212049B2 (ja) | 2018-01-30 | 2023-01-24 | グラインセンス オーワイ | 積分キャビティを較正する方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1964365A (en) * | 1931-01-08 | 1934-06-26 | Razek Joseph | Method of and apparatus for determining the intensity of colors |
| US3327583A (en) * | 1962-07-16 | 1967-06-27 | Lion Res Corp | Apparatus with diffusely reflecting hollow housing for measuring absolute reflectivity of a surface and the like |
| US3502890A (en) * | 1965-06-10 | 1970-03-24 | Cary Instruments | Rotating sphere radiometer |
| DE1921432A1 (de) * | 1969-04-26 | 1970-11-12 | Licentia Gmbh | Reflexionsgradmesser |
| US3874799A (en) * | 1973-06-01 | 1975-04-01 | Color Control Inc | Method and apparatus for color spectrophotometry |
| US4035085A (en) * | 1973-06-29 | 1977-07-12 | Ppg Industries, Inc. | Method and apparatus for comparing light reflectance of a sample against a standard |
| DE2606675C3 (de) * | 1976-02-19 | 1979-02-22 | Vladimir Dipl.-Ing. 5100 Aachen Blazek | Anordnung zur spektralanalytischen Untersuchung des Remissionsvermögens einer Probe |
| US4093991A (en) * | 1977-01-26 | 1978-06-06 | Hunter Associates Laboratory, Inc. | Spectrophotometer-digital data processing system for appearance measurements providing fast and accurate standardization, ease of use for different appearance measurements and fast response |
| DE3138878A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim | Messeinrichtung, insbesondere ulbricht'sche kugel |
-
1982
- 1982-10-29 JP JP57191306A patent/JPS5979841A/ja active Granted
-
1983
- 1983-10-14 US US06/542,150 patent/US4575252A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-10-20 DE DE19833338203 patent/DE3338203A1/de not_active Ceased
- 1983-10-28 CA CA000439966A patent/CA1203399A/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA1203399A (en) | 1986-04-22 |
| DE3338203A1 (de) | 1984-05-03 |
| JPS5979841A (ja) | 1984-05-09 |
| US4575252A (en) | 1986-03-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6355020B2 (ja) | ||
| KR20020046147A (ko) | 분광 반사율 측정 장치 및 분광 반사율 측정 방법 | |
| US3002419A (en) | Alignment theodolite | |
| JPS639610B2 (ja) | ||
| EP0081651B1 (en) | Three-axis angle sensor | |
| US3394628A (en) | Light measuring apparatus | |
| Eichner et al. | The new photometer of the Rutherfurd Observatory | |
| SU1500920A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени | |
| JPS6244215B2 (ja) | ||
| KR890004719B1 (ko) | 더블빔 형식의 색측정용 광학필터 분광 광도계 | |
| JPH0518686Y2 (ja) | ||
| JPH0522213B2 (ja) | ||
| SU1511599A1 (ru) | Диафрагма дл фотометрировани излучени от небесных тел и фона неба | |
| JPH07294328A (ja) | 測光装置 | |
| JPH01143922A (ja) | 分光測光器 | |
| SU823273A1 (ru) | Оптико-электронное измерительноеуСТРОйСТВО | |
| RU1824547C (ru) | Рефлектометр дл вогнутых зеркал | |
| SU1038811A1 (ru) | Устройство дл измерени относительной спектральной чувствительности приемников излучени | |
| JPS6270735A (ja) | ゴニオホトメ−タ | |
| JPS61226619A (ja) | 積分球を用いる分光光度計 | |
| JPH0381092B2 (ja) | ||
| SU1668856A1 (ru) | Устройство дл проверки нивелиров | |
| RU2172945C2 (ru) | Устройство для измерения коэффициента пропускания оптической пластины | |
| JPS6388411A (ja) | 積分球装置 | |
| SU1067350A1 (ru) | Устройство дл изменени шероховатости поверхности |